JP2000349134A - 処理装置 - Google Patents

処理装置

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JP2000349134A
JP2000349134A JP15504099A JP15504099A JP2000349134A JP 2000349134 A JP2000349134 A JP 2000349134A JP 15504099 A JP15504099 A JP 15504099A JP 15504099 A JP15504099 A JP 15504099A JP 2000349134 A JP2000349134 A JP 2000349134A
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圭一 松島
Jun Hirose
潤 廣瀬
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Abstract

(57)【要約】 【課題】スループットの向上を図ることができる処理装
置を提供することにある。 【解決手段】真空処理室1と、この真空処理室1と連通
するロード・ロック室2と、このロード・ロック室2内
に設けられ、真空処理室1にウェーハWを搬入・搬出す
る搬送アーム6とを備えた処理装置において、前記ロー
ド・ロック室2内にウェーハWのノッチaを検出して位
置決めする位置決め機構16を設け、前記ロード・ロッ
ク室2の圧力調整と同時に位置決め機構16によってウ
ェーハWのノッチaを検出して位置決めすることを特徴
とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、ノッチ、オリエ
ンテーションフラット等の切欠部を有する半導体ウェー
ハ等の被処理体を位置決めする手段を備えた処理装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスを製造するための各工程
において、物品としての半導体ウェーハをロード・ロッ
ク室から所定の処理を行なうプロセス室側へ引き渡すた
めに、あるいは処理済みの半導体ウェーハをプロセス室
側からロード・ロック室へ引き渡すために、搬送装置が
使用されている。
【0003】搬送装置としては、通常の搬送アームが使
用されており、従来、スカラ型ツインピックアップ、ス
カラ型デュアルアームタイプ、フロッグレッグタイプが
知られているが、いずれもアームを回動自在に連結した
多関節構造であり、アームの基端側に旋回機構を有し、
先端側に半導体ウェーハを支持するピックを有し、アー
ムの旋回運動及び関節部の屈伸運動によって搬送するよ
うになっている。
【0004】また、半導体ウェーハをプロセス室で所定
の処理を行う前に、半導体ウェーハを位置決めする必要
がある。そこで、従来においては、大気雰囲気のトラン
スファチャンバの一部にアライメント機構を設け、この
アライメント機構によって半導体ウェーハの外周縁部に
設けられたノッチあるいはオリエンテーションフラット
等の切欠部を検出し、この切欠部を基準として半導体ウ
ェーハの位置決めを行っている。
【0005】半導体ウェーハの切欠部を検出して位置決
めする位置決め装置としては、例えば特開平10−17
3031号公報に示すように、モータによって回転する
回転テーブル上に半導体ウェーハを載置するとともに、
半導体ウェーハの周縁部を挟んで上下に対向する発光素
子と受光素子を設け、受光素子からの検出信号によって
制御部がモータを制御するようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述のよう
に、大気雰囲気に設置されたトランスファチャンバの一
部にアライメント機構を設け、このアライメント機構に
よって半導体ウェーハのアライメントを行った後に、そ
の半導体ウェーハを搬送アームによってロード・ロック
室に搬入している。そして、ロード・ロック室に半導体
ウェーハを搬入後、ゲートバルブを閉じてロード・ロッ
ク室を排気して所定の真空圧にしている。
【0007】従って、搬送アームは、アライメントが完
了するまでの待ち時間とロード・ロック室が所定の真空
圧になるまでの待ち時間が必要となり、スループットの
低下の原因となっている。また、アライメントされた半
導体ウェーハをトランスファチャンバ側の搬送アームに
よってロード・ロック室に搬入し、ロード・ロック室側
の搬送アームに受渡しているため、折角アライメントさ
れた半導体ウェーハが受渡しによって誤差が累積され、
アライメント設置精度が悪いという問題がある。
【0008】また、特開平10−173031号公報に
示すように、回転テーブルをモータによって回転させて
半導体ウェーハの切欠部を検出して位置決めする位置決
め装置は、高さ寸法が大きくなり、処理装置が大型化す
るという問題がある。
【0009】この発明は、前記事情に着目してなされた
もので、その目的とするところは、スループットの向上
とロード・ロック室の薄型化により装置の小型化を図る
ことができる処理装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明は、前記目的を
達成するために、請求項1は、処理室と、この処理室と
連通するロード・ロック室と、このロード・ロック室内
に設けられ、前記処理室に被処理体を搬入・搬出する搬
送機構とを備えた処理装置において、前記ロード・ロッ
ク室内に被処理体の切欠部を検出して被処理体を位置決
めする位置決め機構を設け、前記ロード・ロック室の圧
力調整と同時に前記位置決め機構によって前記被処理体
の切欠部を検出して位置決めすることを特徴とする。
【0011】請求項2は、請求項1の前記位置決め機構
は、切欠部を有する被処理体を保持して回転させる回転
テーブルと、この回転テーブルを回転駆動する超音波モ
ータと、前記被処理体の切欠部を検出する光学的検出手
段と、この光学的検出手段からの検出信号によって前記
超音波モータを制御する制御部とからなることを特徴と
する。
【0012】請求項3は、請求項1の前記位置決め機構
は、切欠部を有する被処理体を保持して回転させる回転
テーブルと、この回転テーブルを回転駆動するリニアモ
ータと、前記被処理体の切欠部を検出する光学的検出手
段と、この光学的検出手段からの検出信号によって前記
リニアモータを制御する制御部とからなることを特徴と
する。
【0013】請求項4は、請求項1の前記位置決め機構
は、被処理体を搬送する搬送アームに搭載されているこ
とを特徴とする。
【0014】前記構成によれば、ロード・ロック室内を
排気して所定の真空圧にする間に、ロード・ロック室内
で位置決め機構により被処理体の切欠部を検出して位置
決めできる。また、位置決め機構に超音波モータあるい
はリニアモータを用い、被処理体を保持する回転テーブ
ルを回転させることにより、薄型に構成できる。さら
に、位置決め機構を、被処理体を搬送する搬送アームに
搭載することにより、被処理体の搬送途中でも位置決め
できる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、この発明の各実施の形態を
図面に基づいて説明する。
【0016】図1〜図3は第1の実施形態を示し、図1
は被処理体としての半導体ウェーハをエッチングする真
空処理装置を示し、(a)は概略的平面図、(b)は概
略的縦断側面図、図2はバッファの斜視図、図3は位置
決め機構の縦断側面図である。この真空処理装置は、半
導体ウェーハ(以下、単にウェーハWという)をエッチ
ング処理する真空処理室1とロード・ロック室2とから
構成されている。
【0017】真空処理室1とロード・ロック室2とは真
空側ゲートバルブ3を介して連通しており、ロード・ロ
ック室2の真空側ゲートバルブ3と反対側にはトランス
ファチャンバ4との間を開閉する大気側ゲートバルブ5
が設けられている。
【0018】ロード・ロック室2の略中央部には後述す
る搬送装置としてのスカラ型シングルピックタイプの搬
送アーム6が設けられている。この搬送アーム6を挟ん
で真空処理室1側にはウェーハWを支持する第1のバッ
ファ7が設けられ、トランスファチャンバ4側には第2
のバッファ8が設けられている。また、トランスファチ
ャンバ4にはウェーハカセット(図示しない)からウェ
ーハWを搬出入するスカラ型デュアルアームタイプの搬
送アーム機構10が設けられている。
【0019】ロード・ロック室2に設けられた搬送アー
ム6について説明すると、ロード・ロック室2の底部で
あるベース11には正逆回転可能なモータ等の旋回駆動
部12が鉛直方向に固定され、この旋回駆動部12の旋
回駆動軸13はベース11を貫通してロード・ロック室
2の内部に突出している。この旋回駆動軸13には駆動
側旋回アーム14の基端部が固定されている。
【0020】さらに、駆動側旋回アーム14の先端部に
は従動側旋回アーム15の基端部が回動自在に連結さ
れ、この従動側旋回アーム15の先端部にはウェーハW
を支持するとともに、ウェーハWのノッチaを検出して
位置決めするための後述する位置決め機構16が搭載さ
れている。そして、駆動側旋回アーム14の旋回運動に
よって従動側旋回アーム15及び位置決め機構16が一
体的に旋回し、従動側旋回アーム15によって位置決め
機構16が姿勢を維持したまま伸縮するようになってい
る。
【0021】前記第1のバッファ7及び第2のバッファ
8は同一構造であるため、第1のバッファ7について説
明すると、図2に示すように構成されている。すなわ
ち、ロード・ロック室2の内部にはエアシリンダあるい
はモータ等の昇降駆動部17によって昇降する一対の昇
降軸18が鉛直方向に設けられている。これら昇降軸1
8の上端部には支持片19が固定されている。支持片1
9の上面は段差を有しており、下段には樹脂、シリコン
ゴムあるいはセラミック等からなるバッファピン20が
突設されている。そして、複数本(好ましくは3,4
本)のバッファピン20によってウェーハWの周縁部を
支持するようになっている。
【0022】前記位置決め機構16について説明する
と、図3に示すように構成されている。すなわち、前記
従動側旋回アーム15に回動自在に連結されたプレート
21には軸受22によって回転軸23が回転自在に支持
されている。回転軸23の外周にはこれを囲むように円
環状圧電体24と円環状弾性体25が設けられ、円環状
圧電体24と円環状弾性体25の発生する進行波によっ
て回転テーブルとしての回転子26が回転する超音波モ
ータ27が構成されている。そして、回転子26が前記
回転軸23と一体に設けられている。
【0023】回転子26は円板状に形成され、この上面
にはウェーハWを支持する支持面28に形成されてい
る。さらに、超音波モータ27の隣側にはプレート21
に対して固定されたノッチ検出部29が設けられてい
る。このノッチ検出部29は支持面28に支持されたウ
ェーハWの外周縁部と嵌合する凹溝30が設けられてい
る。この凹溝30の下面には光学的検出手段としての発
光素子31が、上面には受光素子32が互いに対向して
設けられている。
【0024】支持面28にウェーハWを載置したとき、
そのウェーハWの外周縁部は凹溝30に介入され、発光
素子31からの照射光は、ウェーハWの外周縁部によっ
て遮られるようになっている。従って、受光素子32に
は照射光が受光されないが、回転子26と一体に回転す
るウェーハWの外周縁部に設けられた切欠部としてのノ
ッチaが発光素子31に対向すると、照射光はノッチa
を通過して受光素子32に受光されるようになってい
る。受光素子32は照射光を受光すると、光信号は電気
信号に変換され、この電気信号は制御部33に入力さ
れ、制御部33は超音波モータ27に制御信号を入力す
るようになっている。
【0025】次に、第1の実施形態の作用について説明
する。
【0026】ロード・ロック室2の大気側ゲートバルブ
5が開放すると、搬送アーム機構10はウェーハカセッ
トからウェーハWを搬出してロード・ロック室2にウェ
ーハWを搬入する。そして、ウェーハWを第2のバッフ
ァ8の支持片19に載置すると、大気側ゲートバルブ5
は閉塞され、ロード・ロック室2の排気が開始される。
【0027】これと同時に、ロード・ロック室2内の搬
送アーム6が駆動して位置決め機構16の支持面28が
ウェーハWの下部に位置すると、昇降軸18が下降し、
支持片19に支持されていたウェーハWは位置決め機構
16の支持面28に移載される。位置決め機構16の支
持面28にウェーハWが載置されると、超音波モータ2
7が駆動し、回転子26と一体にウェーハWが回転して
ノッチ検出を行う。すなわち、発光素子31からの照射
光は、ウェーハWの外周縁部によって遮られているが、
ウェーハWの回転によってその外周縁部に設けられたノ
ッチaが発光素子31に対向すると、照射光はノッチa
を通過して受光素子32に受光される。受光素子32は
照射光を受光すると、電気信号に変換され、この電気信
号は制御部33に入力され、制御部33は超音波モータ
27を停止する。従って、ノッチaによってウェーハW
の周方向の位置決めを行うことができる。
【0028】従って、ロード・ロック室2内を排気中に
ウェーハWのノッチ検出が行われ、ロード・ロック室2
が所定の真空圧になると、真空側ゲートバルブ3が開放
する。真空側ゲートバルブ3が開放すると、ロード・ロ
ック室2内の搬送アーム6は伸張し、支持面28に支持
されたウェーハWを真空処理室1に搬入する。
【0029】真空処理室1においては、搬入されたウェ
ーハWをリフターピン(図示しない)によって受取って
下部電極に支持し、搬送アーム6が後退すると、真空側
ゲートバルブ3が閉塞される。そして、真空処理室1に
おいては、ウェーハWに対するエッチング処理が行われ
る。
【0030】真空処理室1内においてエッチングが完了
すると、真空側ゲートバルブ3が開放し、処理済のウェ
ーハWを搬送アーム6によって搬出し、ロード・ロック
室2内の第1のバッファ7に載置するとともに、処理中
に第2のバッファ8に搬入された未処理のウェーハWを
位置決め機構16の支持面28によって受取って前述と
同様にノッチ検出を行う。
【0031】前記作用を繰り返すことにより、ロード・
ロック室2内の圧力調整と同時にウェーハWのノッチ検
出を行って位置決めを行うことができ、スループットの
向上を図ることができる。また、ウェーハWを真空処理
室1に搬入して処理する直前にロード・ロック室2内で
ウェーハWの位置決め行うため、ウェーハWの受渡しに
よって誤差が蓄積されることはなく、高精度の位置決め
ができる。さらに、超音波モータ27によってウェーハ
Wを回転することにより、位置決め機構16の薄型とな
り、ロード・ロック室2を薄型に構成できることから、
処理装置全体の小型化を図ることができる。
【0032】なお、前記第1の実施形態においては、位
置決め機構16に超音波モータ27を採用したが、リニ
アモータを採用しても同様な効果がある。
【0033】また、ウェーハWのノッチaを検出してウ
ェーハWの位置決めを行うようにしたが、オリエンテー
ションフラットを検出してウェーハWの位置決めを行う
ようにしてもよい。
【0034】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、ロード・ロック室内に被処理体の切欠部を検出
して位置決めする位置決め機構を設け、ロード・ロック
室の圧力調整と同時に位置決め機構によって被処理体の
切欠部を検出することにより、スループットの向上を図
ることができる。
【0035】請求項2,3によれば、ロード・ロック室
の薄型化により、装置の小型化を図ることができる。
【0036】請求項4によれば、位置決め機構を搬送ア
ームに搭載することにより、被処理体を搬送しながら切
欠部を検出して位置決めでき、スループットの向上を図
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施形態の真空処理装置を示
し、(a)は概略的平面図、(b)は概略的縦断側面
図。
【図2】同実施形態のバッファの斜視図。
【図3】同実施形態の位置決め機構の縦断側面図。
【符号の説明】
1…真空処理室 2…ロード・ロック室 6…搬送アーム 16…位置決め機構 26…回転子 27…超音波モータ W…ウェーハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 廣瀬 潤 山梨県韮崎市藤井町北下条2381番地の1 東京エレクトロン山梨株式会社内 (72)発明者 松村 賢人 東京都港区赤坂五丁目3番6号 東京エレ クトロン株式会社内 Fターム(参考) 5F031 GA07 GA35 GA43 GA47 GA49 JA05 JA34 JA35 KA08 KA13 KA14 LA07 LA08 MA32 NA09

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理室と、この処理室と連通するロード
    ・ロック室と、このロード・ロック室内に設けられ、前
    記処理室に被処理体を搬入・搬出する搬送機構とを備え
    た処理装置において、 前記ロード・ロック室内に被処理体の切欠部を検出して
    被処理体を位置決めする位置決め機構を設け、前記ロー
    ド・ロック室の圧力調整と同時に前記位置決め機構によ
    って前記被処理体の切欠部を検出して位置決めすること
    を特徴とする処理装置。
  2. 【請求項2】 前記位置決め機構は、切欠部を有する被
    処理体を保持して回転させる回転テーブルと、この回転
    テーブルを回転駆動する超音波モータと、前記被処理体
    の切欠部を検出する光学的検出手段と、この光学的検出
    手段からの検出信号によって前記超音波モータを制御す
    る制御部とからなることを特徴とする請求項1記載の処
    理装置。
  3. 【請求項3】 前記位置決め機構は、切欠部を有する被
    処理体を保持して回転させる回転テーブルと、この回転
    テーブルを回転駆動するリニアモータと、前記被処理体
    の切欠部を検出する光学的検出手段と、この光学的検出
    手段からの検出信号によって前記リニアモータを制御す
    る制御部とからなることを特徴とする請求項1記載の処
    理装置。
  4. 【請求項4】 前記位置決め機構は、被処理体を搬送す
    る搬送アームに搭載されていることを特徴とする請求項
    1記載の処理装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100403991B1 (ko) * 2001-01-09 2003-11-01 주성엔지니어링(주) 챔버에 피처리물을 로딩 및 언로딩하는 방법
US8623765B2 (en) 2003-06-24 2014-01-07 Tokyo Electron Limited Processed object processing apparatus, processed object processing method, pressure control method, processed object transfer method, and transfer apparatus
CN113109687A (zh) * 2019-12-24 2021-07-13 爱思开海力士有限公司 测试半导体器件的系统和方法
CN116721960A (zh) * 2023-08-11 2023-09-08 江苏鲁汶仪器股份有限公司 一种晶圆位置校准方法及设备

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