JP2000311146A - 蛍光ｘ線分析装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数のコンピュータを備え、分析操作を行っ
ていないコンピュータで、分析の進捗等のリアルタイム
での表示、および、分析結果の参照等のオフライン作業
ができる装置を提供する。 【解決手段】 単一の装置本体1 と、装置本体1 に直接
接続されて分析操作が可能な単一のメインコンピュータ
2 と、メインコンピュータ2 にネットワーク3 を介して
接続されたサブコンピュータ4,5 とを備えている。サブ
コンピュータ4,5で、分析の進捗等のリアルタイムでの
表示、および、オフライン作業が可能である。
ていないコンピュータで、分析の進捗等のリアルタイム
での表示、および、分析結果の参照等のオフライン作業
ができる装置を提供する。 【解決手段】 単一の装置本体1 と、装置本体1 に直接
接続されて分析操作が可能な単一のメインコンピュータ
2 と、メインコンピュータ2 にネットワーク3 を介して
接続されたサブコンピュータ4,5 とを備えている。サブ
コンピュータ4,5で、分析の進捗等のリアルタイムでの
表示、および、オフライン作業が可能である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料を分析する分
析装置において、複数のコンピュータを備えた装置に関
するものである。
析装置において、複数のコンピュータを備えた装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、蛍光Ｘ線分析装置等におい
て、単一の装置本体と、それに直接接続され分析操作が
可能な単一のメインコンピュータと、そのメインコンピ
ュータにネットワークを介して接続され分析の進捗の表
示等が可能なサブコンピュータとを備えた分析装置があ
り、装置本体に隣接したメインコンピュータでなくて
も、離れた場所にあり分析操作を行っていないサブコン
ピュータからも分析の進捗を見ること等が可能である。
て、単一の装置本体と、それに直接接続され分析操作が
可能な単一のメインコンピュータと、そのメインコンピ
ュータにネットワークを介して接続され分析の進捗の表
示等が可能なサブコンピュータとを備えた分析装置があ
り、装置本体に隣接したメインコンピュータでなくて
も、離れた場所にあり分析操作を行っていないサブコン
ピュータからも分析の進捗を見ること等が可能である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、サブコンピュ
ータで分析の進捗等をリアルタイムで表示する形式のも
のでは、単に、コンピュータ処理上では、キーボードと
マウスが増設され、メインコンピュータと同じ画面が表
示されるのみで、メインコンピュータと異なる作業は何
もできない。また、分析の進捗や分析結果をメインコン
ピュータのファイルに一旦書き込んでサブコンピュータ
で読み取る形式のものでは、サブコンピュータにおい
て、分析の進捗や分析結果のリアルタイムでの表示がで
きない。
ータで分析の進捗等をリアルタイムで表示する形式のも
のでは、単に、コンピュータ処理上では、キーボードと
マウスが増設され、メインコンピュータと同じ画面が表
示されるのみで、メインコンピュータと異なる作業は何
もできない。また、分析の進捗や分析結果をメインコン
ピュータのファイルに一旦書き込んでサブコンピュータ
で読み取る形式のものでは、サブコンピュータにおい
て、分析の進捗や分析結果のリアルタイムでの表示がで
きない。
【０００４】本発明は前記従来の問題に鑑みてなされた
もので、複数のコンピュータを備え、試料を分析する分
析装置において、分析操作を行っていないコンピュータ
で、分析の進捗および分析結果のリアルタイムでの表
示、ならびに、分析結果の参照を含むオフライン作業が
できる装置を提供することを目的とする。
もので、複数のコンピュータを備え、試料を分析する分
析装置において、分析操作を行っていないコンピュータ
で、分析の進捗および分析結果のリアルタイムでの表
示、ならびに、分析結果の参照を含むオフライン作業が
できる装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項１の分析装置は、試料を分析する分析装置で
あって、まず、単一の装置本体と、その装置本体に直接
接続され、前記装置本体の分析操作が可能な単一のメイ
ンコンピュータと、そのメインコンピュータにネットワ
ークを介して接続されたサブコンピュータとを備えてい
る。そして、そのサブコンピュータで、前記装置本体に
よる分析の進捗および分析結果のリアルタイムでの表
示、ならびに、前記装置本体による分析結果の参照を含
むオフライン作業が可能である。
に、請求項１の分析装置は、試料を分析する分析装置で
あって、まず、単一の装置本体と、その装置本体に直接
接続され、前記装置本体の分析操作が可能な単一のメイ
ンコンピュータと、そのメインコンピュータにネットワ
ークを介して接続されたサブコンピュータとを備えてい
る。そして、そのサブコンピュータで、前記装置本体に
よる分析の進捗および分析結果のリアルタイムでの表
示、ならびに、前記装置本体による分析結果の参照を含
むオフライン作業が可能である。
【０００６】請求項１の装置によれば、かかる構成によ
り、具体的には、メインコンピュータからサブコンピュ
ータへネットワークを介してソケット通信で情報がリア
ルタイムで送られるので、分析操作を行っていないサブ
コンピュータにおいても、分析の進捗および分析結果の
リアルタイムでの表示ができ、また、分析結果の参照等
のオフライン作業もできる。
り、具体的には、メインコンピュータからサブコンピュ
ータへネットワークを介してソケット通信で情報がリア
ルタイムで送られるので、分析操作を行っていないサブ
コンピュータにおいても、分析の進捗および分析結果の
リアルタイムでの表示ができ、また、分析結果の参照等
のオフライン作業もできる。
【０００７】請求項２の装置は、試料を分析する分析装
置であって、まず、制御手段により動作制御される単一
の装置本体と、その装置本体に直接接続され、前記装置
本体の分析操作が可能な単一のメインコンピュータと、
前記装置本体にネットワークおよび前記メインコンピュ
ータを介して接続され、前記装置本体の分析操作が可能
なサブコンピュータとを備えている。そして、前記メイ
ンコンピュータまたはサブコンピュータのいずれかが、
前記装置本体の制御手段が処理不能となるような分析操
作を排除する排他手段を有している。さらに、分析操作
を行っていない前記メインコンピュータまたはサブコン
ピュータで、前記装置本体による分析の進捗および分析
結果のリアルタイムでの表示、ならびに、前記装置本体
による分析結果の参照を含むオフライン作業が可能であ
る。
置であって、まず、制御手段により動作制御される単一
の装置本体と、その装置本体に直接接続され、前記装置
本体の分析操作が可能な単一のメインコンピュータと、
前記装置本体にネットワークおよび前記メインコンピュ
ータを介して接続され、前記装置本体の分析操作が可能
なサブコンピュータとを備えている。そして、前記メイ
ンコンピュータまたはサブコンピュータのいずれかが、
前記装置本体の制御手段が処理不能となるような分析操
作を排除する排他手段を有している。さらに、分析操作
を行っていない前記メインコンピュータまたはサブコン
ピュータで、前記装置本体による分析の進捗および分析
結果のリアルタイムでの表示、ならびに、前記装置本体
による分析結果の参照を含むオフライン作業が可能であ
る。
【０００８】請求項２の装置によれば、かかる排他手段
により、メインコンピュータおよびサブコンピュータ、
すなわち複数のコンピュータを用いて円滑な分析操作が
できる。また、請求項１の装置と同様に、分析操作を行
っていないメインコンピュータまたはサブコンピュータ
においても、分析の進捗および分析結果のリアルタイム
での表示ができ、分析結果の参照等のオフライン作業も
できる。
により、メインコンピュータおよびサブコンピュータ、
すなわち複数のコンピュータを用いて円滑な分析操作が
できる。また、請求項１の装置と同様に、分析操作を行
っていないメインコンピュータまたはサブコンピュータ
においても、分析の進捗および分析結果のリアルタイム
での表示ができ、分析結果の参照等のオフライン作業も
できる。
【０００９】請求項３の装置は、請求項１の装置におい
て、分析装置を、試料に１次Ｘ線を照射して発生した蛍
光Ｘ線の強度を測定する蛍光Ｘ線分析装置としたもので
ある。請求項３の装置によっても、請求項１の装置と同
様の作用効果が得られる。
て、分析装置を、試料に１次Ｘ線を照射して発生した蛍
光Ｘ線の強度を測定する蛍光Ｘ線分析装置としたもので
ある。請求項３の装置によっても、請求項１の装置と同
様の作用効果が得られる。
【００１０】請求項４の装置は、請求項２の装置におい
て、分析装置を、試料に１次Ｘ線を照射して発生した蛍
光Ｘ線の強度を測定する蛍光Ｘ線分析装置としたもので
ある。請求項４の装置によっても、請求項２の装置と同
様の作用効果が得られる。
て、分析装置を、試料に１次Ｘ線を照射して発生した蛍
光Ｘ線の強度を測定する蛍光Ｘ線分析装置としたもので
ある。請求項４の装置によっても、請求項２の装置と同
様の作用効果が得られる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態の蛍光
Ｘ線分析装置について説明する。まず、この装置の構成
について、図１にしたがって説明する。この装置は、い
わゆる蛍光Ｘ線分析装置であって、単一の装置本体１に
おいて、試料７を載置する試料台８と、試料７に１次Ｘ
線９を照射するＸ線管等のＸ線源１０と、試料７から発
生した蛍光Ｘ線１１の強度を測定する分光素子１２およ
び検出器１３等の検出手段１４とを備えている。また、
複数の試料７Ａ，７Ｂ…を連続して分析するために、複
数の試料７Ａ，７Ｂ…を待機させる待機台１５と、待機
台１５と試料台８との間で試料７を移動させて、分析す
る試料７を交換するロボットハンド等の試料交換手段１
６も備えている。装置本体１における試料交換手段１
６、Ｘ線源１０、検出手段１４等の動作制御は、装置本
体に内蔵されたマイコン（制御手段）１７が行う。
Ｘ線分析装置について説明する。まず、この装置の構成
について、図１にしたがって説明する。この装置は、い
わゆる蛍光Ｘ線分析装置であって、単一の装置本体１に
おいて、試料７を載置する試料台８と、試料７に１次Ｘ
線９を照射するＸ線管等のＸ線源１０と、試料７から発
生した蛍光Ｘ線１１の強度を測定する分光素子１２およ
び検出器１３等の検出手段１４とを備えている。また、
複数の試料７Ａ，７Ｂ…を連続して分析するために、複
数の試料７Ａ，７Ｂ…を待機させる待機台１５と、待機
台１５と試料台８との間で試料７を移動させて、分析す
る試料７を交換するロボットハンド等の試料交換手段１
６も備えている。装置本体１における試料交換手段１
６、Ｘ線源１０、検出手段１４等の動作制御は、装置本
体に内蔵されたマイコン（制御手段）１７が行う。
【００１２】また、この装置は、装置本体１に隣接して
ネットワーク等を介さず直接接続され、装置本体１の分
析操作が可能な単一のメインコンピュータ２を備えてい
る。さらに、装置本体１にＬＡＮ等のネットワーク３お
よびメインコンピュータ１を介して接続され、やはり装
置本体１の分析操作が可能な例えば２台のサブコンピュ
ータ４，５を備えている。具体的には、メインコンピュ
ータ２からサブコンピュータ４，５へネットワーク３を
介してソケット通信で情報がリアルタイムで送られる。
各コンピュータ２，４，５は、ＣＲＴ等の表示手段２
ａ，４ａ，５ａと、キーボード等の入力手段２ｂ，４
ｂ，５ｂとを有している。装置本体１およびメインコン
ピュータ２は、実験室に設置され、第１サブコンピュー
タ４は、例えば会議室に、第２サブコンピュータ５は、
例えば事務室に設置される。電話回線やインターネット
等のネットワーク３を介すれば、例えば、装置本体１お
よびメインコンピュータ２を大阪の実験室に設置し、サ
ブコンピュータ４，５を東京の工場に設置することもで
きる。
ネットワーク等を介さず直接接続され、装置本体１の分
析操作が可能な単一のメインコンピュータ２を備えてい
る。さらに、装置本体１にＬＡＮ等のネットワーク３お
よびメインコンピュータ１を介して接続され、やはり装
置本体１の分析操作が可能な例えば２台のサブコンピュ
ータ４，５を備えている。具体的には、メインコンピュ
ータ２からサブコンピュータ４，５へネットワーク３を
介してソケット通信で情報がリアルタイムで送られる。
各コンピュータ２，４，５は、ＣＲＴ等の表示手段２
ａ，４ａ，５ａと、キーボード等の入力手段２ｂ，４
ｂ，５ｂとを有している。装置本体１およびメインコン
ピュータ２は、実験室に設置され、第１サブコンピュー
タ４は、例えば会議室に、第２サブコンピュータ５は、
例えば事務室に設置される。電話回線やインターネット
等のネットワーク３を介すれば、例えば、装置本体１お
よびメインコンピュータ２を大阪の実験室に設置し、サ
ブコンピュータ４，５を東京の工場に設置することもで
きる。
【００１３】メインコンピュータ２は、装置本体１のマ
イコン１７が処理不能となるような分析操作を排除する
排他手段６を有している。ここで、分析操作とは、例え
ば、分析試料の設定、分析すべき試料７Ａの試料台８へ
の載置、１次Ｘ線９の照射、測定の開始、試料７の交
換、測定の終了、１次Ｘ線９の照射停止等の操作をい
う。排他手段６は、第１または第２サブコンピュータ
４、５が有してもよい。
イコン１７が処理不能となるような分析操作を排除する
排他手段６を有している。ここで、分析操作とは、例え
ば、分析試料の設定、分析すべき試料７Ａの試料台８へ
の載置、１次Ｘ線９の照射、測定の開始、試料７の交
換、測定の終了、１次Ｘ線９の照射停止等の操作をい
う。排他手段６は、第１または第２サブコンピュータ
４、５が有してもよい。
【００１４】さらに、この装置では、分析操作を行って
いないメインコンピュータ２またはサブコンピュータ
４，５で、装置本体１による分析の進捗および分析結果
のリアルタイムでの表示、ならびに、分析条件の設定や
装置本体１による分析結果の参照等のオフライン作業が
可能である。ここで、分析の進捗とは、前記一連の分析
操作の進捗状況や、分析操作が順調に進まなかった異常
をいい、分析結果とは、各試料７Ａ，７Ｂ…についての
測定値に基づく含有率等の分析計算の結果をいう。
いないメインコンピュータ２またはサブコンピュータ
４，５で、装置本体１による分析の進捗および分析結果
のリアルタイムでの表示、ならびに、分析条件の設定や
装置本体１による分析結果の参照等のオフライン作業が
可能である。ここで、分析の進捗とは、前記一連の分析
操作の進捗状況や、分析操作が順調に進まなかった異常
をいい、分析結果とは、各試料７Ａ，７Ｂ…についての
測定値に基づく含有率等の分析計算の結果をいう。
【００１５】次に、この装置の動作について説明する。
まず、例えば、ある操作者が、装置本体１の待機台１５
に分析すべき複数の試料７Ａ，７Ｂ…を載置し、メイン
コンピュータ２で、分析条件を設定し、分析操作を行
う。すなわち、分析試料７を設定し、最初に分析する試
料７Ａを試料台８へ載置させ、１次Ｘ線９を照射し、測
定を開始する。この後、通常は、自動的に、測定値に基
づく分析計算、試料７の交換、測定の終了、１次Ｘ線９
の照射停止等の操作が行われる。
まず、例えば、ある操作者が、装置本体１の待機台１５
に分析すべき複数の試料７Ａ，７Ｂ…を載置し、メイン
コンピュータ２で、分析条件を設定し、分析操作を行
う。すなわち、分析試料７を設定し、最初に分析する試
料７Ａを試料台８へ載置させ、１次Ｘ線９を照射し、測
定を開始する。この後、通常は、自動的に、測定値に基
づく分析計算、試料７の交換、測定の終了、１次Ｘ線９
の照射停止等の操作が行われる。
【００１６】ここで、この装置によれば、操作者は、実
験室を出て、例えば事務室に行き、本分析とは別の作業
をしながら、事務室にある第２サブコンピュータ５の表
示手段５ａで、分析の進捗（分析において発生する異常
を含む）や分析結果をリアルタイムで見ることができ、
さらに第２サブコンピュータ５でそれまでの分析結果を
参照する等のオフライン作業ができる。そして、その分
析の進捗等に応じて、第２サブコンピュータ５で、測定
を終了する等の分析操作もでき、オフライン作業で分析
条件を設定しなおしてから、再度測定開始等の分析操作
を行うこともできる。これに限らず、各コンピュータ
２，４，５で、種々の分析操作が可能である。
験室を出て、例えば事務室に行き、本分析とは別の作業
をしながら、事務室にある第２サブコンピュータ５の表
示手段５ａで、分析の進捗（分析において発生する異常
を含む）や分析結果をリアルタイムで見ることができ、
さらに第２サブコンピュータ５でそれまでの分析結果を
参照する等のオフライン作業ができる。そして、その分
析の進捗等に応じて、第２サブコンピュータ５で、測定
を終了する等の分析操作もでき、オフライン作業で分析
条件を設定しなおしてから、再度測定開始等の分析操作
を行うこともできる。これに限らず、各コンピュータ
２，４，５で、種々の分析操作が可能である。
【００１７】しかも、サブコンピュータ４，５が装置本
体１に前記排他手段６を有するメインコンピュータ２を
介して接続され、排他手段６により、複数のコンピュー
タ２，４，５で円滑な分析操作ができる。例えば、メイ
ンコンピュータ２から測定開始の分析操作をした後、そ
れを知らない別の操作者が会議室の第１サブコンピュー
タ４からやはり測定開始の分析操作をした場合には、排
他手段６により、「実験室のコンピュータで、すでに測
定が開始されています。」等の警告のメッセージが第１
サブコンピュータ４の表示手段４ａに表示されるととも
に、そのような装置本体１のマイコン１７が処理不能と
なる分析操作が排除される。したがって、別の操作者
は、分析操作ができないことの正当な理由を知ることが
できるとともに、装置本体１のマイコン１７が処理不能
となるおそれがない。
体１に前記排他手段６を有するメインコンピュータ２を
介して接続され、排他手段６により、複数のコンピュー
タ２，４，５で円滑な分析操作ができる。例えば、メイ
ンコンピュータ２から測定開始の分析操作をした後、そ
れを知らない別の操作者が会議室の第１サブコンピュー
タ４からやはり測定開始の分析操作をした場合には、排
他手段６により、「実験室のコンピュータで、すでに測
定が開始されています。」等の警告のメッセージが第１
サブコンピュータ４の表示手段４ａに表示されるととも
に、そのような装置本体１のマイコン１７が処理不能と
なる分析操作が排除される。したがって、別の操作者
は、分析操作ができないことの正当な理由を知ることが
できるとともに、装置本体１のマイコン１７が処理不能
となるおそれがない。
【００１８】また、例えば、事務室の第２サブコンピュ
ータ５から分析試料７の設定をしなおす分析操作をして
いる場合に、それを知らない別の操作者が実験室のメイ
ンコンピュータ２からやはり分析試料７の設定をしなお
す分析操作をした場合には、排他手段６により、「事務
室のコンピュータで、分析試料を設定中です。」等の警
告のメッセージがメインコンピュータ２の表示手段２ａ
に表示されるとともに、そのような装置本体１のマイコ
ン１７が処理不能となる分析操作が排除される。したが
って、やはり、別の操作者は、分析操作ができないこと
の正当な理由を知ることができるとともに、装置本体１
のマイコン１７が処理不能となるおそれがない。
ータ５から分析試料７の設定をしなおす分析操作をして
いる場合に、それを知らない別の操作者が実験室のメイ
ンコンピュータ２からやはり分析試料７の設定をしなお
す分析操作をした場合には、排他手段６により、「事務
室のコンピュータで、分析試料を設定中です。」等の警
告のメッセージがメインコンピュータ２の表示手段２ａ
に表示されるとともに、そのような装置本体１のマイコ
ン１７が処理不能となる分析操作が排除される。したが
って、やはり、別の操作者は、分析操作ができないこと
の正当な理由を知ることができるとともに、装置本体１
のマイコン１７が処理不能となるおそれがない。
【００１９】ここで、例えばメインコンピュータ２にお
いて分析操作を行わない場合には、他の第１サブコンピ
ュータ４または第２サブコンピュータ５で分析操作が行
われていても、装置本体１による分析の進捗および分析
結果をリアルタイムでメインコンピュータ２の表示手段
２ａに表示でき、装置本体１による分析結果の参照等の
オフライン作業が可能である。これに限らず、この装置
では、分析操作を行っていないコンピュータ２，４，５
で、装置本体１による分析の進捗および分析結果のリア
ルタイムでの表示、ならびに、装置本体１による分析結
果の参照等のオフライン作業が可能である。以上におい
て、ネットワーク３を介しての各コンピュータ２，４，
５間の通信は、ソケット通信で行われる。
いて分析操作を行わない場合には、他の第１サブコンピ
ュータ４または第２サブコンピュータ５で分析操作が行
われていても、装置本体１による分析の進捗および分析
結果をリアルタイムでメインコンピュータ２の表示手段
２ａに表示でき、装置本体１による分析結果の参照等の
オフライン作業が可能である。これに限らず、この装置
では、分析操作を行っていないコンピュータ２，４，５
で、装置本体１による分析の進捗および分析結果のリア
ルタイムでの表示、ならびに、装置本体１による分析結
果の参照等のオフライン作業が可能である。以上におい
て、ネットワーク３を介しての各コンピュータ２，４，
５間の通信は、ソケット通信で行われる。
【００２０】なお、メインコンピュータ２の一部または
全部が、装置本体１に内蔵されていてもよく、装置本体
１内蔵のマイコン１７と一体化していてもよい。また、
本実施形態の装置では、測定値に基づく分析計算そのも
のは、メインコンピュータ２でしか行わない。分析計算
のための規模の大きいプログラムソフトウエアを、他の
コンピュータ４，５にも搭載することも可能であるが、
同一分析計算処理を同時に複数のコンピュータで行う無
駄が生ずる。
全部が、装置本体１に内蔵されていてもよく、装置本体
１内蔵のマイコン１７と一体化していてもよい。また、
本実施形態の装置では、測定値に基づく分析計算そのも
のは、メインコンピュータ２でしか行わない。分析計算
のための規模の大きいプログラムソフトウエアを、他の
コンピュータ４，５にも搭載することも可能であるが、
同一分析計算処理を同時に複数のコンピュータで行う無
駄が生ずる。
【００２１】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、複数のコンピュータを備え、試料を分析する分析
装置において、分析操作を行っていないコンピュータ
で、分析の進捗および分析結果のリアルタイムでの表
示、ならびに、分析結果の参照を含むオフライン作業が
できる。
れば、複数のコンピュータを備え、試料を分析する分析
装置において、分析操作を行っていないコンピュータ
で、分析の進捗および分析結果のリアルタイムでの表
示、ならびに、分析結果の参照を含むオフライン作業が
できる。
【図１】本発明の一実施形態の蛍光Ｘ線分析装置を示す
概略図である。
概略図である。
１…装置本体、２…メインコンピュータ、３…ネットワ
ーク、４，５…サブコンピュータ、６…排他手段、７…
試料、９…１次Ｘ線、１１…発生した蛍光Ｘ線、１７…
制御手段（マイコン）。
ーク、４，５…サブコンピュータ、６…排他手段、７…
試料、９…１次Ｘ線、１１…発生した蛍光Ｘ線、１７…
制御手段（マイコン）。
Claims (4)
- 【請求項１】 試料を分析する分析装置であって、 単一の装置本体と、 その装置本体に直接接続され、前記装置本体の分析操作
が可能な単一のメインコンピュータと、 そのメインコンピュータにネットワークを介して接続さ
れたサブコンピュータとを備え、 そのサブコンピュータで、前記装置本体による分析の進
捗および分析結果のリアルタイムでの表示、ならびに、
前記装置本体による分析結果の参照を含むオフライン作
業が可能である分析装置。 - 【請求項２】 試料を分析する分析装置であって、 制御手段により動作制御される単一の装置本体と、 その装置本体に直接接続され、前記装置本体の分析操作
が可能な単一のメインコンピュータと、 前記装置本体にネットワークおよび前記メインコンピュ
ータを介して接続され、前記装置本体の分析操作が可能
なサブコンピュータとを備え、 前記メインコンピュータまたはサブコンピュータのいず
れかが、前記装置本体の制御手段が処理不能となるよう
な分析操作を排除する排他手段を有し、 分析操作を行っていない前記メインコンピュータまたは
サブコンピュータで、前記装置本体による分析の進捗お
よび分析結果のリアルタイムでの表示、ならびに、前記
装置本体による分析結果の参照を含むオフライン作業が
可能である分析装置。 - 【請求項３】 試料に１次Ｘ線を照射して、発生した蛍
光Ｘ線の強度を測定する蛍光Ｘ線分析装置であって、 単一の装置本体と、 その装置本体に直接接続され、前記装置本体の分析操作
が可能な単一のメインコンピュータと、 そのメインコンピュータにネットワークを介して接続さ
れたサブコンピュータとを備え、 そのサブコンピュータで、前記装置本体による分析の進
捗および分析結果のリアルタイムでの表示、ならびに、
前記装置本体による分析結果の参照を含むオフライン作
業が可能である蛍光Ｘ線分析装置。 - 【請求項４】 試料に１次Ｘ線を照射して、発生した蛍
光Ｘ線の強度を測定する蛍光Ｘ線分析装置であって、 制御手段により動作制御される単一の装置本体と、 その装置本体に直接接続され、前記装置本体の分析操作
が可能な単一のメインコンピュータと、前記装置本体に
ネットワークおよび前記メインコンピュータを介して接
続され 、前記装置本体の分析操作が可能なサブコンピュータと
を備え、 前記メインコンピュータまたはサブコンピュータのいず
れかが、前記装置本体の制御手段が処理不能となるよう
な分析操作を排除する排他手段を有し、 分析操作を行っていない前記メインコンピュータまたは
サブコンピュータで、前記装置本体による分析の進捗お
よび分析結果のリアルタイムでの表示、ならびに、前記
装置本体による分析結果の参照を含むオフライン作業が
可能である蛍光Ｘ線分析装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11121575A JP2000311146A (ja) | 1999-04-28 | 1999-04-28 | 蛍光ｘ線分析装置 |
| US09/663,697 US6438200B1 (en) | 1999-04-28 | 2000-09-22 | X-ray fluorescence analyzing apparatus |
| DE10051878A DE10051878A1 (de) | 1999-04-28 | 2000-10-19 | Röntgenfluoreszenz-Analysevorrichtung |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11121575A JP2000311146A (ja) | 1999-04-28 | 1999-04-28 | 蛍光ｘ線分析装置 |
| US09/663,697 US6438200B1 (en) | 1999-04-28 | 2000-09-22 | X-ray fluorescence analyzing apparatus |
| DE10051878A DE10051878A1 (de) | 1999-04-28 | 2000-10-19 | Röntgenfluoreszenz-Analysevorrichtung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000311146A true JP2000311146A (ja) | 2000-11-07 |
Family
ID=27214123
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11121575A Pending JP2000311146A (ja) | 1999-04-28 | 1999-04-28 | 蛍光ｘ線分析装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6438200B1 (ja) |
| JP (1) | JP2000311146A (ja) |
| DE (1) | DE10051878A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015219039A (ja) * | 2014-05-14 | 2015-12-07 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6272235B1 (en) * | 1997-03-03 | 2001-08-07 | Bacus Research Laboratories, Inc. | Method and apparatus for creating a virtual microscope slide |
| US6922462B2 (en) * | 2002-07-31 | 2005-07-26 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method, system and computer product for plaque characterization |
| US9859029B2 (en) * | 2016-07-23 | 2018-01-02 | Rising Star Pathway, a California Corporation | X-ray laser microscopy sample analysis system and method |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4764945A (en) * | 1984-10-05 | 1988-08-16 | Kawasaki Steel Corp. | Method of measuring layer thickness and composition of alloy plating |
| US4855110A (en) | 1987-05-06 | 1989-08-08 | Abbott Laboratories | Sample ring for clinical analyzer network |
| DE9101148U1 (de) | 1991-02-01 | 1991-04-25 | MAN Gutehoffnungshütte AG, 4200 Oberhausen | Metallurgisches, vollautomatisch arbeitendes Labor |
| US5366896A (en) | 1991-07-30 | 1994-11-22 | University Of Virginia Alumni Patents Foundation | Robotically operated laboratory system |
| DE9305189U1 (de) | 1993-04-05 | 1994-08-04 | Siemens AG, 80333 München | Einrichtung zum Identifizieren von Proben in einem automatischen Meßsystem |
| WO1996030767A1 (fr) | 1995-03-27 | 1996-10-03 | Ngk Insulators, Ltd. | Systeme d'analyse automatique |
| US6272235B1 (en) * | 1997-03-03 | 2001-08-07 | Bacus Research Laboratories, Inc. | Method and apparatus for creating a virtual microscope slide |
| US5968731A (en) | 1996-12-10 | 1999-10-19 | The Regents Of The University Of California | Apparatus for automated testing of biological specimens |
| DE19707026B4 (de) * | 1997-02-21 | 2004-10-28 | Siemens Ag | Medizinische Therapie- und/oder Diagnoseanlage |
| JPH10276196A (ja) * | 1997-03-28 | 1998-10-13 | Ando Electric Co Ltd | 通信監視装置 |
| US6173036B1 (en) * | 1997-08-01 | 2001-01-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Depth profile metrology using grazing incidence X-ray fluorescence |
| US6272437B1 (en) * | 1998-04-17 | 2001-08-07 | Cae Inc. | Method and apparatus for improved inspection and classification of attributes of a workpiece |
| US6912580B1 (en) * | 1999-01-27 | 2005-06-28 | International Business Machines Corporation | Virtual shadow briefcase in servers supporting moving embedded clients |
-
1999
- 1999-04-28 JP JP11121575A patent/JP2000311146A/ja active Pending
-
2000
- 2000-09-22 US US09/663,697 patent/US6438200B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-10-19 DE DE10051878A patent/DE10051878A1/de not_active Ceased
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015219039A (ja) * | 2014-05-14 | 2015-12-07 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
| US10788799B2 (en) | 2014-05-14 | 2020-09-29 | Shimadzu Corporation | Sample analyzing system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE10051878A1 (de) | 2002-05-08 |
| US6438200B1 (en) | 2002-08-20 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050510 |