JP2000299317A - 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜 - Google Patents

膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜

Info

Publication number
JP2000299317A
JP2000299317A JP11104170A JP10417099A JP2000299317A JP 2000299317 A JP2000299317 A JP 2000299317A JP 11104170 A JP11104170 A JP 11104170A JP 10417099 A JP10417099 A JP 10417099A JP 2000299317 A JP2000299317 A JP 2000299317A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
acid
component
ether
butyl
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11104170A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Sugiura
誠 杉浦
Takahiko Kurosawa
孝彦 黒澤
Kohei Goto
幸平 後藤
Kinji Yamada
欣司 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
JSR Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JSR Corp filed Critical JSR Corp
Priority to JP11104170A priority Critical patent/JP2000299317A/ja
Publication of JP2000299317A publication Critical patent/JP2000299317A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Paints Or Removers (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 密着性、塗膜の均一性、誘電率特性等に優れ
た膜形成用組成物、該組成物を硬化して得られる膜を得
る。 【解決手段】 (A)下記一般式(1)で表される化合
物の加水分解物およびその部分縮合物またはいずれか一
方 R1 nSi(OR24-n (1) (R1 およびR2 は、同一でも異なっていても良く、そ
れぞれ1価の有機基を示し、nは0〜2の整数を表
す。) (B)界面活性剤、(C)前記(A)成分に相溶または
分散し、沸点または分解温度が250〜450℃である
化合物を含むことを特徴とする膜形成用組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、膜形成用組成物に
関し、さらに詳しくは、密着性、塗膜の均一性、誘電率
特性等に優れた膜形成用組成物、該組成物を硬化して得
られる低密度化膜に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子等における層間絶縁膜
として、CVD法等の真空プロセスで以て形成されたシ
リカ(SiO2 )膜が多用されている。そして、近年、
より均一な層間絶縁膜を形成することを目的として、S
OG(Spin on Glass)膜と呼ばれるテト
ラアルコキシランの加水分解生成物を主成分とする塗布
型の絶縁膜も使用されるようになってきた。また半導体
素子等の高集積化に伴い、有機SOGと呼ばれるオルガ
ノポリシロキサンを主成分とする低誘電率の層間絶縁膜
が開発されている。しかしながら、半導体素子等のさら
なる高集積化に伴い、より優れた導体間の電気絶縁性が
要求されており、したがって、より低誘電率の層間絶縁
膜材料が求められるようになってきた。
【0003】そこで、特開平6−181201号公報に
は、層間絶縁膜材料として、より低誘電率の絶縁膜形成
用塗布型組成物が開示されている。かかる塗布型組成物
は、吸水性が低く、耐クラック性に優れた半導体装置の
絶縁膜を提供することを目的としており、その構成は、
チタン、ジルコニウム、ニオブおよびタンタルから選ば
れる少なくとも1種の元素を含む有機金属化合物と、分
子内にアルコキシ基を少なくとも1個有する有機ケイ素
化合物とを縮重合させてなる、数平均分子量が500以
上のオリゴマ−を主成分とする絶縁膜形成用塗布型組成
物である。しかしながら、従来の無機系層間絶縁膜材料
の誘電率は、3.0以上であり、高集積化には不十分で
あった。
【0004】本発明は、誘電率特性を改善し、下地に対
する密着性等のバランスにも優れた層間絶縁膜用材料を
提供することを目的とする。以下、本発明を詳細に説明
する。
【0005】本発明は、 (A)下記一般式(1)で表される化合物の加水分解物
およびその部分縮合物またはいずれか一方 R1 nSi(OR24-n (1) (R1 およびR2 は、同一でも異なっていても良く、そ
れぞれ1価の有機基を示し、nは0〜2の整数を表
す。) (B)界面活性剤 (C)前記(A)成分に相溶または分散し、沸点または
分解温度が250〜450℃である化合物 を含むことを特徴とする膜形成用組成物、該組成物を基
板に塗布し加熱することを特徴とする膜の製造方法、な
らびに該製造方法により得られる低密度化膜を提供する
ものである。
【0006】(A)成分 上記一般式(1)において1価の有機基としては、アル
キル基、アリール基、アリル基、グリシジル基などを挙
げることができる。ここで、アルキル基としては、メチ
ル基、エチル基、プロピル基、ブチル基などが挙げら
れ、好ましくは炭素数1〜5であり、これらのアルキル
基は鎖状でも、分岐していてもよく、さらに水素原子が
フッ素原子などに置換されていてもよい。一般式(1)
においてアリール基としてはフェニル基、ナフチル基な
どを挙げることができる。一般式(1)で表される化合
物の具体例としては、上記一般式(1)におけるn=0
の化合物としては、テトラメトキシシラン、テトラエト
キシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトラ−
iso−プロポキシシラン、テトラ−n−ブトキシラ
ン、テトラ−sec−ブトキシシラン、テトラ−ter
t−ブトキシシラン、テトラフェノキシシランなどを挙
げることができる。上記一般式(1)におけるn=1の化
合物の具体例としては、メチルトリメトキシシラン、メ
チルトリエトキシシラン、メチルトリ−n−プロポキシ
シラン、メチルトリ−iso−プロポキシシラン、メチ
ルトリ−n−ブトキシシラン、メチルトリ−sec−ブ
トキシシラン、メチルトリ−tert−ブトキシシラ
ン、メチルトリフェノキシシラン、エチルトリメトキシ
シラン、エチルトリエトキシシラン、エチルトリ−n−
プロポキシシラン、エチルトリ−iso−プロポキシシ
ラン、エチルトリ−n−ブトキシシラン、エチルトリ−
sec−ブトキシシラン、エチルトリ−tert−ブト
キシシラン、エチルトリフェノキシシラン、n−プロピ
ルトリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラ
ン、n−プロピルトリ−n−プロポキシシラン、n−プ
ロピルトリ−iso−プロポキシシラン、n−プロピル
トリ−n−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−sec
−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−tert−ブト
キシシラン、n−プロピルトリフェノキシシラン、i−
プロピルトリメトキシシラン、i−プロピルトリエトキ
シシラン、i−プロピルトリ−n−プロポキシシラン、
i−プロピルトリ−iso−プロポキシシラン、i−プ
ロピルトリ−n−ブトキシシラン、i−プロピルトリ−
sec−ブトキシシラン、i−プロピルトリ−tert
−ブトキシシラン、i−プロピルトリフェノキシシラ
ン、n−ブチルトリメトキシシラン、n−ブチルトリエ
トキシシラン、n−ブチルトリ−n−プロポキシシラ
ン、n−ブチルトリ−iso−プロポキシシラン、n−
ブチルトリ−n−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−s
ec−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−tert−ブ
トキシシラン、n−ブチルトリフェノキシシラン、se
c−ブチルトリメトキシシラン、sec−ブチル−i−
トリエトキシシラン、sec−ブチル−トリ−n−プロ
ポキシシラン、sec−ブチル−トリ−iso−プロポ
キシシラン、sec−ブチル−トリ−n−ブトキシシラ
ン、sec−ブチル−トリ−sec−ブトキシシラン、
sec−ブチル−トリ−tert−ブトキシシラン、s
ec−ブチル−トリフェノキシシラン、t−ブチルトリ
メトキシシラン、t−ブチルトリエトキシシラン、t−
ブチルトリーn−プロポキシシラン、t−ブチルトリー
iso−プロポキシシラン、t−ブチルトリーn−ブト
キシシラン、t−ブチルトリーsec−ブトキシシラ
ン、t−ブチルトリ−tert−ブトキシシラン、t−
ブチルトリフェノキシシラン、フェニルトリメトキシシ
ラン、フェニルトリエトキシシラン、フェニルトリ−n
−プロポキシシラン、フェニルトリ−iso−プロポキ
シシラン、フェニルトリ−n−ブトキシシラン、フェニ
ルトリ−sec−ブトキシシラン、フェニルトリ−te
rt−ブトキシシラン、フェニルトリフェノキシシラン
などを、上記一般式(1)におけるn=2の化合物の具体
例としては、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエ
トキシシラン、ジメチル−ジ−n−プロポキシシラン、
ジメチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジメチル−
ジ−n−ブトキシシラン、ジメチル−ジ−sec−ブト
キシシラン、ジメチル−ジ−tert−ブトキシシラ
ン、ジメチルジフェノキシシラン、ジエチルジメトキシ
シラン、ジエチルジエトキシシラン、ジエチル−ジ−n
−プロポキシシラン、ジエチル−ジ−iso−プロポキ
シシラン、ジエチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジエチ
ル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジエチル−ジ−te
rt−ブトキシシラン、ジエチルジフェノキシシラン、
ジ−n−プロピルジメトキシシラン、ジ−n−プロピル
ジエトキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−プロポ
キシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−iso−プロポキ
シシラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−ブトキシシラ
ン、ジ−n−プロピル−ジ−sec−ブトキシシラン、
ジ−n−プロピル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ
−n−プロピル−ジ−フェノキシシラン、ジ−iso−
プロピルジメトキシシラン、ジ−iso−プロピルジエ
トキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−プロポ
キシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−iso−プロ
ポキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−ブトキ
シシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−sec−ブトキ
シシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−tert−ブト
キシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−フェノキシシ
ラン、ジ−n−ブチルジメトキシシラン、ジ−n−ブチ
ルジエトキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−n−プロポ
キシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−iso−プロポキシ
シラン、ジ−n−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ
−n−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−n−
ブチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−n−ブチ
ル−ジ−フェノキシシラン、ジ−sec−ブチルジメト
キシシラン、ジ−sec−ブチルジエトキシシラン、ジ
−sec−ブチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ−s
ec−ブチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジ−s
ec−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−sec−
ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−sec−ブ
チル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−sec−ブ
チル−ジ−フェノキシシラン、ジ−tert−ブチルジ
メトキシシラン、ジ−tert−ブチルジエトキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−n−プロポキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−iso−プロポキシシ
ラン、ジ−tert−ブチル−ジ−n−ブトキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−tert−ブトキシシ
ラン、ジ−tert−ブチル−ジ−フェノキシシラン、
ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニル−ジ−エトキ
シシラン、ジフェニル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ
フェニル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジフェニル
−ジ−n−ブトキシシラン、ジフェニル−ジ−sec−
ブトキシシラン、ジフェニル−ジ−tert−ブトキシ
シラン、ジフェニルジフェノキシシラン、ジビニルトリ
メトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラ
ン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−グリ
シドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキ
シプロピルトリエトキシシラン、γ−トリフロロプロピ
ルトリメトキシシラン、γ−トリフロロプロピルトリエ
トキシシランなどを挙げることができる。これらは1種
あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0007】上記一般式(1)で表される化合物の中で
は、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシランなど
のテトラアルコキシシラン、メチルトリメトキシシラ
ン、メチルトリエトキシシラン、などのアルキルトリア
ルコキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジメチル
ジメトキシシランなどのジアルキルジアルコキシシラン
が好ましい。
【0008】本発明の膜形成用組成物において、上記一
般式(1)で表される化合物は2種以上組み合わせて使
用することが好ましく、特にテトラアルコキシシラン、
アルキルトリアルコキシシラン、ジアルキルジアルコキ
シシランの3種を組み合わせて使用することが耐熱性、
誘電特性、機械特性の点で特に好ましい。本発明におい
て、テトラアルコキシシラン/アルキルトリアルコキシ
シラン/ジアルキルアルコキシシランの使用割合は、1
0〜70/100〜0/0〜30が好ましい。また、上
記一般式(1)で表される化合物を加水分解、部分縮合
させる際に、R2O−で表される基1モル当たり、0.
3〜5.0モルの水を用いることが好ましく、0.5〜
2.0モルの水を加えることが特に好ましい。添加する
水の量が0.3〜5.0モルの範囲内の値であれば、塗
膜の均一性が低下するおそれがなく、また、膜形成用組
成物の保存安定性が低下するおそれも少ないためであ
る。(A)成分が一般式(1)で表される化合物の部分
縮合物である場合には、ポリスチレン換算重量平均分子
量で500〜100000であることが好ましい。
【0009】(B)成分 本発明において使用することのできる界面活性剤として
は、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシ
エチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンオレ
イルエーテルなどのポリオキシエチレンアルキルエーテ
ル類、ポリオキシエチレンオクチルフェニルエーテル、
ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテルなどのポリ
オキシエチレンアリールエーテル類、ポリオキシエチレ
ンジラウレート、ポリオキシエチレンジステアレートな
どのポリオキシエチレンジアルキルエステル類などのノ
ニオン系界面活性剤などを挙げることができる。1,
1,2,2−テトラフロロオクチル(1,1,2,2−
テトラフロロプロピル)エーテル、1,1,2,2−テ
トラフロロオクチルヘキシルエーテル、オクタエチレン
グリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロブチル)
エーテル、ヘキサエチレングリコール(1,1,2,
2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エーテル、オクタ
プロピレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロ
ロブチル)エーテル、ヘキサプロピレングリコールジ
(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エ
ーテル、パーフロロドデシルスルホン酸ナトリウム、
1,1,2,2,8,8,9,9,10,10−デカフ
ロロドデカン、1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロ
デカン等の末端、主鎖および側鎖の少なくとも何れかの
部位にフルオロアルキルまたはフルオロアルキレン基を
有する化合物からなるフッ素系界面活性剤を挙げること
ができる。また、これらの市販品としては、BM−10
00、BM−1100(以上、BM Chemie社
製)、メガファックF142D、同F172、同F17
3、同F183(以上、大日本インキ化学工業(株)
製)、エフトップEF301、同303、同352(新
秋田化成(株)製)、フロラードFC−430、同FC
−431(住友スリーエム(株)製)、アサヒガードA
G710、サーフロンS−382、同SC−101、同
SC−102、同SC−103、同SC−104、同S
C−105、同SC−106(旭硝子(株)製)などの
名称で市販されているフッ素系界面活性剤、オルガノシ
ロキサンポリマーKP341(信越化学工業(株)
製)、(メタ)アクリル酸系共重合体ポリフローNo. 5
7、95(共栄社油脂化学工業(株)製)などが挙げら
れる。界面活性剤の使用量としては、(A)成分(Si
O2換算)100重量部に対して0.0001〜10.
0重量部、好ましくは0.001〜1.0重量部であ
る。
【0010】(C)成分 本発明において前記(A)成分に相溶または分散し、沸
点または分解温度が250〜450℃である化合物とし
てはポリアルキレンオキサイド構造を有する化合物、
(メタ)アクリレート系重合体、ビニルアミド系重
合体、芳香族ビニル系重合体、デンドリマー、親
油性化合物と分散剤、超微粒子、糖鎖構造を有する
化合物などを挙げることができる。本発明において、沸
点および分解温度とは1気圧下での温度を示す。 ポリアルキレンオキサイド構造を有する化合物 ここで、ポリアルキレンオキサイド構造としてはポリエ
チレンオキサイド構造、ポリプロピレンオキサイド構
造、ポリテトラメチレンオキサイド構造、ポリブチレン
オキシド構造などが挙げられる。具体的には、ポリオキ
シエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエテチレンア
ルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンステロー
ルエーテル、ポリオキシエチレンラノリン誘導体、アル
キルフェノールホルマリン縮合物の酸化エチレン誘導
体、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロック
コポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレン
アルキルエーテルなどのエーテル型化合物、ポリオキシ
エチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレ
ンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソル
ビトール脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン脂肪酸ア
ルカノールアミド硫酸塩などのエーテルエステル型化合
物、ポリエチレングリコール脂肪酸エステル、エチレン
グリコール脂肪酸エステル、脂肪酸モノグリセリド、ポ
リグリセリン脂肪酸エステル、ソルビタン脂肪酸エステ
ル、プロピレングリコール脂肪酸エステル、ショ糖脂肪
酸エステルなどのエーテルエステル型化合物などを挙げ
ることができる。(C)成分としては、ポリオキシエチ
レンポリオキシプロピレンブロックコポリマーなどのポ
リオキシアルキレンブロックコポリマーが好ましい。ポ
リオキシチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマ
ーとしては下記のようなブロック構造を有する化合物が
挙げられる。 −(A)n−(B)m− −(A)n−(B)m−(A)l- (式中、Aは−CH2CH2O−で表される基を、Bは−
CH2CH(CH3)O−で表される基を示し、nは1〜
90、mは10〜99、lは0〜90の数を示す)
【0011】(メタ)アクリレート系重合体 本発明においてアクリル系重合体を構成するアクリル酸
エステルおよびメタクリル酸エステルとしては、アクリ
ル酸アルキルエステル、メタクリル酸アルキルエステ
ル、アクリル酸アルコキシアルキルエステル、メタクリ
ル酸アルキルエステル、メタクリル酸アルコキシアルキ
ルエステルなどを挙げることができる。アクリル酸アル
キルエステルとしては、アクリル酸メチル、アクリル酸
エチル、アクリル酸n−プロピル、アクリル酸イソプロ
ピル、アクリル酸n−ブチル、アクリル酸イソブチル、
アクリル酸ペンチル、アクリル酸ヘキシルなどの炭素数
1〜6のアルキルエステル、メタクリル酸アルキルエス
テルとしては、メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチ
ル、メタクリル酸n-プロピル、メタクリル酸イソプロピ
ル、メタクリル酸n-ブチル、メタクリル酸イソブチル、
メタクリル酸ブチル、メタクリル酸ペンチル、メタクリ
ル酸ヘキシルなどの炭素数1〜6のアルキルエステル、
アクリル酸アルコキシアルキルエステルとしては、アク
リル酸メトキシメチル、アクリル酸エトキシエチル、メ
タクリル酸アルコキシアルキルエステルとしては、メタ
クリル酸メトキシメチル、メタクリル酸エトキシエチル
などを挙げることができる。これらの中でも、メタクリ
ル酸アルキルエステルを使用することが好ましく、特に
メタクリル酸エチル、メタクリル酸イソブチルなどを使
用することが好ましい。
【0012】本発明において、アクリル系重合体は上記
モノマーにアルコキシシリル基を有するモノマーを共重
合してなることが好ましい。アルコキシシル基を有する
モノマーとしては、メタクリル酸3−(トリメトキシシ
リル)プロピル、メタクリル酸3−(トリエトキシシリ
ル)プロピル、メタクリル酸3−[トリ(メトキシエト
キシ)シリル]プロピル、メタクリル酸3−(メチルジ
メトキシシリル)プロピル、メタクリル酸3−(メチル
ジエトキシシリル)プロピルなどを挙げることができ
る。アルコキシシリル基を有するモノマーはアクリル系
重合体を構成する全モノマーに通常、0.5〜10モル
%、好ましくは1〜7モル%の割合で含まれる。本発明
においてアクリル系重合体は、上記アクリル酸エステ
ル、メタクリル酸エステルおよびアルコキシシリル基を
有するモノマー以外のラジカル重合性モノマーを40モ
ル%以下共重合していてもよい。ラジカル重合性モノマ
ーとしては、アクリル酸、メタクリル酸などの不飽和カ
ルボン酸、N,N−ジメチルアクリルアミド、N,N−
ジメチルメタクリルアミドなどの不飽和アミド、アクリ
ロニトリルなどの不飽和ニトリル、メチルビニルケトン
などの不飽和ケトン、スチレン、α-メチルスチレンな
どの芳香族化合物などを挙げることができる。本発明に
おいて、アクリル系重合体のポリスチレン換算数平均分
子量は1000〜100000、好ましくは1000〜
20,000である。 ビニルアミド系重合体 ビニルアミド重合体としては、ポリ(N−ビニルアセト
アミド)、ポリ(N−ビニルピロリドン、ポリ(2−メ
チル−2−オキサゾリン)、ポリ(N、N−ジメチルア
クリルアミド)などが挙げられる。 芳香族ビニル系重合体 芳香族ビニル系重合体としては、ポリスチレン、ポリメ
チルスチレン、ポリα−メチルスチレンなどが挙げられ
る。 デンドリマー デンドリマーとしては、ベンジルエーテル系、フェニル
アセチレン、ポリアミン系、ポリアミド系が挙げられる
が、熱分解性の観点からポリアミン系が好ましい。
【0013】親油性化合物と分散剤 親油性化合物と分散剤は、親油化合物のみでは(A)成
分と広い組成範囲で相溶しないが、分散剤と共存するこ
とによって、(A)成分と広い組成範囲で相溶するもの
である。親油性化合物としては、ポリカルボン酸エステ
ル、例えばジデシルフタレート、ジウンデシルフタレー
ト、ジドデシルフタレート、ジトリデシルフタレート、
トリス(2−エチルヘキシル)トリメリテート、トリデ
シルトリメリテート、トリドデシルトリメリテート、テ
トラブチルピロメリテート、テトラヘキシルトリメリテ
ート、テトラオクチルピロメリテート、ビス(2−エチ
ルヘキシル)ドデカンジオエート、ビスデシルドデカン
ジオエートなどを挙げることができる。これらの親油性
化合物を相溶させる分散剤としては、オクタノール、ラ
ウリルアルコール、デシルアルコール、ウンデシルアル
コールなどの高級アルコールを挙げることができる。分
散剤としての高級アルコールの使用量は親油性化合物に
対し0.1〜10倍量(重量)の範囲で使用できる。 超微粒子 超微粒子は、粒径100nm以下の重合体粒子であっ
て、通常の乳化重合で、乳化剤の種類、乳化剤濃度、攪
拌速度などで粒径を制御されたものであって、芳香族ビ
ニル化合物、(メタ)アクリレート化合物の単量体か
ら、粒径制御のために架橋性単量体を使用して調製され
るものである。 糖鎖構造を有する化合物 糖鎖構造を有する化合物としてはシクロデキストリン、
ショ糖エステル、オリゴ糖、グルコース、フルクトー
ス、マンニット、デンプン糖、D−ソルビット、デキス
トラン、ザンサンガム、カードラン、プルラン、シクロ
アミロース、異性化糖、マルチトール、酢酸セルロー
ス、セルロース、カルボキシメチルセルロース、ヒドロ
キシエチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロー
ス、メチルセルロース、エチルヒドロキシエチルセルロ
ース、カルボキシメチルセルロース、キチン、キトサン
などを挙げることができる。
【0014】本発明において、(C)成分としてはア
ルキレンオキサイド構造を有する化合物またはアクリ
レート系重合体を使用することが好ましく、特にアル
キレンオキサイド構造を有する化合物を使用することが
好ましい。(C)成分の使用量は、(A)成分(SiO
2重量換算)に対して通常1〜80重量%、好ましくは
5〜65重量%である。(C)成分の使用割合が1重量
%以下では、誘電率を下げる効果は小さく、80重量%
以上では機械的強度が低下する。
【0015】(D)成分 本発明では、通常上記(A)〜(C)成分を有機溶媒に
溶解して使用する。本発明で使用される有機溶媒として
は、本発明に使用する有機溶剤としては、例えばn−ペ
ンタン、i−ペンタン、n−ヘキサン、i−ヘキサン、
n−ヘプタン、i−ヘプタン、2,2,4−トリメチル
ペンタン、n−オクタン、i−オクタン、シクロヘキサ
ン、メチルシクロヘキサン等の脂肪族炭化水素系溶媒;
ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、トリ
メチルベンゼン、メチルエチルベンゼン、n−プロピル
ベンセン、i−プロピルベンセン、ジエチルベンゼン、
i−ブチルベンゼン、トリエチルベンゼン、ジ−i−プ
ロピルベンセン、n−アミルナフタレン、トリメチルベ
ンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒;メタノール、エタノ
ール、n−プロパノール、i−プロパノール、n−ブタ
ノール、i−ブタノール、sec−ブタノール、t−ブ
タノール、n−ペンタノール、i−ペンタノール、2−
メチルブタノール、sec−ペンタノール、t−ペンタ
ノール、3−メトキシブタノール、n−ヘキサノール、
2−メチルペンタノール、sec−ヘキサノール、2−
エチルブタノール、sec−ヘプタノール、ヘプタノー
ル−3、n−オクタノール、2−エチルヘキサノール、
sec−オクタノール、n−ノニルアルコール、2,6
−ジメチルヘプタノール−4、n−デカノール、sec
−ウンデシルアルコール、トリメチルノニルアルコー
ル、sec−テトラデシルアルコール、sec−ヘプタ
デシルアルコール、フェノール、シクロヘキサノール、
メチルシクロヘキサノール、3,3,5−トリメチルシ
クロヘキサノール、ベンジルアルコール、フェニルメチ
ルカルビノール、ジアセトンアルコール、クレゾール等
のモノアルコール系溶媒;エチレングリコール、1,2
−プロピレングリコール、1,3−ブチレングリコー
ル、ペンタンジオール−2,4、2−メチルペンタンジ
オール−2,4、ヘキサンジオール−2,5、ヘプタン
ジオール−2,4、2−エチルヘキサンジオール−1,
3、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、
トリエチレングリコール、トリプロピレングリコール、
グリセリン等の多価アルコール系溶媒;アセトン、メチ
ルエチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル
−n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−ブ
チルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n
−ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−i
−ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロヘキサノ
ン、メチルシクロヘキサノン、2,4−ペンタンジオ
ン、アセトニルアセトン、ジアセトンアルコール、アセ
トフェノン、フェンチョン等のケトン系溶媒;エチルエ
ーテル、i−プロピルエーテル、n−ブチルエーテル、
n−ヘキシルエーテル、2−エチルヘキシルエーテル、
エチレンオキシド、1,2−プロピレンオキシド、ジオ
キソラン、4−メチルジオキソラン、ジオキサン、ジメ
チルジオキサン、エチレングリコールモノメチルエーテ
ル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレン
グリコールジエチルエーテル、エチレングリコールモノ
−n−ブチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−
ヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエ
ーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエ
ーテル、エチレングリコールジブチルエーテル、ジエチ
レングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコ
ールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールジエチ
ルエーテル、ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエ
ーテル、ジエチレングリコールジ−n−ブチルエーテ
ル、ジエチレングリコールモノ−n−ヘキシルエーテ
ル、エトキシトリグリコール、テトラエチレングリコー
ルジ−n−ブチルエーテル、プロピレングリコールモノ
メチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエー
テル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プ
ロピレングリコールモノブチルエーテル、ジプロピレン
グリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコー
ルモノエチルエーテル、トリプロピレングリコールモノ
メチルエーテル、テトラヒドロフラン、2−メチルテト
ラヒドロフラン等のエーテル系溶媒;ジエチルカーボネ
ート、酢酸メチル、酢酸エチル、γ−ブチロラクトン、
γ−バレロラクトン、酢酸n−プロピル、酢酸i−プロ
ピル、酢酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、酢酸sec−
ブチル、酢酸n−ペンチル、酢酸sec−ペンチル、酢
酸3−メトキシブチル、酢酸メチルペンチル、酢酸2−
エチルブチル、酢酸2−エチルヘキシル、酢酸ベンジ
ル、酢酸シクロヘキシル、酢酸メチルシクロヘキシル、
酢酸n−ノニル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチ
ル、酢酸エチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸
エチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレ
ングリコールモノメチルエーテル、酢酸ジエチレングリ
コールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコール
モノ−n−ブチルエーテル、酢酸プロピレングリコール
モノメチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノエ
チルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノプロピル
エーテル、酢酸プロピレングリコールモノブチルエーテ
ル、酢酸ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、
酢酸ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジ酢
酸グリコール、酢酸メトキシトリグリコール、プロピオ
ン酸エチル、プロピオン酸n−ブチル、プロピオン酸i
−アミル、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ−n−ブチ
ル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−ブチル、乳酸n
−アミル、マロン酸ジエチル、フタル酸ジメチル、フタ
ル酸ジエチル等のエステル系溶媒;N−メチルホルムア
ミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチ
ルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミ
ド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルプロピ
オンアミド、N−メチルピロリドン等の含窒素系溶媒;
硫化ジメチル、硫化ジエチル、チオフェン、テトラヒド
ロチオフェン、ジメチルスルホキシド、スルホラン、
1,3−プロパンスルトン等の含硫黄系溶媒等を挙げる
ことができる。これらは1種あるいは2種以上を混合し
て使用することができる。本発明においては、沸点が2
50℃未満の有機溶媒を使用することが特に好ましく、
具体的にはメタノール、エタノール、イソプロパノール
等のアルコール、エチレングリコール、グリセリン等の
多価アルコール、エチレングリコールモノメチルエーテ
ル、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレ
ングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコー
ルジエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピ
ルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテ
ル等のグリコールエーテル溶媒、エチレングリコールモ
ノメチルアセテート、ジエチレングリコールモノブチル
エーテルアセテート、エチレングリコールジアセテー
ト、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート等
のグリコールアセテートエーテル溶媒、N、N−ジメチ
ルアセトアミド、N、N−ジメチルホルムアミド、N−
メチル−2−ピロリドン等のアミド系溶媒、アセトン、
メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、アセチ
ルアセトン、メチルアミルケトン等のケトン系溶媒、乳
酸エチル、メトキシメチルプロピオネート、エトキシエ
チルプロピオネート等のカルボン酸エステル系溶媒等の
1種単独または2種以上の組み合わせを挙げることがで
きる。本発明において有機溶媒の使用量は、(A)成
分、(B)成分および(C)成分の総和量の0.3〜2
5倍量(重量)の範囲である
【0016】(E)成分 本発明においては、上記(A)〜(D)成分以外に触媒
を使用することもできる。触媒としては、有機酸、無機
酸、有機塩、無機塩、金属キレートなどを挙げることが
できる。有機酸としては、例えば酢酸、プロピオン酸、
ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、オク
タン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレイン酸、
メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン酸、没食子酸、
酪酸、メリット酸、アラキドン酸、ミキミ酸、2−エチ
ルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン酸、リノール
酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香酸、p−アミノ
安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホン
酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ酢酸、
トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン酸、フタ
ル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸等を挙げることがで
きる。無機酸としては、例えば塩酸、硝酸、硫酸、フッ
酸、リン酸等を挙げることができる。有機塩としては、
例えばピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、
ピペリジン、ピコリン、トリメチルアミン、トリエチル
アミン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、
ジメチルモノエタノールアミン、モノメチルジエタノー
ルアミン、トリエタノールアミン、ジアザビシクロオク
ラン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウンデセ
ン、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド等を
挙げることができる。無機塩としては、例えばアンモニ
ア、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化バリウ
ム、水酸化カルシウム等を挙げることができる。また、
本発明の組成物には金属キレート化合物を使用すること
もできる。金属キレート化合物としては、例えばトリエ
トキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−
n−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタ
ン、トリ−i−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナー
ト)チタン、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセ
トナート)チタン、トリ−sec−ブトキシ・モノ(ア
セチルアセトナート)チタン、トリ−t−ブトキシ・モ
ノ(アセチルアセトナート)チタン、ジエトキシ・ビス
(アセチルアセトナート)チタン、ジ−n−プロポキシ
・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−i−プロ
ポキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−n
−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ
−sec−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チ
タン、ジ−t−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナー
ト)チタン、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナ
ート)チタン、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチ
ルアセトナート)チタン、モノ−i−プロポキシ・トリ
ス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−n−ブトキ
シ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−s
ec−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタ
ン、モノ−t−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナー
ト)チタン、テトラキス(アセチルアセトナート)チタ
ン、トリエトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チ
タン、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセ
テート)チタン、トリ−i−プロポキシ・モノ(エチル
アセトアセテート)チタン、トリ−n−ブトキシ・モノ
(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−sec−ブ
トキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ
−t−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタ
ン、ジエトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタ
ン、ジ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテー
ト)チタン、ジ−i−プロポキシ・ビス(エチルアセト
アセテート)チタン、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチル
アセトアセテート)チタン、ジ−sec−ブトキシ・ビ
ス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−t−ブトキ
シ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、モノエト
キシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ
−n−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)
チタン、モノ−i−プロポキシ・トリス(エチルアセト
アセテート)チタン、モノ−n−ブトキシ・トリス(エ
チルアセトアセテート)チタン、モノ−sec−ブトキ
シ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−
t−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタ
ン、テトラキス(エチルアセトアセテート)チタン、モ
ノ(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセ
テート)チタン、ビス(アセチルアセトナート)ビス
(エチルアセトアセテート)チタン、トリス(アセチル
アセトナート)モノ(エチルアセトアセテート)チタ
ン、等のチタンキレート化合物;トリエトキシ・モノ
(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−n−プ
ロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウ
ム、トリ−i−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナー
ト)ジルコニウム、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチ
ルアセトナート)ジルコニウム、トリ−sec−ブトキ
シ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ
−t−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコ
ニウム、ジエトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジ
ルコニウム、ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセ
トナート)ジルコニウム、ジ−i−プロポキシ・ビス
(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−n−ブト
キシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ
−sec−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジ
ルコニウム、ジ−t−ブトキシ・ビス(アセチルアセト
ナート)ジルコニウム、モノエトキシ・トリス(アセチ
ルアセトナート)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ
・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ
−i−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジ
ルコニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチルア
セトナート)ジルコニウム、モノ−sec−ブトキシ・
トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−
t−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコ
ニウム、テトラキス(アセチルアセトナート)ジルコニ
ウム、トリエトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)
ジルコニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルア
セトアセテート)ジルコニウム、トリ−i−プロポキシ
・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ
−n−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジル
コニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(エチルアセ
トアセテート)ジルコニウム、トリ−t−ブトキシ・モ
ノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジエトキ
シ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ
−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジ
ルコニウム、ジ−i−プロポキシ・ビス(エチルアセト
アセテート)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス
(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−sec
−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニ
ウム、ジ−t−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテー
ト)ジルコニウム、モノエトキシ・トリス(エチルアセ
トアセテート)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ・
トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ
−i−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)
ジルコニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルア
セトアセテート)ジルコニウム、モノ−sec−ブトキ
シ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、
モノ−t−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテー
ト)ジルコニウム、テトラキス(エチルアセトアセテー
ト)ジルコニウム、モノ(アセチルアセトナート)トリ
ス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ビス(ア
セチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテート)
ジルコニウム、トリス(アセチルアセトナート)モノ
(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、等のジルコ
ニウムキレート化合物;トリス(アセチルアセトナー
ト)アルミニウム、トリス(エチルアセトアセテート)
アルミニウム等のアルミニウムキレート化合物;などを
挙げることができる。
【0017】本発明の組成物は上記(A)〜(C)成分
および必要に応じて他の成分を混合することにより製造
することができる。本発明の組成物を用いて膜を形成す
るには、まず本発明の組成物を基板に塗布し、塗膜を形
成する。ここで、本発明の組成物を塗布することができ
る基板としては半導体、ガラス、セラミックス、金属な
どが挙げられ、塗布方法としてはスピンコート、ディッ
ピング、ローラーブレードなどが挙げられる。形成する
塗膜の厚さは、層間絶縁膜の場合で通常0.2〜20μ
mである。ついで、形成された塗膜を加熱するが、この
ときの加熱温度は(C)成分が有する分解温度未満の温
度である。本発明では、(A)成分の硬化膜が低密度化
するように塗膜の加熱条件を選定する必要がある。この
加熱方法としては、形成した塗膜を前記(C)成分の分
解温度未満の温度で加熱して(A)成分を一部硬化さ
せ、ついで前記(C)成分の分解温度以上の温度から最
終硬化温度まで加熱し、低密度の硬化物とする方法など
が挙げられる。た、上記の(A)成分の硬化速度と
(C)成分の分解速度を制御するため、必要に応じて、
段階的に加熱したり、窒素、空気、酸素、減圧などの雰
囲気を選択することができる。通常、(C)成分の分解
温度は250〜450℃であるので、塗膜は最終的には
この温度以上に加熱される工程を含む。該工程は減圧状
態もしくは不活性ガス下で行われるのが好ましい。本発
明の組成物を本発明の方法によって加熱して得られた低
密度化膜は、通常0.35〜1.2g/cm3、好ましく
は0.4〜1.1g/cm3、さらに好ましくは0.5〜
1.0g/cm3である。本発明における硬化膜の低密
度化状態としては、硬化膜が細孔を有する状態、硬化膜
が分子レベルで間隙を有し均質に低密度化した状態であ
ってもよい。また膜の誘電率は、通常、2.6〜1.2
である。本発明の膜は、絶縁膜として好適であり、特に
高集積回路の層間絶縁膜に適している。
【0018】
【実施例】以下、この発明の実施の形態を、実施例に基
づいて説明する。但し、以下の記載は、本発明の態様例
を概括的に示すものであり、特に理由なく、かかる記載
により本発明は限定されるものではない。また、実施例
および比較例中の部および%は、特記しない限り、それ
ぞれ重量部および重量%であることを示している。
【0019】実施例1 (A)テトラメトキシシシラン140.5g、メチルト
リメトキシシラン182.7g、ジメチルジメトキシシ
ラン56.0g、プロピレングリコールモノプロピルエ
ーテル394.0gの混合溶液に、マレイン酸10.0
gを水116.8gに溶かした水溶液を室温で1時間か
けて滴下した。混合物の滴下終了後さらに60℃で1時
間反応させた後、減圧下で生成メタノールを留去するこ
とによりポリシロキサンゾルを得た。 (B)(A)で得たポリシロキサンゾル100g、ポリ
エチレンオキシドブロック−ポリプロピレンオキシドブ
ロック−ポリエチレンオキシドブロック共重合体(三洋
化成社製ニュポールPE61)8.9gおよびオルガノ
シロキサンポリマーKP341(信越化学工業(株)
製)0.06gを添加し、得られた混合物を8インチシ
リコンウェハ上にスピンコート法により塗布し、80℃
で5分間、ついで200℃、窒素下で5分間加熱した
後、さらに真空下で340℃、360℃、380℃の順
でそれぞれ30分間ずつ加熱し、さらに425℃で1時
間加熱し、無色透明の膜を形成した。さらに、得られた
膜を下記のとおり評価した。結果を表1に示す。 (膜形成用組成物の評価)
【0020】1.塗膜均一性 得られた膜を光学式膜厚計(Rudolph Tech
nologies社製、SpectraLaser20
0)を用いて塗膜面内で50点測定した。得られた膜厚
の3σを計算し、下記基準で評価した。 :塗膜の3σが100nm未満 ×:塗膜の3σが100nm以上 2.誘電率 得られた膜に対して蒸着法によりアルミニウム電極パタ
ーンを形成させ誘電率測定用サンプルを作成した。該サ
ンプルを周波数100kHzの周波数で以て、横河・ヒ
ューレットパッカード(株)製HP16451B電極お
よびHP4284AプレシジョンLCRメータを用いて
CV法により当該塗膜の誘電率を測定した。結果を表1
に示す。
【0021】3.膜密度 密度は膜の膜厚、膜の体積および膜の重量から求めた。 4.弾性率 得られた膜をナノインデンターXP(ナノインスツルメ
ンツ社製)を用いて連続剛性測定法により測定した。 5.CMP耐性 得られた膜を以下の条件で研磨した。 スラリー:シリカ−過酸化水素系 研磨圧力:300g/cm2 研磨時間:60秒 評価は以下の基準にて行った。 ○:変化なし △:一部にはがれやキズがある ×:全てはがれる また、研磨速度を以下のように算出した。 研磨速度(オングストローム/分)=(初期膜厚)−
(60秒研磨後の膜厚)
【0022】合成例 アクリル系重合体の合成 100mlフラスコにメタクリル酸イソブチル18.32
g、メタクリル酸3−(トリメトキシシリル)プロピル
1.68g、アゾイソブチロニトリル(AIBN)0.
33g、2−メルカプトエタノール0.20gおよび3
−メトキシメチルプロピオネート30gを入れ溶解させ
た。系内を窒素ガスで置換したのち、80℃のオイルバ
スで加熱しながら、7時間撹拌すると粘稠なポリマー溶
液が得られた。GPCでポリスチレン換算の平均分子量
を測定すると、数平均分子量が4830、重量平均分子
量が8900であった。
【0023】実施例2 (A)テトラメトキシシシラン91.2g、メチルトリ
メトキシシラン292.3gプロピレングリコールモノ
プロピルエーテル387.0gの混合溶液に、マレイン
酸10.0gを水119.4gに溶かした水溶液を室温
で1時間かけて滴下した。混合物の滴下終了後さらに6
0℃で1時間反応させた後、減圧下で生成メタノールを
留去することによりポリシロキサンゾルを得た。 (B)(A)で得られたシリカゾル100gに合成例で
得られたアクリル系重合体溶液21.2g(固形分含量
8.5g)およびオルガノシロキサンポリマーKP34
1(信越化学工業(株)製)0.06gを加え60℃で
1時間攪拌した。得られた溶液を8インチウェハ上にス
ピンコートにより塗布し、ホットプレートにより80℃
で5分、200℃で5分乾燥したのち真空下425℃で
1時間焼成すると透明な塗膜が得られた。実施例1と同
様にして評価を行った。結果を表1に示す。
【0024】比較例1 実施例1において、ポリエチレンオキシドブロック−ポ
リプロピレンオキシドブロック−ポリエチレンオキシド
ブロック共重合体を使用しない以外は、実施例1と同様
にして組成物を製造し、基板に塗布し加熱して、膜を形
成した。得られた膜の評価を実施例1と同様にして行っ
た。結果を表1に示す。
【0025】
【表1】
【0026】
【発明の効果】本発明の組成物を硬化して得られる膜
は、誘電率特性、機械強度、塗膜均一性に優れる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山田 欣司 東京都中央区築地二丁目11番24号ジェイエ スアール株式会社内 Fターム(参考) 4J038 CG142 DF022 DL021 DL031 GA15 KA06 KA09 NA12 NA17 PA19 5F058 AA03 AA10 AC03 AF04 AG01 AH01 AH02

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)下記一般式(1)で表される化合
    物の加水分解物およびその部分縮合物またはいずれか一
    方 R1 nSi(OR24-n (1) (R1 およびR2 は、同一でも異なっていても良く、そ
    れぞれ1価の有機基を示し、nは0〜2の整数を表
    す。) (B)界面活性剤 (C)前記(A)成分に相溶または分散し、沸点または
    分解温度が250〜450℃である化合物を含むことを
    特徴とする膜形成用組成物。
  2. 【請求項2】 (A)上記一般式(1)で表される化合
    物を2種以上使用することを特徴とする請求項1記載の
    膜形成用組成物。
  3. 【請求項3】 (B)成分がシリコン系界面活性剤であ
    ることを特徴とする請求項1記載の膜形成用組成物。
  4. 【請求項4】 (C)成分がポリアルキレンオキシド構
    造を有する化合物またはアクリル系重合体であることを
    特徴とする請求項1記載の膜形成用組成物。
  5. 【請求項5】 さらに(D)沸点250℃未満の有機溶
    媒を含むことを特徴とする請求項1記載の膜形成用組成
    物。
  6. 【請求項6】 請求項1記載の組成物を基板に塗布し加
    熱することを特徴とする膜の製造方法。
  7. 【請求項7】 請求項1記載の組成物を基板に塗布し、
    前記(C)成分の沸点または分解温度未満の温度で加熱
    して(A)成分を一部硬化させ、ついで前記(C)成分
    の沸点または分解温度以上の温度で加熱を行い硬化する
    ことを特徴とする膜の形成方法。
  8. 【請求項8】 請求項1記載の組成物を基板に塗布し、
    前記(C)成分の沸点または分解温度以上の温度で
    (A)成分を硬化させることを特徴とする膜の形成方
    法。
  9. 【請求項9】 請求項6〜8記載の形成方法により得ら
    れる低密度化膜。
JP11104170A 1999-04-12 1999-04-12 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜 Pending JP2000299317A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11104170A JP2000299317A (ja) 1999-04-12 1999-04-12 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11104170A JP2000299317A (ja) 1999-04-12 1999-04-12 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000299317A true JP2000299317A (ja) 2000-10-24

Family

ID=14373573

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11104170A Pending JP2000299317A (ja) 1999-04-12 1999-04-12 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000299317A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000336267A (ja) * 1999-05-31 2000-12-05 Jsr Corp 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2002212502A (ja) * 2001-01-15 2002-07-31 Shin Etsu Chem Co Ltd 膜形成用組成物、多孔質膜の形成方法及び多孔質膜

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000336267A (ja) * 1999-05-31 2000-12-05 Jsr Corp 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2002212502A (ja) * 2001-01-15 2002-07-31 Shin Etsu Chem Co Ltd 膜形成用組成物、多孔質膜の形成方法及び多孔質膜

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7462678B2 (en) Film forming composition, process for producing film forming composition, insulating film forming material, process for forming film, and silica-based film
JP2002285086A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP3906916B2 (ja) 膜形成用組成物、膜形成方法および膜
JP4662000B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および絶縁膜
JP2000290590A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP2001049179A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP2000299316A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP2001240798A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2001115028A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2001002989A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度膜
JP4158001B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP2001049178A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP4022802B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および絶縁膜
JP2001049176A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP2001002990A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度膜
JP2004059738A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP4862217B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP5061412B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP4101989B2 (ja) ポリオルガノシロキサン系組成物の製造方法、ポリオルガノシロキサン系組成物、および膜
JP2000299317A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP3494081B2 (ja) 低密度膜の製造方法、低密度膜、絶縁膜および半導体装置
JP3994258B2 (ja) 形成用組成物の製造方法および膜の形成方法
JP2005120355A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP2001002994A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP2001049184A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜