JP2000513864A - 近接センサ - Google Patents

近接センサ

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Abstract

(57)【要約】 検知領域内の物体の存在を検知する改良形の容量性センサである。このセンサは導電材料と絶縁材料の交互の層を有する多層構造である。センサ構造は3個の電極を有している。すなわちタッチ板(25)、ガード層(15)および接地面(5)であり、その各々が絶縁層(20、10)によって互いに隔絶されている。このセンサは自励モードまたは他励モードのいずれかで機能する検知電子回路によって動作する。たのセンサは検知面から数フィート離れた検知領域の物体を検知することができ、電動操作(自動閉鎖)窓、ドア等に存在する場合がある妨害物の検知のような自動車の用途に最適である。

Description

【発明の詳細な説明】 近接センサ 発明の背景 本発明は検知領域内の物体の存在を検知するための関連検知回路を有するセン サに関する。より具体的には、本発明は容量性作用を利用して、自動車の自動閉 鎖ドア、自動閉鎖式のサンルーフ、自動スライド・ドア、トランクの押し下げ機 構、およびその他の閉鎖またはアクチュエータ機構のような用途で物体の存在を 検知し、ひいては物体が閉鎖機構によって挟まれないようにする近接センサに関 する。 物体の有無を検知する装置はこの数年間、種々の用途で利用されてきた。製造 工業では組立てラインに沿った物体を検知するためにセンサが使用されてきた。 家庭用および営業用の双方の用途のためのセキュリティ・システムは侵入者を検 知するためにセンサを使用している。 従来形のセンサは光学式電磁放射、または磁気検知手段を使用して物体を検知 する。光学式センサは光線の遮断または反射のいずれかを利用して予め選択され た領域内の物体の存在を検知する。一例としてはある領域内に光線を放射する光 電トランシーバがあり、その領域内に物体があると、放射された光線が物体から 反射する。次にトランシーバは反射した光線を検知し、物体が存在することを示 す出力を発する。磁気作用に依存するセンサを使用して天然の磁性体である物体 を検知することをできる。マイクロ波または無線周波数(RF)センサは、物体 から反射したマイクロ波と直接放射されるマイクロ波信号との干渉に起因する、 マイクロ波放射源を囲む定在波パターンの変化に応答する。 工業、自動車またはその他の過酷な環境での用途に使用した場合、上記の種類 の近接センサにはそれぞれ幾つかの欠点がある。例えば、光学式センサの性能と 感度は車の窓やドアの周囲に塵芥が溜まると影響され、従って自動車の持ち主は 検知領域/表面を常に清潔に保つ必要にせまられる。加えて、光学式センサの場 合、検知は生来から光源によって局所的に限定されるので、障害物がない領域が 必要である。マイクロ波センサは、車の他の電子機器、ラジオ、携帯電話等との 干渉を防ぐために自動車内で必要な電磁的干渉の厳密な制限に適合しない場合が 多い。この干渉の問題は1台の自動車に多数のマイクロ波センサを搭載した場合 は一層深刻になる。磁気センサは自動車の窓やドアの近くの人やペットのような 非磁性体を検知するには有効ではない。超音波センサは一般的に、その検知範囲 を局所的に制限するためには更に改修する必要がある場合が多く、そのためコス トが高くなる。 これらと比較すると、キャパシタンスの変化を利用した近接センサには前述の 欠点がない。しかし、従来形のキャパシタンス式センサは一般には感度がそれほ ど高くなく、従って数マイクロファラッド(pF)程度のキャパシタンスの変化 を生ずる物体を検知することはできない。本発明はこのような限界を克服し、検 知面から数フィート離れた物体を検知することができ、自動車の用途に最適であ る容量性作用を利用した高感度のセンサを提供するものである。 発明の大要 本発明は新規の多層センサ構造を用いて実施される改良形の容量性センサを提 供するものである。このセンサは検知面から数フィート離れた検知領域内の物体 を検知することができ、電動操作(自動閉鎖)の窓、ドア、サンルーフ、スライ ド式ドア、トランクの押し下げ機構およびその類似物の妨害物となることがある 物体の検知のような自動車の用途に最適である。 このセンサは導電性と誘電性(絶縁)の材料の交互の層からなる多層構造にな っている。センサ構造は3個の電極を有している。すなわち、タッチ板、ガード 層、および接地面であり、各々が絶縁層によって互いに隔絶されている。ガード 層電極がタッチ板に印加される電圧と振幅および位相が同じ信号によって励起さ れると、タッチ板とガード電極、またはタッチ板とアースとの間には容量性作用 は生じない。物体が検知領域内にある場合は、その存在によって(1pF程度の 低さであることがある)センサ・キャパシタンスと並行して付加的なキャパシタ ンスが誘発され、それによってセンサの出力に変化が生ずる。センサのキャパシ タンス自体は極めて低いので、それが存在することにより物体自体とタッチ板と の間に約0.01pFのキャパシタンスを生ずる物体を検知することができる。 ガード電極を加え、このガード電極をタッチ板に印加される信号と同一である が、この信号とは絶縁された信号で励起させることによって、センサの感度は大 幅に高まる。 センサは自励モードまたは他励モードのいずれかで機能する電子検知回路によ って作動される。自励モードではセンサ構造はそれ自体が発振器の能動部品であ り、タッチ板の近傍の物体によって発振器の振幅および周波数の双方または一方 が変化する。 他励モードでは、AC信号が外部ソースからセンサに印加され、センサの近傍 の物体による振幅および周波数の双方または一方の変化が検知される。 本発明の特徴と利点は添付図面を参照した以下の説明と請求の範囲を読むこと によって一層明らかになろう。 図面の簡単な説明 第1図はセンサ構造の周囲領域に物体が存在することを検知するための、本発 明に基づいて形成された多層センサ構造を示している。 第2図(a)は簡単なタッチ板形容量性センサを示している。 第2図(b)は第2図(a)の容量性センサを示しており、検知領域内に物体 が存在することが付加的なキャパシタンスC2によって示されている。C2はC 1と並列であり、従って互いに加算されて、より大きい等価キャパシタンスを形 成することができる。 第2図(c)は第2図(a)のタッチ板形容量性センサに第3の素子、すなわ ちガード電極を追加した実施例を示している。 第2図(d)は第2図(c)の回路のガード電極層を励起するために単一利得 の非反転増幅器を使用した実施例を示している。タッチ板とガード電極とは電子 的に絶縁されており、それでも位相と振幅が等しい電圧によって励起されること ができる。 第3図(a)および(b)は振幅と位相の双方の比較を利用した検知電子回路 を有する他励センサを示している。第3図(a)は第3図(b)に示した回路の 概略構成図である。 第4図(a)および(b)は振幅の比較を利用した検知電子回路を有する他励 センサを示している。第4図(a)は第4図(b)に示した回路の概略構成図で ある。 第5図(a)−(c)は検知回路で使用できる比較器/基準回路の3つの異な る実施例である。 第6図(a)および(b)は(バッファ増幅器からのAC出力信号の周波数変 化を利用せずに)振幅比較検知回路を利用した自励センサ構造を示している。第 6図(a)は第6図(b)に示した回路の概略構成図である。 第7図(a)−(d)は周波数比較検知回路を利用した自励センサ構造を示し ている。第7図(a)は第7図(b)および(c)に示した回路の概略構成図で ある。 第8図(a)および(b)は周波数比較検知回路を利用した自励センサ構造の マイクロプロセッサを使用した実施例を示している。 好適な実施例の詳細な説明 第1図は多層センサ構造の近傍領域に物体が存在するとこれを検知するための 本発明に基づき形成された多層センサ構造である。このセンサは導電性と誘電性 (絶縁)の材料の交互の層からなる多層構造になっている。接地面5はガード層 15とタッチ板25用の安定した接地面5を得るために適宜の支持面上に載置さ れた導電層である。あるいは、車両の金属シート・ボデーの場合のように支持面 1自体が適宜の接地面5としての役割を果たしてもよい。接地面5は少なくとも ガード層15と同じ大きさでなくてはならないが、全てのサイズでガード層を越 えて拡張していてもよい。第1絶縁層10がガード面上に置かれ、これは少なく ともガード層15と同じ大きさでなくてはならないが、これを越えて拡張してい てもよい。ガード層15は第1絶縁層10の上に配置された導電層である。ガー ド層15は電子検知回路と共働してタッチ板25を接地面5から電気的に絶縁す る。この好適な実施例では、ガード層15はタッチ板25と同サイズであり、こ れと位置合わせされている。実際には、ガード層15は製造公差を許容し、かつ 組立て易くするために僅かに(典型的には10/1000インチ)タッチ板25 以上の大きさであってもよい。ガード層15は第2絶縁層20によって覆われて いる。能動検知領域であるタッチ板25は第2絶縁層20の上に配置されている 。重要な点として述べておくと、検知するには実際にタッチ板25に接触する必 要はなく、使用される検知回路の種類、ひいては感度に応じて検知範囲は検知領 域 から数フィート隔てた領域から、センサ構造に物理的に接触するまでに亘る点で ある。保護絶縁層30がタッチ板25上に配置されるが、これはセンサの動作に は必要ない設計上のオプションである。 タッチ板25と全体的なセンサ構造の寸法や形状は限定されるものではなく、 湾曲、曲折したものでもよく、円形または角張ったものでもよい。自動車の電動 操作窓の用途では、センサ構造は窓の上部のウェザシールに実装した長く、狭い 条片の形状を呈している。センサ構造は自動車のドアまたは窓の内側または外側 、または両側に実装することができる。 導電層および絶縁層の双方には広範囲の材料が適している。導電層には銅、鋼 鉄、またはアルミニウムを選択することが望ましい。導電層としては導電性イン ク、導電性エポキシ、またはインジウム/酸化錫の透明被覆も適している。絶縁 層には最も一般的な非導電性プラスチック、エポキシ、接着材、酸化アルミニウ ム、およびガラスが適している。プラスチックでは、スチレンおよびポリエチレ ンを絶縁層として選択することが望ましい。重要な点は、材料の選択はセンサ構 造自体に固有な要求基準よりも、むしろ特定の使用環境との適合性によって定め られることである。 タッチ板25と、ガード層15と、接地面5とが電気的に接続される。センサ の各導電層、すなわち接地面、ガート増およびタッチ板毎に、個々の層を電気的 に接続することができるようなタブ、すなわち延長部が設けられている。典型的 には接地面用の延長部が最も長く、ガード層用の延長部は接地面用のものよりも 短い。次に個々の層毎の延長部に従来のようにリード線がはんだ付けされる。あ るいは、機械的コネクタを使用して各層毎の延長部を接触させてもよい。センサ は自励モードまたは他励モードのいずれかで機能する後述する電子検知回路によ って作動される。自励モードでは、センサ構造自体が発振器の能動部品であり、 タッチ板25の近傍の物体によって発振器の振幅および周波数の双方または一方 が変化する。他励モードでは、外部ソースからAC信号がセンサに印加され、セ ンサの近傍の物体に起因する振幅および周波数の双方または一方の変化が検知さ れる。 本発明とその主要な利点および特徴は、先ず簡単なタッチ板25形容量性セン サの動作を吟味することによって最も良く理解される。第2図(a)は簡単なタ ッチ板25形容量性センサを示している。第2図(a)に概略的に示すように、 タッチ板25とアースとがコンデンサC1を形成する。この例でのキャパシタン スC1は100−200pFの間である。発振器35からのAC電圧が抵抗値の 高い抵抗R1を経て印加される。R1の値は発振器の周波数におけるC1の容量 性リアクタンスにほぼ等しい。従って、R1とC1とがAC電圧の分圧器を形成 し、第2図(a)の出力Voは下記によって得られる。 Vo=Vg〔Xc1/(Xc1+R1)〕 但し、Xc1はC1の容量性リアクタンスであり、Vgは信号発生器35によっ て印加される電圧である。従って、簡単に言えば、出力電圧VoはC1と反比例 する。第2図(b)では、センサによってその存在が検知される物体がキャパシ タンスC2によって概略的に示されている。C2はC1と並列であり、従って互 いに加算されてより大きい等価キャパシタンスを形成することができる。上記の 方程式から明らかであるように、このより大きい等価キャパシタンスによって出 力電圧Voが降下する。後続の検知回路によって検知されるのは、物体の存在に より生ずる付加的なキャパシタンスに起因する出力電圧Voのこのような降下で ある。 実際には(100pF程度の)素子C1は(約10pFの)C2よりも大幅に 大きく、従って結果として生ずる出力電圧Voは極めて小さい。加えて、C1に は温度、湿度および老化に対する安定性がない。このような作用を補償し、感度 を高めるには回路はより複雑で高価なものになる。 本発明は、キャパシタンスを除去することはできないが、有効に相殺すること はできるという原理に基づいている。第2図(c)はタッチ板25形容量性セン サに第3の素子、すなわちガード電極15を追加した状態を示している。ガード 電極15がタッチ板25に印加された電圧と振幅および位相が同じ信号によって 励起されると、タッチ板25とガード電極15、またはタッチ板15とアースと の間には容量性作用が生じない。 このような相殺を達成するためには、タッチ板25をガード電極15と直接連 結することはできない。何故ならば、そうすれば第2図(c)の回路は第2図 (a)に示したものと同じ構造に戻ってしまうからである。しかし、ガード電極 15を励起するためにバッファ増幅器を使用すれば、タッチ板25とガード電極 15とが電子的に絶縁され、これらをそのまま位相と振幅が等しい電圧によって 励起してもよくなる。その結果生じた回路を第2図(d)に示している。バッフ ァ増幅器は典型的にはほぼ単一の利得を伴う非反転増幅器である。好適には、第 2図(d)の単一利得増幅器40は極めて高い入力インピーダンスと、極めて低 い出力インピーダンスを有している。実質的に、ガード電極15とアースとの間 のキャパシタンスはタッチ板25とアースとの間のキャパシタンスC1を相殺す る。 ガード電極15を追加し、このガード電極15をタッチ板25に印加される信 号と同一であるが、この信号から絶縁された信号で励起することによって、セン サの感度は大幅に高まる。 最適な相殺効果を達成するには、ガード電極15の寸法はタッチ板25と幾何 学的に一致していなければならない。すなわち、ガード電極15はタッチ板25 を接地面5から完全に遮蔽しなければならない。しかし、ガード電極15は全て の地点でタッチ板25から等距離にある必要はない。ガード電極15がタッチ板 25を越えて拡張していると、ガード電極の作用は検知される物体まで拡がり、 ひいては全体的な感度が低下する。前述のように、実際には製造公差を許容する ために、ガードはタッチ板25よりも僅かに大きいサイズで製造される。 最適な相殺効果を達成するために、センサ構造とバッファ増幅器回路とを機械 的に入念に構成することによって、タッチ板25から接地面6までの等価キャパ シタンス値を容易に1pF未満にすることができる。出力電圧Voの1%の降下 を検知するように検知回路を設計した場合は、タッチ板2と、その存在が検知さ れる物体との間のキャパシタンスは0.01pF未満である必要がある。従って その存在によって物体自体とタッチ板25との間に約0.01pFのキャパシタ ンスを生ずる物体を検知することができる。本発明に基づいて設計された実際の センサの場合、指がセンサに極めて軽く触れただけで出力電圧Voは20%降下 する。 第2図(d)では、出力電圧VoはDCバイアス電圧に重畳されたAC電圧で ある。DCバイアス電圧は重要ではなく、一般的には阻止コンデンサによって除 去される。AC電圧は整流され、ろ波され、検知用電子素子によって増幅されて 、有用で便利なDC電圧にされる。このDC出力電圧はピークAC電圧入力と比 例する。 第2図(d)に示したような本発明の基本原理は本発明の異なる実施例で実施 することができる。以下の説明から明らかであるように、任意の特定の実施態様 は任意の特定の用途に含まれるコスト/性能比の調整関係に応じて選択すればよ い。センサは自励モードまたは他励モードのいずれかで機能する電子検知回路に よって作動される。他励検知回路は振幅および位相の比較、または振幅だけの比 較を利用して、検知領域内の物体の存在を検出する。自励検知回路は振幅の比較 、または周波数の比較を利用して、検知領域内の物体の存在を検知する。これら の異なる各々の実施例は以下に詳述する。 他励近接センサを第3図および4図に示している。第3図(a)および(b) は振幅と位相の双方の比較を利用した検知電子回路を有する他励センサを示して いる。第3図(a)は第3図(b)に示した回路の概略構成図である。タッチ板 25は高インピーダンス電流リミタ60を経て外部発振器35によって励起され る。単一利得バッファ増幅器40はタッチ板25とアースとの間のキャパシタン スとバッファ増幅器40の入力キャパシタンスとの合計を最適に相殺するような 信号によってガード電極15を励起する。第3図(a)のこのような構成は前述 の第2図(d)に示した構成と同一である。 前述したように、バッファ増幅器40の出力電圧はDCバイアス・レベルで重 畳された発振器周波数でのAC信号である。このAC出力信号と発振器35から の信号は位相比較器45に送られる。センサの近傍に物体がない場合は、AC出 力信号は信号発振器と同相である。物体がセンサに接近すると、AC出力信号は 信号発振器35の位相から90°だけ遅れるまで僅かな振幅変化を伴って移相す る。物体がより近接すると、僅かな位相変化を伴ってAC出力信号の振幅が急激 に減少する。整流器/増幅器50は出力電圧信号からDCバイアス・レベルを除 去し、その後、AC出力信号を増幅し、かつDC信号へと変換する。このように 整流されたDC信号は比較器/基準段55で浮動基準と比較される。物体が所定 距離以上に離れている場合は、比較器/基準段55からの出力は論理“1”であ り、それよりも近接している場合は“0”である。 第3図(b)は第3図(a)の構成図に対応する振幅および位相の比較を利用 した他励センサの回路図を示している。演算増幅器OP1は抵抗R1からR5、 ダイオードD1およびD2、およびコンデンサC1およびC2とともに正弦(サ イン)波発振器を形成し、その出力は電流リミタ、高インピーダンス・コンデン サC3を経てタッチ板25へと送られる。第3図(b)には正弦波発振器が示さ れているが、方形波、三角波、またはランプ波形発生器を使用してもよい。Zソ ース60は第3図(b)ではコンデンサC3であるが、その代わりに高インピー ダンス抵抗またはインダクタを使用することもできよう。演算増幅器OP2はコ ンデンサC4および抵抗R7、R8およびR9とともにガード電極15を励起す る単一利得バッファ増幅器を形成している。コンデンサC5はDC阻止コンデン サである。正弦波発振器からの出力はトランジスタQ2に送られ、バッファ増幅 器からのAC出力信号はトランジスタQ1に送られる。抵抗R10からR13、 トランジスタQ1およびQ2、および結合トランスフォーマT1が位相比較回路 を形成している。コンデンサC6はAC出力からDCバイアス・レベルを除去す るDC阻止コンデンサである。結合トランスフォーマT1からの出力は整流器/ 増幅器50に送られる。トランジスタQ3およびQ4は抵抗R14からR18、 およびコンデンサC7とともに整流器/増幅器回路を形成している。トランジス タQ4からの整流器/増幅器の出力はコンデンサC6からのピークAC電圧入力 と比例するDC電圧である。このDC信号は比較器/基準回路によって浮動基準 電圧と比較される。 比較器/基準回路を実施するには幾つかの方法があり、第5図(a)−(c) に3つの異なるバージョンが示されている。整流器/増幅器からのDC電圧は比 較器の非反転入力端子(+入力)に印加される。DC基準電圧は反転入力端子( −入力)に印加される。DCセンサ電圧が基準電圧以下に降下すると、比較器の 出力電圧は供給電圧Vccからアース電圧へと切り換わる。基準電圧は物体が検知 されない場合のセンサのDC電圧よりも低い値に設定されなければならない。基 準電圧がセンサのDC電圧に近い程、感度は高くなる。この回路の欠点は、セ ンサの電圧を温度、湿度の変化、老化および塵芥に抗して安定するように保つに は高価な材料と許容差が厳密な部品を使用する必要があることである。 このような長期に亘るドリフト作用を克服するため、“浮動基準”を有する比 較器を使用することができる。第図(b)では、センサのDC電圧は比較器の非 反転入力に印加される。基準電圧は抵抗R1およびR2からなる分圧器によって センサのDC電圧から誘導され、その際にR2>R1である。第5図(b)のコ ンデンサC1の値は抵抗R1とともに時間定数が数秒から1分になるように選択 される。物体が検知されない場合、C1と比較器の入力は抵抗性分圧器の分圧比 によって定められるセンサのDC電圧よりも僅かに小さい電圧値まで荷電される 。基準電圧は時間定数(R1*C1)よりもゆっくりと変化する、部品の公差お よび長期間に亘るドリフト作用に起因するセンサの出力電圧の変動に対して自己 調整する。物体がセンサに接近すると、センサのDC電圧は降下するが、基準電 圧はコンデンサC1によって維持される。降下が基準以下である場合は、比較器 の出力は供給電圧Vccからアース電圧へと切り換わる。検知された物体が数秒間 同じ位置に留まっている場合は、基準電圧はセンサの電圧よりも僅かに低い新た な値まで減衰し、比較器の出力は再びVccに切り換わる。 自動車の用途では、比較器の出力は検知された物体が検知範囲内にある間は能 動状態に留まり、かつ基準電圧が能動値から急速に回復することが望ましい。第 5図(c)の比較器/基準回路はこのような付加的な要求基準を満たすものであ る。 この回路では、出力の能動的な引き上げ(プルアップ)が必要なので演算増幅 器が比較器として用いられる。この場合、センサのDC出力は反転入力に直接印 加される。回路素子R1、D1およびC1は(R1を経た)長い放電時間、およ び(D1を経た)短い充電時間を伴うRD回路網を形成する。抵抗R2は比較器 の出力に接続され、基準電圧にヒステリシスを与える。物体が検知されない場合 、比較器の出力はアースにあり、分圧器R1R2は非反転入力を反転入力よりも 僅かに低い値に保持する。物体が検知範囲内にある場合は、反転入力は基準電圧 以下に降下し、出力は供給電圧Vccへと切り換わる。ここでR1とR2の抵抗の 組合わせは基準電圧をVccで出力をラッチするセンサの電圧以上に引き上げる。 物 体が検知範囲外に出ると、センサの電圧は再び基準電圧以上に上昇し、そこで出 力電圧はアースに戻る。第5図(b)および(c)に示した回路の場合、種々の RD時間定数および抵抗・分圧器の比率をセンサの任意の特定の用途のニーズに 適合するように変更することができる。 第3図(b)では、図示した特定の比較器/基準回路は第5図(c)に示した ものと対応している。比較器/基準回路は回路素子R19、R20、D3および C8とともに演算増幅器OP3を使用し、回路の動作は第図(c)に関して前述 した回路と同様である。 第4図(a)および(b)は振幅の比較を利用した検出電子回路を有する他励 センサを示している。第4図(a)の信号検知回路には位相の比較が用いられず 、従って第4図(a)には位相比較回路ブロック45がないことを除いては、第 4図(a)は第3図(a)と同一である。 第4図(b)は第4図(a)に示した構成図に対応する振幅比較を利用する他 励センサの回路レベルの実施例を示している。回路の動作は、バッファ増幅器の 出力が位相比較回路の介在を伴わずに整流器/増幅器回路に直接送られることを 除いては第3図(b)に関して前述した動作と同一である。演算増幅器OP1、 抵抗R1からR4、およびコンデンサC1からなる第4図(b)に示した発振器 は、正弦波形を発生する第3図(b)に示した発振器とは異なり、方形波形を発 生する。異なる発振器回路を第4図(b)に示したのは説明目的のためだけであ る。第3図(b)および第4図(b)で双方の種類の発振器回路とも互換的に使 用できる。同様にして、説明目的のために、第4図(b)に示した抵抗R5は高 インピーダンスの電流制限されたZソースとしての役割を果たす。コンデンサC 3がZソースとして用いられた第3図(b)にも代案の例が示されている。第4 図(b)のバッファ増幅器はワーリントン・エミッタ−フォロア構造のトランジ スタQ1およびQ2と、抵抗R6およびR7とによって形成されている。このバ ッファ増幅器は第3図(b)に示した演算増幅器のバージョンと比較してより安 価にバッファ増幅器を実施する方法である。しかし、演算増幅器を利用した第3 図(b)のバッファ増幅器の方が第4図(b)に示したバッファ増幅器よりも感 度が高く、単一利得に近い。(第3図(b)のように)振幅および位相のいずれ かの比較を利用するか、または(第4図(b)のように)振幅の比較だけを利用 するいずれの実施例でも、任意の特定の用途でのコスト/性能比との調整関係に 応じていずれのバッファ増幅器を使用してもよい。第4図(b)のコンデンサC 2はDCを阻止する。抵抗R8からR12、コンデンサC3およびトランジスタ Q3およびQ4からなる整流器/増幅器は第3図(b)に示した整流器/増幅器 回路と設計および動作が同一である。第4図(b)の比較器/基準回路も第3図 (b)に示した回路と設計および動作が同一である。 第4図(b)に示した回路は振幅比較だけを用いた検知回路を使用しており、 バッファ増幅器からのAC出力信号の移相部品を使用していない。従ってこの回 路は第3図(b)に示した装置よりも感度は低い。しかし、これは位相比較回路 素子を含んでいないのでより安価な実施態様である。 センサ構造は自励モードで機能する電子検知回路によって動作することもでき る。自励モードでは、センサ構造自体が発振器の能動部品である。センサ構造の 機械的な配置(第1図参照)には2個のコンデンサがあり、一方はタッチ板25 とガード電極15との間に、また他方はガード電極15とアースとの間にある。 2個のコンデンサはガード電極15で共通の接続部を有しており、これらのコン デンサは協働してフィードバックをもたらし、かつコルピッツ発振器内の(イン ダクタと共振する)周波数決定部品として機能することができる。自励検知回路 とともに動作するタッチ板25に物体が接近すると、出力周波数および振幅が減 少する。検知回路はこのような振幅と周波数の変化を検知して、検知領域に物体 が存在することを示すように設計されている。 第6図(a)および(b)は(バッファ増幅器からのAC出力信号の周波数の 変化を利用せずに)振幅比較検知回路を利用した自励センサ構造を示している。 第6図(a)は3つの機能回路ブロック、すなわち発振器、整流器/増幅器、お よび比較器/基準回路を示した概略構成図である。第6図(b)は第6図(a) に示した概略図の回路レベルの実施態様である。トランジスタQ1は発振器の能 動部品であり、インダクタL1は背面組合わせのセンサ・コンデンサとともに発 振器の周波数を決定する。R1とR2はトランジスタQ1用のバイアス抵抗であ る。トランジスタQ2と抵抗R3とはバッファ増幅器を形成し、発振器を後続の 回路から遮断する。コンデンサC1はDC阻止コンデンサである。C1からのA C出力信号は設計と動作が第3図(b)および4図(b)に示した整流器/増幅 器回路と同一である(回路素子Q3、Q4、R4からR8、およびC2からなる )整流器/増幅器回路に送られる。この回路からの出力は設計と動作が第3図( b)および4図(b)に示した比較器/基準回路と同一である比較器/基準回路 に送られる。 第7図(a)−(d)は周波数比較検知回路を用いた自励センサ構造を示して いる。この回路は物体が検知領域に接近すると、バッファ増幅器からのAC出力 センサの周波数の変化を検知する。第7図(a)はこの回路の概略構成図であり 、4つの機能素子を示している。すなわち、センサ構造を組入れた発振器、周波 数カウンタ、2進比較器、および2進基準回路である。第7図(b)および(c )は第7図(a)に示した構成図の回路レベルの実施態様である。第7図(d) は第7図(b)および(c)に示した回路の種々のポイント(例えば“AA”、 “BB”等)での信号波形を示している。第7図(b)では、センサ、インダク タL1、トランジスタQ1および抵抗R1およびR2がコルピッツ発振器を形成 している。トランジスタQ2および抵抗R3はバッファ増幅器を形成して、発振 器が後続の回路負荷から遮断する。回路素子IC1aからIC1eは論理レベル ・インバータである。インバータIC1aは抵抗R4でバイアスされ、線形増幅 器として動作する。トランジスタQ2の信号出力はコンデンサC1、DC阻止コ ンデンサを経てIC1aの入力に供給される。信号の正と負の偏倚運動(excursi on)によってインバータIC1aの出力は飽和状態まで励起される。それによっ て通常は丸い発振器出力波形が回路内の“AA”のポイントで方形波形へと形成 される。(第7図(d)を参照)インバータIC1bは波形を反転させ、ポイン ト“BB”で反転波形を発生する。(第7図(d)を参照)インバータIC1a の出力はIC3、すなわちフリップフロップへのクロック入力としても利用され る。Qおよび反転されたQにおけるフリップフロップIC3の出力は入力の周波 数の半分の周波数であり、第7図(b)の“CC”および“DD”に示されてい る。回路素子IC2aからIC2dは論理積回路である。第7図(b)の信号“ BB”および“DD”はIC2aで論理積演算され、“FF”でCOMPARE 信号を発生する(第7図(d)を参照)。信号“AA”および“CC”はIC2 bで論理積演算され、GATE信号“EE”を発生する(“EEの継続期間、す なわち幅はトランジスタQ2のエミッタにおける出力信号のサイクルの半分に等 しいことを付記しておく)。信号“AA”および“DD”はIC2cで論理積演 算され、“GG”でRESET信号を発生する。IC1eは発振器を回路の負荷 から緩衝する。発振器の出力は“HH”に示されている(第7図d)を参照)。 発振器信号“HH”の周波数はセンサ発振器の周波数の約1−200倍である。 信号“EE”および“HH”はIC2dで論理積演算され、信号“JJ”を発生 する。“JJ”におけるサイクル数はタッチ・センサ発振器の周期と比例する。 IC4はマスター・スレーブ・フリップフロップIC4aからIC4hからな る8段2進リプル・カウンタを形成している(第7図(c)を参照)。カウント されるべき信号はIC4aのCPに送られ、マスター・リセット線が備えられる 。カウントされるパルス数を表す出力はIC4aからIC4hのQ出力であり、 振幅比較器IC5へのA0からA7入力へと送られる。2進基準値はスイッチS 0からS7のバンクによって発生され、IC5内の入力B0からB7へと送られ る。 動作手順は次のとおりである。検知サイクルは“GG”におけるリセット信号 が高レベルに向かい(高レベルの場合は記載した全ての論理値が正、すなわち能 動状態である)、カウンタをクリヤする。この時点で比較器とカウント手順は使 用禁止になる。次にカウント・ゲート信号“EE”が起動され、パルスが“JJ ”にてカウンタに供給されることが可能になる。この時点でも比較器は依然とし て使用禁止である。カウント・ゲート信号が低レベルに向かうと、パルスのカウ ントはパルス・カウンタのQ出力に保持される。次に、“FF”における比較ス トローブが能動状態になる。比較器IC5はカウンタからの値と基準値とを比較 する。カウンタ(入力A)が基準値(入力B)未満か、これと等しい場合は、出 力は高レベルに向かい、検知領域内に物体があることを示す。比較ストローブが 低レベルに向かうと、出力は振幅比較器IC5によってラッチされる。 タッチ・センサ発振器の周波数は物体が接近すると減少する。すなわち、言い 換えると、発振器の周期が増大する。カウント・ゲート信号“EE”の幅はタッ チ・センサ発振器の周期と直接比例し、従って、カウント・ゲートの幅は物体の 接近とともに増大する。カウンタ入力に供給される水晶発振器からのサイクル数 はカウント・ゲート信号の幅と直接比例し、従って物体が接近するとカウンタ出 力は増大する。ディジタル基準数は任意の特定の用途に応じて予め定められてお り、物体の存在が回路の出力をトリガする距離、タッチ・センサ発振器の周波数 、および水晶発振器の周波数のような多くの要因に基づいて設定することができ る。 第8図(a)および(b)は周波数比較検知回路を用いた自励センサ構造のマ イクロプロセッサを利用した実施態様を示している。タッチ・センサ、インダク タL1、トランジスタQ1、および抵抗R1およびR2がコルピッツ発振器を形 成している。発振器の周波数はインダクタL1およびセンサのキャパシタンスに よって決定される。トランジスタQ1と抵抗R3とがバッファ増幅器を形成し、 C1はDC阻止コンデンサである。回路素子IC1は準線形増幅用に抵抗R3に よってバイアスされた反転ゲートである。IC1への入力は出力を充分に飽和さ れ、それによって方形波でマイクロプロセッサ(第8図(a)を参照)への入力 ポートを励起するのに充分に大きい入力である。マイクロプロセッサへのシステ ム・クロックは基準信号を供給する。マイクロプロセッサ内のカウンタは入力ポ ートでの信号が高レベルにある周期を測定し、これを基準信号と比較する(第8 図(b)の流れ図を参照)。カウンタが基準信号未満であるか、これに等しい場 合は(すなわちマイクロプロセッサへの入力ポート信号の期間が基準信号の期間 の半分未満か、これに等しい場合は)、マイクロプロセッサへの出力ポートでの 信号は高レベルに向かい、検知領域内に物体が存在することを示す。 自励モードまたは他励モードのいずれの場合も、振動周波数は重要ではなく、 数キロヘルツ(kHz)から数百メガヘルツ(MHz)の範囲でよい。いずれか のモードで発振器によって発生される波形の形状も重要ではなく、正弦波、方形 波、またはランプ波形を用いて優れた性能が得られる。好適な実施例では、選択 された特定の検知回路に応じて、10kHz−10MHzの周波数を有する正弦 波、または方形励振波を使用してもよい。 絶縁層の厚さは基本的な理論上、または設計上の考慮によってではなく、むし ろセンサの特定の用途の要求基準によって設定される。導電層(すなわちガード 層1タッチ板25)との厚さは典型的には0.1から10ミルの間である。 自励回路では、分離された第1と第2の絶縁層10、20は薄く保たれる(典 型的には約10−15ミル)。それらの厚さの比率がその結果として生ずるキャ パシタンスの比率を決定し、この比率は発振器回路に適合するように調整できる 。 他励回路では、接地面5とガード層15との間の第1絶縁層10をできるだけ 厚くすることが望ましい。それによってガード層15と接地面5との間の信号損 が減少する。ガード層15とタッチ板25との間の絶縁体は結合を最大限にする ためにできるだけ薄くするべきである(約5ミル)。それによってガード層電極 15を励起する信号3がタッチ板25への信号と同じ振幅と位相とを有すること が可能になる。ガード層15が外部の発振器によって励起される場合は、接地面 5とガード層15との間の絶縁体の厚さは重要ではなく、ガード層15からタッ チ板25への絶縁体の厚さは、バッファ入力で便利な励起レベル(典型的にはピ ークピーク値で約2.5−5.0V)を達成するように調整することができる。 振幅比較または位相と振幅の比較を利用した他励近接センサを使用するか、ま たは振幅比較または周波数比較を利用した自励近接センサを使用するかの選択は 、主として用途に応じた要求およびコスト/性能比(すなわち感度)の調整関係 によって決まる。 振幅比較を利用した自励近接センサは一般に1個のセンサしか必要としない用 途に最適である。このようなセンサは感度が良いだけではなく、少数の部品しか た使用しないのでコストは低く抑えられる。(自動車の場合のように)マイクロ コントローラの資源を利用できる場合は、マイクロコントローラを使用して比較 的少ない追加部品で周波数比較バージョンを実施することができる。それによっ て整流器/比較器回路の必要性もなくなる。自励近接センサは比較的高価な部品 であるインダクタを使用しているので、このようなセンサは複数のセンサを使用 する用途ではコスト有効度が低い。 振幅比較を利用する他励近接センサは複数のセンサを使用する用途に最適であ る。部品数の増大は複数個のセンサを励起するために1個の発振器を使用するこ とによって相殺され、整流器/増幅器、および比較器/基準段を多重化して幾つ かのセンサに役立てることができる。位相および振幅比較を利用した他励近接セ ンサは最高の感度を得ることができるが、部品の数も最大になる(すなわちコス トが高くなる)。 これまで現時点で本発明の好適な実施例と見なされることを説明してきたが、 本発明から離れることなく種々の変更と修正が可能であることは当業者には明ら かであり、従って本発明の真の趣旨と範囲に含まれるこのような変更や修正の全 てを包含することを意図するものである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.検知領域内の物体の存在を検知するための容量性センサにおいて、 接地面と、 前記接地面上に配置された第1絶縁層と、 前記第1絶縁層上に配置されたガード層と、 前記ガード層上に配置された第2絶縁層と、 前記第2絶縁層上に配置されたタッチ板と、 励起信号を前記タッチ板に供給する発振手段と、 前記ガード層と前記全治面との間のキャパシタンスが前記タッチ板と前記接地 面との間のキャパシタンスを実質的に相殺するように、前記ガード層に励起信号 を供給するための励起手段と、 を備えてなることを特徴とするセンサ。 2.前記励起手段が前記タッチ板を前記ガード層から電気的に絶縁するバッファ 増幅器からなることを特徴とする請求の範囲第1項に記載のセンサ。 3.前記センサからの出力電圧の振幅の変化を測定する手段を更に備えたととも に、検知領域内の物体の存在が前記手段を用いて検知されることを特徴とする請 求の範囲第1項に記載のセンサ。 4.前記センサからの出力電圧の振幅の変化を測定する手段と、前記センサから の出力電圧の位相の変化を測定する手段とを更に備えたとともに、検知領域内の 物体の存在が前記手段を用いて検知されることを特徴とする請求の範囲第1項に 記載のセンサ。 5.前記接地面の大きさが少なくとも前記ガード層と同じであり、あらゆる寸法 で該ガード層を越えて拡張していることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の センサ。 6.前記第1絶縁層の大きさが少なくとも前記ガード層と同じであることを特徴 とする請求の範囲第1項に記載のセンサ。 7.前記ガード層が前記タッチ板とほぼ同サイズであることを特徴とする請求の 範囲第1項に記載のセンサ。 8.前記タッチ板と前記ガード層トガ導電性であり、厚さが0.1−10ミル (mil)の間であることを特徴とする請求の範囲第1項に記載のセンサ。 9.前記発振手段が10kHz−10MHzの周波数の正弦波、方形波、または ランプ波形を発生することを特徴とする請求の範囲第1項に記載のセンサ。 10.検知領域内の物体の存在を検知する容量性センサにおいて、 接地面と、 前記接地面上に配置された第1絶縁層と、 前記第1絶縁層上に配置されたガード層と、 前記ガード層上に配置された第2絶縁層と、 前記第2絶縁層上に配置されたタッチ板と、 前記センサと並列のインダクタ、とを備えてなり、前記インダクタおよび前記 センサが前記センサを励振する発振手段を形成することを特徴とするセンサ。 11.前記センサからの出力電圧の振幅数の変化を測定する手段を更に備えたと ともに、検知領域内の物体の存在が前記手段を用いて検知されることを特徴とす る請求の範囲第10項に記載のセンサ。 12.前記センサからの出力電圧の周波数の変化を測定する手段を更に備えたと ともに、検知領域内の物体の存在が前記手段を用いて検知されることを特徴とす る請求の範囲第10項に記載のセンサ。 13.前記センサからの出力電圧の周波数の変化を測定する前記手段がマイクロ プロセッサからなることを特徴とする請求の範囲第12項に記載のセンサ。 14.前記接地面の大きさが少なくとも前記ガード層と同じであり、あらゆる寸 法で該ガード層を越えて拡張していることを特徴とする請求の範囲第10項に記 載のセンサ。 15.前記第1絶縁層の大きさが少なくとも前記ガード層と同じであることを特 徴とする請求の範囲第10項に記載のセンサ。 16.前記ガード層が前記タッチ板とほぼ同サイズであることを特徴とする請求 の範囲第10項に記載のセンサ。 17.前記タッチ板と前記ガード層トガ導電性であり、厚さが0.1−10ミル (mil)の間であることを特徴とする請求の範囲第1項に記載のセンサ。 18.検知領域内の物体の存在を検知する方法において、 接地面を備えるステップと、 前記接地面上に第1絶縁層を配置するステップと、 前記第1絶縁層上にガード層を配置するステップと、 前記ガード層上に第2絶縁層を配置するステップと、 前記第2絶縁層上にタッチ板を配置するステップと、 発振手段によって前記タッチ板を励振するステップと、 前記ガード層と前記全治面との間のキャパシタンスが前記タッチ板と前記接地 面との間のキャパシタンスを実質的に相殺するように、前記励振手段によって前 記ガード層を励起するステップと、 からなることを特徴とする方法。 19.前記励起手段として前記タッチ板を前記ガード層から電気的に絶縁するバ ッファ増幅器を選択するステップを更に含むことを特徴とする請求の範囲第18 項に記載の方法。 20.検知領域内に物体が存在することを判定するために、前記センサからの出 力電圧の振幅の変化を測定するステップを更に含むことを特徴とする請求の範囲 第18項に記載の方法。 21.検知領域内に物体が存在することを判定するために、前記センサからの出 力電圧の振幅と位相の変化を測定するステップを更に含むことを特徴とする請求 の範囲第18項に記載の方法。 22.検知領域内の物体の存在を検知する方法において、 接地面を備えるステップと、 前記接地面上に第1絶縁層を配置するステップと、 前記第1絶縁層上にガード層を配置するステップと、 前記ガード層上に第2絶縁層を配置するステップと、 前記第2絶縁層上にタッチ板を配置するステップと、 前記センサと並列にインダクタを配置し、かつ前記インダクタと前記センサと によって形成された発振手段によって前記センサを励振するステップと、 からなることを特徴とする方法。 23.検知領域内に物体が存在することを判定するために、前記センサからの出 力電圧の振幅の変化を測定するステップを更に含むことを特徴とする請求の範囲 第22項に記載の方法。 24.検知領域内に物体が存在することを判定するために、前記センサからの出 力電圧の周波数の変化を測定するステップを更に含むことを特徴とする請求の範 囲第22項に記載の方法。 25.前記センサからの出力電圧の周波数の変化を測定する前記ステップをマイ クロプロセッサを使用して行うことを特徴とする請求の範囲第24項に記載の方 法。
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