JP2000506275A - サンプルの偏差を検出するためのシングルレーザ明視野及び暗視野装置 - Google Patents
サンプルの偏差を検出するためのシングルレーザ明視野及び暗視野装置Info
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1. サンプルの偏差を検出する装置であって、 前記サンプルに2つのほぼ平行な光入射ビームを伝達する手段であって、前 記ビームは最初はコヒーレントであるが異なる偏光を持つ手段と、 前記2つの入射ビームからの前記サンプルによって分散された光を検出する 少なくとも1つの暗視野検出器と、 前記2つの入射ビームの透過した部分又は前記サンプルによって前記2つの 入射ビームの反射された部分の間の位相差を検出する明視野検出器とを備える装 置。 2. 請求項1の装置において、さらに、前記2つのビームの前記サンプルを通過 して伝達された部分又は前記サンプルから反射された部分を結合して結合ビーム を形成する手段を備えており、前記明視野検出器が、 前記結合されたビーム又はそれから得られたビームを、異なる偏光の第1及 び第2の出力ビームに分割する手段と、 前記第1及び第2の出力ビームを検出して2つの出力を提供するとともに、 前記2つの出力の減算を行って位相シフト信号を提供する手段とを備える装置。 3. 請求項1の装置において、前記2つの入射ビームの一方が、該2つの入射ビ ームの他方のよりも大きな強度を有する装置。 4. 請求項3の装置において、前記2つの入射ビームの一方が、該2つの入射ビ ームの他方のよりも少なくとも20倍の大きさを有する装置。 5. 請求項1の装置において、前記伝達手段が、 前記サンプルに向けてコヒーレントな光ビームを提供するレーザーと、 該レーザーから前記サンプルに向けて前記ビームを通過させ、さらに、該ビ ームの前記サンプルによって反射された部分を前記明視野検出器に向けて反射す るビームスプリッターであって、入射した光の85%又はそれ以上を通過させる ビームスプリッターとを備える装置。 6. 請求項1の装置において、前記伝達手段が透過性のある誘電材料の本体を備 える装置。 7. 請求項6の装置において、前記本体は、入射面と反射面とを有するブロック 形状であり、前記2つの表面は互いにほぼ平行であり、前記レーザーから提供さ れた前記ビームは、2つの範囲の一方の値を持つ入射角度で前記入射面に向けら れ、前記2つの範囲の前記一方の値は、前記誘電体材料のブリュースター角より 大きく、さらに、前記2つの範囲の他方の値は、前記前記誘電体材料のブリュー スター角より小さい装置。 8. 請求項1の装置において、前記2つの入射ビームは前記サンプルの少なくと も2つの領域を同時に照射し、少なくとも1つの前記暗視野検出器は、前記同時 に照射されたサンプルの領域によって分散された光を検出し、前記明視野検出器 は、前記サンプルの前記同時に照射された領域を通過して伝達された部分又は前 記サンプルの前記同時に照射された領域から反射された部分の間の位相差を検出 する装置。 9. 請求項1の装置において、前記伝達手段は、P偏光及びS偏光の光を別々に 反射し伝達する光学素子を含む装置。 11.請求項9の装置において、前記光学素子は、P偏光の光の2%から5%及び S偏光の光の47%から43%を反射するが、P偏光の光の98%から95%及 びS偏光の光の53%から57%を透過する偏光ビームスプリッターを備える装 置。 12.サンプルの偏差を検出する方法であって、 前記サンプルに2つのほぼ平行な光入射ビームを伝達する工程であって、前 記ビームは最初はコヒーレントであるが異なる偏光を持つ工程と、 前記2つの入射ビームからの前記サンプルによって分散された光を検出する 工程と、 前記サンプルを通過した前記2つの入射ビームの透過した部分又は前記サン プルによって前記2つの入射ビームの反射された部分の間の位相差を検出する工 程とを含む方法。 13.請求項12の方法において、さらに、前記2つのビームの前記サンプルを通 過して伝達された部分又は前記2つのビームの前記サンプルから反射された部分 を結合して結合ビームを形成する工程を含んでおり、前記位相差検出工 程が、 前記結合されたビーム又はそれから得られたビームを、異なる偏光の第1及 び第2の出力ビームに分割する工程と、 前記第1及び第2の出力ビームの間の差を入手する工程とを含む方法。 14.請求項13の方法において、前記入手する工程は、前記第1及び第2の出力 ビームを検出して2つの出力を提供するとともに、前記2つの出力を減算して前 記位相差を提供する工程を含む方法。 15.請求項12の方法において、前記前記2つの入射ビームの一方が、該2つの 入射ビームの他方のよりも大きな強度を有する方法。 16.請求項15の方法において、前記2つの入射ビームの一方が、該2つの入射 ビームの他方のよりも少なくとも20倍の大きさを有する方法。 17.請求項12の方法において、前記伝達工程が、 前記サンプルに対しコヒーレントな光ビームを指向させる工程と、 レーザーから前記サンプルに向けて前記ビームを通過させ、さらに、該ビー ムの前記サンプルからの反射された部分を前記明視野検出器に向けて反射するビ ームスプリッターを提供する工程であって、該ビームスプリッターは、入射した 光の85%又はそれ以上を通過させる工程を含む方法。 18.請求項17の方法において、前記伝達工程が透過性のある誘電体材料の本体 を提供する工程を備えていて前記ビームを前記サンプルに向けて通過させるとと もに、前記サンプルによって反射されたものを明視野検出器に反射し、前記本体 は、入射面と反射面とを有するブロック形状であり、前記2つの面は互いにほぼ 平行であり、前記伝達工程は、前記レーザービームを所定の入射角度で前記入射 面に指向する工程を含む方法。 19.請求項18の方法において、さらに、前記指向工程の前に、前記誘電材料の 屈折率及び所望のフリンジビジビリティーの関数として、前記入射角の最適値を 決定する工程を備える方法。 20.請求項12の方法において、前記伝達工程によって、前記2つの入射ビーム が前記サンプルの少なくとも2つの領域を同時に照射し、前記2つの検出工程が 、前記サンプルの同時に照射された領域から分散された光を検出すると ともに、前記サンプルの同時に照射された領域を通過して伝達された部分又は前 記サンプルの同時に照射された領域から反射された部分をの位相差を検出する方 法。
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