JP2000311334A - 磁気記録媒体の特性評価方法及び磁気記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 磁気記録媒体の磁気特性と摺動耐久性とを同
時に評価する。 【解決手段】 非磁性基板（ＰＥＴベースフィルム）１
上に金属磁性膜（Ｃｏ−０磁性膜）２を膜付けした上に
カーボン保護膜（ＤＬＣ保護膜）３を膜付けし、更に、
前記カーボン保護膜３上に潤滑膜（液体潤滑膜）４をご
く薄く膜付けした磁気記録媒体の特性を評価する際、前
記潤滑膜４上に照射した波長２００〜５５０ｎｍの光が
前記潤滑膜４を透過した後、前記カーボン保護膜３及び
このカーボン保護膜３を一部透過して前記金属磁性膜２
でそれぞれで反射されて前記潤滑膜４から出射した時の
光の反射率が前記波長２００〜５５０ｎｍの間で極小値
となる光の波長が２３０〜４００ｎｍであることを確認
することで、磁気特性と摺動耐久性とが適正であると判
定することを特徴とする磁気記録媒体の特性評価方法で
ある。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、非磁性基板上に金
属磁性膜を膜付けした上にカーボン保護膜を膜付けし、
更に、カーボン保護膜上に潤滑膜をごく薄く膜付けした
した磁気記録媒体、又は、非磁性基板上に金属磁性膜を
膜付けした上にカーボン保護膜を膜付けした磁気記録媒
体の磁気特性と摺動耐久性とを同時に且つ簡便に評価で
きる磁気記録媒体の特性評価方法及び磁気記録媒体に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、ＡＶ（オーディオ・ビデオ）機器
などに用いられる磁気記録媒体（以下、磁気テープと称
す）は、ディジタル化，高密度記録化，長時間化，薄膜
化が要求されており、これらの要求に答えることの可能
なものとしてテープ状の非磁性基板の上に金属磁性膜を
強磁性金属薄膜で形成した強磁性金属薄膜型の磁気テー
プが既に使用されている。例えば、ＶＴＲ（ビデオ・テ
ープ・レコーダ）に用いられるＨｉ−８用の磁気テープ
ではＣｏ−Ｎｉ−Ｏ（コバルトとニッケルの酸化物）金
属蒸着薄膜が、ＤＶフォーマット用の磁気テープではＣ
ｏ−Ｏ（コバルト酸化物）金属蒸着薄膜が磁性膜として
膜付けされている。

【０００３】そして、記録密度の高密度化に伴い、磁気
ヘッドと磁気テープとの相対速度が大きくなる傾向にあ
り、相対速度が大きくなると、磁気ヘッドへの摺動速度
が当然大きくなるので、磁気テープの耐摩耗性が問題と
なってくる。この解決策として、金属磁性膜の上に保護
膜を膜付けした磁気テープが実用化されており、とくに
カーボン保護膜が適用されている。

【０００４】Ｈｉ−８用の蒸着磁気テープでは、磁気ヘ
ッドと磁気テープとの摺動速度が大きくないため、カー
ボン保護膜は必要ではなかったが、ＤＶフォーマット用
の蒸着磁気テープではダイアモンド性を付与したダイア
モンド・ライク・カーボン保護膜（Diamond Like Car
bon ：以下、ＤＬＣ保護膜と称す）を保護膜として使用
している。このＤＬＣ保護膜は耐久性が優れており、一
般的に、真空中で炭化水素ガスあるいは炭化水素ガスと
不活性ガスの混合ガスのプラズマを発生させて形成する
ＣＶＤ法で成膜されている。

【０００５】また、カーボン保護膜の膜厚は、薄すぎる
と摺動耐久性が低くなり、厚すぎると金属磁性膜と磁気
ヘッドとの距離が大きくなるため、スペーシング損失が
大きくなり、再生出力が低下する。そのため、カーボン
保護膜の膜厚は、摺動耐久性を高くとれる範囲内で、再
生出力を高くするため、できるだけ薄くする必要があ
り、厳密に管理されなければならない。このカーボン保
護膜の膜厚を管理するためのカーボン保護膜の膜厚測定
には、カーボン保護膜面の反射率からカーボン保護膜厚
を測定する方法が特開平６−１９５７０５号公報に開示
されている。

【０００６】一方、磁気特性も記録密度の高密度化のた
めには、磁気特性に大きく影響する金属磁性層の酸化度
を厳密に管理し、一定範囲内の磁気特性を得る必要があ
る。この磁気特性の測定方法としては、磁気記録媒体を
磁場中に置き、磁気の引力、反力から磁気特性を測定す
るＶＳＭ方法や、磁性層の反射率から磁気特性のひとつ
である保持力Ｈｃを判定する方法が行われている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、磁気記録媒
体のカーボン保護膜の膜厚は、前述のように摺動耐久性
を高くとれる範囲内で、再生出力を高くするため、でき
るだけ薄くする必要がある。従って、カーボン保護膜の
膜厚は、厳密に管理されなければならない。

【０００８】一方、前述したように、磁気特性も記録密
度の高密度化のためには、磁気特性に大きく影響する金
属磁性層の酸化度を厳密に管理し、一定範囲内の磁気特
性を得る必要がある。

【０００９】従来、カーボン保護膜厚の測定と磁気特性
の測定は、それぞれ単独の測定を行っていたが、その方
法では手間がかかり、コストアップとなる。また、それ
ぞれの測定ための測定器も用意しなければならず、これ
もコストアップとなる。

【００１０】そこで、磁気記録媒体の磁気特性と摺動耐
久性とを同時に且つ簡便に評価できる磁気記録媒体の特
性評価方法及び磁気記録媒体が望まれている。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題に鑑み
てなされたものであり、第１の発明は、非磁性基板上に
金属磁性膜を膜付けした上にカーボン保護膜を膜付け
し、更に、前記カーボン保護膜上に潤滑膜をごく薄く膜
付けした磁気記録媒体の特性を評価する際、前記潤滑膜
上に照射した波長２００〜５５０ｎｍの光が前記潤滑膜
を透過した後、前記カーボン保護膜及びこのカーボン保
護膜を一部透過して前記金属磁性膜でそれぞれ反射され
て前記潤滑膜から出射した時の光の反射率が前記波長２
００〜５５０ｎｍの間で極小値となる光の波長が２３０
〜４００ｎｍであることを確認することで、磁気特性と
摺動耐久性とが適正であると判定することを特徴とする
磁気記録媒体の特性評価方法である。

【００１２】また、第２の発明は、非磁性基板上に金属
磁性膜を膜付けした上にカーボン保護膜を膜付けした磁
気記録媒体の特性を評価する際、前記カーボン保護膜上
に照射した波長２００〜５５０ｎｍの光が前記カーボン
保護膜及びこのカーボン保護膜を一部透過して前記金属
磁性膜でそれぞれ反射された時の光の反射率が前記波長
２００〜５５０ｎｍの間で極小値となる光の波長が２３
０〜４００ｎｍであることを確認することで、磁気特性
と摺動耐久性とが適正であると判定することを特徴とす
る磁気記録媒体の特性評価方法である。

【００１３】また、第３の発明は、非磁性基板上に金属
磁性膜を膜付けした上にカーボン保護膜を膜付けし、更
に、前記カーボン保護膜上に潤滑膜をごく薄く膜付けし
た磁気記録媒体において、前記潤滑膜上に照射した波長
２００〜５５０ｎｍの光が前記潤滑膜を透過した後、前
記カーボン保護膜及びこのカーボン保護膜を一部透過し
て前記金属磁性膜でそれぞれ反射されて前記潤滑膜から
出射した時の光の反射率が前記波長２００〜５５０ｎｍ
の間で極小値となる光の波長が２３０〜４００ｎｍであ
ることを特徴とする磁気記録媒体である。

【００１４】また、第４の発明は、非磁性基板上に金属
磁性膜を膜付けした上にカーボン保護膜を膜付けした磁
気記録媒体において、前記カーボン保護膜上に照射した
波長２００〜５５０ｎｍの光が前記カーボン保護膜及び
このカーボン保護膜を一部透過して前記金属磁性膜でそ
れぞれ反射された時の光の反射率が前記波長２００〜５
５０ｎｍの間で極小値となる光の波長が２３０〜４００
ｎｍであることを徴とする磁気記録媒体である。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下に本発明に係る磁気記録媒体
の特性評価方法及び磁気記録媒体の一実施例を図１〜図
４を参照して詳細に説明する。

【００１６】図１は本発明に係る磁気記録媒体の構成を
説明するための断面図、図２は本発明に係る磁気記録媒
体の特性評価方法を説明するための模式図、図３は本発
明に係る磁気記録媒体の特性評価方法による測定結果を
示した図である。

【００１７】まず、図１に示した如く、本発明に係る磁
気記録媒体の構成を説明すると、テープ状の非磁性基板
として６．３μｍ厚さのポリエチレンテレフタレート
（以下ＰＥＴと称する）ベースフィルム１の一方の面上
に金属磁性膜となるＣｏ−Ｏ磁性膜２が略２００ｎｍ蒸
着されており、このＣｏ−Ｏ磁性膜２上にＤＬＣ保護膜
（ダイアモンド・ライク・カーボン保護膜）３が略１０
μｍ膜付けされている。

【００１８】また、ＤＬＣ保護膜３上には、潤滑層とな
る液体状の潤滑膜（以下、液体潤滑膜と記す）４がごく
薄く１〜３ｎｍほど塗布により膜付けされており、この
液体潤滑膜４側を情報信号を記録再生する磁気ヘッド
（図示せず）への摺接面としている。尚、液体潤滑膜４
に代えて固体状の潤滑膜をごく薄く１〜３ｎｍほど膜付
けしても良い。

【００１９】更に、ＰＥＴベースフィルム１の他方の面
には、バックコート層５が略０．５μｍ形成されてお
り、このバックコート層５側をＶＴＲ走行系の機構部品
となるテープガイド（図示せず）などへの摺接面として
いる。

【００２０】次に、本発明に係る磁気記録媒体の特性評
価方法について、図２及び図３を用いて説明する。

【００２１】図２に示した如く、ＰＥＴベースフィルム
１の一方の面上にＣｏ−Ｏ磁性膜（金属磁性膜）２を膜
付けし、更に、ＤＬＣ保護膜３上に液体潤滑膜４をごく
薄く膜付けした状態で、分光光度計６｛（株）島津製作
所製ＵＶ−３１０１ＰＣ｝を用いて波長２００〜５５０
ｎｍの光を液体潤滑膜４上に照射（入射）して、この波
長２００〜５５０ｎｍの光を液体潤滑膜４を透過させた
後、ＤＬＣ保護膜３及びこのカーボン保護膜を一部透過
してＣｏ−Ｏ磁性膜２でそれぞれ反射させて液体潤滑膜
４から再び出射した時の光の反射率を測定した。

【００２２】ここで、液体潤滑膜４は、ＤＬＣ保護膜３
上にごく薄く１〜３ｎｍほど塗布により膜付けされてい
るので略透明であり、液体潤滑膜４上に照射した分光光
度計６からの波長２００〜５５０ｎｍの光は液体潤滑膜
４を透過する。そして、液体潤滑膜４を透過した波長２
００〜５５０ｎｍの光はＤＬＣ保護膜３で反射され、且
つ、ＤＬＣ保護膜３は光透過性があるので、ＤＬＣ保護
膜３に到達した波長２００〜５５０ｎｍの光の一部がＣ
ｏ−Ｏ磁性膜２でも反射されて、再び液体潤滑膜４を透
過して出射され、分光光度計６で受光されているもので
ある。従って、波長２００〜５５０ｎｍの光の反射率の
測定に関して、液体潤滑膜４の影響は全くなく、波長２
００〜５５０ｎｍの光をＤＬＣ保護膜３上に直接照射し
た場合と等価である。

【００２３】この際、Ｃｏ−Ｏ磁性膜２は、連続巻き取
り式蒸着装置により成膜し、導入する酸素量を変化させ
ることにより、Ｃｏ−Ｏ磁性膜２の磁気特性を種々異な
らせたサンプルを作製した。

【００２４】また、Ｃｏ−Ｏ磁性膜２が蒸着成膜された
フィルム上に、ＤＬＣ保護膜３は連続巻き取り式プラズ
マＣＶＤ（Ｃｈｅｍｉｃａｌ Ｖａｐｏｒ Ｄｅｐｏｓ
ｉｔｉｏｎ）装置により成膜した。その際、フィルム送
り速度を変化させることにより、ＤＬＣ保護膜３の膜厚
を種々異ならせたサンプルを作製した。

【００２５】そして、Ｃｏ−Ｏ磁性膜２の磁気特性を変
化させ、且つ、ＤＬＣ保護膜３の膜厚を変化させて両者
を組みあせた種々のサンプルを、それぞれ６．３５×１
５ｍｍの大きさに切り出し、バックコート層５側がガラ
ス面と接するように無色透明スライドガラスに貼り付
け、積分球および大型試料室付き分光光度計｛（株）島
津製作所製ＵＶ−３１０１ＰＣ｝にセット後、２００〜
５５０ｎｍの波長の光をスイープさせながら液体潤滑膜
４上に照射して反射率を測定した。この際、各サンプル
のスライドガラスへの貼り付けは、水を少量サンプルテ
ープとスライドガラスの間に入れ、その水を綿棒により
薄く均一にのばし、サンプルテープにシワが入らないよ
うにして貼り付けた。

【００２６】また、これらのサンプルテープについて、
磁気特性である保持力Ｈｃを振動試料型磁力計｛東英工
業（株）社製ＶＳＭ３Ｓ型｝により測定した。

【００２７】また、ＤＬＣ保護膜３の膜厚については、
従来技術で述べた特開平６−１９５７０５号公報に記載
の技術的思想に基づいて、例えば５５０ｎｍの波長の光
をＤＬＣ保護膜３に照射した時の反射率から予め測定し
た。この場合には、下地条件を同一して基準となる複数
のＤＬＣ保護膜３に対して、他の方法によりＤＬＣ保護
膜３の膜厚を予め測定し、ここで得られた既知の複数の
値に対して５５０ｎｍの波長の光によるＤＬＣ保護膜３
からの反射率を測定しておくことで、未知の膜厚を測定
できるものである。

【００２８】また、電磁変換特性は、ドラムテスターに
より測定し、２０．９２５ＭＨｚの出力とＣ／Ｎ（キャ
リアとノイズの比）を測定した。

【００２９】そして、あらかじめ記録したＤＶフォーマ
ットの信号の同じ部分を連続再生し、６０分後の再生出
力を測定するスチル試験を行った。スチル試験の試験環
境は、温度５度、湿度５０％である。

【００３０】この際、ＤＶフォーマットでは、電磁変換
特性である出力が標準テープ比：−１ｄＢ以上、Ｃ／Ｎ
が標準テープ比：−２ｄＢ以上となっており、良否の判
定基準となる。また、スチル試験では、再生初期出力に
対する６０分後の出力の値が−３ｄＢ以上が判定基準と
なる。

【００３１】また、予備実験の段階では、Ｃｏ−Ｏ磁性
膜２の組成が同じならば、Ｃｏ−Ｏ磁性膜２の膜厚が厚
くなるに従ってＣｏ−Ｏ磁性膜２の保持力Ｈｃが大きく
なり、且つ、Ｃｏ−Ｏ磁性膜２の保持力Ｈｃが大きくな
るほど液体潤滑膜４上に照射した波長２００〜５５０ｎ
ｍの光が液体潤滑膜４を透過してＤＬＣ保護膜３及びこ
のカーボン保護膜３を一部透過してＣｏ−Ｏ磁性膜２で
それぞれ反射された時の反射率は小さくなることが判明
した。また、ＤＬＣ保護膜３の組成が同じならば、ＤＬ
Ｃ保護膜３の膜厚が大きくなるほど液体潤滑膜４上に照
射した波長２００〜５５０ｎｍの光が液体潤滑膜４を透
過してＤＬＣ保護膜３及びこのカーボン保護膜３を一部
透過してＣｏ−Ｏ磁性膜２でそれぞれ反射された時の反
射率は小さくなることが判明した。

【００３２】上記したサンプルの各特性の測定結果は、
図３に示した如く、実施例１，２，３では、ＤＬＣ保護
膜３の膜厚を１０［ｎｍ］と全て同じ値にして、Ｃｏ−
Ｏ磁性膜２の保持力Ｈｃを１５９０，１４９０，１３２
０［Ｏｅ］とそれぞれ振った時に、液体潤滑膜４上に照
射した波長２００〜５５０ｎｍの光が液体潤滑膜４を透
過した後、ＤＬＣ保護膜３及びこのカーボン保護膜３を
一部透過してＣｏ−Ｏ磁性膜２でそれぞれ反射されて液
体潤滑膜４から出射した時の光の反射率が波長２００〜
５５０ｎｍの間で極小値となる光の波長が２３０〜４０
０ｎｍに入っているため、電磁変換特性である出力、Ｃ
／Ｎおよび摺動耐久性を表すスチル耐久性が良好となっ
ている。これにより、Ｃｏ−Ｏ磁性膜２の保持力Ｈｃと
ＤＬＣ保護膜３の膜厚とが共に適正であると同時に判定
できる。

【００３３】これに対し、比較例１ではＤＬＣ保護膜３
の膜厚を実施例１，２，３と同じ値に設定しているもの
の、Ｃｏ−Ｏ磁性膜２の保持力Ｈｃが実施例１，２，３
よりも大きすぎるため、極小値波長が４００ｎｍより大
きくなり、電磁変換特性である出力が小さく、ＤＶフォ
ーマットを満たさない。

【００３４】また、比較例２は、比較例１よりも出力を
上げ、極小値波長を小さくするためにＤＬＣ保護膜３の
膜厚を小さくしたが、電磁変換特性はＤＶフォーマット
を満たしたものの、ＤＬＣ保護膜３の膜厚が小さいため
スチル試験結果が悪くなった。 また、比較例３は実施
例１，２，３よりも保持力Ｈｃを小さくした結果、極小
値波長が２３０ｎｍより小さくなったが、保持力Ｈｃが
小さすぎるため、Ｃ／Ｎが悪く、ＤＶフォーマットを満
たさない。

【００３５】また比較例４は比較例３よりも極小値波長
を大きくするため、ＤＬＣ保護膜３の膜厚を大きくした
が、更にＣ／Ｎが悪くなった。

【００３６】以上のように、液体潤滑膜４上に照射した
波長２００〜５５０ｎｍの光が液体潤滑膜４を透過した
後、ＤＬＣ保護膜３及びこのカーボン保護膜３を一部透
過してＣｏ−Ｏ磁性膜２でそれぞれ反射されて液体潤滑
膜４から出射した時の光の反射率が波長２００〜５５０
ｎｍの光の間で極小値となる光の波長は、Ｃｏ−Ｏ磁性
膜２の磁気特性とＤＬＣ保護膜３の膜厚情報を合わせ持
ったものとなっており、極小値波長が２３０〜４００ｎ
ｍの範囲内にあると、Ｃｏ−Ｏ磁性膜２の磁気特性が適
正で、且つ、ＤＬＣ保護膜３の膜厚が適正で摺動耐久性
が良好となる。よって、極小値波長から、適正な磁気特
性、電磁変換特性、摺動耐久性の判断が同時に得られ、
簡便な磁気記録媒体の特性評価方法となる。また、この
磁気記録媒体の特性評価方法では、波長２００〜５５０
ｎｍの光を液体潤滑膜４上に照射しているので、磁気記
録媒体の製造が完了した状態で測定できる。

【００３７】また、この磁気記録媒体の特性評価方法に
よって、適正な磁気特性、電磁変換特性、摺動耐久性を
持った磁気記録媒体が得られる。

【００３８】次に、本発明に係る磁気記録媒体の特性評
価方法の変形例及び磁気記録媒体の変形例について、図
４を用いて簡略に説明する。

【００３９】図４は本発明に係る磁気記録媒体の特性評
価方法の変形例及び磁気記録媒体の変形例を説明するた
めの断面図である。

【００４０】図４に示した如く、この変形例では、ＰＥ
Ｔベースフィルム１の一方の面上にＣｏ−Ｏ磁性膜２を
膜付けし、このＣｏ−Ｏ磁性膜２上にＤＬＣ保護膜３を
膜付けした状態で、分光光度計６を用いて波長２００〜
５５０ｎｍの光をＤＬＣ保護膜３上に直接照射して、Ｄ
ＬＣ保護膜３及びこのカーボン保護膜３を一部透過して
Ｃｏ−Ｏ磁性膜２でそれぞれ反射された時の光の反射率
を測定した。

【００４１】前述した実施例の場合には、ＤＬＣ保護膜
３上に液体潤滑膜４をごく薄く膜付けした状態で波長２
００〜５５０ｎｍの光を液体潤滑膜４上に照射しても、
液体潤滑膜４の影響は全くなく、波長２００〜５５０ｎ
ｍの光をＤＬＣ保護膜３上に直接照射した場合と等価で
あることを説明したが、ここでは磁気記録媒体の製造途
中段階で早く良否を判定したい場合に、ＤＬＣ保護膜３
上に液体潤滑膜４を膜付けする前に反射率を測定してい
る。

【００４２】従って、この変形例の場合でも、前述した
実施例の場合と同じ結果が得られるものであり、ＤＬＣ
保護膜３上に照射した波長２００〜５５０ｎｍの光がＤ
ＬＣ保護膜３及びこのカーボン保護膜３を一部透過して
Ｃｏ−Ｏ磁性膜２でそれぞれ反射された時の光の反射率
が前記波長２００〜５５０ｎｍの間で極小値となる光の
波長が２３０〜４００ｎｍであることを確認すること
で、磁気特性と摺動耐久性とが適正であると判定するこ
とができ、磁気記録媒体も良好な磁気特性と摺動耐久性
が得られる。

【００４３】尚、上記した実施例及び変形例では、磁気
記録媒体の非磁性基板をテープ状に形成した磁気テープ
の場合について説明したが、これに限ることなく、磁気
記録媒体の非磁性基板を円盤状に形成した磁気ディスク
にも上記した技術的思想を適用できる。

【００４４】

【発明の効果】本発明に係る磁気記録媒体の特性評価方
法によれば、請求項１記載では、非磁性基板上に金属磁
性膜を膜付けした上にカーボン保護膜を膜付けし、更
に、前記カーボン保護膜上に潤滑膜をごく薄く膜付けし
た磁気記録媒体の特性を評価する際、前記潤滑膜上に照
射した波長２００〜５５０ｎｍの光が前記潤滑膜を透過
した後、前記カーボン保護膜及びこのカーボン保護膜を
一部透過して前記金属磁性膜でそれぞれ反射されて前記
潤滑膜から出射した時の光の反射率が前記波長２００〜
５５０ｎｍの間で極小値となる光の波長が２３０〜４０
０ｎｍであることを確認することで、磁気特性と摺動耐
久性とが適正であると判定しているので、記録媒体の磁
気特性と摺動耐久性とを同時に且つ簡便に評価できる。
また、この磁気記録媒体の特性評価方法では、波長２０
０〜５５０ｎｍの光を液体潤滑膜上に照射しているの
で、磁気記録媒体の製造が完了した状態で測定できる。

【００４５】また、請求項２記載では、非磁性基板上に
金属磁性膜を膜付けした上にカーボン保護膜を膜付けし
た磁気記録媒体の特性を評価する際、前記カーボン保護
膜上に照射した波長２００〜５５０ｎｍの光が前記カー
ボン保護膜及びこのカーボン保護膜を一部透過して前記
金属磁性膜でそれぞれ反射された時の光の反射率が前記
波長２００〜５５０ｎｍの間で極小値となる光の波長が
２３０〜４００ｎｍであることを確認することで、磁気
特性と摺動耐久性とが適正であると判定しているので、
上記と同様に、磁気記録媒体の磁気特性と摺動耐久性と
を同時に且つ簡便に評価できる。また、この磁気記録媒
体の特性評価方法では、波長２００〜５５０ｎｍの光を
カーボン保護膜上に直接照射しているので、磁気記録媒
体の製造途中段階で、早く良否を判定したい場合に適用
できる。

【００４６】また、本発明に係る磁気記録媒体によれ
ば、請求項３記載では、非磁性基板上に金属磁性膜を膜
付けした上にカーボン保護膜を膜付けし、更に、前記カ
ーボン保護膜上に潤滑膜をごく薄く膜付けした磁気記録
媒体において、前記潤滑膜上に照射した波長２００〜５
５０ｎｍの光が前記潤滑膜を透過した後、前記カーボン
保護膜及びこのカーボン保護膜を一部透過して前記金属
磁性膜でそれぞれ反射されて前記潤滑膜から出射した時
の光の反射率が前記波長２００〜５５０ｎｍの間で極小
値となる光の波長が２３０〜４００ｎｍであるので、良
好な磁気特性と摺動耐久性が得られる。

【００４７】また、請求項４記載では、非磁性基板上に
金属磁性膜を膜付けした上にカーボン保護膜を膜付けし
た磁気記録媒体において、前記カーボン保護膜上に照射
した波長２００〜５５０ｎｍの光が前記カーボン保護膜
及びこのカーボン保護膜を一部透過して前記金属磁性膜
でそれぞれ反射された時の光の反射率が前記波長２００
〜５５０ｎｍの間で極小値となる光の波長が２３０〜４
００ｎｍであるので、上記と同様に、良好な磁気特性と
摺動耐久性が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る磁気記録媒体の構成を説明するた
めの断面図である。

【図２】本発明に係る磁気記録媒体の特性評価方法を説
明するための模式図である。

【図３】本発明に係る磁気記録媒体の特性評価方法によ
る測定結果を示した図である。

【図４】本発明に係る磁気記録媒体の特性評価方法の変
形例及び磁気記録媒体の変形例を説明するための断面図
である。

【符号の説明】

１…非磁性基板（ＰＥＴベースフィルム）、 ２…金属磁性膜（Ｃｏ−Ｏ磁性膜）、 ３…カーボン保護膜（ＤＬＣ保護膜）、 ４…潤滑膜（液体潤滑膜）、 ６…分光光度計。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】非磁性基板上に金属磁性膜を膜付けした上
   にカーボン保護膜を膜付けし、更に、前記カーボン保護
   膜上に潤滑膜をごく薄く膜付けした磁気記録媒体の特性
   を評価する際、前記潤滑膜上に照射した波長２００〜５
   ５０ｎｍの光が前記潤滑膜を透過した後、前記カーボン
   保護膜及びこのカーボン保護膜を一部透過して前記金属
   磁性膜でそれぞれ反射されて前記潤滑膜から出射した時
   の光の反射率が前記波長２００〜５５０ｎｍの間で極小
   値となる光の波長が２３０〜４００ｎｍであることを確
   認することで、磁気特性と摺動耐久性とが適正であると
   判定することを特徴とする磁気記録媒体の特性評価方
   法。
2. 【請求項２】非磁性基板上に金属磁性膜を膜付けした上
   にカーボン保護膜を膜付けした磁気記録媒体の特性を評
   価する際、前記カーボン保護膜上に照射した波長２００
   〜５５０ｎｍの光が前記カーボン保護膜及びこのカーボ
   ン保護膜を一部透過して前記金属磁性膜でそれぞれ反射
   された時の光の反射率が前記波長２００〜５５０ｎｍの
   間で極小値となる光の波長が２３０〜４００ｎｍである
   ことを確認することで、磁気特性と摺動耐久性とが適正
   であると判定することを特徴とする磁気記録媒体の特性
   評価方法。
3. 【請求項３】非磁性基板上に金属磁性膜を膜付けした上
   にカーボン保護膜を膜付けし、更に、前記カーボン保護
   膜上に潤滑膜をごく薄く膜付けした磁気記録媒体におい
   て、前記潤滑膜上に照射した波長２００〜５５０ｎｍの
   光が前記潤滑膜を透過した後、前記カーボン保護膜及び
   このカーボン保護膜を一部透過して前記金属磁性膜でそ
   れぞれ反射されて前記潤滑膜から出射した時の光の反射
   率が前記波長２００〜５５０ｎｍの間で極小値となる光
   の波長が２３０〜４００ｎｍであることを特徴とする磁
   気記録媒体。
4. 【請求項４】非磁性基板上に金属磁性膜を膜付けした上
   にカーボン保護膜を膜付けした磁気記録媒体において、
   前記カーボン保護膜上に照射した波長２００〜５５０ｎ
   ｍの光が前記カーボン保護膜及びこのカーボン保護膜を
   一部透過して前記金属磁性膜でそれぞれ反射された時の
   光の反射率が前記波長２００〜５５０ｎｍの間で極小値
   となる光の波長が２３０〜４００ｎｍであることを徴と
   する磁気記録媒体。