JP2000295097A - 位相比較回路 - Google Patents

位相比較回路

Info

Publication number
JP2000295097A
JP2000295097A JP11102931A JP10293199A JP2000295097A JP 2000295097 A JP2000295097 A JP 2000295097A JP 11102931 A JP11102931 A JP 11102931A JP 10293199 A JP10293199 A JP 10293199A JP 2000295097 A JP2000295097 A JP 2000295097A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output
circuit
phase difference
phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11102931A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoichi Nakamura
陽一 中村
Tamotsu Toyooka
有 豊岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP11102931A priority Critical patent/JP2000295097A/ja
Publication of JP2000295097A publication Critical patent/JP2000295097A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
    • H03L7/0891Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses the up-down pulses controlling source and sink current generators, e.g. a charge pump

Landscapes

  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 チャージポンプヘの制御信号パルスを同時に
出力させないで貫通電流の発生を防ぎ、かつ基準信号と
比較信号の位相差が小さい場合でも位相差信号を発生し
て不感帯をなくし、C/Nの良いPLLを実現できるよ
うにする。 【解決手段】 Dフリップフロップ50のクロック端子
CKには、基準信号frが入力される。Dフリップフロ
ップ51のクロック端子CKには、比較信号fpが入力
される。Dフリップフロップ50,51のデータ出力端
子Qは、2入力AND52の入力端子に接続される。2
入力AND52の出力は、Dフリップフロップ50,5
1のリセット端子Rに接続される。Dフリップフロップ
50の出力端子Qは、インバータ53の入力端子に接続
され、インバータ53の出力端子からは位相差信号up
が出力される。Dフリップフロップ51の出力端子Qは
遅延回路54を経由して位相差信号downが出力され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、周波数シンセサイ
ザにおけるPLL回路の位相比較器の改良に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】図9にPLLシンセサイザ回路のブロッ
ク図を示す。PLLを用いた周波数シンセサイザは、水
晶発振器など精度の高い発振源である基準発振器10か
ら発生する固定周波数を基準分周器11で所望の周波数
に分周し、基準信号とする。また、VCO(電圧制御発
振器)16からの出力信号は、比較分周器12で分周す
る。基準信号と比較分周器12の出力信号は、位相比較
器13で位相の比較が行われ、位相差に応じたパルス幅
を生成する。チャージポンプ14は、位相比較器13か
らの2値論理“H”、“L”の位相差信号を3値論理
“H”、“L”、“Z”に変換し、位相差に比例した電
流を流入、流出する回路である。
【0003】LPF15は、チャージポンプ14の出力
に含まれている不要な成分や雑音を取り除き、直流分の
電圧をVCO(電圧制御型発振器)16に送る。VCO
16は、この直流電圧によって発振周波数を変化させる
ことができるので、DCレベルと周波数の方向を合わ
せ、その出力周波数が比較分周器12へ帰還することに
より、常に入力周波数と基準周波数の位相が等しくなる
ように動作する。
【0004】図10は、位相比較器の従来例1の構成を
示す回路図である。図10において、Dフリップフロッ
プ20のクロック端子CKには、基準分周器11からの
基準信号frが入力される。データ入力端子Dには電源
電圧(VDD)を入力する。Dフリップフロップ21の
クロック端子CKには、比較分周器12からの比較信号
fpが入力される。データ入力端子Dには電源電圧(V
DD)を入力する。Dフリップフロップ20のデータ出
力端子QとDフリップフロップ21のデータ出力端子Q
は、2入力AND22の入力端子に接続され、2入力A
ND22の出力は、Dフリップフロップ20のリセット
端子RとDフリップフロップ21のリセット端子Rに接
続される。Dフリップフロップ20の出力端子Qは、イ
ンバータ23の入力端子に接続され、インバータ23の
出力端子からは位相差信号upが出力される。Dフリッ
プフロップ21の出力端子Qからは位相差信号down
が出力される。位相差信号upは、比較信号fpが基準
信号frに対して位相が遅れているときにアクティブパ
ルスを発生する。位相差信号downは、比較信号fp
が基準信号frに対して位相が進んでいるときにアクテ
ィブパルスを発生する。
【0005】図11は、図10の位相比較器の動作を示
すタイミング図である。まず、比較信号fpが基準信号
frより位相が遅れている場合、出力信号upには基準
信号frと比較信号fpの立ち上がりの位相差の期間と
比較信号fpの立ち上がりによりリセットがかかるまで
の期間を加えた期間において“L”になるパルスが発生
する。また、出力信号downは比較信号fpの立ち上
がりで“H”に変化し、この“H”がAND22を介し
てリセット端子に入力されることによりリセットがかか
り、“L”に変化するパルスが発生する。
【0006】次に、比較信号fpと基準信号frが等し
い位相の場合、出力信号upには基準信号frの立ち上
がりで“L”に変化し、その前段の信号がAND22を
介してリセット端子に入力されることによりリセットが
かかり“H”に変化するパルスが発生し、出力信号do
wnには比較信号fpの立ち上がりで“H”に変化し、
その信号によりリセットがかかり、“L”に変化するパ
ルスが発生する。
【0007】そして、比較信号fpが基準信号frより
位相が進んでいる場合、出力信号upは基準信号frの
立ち上がりで“L”に変化し、その信号によりリセット
がかかり、“H”に変化するパルスが発生する。出力信
号downには、比較信号fpと基準信号frの立ち上
がりの位相差の期間と基準信号frの立ち上がりにより
リセットがかかるまでの期間を加えた期間において
“H”になるパルスが発生する。
【0008】図12は、位相比較器の従来例2の構成を
示す回路図である。図12において、Dフリップフロッ
プ30のクロック端子CKには、基準分周器11からの
基準信号frが入力される。データ入力端子Dには電源
電圧(VDD)を入力する。Dフリップフロップ31の
クロック端子CKには、比較分周器12からの比較信号
fpが入力される。データ入力端子Dには電源電圧(V
DD)を入力する。Dフリップフロップ30のデータ出
力端子QとDフリップフロップ31のデータ出力端子Q
は2入力AND32の入力端子に接続され、2入力AN
D32の出力は、Dフリップフロップ30のリセット端
子RとDフリツプフロップ31のリセット端子Rに接続
される。Dフリップフロップ30の出力端子Qは、イン
バータ33の入力端子に接続される。インバータ33の
出力端子とDフリップフロップ31の出力端子Qは、2
入力OR34と2入力AND35の入力端子に接続され
る。また、2入力OR34の出力端子からは位相差信号
upが出力される。2入力AND35の出力端子からは
位相差信号downが出力される。
【0009】図13は、図12の位相比較器の動作を示
すタイミング図である。まず、比較信号fpが基準信号
frより位相が遅れている場合、出力信号upには基準
信号frと比較信号fpの立ち上がりの位相差の期間
“L”になるパルスが発生する。また、出力信号dow
nは2入力AND35によりインバータ33の出力が
“H”の期間のみ有効になり、“L”のまま変化しな
い。
【0010】次に、比較信号fpと基準信号frが等し
い位相の場合、出力信号upは2入力OR34によりD
フリップフロップ31の出力端子Qが“L”の期間のみ
有効となり、“H”のまま変化しない。出力信号dow
nは2入力AND35によりインバータ33の出力が
“H”の期間のみ有効となり、“L”のまま変化しな
い。
【0011】そして、比較信号fpが基準信号frより
位相が進んでいる場合、出力信号downには比較信号
fpと基準信号frの立ち上がりの位相差の期間“H”
になるパルスが発生する。また、出力信号upは2入力
OR34により、Dフリップフロップ31の出力端子Q
が“L”の期間のみ有効になり、“H”のまま変化しな
い。
【0012】図14は、図9のチャージポンプ14の回
路構成例である。位相比較器からの位相差信号upが論
理値“L”になるとPチャンネルトランジスタ40がO
Nし、出力Outには“H”が出力される。また、位相
比較器からの位相差信号downが論理値“H”になる
と、Nチャンネルトランジスタ41がONし、出力Ou
tには、“L”が出力される。upが論理値“H”、d
ownが論理値“L”のときトランジスタ40,41が
ともにOFFし、出力Outには“Z”になる。
【0013】図15は、位相比較器の従来例3の構成を
示す回路図である。この位相比較器は、特開平9−25
2239号公報に開示されているものである。図12に
おいて、Dフリップフロップ42のクロック端子CKに
は、基準分周器11からの基準信号frが入力される。
Dフリップフロップ43のクロック端子CKには、比較
分周器12からの比較信号fpが入力される。Dフリッ
プフロップ42,43のデータ入力端子Dには、それぞ
れのデータ出力端子からの出力*Q,*Q’が入力され
る。基準信号frは遅延回路44を介してDフリップフ
ロップ43のリセット端子Rに入力される。比較信号f
pは、遅延回路45を介してDフリップフロップ42の
リセット端子Rに入力される。Dフリップフロップ42
のデータ出力端子Qからの出力Qは、遅延回路46を介
して位相差信号QDとしてチャージポンプ14に出力さ
れる。Dフリップフロップ42のデータ出力端子Qから
の出力Q’は、位相差信号としてチャージポンプ14に
出力される。
【0014】図16は、図15の位相比較器の動作を示
すタイミング図である。まず、次に、比較信号fpと基
準信号frが等しい位相の場合、出力信号Q’は、比較
信号fpの立ち上がりから、遅延回路44の出力RRが
立ち下がるまでの期間“H”となる。出力信号QDは、
出力信号Qが基準信号frの立ち上がりから、遅延回路
44の出力RPが立ち下がるまでの期間“H”となり、
それを遅延回路46で反転させて遅延させたものであ
る。
【0015】次に、比較信号fpが基準信号frより位
相が遅れている場合、出力信号Q’は、“L”のまま変
化しない。出力信号QDは、出力信号Qが基準信号fr
の立ち上がりから、遅延回路45の出力RPが立ち下が
るまでの期間“H”となり、それを遅延回路46で反転
させて遅延させたものである。
【0016】そして、比較信号fpが基準信号frより
位相が進んでいる場合、出力信号Q’は、比較信号fp
の立ち上がりから、遅延回路44の出力RRが立ち下が
るまでの期間“H”となる。出力信号QDは、出力信号
Qが“L”のまま変化しないので、“L”のままであ
る。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例1の技術によると、図11から基準信号frと比較
信号fpの位相差がいかなる場合ににおいても、どちら
かの信号の立ち上がりのタイミングでupとdownの
制御信号が出力される。そして、upの“L”期間とd
ownの“H”期間が重なっているために、図14のチ
ャージポンプのPチャンネルトランジスタ40とNチャ
ンネルトランジスタ41が同時にON状態になり、VD
DとGNDの間に貫通電流が流れてしまい、消費電流が
増加するという問題点がある。すなわち、位相比較器1
3からの位相進み信号downと位相遅れ信号upが、
基準信号frまたは比較信号fpの立ち上がりのタイミ
ングで常に同時に出力される。このため、チャージポン
プ14のPチャンネルトランジスタ40とNチャンネル
トランジスタ41が同時にONしてしまい、貫通電流が
流れてしまう問題点があった。
【0018】そこで、従来例2における図13のように
upの“L”期間とdownの“H”期間が重ならない
ようにした回路がある。この場合、チャージポンプ14
の貫通電流はなくすことができるが、基準信号frと比
較信号fpの位相差がある程度少なくなると、upおよ
びdownに位相差を示す制御信号がでなくなる。この
位相差があっても位相差信号が出力されない領域を不感
帯と呼び、この不感帯の範囲ではVCO16に外乱が印
加されて位相が変動しても、位相比較器は位相差信号u
pおよびdownをチャージポンプ14に出力すること
ができない。このため、VCO16の信号が外乱により
揺さぶられPLL周波数シンセサイザのスペクトラム特
性を悪化させる原因となる。すなわち、基準信号frと
比較信号fpの位相差が小さい場合にupおよびdow
nに位相差を示す制御信号がでなくなる領域である不感
帯が存在し、PLL周波数シンセサイザのスペクトラム
特性およびC/N(キャリア/ノイズ比)が悪化すると
いう問題点があった。
【0019】これに対し、特開平9−252239号公
報に示される方式(従来例3)によれば、基準信号と比
較信号の位相差が一致している場合においては、進みお
よび遅れを示すチャージポンプ14ヘの位相差制御信号
QD,Q’が順次発生し、かつパルス幅が同一になるこ
とで、VCOの制御信号の変動を抑えることができ、V
COの出力周波数の変動を減少させることができるとあ
る。
【0020】しかしながらこの方式においても、遅延素
子44〜46の遅延時間がDフリップフロップ42,4
3の遅延時間より小さいときには、QとQ’が“H”に
なり、チャージポンプ14のPチャンネルトランジスタ
40とNチャンネルトランジスタ41が同時にON状態
になってしまい、貫通電流が発生してしまうという課題
があった。すなわち、位相比較器からの位相進み信号
Q’と位相遅れ信号QDが、基準信号frまたは比較信
号fpの立ち上がりのタイミングで同時に出力される領
域が発生し、チャージポンプ14のPチャンネルトラン
ジスタ40とNチャンネルトランジスタ41が同時にO
Nしてしまい貫通電流が流れてしまう問題点があった。
【0021】そこで、本発明は、チャージポンプヘの制
御信号パルスを同時に出力させないことにより貫通電流
の発生を防ぎ、かつ基準信号と比較信号の位相差が小さ
い場合でも位相差信号を発生することで不感帯をなく
し、C/N(キャリア・ノイズ比)の良いPLLを実現
できる位相比較回路を提供することを目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基準
信号と比較信号の位相比較を行って、位相差に応じたパ
ルス幅の位相差信号を出力する周波数シンセサイザにお
けるPLL回路の位相比較器において、前記基準信号を
入力し、リセット信号により前記基準信号をリセットし
て出力する第1のラッチ回路と、前記比較信号を入力
し、リセット信号により前記比較信号をリセットして出
力する第2のラッチ回路と、前記第1及び第2のラッチ
回路の出力を入力し、前記第1のラッチ回路と前記第2
のラッチ回路にリセット信号として出力を印加する論理
積回路と、前記第1のラッチ回路の出力または前記第2
のラッチ回路の出力を遅延する遅延回路と、を具備す
る。そして、前記遅延回路からの出力と、前記遅延回路
が接続していない方のラッチ回路の出力を位相差信号と
することを特徴とする。
【0023】請求項2の発明は、基準信号と比較信号の
位相比較を行って、位相差に応じたパルス幅の位相差信
号を出力する周波数シンセサイザにおけるPLL回路の
位相比較器において、前記基準信号を入力し、リセット
信号により前記基準信号をリセットして出力する第1の
ラッチ回路と、前記比較信号を入力し、リセット信号に
より前記比較信号をリセットして出力する第2のラッチ
回路と、前記第1及び第2のラッチ回路の出力を入力
し、前記第1のラッチ回路と前記第2のラッチ回路にリ
セット信号として出力を印加する論理積回路と、前記第
2のラッチ回路の出力を遅延する遅延回路と、前記第1
のラッチ回路の出力と前記遅延回路の出力とを入力とす
る論理和回路と、を具備する。そして、前記遅延回路の
出力と前記論理和回路の出力を位相差信号とすることを
特徴とする。
【0024】請求項3の発明は、基準信号と比較信号の
位相比較を行って、位相差に応じたパルス幅の位相差信
号を出力する周波数シンセサイザにおけるPLL回路の
位相比較器において、前記基準信号を入力し、リセット
信号により前記基準信号をリセットして出力する第1の
ラッチ回路と、前記比較信号を入力し、リセット信号に
より前記比較信号をリセットして出力する第2のラッチ
回路と、前記第1及び第2のラッチ回路の出力を入力
し、前記第1のラッチ回路と前記第2のラッチ回路にリ
セット信号として出力を印加する第1の論理積回路と、
前記第1のラッチ回路の出力を遅延する遅延回路と、前
記遅延回路の出力と前記第2のラッチ回路の出力とを入
力とする第2の論理積回路と、を具備する。前記遅延回
路の出力と前記第2の論理積回路の出力を位相差信号と
することを特徴とする。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を用いて説明する。ここで、以下の位相比較器
は、図9に示したPLLシンセサイザに用いられるもの
である。
【0026】図1は、本発明に係る位相比較器の実施形
態1を示す回路図である。図1において、Dフリップフ
ロップ50のクロック端子CKには、基準分周器11か
らの基準信号frが入力される。データ入力端子Dには
電源電圧(VDD)を入力する。Dフリップフロップ5
1のクロック端子CKには、比較分周器からの比較信号
fpが入力される。データ入力端子Dには電源電圧(V
DD)を入力する。Dフリップフロップ50のデータ出
力端子QとDフリップフロップ51のデータ出力端子Q
は2入力AND52の入力端子に接続され、2入力AN
D52の出力は、Dフリップフロップ50のリセット端
子RとDフリップフロップ51のリセット端子Rに接続
される。Dフリップフロップ50の出力端子Qは、イン
バータ53の入力端子に接続され、インバータ53の出
力端子からは位相差信号upが出力される。Dフリップ
フロップ51の出力端子Qは遅延回路54を経由して位
相差信号downに出力される。
【0027】図2は、図1の位相比較器の動作を示すタ
イミング図である。まず、比較信号fpが基準信号fr
より位相が遅れている場合、出力信号upには基準信号
frと比較信号fpの立ち上がりの位相差の期間と比較
信号fpの立ち上がりによりリセットがかかるまでの期
間を加えた期間において、“L”になるパルスが発生す
る。また、出力信号downにはfpの立ち上がりで
“H”に変化し、その信号によりリセットがかかり、
“L”に変化するパルスが遅延回路54の遅延時間分遅
れて発生する。
【0028】次に、比較信号fpと基準信号frが等し
い位相の場合、出力信号upには基準信号frの立ち上
がりで“L”に変化し、その信号によりリセットがかか
り、“H”に変化するパルスが発生する。出力信号do
wnには比較信号fpの立ち上がりで“H”に変化し、
その信号によりリセットがかかり、“L”に変化するパ
ルスが遅延回路54の遅延時間分遅れて発生する。
【0029】そして、比較信号fpが基準信号frより
位相が進んでいる場合、出力信号upには基準信号fr
の立ち上がりで“L”に変化し、その信号によりリセッ
トがかかり“H”に変化するパルスが発生する。出力信
号downには比較信号fpと基準信号frの立ち上が
りの位相差の期間と比較信号fpの立ち上がりによりリ
セットがかかるまでの期間を加えた期間において、
“H”になるパルスが遅延回路54の遅延時間分遅れて
発生する。
【0030】図3は、本発明に係る位相比較器の実施形
態2の構成を示す回路図である。図3において、Dフリ
ップフロップ60のクロック端子CKには、基準分周器
11からの基準信号frが入力される。データ入力端子
Dには電源電圧(VDD)を入力する。Dフリップフロ
ップ61のクロック端子CKには、比較分周器12から
の比較信号fpが入力される。データ入力端子Dには電
源電圧(VDD)を入力する。Dフリップフロップ60
のデータ出力端子QとDフリッププフロップ61のデー
タ出力端子Qは2入力AND62の入力端子に接続さ
れ、2入力AND62の出力は、Dフリップフロップ6
0のリセット端子RとDフリップフロップ61のリセッ
ト端子Rに接続される。Dフリップフロップ60の出力
端子Qはインバータ63の入力端子に接続され、インバ
ータ63の出力端子からは遅延回路64を経由して位相
差信号upが出力される。Dフリップフロップ61の出
力端子Qは位相差信号downが出力される。
【0031】図4は、図3の位相比較器の動作を示すタ
イミング図である。まず、比較信号fpが基準信号fr
より位相が遅れている場合、出力信号upには基準信号
frと比較信号fpの立ち上がりの位相差の期間と比較
信号fpの立ち上がりによりリセットがかかるまでの期
間を加えた期間において、“L”になるパルスが遅延回
路64の遅延時間分遅れて発生する。また、出力信号d
ownには基準信号fpの立ち上がりで“H”に変化
し、その信号により、リセットがかかり“L”に変化す
るパルスが発生する。
【0032】次に、比較信号fpと基準信号frが等し
い位相の場合、出力信号upには基準信号frの立ち上
がりで“L”に変化し、その信号によりリセットがかか
り、“H”に変化するパルスが遅延回路64の遅延時間
分遅れて発生する。出力信号downには比較信号fp
の立ち上がりで“H”に変化し、その信号によりリセッ
トがかかり“L”に変化するパルスが発生する。
【0033】そして、比較信号fpが基準信号frより
位相が進んでいる場合、出力信号子upには基準信号f
rの立ち上がりで“L”に変化し、その信号によりリセ
ットがかかり、“H”に変化するパルスが遅延回路64
の遅延時間分遅れて発生する。出力信号downには比
較信号fpと基準信号frの立ち上がりの位相差の期間
と基準信号frの立ち上がりにより、リセットがかかる
までの期間を加えた期間において、“H”になるパルス
が発生する。
【0034】よって、図1および図3の回路構成による
位相比較器によれば、位相差信号upまたはdownの
いずれかの信号を遅延させることにより、従来例1の位
相比較器(図10、図11)にみられたような位相差信
号upとdownが常に同時に出力されるということは
なくなる。また、位相差信号upとdownの位相がい
かなる場合においても位相差信号は出力されるので、従
来例2の位相比較器(図12、図13)にみられたよう
な不感帯の領域が存在しない。しかしながら、上記図1
および図3の回路構成による位相比較回路においては、
PLLがロックしている状態つまり比較信号fpと基準
信号frの位相が等しいか、もしくは十分近い場合に
は、位相差信号upとdownが同時に出力されること
はない。しかし、比較信号の位相が基準信号の位相に対
して進んでいる場合もしくは遅れている場合には、その
どちらかに位相差信号upとdownが同時に出力され
るということがある。
【0035】そこで、これを改良した実施形態を以下に
示す。図5は、本発朋に係る位相比較器の実施形態3を
示す回路図である。図5において、Dフリップフロップ
70のクロック端子CKには、基準分周器11からの基
準信号frが入力される。データ入力端子Dには電源電
圧(VDD)を入力する。Dフリップフロップ71のク
ロック端子CKには、比較分周器12からの比較信号f
pが入力される。データ入力端子Dには電源電圧(VD
D)を入力する。Dフリップフロップ70のデータ出力
端子QとDフリップフロップ71のデータ出力端子Qは
2入力AND72の入力端子に接続され、2入力AND
72の出力は、Dフリップフロップ70のリセット端子
RとDフリップフロップ71のリセット端子Rに接続さ
れる。Dフリップフロップ70の出力端子Qは、インバ
ータ73の入力端子に接続される。Dフリップフロップ
71の出力端子Qは、遅延回路74の入力端子に接続さ
れる。インバータ73の出力端子と遅延回路74の出力
端子は、2入力OR75の入力端子に接続される。2入
力OR75の出力端子からは位相差信号upが出力され
る。遅延回路74の出力端子からは位相差信号down
が出力される。
【0036】図6は、図5の位相比較器の動作を示すタ
イミング図である。まず、比較信号fpが基準信号fr
より位相が遅れている場合、出力信号upには基準信号
frと比較信号fpの立ち上がりの位相差の期間“L”
になるパルスが発生する。また、出力信号downには
比較信号fpの立ち上がりで“H”に変化し、その信号
によりリセットがかかり、“L”に変化するパルスが遅
延回路74の遅延時間分遅れて発生する。
【0037】次に、比較信号fpと基準信号frが等し
い位相の場合、出力信号upには基準信号frの立ち上
がりで“L”に変化し、その信号によりリセットがかか
り、“H”に変化するパルスが発生する。出力信号do
wnには比較信号fpの立ち上がりで“H”に変化し、
その信号によりリセットがかかり、“L”に変化するパ
ルスが遅延回路74の遅延時間分遅れて発生する。
【0038】そして、比較信号fpが基準信号frより
位相が進んでいる場合、出力信号downには比較信号
fpと基準信号frの立ち上がりの位相差の期間“H”
になるパルスが遅延回路74の遅延時間分遅れて発生す
る。また、出力信号upは2入力OR75により遅延回
路74の出力端子が“L”の期間のみ有効になる。その
ため、インバータ73の出力が“L”となるとき、遅延
回路74の信号は“H”であるので、出力信号upは
“H”のまま変化しない。
【0039】図7は、本発明に係る位相比較器の実施形
態4を示す回路図である。図7において、Dフリップフ
ロップ80のクロック端子CKには、基準分周器11か
らの基準信号frが入力される。データ入力端子Dには
電源電圧(VDD)を入力する。Dフリップフロップ8
1のクロック端子CKには、比較分周器12からの比較
信号fpが入力される。データ入力端子Dには電源電圧
(VDD)を入力する。Dフリップフロップ80のデー
タ出力端子QとDフリップフロップ81のデータ出力端
子Qは2入力AND82の入力端子に接続され、2入力
AND82の出力は、Dフリップフロップ80のリセッ
ト端子RとDフリップフロップ81のリセット端子Rに
接続される。Dフリップフロップ80の出力端子Qは、
インバータ83の入力端子に接続される。インバータ8
3の出力端子からは、遅延回路84を経由して位相差信
号upが出力される。Dフリップフロップ81の出力端
子Qと遅延回路84の出力端子は、2入力AND85の
入力端子に接続される。2入力AND85の出力端子か
らは位相差信号downが出力される。
【0040】図8は、図7の位相比較器の動作を示すタ
イミング図である。まず、比較信号fpが基準信号fr
より位相が遅れている場合、出力信号upには基準信号
frと比較信号fpの立ち上がりの位相差の期間“L”
になるパルスが遅延回路84の遅延時間分遅れて発生す
る。また、出力信号downは2入力AND85により
遅延回路84の出力端子が“H”の期間のみ有効にな
る。そのため、Dフリップフロップ81の出力が“H”
となるとき、遅延回路84の信号は“L”であるので、
出力信号downは、“L”のまま変化しない。
【0041】次に、比較信号fpと基準信号frが等し
い位相の場合、出力信号upには基準信号frの立ち上
がりで“L”に変化し、その信号によりリセットがかか
り“H”に変化するパルスが遅延回路84の遅延時間分
遅れて発生する。出力信号downには比較信号fpの
立ち上がりで“H”に変化し、その信号によりリセット
がかかり、“L”に変化するパルスが発生する。
【0042】そして、比較信号fpが基準信号frより
位相が進んでいる場合、出力信号upには基準信号fr
の立ち上がりで“L”に変化し、その信号によりリセッ
トがかかり、“H”に変化するパルスが遅延回路84の
遅延時間分遅れて発生する。出力信号downには比較
信号fpと基準信号frの立ち上がりの位相差の期間と
比較信号fpの立ち上がりによりリセットがかかるまで
の期間を加えた期間“H”になるパルスが発生する。
【0043】よって、図5および国7の回路構成による
位相比較器によれば位相差信号upまたはdownのい
ずれかの信号を遅延させることに加えて位相差信号up
とdownの出力がオーバ−ラップしないよう回路を追
加することにより、上記本発明による位相比較器(図
1、図3)にみられる位相差信号upとdownのオー
バーラップをなくすことができる。また、位相差信号u
pとdownの位相がいかなる場合においても位相差信
号は出力されるので、従来例2の位相比較器(図12、
図13)にみられたような不感帯の領域が存在しない。
【0044】なお、上述した実施例の回路において、D
フリップフロップ回路は一種のラッチ回路であり、Dフ
リップフロップ回路のかわりに論理和回路や論理積回路
などのゲート素子やトランジスタ素子を用いて構成し、
同様の機能を果たすようにしても差し支えない。
【0045】
【発明の効果】以上のように本発明の位相比較回路によ
れば、位相差信号upまたはdownのいずれかの信号
を遅延させることにより、また加えて位相差信号upと
downの出力がオーバーラップしないよう回路を追加
することにより、位相差信号upとdownのオーパー
ラツプをなくすことができる。このことによりチャージ
ポンプ回路を構成するPチャンネルトランジスタおよび
Nチャンネルトランジスタが同時にONすることがなく
なり、貫通電流を阻止できるので、本発明による位相比
較回路を用いてPLLを構成すれば消費電流の低減化を
図ることができる。
【0046】また、位相差信号upとdownの位相が
いかなる場合においても、位相差信号が出力されるの
で、位相差があつても位相差信号が出力されない不感帯
の領域が存在しないので、VCOの出力周波数の変動を
減少させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る位相比較器の実施形態1を示す回
路図である。
【図2】図1の位相比較器の動作を示すタイミング図で
ある。
【図3】本発明に係る位相比較器の実施形態2を示す回
路図である。
【図4】図3の位相比較器の動作を示すタイミング図で
ある。
【図5】本発朋に係る位相比較器の実施形態3を示す回
路図である。
【図6】図5の位相比較器の動作を示すタイミング図で
ある。
【図7】本発明に係る位相比較器の実施形態4を示す回
路図である。
【図8】図7の位相比較器の動作を示すタイミング図で
ある。
【図9】PLLシンセサイザ回路のブロック図である。
【図10】位相比較器の従来例1の構成を示す回路図で
ある。
【図11】図10の位相比較器の動作を示すタイミング
図である。
【図12】位相比較器の従来例2の構成を示す回路図で
ある。
【図13】図12の位相比較器の動作を示すタイミング
図である。
【図14】図9のチャージポンプ14の回路図である。
【図15】位相比較器の従来例3の構成を示す回路図で
ある。
【図16】図15の位相比較器の動作を示すタイミング
図である。
【符号の説明】
50,51 フリップフロップ 52 2入力AND 53 インバータ 54 遅延回路 fr 基準信号 fp 比較信号 up,down 位相差信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J039 JJ07 JJ13 JJ19 JJ20 KK09 KK10 KK13 MM04 MM16 5J106 CC24 CC26 CC58 DD42 JJ02 KK40 LL02

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準信号と比較信号の位相比較を行っ
    て、位相差に応じたパルス幅の位相差信号を出力する周
    波数シンセサイザにおけるPLL回路の位相比較器にお
    いて、 前記基準信号を入力し、リセット信号により前記基準信
    号をリセットして出力する第1のラッチ回路と、 前記比較信号を入力し、リセット信号により前記比較信
    号をリセットして出力する第2のラッチ回路と、 前記第1及び第2のラッチ回路の出力を入力し、前記第
    1のラッチ回路と前記第2のラッチ回路にリセット信号
    として出力を印加する論理積回路と、 前記第1のラッチ回路の出力または前記第2のラッチ回
    路の出力を遅延する遅延回路と、を具備し、 前記遅延回路からの出力と、前記遅延回路が接続してい
    ない方のラッチ回路の出力を位相差信号とすることを特
    徴とする位相比較器。
  2. 【請求項2】 基準信号と比較信号の位相比較を行っ
    て、位相差に応じたパルス幅の位相差信号を出力する周
    波数シンセサイザにおけるPLL回路の位相比較器にお
    いて、 前記基準信号を入力し、リセット信号により前記基準信
    号をリセットして出力する第1のラッチ回路と、 前記比較信号を入力し、リセット信号により前記比較信
    号をリセットして出力する第2のラッチ回路と、 前記第1及び第2のラッチ回路の出力を入力し、前記第
    1のラッチ回路と前記第2のラッチ回路にリセット信号
    として出力を印加する論理積回路と、 前記第2のラッチ回路の出力を遅延する遅延回路と、 前記第1のラッチ回路の出力と前記遅延回路の出力とを
    入力とする論理和回路と、を具備し、 前記遅延回路の出力と前記論理和回路の出力を位相差信
    号とすることを特徴とする位相比較器。
  3. 【請求項3】 基準信号と比較信号の位相比較を行っ
    て、位相差に応じたパルス幅の位相差信号を出力する周
    波数シンセサイザにおけるPLL回路の位相比較器にお
    いて、 前記基準信号を入力し、リセット信号により前記基準信
    号をリセットして出力する第1のラッチ回路と、 前記比較信号を入力し、リセット信号により前記比較信
    号をリセットして出力する第2のラッチ回路と、 前記第1及び第2のラッチ回路の出力を入力し、前記第
    1のラッチ回路と前記第2のラッチ回路にリセット信号
    として出力を印加する第1の論理積回路と、 前記第1のラッチ回路の出力を遅延する遅延回路と、 前記遅延回路の出力と前記第2のラッチ回路の出力とを
    入力とする第2の論理積回路と、を具備し、 前記遅延回路の出力と前記第2の論理積回路の出力を位
    相差信号とすることを特徴とする位相比較器。
JP11102931A 1999-04-09 1999-04-09 位相比較回路 Pending JP2000295097A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11102931A JP2000295097A (ja) 1999-04-09 1999-04-09 位相比較回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11102931A JP2000295097A (ja) 1999-04-09 1999-04-09 位相比較回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000295097A true JP2000295097A (ja) 2000-10-20

Family

ID=14340596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11102931A Pending JP2000295097A (ja) 1999-04-09 1999-04-09 位相比較回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000295097A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100365486B1 (ko) * 2000-02-16 2002-12-18 가부시끼가이샤 도시바 위상비교회로, 피엘엘회로, 텔레비전방송 수신기 및,위상비교방법
US6924677B2 (en) 2003-03-13 2005-08-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Phase-locked loop integrated circuits that support clock signal updates during dead zone compensation time intervals
WO2013121698A1 (ja) * 2012-02-15 2013-08-22 パナソニック株式会社 時間積分器およびδς型時間デジタル変換器

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100365486B1 (ko) * 2000-02-16 2002-12-18 가부시끼가이샤 도시바 위상비교회로, 피엘엘회로, 텔레비전방송 수신기 및,위상비교방법
US6924677B2 (en) 2003-03-13 2005-08-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Phase-locked loop integrated circuits that support clock signal updates during dead zone compensation time intervals
WO2013121698A1 (ja) * 2012-02-15 2013-08-22 パナソニック株式会社 時間積分器およびδς型時間デジタル変換器
US8941526B2 (en) 2012-02-15 2015-01-27 Panasonic Intellectual Property Management Co. Ltd. Time integrator and ΔΣ time-to-digital converter

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7302026B2 (en) Clock recovery circuit and electronic device using a clock recovery circuit
US6509776B2 (en) DLL circuit, semiconductor device using the same and delay control method
US6295328B1 (en) Frequency multiplier using delayed lock loop (DLL)
EP0283275B1 (en) Phase comparator circuit
US6225831B1 (en) Phase detector
US20060055434A1 (en) Phase frequency detector
US6066988A (en) Phase locked loop circuit with high stability having a reset signal generating circuit
JPH0993100A (ja) 位相比較器
US7538591B2 (en) Fast locking phase locked loop for synchronization with an input signal
US6366150B1 (en) Digital delay line
JPH10276086A (ja) 位相同期ループ
JP3779713B2 (ja) 半導体集積回路
JPWO2002095947A1 (ja) 半導体集積回路
US11171654B1 (en) Delay locked loop with segmented delay circuit
US5153725A (en) Automatic frequency control circuit
JP2000295097A (ja) 位相比較回路
JP2011166232A (ja) 位相検出回路およびpll回路
JP4597681B2 (ja) 時間サイクルサプレッサを用いた低ロック時間遅延ロックループ
JP3461036B2 (ja) 周波数位相比較器
US7777541B1 (en) Charge pump circuit and method for phase locked loop
JPWO2006129396A1 (ja) 周波数シンセサイザおよびこれに用いるチャージポンプ回路
JP2928485B2 (ja) 位相比較器
JP2000013222A (ja) Pll回路
JP2000349625A (ja) 位相比較器及び位相同期回路
JP2827967B2 (ja) 半導体集積回路