JP2000347237A - 露光制御装置および測距装置 - Google Patents
露光制御装置および測距装置Info
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- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/16—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly in accordance with both the intensity of the flash source and the distance of the flash source from the object, e.g. in accordance with the "guide number" of the flash bulb and the focusing of the camera
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
-
- G—PHYSICS
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- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/28—Circuitry to measure or to take account of the object contrast
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Stroboscope Apparatuses (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 被写体の反射率の違いによりシャッタ開口を
通過する光量が変化する不都合を解決できる。 【解決手段】 スイッチＳ２がオンすると、制御回路２
はＰＳＤ１ｂの出力に基づいて被写体の反射率を検出す
る。具体的には、ＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、端子１ｂ２
からの出力を利用して求められる被写体距離と端子１ｂ
１、端子１ｂ２からの出力の大きさとの相関関係に基づ
き被写体の反射率を検出する。続いて被写体距離と被写
体の反射率に基づきＦＭ制御値を演算して求め、シャッ
タ開口５ａが大きくなっていく際に絞りがＦＭ制御値に
なったとき、ストロボ駆動回路９を介してストロボ装置
８を発光させ、被写体により反射された光をシャッタ開
口５ａを介して感光部７に入射させて撮影を行う。
通過する光量が変化する不都合を解決できる。 【解決手段】 スイッチＳ２がオンすると、制御回路２
はＰＳＤ１ｂの出力に基づいて被写体の反射率を検出す
る。具体的には、ＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、端子１ｂ２
からの出力を利用して求められる被写体距離と端子１ｂ
１、端子１ｂ２からの出力の大きさとの相関関係に基づ
き被写体の反射率を検出する。続いて被写体距離と被写
体の反射率に基づきＦＭ制御値を演算して求め、シャッ
タ開口５ａが大きくなっていく際に絞りがＦＭ制御値に
なったとき、ストロボ駆動回路９を介してストロボ装置
８を発光させ、被写体により反射された光をシャッタ開
口５ａを介して感光部７に入射させて撮影を行う。
Description
【０００１】
【発明の技術分野】本発明は、露光制御装置および測距
装置に関する。
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、カメラ等に用いられるストロボ等
を備えた露光制御装置としては、例えば１回のストロボ
の発光量を一定にしてストロボを発光させる際の絞りを
被写体距離等に基づき変化させるものがある。具体的に
はストロボ発光時の基準となる絞りＦを被写体距離Ｌと
ストロボのガイドナンバーＧＮｏに基づき
を備えた露光制御装置としては、例えば１回のストロボ
の発光量を一定にしてストロボを発光させる際の絞りを
被写体距離等に基づき変化させるものがある。具体的に
はストロボ発光時の基準となる絞りＦを被写体距離Ｌと
ストロボのガイドナンバーＧＮｏに基づき
【数１】 （１）式から求め、この決定された絞りＦをフィルム感
度に基づき補正してストロボ発光時の絞りＦ’を求める
もの、いわゆるＦＭ演算を行ってストロボ発光時の絞り
Ｆ’を求めるものがある。
度に基づき補正してストロボ発光時の絞りＦ’を求める
もの、いわゆるＦＭ演算を行ってストロボ発光時の絞り
Ｆ’を求めるものがある。
【０００３】また、被写体距離等に基づきストロボの発
光量を変化させているものもあり、被写体距離を自動的
に検出するものもある。
光量を変化させているものもあり、被写体距離を自動的
に検出するものもある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ものでは被写体の反射率が考慮されておらず、つまり被
写体の反射率が一定であるということを前提としてい
る。したがって、同じ距離の被写体でも被写体の反射率
が高い場合はシャッタ開口を通過する光量が多くなり、
逆に被写体の反射率が低い場合はシャッタ開口を通過す
る光量が少なくなる。つまり、被写体の反射率の違いに
よりシャッタ開口を通過する光量が変化してしまうとい
う問題があった。
ものでは被写体の反射率が考慮されておらず、つまり被
写体の反射率が一定であるということを前提としてい
る。したがって、同じ距離の被写体でも被写体の反射率
が高い場合はシャッタ開口を通過する光量が多くなり、
逆に被写体の反射率が低い場合はシャッタ開口を通過す
る光量が少なくなる。つまり、被写体の反射率の違いに
よりシャッタ開口を通過する光量が変化してしまうとい
う問題があった。
【０００５】また、このような問題を生じるためシャッ
タ開口を通過する光で感光部を感光する場合、被写体の
反射率の違いにより感光具合が変化してしまうという問
題があった。
タ開口を通過する光で感光部を感光する場合、被写体の
反射率の違いにより感光具合が変化してしまうという問
題があった。
【０００６】また、被写体距離とその反射率の両方を検
出しようとすると、被写体距離を検出する構成と反射率
を検出する構成という別々の構成が必要となり、構成が
大きくなってしまうという問題がある。
出しようとすると、被写体距離を検出する構成と反射率
を検出する構成という別々の構成が必要となり、構成が
大きくなってしまうという問題がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明では、被写体まで
の距離を検出する測距手段と、上記被写体の反射率を検
出する反射率検出手段と、上記被写体に光を照射する閃
光装置と、上記被写体までの距離および上記被写体の反
射率に応じて、上記閃光装置を使用した際の露光量を制
御する制御回路とを含んでいるので、被写体までの距離
と被写体の反射率に応じて閃光撮影時の露光量を制御で
きる。よって、同じ距離にいる被写体において被写体の
反射率の違いにより露光量が変化してしまうという問題
を低減できる。
の距離を検出する測距手段と、上記被写体の反射率を検
出する反射率検出手段と、上記被写体に光を照射する閃
光装置と、上記被写体までの距離および上記被写体の反
射率に応じて、上記閃光装置を使用した際の露光量を制
御する制御回路とを含んでいるので、被写体までの距離
と被写体の反射率に応じて閃光撮影時の露光量を制御で
きる。よって、同じ距離にいる被写体において被写体の
反射率の違いにより露光量が変化してしまうという問題
を低減できる。
【０００８】上記測距手段が、上記被写体から入射する
光を受光する受光手段を有し、この受光手段からの出力
を利用して上記被写体までの距離を検出し、上記反射率
検出手段が、上記受光手段の出力に基づいて上記被写体
の反射率を検出すれば、測距用の受光手段を用いて被写
体の反射率を検出できる。よって、上記と同様の効果に
加えて、部品点数が削減できる。つまり、測距を行う露
光制御装置において、被写体の反射率を検出する反射率
検出用の受光手段を新たに設けることにより生じる部品
点数の増加という問題を解決できる。
光を受光する受光手段を有し、この受光手段からの出力
を利用して上記被写体までの距離を検出し、上記反射率
検出手段が、上記受光手段の出力に基づいて上記被写体
の反射率を検出すれば、測距用の受光手段を用いて被写
体の反射率を検出できる。よって、上記と同様の効果に
加えて、部品点数が削減できる。つまり、測距を行う露
光制御装置において、被写体の反射率を検出する反射率
検出用の受光手段を新たに設けることにより生じる部品
点数の増加という問題を解決できる。
【０００９】被検出物体から入射する光を受光する受光
手段を有し、この受光手段からの出力を利用して上記被
検出物体までの距離を検出する測距手段と、上記受光手
段の出力に基づいて上記被検出物体の反射率を検出する
反射率検出手段とを備えているので、測距用の受光手段
を用いて被検出物体の反射率を検出できる。よって、部
品点数が削減できる。つまり、被検出物体の反射率を検
出する反射率検出用の受光手段を新たに設けることによ
り生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
手段を有し、この受光手段からの出力を利用して上記被
検出物体までの距離を検出する測距手段と、上記受光手
段の出力に基づいて上記被検出物体の反射率を検出する
反射率検出手段とを備えているので、測距用の受光手段
を用いて被検出物体の反射率を検出できる。よって、部
品点数が削減できる。つまり、被検出物体の反射率を検
出する反射率検出用の受光手段を新たに設けることによ
り生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本願の請求項１に係る発明は、被
写体までの距離を検出する測距手段と、上記被写体の反
射率を検出する反射率検出手段と、上記被写体に光を照
射する閃光装置と、上記被写体までの距離および上記被
写体の反射率に応じて、上記閃光装置を使用した際の露
光量を制御する制御回路とを含んでいる。
写体までの距離を検出する測距手段と、上記被写体の反
射率を検出する反射率検出手段と、上記被写体に光を照
射する閃光装置と、上記被写体までの距離および上記被
写体の反射率に応じて、上記閃光装置を使用した際の露
光量を制御する制御回路とを含んでいる。
【００１１】本願の請求項２に係る発明は、請求項１に
おいて、上記測距手段は、上記被写体から入射する光を
受光する受光手段を有し、この受光手段からの出力を利
用して上記被写体までの距離を検出し、上記反射率検出
手段は、上記受光手段の出力に基づいて上記被写体の反
射率を検出する。
おいて、上記測距手段は、上記被写体から入射する光を
受光する受光手段を有し、この受光手段からの出力を利
用して上記被写体までの距離を検出し、上記反射率検出
手段は、上記受光手段の出力に基づいて上記被写体の反
射率を検出する。
【００１２】本願の請求項３に係る発明は、被検出物体
から入射する光を受光する受光手段を有し、この受光手
段からの出力を利用して上記被検出物体までの距離を検
出する測距手段と、上記受光手段の出力に基づいて上記
被検出物体の反射率を検出する反射率検出手段とを含ん
でいる。
から入射する光を受光する受光手段を有し、この受光手
段からの出力を利用して上記被検出物体までの距離を検
出する測距手段と、上記受光手段の出力に基づいて上記
被検出物体の反射率を検出する反射率検出手段とを含ん
でいる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して具
体的に説明する。図１において、測距手段１は、被写体
（図示せず。）へ光を照射するＬＥＤ１ａとこの照射光
の被写体による反射光を受光するＰＳＤ１ｂとを含み、
ＰＳＤ１ｂからの出力を利用して被写体距離を検出する
いわゆるアクティブ方式の測距手段である。ＰＳＤ１ｂ
は受光手段を構成する。ＰＳＤ１ｂに光が入射すると、
ＰＳＤ１ｂはその光の強度と入射位置に応じて変化する
２つの信号を出力する。ＰＳＤ１ｂに入射する光はＰＳ
Ｄ３上において被写体が近いほど端子１ｂ１側から端子
１ｂ２側に移動する。よって、ＰＳＤ１ｂの端子１ｂ
１、端子１ｂ２から出力される２つの信号は被写体距離
に応じて相対関係が変化する。本例は、このようなＰＳ
Ｄ３上における光の受光位置の変化を利用し、いわゆる
３角測距の原理に基づいて測距手段１が被写体距離を求
める。
体的に説明する。図１において、測距手段１は、被写体
（図示せず。）へ光を照射するＬＥＤ１ａとこの照射光
の被写体による反射光を受光するＰＳＤ１ｂとを含み、
ＰＳＤ１ｂからの出力を利用して被写体距離を検出する
いわゆるアクティブ方式の測距手段である。ＰＳＤ１ｂ
は受光手段を構成する。ＰＳＤ１ｂに光が入射すると、
ＰＳＤ１ｂはその光の強度と入射位置に応じて変化する
２つの信号を出力する。ＰＳＤ１ｂに入射する光はＰＳ
Ｄ３上において被写体が近いほど端子１ｂ１側から端子
１ｂ２側に移動する。よって、ＰＳＤ１ｂの端子１ｂ
１、端子１ｂ２から出力される２つの信号は被写体距離
に応じて相対関係が変化する。本例は、このようなＰＳ
Ｄ３上における光の受光位置の変化を利用し、いわゆる
３角測距の原理に基づいて測距手段１が被写体距離を求
める。
【００１４】制御回路２はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等か
らなり、ＲＯＭに書き込まれた動作プログラムに従って
種々の動作を制御するとともに、反射率検出手段を構成
し、ＰＳＤ１ｂの出力に基づき被写体の反射率を検出す
る。なお、同図では説明を簡単にするために制御回路２
と測距手段１とを別々に示しているが、実際にはＰＳＤ
１ｂからの出力に基づき被写体距離を検出する測距手段
１の機能は、制御回路２内のソフト処理の一部として実
行されるものである。つまり、制御回路２はＰＳＤ１ｂ
からの出力に基づき被写体距離を検出する。測光回路３
は周囲の明るさを検出する。記憶回路４はＥＥＰＲＯＭ
で構成され、反射率検出用のデータ等を記憶する。シャ
ッタ手段５はシャッタ開口５ａを形成するセクタ（図示
せず。）を含み、シャッタ駆動部６によりセクタが駆動
されシャッタ開口５ａが開閉し、シャッタ開口５ａを通
過する光により感光部（フィルム等）７を感光する。閃
光装置としてのストロボ装置８は、ストロボ駆動回路９
により駆動され被写体照明用の光を照射する。本例で
は、ストロボ装置８の発光量を一定にして、ストロボを
発光させる際の絞りを被写体距離等に基づき変化させる
いわゆるＦＭ制御を行う。スイッチＳ１はレリーズスイ
ッチ（図示しない。）の第１段階までの押下によりオン
され、スイッチＳ２はレリーズスイッチ（図示しな
い。）の第１段階に続く第２段階までの押下によりオン
される。なお、制御回路２、シャッタ手段５、シャッタ
駆動部６とで制御手段を構成する。
らなり、ＲＯＭに書き込まれた動作プログラムに従って
種々の動作を制御するとともに、反射率検出手段を構成
し、ＰＳＤ１ｂの出力に基づき被写体の反射率を検出す
る。なお、同図では説明を簡単にするために制御回路２
と測距手段１とを別々に示しているが、実際にはＰＳＤ
１ｂからの出力に基づき被写体距離を検出する測距手段
１の機能は、制御回路２内のソフト処理の一部として実
行されるものである。つまり、制御回路２はＰＳＤ１ｂ
からの出力に基づき被写体距離を検出する。測光回路３
は周囲の明るさを検出する。記憶回路４はＥＥＰＲＯＭ
で構成され、反射率検出用のデータ等を記憶する。シャ
ッタ手段５はシャッタ開口５ａを形成するセクタ（図示
せず。）を含み、シャッタ駆動部６によりセクタが駆動
されシャッタ開口５ａが開閉し、シャッタ開口５ａを通
過する光により感光部（フィルム等）７を感光する。閃
光装置としてのストロボ装置８は、ストロボ駆動回路９
により駆動され被写体照明用の光を照射する。本例で
は、ストロボ装置８の発光量を一定にして、ストロボを
発光させる際の絞りを被写体距離等に基づき変化させる
いわゆるＦＭ制御を行う。スイッチＳ１はレリーズスイ
ッチ（図示しない。）の第１段階までの押下によりオン
され、スイッチＳ２はレリーズスイッチ（図示しな
い。）の第１段階に続く第２段階までの押下によりオン
される。なお、制御回路２、シャッタ手段５、シャッタ
駆動部６とで制御手段を構成する。
【００１５】
【動作の説明】図において、電源が投入されている状態
でレリーズスイッチが第１段階まで押下されスイッチＳ
１がオンすると（ステップａ）、制御回路２は測距動作
を開始する（ステップｂ）。具体的には、ＬＥＤ１ａを
発光させて被写体（図示せず。）に光を照射し、被写体
による反射光を受光するＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、端子
１ｂ２からの出力を利用して被写体距離を検出する。
でレリーズスイッチが第１段階まで押下されスイッチＳ
１がオンすると（ステップａ）、制御回路２は測距動作
を開始する（ステップｂ）。具体的には、ＬＥＤ１ａを
発光させて被写体（図示せず。）に光を照射し、被写体
による反射光を受光するＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、端子
１ｂ２からの出力を利用して被写体距離を検出する。
【００１６】制御回路２は検出された被写体距離とＰＳ
Ｄ１ｂの端子１ｂ１、端子１ｂ２からの出力の合計値を
内部のＲＡＭに記憶するとともに（ステップｃ）、測距
回路４を動作させて、周囲の明るさを検出する（ステッ
プｄ）。
Ｄ１ｂの端子１ｂ１、端子１ｂ２からの出力の合計値を
内部のＲＡＭに記憶するとともに（ステップｃ）、測距
回路４を動作させて、周囲の明るさを検出する（ステッ
プｄ）。
【００１７】検出した測光結果が予め設定してあるスト
ロボ発光レベルより暗いと（ステップｅ）、制御回路２
はストロボが必要と判断して、レリーズスイッチが第２
段階まで押下されスイッチＳ２がオンされるのを待つ
（ステップｆ）。
ロボ発光レベルより暗いと（ステップｅ）、制御回路２
はストロボが必要と判断して、レリーズスイッチが第２
段階まで押下されスイッチＳ２がオンされるのを待つ
（ステップｆ）。
【００１８】レリーズスイッチが第２段階まで押下され
スイッチＳ２がオンすると、制御回路２はＰＳＤ１ｂの
出力に基づいて被写体の反射率を検出する（ステップ
ｇ）。具体的には、ＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、端子１ｂ
２からの出力を利用して求められる被写体距離と端子１
ｂ１、端子１ｂ２からの出力の合計値の大きさとの相関
関係に基づき被写体の反射率を検出する。
スイッチＳ２がオンすると、制御回路２はＰＳＤ１ｂの
出力に基づいて被写体の反射率を検出する（ステップ
ｇ）。具体的には、ＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、端子１ｂ
２からの出力を利用して求められる被写体距離と端子１
ｂ１、端子１ｂ２からの出力の合計値の大きさとの相関
関係に基づき被写体の反射率を検出する。
【００１９】以下、ステップｇにおける被写体の反射率
検出方法を具体的に説明する。本例は図３に示すように
ＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、端子１ｂ２からの出力の合計
値の大きさ、すなわち受光光量の大きさが被写体距離と
被写体の反射率に応じて変化するという特性および被写
体反射率が同じであればＰＳＤ１ｂの受光光量は距離が
遠くなるとその距離の２乗に応じて値が小さくなるとい
う特性を利用するものである。
検出方法を具体的に説明する。本例は図３に示すように
ＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、端子１ｂ２からの出力の合計
値の大きさ、すなわち受光光量の大きさが被写体距離と
被写体の反射率に応じて変化するという特性および被写
体反射率が同じであればＰＳＤ１ｂの受光光量は距離が
遠くなるとその距離の２乗に応じて値が小さくなるとい
う特性を利用するものである。
【００２０】出荷前の調整段階時に、基準反射率Ｈを有
する被写体を既知の複数の距離で測距し、検出した被写
体距離Ｌｎ（ｎ＝１、２、・・・、ｍ）とＰＳＤ１ｂの
端子１ｂ１、１ｂ２からの出力の合計値の大きさＹｎ
（ｎ＝１、２、・・・、ｍ）（受光光量）との関係を既
知の距離ごとに関連付けて基準データとして記憶回路４
に記憶する。具体的には、同じｎ番号が付してある被写
体距離ＬｎとＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、１ｂ２からの出
力の合計値の大きさＹｎとを関連付けて記憶している。
する被写体を既知の複数の距離で測距し、検出した被写
体距離Ｌｎ（ｎ＝１、２、・・・、ｍ）とＰＳＤ１ｂの
端子１ｂ１、１ｂ２からの出力の合計値の大きさＹｎ
（ｎ＝１、２、・・・、ｍ）（受光光量）との関係を既
知の距離ごとに関連付けて基準データとして記憶回路４
に記憶する。具体的には、同じｎ番号が付してある被写
体距離ＬｎとＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、１ｂ２からの出
力の合計値の大きさＹｎとを関連付けて記憶している。
【００２１】実使用時においては記憶してある基準デー
タとステップｃで検出された被写体距離（以下「Ｌｘ」
という。）とに基づき、検出された被写体距離に基準反
射率Ｈを有する被写体が存在していた場合のＰＳＤ１ｂ
の端子１ｂ１、１ｂ２からの出力の合計値の大きさ（以
下「Ｙｘ」という。）を求め、この求めたＹｘと実使用
時に得られたＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、１ｂ２からの出
力の合計値（以下「Ｙ’」という。）との大きさの違い
に基づき被写体の反射率Ｈ’を検出する。
タとステップｃで検出された被写体距離（以下「Ｌｘ」
という。）とに基づき、検出された被写体距離に基準反
射率Ｈを有する被写体が存在していた場合のＰＳＤ１ｂ
の端子１ｂ１、１ｂ２からの出力の合計値の大きさ（以
下「Ｙｘ」という。）を求め、この求めたＹｘと実使用
時に得られたＰＳＤ１ｂの端子１ｂ１、１ｂ２からの出
力の合計値（以下「Ｙ’」という。）との大きさの違い
に基づき被写体の反射率Ｈ’を検出する。
【００２２】具体的には、記憶回路４に格納されている
基準データ内の被写体距離Ｌｎからステップｃで検出し
た被写体距離Ｌｘに最も近いもの（以下「Ｌｉ」とい
う。）を選択するとともに、このＬｉと関連付けて記憶
されているＹｉを選択し、上述したように被写体の反射
率が一定であればＰＳＤ１ｂの受光光量は距離が遠くな
るとその距離の２乗に応じて値が小さくなるという特性
からＬｘ、Ｌｉ、Ｙｉ、Ｙｘに関する（２）式が得ら
れ、これを変形して（３）式が得られる。
基準データ内の被写体距離Ｌｎからステップｃで検出し
た被写体距離Ｌｘに最も近いもの（以下「Ｌｉ」とい
う。）を選択するとともに、このＬｉと関連付けて記憶
されているＹｉを選択し、上述したように被写体の反射
率が一定であればＰＳＤ１ｂの受光光量は距離が遠くな
るとその距離の２乗に応じて値が小さくなるという特性
からＬｘ、Ｌｉ、Ｙｉ、Ｙｘに関する（２）式が得ら
れ、これを変形して（３）式が得られる。
【数２】
【数３】 また、ＰＳＤ１ｂの受光光量は被写体の反射率に比例す
るという特性からＹ’、Ｙｘ、Ｈ’、Ｈに関する（４）
式が得られ、これを変形して（５）式が得られる。
るという特性からＹ’、Ｙｘ、Ｈ’、Ｈに関する（４）
式が得られ、これを変形して（５）式が得られる。
【数４】
【数５】 上記（３）、（５）式から（６）式が導かれ、被写体の
反射率Ｈ’が求められる。
反射率Ｈ’が求められる。
【数６】 以上の処理を制御回路２が行う。
【００２３】このように、測距用の受光手段（ＰＳＤ１
ｂ）の出力に基づき被写体の反射率を検出するので、新
たに被写体反射率検出用の受光素子を設ける必要がなく
なり、部品点数の削減が図れる。つまり、被写体の反射
率を検出するための受光手段を新たに設けることにより
生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
ｂ）の出力に基づき被写体の反射率を検出するので、新
たに被写体反射率検出用の受光素子を設ける必要がなく
なり、部品点数の削減が図れる。つまり、被写体の反射
率を検出するための受光手段を新たに設けることにより
生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
【００２４】また、アクティブ測距用の受光手段（ＰＳ
Ｄ１ｂ）の出力に基づき被写体の反射率を検出するの
で、１回の測距に使用する投光で被写体距離と被写体の
反射率を検出できる。つまり、アクティブ測距用の受光
手段の出力に基づき被写体の反射率を検出する場合、測
距用の投光と反射率検出用の投光を分けずに一度に行え
るので、測距用の投光と反射率検出用の投光を分けて行
う場合に比べて、省電力化が図れる。
Ｄ１ｂ）の出力に基づき被写体の反射率を検出するの
で、１回の測距に使用する投光で被写体距離と被写体の
反射率を検出できる。つまり、アクティブ測距用の受光
手段の出力に基づき被写体の反射率を検出する場合、測
距用の投光と反射率検出用の投光を分けずに一度に行え
るので、測距用の投光と反射率検出用の投光を分けて行
う場合に比べて、省電力化が図れる。
【００２５】また、出荷前の調整段階時に基準反射率Ｈ
を有する被写体を既知の複数の距離で測距し、検出した
被写体距離Ｌｎ（ｎ＝１、２、・・・、ｍ）とＰＳＤ１
ｂの端子１ｂ１、１ｂ２からの出力の大きさＹｎ（ｎ＝
１、２、・・・、ｍ）（受光光量）との関係を既知の距
離ごとに関連付けて基準データとして記憶回路４に記憶
し、この基準データと実使用時に検出されたＰＳＤ１ｂ
の端子１ｂ１、端子１ｂ２からの出力とに基づき被写体
の反射率を求めているので、個々の製品の特性のバラツ
キを補正した被写体の反射率が求められる。つまり、被
写体の反射率を求めた後、個々の製品の特性のバラツキ
に応じて求めた被写体の反射率を補正するという煩わし
さを解消できる。
を有する被写体を既知の複数の距離で測距し、検出した
被写体距離Ｌｎ（ｎ＝１、２、・・・、ｍ）とＰＳＤ１
ｂの端子１ｂ１、１ｂ２からの出力の大きさＹｎ（ｎ＝
１、２、・・・、ｍ）（受光光量）との関係を既知の距
離ごとに関連付けて基準データとして記憶回路４に記憶
し、この基準データと実使用時に検出されたＰＳＤ１ｂ
の端子１ｂ１、端子１ｂ２からの出力とに基づき被写体
の反射率を求めているので、個々の製品の特性のバラツ
キを補正した被写体の反射率が求められる。つまり、被
写体の反射率を求めた後、個々の製品の特性のバラツキ
に応じて求めた被写体の反射率を補正するという煩わし
さを解消できる。
【００２６】また、上記では（２）〜（６）式を用いる
ことにより、予め測定した基準データに使った補間演算
を行い実際の被写体の反射率を検出するようにしたが、
要求される反射率の検出精度によっては、実使用時に検
出した被写体距離に最も近い基準データ内の被写体距離
に対応した反射率を用いてもよい。この場合、上述した
ような演算が不要になり、処理速度が向上する。
ことにより、予め測定した基準データに使った補間演算
を行い実際の被写体の反射率を検出するようにしたが、
要求される反射率の検出精度によっては、実使用時に検
出した被写体距離に最も近い基準データ内の被写体距離
に対応した反射率を用いてもよい。この場合、上述した
ような演算が不要になり、処理速度が向上する。
【００２７】また、出荷前の調整段階時に記憶する基準
データの量を多くすれば、より正確な被写体の反射率の
検出が行える。また、基準データの量を要求される精度
に応じた量とすれば、記憶領域の使用量を少なくでき
る。
データの量を多くすれば、より正確な被写体の反射率の
検出が行える。また、基準データの量を要求される精度
に応じた量とすれば、記憶領域の使用量を少なくでき
る。
【００２８】図２に戻って、被写体の反射率が上記演算
に基づき検出できると（ステップｇ）、ＦＭ制御値を演
算して求める（ステップｈ）。具体的には、上述した
（１）式を被写体の反射率に基づき（７）式のように補
正するもので、この補正の考え方の基本となるものは被
写体の反射率はシャッタ開口を通過する光量に比例する
という特性とシャッタ開口を通過する光量は絞りの２乗
に関連して変化するという特性であり、（７）式をこれ
らを考慮したものである。
に基づき検出できると（ステップｇ）、ＦＭ制御値を演
算して求める（ステップｈ）。具体的には、上述した
（１）式を被写体の反射率に基づき（７）式のように補
正するもので、この補正の考え方の基本となるものは被
写体の反射率はシャッタ開口を通過する光量に比例する
という特性とシャッタ開口を通過する光量は絞りの２乗
に関連して変化するという特性であり、（７）式をこれ
らを考慮したものである。
【数７】 （７）式から得られる絞りＦをフィルム感度に応じて補
正してＦＭ制御値Ｆ’を求め、シャッタ開口５ａが大き
くなっていく際に絞りがＦＭ制御値Ｆ’になったとき、
ストロボ駆動回路９を介してストロボ装置８を発光さ
せ、被写体により反射された光をシャッタ開口５ａを介
して感光部７に入射させて撮影を行う（ステップｉ）。
具体的な制御例としては、図５に示すように被写体の反
射率が基準反射率より高ければストロボがたかれる際の
シャッタ開口径を小さくし、被写体の反射率が基準反射
率より低ければストロボがたかれる際のシャッタ開口径
を大きくする。つまり、（１）式から判るように従来は
被写体距離に応じてシャッタ開口５ａを通過する被写体
で反射されたストロボ光の光量を制御していたのを、
（７）式のように被写体距離と被写体の反射率に基づい
て制御するようにしている。
正してＦＭ制御値Ｆ’を求め、シャッタ開口５ａが大き
くなっていく際に絞りがＦＭ制御値Ｆ’になったとき、
ストロボ駆動回路９を介してストロボ装置８を発光さ
せ、被写体により反射された光をシャッタ開口５ａを介
して感光部７に入射させて撮影を行う（ステップｉ）。
具体的な制御例としては、図５に示すように被写体の反
射率が基準反射率より高ければストロボがたかれる際の
シャッタ開口径を小さくし、被写体の反射率が基準反射
率より低ければストロボがたかれる際のシャッタ開口径
を大きくする。つまり、（１）式から判るように従来は
被写体距離に応じてシャッタ開口５ａを通過する被写体
で反射されたストロボ光の光量を制御していたのを、
（７）式のように被写体距離と被写体の反射率に基づい
て制御するようにしている。
【００２９】このように、被写体の反射率を考慮してシ
ャッタ開口５ａを通過するストロボ装置８の光を制御し
ているので、被写体の反射率の違いによりシャッタ開口
５ａを通過する光量が変化してしまうという問題を低減
できる。
ャッタ開口５ａを通過するストロボ装置８の光を制御し
ているので、被写体の反射率の違いによりシャッタ開口
５ａを通過する光量が変化してしまうという問題を低減
できる。
【００３０】また、シャッタ開口５ａを通過する光で感
光部を感光する場合、被写体距離と被写体の反射率によ
りシャッタ開口５ａを通過する光量を制御しているの
で、被写体の反射率の違いにより感光具合が変化してし
まうという問題を低減できる。
光部を感光する場合、被写体距離と被写体の反射率によ
りシャッタ開口５ａを通過する光量を制御しているの
で、被写体の反射率の違いにより感光具合が変化してし
まうという問題を低減できる。
【００３１】図２に戻って、ステップｅで周囲が明るく
ストロボの発光が必要ないと判断されると、レリーズス
イッチが第２段階まで押下されスイッチＳ２がオンされ
るのを待ち（ステップｊ）、スイッチＳ２がオンされる
といわゆるＡＥ制御を行う（ステップｋ）。
ストロボの発光が必要ないと判断されると、レリーズス
イッチが第２段階まで押下されスイッチＳ２がオンされ
るのを待ち（ステップｊ）、スイッチＳ２がオンされる
といわゆるＡＥ制御を行う（ステップｋ）。
【００３２】なお、上記の例では受光手段を有する測距
手段としてアクティブ型のものを用いたがパッシブ型の
測距手段を用いてもよい。この場合、モニター用受光素
子を備えているものであれば、その出力を利用して被写
体の反射率の検出を行うことにより、被写体の反射率検
出用の受光素子を新たに設けなくて済み、部品点数の削
減が図れる。
手段としてアクティブ型のものを用いたがパッシブ型の
測距手段を用いてもよい。この場合、モニター用受光素
子を備えているものであれば、その出力を利用して被写
体の反射率の検出を行うことにより、被写体の反射率検
出用の受光素子を新たに設けなくて済み、部品点数の削
減が図れる。
【００３３】また、上記では受光素子としてＰＳＤを用
いたが、受光素子はこれに限るものではない。例えば、
ＳＰＤ等を用いてもよい。
いたが、受光素子はこれに限るものではない。例えば、
ＳＰＤ等を用いてもよい。
【００３４】また、上記ではＡＦについて述べていない
が、ステップｂ、ｃにおける測距結果に応じて、図示し
ない撮影レンズの位置を動かしてオートフォーカス機能
を行わせてもよい。このようにすれば、ステップｂ、ｃ
において検出した被写体距離を必ず使うようになり、ス
トロボを使用しない場合に測距結果が無駄になるという
問題を解決できる。
が、ステップｂ、ｃにおける測距結果に応じて、図示し
ない撮影レンズの位置を動かしてオートフォーカス機能
を行わせてもよい。このようにすれば、ステップｂ、ｃ
において検出した被写体距離を必ず使うようになり、ス
トロボを使用しない場合に測距結果が無駄になるという
問題を解決できる。
【００３５】また、上記ではストロボ装置８の発光量を
一定にしてストロボを発光させる際の絞りを被写体距離
等に基づき変化させるいわゆるＦＭ制御を行うものにお
いて、被写体距離および被写体の反射率に応じてシャッ
タ開口５ａを通過する被写体で反射されたストロボ装置
８からの閃光の光量を制御する例を説明したが、これに
限るものではない。例えば、高速スイッチング特性を有
したＩＧＢＴ等をストロボ装置８の発光スイッチとして
使い、ストロボ装置８が発光している途中で強制的に発
光を停止し、その後直ちに再発光させる動作を連続的に
所望回数繰り返すことにより、この連続発光全体の発光
光量を１回のストロボ発光光量とするものとしてもよ
い。この場合、被写体の反射率が基準反射率より高けれ
ばストロボの発光光量を小さくし、すなわち上記点滅動
作の回数を少なくし、被写体の反射率が基準反射率より
低ければストロボの発光光量を大きく、すなわち上記点
滅動作の回数を多くすればよい。なお、この場合、被写
体距離に応じて上記点滅回数を制御することは敢えて言
及する。
一定にしてストロボを発光させる際の絞りを被写体距離
等に基づき変化させるいわゆるＦＭ制御を行うものにお
いて、被写体距離および被写体の反射率に応じてシャッ
タ開口５ａを通過する被写体で反射されたストロボ装置
８からの閃光の光量を制御する例を説明したが、これに
限るものではない。例えば、高速スイッチング特性を有
したＩＧＢＴ等をストロボ装置８の発光スイッチとして
使い、ストロボ装置８が発光している途中で強制的に発
光を停止し、その後直ちに再発光させる動作を連続的に
所望回数繰り返すことにより、この連続発光全体の発光
光量を１回のストロボ発光光量とするものとしてもよ
い。この場合、被写体の反射率が基準反射率より高けれ
ばストロボの発光光量を小さくし、すなわち上記点滅動
作の回数を少なくし、被写体の反射率が基準反射率より
低ければストロボの発光光量を大きく、すなわち上記点
滅動作の回数を多くすればよい。なお、この場合、被写
体距離に応じて上記点滅回数を制御することは敢えて言
及する。
【００３６】また、上記ではＰＳＤ１ｂの受光量を端子
１ｂ１、１ｂ２の出力の合計としたが、これに限らず、
２つの端子のいずれか一方のみを記憶するようにしても
よい。なお、上述したように合計の値を用いるようにす
れば、その値が大きくなり、扱いやすくなる。
１ｂ１、１ｂ２の出力の合計としたが、これに限らず、
２つの端子のいずれか一方のみを記憶するようにしても
よい。なお、上述したように合計の値を用いるようにす
れば、その値が大きくなり、扱いやすくなる。
【００３７】また、上記では絞り兼用のシャッタを用い
た場合の例を示したが、これに限らず、絞りとシャッタ
が別構成のカメラに用いてもよい。この場合、例えば絞
りが被写体までの反射率と被写体までの距離に基づいて
設定された値となったときにシャッタを開き、ストロボ
を焚くようにしてもよい。
た場合の例を示したが、これに限らず、絞りとシャッタ
が別構成のカメラに用いてもよい。この場合、例えば絞
りが被写体までの反射率と被写体までの距離に基づいて
設定された値となったときにシャッタを開き、ストロボ
を焚くようにしてもよい。
【００３８】また、測距用の受光手段を用いて被検出物
体（上記被写体に対応）の反射率を検出できるので、部
品点数が削減できる。つまり、被検出物体の反射率を検
出する反射率検出用の受光手段を新たに設けることによ
り生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
体（上記被写体に対応）の反射率を検出できるので、部
品点数が削減できる。つまり、被検出物体の反射率を検
出する反射率検出用の受光手段を新たに設けることによ
り生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
【００３９】
【発明の効果】本発明によれば、被写体までの距離およ
び被写体の反射率に応じて、閃光撮影時の露光量を制御
するので、被写体の反射率の違いによりシャッタ開口を
通過する光量が変化してしまうという問題を低減でき
る。
び被写体の反射率に応じて、閃光撮影時の露光量を制御
するので、被写体の反射率の違いによりシャッタ開口を
通過する光量が変化してしまうという問題を低減でき
る。
【００４０】測距手段が被写体から入射する光を受光す
る受光手段を有し、この受光手段からの出力を利用して
被写体までの距離を検出し、反射率検出手段が受光手段
の出力に基づいて被写体の反射率を検出すれば、測距用
の受光手段を用いて被写体の反射率を検出できる。よっ
て、上記と同様の効果に加えて、部品点数が削減でき
る。つまり、測距を行う露光制御装置において、被写体
の反射率を検出する受光手段を新たに設けることにより
生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
る受光手段を有し、この受光手段からの出力を利用して
被写体までの距離を検出し、反射率検出手段が受光手段
の出力に基づいて被写体の反射率を検出すれば、測距用
の受光手段を用いて被写体の反射率を検出できる。よっ
て、上記と同様の効果に加えて、部品点数が削減でき
る。つまり、測距を行う露光制御装置において、被写体
の反射率を検出する受光手段を新たに設けることにより
生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
【００４１】被検出物体から入射する光を受光する受光
手段を有し、この受光手段からの出力を利用して上記被
検出物体までの距離を検出する測距手段と、上記受光手
段の出力に基づいて上記被検出物体の反射率を検出する
反射率検出手段とを備えているので、測距用の受光手段
を用いて被検出物体の反射率を検出できる。よって、部
品点数が削減できる。つまり、被検出物体の反射率を検
出する反射率検出用の受光手段を新たに設けることによ
り生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
手段を有し、この受光手段からの出力を利用して上記被
検出物体までの距離を検出する測距手段と、上記受光手
段の出力に基づいて上記被検出物体の反射率を検出する
反射率検出手段とを備えているので、測距用の受光手段
を用いて被検出物体の反射率を検出できる。よって、部
品点数が削減できる。つまり、被検出物体の反射率を検
出する反射率検出用の受光手段を新たに設けることによ
り生じる部品点数の増加という問題を解決できる。
【図１】本発明の一実施例を示したブロック回路図。
【図２】図１の動作説明のためのフローチャート。
【図３】図１の動作説明のための説明図。
【図４】図１の動作説明のための説明図。
【図５】図１の動作説明のための説明図。
１ 測距手段 １ｂ 受光手段 ２ 反射率検出手段 ８ 閃光装置 ２、５、６ 制御手段
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F112 AA06 BA11 CA07 CA12 DA26 DA28 EA05 FA03 FA21 FA45 2H002 AB09 CD01 DB01 DB20 FB01 FB21 FB32 FB84 GA54 HA01 HA24 2H053 AA00 AA05 AD01 BA73 BA75 BA82
Claims (3)
- 【請求項１】 被写体までの距離を検出する測距手段
と、 上記被写体の反射率を検出する反射率検出手段と、 上記被写体に光を照射する閃光装置と、 上記被写体までの距離および上記被写体の反射率に応じ
て、上記閃光装置を使用した際の露光量を制御する制御
手段とを含むことを特徴とする露光制御装置。 - 【請求項２】 請求項１において、上記測距手段は、上
記被写体から入射する光を受光する受光手段を有し、こ
の受光手段からの出力を利用して上記被写体までの距離
を検出するものであり、上記反射率検出手段は、上記受
光手段の出力に基づいて上記被写体の反射率を検出する
ものであることを特徴とする露光制御装置。 - 【請求項３】 被検出物体から入射する光を受光する受
光手段を有し、この受光手段からの出力を利用して上記
被検出物体までの距離を検出する測距手段と、 上記受光手段の出力に基づいて上記被検出物体の反射率
を検出する反射率検出手段とを含むことを特徴とする測
距装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11105272A JP2000347237A (ja) | 1999-03-31 | 1999-04-13 | 露光制御装置および測距装置 |
| US09/516,717 US6304331B1 (en) | 1999-03-31 | 2000-03-01 | Exposure control device and distance measuring device |
| EP00106151A EP1041428A1 (en) | 1999-03-31 | 2000-03-21 | Exposure control device and distance measuring device |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9293799 | 1999-03-31 | ||
| JP11-92937 | 1999-03-31 | ||
| JP11105272A JP2000347237A (ja) | 1999-03-31 | 1999-04-13 | 露光制御装置および測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000347237A true JP2000347237A (ja) | 2000-12-15 |
Family
ID=26434300
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11105272A Pending JP2000347237A (ja) | 1999-03-31 | 1999-04-13 | 露光制御装置および測距装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6304331B1 (ja) |
| EP (1) | EP1041428A1 (ja) |
| JP (1) | JP2000347237A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009014360A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-22 | Sunx Ltd | 反射型光電センサ |
| KR20180019606A (ko) * | 2015-06-25 | 2018-02-26 | 퀄컴 인코포레이티드 | 비행시간 센서를 사용하여 노출 추정을 수행하기 위한 방법들 및 장치들 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10979649B2 (en) * | 2018-01-29 | 2021-04-13 | Don Atkinson | Auxiliary apparatus for a digital imaging device |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62169134A (ja) | 1986-01-21 | 1987-07-25 | Canon Inc | 状況自動判別装置 |
| US4941009A (en) | 1988-07-07 | 1990-07-10 | Konica Corporation | Method for slow synchro-flash photography |
| US5752063A (en) | 1993-12-08 | 1998-05-12 | Packard Bell Nec | Write inhibited registers |
| US6029015A (en) * | 1994-10-20 | 2000-02-22 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Camera with built-in electronic flash |
| JPH08271950A (ja) * | 1995-04-03 | 1996-10-18 | Fuji Photo Optical Co Ltd | ストロボ内蔵カメラ |
| JP3077791B2 (ja) * | 1995-04-14 | 2000-08-14 | 富士写真光機株式会社 | ストロボ内蔵カメラ |
| JP3627111B2 (ja) * | 1995-05-26 | 2005-03-09 | フジノン株式会社 | ストロボ内蔵カメラ |
| JPH11119289A (ja) * | 1997-10-17 | 1999-04-30 | Nikon Corp | 自動調光装置 |
-
1999
- 1999-04-13 JP JP11105272A patent/JP2000347237A/ja active Pending
-
2000
- 2000-03-01 US US09/516,717 patent/US6304331B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-03-21 EP EP00106151A patent/EP1041428A1/en not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009014360A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-22 | Sunx Ltd | 反射型光電センサ |
| KR20180019606A (ko) * | 2015-06-25 | 2018-02-26 | 퀄컴 인코포레이티드 | 비행시간 센서를 사용하여 노출 추정을 수행하기 위한 방법들 및 장치들 |
| CN107743590A (zh) * | 2015-06-25 | 2018-02-27 | 高通股份有限公司 | 用于使用飞行时间传感器来执行曝光估计的方法及设备 |
| JP2018528633A (ja) * | 2015-06-25 | 2018-09-27 | クアルコム，インコーポレイテッド | ｔｉｍｅ−ｏｆ−ｆｌｉｇｈｔセンサを使用して露出推定を実行するための方法および装置 |
| CN107743590B (zh) * | 2015-06-25 | 2021-05-07 | 高通股份有限公司 | 用于使用飞行时间传感器来执行曝光估计的方法及设备 |
| KR102604336B1 (ko) | 2015-06-25 | 2023-11-20 | 퀄컴 인코포레이티드 | 비행시간 센서를 사용하여 노출 추정을 수행하기 위한 방법들 및 장치들 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1041428A1 (en) | 2000-10-04 |
| US6304331B1 (en) | 2001-10-16 |
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