JP2000260178A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JP2000260178A
JP2000260178A JP11310134A JP31013499A JP2000260178A JP 2000260178 A JP2000260178 A JP 2000260178A JP 11310134 A JP11310134 A JP 11310134A JP 31013499 A JP31013499 A JP 31013499A JP 2000260178 A JP2000260178 A JP 2000260178A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 リードデータレイテンシーとライトデータレ
イテンシーとを同一にすることで、読み出し動作と書き
込み動作との間隔であるリードライトサイクルを短縮す
ることが可能である半導体記憶装置を提供することを目
的とする。 【解決手段】 取り込まれた書き込みコマンド信号に対
応するアドレス信号を保持して、取り込まれる読み出し
コマンド信号に対応するアドレス信号と比較するアドレ
ス保持比較手段6,7と、前記書き込みコマンド信号に
対応するデータ信号を保持する書き込みデータ保持手段
28とを含む構成であり、前記アドレス保持比較手段の
比較結果に応じて前記書き込みデータ保持手段に保持さ
れているデータ信号を前記読み出しコマンド信号に対応
するデータ信号として出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般の半導体記憶
装置に係り、特にクロックに同期して動作する半導体記
憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】CPUの高速化に伴って、DRAM(D
ynamic Random Access Memo
ry)等の半導体記憶装置においては、より高い信号周
波数でデータ信号の入出力を行って、データ転送速度の
高速化を図ることが要求される。この要求に応える半導
体記憶装置として、例えば、SDRAM(Synchr
onous Dynamic Random Acce
ss Memory)及びFCRAM(Fast Cy
cle Random Access Memory)
等は、外部からのクロック信号に同期して動作すること
により高速な動作を実現している。
【0003】以下、従来の半導体記憶装置として、例え
ば、FCRAMの動作について説明する。尚、SDRA
Mのメモリセル周辺の回路構成は、図1に示す回路構成
と同様である。図1は、FCRAMのメモリセル周辺の
一例の回路構成を示す。図1の回路は、容量501、N
MOSトランジスタ502ないし512、PMOSトラ
ンジスタ513、PMOSトランジスタ521及び52
2、及びNMOSトランジスタ523及び524を含
む。PMOSトランジスタ521及び522とNMOS
トランジスタ523及び524は、センスアンプ520
を構成する。
【0004】メモリセルである容量501には、1ビッ
トの情報が記憶される。サブワード線選択信号SWが選
択されると、セルゲートであるNMOSトランジスタ5
02が導通し、容量501のデータがビット線BLに読
み出される。このときビット線トランスファー信号BL
T1はHIGHになっており、NMOSトランジスタ5
03及び504は導通状態にある。一方、ビット線トラ
ンスファー信号BLT0はLOWになっており、NMO
Sトランジスタ505及び506は非導通状態にある。
【0005】従ってビット線BL及び/BLのデータ
は、NMOSトランジスタ503及び504を介して、
センスアンプ520に読み込まれる。センスアンプ52
0は、ビット線BL及び/BLのデータを増幅する。増
幅されたビット線BL及び/BLのデータは、コラム線
選択信号CLが選択されると、コラムゲートであるNM
OSトランジスタ510及び511を介して、データバ
スDB及び/DBに読み出される。
【0006】データ書き込みの場合は、上記読み出しの
場合と逆の手順を経て、データバスDB及び/DBのデ
ータが容量501に記憶される。図2は、上記図1に示
すメモリセル周辺の回路を有するFCRAMのデータ読
出し動作を示すタイミングチャートである。図1及び図
2を参照して、データ読み出しのタイミング制御につい
て説明する。尚、読出しデータのバースト長は、バース
ト長BL=4とする。
【0007】アクティベーションコマンド(ACT)が
入力されると、FCRAMは、内部で、各メモリセル2
01のデータを各センスアンプ220に取り込むことを
指令する信号であるRASZを生成し、更にワード線選
択信号MW及びSW、ビット線トランスファー信号BL
T、及びセンスアンプ駆動信号SA1及びSA2を適切
なタイミングで生成する。これにより、メモリセル20
1のデータは、ビット線BLに現われ、センスアンプ2
20に取り込まれ、更にセンスアンプ220内で振幅が
増幅される。
【0008】更にFCRAMでは、信号RASZを受け
取ってから所定の時間が経過した後に、内部プリチャー
ジ信号PREを生成する。また、読み出しコマンド(R
D)の入力に対応して、コラムアドレスが選択するコラ
ムのコラム線選択信号CLがHIGHになり、センスア
ンプ220のデータがデータバスDB及び/DBに読み
出される。読み出されたデータは、4ビットのパラレル
データであり、このデータがシリアルデータに変換さ
れ、読出しデータDQとして、外部に出力される。
【0009】上記のデータ読出し動作を繰り返し実行し
た場合、FCRAMでは、ランダムアクセスのリードサ
イクルが短いため、例えば、バースト長BL=4のとき
は、図2に示す様に、連続した途切れのないデータ読出
しを実現している。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
FCRAMは、読み出し動作又は書き込み動作を繰り返
し実行する場合、効率良く読み出し動作又は書き込み動
作が可能である。しかしながら、読み出し動作と書き込
み動作とが交互に連続して実行される場合は、読み出し
動作又は書き込み動作を繰り返し実行する場合のように
効率良く読み出し動作又は書き込み動作ができない。
【0011】以下、図3を利用して読み出し動作と書き
込み動作とが交互に連続して実行される場合に効率良く
読み出しできない理由について説明する。図3は、半導
体記憶装置の読み出し動作と書き込み動作とを交互に連
続して実行する動作を示す一例のタイミングチャートを
示す。図3(A)に示すように、読み出し動作を実行す
る場合、リードコマンド(R)からリードデータ出力
(Q)までに一定の時間が必要である。一般に、リード
コマンドからリードデータ出力までの時間をクロックの
整数倍で規定したものにクロック周期を乗じたものをリ
ードデータレイテンシーという。
【0012】また、書き込み動作を実行する場合に、ラ
イトコマンド(W)からライトデータ入力(D)までの
時間をクロックの整数倍で規定したものにクロック周期
を乗じたものをライトデータレイテンシーという。従
来、書き込みデータはライトコマンド(W)と共に入力
されるのが通例であり、ライトデータレイテンシーが”
0”である。したがって、図3(A)に示すように、リ
ードコマンド(R)入力後にライトコマンド(W)を入
力するためには、そのリードコマンド(R)に対応する
リードデータ出力(Q)が終了した後でなければならな
い。したがって、リードコマンド(R)からライトコマ
ンド(W)までの間隔は、図3(A)の例の場合、9ク
ロック必要である。
【0013】また、図3(A)に示すように、ライトコ
マンド(W)入力後にリードコマンド(R)を入力する
ためには、そのライトコマンド(W)に対応するライト
データがメモリセルに格納された後でなければならな
い。したがって、ライトコマンド(W)からリードコマ
ンド(R)までの間隔は、図3(A)の例の場合、6ク
ロック必要である。
【0014】したがって、図3(A)の例では、リード
コマンド(R)とライトコマンド(W)との間隔である
リードライトサイクルが15クロックとなる。次に、リ
ードデータレイテンシーとライトデータレイテンシーと
を同一にした場合について、図3(B)を利用して説明
する。図3(B)の場合、一般的な他バンク間のリード
コマンド(R)とライトコマンド(W)との最小許容時
間(lRC)までリードコマンド(R)とライトコマン
ド(W)とを詰めることが可能となる。
【0015】これは、リードデータレイテンシーとライ
トデータレイテンシーとが同一であるため、リードコマ
ンド(R)に対応するリードデータ出力(Q)が終了し
た後でライトコマンド(W)に対応するライトデータ入
力(D)が実行されるからである。しかしながら、ライ
トコマンド(W)入力後にリードコマンド(R)を入力
するためには、そのライトコマンド(W)に対応するラ
イトデータがメモリセルに格納された後でなければなら
ない。したがって、ライトコマンド(W)からリードコ
マンド(R)までの間隔は、図3(B)の例の場合、1
2クロック必要である。
【0016】したがって、図3(B)の例では、リード
コマンド(R)とライトコマンド(W)との間隔である
リードライトサイクルが16クロックとなる。以上のよ
うに、読み出し動作と書き込み動作とが交互に連続して
実行される場合は、読み出し動作又は書き込み動作を繰
り返し実行する場合のように効率良く読み出し動作又は
書き込み動作ができない。
【0017】本発明は、上記の点に鑑みなされたもの
で、リードデータレイテンシーとライトデータレイテン
シーとを同一にすることで、読み出し動作と書き込み動
作との間隔であるリードライトサイクルを短縮すること
が可能である半導体記憶装置を提供することを目的とす
る。
【0018】
【課題を解決するための手段】そこで、上記課題を解決
するため、請求項1記載の発明は、クロック信号に同期
して動作する半導体記憶装置において、取り込まれた書
き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を保持し
て、取り込まれる読み出しコマンド信号に対応するアド
レス信号と比較するアドレス保持比較手段と、前記書き
込みコマンド信号に対応するデータ信号を保持する書き
込みデータ保持手段とを含む構成であり、前記アドレス
保持比較手段の比較結果に応じて前記書き込みデータ保
持手段に保持されているデータ信号を前記読み出しコマ
ンド信号に対応するデータ信号として出力することを特
徴とする。
【0019】このように、書き込みコマンド信号に対応
するアドレス信号及びデータ信号を保持して、書き込み
コマンド信号に対応するアドレス信号と読み出しコマン
ド信号に対応するアドレス信号とを比較することによ
り、書き込みコマンド直後にその書き込みコマンドに対
応したデータ信号を読み出しコマンドにより読み出す場
合に対応できる。これは、書き込みコマンド信号に対応
するアドレス信号と読み出しコマンド信号に対応するア
ドレス信号との比較結果に基づいて、保持されている書
き込みコマンド信号に対応するデータ信号を読み出しコ
マンドに対応するデータとして出力することが出来るか
らである。したがって、読み出し動作と書き込み動作と
の間隔であるリードライトサイクルを短縮することがで
きる。
【0020】また、請求項2記載の発明は、前記書き込
みコマンド信号の取り込みタイミングから、次のコマン
ド信号である読み出しコマンド信号の取り込みタイミン
グまでの間隔は、前記書き込みコマンド信号の取り込み
タイミングから、次のコマンド信号である書き込みコマ
ンド信号の取り込みタイミングまでの間隔と同一とする
ことを特徴とする。
【0021】このように、コマンド信号の入力間隔が常
に最小値で一定であり、読み出しコマンド信号−読み出
しコマンド信号,書き込みコマンド信号−書き込みコマ
ンド信号,読み出しコマンド信号−書き込みコマンド信
号,及び書き込みコマンド信号−読み出しコマンド信号
の入力間隔が常に最小値で一定である。したがって、読
み出し動作と書き込み動作との間隔であるリードライト
サイクルを短縮することが可能である。
【0022】また、請求項3記載の発明は、前記書き込
みデータ保持手段は、前記アドレス保持比較手段による
比較結果がアドレス信号の同一を示すとき、前記保持し
ている書き込みコマンド信号に対応するデータを、前記
読み出しコマンド信号に対応するデータ信号として出力
することを特徴とする。このように、アドレス保持比較
手段による比較結果がアドレス信号の同一を示すとき
は、すなわち書き込みコマンド信号に対応するアドレス
信号と読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号と
が同一であることを示している。つまり、リードコマン
ドに対応するデータ信号は書き込みデータ保持手段に保
持されているデータである。したがって、メモリセルか
らデータを読み出すことなく、書き込みデータ保持手段
からリードコマンド信号に対応するデータ信号を出力す
ることができる。
【0023】また、請求項4記載の発明は、前記書き込
みデータ保持手段は、前記保持している書き込みコマン
ド信号に対応するデータの一部に書き込みを禁止するラ
イトマスク機能が使用されているとき、前記ライトマス
ク機能が使用されていないデータ部分のみを前記読み出
しコマンド信号に対応するデータ信号として出力するこ
とを特徴とする。
【0024】このように、ライトマスク機能が使用され
ているデータ部分がある場合、書き込みデータ保持手段
により保持している書き込みコマンド信号に対応するデ
ータの内、ライトマスク機能が使用されていないデータ
部分のみを前記読み出しコマンド信号に対応するデータ
信号として出力することにより、ライトマスク機能を使
用するときもライトコマンド信号による書き込み処理の
終了を待たずにリードコマンド信号による読み出し処理
を開始できる。
【0025】また、請求項5記載の発明は、クロック信
号に同期して動作する半導体記憶装置において、取り込
まれた複数の書き込みコマンド信号に対応する複数のア
ドレス信号を保持して、取り込まれる読み出しコマンド
信号に対応するアドレス信号と比較するアドレス保持比
較手段と、前記複数の書き込みコマンド信号に対応する
複数のデータ信号を保持する書き込みデータ保持手段と
を含む構成であり、前記アドレス保持比較手段の比較結
果に応じて前記書き込みデータ保持手段に保持されてい
るデータ信号を前記読み出しコマンド信号に対応するデ
ータ信号として出力することを特徴とする。
【0026】このように、書き込みコマンド信号に対応
する複数のアドレス信号及び複数のデータ信号を保持し
て、書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号と読
み出しコマンド信号に対応するアドレス信号とを比較す
ることにより、書き込みコマンド直後にその書き込みコ
マンドに対応したデータ信号を読み出しコマンドにより
読み出す場合に対応できる。これは、書き込みコマンド
信号に対応するアドレス信号と読み出しコマンド信号に
対応するアドレス信号との比較結果に基づいて、保持さ
れている書き込みコマンド信号に対応するデータ信号を
読み出しコマンドに対応するデータとして出力すること
が出来るからである。
【0027】また、書き込みコマンド信号に対応する複
数のアドレス信号及び複数のデータ信号を保持すること
により、書き込みコマンド信号が取り込まれてから実際
にメモリセルへのデータ信号の書き込み処理が終了する
までの時間が長くなったとしても、書き込みコマンド直
後にその書き込みコマンドに対応したデータ信号を読み
出しコマンドにより読み出すことが可能となる。
【0028】また、請求項6記載の発明は、クロック信
号に同期して動作する半導体記憶装置において、取り込
まれた2つの書き込みコマンド信号に対応する2つのア
ドレス信号を保持して、取り込まれる読み出しコマンド
信号に対応するアドレス信号と比較するアドレス保持比
較手段と、前記2つの書き込みコマンド信号に対応する
2つのデータ信号を保持する書き込みデータ保持手段と
を含む構成であり、前記アドレス保持比較手段の比較結
果に応じて前記書き込みデータ保持手段に保持されてい
るデータ信号を前記読み出しコマンド信号に対応するデ
ータ信号として出力することを特徴とする。
【0029】このように、書き込みコマンド信号に対応
する2つのアドレス信号及び2つのデータ信号を保持し
て、書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号と読
み出しコマンド信号に対応するアドレス信号とを比較す
ることにより、書き込みコマンド直後にその書き込みコ
マンドに対応したデータ信号を読み出しコマンドにより
読み出す場合に対応できる。これは、書き込みコマンド
信号に対応するアドレス信号と読み出しコマンド信号に
対応するアドレス信号との比較結果に基づいて、保持さ
れている書き込みコマンド信号に対応するデータ信号を
読み出しコマンドに対応するデータとして出力すること
が出来るからである。
【0030】また、書き込みコマンド信号に対応する2
つのアドレス信号及び2つのデータ信号を保持すること
により、書き込みコマンド信号が取り込まれてから実際
にメモリセルへのデータ信号の書き込み処理が終了する
までの時間が長くなったとしても、書き込みコマンド直
後にその書き込みコマンドに対応したデータ信号を読み
出しコマンドにより読み出すことがが可能となる。
【0031】これは、書き込みコマンド信号に対応する
2つのデータ信号を保持して、その2つのデータ信号を
交互に読み出すことにより、メモリセルへのデータ信号
の書き込み処理が終了するまでの時間が長くなったとし
ても処理が行えるようにしているためである。したがっ
て、読み出し動作と書き込み動作との間隔であるリード
ライトサイクルを短縮することができる。
【0032】また、請求項7記載の発明は、前記アドレ
ス保持比較手段は、前回の書き込みコマンド信号に対応
するアドレス信号を保持する第一アドレス保持部と、前
々回の書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を
保持する第二アドレス保持部とを有することを特徴とす
る。このように、前回の書き込みコマンド信号に対応す
るアドレス信号を第一アドレス保持部に保持しておき、
前々回の書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号
を第二アドレス保持部に保持しておくことにより、書き
込みコマンド直後にメモリセルに格納する必要がなく、
二つ後の書き込みコマンドのときにメモリセルに格納す
れば良い。したがって、比較的時間のかかるメモリセル
へのデータの書き込み終了を待つことなく、次の読み出
しコマンドを取り込むことが可能となる。
【0033】また、請求項8記載の発明は、前記書き込
みデータ保持手段は、前回又は前々回の書き込みコマン
ド信号のどちらか一方に対応するデータ信号を保持する
第一書き込みデータ保持手段と、前回又は前々回の書き
込みコマンド信号のうち第一書き込みデータ保持手段に
書き込まれている他方の書き込みコマンド信号に対応す
るデータ信号を保持する第二書き込みデータ保持手段と
を有し、前記アドレス保持比較手段による比較結果がア
ドレス信号の同一を示すとき、前記第一書き込みデータ
保持手段又は第二書き込みデータ保持手段のどちらか一
方に保持している前回の書き込みコマンド信号に対応す
るデータを、前記読み出しコマンド信号に対応するデー
タ信号として出力することを特徴とする。
【0034】このように、アドレス保持比較手段による
比較結果がアドレス信号の同一を示すときは、すなわち
読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号と前回の
書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号とが同一
であることを示している。つまり、リードコマンドに対
応するデータ信号は第一又は第二書き込みデータ保持手
段に保持されているデータである。したがって、メモリ
セルからデータを読み出すことなく、第一又は第二書き
込みデータ保持手段からリードコマンド信号に対応する
データ信号を出力することができる。
【0035】また、請求項9記載の発明は、前記書き込
みコマンドはページモードの書き込みコマンドであり、
前記読み出しコマンドはページモードの読み出しコマン
ドであることを特徴とする。ページモードであっても、
前述した作用、効果が得られる。例えば、請求項記載の
発明におけるページモードの場合、ページモードの書き
込みコマンド信号に対応するアドレス信号及びデータを
保持して、ページモードの書き込みコマンド信号に対応
するアドレス信号とページモードの読み出しコマンド信
号に対応するアドレス信号とを比較することにより、ペ
ージモードの書き込みコマンド直後にその書き込みコマ
ンドに対応したデータをページモードの読み出しコマン
ドにより読み出す場合に対応できる。これは、ページモ
ードの書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号と
ページモードの読み出しコマンド信号に対応するアドレ
ス信号との比較結果に基づいて、保持されているページ
モードの書き込みコマンド信号に対応するデータをペー
ジモードの読み出しコマンドに対応するデータとして出
力することが出来るからである。したがって、ページモ
ードにおいて読み出し動作と書き込み動作との間隔であ
るリードライトサイクルを短縮することができる。
【0036】請求項10記載の発明は、前記アドレス保
持比較手段は、次のページモードの書き込みコマンド又
はページモードの終了コマンドが取り込まれるまで、前
記取り込まれたページモードの書き込みコマンドに対応
するアドレス信号を保持することを特徴とする。これに
より、ページモードの書き込みコマンド信号に対応する
アドレス信号を次のページモードの書き込みコマンド信
号又はページモードの終了コマンド信号が取り込まれる
まで保持しておくことにより、ページモードの書き込み
コマンド直後にデータをメモリセルに格納する必要がな
く、次のページモードの書き込みコマンド又はページモ
ードの終了コマンド信号のときにデータをメモリセルに
格納すれば良い。したがって、比較的時間のかかるメモ
リセルへのデータの書き込み終了を待つことなく、次の
ページモードの読み出しコマンドを取り込むことが可能
となる。
【0037】請求項11に記載の発明は、前記データ保
持手段は、半導体記憶装置内の複数の各バンク毎に設け
られていることを特徴とする。バンク毎の制御が容易に
なる。請求項12に記載の発明は、ライトデータレイテ
ンシーとリードデータレイテンシーとは異なることを特
徴とする。データバスとのインタフェースを入出力共通
にした場合、入出力データの衝突を容易に回避すること
ができる。
【0038】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面と共に説明する。最初に、本発明の概要につい
て、タイミングチャートを利用して説明する。図4は、
本発明の半導体記憶装置の読み出し動作と書き込み動作
とを交互に連続して実行する動作を示す一例のタイミン
グチャートを示す。
【0039】図4のタイミングチャートでは、リードデ
ータレイテンシーとライトデータレイテンシーとを同一
とし、一般的な他バンク間のリードコマンド(R)とラ
イトコマンド(W)との最小許容時間(lRC)までリ
ードコマンド(R)とライトコマンド(W)とを詰めて
いる。この場合、従来のFCRAMの回路構成において
は、ライトコマンド(W)入力後にリードコマンド
(R)を入力するためには、そのライトコマンド(W)
に対応するライトデータがメモリセルに格納された後で
なければならなかった。これは、同一バンク内におい
て、ライトコマンド(W)直後に、そのライトコマンド
(W)に対応したライトデータをリードコマンド(R)
により読み出す場合があるからである。
【0040】そこで、本発明はライトコマンド(W)に
対応したライトデータを次のライトコマンド(W)まで
保持しておくライトデータバッファを設けると共に、そ
のライトデータのアドレス信号をラッチしておくアドレ
スラッチ回路含む構成としている。このアドレスラッチ
回路は、ライトコマンド(W)のアドレス信号とリード
コマンド(R)のアドレス信号とを比較して、アドレス
信号が同一である場合にメモリセルからでなくライトデ
ータバッファからデータを読み出すための信号を生成し
ている。
【0041】以上のような回路構成とすることにより、
同一バンク内において、ライトコマンド(W)直後に、
そのライトコマンド(W)に対応したライトデータをリ
ードコマンド(R)により読み出す場合であっても、リ
ードコマンド(R)とライトコマンド(W)との最小許
容時間(lRC)までライトコマンド(W)とリードコ
マンド(R)とを詰めることが可能となる。
【0042】以下、本発明の半導体記憶装置の実施例に
ついて、詳細に説明する。図5は、本発明の半導体記憶
装置の第一実施例のブロック図を示す。尚、FCRAM
とSDRAMとは、メモリセル周辺の回路構成が同様で
あるので、本発明の実施例として、FCRAMを具体例
とする。本発明のFCRAMは、クロックバッファ1、
コマンドデコーダ2、コントロール信号バッファ3、ロ
ーアドレスバッファ4、コラムアドレスバッファ5、ア
ドレスラッチ&比較器6,7、モードレジスタ8、デー
タレイテンシーカウンタ9、データ変換器10,12、
データ入力バッファ11、データ出力バッファ13、バ
ンク(0)用回路14、及びバンク(1)用回路15を
含む構成とする。
【0043】また、バンク(0)用回路14とバンク
(1)用回路15との内には、それぞれマトリクス状に
配置されたメモリセルを含む複数のメモリブロック、R
AS生成ユニット16、PRE生成ユニット17、コン
トロールユニット18、ブロックデコーダ19、プリデ
コーダ20−1,20−2、ワードデコーダ21、1/
4デコーダ22、BLTデコーダ23、S/A生成ユニ
ット24、コラムデコーダ25、コントロールユニット
26、リードライトバッファ27、ライトデータバッフ
ァ28、コア回路29を含む。
【0044】尚、本実施例のメモリセルは、例えばDR
AM型のセル構造を有し、更に本実施例のメモリセル周
辺の回路構成は、前述した図1と同様の構成とする。ま
た、図5に示す本実施例は、説明の便宜上2バンク構成
として図示するが、FCRAM内のバンク構成はこれに
限らない。上記、本発明のFCRAMを構成する各部の
機能について簡単に説明する。クロックバッファ1は、
外部からのクロック信号(CLK)が入力され、FCR
AMを構成する各部に同期クロックCLKを供給する。
コントロール信号バッファ3は、外部からのコマンド、
例えば、読み出しコマンド(WE)、書き込みコマンド
(/WE)、チップセレクト信号(/CS)等が入力さ
れ、コマンドデコーダ2に必要な信号を供給する。な
お、/は負論理の信号を表し、その他は正論理の信号を
表す。
【0045】コマンドデコーダ2は、コントロール信号
バッファ3から供給された信号をデコードして後述する
バンク(0)用回路14,バンク(1)用回路15,ア
ドレスラッチ&比較器6,7,データレイテンシーカウ
ンタ9等に通知する。ローアドレスバッファ4及びコラ
ムアドレスバッファ5は、外部からのアドレス信号(A
0〜An,B0〜Bn)を入力され、それぞれアドレス
ラッチ&比較器6,7にアドレス信号を供給する。尚、
変数nはメモリ容量に応じた整数とする。
【0046】アドレスラッチ&比較器6,7は、ライト
コマンド時とリードコマンド時とではその動作が異なっ
ている。ライトコマンド時、アドレスラッチ&比較器6
は、ローアドレスバッファ4から供給されたローアドレ
ス信号をラッチし、次のライトコマンド時にそのラッチ
されたローアドレス信号を利用して後述するライトデー
タバッファ28に保持されているデータをコア回路29
部分に書き込む。
【0047】リードコマンド時、アドレスラッチ&比較
器6はローアドレスバッファ4から供給されたローアド
レス信号と、前回のライトコマンド時にラッチされたロ
ーアドレス信号とを比較し、同一の場合にはライトデー
タバッファ28にラッチされているデータをリードコマ
ンドに対応するデータとして出力する。また、アドレス
ラッチ&比較器6はローアドレスバッファ4から供給さ
れたローアドレス信号と、前回のライトコマンド時にラ
ッチされたローアドレス信号とを比較し、異なる場合に
は、今回のリードコマンド時に供給されたローアドレス
信号をそのままプリデコーダ20−1に供給する。した
がって、そのリードコマンドに対応するデータがメモリ
セルから読み出される。
【0048】続いて、アドレスラッチ&比較器7につい
て説明する。ライトコマンド時、アドレスラッチ&比較
器7は、コラムアドレスバッファ5から供給されたコラ
ムアドレス信号をラッチし、次のライトコマンド時にそ
のラッチされたコラムアドレス信号を利用して後述する
ライトデータバッファ28に保持されているデータをコ
ア回路29部分に書き込む。
【0049】リードコマンド時、アドレスラッチ&比較
器7はコラムアドレスバッファ5から供給されたコラム
アドレス信号と、前回のライトコマンド時にラッチされ
たコラムアドレス信号とを比較し、同一の場合にはライ
トデータバッファ28にラッチされているデータをリー
ドコマンドに対応するデータとして出力する。また、ア
ドレスラッチ&比較器7はコラムアドレスバッファ5か
ら供給されたコラムアドレス信号と、前回のライトコマ
ンド時にラッチされたコラムアドレス信号とを比較し、
異なる場合には、今回のリードコマンド時に供給された
コラムアドレス信号をそのままプリデコーダ20−2に
供給する。したがって、そのリードコマンドに対応する
データがメモリセルから読み出される。
【0050】モードレジスタ8は、内部に使用するバー
スト長情報を生成する。データレイテンシーカウンタ9
は、モードレジスタ8から供給されるバースト長情報に
基づいてデータレイテンシーを計時する。データ変換器
10は、外部からのデータ信号がデータ入力バッファ1
1を介して供給され、その供給された信号を変換してラ
イトデータバッファ28に供給する。また、データ変換
器12は、後述するリードライトバッファ27又はライ
トデータバッファ28からデータが供給され、その供給
されたデータを変換してデータ出力バッファ13を介し
て外部に出力する。なお、データ変換器10,12は、
データレイテンシーカウンタ9から供給される信号に基
づいて適切なタイミングで処理を行う。
【0051】本実施例では、データ入力バッファ11及
びデータ出力バッファ13は、入力ピンと出力ピンとが
共通であるI/Oコモン形式のインターフェースにより
外部と接続されているが、入力ピンと出力ピンとが別々
に設けられているI/Oセパレート形式のインターフェ
ースにより外部と接続することも可能である。次に、ロ
ーアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5に
選択される各バンク内の構成及び機能について説明す
る。ここでは、図示のバンク(0)用回路14について
のみ説明し、同様の構成を有するバンク(1)用回路1
5の構成及び機能については、同一の符号を付して説明
を省略する。
【0052】バンク(0)用回路14において、RAS
生成ユニット16は、複数のメモリブロック内の各メモ
リセルのデータを対応するセンスアンプに読み出すこと
を指令する信号RASZを生成する。また、PRE生成
ユニット17は内部RAS信号である信号RASZを受
取ると、所定の時間が経過した後にプリチャージ信号P
REを生成する。この内部生成されたプリチャージ信号
PREは、外部からプリチャージ信号PREが供給され
た場合と同様に、RAS生成ユニット16をリセットし
てプリチャージ動作を行わせる。この内部生成されたプ
リチャージ信号PREによるプリチャージ動作が自己プ
リチャージである。
【0053】プリデコーダ20−1は、アドレスラッチ
&比較器6から供給されたローアドレス信号をプリデコ
ードする。プリデコード結果は、ブロックデコーダ19
に供給されると共に、ワードデコーダ21,1/4デコ
ーダ22,BLTデコーダ23,及びS/A生成ユニッ
ト24に供給される。ブロックデコーダ19は、FCR
AM内に配置された複数のメモリブロックの一つを選択
する。この選択されたメモリブロックにおいてのみ、ワ
ードデコーダ21、1/4デコーダ22,BLTデコー
ダ23,及びS/A生成ユニット24が作動し、コア回
路29内でデータをメモリセルから読み出してセンスア
ンプに格納する。
【0054】コア回路29は、図1に示すメモリセル5
01がロー及びコラムに関してアレイ状に配置されたも
のであり、各コラム毎に図1のセンスアンプ520が設
けられる。上記ローアドレス信号による読み出し動作に
よって、ローアドレス信号で選択されたワード線に対応
する複数のメモリセルのデータが、複数のセンスアンプ
520に格納される。
【0055】プリデコーダ20−2は、アドレスラッチ
&比較器7から供給されたコラムアドレス信号をプリデ
コードする。プリデコード結果は、コラムデコーダ25
に供給されると共に、1/4デコーダ22,S/A生成
ユニット24,及びコントロール回路26に供給され
る。コラムデコーダ25は、コラムアドレス信号で指定
されるコラムに対してコラム線選択信号CLを供給し、
そのコラムのセンスアンプ520からデータを読み出し
て、リードライトバッファ27に供給する。
【0056】ワードデコーダ21は、コントロールユニ
ット18の制御に基づいて、ワード線選択信号を生成す
る。1/4デコーダ22は、従来からある階層ワードデ
コード方式において、選択されたメインワードデコーダ
に従属する4つのサブワードデコーダから、一つのサブ
ワードデコーダを選択するためのデコーダである。BL
Tデコーダ23は、コントロールユニット18の制御に
基づいて、ビット線トランスファー信号を生成する。ま
た、S/A生成ユニット24は、コントロールユニット
18の制御に基づいて、センスアンプ駆動信号SA1及
びSA2を生成する。
【0057】コントロールユニット26は、アドレスラ
ッチ&比較器6,7から供給される信号に基づいてリー
ドライトバッファ27及びライトデータバッファ28を
制御する。ライトコマンド時、コントロールユニット2
6は前回のライトコマンド時にライトデータバッファ2
8に格納されたデータをリードライトバッファ27を介
してコア回路29に供給する。また、ライトデータバッ
ファ28は、今回のライトコマンドによりデータ変換器
10から供給されたデータを保持する。
【0058】リードコマンド時、コントロールユニット
26はアドレスラッチ&比較器6,7から前回のライト
コマンド時に供給されたローアドレス信号及びコラムア
ドレス信号と今回のリードコマンド時に供給されたロー
アドレス信号及びコラムアドレス信号とが同一であるか
否かの信号が供給される。同一であることを示す信号が
供給されると、コントロールユニット26はライトデー
タバッファ28に保持されているデータを読み出し、デ
ータ変換器12に供給する。
【0059】また、同一でないことを示す信号が供給さ
れると、コントロールユニット26は通常の読み出し処
理をリードライトバッファ27に行わせる。具体的に
は、コントロールユニット26は、データをセンスアン
プ520から読み出してリードライトバッファ27に供
給し、その読み出したデータをデータ変換器12に供給
する。
【0060】以上に述べた、アドレスラッチ&比較器
6,7,コントロールユニット26,リードライトバッ
ファ27,及びライトデータバッファ28は本願発明の
特有な処理を行う構成部分である。この構成部分を有す
ることにより、ライトコマンド(W)とリードコマンド
(R)とを一般的な他バンク間のリードコマンド(R)
とライトコマンド(W)との最小許容時間(lRC)ま
で詰めることが可能となる。
【0061】以下、第一実施例における半導体記憶装置
の動作タイミングについて、動作タイミング図に基づい
て説明する。図6は、第一実施例における半導体記憶装
置のライト連続動作時の一例の動作タイミング図を示
す。尚、クロック信号の周期は、図4に示すクロック信
号の周期の2倍であり、そのリードデータレイテンシー
及びライトデータレイテンシーが同一であるものとす
る。
【0062】コマンドデコーダ2にライトコマンドが入
力され、ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバ
ッファ5にアドレス信号(B)が入力されると、アドレ
スラッチ&比較器6,7は、前回のライトコマンド時に
ラッチしたアドレス信号(A)をバンク(0)用回路1
4内に含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給
すると共に、今回のライトコマンドのアドレス信号
(B)をラッチする。
【0063】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(A)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(A)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ライトコマンドに対応して、データ入力バッ
ファ11に入力されたデータ(A)は、データ変換器1
0を介してライトデータバッファ28に供給され、続い
てライトデータバッファ28からリードライトバッファ
27に供給される。
【0064】次に、プリデコードされたアドレス信号
(A)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27に保持されているデータ
(A)がビット線BL及び/BLを介して容量501に
記憶される。以上のような処理を繰り返すことによりラ
イト連続動作が行われる。図7は、第一実施例における
半導体記憶装置のライト・リード・リード・ライト連続
動作時の一例の動作タイミング図を示す。尚、クロック
信号の周期は、図4に示すクロック信号の周期の2倍で
あり、そのリードデータレイテンシー及びライトデータ
レイテンシーが同一であるものとする。また、図7のラ
イトコマンド及びリードコマンドは、同一バンクに対す
るコマンドであるものとする。
【0065】コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラム
アドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入力される
と、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回のライトコ
マンド時にラッチしたアドレス信号(A)をバンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給すると共に、今回のライトコマンドのア
ドレス信号(B)をラッチする。
【0066】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(A)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(A)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ライトコマンドに対応してデータ入力バッフ
ァ11に入力されたデータ(A)は、データ変換器10
を介してライトデータバッファ28に供給され、ライト
データバッファ28からリードライトバッファ27に供
給される。
【0067】次に、プリデコードされたアドレス信号
(A)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27に保持されているデータ
(A)がビット線BL及び/BLを介して容量501に
記憶される。ライトコマンド(B)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にリードコマンド(C)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(C)が入力されると、アドレスラッチ
&比較器6,7は、前回のライトコマンド(B)時にラ
ッチしたアドレス信号(B)と今回のリードコマンド
(C)で供給されたアドレス信号(C)とを比較する。
【0068】比較の結果、アドレス信号(B)とアドレ
ス信号(C)とが異なるので、今回のリードコマンド
(C)時に供給されたアドレス信号(C)をバンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給する。尚、アドレスラッチ&比較器6,
7はコマンドデコーダ2に前回のリードコマンドと同一
バンクに対するリードコマンドが入力された場合、前回
のライトコマンド時にラッチしたアドレス信号をそのま
まラッチしておく。
【0069】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(C)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(C)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ライトコマンドに対応してデータ入力バッフ
ァ11に入力されたデータ(B)は、データ変換器10
を介してライトデータバッファ28に供給される。
【0070】次に、プリデコードされたアドレス信号
(C)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、容量501のデータがビット線BL及び/BLに読
み出され、コラムゲートであるNMOSトランジスタ5
10及び511を介して、データバスDB及び/DBに
読み出される。そして、データバスDB及び/DBに読
み出されたデータ(C)は、リードライトバッファ27
に供給され、データ変換器12を介してデータ出力バッ
ファ13から外部に出力される。尚、ライトデータバッ
ファ28は、前回のライトコマンドにより供給されたデ
ータ(B)を、そのまま保持しておく。
【0071】リードコマンド(C)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にリードコマンド(D)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(D)が入力されると、アドレスラッチ
&比較器6,7は、前回のライトコマンド(B)時にラ
ッチしたアドレス信号(B)と今回のリードコマンド
(D)で供給されたアドレス信号(D)とを比較する。
【0072】比較の結果、アドレス信号(B)とアドレ
ス信号(D)とが異なるので、今回のリードコマンド
(D)時に供給されたアドレス信号(D)をバンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給する。尚、アドレスラッチ&比較器6,
7はコマンドデコーダ2に前回のライトコマンドと同一
バンクに対するリードコマンドが入力された場合、前回
のライトコマンド時にラッチしたアドレス信号をそのま
まラッチしておく。
【0073】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(D)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(D)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。
【0074】次に、プリデコードされたアドレス信号
(D)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、容量501のデータがビット線BL及び/BLに読
み出され、コラムゲートであるNMOSトランジスタ5
10及び511を介して、データバスDB及び/DBに
読み出される。そして、データバスDB及び/DBに読
み出されたデータ(D)は、リードライトバッファ27
に供給され、データ変換器12を介してデータ出力バッ
ファ13から外部に出力される。
【0075】リードコマンド(D)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にライトコマンド(E)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(E)が入力されると、アドレスラッチ
&比較器6,7は、前回のライトコマンド時にラッチし
たアドレス信号(B)をバンク(0)用回路14内に含
まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給すると共
に、今回のライトコマンドのアドレス信号(E)をラッ
チする。
【0076】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(B)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(B)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。次に、プリデコードされたアドレス信号(B)に基
づいてコラム線選択信号CLが選択されると、リードラ
イトバッファ27に保持されているデータ(B)がビッ
ト線BL及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0077】以上、図7は第一実施例における半導体記
憶装置のライト・リード・リード・ライト連続動作時の
一例の動作タイミング図であるが、ライトコマンドの後
にそのライトコマンドとは異なるバンク(他バンク)に
対するリードコマンドが供給される場合が含まれていな
い。続いて、図8を利用して、ライトコマンドの後にそ
のライトコマンドとは異なるバンク(他バンク)に対す
るリードコマンドが供給される場合の動作タイミングに
ついて説明する。
【0078】図8は、第一実施例における半導体記憶装
置のライト・リード・リード・ライト連続動作時の一例
の動作タイミング図を示す。尚、クロック信号の周期
は、図4に示すクロック信号の周期の2倍であり、その
リードデータレイテンシー及びライトデータレイテンシ
ーが同一であるものとする。また、図8中、例えば「A
dd.B for0」はバンク(0)用回路に対するア
ドレス信号(B)であることを示す。同様に、各回路構
成部分の名称の最後に添付されている数字は、バンク
(0)用回路またはバンク(1)用回路のどちらに含ま
れているかを示し、例えば「R/W buffer0」
の場合、バンク(0)用回路に含まれる回路構成部分で
あることを示す。
【0079】コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラム
アドレスバッファ5にバンク(0)用回路に対するアド
レス信号(B)が入力されると、バンク(0)用回路に
対するアドレスラッチ&比較器6,7は、前回のライト
コマンド時にラッチしたアドレス信号(A)をバンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給すると共に、今回のライトコマンドのア
ドレス信号(B)をラッチする。
【0080】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(A)を供給されたバンク(0)用回路に含まれ
るプリデコーダ20−1,20−2は、アドレス信号
(A)をプリデコードし、ブロックデコーダ19に供給
すると共に、ワードデコーダ21,1/4デコーダ2
2,BLTデコーダ23,S/A生成ユニット24,及
びコラムデコーダ25等に供給する。また、ライトコマ
ンドに対応してデータ入力バッファ11に入力されたデ
ータ(A)は、データ変換器10を介してバンク(0)
用回路に含まれるライトデータバッファ28に供給さ
れ、ライトデータバッファ28からリードライトバッフ
ァ27に供給される。
【0081】次に、プリデコードされたアドレス信号
(A)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27に保持されているデータ
(A)がビット線BL及び/BLを介して容量501に
記憶される。また、ライトコマンドに対応してデータ入
力バッファ11に入力されたデータ(B)は、データ変
換器10を介してバンク(0)用回路14に含まれるラ
イトデータバッファ28に供給される。
【0082】ライトコマンド(B)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にリードコマンド(C)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にバンク(1)用回路に対するアドレス信号(C)が入
力されると、バンク(1)用回路に対するアドレスラッ
チ&比較器6,7は、以前のライトコマンド時にラッチ
したアドレス信号(xx)と今回のリードコマンド
(C)で供給されたアドレス信号(C)とを比較する。
【0083】比較の結果、アドレス信号(xx)とアド
レス信号(C)とが異なるので、今回のリードコマンド
(C)時に供給されたアドレス信号(C)をバンク
(1)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給する。尚、バンク(0)用回路に対する
アドレスラッチ&比較器6,7は、ラッチしているアド
レス信号(B)と異なるバンクに対するリードコマンド
(C)が入力されたため、ラッチしているアドレス信号
(B)をバンク(0)用回路14内に含まれるプリデコ
ーダ20−1,20−2に供給する。
【0084】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(B)を供給されたバンク(0)用回路14に含
まれるプリデコーダ20−1,20−2は、アドレス信
号(B)をプリデコードし、ブロックデコーダ19に供
給すると共に、ワードデコーダ21,1/4デコーダ2
2,BLTデコーダ23,S/A生成ユニット24,及
びコラムデコーダ25等に供給する。次に、プリデコー
ドされたアドレス信号(B)に基づいてバンク(0)用
回路14に対するコラム線選択信号CLが選択される
と、バンク(0)用回路14に含まれるリードライトバ
ッファ27に保持されているデータ(B)がビット線B
L及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0085】また、アドレスラッチ&比較器6,7から
アドレス信号(C)を供給されたバンク(1)用回路1
5に含まれるプリデコーダ20−1,20−2は、アド
レス信号(C)をプリデコードし、ブロックデコーダ1
9に供給すると共に、ワードデコーダ21,1/4デコ
ーダ22,BLTデコーダ23,S/A生成ユニット2
4,及びコラムデコーダ25等に供給する。
【0086】次に、プリデコードされたアドレス信号
(C)に基づいてバンク(1)用回路に対するコラム線
選択信号CLが選択されると、容量501のデータがビ
ット線BL及び/BLに読み出され、コラムゲートであ
るNMOSトランジスタ510及び511を介して、デ
ータバスDB及び/DBに読み出される。そして、デー
タバスDB及び/DBに読み出されたデータ(C)は、
バンク(1)用回路15に含まれるリードライトバッフ
ァ27に供給され、データ変換器12を介してデータ出
力バッファ13から外部に出力される。以下、図7のタ
イミング図と同様であるので説明を省略する。
【0087】以上、図7及び図8は第一実施例における
半導体記憶装置のライト・リード・リード・ライト連続
動作時の一例の動作タイミング図であるが、同一バンク
内において、ライトコマンド(W)直後に、そのライト
コマンド(W)に対応したライトデータをリードコマン
ド(R)により読み出す場合は含まれていない。続い
て、図9を利用して、同一バンク内において、ライトコ
マンド(W)直後に、そのライトコマンド(W)に対応
したライトデータをリードコマンド(R)により読み出
す場合の動作タイミングについて説明する。
【0088】図9は、第一実施例における半導体記憶装
置のライト・リード・リード・ライト連続動作時の一例
の動作タイミング図を示す。尚、クロック信号の周期
は、図4に示すクロック信号の周期の2倍であり、その
リードデータレイテンシー及びライトデータレイテンシ
ーが同一であるものとする。コマンドデコーダ2にライ
トコマンド(B)が入力され、ローアドレスバッファ4
及びコラムアドレスバッファ5にアドレス信号(B)が
入力されると、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回
のライトコマンド時にラッチしたアドレス信号(A)を
バンク(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20
−1,20−2に供給すると共に、今回のライトコマン
ドのアドレス信号(B)をラッチする。
【0089】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(A)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(A)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ライトコマンドに対応してデータ入力バッフ
ァ11に入力されたデータ(A)は、データ変換器10
を介してライトデータバッファ28に供給され、ライト
データバッファ28からリードライトバッファ27に供
給される。
【0090】次に、プリデコードされたアドレス信号
(A)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27に保持されているデータ
(A)がビット線BL及び/BLを介して容量501に
記憶される。ライトコマンド(B)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にリードコマンド(C)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(B)が入力されると、アドレスラッチ
&比較器6,7は、前回のライトコマンド(B)時にラ
ッチしたアドレス信号(B)と今回のリードコマンド
(C)で供給されたアドレス信号(B)とを比較する。
【0091】比較の結果、前回のライトコマンド(B)
時にラッチしたアドレス信号(B)と今回のリードコマ
ンド(C)で供給されたアドレス信号(B)とが同一で
あるので、バンク(0)用回路14内に含まれるコント
ロールユニット26に二つのアドレス信号が同一である
ことを示す信号が供給される。コントロールユニット2
6は、前回のライトコマンド(B)時にライトデータバ
ッファ28に保持したデータ(B)をデータ変換器12
を介してデータ出力バッファ13から外部に出力する。
尚、アドレスラッチ&比較器6,7は、コマンドデコー
ダ2に前回のライトコマンドと同一バンクに対するリー
ドコマンドが入力された場合、前回のライトコマンド時
にラッチしたアドレス信号をそのままラッチしておく。
尚、ライトデータバッファ28は、前回のライトコマン
ドにより供給されたデータ(B)を、そのまま保持して
おく。
【0092】リードコマンド(C)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にリードコマンド(D)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(D)が入力されると、アドレスラッチ
&比較器6,7は、前回のライトコマンド(B)時にラ
ッチしたアドレス信号(B)と今回のリードコマンド
(D)で供給されたアドレス信号(D)とを比較する。
【0093】比較の結果、アドレス信号(B)とアドレ
ス信号(D)とが異なるので、今回のリードコマンド
(D)時に供給されたアドレス信号(D)をバンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給する。尚、アドレスラッチ&比較器6,
7はコマンドデコーダ2に前回のライトコマンドと同一
バンクに対するリードコマンドが入力された場合、前回
のライトコマンド時にラッチしたアドレス信号をそのま
まラッチしておく。
【0094】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(D)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(D)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。
【0095】次に、プリデコードされたアドレス信号
(D)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、容量501のデータがビット線BL及び/BLに読
み出され、コラムゲートであるNMOSトランジスタ5
10及び511を介して、データバスDB及び/DBに
読み出される。そして、データバスDB及び/DBに読
み出されたデータ(D)は、リードライトバッファ27
に供給され、データ変換器12を介してデータ出力バッ
ファ13から外部に出力される。
【0096】リードコマンド(D)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にライトコマンド(E)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(E)が入力されると、アドレスラッチ
&比較器6,7は、前回のライトコマンド時にラッチし
たアドレス信号(B)をバンク(0)用回路14内に含
まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給すると共
に、今回のライトコマンドのアドレス信号(E)をラッ
チする。
【0097】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(B)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(B)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。次に、プリデコードされたアドレス信号(B)に基
づいてコラム線選択信号CLが選択されると、リードラ
イトバッファ27に保持されているデータ(B)がビッ
ト線BL及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0098】以上、第一実施例における半導体記憶装置
は、同一バンク内において、ライトコマンド(W)直後
に、そのライトコマンド(W)に対応したライトデータ
をリードコマンド(R)により読み出す場合に、コア回
路29のメモリセルからデータを読み出すのではなく、
ライトデータバッファ28から読み出すことにより、ラ
イトコマンド(W)によるメモリセルへのデータの書き
込み処理の終了を待たずにリードコマンド(R)の処理
を開始できる。したがって、リードライトサイクルを短
縮することができる。
【0099】続いて、図10を利用して、同一バンク内
において、ライトコマンド(W)にライトマスク機能を
使用する場合の動作タイミングについて説明する。図1
0は、第一実施例における半導体記憶装置のライト(ラ
イトマスク)・リード・リード・ライト連続動作時の一
例の動作タイミング図を示す。尚、クロック信号の周期
は、図4に示すクロック信号の周期の2倍であり、その
リードデータレイテンシー及びライトデータレイテンシ
ーが同一であるものとする。
【0100】ここで、ライトマスク機能とは、ライトデ
ータの一部をマスクすることにより、そのマスクされた
部分のデータの書き込み処理を行わないことをいう。ま
た、本実施例においては、リードマスク機能は含まない
ものとする。コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラム
アドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入力される
と、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回のライトコ
マンド時にラッチしたアドレス信号(A)をバンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給すると共に、今回のライトコマンドのア
ドレス信号(B)をラッチする。
【0101】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(A)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(A)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ライトコマンドに対応してデータ入力バッフ
ァ11に入力されたデータ(A0)及び(A1)は、デ
ータ変換器10を介してライトデータバッファ28に供
給され、ライトデータバッファ28からリードライトバ
ッファ27に供給される。
【0102】次に、プリデコードされたアドレス信号
(A)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27に保持されているデータ
(A0)及び(A1)がビット線BL及び/BLを介し
て容量501に記憶される。ライトコマンド(B)の2
クロック後、コマンドデコーダ2にリードコマンド
(C)が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラム
アドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入力される
と、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回のライトコ
マンド(B)時にラッチしたアドレス信号(B)と今回
のリードコマンド(C)で供給されたアドレス信号
(B)とを比較する。
【0103】比較の結果、前回のライトコマンド(B)
時にラッチしたアドレス信号(B)と今回のリードコマ
ンド(C)で供給されたアドレス信号(B)とが同一で
あるので、バンク(0)用回路14内に含まれるコント
ロールユニット26に二つのアドレス信号が同一である
ことを示す信号が供給される。コントロールユニット2
6は、前回のライトコマンド(B)により供給され、ラ
イトデータバッファ28に保持されたデータ(B0)を
データ変換器12を介してデータ出力バッファ13から
外部に出力する。
【0104】同時に、ライトマスク機能によりマスクさ
れたデータ(B1)は、通常の読み出し動作によりプリ
デコードされたアドレス信号(B)に基づいてコラム線
選択信号CLが選択されると、容量501のデータがビ
ット線BL及び/BLに読み出され、コラムゲートであ
るNMOSトランジスタ510及び511を介して、デ
ータバスDB及び/DBに読み出される。そして、デー
タバスDB及び/DBに読み出されたデータ(B1)
は、リードライトバッファ27に供給され、データ変換
器12を介してデータ出力バッファ13から外部に出力
される。尚、アドレスラッチ&比較器6,7は、コマン
ドデコーダ2に前回のライトコマンドと同一バンクに対
するリードコマンドが入力された場合、前回のライトコ
マンド時にラッチしたアドレス信号をそのままラッチし
ておく。尚、ライトデータバッファ28は、前回のライ
トコマンドにより供給されたデータ(B0)を、そのま
ま保持しておく。
【0105】リードコマンド(C)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にリードコマンド(D)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(D)が入力されると、アドレスラッチ
&比較器6,7は、前回のライトコマンド(B)時にラ
ッチしたアドレス信号(B)と今回のリードコマンド
(D)で供給されたアドレス信号(D)とを比較する。
【0106】比較の結果、アドレス信号(B)とアドレ
ス信号(D)とが異なるので、今回のリードコマンド
(D)時に供給されたアドレス信号(D)をバンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給する。尚、アドレスラッチ&比較器6,
7はコマンドデコーダ2に前回のライトコマンドと同一
バンクに対するリードコマンドが入力された場合、前回
のライトコマンド時にラッチしたアドレス信号をそのま
まラッチしておく。
【0107】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(D)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(D)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。
【0108】次に、プリデコードされたアドレス信号
(D)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、容量501のデータがビット線BL及び/BLに読
み出され、コラムゲートであるNMOSトランジスタ5
10及び511を介して、データバスDB及び/DBに
読み出される。そして、データバスDB及び/DBに読
み出されたデータ(D0)及び(D1)は、リードライ
トバッファ27に供給され、データ変換器12を介して
データ出力バッファ13から外部に出力される。
【0109】リードコマンド(D)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にライトコマンド(E)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(E)が入力されると、アドレスラッチ
&比較器6,7は、前回のライトコマンド時にラッチし
たアドレス信号(B)をバンク(0)用回路14内に含
まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給すると共
に、今回のライトコマンドのアドレス信号(E)をラッ
チする。
【0110】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(B)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(B)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。次に、プリデコードされたアドレス信号(B)に基
づいてコラム線選択信号CLが選択されると、リードラ
イトバッファ27に保持されているデータ(B0)がビ
ット線BL及び/BLを介して容量501に記憶され
る。このとき、ライトマスク機能によりマスクされたデ
ータ(B1)は、新たに容量501に記憶されず、以前
のデータを保持し続ける。
【0111】このような、ライトマスク機能は同一アド
レスに含まれる複数のデータの内、一部を書き換えると
きに利用される。ライトマスク機能は、外部からの信号
により制御され、例えば、マスクする部分がハイレベル
となるマスク信号により制御する方法,複数の信号の組
み合わせによるコマンド信号により制御する方法等、様
々な方法が考えられる。
【0112】このようなライトマスク機能を制御する信
号(以下、ライトマスク制御信号という)は、コマンド
デコーダ2に入力され、RAS生成ユニット16,コン
トロールユニット18を介してコントロールユニット2
6に供給され、リードライトバッファ27及びライトデ
ータバッファ28を制御している。したがって、図9の
タイミング図に示すような、同一バンク内において、ラ
イトコマンド(W)直後に、そのライトコマンド(W)
に対応したライトデータをリードコマンド(R)により
読み出す場合に、ライトマスク機能によりマスクされた
データをコア回路29のメモリセルからデータを読み出
し、その他のデータをライトデータバッファ28から読
み出すことにより、ライトマスク機能を使用するときも
ライトコマンド(W)によるメモリセルへのデータの書
き込み処理の終了を待たずにライトコマンド(W)の処
理を開始できる。したがって、リードライトサイクルを
短縮することができる。
【0113】続いて、図11を利用して、ページモード
を含む場合の動作タイミングについて説明する。図11
は、第一実施例における半導体記憶装置のライト・ライ
ト(ページモードライト)・ライト連続動作時の一例の
動作タイミング図を示す。尚、クロック信号の周期は、
図4に示すクロック信号の周期の2倍であり、そのリー
ドデータレイテンシー及びライトデータレイテンシーが
同一であるものとする。また、図11中、例えば「Pw
rite−C」はページモードライトコマンド(C)で
あることを示す。
【0114】ここで、ページモードとは、同一ワード線
に対応しているデータをコラムアドレスを変えながら読
み出す動作又は書き込む動作をいう。このようなページ
モードにおいては、図11のタイミング図の場合、1ク
ロック間隔で動作可能となっている。コマンドデコーダ
2にライトコマンド(B)が入力され、ローアドレスバ
ッファ4及びコラムアドレスバッファ5にアドレス信号
(B)が入力されると、アドレスラッチ&比較器6,7
は、前回のライトコマンド時にラッチしたアドレス信号
(A)をバンク(0)用回路14内に含まれるプリデコ
ーダ20−1,20−2に供給すると共に、今回のライ
トコマンドのアドレス信号(B)をラッチする。
【0115】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(A)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(A)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ライトコマンドに対応してデータ入力バッフ
ァ11に入力されたデータ(A)は、データ変換器10
を介してライトデータバッファ28に供給され、ライト
データバッファ28からリードライトバッファ27に供
給される。
【0116】次に、プリデコードされたアドレス信号
(A)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27に保持されているデータ
(A)がビット線BL及び/BLを介して容量501に
記憶される。ライトコマンド(B)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にページモードライトコマンド(C)
が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラムアドレ
スバッファ5にアドレス信号(C)が入力されると、ア
ドレスラッチ&比較器6,7は、前回のライトコマンド
(B)時にラッチしたアドレス信号(B)を保持し続
け、今回のページモードライトコマンド(C)で供給さ
れたアドレス信号(C)をバンク(0)用回路14内に
含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給する。
また、ページモードライトコマンド(C)に対応してデ
ータ入力バッファ11に入力されたデータ(C)はライ
トデータバッファ28に保持されずに、リードライトバ
ッファ27に保持される。
【0117】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(C)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(C)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。次に、プリデコードされたアドレス信号(C)に基
づいてコラム線選択信号CLが選択されると、リードラ
イトバッファ27に保持されているデータ(C)がビッ
ト線BL及び/BLを介して容量501に記憶される。
以下、ページモードクローズコマンド信号(PC)が入
力されるまでページモードライトコマンド(C)と同様
にページモードライトコマンド(D),(E)が行われ
る。
【0118】その後、ページモードクローズコマンド信
号(PC)が入力されると、図6に示すようなライト連
続動作に戻り、コマンドデコーダ2にライトコマンド
(F)が入力され、ページモード時の間、アドレスラッ
チ&比較器6,7にラッチしていたアドレス信号(B)
をバンク(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ2
0−1,20−2に供給し、図6に示す連続動作によ
り、ライトデータバッファ28に保持していたデータ
(B)がビット線BL及び/BLを介して容量501に
記憶される。
【0119】したがって、図11のタイミング図に示す
ような、ページモード時には、前回のライトコマンド
(W)に対応したライトデータ及びアドレス信号をアド
レスラッチ&比較器6,7及びライトデータバッファ2
8に保持しておくことにより、ページモードを使用する
ときもライトコマンド(W)によるメモリセルへのデー
タの書き込み処理の終了を待たずにページモードライト
コマンド(W)の処理を開始できる。したがって、リー
ドライトサイクルを短縮することができる。
【0120】次に、本発明の半導体記憶装置の他の実施
例について、詳細に説明する。図12は、本発明の半導
体記憶装置の第二実施例のブロック図を示す。なお、図
12のブロック図は、図5に示す第一実施例のブロック
図と一部を除いて同一であり、その同一部分については
同一符号を付して説明を省略する。図12に示す本発明
の第二実施例のブロック図は、二つのアドレス信号をラ
ッチすることができるダブルアドレスラッチ&比較器3
0,31と、二つのライトデータバッファ32,33を
含む構成であることが図5に示す第一実施例のブロック
図と異なっている。
【0121】上記構成は、例えばクロックの周期が長い
場合などにリードレイテンシー及びライトレイテンシー
が長くなったとしても、一般的な他バンク間のリードコ
マンド(R)とライトコマンド(W)との最小許容時間
(lRC)までリードコマンド(R)とライトコマンド
(W)とを詰めることが可能である。FCRAMにおい
ては、センスアンプの動作間隔に基づいてリードコマン
ド(R)とライトコマンド(W)との間隔が決定され
る。
【0122】ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
は、第一のアドレスラッチ&比較部分と第二のアドレス
ラッチ&比較部分とで構成されている。以下、ダブルア
ドレスラッチ&比較器30,31の動作について、ライ
トコマンド時とリードコマンド時とに分けて説明する。
ライトコマンド時、ダブルアドレスラッチ&比較器30
は、ローアドレスバッファ4から供給されたローアドレ
ス信号を第一のアドレスラッチ&比較部分でラッチする
と共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にラッチされ
ていたローアドレス信号を第二のアドレスラッチ&比較
部分にラッチする。また、第二のアドレスラッチ&比較
部分は、第一のアドレスラッチ&比較部分から供給され
たローアドレス信号をラッチすると共に、第二のアドレ
スラッチ&比較部分にラッチされていたローアドレス信
号を、プリデコーダ20−1に供給する。
【0123】つまり、第二のアドレスラッチ&比較部分
にラッチされたローアドレス信号を利用して後述するラ
イトデータバッファ32又はライトデータバッファ33
に保持されているデータをコア回路29部分に書き込
む。リードコマンド時、ダブルアドレスラッチ&比較器
30はローアドレスバッファ4から供給されたローアド
レス信号と第一のアドレスラッチ&比較部分にラッチさ
れているローアドレス信号とを比較し、同一の場合には
コントロールユニット26に信号を供給する。そしてコ
ントロールユニット26は、ライトデータバッファ32
又はライトデータバッファ33に保持されているデータ
を出力させる。この時、どちらのライトデータバッファ
に保持されているデータを出力させるのかは後述するタ
イミングによる。
【0124】また、ダブルアドレスラッチ&比較器30
は今回のリードコマンド時にローアドレスバッファ4か
ら供給されたローアドレス信号と、第二のアドレスラッ
チ&比較部分にラッチされたローアドレス信号とを比較
し、異なる場合には、今回のリードコマンド時に供給さ
れたローアドレス信号に基づいて、コア回路29のメモ
リセルからデータを出力する。
【0125】尚、ダブルアドレスラッチ&比較器31の
動作は、コラムアドレスバッファ5からコラムアドレス
信号が供給される点、及びプリデコーダ20−2にコラ
ムアドレス信号を供給する点のみがダブルアドレスラッ
チ&比較器30と異なっており、説明を省略する。以
下、第二実施例における半導体記憶装置の動作タイミン
グについて、動作タイミング図に基づいて説明する。図
13は、第二実施例における半導体記憶装置のライト連
続動作時の一例の動作タイミング図を示す。尚、クロッ
ク信号の周期は、図4に示すクロック信号の周期の2倍
であり、そのリードデータレイテンシー及びライトデー
タレイテンシーが同一であるものとする。
【0126】コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラム
アドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入力される
と、ダブルアドレスラッチ&比較器30,31は、前回
のライトコマンド時に第一のアドレスラッチ&比較部分
にラッチしたアドレス信号(A)を第二のアドレスラッ
チ&比較部分にラッチすると共に、第一のアドレスラッ
チ&比較部分にアドレス信号(B)をラッチする。この
とき、第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチされて
いたアドレス信号(xx)は、バンク(0)用回路14
内に含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給さ
れる。
【0127】ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
からアドレス信号(xx)を供給されたプリデコーダ2
0−1,20−2は、アドレス信号(xx)をプリデコ
ードし、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワー
ドデコーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ
23,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ2
5等に供給する。
【0128】コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が供給されると、ライトデータバッファ33は保
持しているデータ(xx)を続いてリードライトバッフ
ァ27に供給する。このとき、ライトデータバッファ3
2は、データ入力バッファ11に入力されたデータ
(A)がデータ変換器10を介して供給される。そし
て、プリデコードされたアドレス信号(xx)に基づい
てコラム線選択信号CLが選択されると、リードライト
バッファ27に保持されているデータ(xx)がビット
線BL及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0129】ライトコマンド(B)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にライトコマンド(C)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(C)が入力されると、ダブルアドレス
ラッチ&比較器30,31は、前回のライトコマンド時
に第一のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレ
ス信号(B)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラッ
チすると共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にアド
レス信号(C)をラッチする。
【0130】このとき、第二のアドレスラッチ&比較部
分にラッチされていたアドレス信号(A)は、バンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給される。ダブルアドレスラッチ&比較器
30,31からアドレス信号(A)を供給されたプリデ
コーダ20−1,20−2は、アドレス信号(A)をプ
リデコードし、ブロックデコーダ19に供給すると共
に、ワードデコーダ21,1/4デコーダ22,BLT
デコーダ23,S/A生成ユニット24,及びコラムデ
コーダ25等に供給する。
【0131】ライトデータバッファ32はデータ入力バ
ッファ11から供給されたデータ(A)が保持されてお
り、続いてリードライトバッファ27にデータ(A)が
保持される。このとき、ライトデータバッファ33はデ
ータ入力バッファ11に入力されたデータ(B)がデー
タ変換器10を介して供給される。そして、プリデコー
ドされたアドレス信号(A)に基づいてコラム線選択信
号CLが選択されると、リードライトバッファ27にラ
ッチされているデータ(A)がビット線BL及び/BL
を介して容量501に記憶される。
【0132】以上のように、第2実施例における半導体
装置は、コマンドデコーダ2に入力されるライトコマン
ドに対応するデータ信号を交互にライトデータバッファ
32又は33に供給している。以上のような処理を繰り
返すことによりライト連続動作が行われている。図14
は、第二実施例における半導体記憶装置のライト・リー
ド・ライト・リード連続動作時の一例の動作タイミング
図を示す。尚、クロック信号の周期は、図4に示すクロ
ック信号の周期の2倍であり、そのリードデータレイテ
ンシー及びライトデータレイテンシーが同一であるもの
とする。
【0133】コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラム
アドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入力される
と、ダブルアドレスラッチ&比較器30,31は、前回
のライトコマンド時に第一のアドレスラッチ&比較部分
にラッチしたアドレス信号(A)を第二のアドレスラッ
チ&比較部分にラッチすると共に、第一のアドレスラッ
チ&比較部分にアドレス信号(B)をラッチする。この
とき、第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチされて
いたアドレス信号(xx)は、バンク(0)用回路14
内に含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給さ
れる。
【0134】ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
からアドレス信号(xx)を供給されたプリデコーダ2
0−1,20−2は、アドレス信号(xx)をプリデコ
ードし、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワー
ドデコーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ
23,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ2
5等に供給する。コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が供給されると、ライトデータバッファ33にラ
ッチされているデータ(xx)がリードライトバッファ
27にラッチされる。
【0135】そして、プリデコードされたアドレス信号
(xx)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(xx)がビット線BL及び/BLを介して容量50
1に記憶される。また、データ入力バッファ11から入
力されたデータ(A)は、データ変換器10を介してラ
イトデータバッファ32に入力され、保持される。尚、
ライトデータバッファ33は、以前のライトコマンドに
より供給されたデータ(xx)を、そのまま保持してお
く。
【0136】ライトコマンド(B)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にリードコマンド(C)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(C)が入力されると、ダブルアドレス
ラッチ&比較器30,31は、前回のライトコマンド
(B)時に第一のアドレスラッチ&比較部分にラッチし
たアドレス信号(B)と今回のリードコマンド(C)で
供給されたアドレス信号(C)とを比較する。
【0137】比較の結果、アドレス信号(B)とアドレ
ス信号(C)とが異なるので、今回のリードコマンド
(C)時に供給されたアドレス信号(C)をバンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給する。尚、ダブルアドレスラッチ&比較
器30,31は、コマンドデコーダ2にリードコマンド
が入力された場合、前回のライトコマンド時にラッチし
たアドレス信号をそのままラッチしておく。
【0138】ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
からアドレス信号(C)を供給されたプリデコーダ20
−1,20−2は、アドレス信号(C)をプリデコード
し、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワードデ
コーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ2
3,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ25
等に供給する。
【0139】次に、プリデコードされたアドレス信号
(C)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、容量501のデータがビット線BL及び/BLに読
み出され、コラムゲートであるNMOSトランジスタ5
10及び511を介して、データバスDB及び/DBに
読み出される。そして、データバスDB及び/DBに読
み出されたデータ(C)は、リードライトバッファ27
に供給され、データ変換器12を介してデータ出力バッ
ファ13から外部に出力される。また、データ入力バッ
ファ11から入力されたデータ(B)は、データ変換器
10を介してライトデータバッファ33に入力され、保
持される。尚、ライトデータバッファ32は、前回のラ
イトコマンドにより供給されたデータ(A)を、そのま
ま保持しておく。
【0140】リードコマンド(C)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にライトコマンド(D)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(D)が入力されると、ダブルアドレス
ラッチ&比較器30,31は、前回のライトコマンド時
に第一のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレ
ス信号(B)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラッ
チすると共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にアド
レス信号(D)をラッチする。
【0141】このとき、第二のアドレスラッチ&比較部
分にラッチされていたアドレス信号(A)は、バンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給される。ダブルアドレスラッチ&比較器
30,31からアドレス信号(A)を供給されたプリデ
コーダ20−1,20−2は、アドレス信号(A)をプ
リデコードし、ブロックデコーダ19に供給すると共
に、ワードデコーダ21,1/4デコーダ22,BLT
デコーダ23,S/A生成ユニット24,及びコラムデ
コーダ25等に供給する。コマンドデコーダ2にライト
コマンド(D)が供給されると、ライトデータバッファ
32に保持されているデータ(A)がリードライトバッ
ファ27に保持される。
【0142】そして、プリデコードされたアドレス信号
(A)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27に保持されているデータ
(A)がビット線BL及び/BLを介して容量501に
記憶される。以上のような処理を繰り返すことによりラ
イト・リード・ライト・リード連続動作が行われてい
る。
【0143】以上、図14は第二実施例における半導体
記憶装置のライト・リード・ライト・リード連続動作時
の一例の動作タイミング図であるが、同一バンク内にお
いて、ライトコマンド(W)直後に、そのライトコマン
ド(W)に対応したライトデータをリードコマンド
(R)により読み出す場合は含まれていない。続いて、
図15を利用して、同一バンク内において、ライトコマ
ンド(W)直後に、そのライトコマンド(W)に対応し
たライトデータをリードコマンド(R)により読み出す
場合の動作タイミングについて説明する。
【0144】図15は、第二実施例における半導体記憶
装置のライト・リード・ライト・リード連続動作時の一
例の動作タイミング図を示す。尚、クロック信号の周期
は、図4に示すクロック信号の周期の2倍であり、その
リードデータレイテンシー及びライトデータレイテンシ
ーが同一であるものとする。コマンドデコーダ2にライ
トコマンド(B)が入力され、ローアドレスバッファ4
及びコラムアドレスバッファ5にアドレス信号(B)が
入力されると、ダブルアドレスラッチ&比較器30,3
1は、前回のライトコマンド時に第一のアドレスラッチ
&比較部分にラッチしたアドレス信号(A)を第二のア
ドレスラッチ&比較部分にラッチすると共に、第一のア
ドレスラッチ&比較部分にアドレス信号(B)をラッチ
する。このとき、第二のアドレスラッチ&比較部分にラ
ッチされていたアドレス信号(xx)は、バンク(0)
用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,20−
2に供給される。
【0145】ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
からアドレス信号(xx)を供給されたプリデコーダ2
0−1,20−2は、アドレス信号(xx)をプリデコ
ードし、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワー
ドデコーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ
23,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ2
5等に供給する。コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が供給されると、ライトデータバッファ33に保
持されているデータ(xx)がリードライトバッファ2
7に保持される。
【0146】そして、プリデコードされたアドレス信号
(xx)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(xx)がビット線BL及び/BLを介して容量50
1に記憶される。また、データ入力バッファ11から入
力されたデータ(A)は、データ変換器10を介してラ
イトデータバッファ32に入力され、保持される。尚、
ライトデータバッファ33は、前回のライトコマンドに
より供給されたデータ(xx)を、そのままラッチして
おく。
【0147】ライトコマンド(B)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にリードコマンド(C)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(B)が入力されると、ダブルアドレス
ラッチ&比較器30,31は、前回のライトコマンド
(B)時に第一のアドレスラッチ&比較部分にラッチし
たアドレス信号(B)と今回のリードコマンド(C)で
供給されたアドレス信号(B)とを比較する。
【0148】比較の結果、前回のライトコマンド(B)
時に第一のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアド
レス信号(B)と今回のリードコマンド(C)で供給さ
れたアドレス信号(B)とが同一なので、バンク(0)
用回路14内に含まれるコントロールユニット26に二
つのアドレス信号が同一であることを示す信号が供給さ
れる。
【0149】コントロールユニット26は、前回のライ
トコマンド(B)に基づいてライトデータバッファ33
に保持されているデータ(B)をデータ変換器12を介
してデータ出力バッファ13から外部に出力する。尚、
ダブルアドレスラッチ&比較器30,31は、コマンド
デコーダ2にリードコマンドが入力された場合、前回の
ライトコマンド時にラッチしたアドレス信号をそのまま
ラッチしておく。
【0150】尚、データ入力バッファ11から入力され
たデータ(B)は、データ変換器10を介してライトデ
ータバッファ33に入力され、保持される。また、ライ
トデータバッファ32は、前回のライトコマンドにより
供給されたデータ(A)を、そのまま保持しておく。以
下、図11のタイミング図と同一であるので説明を省略
する。
【0151】以上、第二実施例における半導体記憶装置
は、同一バンク内において、ライトコマンド(W)直後
に、そのライトコマンド(W)に対応したライトデータ
をリードコマンド(R)により読み出す場合に、コア回
路29のメモリセルからデータを読み出すのではなく、
ライトデータバッファ32又は33から読み出すことに
より、ライトコマンド(W)によるメモリセルへのデー
タの書き込み処理の終了を待たずにリードコマンド
(R)の処理を開始できる。
【0152】更に、リードレイテンシー及びライトレイ
テンシーが長くなったとしても、複数のライトデータバ
ッファを含む構成とすることにより、リードライトサイ
クルを短縮することができる。次に、本発明の半導体記
憶装置の他の実施例について、詳細に説明する。図16
は、本発明の半導体記憶装置の第三実施例のブロック図
を示す。なお、図16のブロック図は、図12に示す第
二実施例のブロック図と一部を除いて同一であり、その
同一部分については同一符号を付して説明を省略する。
【0153】図16に示す本発明の第三実施例のブロッ
ク図は、三つのアドレス信号をラッチすることができる
トリプルアドレスラッチ&比較器35,36と、三つの
ライトデータバッファ32,33,37を含む構成であ
ることが図12に示す第二実施例のブロック図と異なっ
ている。上記構成は、例えばクロックの周期が長い場合
などにリードレイテンシー及びライトレイテンシーが長
くなったとしても、一般的な他バンク間のリードコマン
ド(R)とライトコマンド(W)との最小許容時間(l
RC)までリードコマンド(R)とライトコマンド
(W)とを詰めることが可能である。
【0154】トリプルアドレスラッチ&比較器35,3
6は、第一のアドレスラッチ&比較部分と第二のアドレ
スラッチ&比較部分と第三の比較部分とで構成されてい
る。以下、トリプルアドレスラッチ&比較器35,36
の動作について、ライトコマンド時とリードコマンド時
とに分けて説明する。ライトコマンド時、トリプルアド
レスラッチ&比較器35は、ローアドレスバッファ4か
ら供給されたローアドレス信号を第一のアドレスラッチ
&比較部分でラッチすると共に、第一のアドレスラッチ
&比較部分にラッチされていたローアドレス信号を第二
のアドレスラッチ&比較部分にラッチする。また、第二
のアドレスラッチ&比較部分は、第一のアドレスラッチ
&比較部分から供給されたローアドレス信号をラッチす
ると共に、第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチさ
れていたローアドレス信号を第三のアドレスラッチ&比
較部分にラッチする。
【0155】また、第三のアドレスラッチ&比較部分
は、第二のアドレスラッチ&比較部分から供給されたロ
ーアドレス信号をラッチすると共に、第三のアドレスラ
ッチ&比較部分にラッチされていたローアドレス信号
を、プリデコーダ20−1に供給する。つまり、第三の
アドレスラッチ&比較部分にラッチされたローアドレス
信号を利用して後述するライトデータバッファ32,3
3,及び37に保持されているデータをコア回路29部
分に書き込む。
【0156】リードコマンド時、トリプルアドレスラッ
チ&比較器35はローアドレスバッファ4から供給され
たローアドレス信号と第一のアドレスラッチ&比較部分
にラッチされているローアドレス信号とを比較し、同一
の場合にはコントロールユニット26に信号を供給す
る。そしてコントロールユニット26は、ライトデータ
バッファ32,33,及び37のいずれか一つに保持さ
れているデータを出力させる。この時、どのライトデー
タバッファに保持されているデータを出力させるのかは
後述するタイミングによる。
【0157】また、トリプルアドレスラッチ&比較器3
5は今回のリードコマンド時にローアドレスバッファ4
から供給されたローアドレス信号と、第三のアドレスラ
ッチ&比較部分にラッチされたローアドレス信号とを比
較し、異なる場合には、今回のリードコマンド時に供給
されたローアドレス信号に基づいて、コア回路29のメ
モリセルからデータを出力する。
【0158】尚、トリプルアドレスラッチ&比較器36
の動作は、コラムアドレスバッファ5からコラムアドレ
ス信号が供給される点、及びプリデコーダ20−2にコ
ラムアドレス信号を供給する点のみがトリプルアドレス
ラッチ&比較器35と異なっており、説明を省略する。
図17は、第三実施例における半導体記憶装置のライト
連続動作時の一例の動作タイミング図を示す。尚、クロ
ック信号の周期は、図4に示すクロック信号の周期の2
倍であり、そのリードデータレイテンシー及びライトデ
ータレイテンシーが同一であるものとする。
【0159】コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラム
アドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入力される
と、トリプルアドレスラッチ&比較器35,36は、前
回のライトコマンド時に第一のアドレスラッチ&比較部
分にラッチしたアドレス信号(A)を第二のアドレスラ
ッチ&比較部分にラッチすると共に、第一のアドレスラ
ッチ&比較部分にアドレス信号(B)をラッチする。ま
た、前回のライトコマンド時に第二のアドレスラッチ&
比較部分にラッチしたアドレス信号(xx)を第三のア
ドレスラッチ&比較部分にラッチすると共に、第三のア
ドレスラッチ&比較部分にラッチされていたアドレス信
号(xxx)は、バンク(0)用回路14内に含まれる
プリデコーダ20−1,20−2に供給される。
【0160】トリプルアドレスラッチ&比較器35,3
6からアドレス信号(xxx)を供給されたプリデコー
ダ20−1,20−2は、アドレス信号(xxx)をプ
リデコードし、ブロックデコーダ19に供給すると共
に、ワードデコーダ21,1/4デコーダ22,BLT
デコーダ23,S/A生成ユニット24,及びコラムデ
コーダ25等に供給する。コマンドデコーダ2にライト
コマンドが供給されると、ライトデータバッファ37に
保持されているデータ(xxx)がリードライトバッフ
ァ27に保持される。
【0161】そして、プリデコードされたアドレス信号
(xxx)に基づいてコラム線選択信号CLが選択され
ると、リードライトバッファ27にラッチされているデ
ータ(xxx)がビット線BL及び/BLを介して容量
501に記憶される。また、データ入力バッファ11か
ら入力されたデータ(xx)は、データ変換器10を介
してライトデータバッファ32に入力され、保持され
る。尚、ライトデータバッファ33は、以前のライトコ
マンドにより供給されたデータ(xxxx)を、そのま
まラッチしておく。
【0162】ライトコマンド(B)の2クロック後、コ
マンドデコーダ2にライトコマンド(C)が入力され、
ローアドレスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5
にアドレス信号(C)が入力されると、トリプルアドレ
スラッチ&比較器35,36は、前回のライトコマンド
時に第一のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアド
レス信号(B)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラ
ッチすると共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にア
ドレス信号(C)をラッチする。
【0163】また、前回のライトコマンド時に第二のア
ドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレス信号
(A)を第三のアドレスラッチ&比較部分にラッチする
と共に、第三のアドレスラッチ&比較部分にラッチされ
ていたアドレス信号(xx)は、バンク(0)用回路1
4内に含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給
される。
【0164】トリプルアドレスラッチ&比較器35,3
6からアドレス信号(xx)を供給されたプリデコーダ
20−1,20−2は、アドレス信号(xx)をプリデ
コードし、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワ
ードデコーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコー
ダ23,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ
25等に供給する。コマンドデコーダ2にライトコマン
ドが供給されると、ライトデータバッファ32に保持さ
れているデータ(xx)がリードライトバッファ27に
保持される。
【0165】そして、プリデコードされたアドレス信号
(xx)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(xx)がビット線BL及び/BLを介して容量50
1に記憶される。また、データ入力バッファ11から入
力されたデータ(A)は、データ変換器10を介してラ
イトデータバッファ33に入力され、保持される。尚、
ライトデータバッファ37は、以前のライトコマンドに
より供給されたデータ(xxx)を、そのままラッチし
ておく。以下、同様な処理を繰り返すことによりライト
連続動作が行われている。
【0166】以上、第三実施例における半導体記憶装置
は、同一バンク内において、ライトコマンド(W)直後
に、そのライトコマンド(W)に対応したライトデータ
をリードコマンド(R)により読み出す場合に、コア回
路29のメモリセルからデータを読み出すのではなく、
ライトデータバッファ32,33,又は37から読み出
すことにより、ライトコマンド(W)によるメモリセル
へのデータの書き込み処理の終了を待たずにリードコマ
ンド(R)の処理を開始できる。
【0167】更に、リードレイテンシー及びライトレイ
テンシーが第二実施例の場合より長くなったとしても、
複数のライトデータバッファを含む構成とすることによ
り、リードライトサイクルを短縮することができる。次
に、第一実施例における半導体記憶装置のページモード
における動作タイミングについて、動作タイミング図に
基づいて説明する。図18は、第一実施例ににける半導
体記憶装置のページモードライト連続動作時の一例の動
作タイミング図を示す。尚、クロック信号の周期は、図
4に示すクロック信号の周期の2倍であり、そのリード
データレイテンシー及びライトデータレイテンシーが1
であるものとする。また、図18中、例えば「Pwri
te−C」はページモードライトコマンド(C)である
ことを示す。
【0168】ここで、ページモードとは、同一ワード線
に対応しているデータをコラムアドレスを変えながら読
み出す動作又は書き込む動作をいう。このようなページ
モードにおいては、図18のタイミング図の場合、1ク
ロック間隔で動作可能となっている。コマンドデコーダ
2にライトコマンド(B)が入力され、ローアドレスバ
ッファ4及びコラムアドレスバッファ5にアドレス信号
(B)が入力されると、バンク(0)用回路14内に含
まれるプリデコーダ20−1,20−2はアドレス信号
(B)を供給される。
【0169】ローアドレスバッファ4及びコラムアドレ
スバッファ5からアドレス信号(B)を供給されたプリ
デコーダ20−1,20−2は、アドレス信号(B)を
プリデコードし、ブロックデコーダ19に供給すると共
に、ワードデコーダ21,1/4デコーダ22,BLT
デコーダ23,S/A生成ユニット24,及びコラムデ
コーダ25等に供給する。また、ライトコマンド(B)
に対応して、データ入力バッファ11に入力されたデー
タ(B)は、データ変換器10を介してリードライトバ
ッファ27に供給される。
【0170】次に、プリデコードされたアドレス信号
(B)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(B)がビット線BL及び/BLを介して容量501
に記憶される。ライトコマンド(B)の2クロック後、
コマンドデコーダ2にページモードライトコマンド
(C)が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラム
アドレスバッファ5にアドレス信号(C)が入力される
と、アドレスラッチ&比較器6,7は、今回のページモ
ードライトコマンド(C)時に供給されたアドレス信号
(C)をラッチする。なお、今回のページモードライト
コマンド(C)は、通常モードからページモードへ移行
させる最初のページモードライトコマンド(C)であ
り、ワード線を活性化させる。
【0171】ページモードライトコマンド(C)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(D)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(D)が入力
されると、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回のペ
ージモードライトコマンド(C)時にラッチしたアドレ
ス信号(C)をバンク(0)用回路14内に含まれるプ
リデコーダ20−1,20−2に供給すると共に、今回
のページモードライトコマンド(D)のアドレス信号
(D)をラッチする。
【0172】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(C)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(C)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ページモードライトコマンド(C)に対応し
て、データ入力バッファ11に入力されたデータ(C)
は、データ変換器10を介してライトデータバッファ2
8に供給され、続いてライトデータバッファ28からリ
ードライトバッファ27に供給される。
【0173】次に、プリデコードされたアドレス信号
(C)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(C)がビット線BL及び/BLを介して容量501
に記憶される。ページモードライトコマンド(D)の1
クロック後、コマンドデコーダ2にページモードライト
コマンド(E)が入力され、ローアドレスバッファ4及
びコラムアドレスバッファ5にアドレス信号(E)が入
力されると、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回の
ページモードライトコマンド(D)時にラッチしたアド
レス信号(D)をバンク(0)用回路14内に含まれる
プリデコーダ20−1,20−2に供給すると共に、今
回のページモードライトコマンド(E)のアドレス信号
(E)をラッチする。
【0174】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(D)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(D)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ページモードライトコマンド(D)に対応し
て、データ入力バッファ11に入力されたデータ(D)
は、データ変換器10を介してライトデータバッファ2
8に供給され、続いてライトデータバッファ28からリ
ードライトバッファ27に供給される。
【0175】次に、プリデコードされたアドレス信号
(D)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(D)がビット線BL及び/BLを介して容量501
に記憶される。ページモードライトコマンド(E)の1
クロック後、コマンドデコーダ2にページモードクロー
ズコマンド信号(PC)が入力されると、アドレスラッ
チ&比較器6,7は、前回のページモードライトコマン
ド(E)時にラッチしたアドレス信号(E)をバンク
(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ20−1,
20−2に供給する。
【0176】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(E)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(E)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ページモードライトコマンド(E)に対応し
て、データ入力バッファ11に入力されたデータ(E)
は、データ変換器10を介してライトデータバッファ2
8に供給され、続いてライトデータバッファ28からリ
ードライトバッファ27に供給される。
【0177】次に、プリデコードされたアドレス信号
(E)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(E)がビット線BL及び/BLを介して容量501
に記憶される。以下、ページモードから通常モードに移
行し、ライトコマンド(B)と同様にライトコマンド
(F),(G)が行われる。
【0178】図19は、第一実施例における半導体記憶
装置のページモードライト・ページモードリード連続動
作時の一例の動作タイミング図を示す。尚、クロック信
号の周期は、図4に示すクロック信号の周期の2倍であ
り、そのリードデータレイテンシー及びライトデータレ
イテンシーが1であるものとする。また、図19中、例
えば「PRead−D」は、ページモードリードコマン
ド(D)であることを示す。
【0179】コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が入力されると、図18を利用して説明したよう
に、プリデコードされたアドレス信号(B)に基づいて
コラム線選択信号CLが選択され、リードライトバッフ
ァ27にラッチされているデータ(B)がビット線BL
及び/BLを介して容量501に記憶される。ライトコ
マンド(B)の2クロック後、コマンドデコーダ2にペ
ージモードライトコマンド(C)が入力され、ローアド
レスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5にアドレ
ス信号(C)が入力されると、アドレスラッチ&比較器
6,7は、今回のページモードライトコマンド(C)時
に供給されたアドレス信号(C)をラッチする。なお、
今回のページモードライトコマンド(C)は、通常モー
ドからページモードへ移行させる最初のページモードラ
イトコマンド(C)であり、ワード線を活性化させる。
【0180】ページモードライトコマンド(C)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードリードコ
マンド(D)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(D)が入力
されると、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回のペ
ージモードライトコマンド(C)時にラッチしたアドレ
ス信号(C)と今回のページモードリードコマンド
(D)で供給されたアドレス信号(D)とを比較する。
【0181】比較の結果、アドレス信号(C)とアドレ
ス信号(D)とが異なるので、今回のページモードリー
ドコマンド(D)時に供給されたアドレス信号(D)を
プリデコーダ20−1,20−2に供給する。尚、アド
レスラッチ&比較器6,7は、前回のページモードライ
トコマンド(C)時にラッチしたアドレス信号(C)を
そのままラッチしておく。
【0182】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(D)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(D)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ページモードライトコマンド(C)に対応し
てデータ入力バッファ11に入力されたデータ(C)
は、データ変換器10を介してライトデータバッファ2
8に供給される。
【0183】次に、プリデコードされたアドレス信号
(D)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、容量501のデータがビット線BL及び/BLに読
み出され、コラムゲートであるNMOSトランジスタ5
10及び511を介して、データバスDB及び/DBに
読み出される。そして、データバスDB及び/DBに読
み出されたデータ(D)は、リードライトバッファ27
に供給され、データ変換器12を介してデータ出力バッ
ファ13から外部に出力される。尚、ライトデータバッ
ファ28は、前回のライトコマンドに対応して供給され
たデータ(C)を、そのままラッチしておく。
【0184】ページモードリードコマンド(D)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(E)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(E)が入力
されると、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回のペ
ージモードライトコマンド(C)時にラッチしたアドレ
ス信号(C)をバンク(0)用回路14内に含まれるプ
リデコーダ20−1,20−2に供給すると共に、今回
のページモードライトコマンド(E)のアドレス信号
(E)をラッチする。
【0185】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(C)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(C)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。
【0186】次に、プリデコードされたアドレス信号
(C)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、ライトデータバッファにラッチされているデータ
(C)がリードライトバッファ27に供給され、ビット
線BL及び/BLを介して容量501に記憶される。ペ
ージモードライトコマンド(E)の1クロック後、コマ
ンドデコーダ2にページモードクローズコマンド信号
(PC)が入力されると、アドレスラッチ&比較器6,
7は、前回のページモードライトコマンド(E)時にラ
ッチしたアドレス信号(E)をバンク(0)用回路14
内に含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給す
る。
【0187】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(E)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(E)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ページモードライトコマンド(E)に対応し
て、データ入力バッファ11に入力されたデータ(E)
は、データ変換器10を介してライトデータバッファ2
8に供給され、続いてライトデータバッファ28からリ
ードライトバッファ27に供給される。
【0188】次に、プリデコードされたアドレス信号
(E)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(E)がビット線BL及び/BLを介して容量501
に記憶される。以下、ページモードから通常モードに移
行し、ライトコマンド(B)と同様にライトコマンド
(F),(G)が行われる。
【0189】続いて、図20を利用して、ページモード
ライトコマンド直後に、そのページモードライトコマン
ドに対応したライトデータをページモードリードコマン
ドにより読み出す場合の動作タイミングについて説明す
る。図20は、第一実施例における半導体記憶装置のペ
ージモードライト・ページモードリード連続動作時の一
例の動作タイミング図を示す。尚、クロック信号の周期
は、図4に示すクロック信号の周期の2倍であり、その
リードデータレイテンシー及びライトデータレイテンシ
ーが1であるものとする。
【0190】コマンドデコーダ2にライトコマンド
(B)が入力されると、図18を利用して説明したよう
に、プリデコードされたアドレス信号(B)に基づいて
コラム線選択信号CLが選択され、リードライトバッフ
ァ27にラッチされているデータ(B)がビット線BL
及び/BLを介して容量501に記憶される。ライトコ
マンド(B)の2クロック後、コマンドデコーダ2にペ
ージモードライトコマンド(C)が入力され、ローアド
レスバッファ4及びコラムアドレスバッファ5にアドレ
ス信号(C)が入力されると、アドレスラッチ&比較器
6,7は、今回のページモードライトコマンド(C)時
に供給されたアドレス信号(C)をラッチする。なお、
今回のページモードライトコマンド(C)は、通常モー
ドからページモードへ移行させる最初のページモードラ
イトコマンド(C)であり、ワード線を活性化させる。
【0191】ページモードライトコマンド(C)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードリードコ
マンド(D)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(C)が入力
されると、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回のペ
ージモードライトコマンド(C)時にラッチしたアドレ
ス信号(C)と今回のページモードリードコマンド
(D)で供給されたアドレス信号(C)とを比較する。
【0192】比較の結果、前回のページモードライトコ
マンド(C)時にラッチしたアドレス信号(C)と今回
のページモードリードコマンド(D)で供給されたアド
レス信号(C)とが同一であるので、バンク(0)用回
路14内に含まれるコントロールユニット26に二つの
アドレス信号が同一であることを示す信号が供給され
る。コントロールユニット26は、前回のページモード
ライトコマンド(C)に対応してデータ入力バッファ1
1から入力され、データ変換器10を介してライトデー
タバッファ28に供給されたデータ(C)をリードライ
トバッファ27及びデータ変換器12を介してデータ出
力バッファ13から外部に出力する。
【0193】尚、アドレスラッチ&比較器6,7は、コ
マンドデコーダ2にページモードライトコマンドの次に
ページモードリードコマンドが入力された場合、次のペ
ージモードライトコマンドまでページモードライトコマ
ンド時にラッチしたアドレス信号をそのままラッチして
おく。尚、ライトデータバッファ28は、前回のページ
モードライトコマンド(C)により供給されたデータ
(C)を、そのまま保持しておく。
【0194】ページモードリードコマンド(D)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(E)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(E)が入力
されると、アドレスラッチ&比較器6,7は、前回のペ
ージモードライトコマンド(C)時にラッチしたアドレ
ス信号(C)をバンク(0)用回路14内に含まれるプ
リデコーダ20−1,20−2に供給すると共に、今回
のページモードライトコマンド(E)のアドレス信号
(E)をラッチする。
【0195】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(C)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(C)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。
【0196】次に、プリデコードされたアドレス信号
(C)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、ライトデータバッファ28にラッチされているデー
タ(C)がリードライトバッファ27に供給され、ビッ
ト線BL及び/BLを介して容量501に記憶される。
ページモードライトコマンド(E)の1クロック後、コ
マンドデコーダ2にページモードクローズコマンド信号
(PC)が入力されると、アドレスラッチ&比較器6,
7は、前回のページモードライトコマンド(E)時にラ
ッチしたアドレス信号(E)をバンク(0)用回路14
内に含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給す
る。
【0197】アドレスラッチ&比較器6,7からアドレ
ス信号(E)を供給されたプリデコーダ20−1,20
−2は、アドレス信号(E)をプリデコードし、ブロッ
クデコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ2
1,1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A
生成ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給す
る。また、ページモードライトコマンド(E)に対応し
て、データ入力バッファ11に入力されたデータ(E)
は、データ変換器10を介してライトデータバッファ2
8に供給され、続いてライトデータバッファ28からリ
ードライトバッファ27に供給される。
【0198】次に、プリデコードされたアドレス信号
(E)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(E)がビット線BL及び/BLを介して容量501
に記憶される。以下、ページモードから通常モードに移
行し、ライトコマンド(B)と同様にライトコマンド
(F),(G)が行われる。
【0199】以上、第一実施例における半導体記憶装置
のページモードにおける動作は、ページモードライトコ
マンド直後にそのページモードライトコマンドに対応し
たライトデータをページモードリードコマンドにより読
み出す場合に、コア回路29のメモリセルからデータを
読み出すのではなくライトデータバッファ28から読み
出すことができる。
【0200】したがって、ページモードライトコマンド
によるメモリセルへのデータの書き込み処理の終了を待
たずにページモードリードコマンドの処理を開始でき、
ページモードにおけるリードライトサイクルを短縮する
ことができる。次に、第二実施例における半導体記憶装
置のページモードにおける動作タイミングについて、動
作タイミング図に基づいて説明する。図21は、第二実
施例における半導体記憶装置のぺージモードライト連続
動作時の一例の動作タイミング図を示す。尚、クロック
信号の周期は、図4に示すクロック信号の周期の2倍で
あり、そのリードデータレイテンシー及びライトデータ
レイテンシーが2であるものとする。また、ページモー
ド以外の通常モードの処理については第一実施例と同様
であり説明を省略する。
【0201】ライトコマンド(B)の3クロック後、コ
マンドデコーダ2にページモードライトコマンド(C)
が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラムアドレ
スバッファ5にアドレス信号(C)が入力されると、ダ
ブルアドレスラッチ&比較器30,31は、第一のアド
レスラッチ&比較部分にアドレス信号(C)をラッチす
る。なお、今回のページモードライトコマンド(C)
は、通常モードからページモードへ移行させる最初のペ
ージモードライトコマンド(C)であり、ワード線を活
性化させる。
【0202】ページモードライトコマンド(C)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(D)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(D)が入力
されると、ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
は、前回のページモードライトコマンド(C)時に第一
のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレス信号
(C)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチする
と共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信
号(D)をラッチする。
【0203】ページモードライトコマンド(D)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(E)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(E)が入力
されると、ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
は、前回のページモードライトコマンド(D)時に第一
のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレス信号
(D)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチする
と共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信
号(E)をラッチする。このとき、第二のアドレスラッ
チ&比較部分にラッチされていたアドレス信号(C)
は、バンク(0)用回路14内に含まれるプリデコーダ
20−1,20−2に供給される。
【0204】ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
からアドレス信号(C)を供給されたプリデコーダ20
−1,20−2は、アドレス信号(C)をプリデコード
し、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワードデ
コーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ2
3,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ25
等に供給する。
【0205】また、ページモードライトコマンド(C)
に対応して、データ入力バッファ11に入力されたデー
タ(C)は、データ変換器10を介してライトデータバ
ッファ32に供給され、続いてライトデータバッファ3
2からリードライトバッファ27に供給される。次に、
プリデコードされたアドレス信号(C)に基づいてコラ
ム線選択信号CLが選択されると、リードライトバッフ
ァ27にラッチされているデータ(C)がビット線BL
及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0206】ページモードライトコマンド(E)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードクローズ
コマンド信号(PC)が入力されると、ダブルアドレス
ラッチ&比較器30,31は、前回のページモードライ
トコマンド(E)時に第一のアドレスラッチ&比較部分
にラッチしたアドレス信号(E)を第二のアドレスラッ
チ&比較部分にラッチする。このとき、第二のアドレス
ラッチ&比較部分にラッチされていたアドレス信号
(D)は、バンク(0)用回路14内に含まれるプリデ
コーダ20−1,20−2に供給される。
【0207】ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
からアドレス信号(D)を供給されたプリデコーダ20
−1,20−2は、アドレス信号(D)をプリデコード
し、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワードデ
コーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ2
3,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ25
等に供給する。
【0208】また、ページモードライトコマンド(D)
に対応して、データ入力バッファ11に入力されたデー
タ(D)は、データ変換器10を介してライトデータバ
ッファ33に供給され、続いてライトデータバッファ3
3からリードライトバッファ27に供給される。次に、
プリデコードされたアドレス信号(D)に基づいてコラ
ム線選択信号CLが選択されると、リードライトバッフ
ァ27にラッチされているデータ(D)がビット線BL
及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0209】ページモードクローズコマンド(PC)の
1クロック後、ダブルアドレスラッチ&比較器30,3
1は、第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチされて
いたアドレス信号(E)をバンク(0)用回路14内に
含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給する。
ダブルアドレスラッチ&比較器30,31からアドレス
信号(E)を供給されたプリデコーダ20−1,20−
2は、アドレス信号(E)をプリデコードし、ブロック
デコーダ19に供給すると共に、ワードデコーダ21,
1/4デコーダ22,BLTデコーダ23,S/A生成
ユニット24,及びコラムデコーダ25等に供給する。
【0210】また、ページモードライトコマンド(E)
に対応して、データ入力バッファ11に入力されたデー
タ(E)は、データ変換器10を介してライトデータバ
ッファ32に供給され、続いてライトデータバッファ3
2からリードライトバッファ27に供給される。次に、
プリデコードされたアドレス信号(E)に基づいてコラ
ム線選択信号CLが選択されると、リードライトバッフ
ァ27にラッチされているデータ(E)がビット線BL
及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0211】図22は、第二実施例における半導体記憶
装置のページモードライト・ページモードリード連続動
作時の一例の動作タイミング図を示す。尚、クロック信
号の周期は、図4に示すクロック信号の周期の2倍であ
り、そのリードデータレイテンシー及びライトデータレ
イテンシーが2であるものとする。また、ページモード
以外の通常モードの処理については第一実施例と同様で
あり説明を省略する。
【0212】ライトコマンド(B)の3クロック後、コ
マンドデコーダ2にページモードライトコマンド(C)
が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラムアドレ
スバッファ5にアドレス信号(C)が入力されると、ダ
ブルアドレスラッチ&比較器30,31は、第一のアド
レスラッチ&比較部分にアドレス信号(C)をラッチす
る。なお、今回のページモードライトコマンド(C)
は、通常モードからページモードへ移行させる最初のペ
ージモードライトコマンド(C)であり、ワード線を活
性化させる。
【0213】ページモードライトコマンド(C)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードリードコ
マンド(D)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(D)が入力
されると、ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
は、前回のページモードライトコマンド(C)時にラッ
チしたアドレス信号(C)と今回のページモードリード
コマンド(D)で供給されたアドレス信号(D)とを比
較する。
【0214】比較の結果、アドレス信号(C)とアドレ
ス信号(D)とが異なるので、今回のページモードリー
ドコマンド(D)時に供給されたアドレス信号(D)を
プリデコーダ20−1,20−2に供給する。尚、ダブ
ルアドレスラッチ&比較器30,31は、前回のページ
モードライトコマンド(C)時にラッチしたアドレス信
号(C)をそのままラッチしておく。
【0215】アドレス信号(D)を供給されたプリデコ
ーダ20−1,20−2は、アドレス信号(D)をプリ
デコードし、ブロックデコーダ19に供給すると共に、
ワードデコーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコ
ーダ23,S/A生成ユニット24,及びコラムデコー
ダ25等に供給する。次に、プリデコードされたアドレ
ス信号(D)に基づいてコラム線選択信号CLが選択さ
れると、容量501のデータがビット線BL及び/BL
に読み出され、コラムゲートであるNMOSトランジス
タ510及び511を介して、データバスDB及び/D
Bに読み出される。そして、データバスDB及び/DB
に読み出されたデータ(D)は、リードライトバッファ
27に供給され、データ変換器12を介してデータ出力
バッファ13から外部に出力される。
【0216】ページモードリードコマンド(D)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(E)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(E)が入力
されると、ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
は、前回のページモードライトコマンド(C)時にラッ
チしたアドレス信号(C)をバンク(0)用回路14内
に含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供給する
と共に、今回のページモードライトコマンド(E)のア
ドレス信号(E)を第二のアドレスラッチ&比較部分に
アドレス信号(E)をラッチする。
【0217】ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
からアドレス信号(C)を供給されたプリデコーダ20
−1,20−2は、アドレス信号(C)をプリデコード
し、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワードデ
コーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ2
3,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ25
等に供給する。
【0218】また、ページモードライトコマンド(C)
に対応して、データ入力バッファ11に入力されたデー
タ(C)は、データ変換器10を介してライトデータバ
ッファ32に供給され、続いてライトデータバッファ3
2からリードライトバッファ27に供給される。次に、
プリデコードされたアドレス信号(C)に基づいてコラ
ム線選択信号CLが選択されると、リードライトバッフ
ァ27にラッチされているデータ(C)が、ビット線B
L及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0219】ページモードライトコマンド(E)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードクローズ
コマンド信号(PC)が入力されると、ダブルアドレス
ラッチ&比較器30,31は、前回のページモードライ
トコマンド(E)時に第二のアドレスラッチ&比較部分
にラッチしたアドレス信号(E)をバンク(0)用回路
14内に含まれるプリデコーダ20−1,20−2に供
給する。
【0220】ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
からアドレス信号(E)を供給されたプリデコーダ20
−1,20−2は、アドレス信号(E)をプリデコード
し、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワードデ
コーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ2
3,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ25
等に供給する。また、ページモードライトコマンド
(E)に対応して、データ入力バッファ11に入力され
たデータ(E)は、データ変換器10を介してライトデ
ータバッファ33に供給され、続いてライトデータバッ
ファ33からリードライトバッファ27に供給される。
【0221】次に、プリデコードされたアドレス信号
(E)に基づいてコラム線選択信号CLが選択される
と、リードライトバッファ27にラッチされているデー
タ(E)がビット線BL及び/BLを介して容量501
に記憶される。以下、ページモードから通常モードに移
行し、ライトコマンド(B)と同様にライトコマンド
(F)が行われる。
【0222】続いて、図23を利用して、ページモード
ライトコマンド直後に、そのページモードライトコマン
ドに対応したライトデータをページモードリードコマン
ドにより読み出す場合の動作タイミングについて説明す
る。図23は、第二実施例における半導体記憶装置のペ
ージモードライト・ページモードリード連続動作時の一
例の動作タイミング図を示す。尚、クロック信号の周期
は図4に示すクロック信号の周期の2倍であり、そのリ
ードデータレイテンシー及びライトデータレイテンシー
が2であるものとする。また、ページモード以外の通常
モードの処理については第一実施例と同様であり説明を
省略する。
【0223】ライトコマンド(B)の3クロック後、コ
マンドデコーダ2にページモードライトコマンド(C)
が入力され、ローアドレスバッファ4及びコラムアドレ
スバッファ5にアドレス信号(C)が入力されると、ダ
ブルアドレスラッチ&比較器30,31は、第一のアド
レスラッチ&比較部分にアドレス信号(C)をラッチす
る。なお、今回のページモードライトコマンド(C)
は、通常モードからページモードへ移行させる最初のペ
ージモードライトコマンド(C)であり、ワード線を活
性化させる。
【0224】ページモードライトコマンド(C)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードリードコ
マンド(D)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(C)が入力
されると、ダブルアドレスラッチ&比較器30,31
は、前回のページモードライトコマンド(C)時にラッ
チしたアドレス信号(C)と今回のページモードリード
コマンド(D)で供給されたアドレス信号(D)とを比
較する。
【0225】比較の結果、前回のページモードライトコ
マンド(C)時にラッチしたアドレス信号(C)と今回
のページモードリードコマンド(D)で供給されたアド
レス信号(C)とが同一であるので、バンク(0)用回
路14内に含まれるコントロールユニット26に二つの
アドレス信号が同一であることを示す信号が供給され
る。コントロールユニット26は、前回のページモード
ライトコマンド(C)に対応してデータ入力バッファ1
1から入力され、データ変換器10を介してライトデー
タバッファ32に供給されたデータ(C)をリードライ
トバッファ27及びデータ変換器12を介してデータ出
力バッファ13から外部に出力する。
【0226】尚、ダブルアドレスラッチ&比較器30,
31は、コマンドデコーダ2にページモードライトコマ
ンドの次にページモードリードコマンドが入力された場
合、次のページモードライトコマンドまでページモード
ライトコマンド時にラッチしたアドレス信号をそのまま
ラッチしておく。尚、ライトデータバッファ32は、前
回のページモードライトコマンド(C)により供給され
たデータ(C)を、そのままラッチしておく。
【0227】以下、ページモードライトコマンド(E)
及びページモードクローズコマンド信号(PC)の処理
については図11の動作タイミング図と同様であり説明
を省略する。以上、第二実施例における半導体記憶装置
におけるページモードの動作は、ページモードライトコ
マンド直後に、そのページモードライトコマンドに対応
したライトデータをページモードリードコマンドにより
読み出す場合に、コア回路29のメモリセルからデータ
を読み出すのではなく、ライトデータバッファ32又は
33から読み出すことにより、ページモードライトコマ
ンドによるメモリセルへのデータの書き込み処理の終了
を待たずにページモードリードコマンドの処理を開始で
きる。
【0228】更に、リードレイテンシー及びライトレイ
テンシーが長くなったとしても、複数のライトデータバ
ッファを含む構成とすることにより、リードライトサイ
クルを短縮することができる。次に、第三実施例におけ
る半導体記憶装置のページモードにおける動作タイミン
グについて、動作タイミング図に基づいて説明する。図
24は、第三実施例における半導体記憶装置のぺージモ
ードライト連続動作時の一例の動作タイミング図を示
す。尚、クロック信号の周期は、図4に示すクロック信
号の周期の2倍であり、そのリードデータレイテンシー
及びライトデータレイテンシーが3であるものとする。
また、ページモード以外の通常モードの処理については
第一実施例と同様であり説明を省略する。
【0229】コマンドデコーダ2にページモードライト
コマンド(B)が入力され、ローアドレスバッファ4及
びコラムアドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入
力されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,3
6は、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信号
(B)をラッチする。なお、今回のページモードライト
コマンド(B)は、通常モードからページモードへ移行
させる最初のページモードライトコマンド(B)であ
り、ワード線を活性化させる。
【0230】ページモードライトコマンド(B)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(C)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(C)が入力
されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,36
は、前回のページモードライトコマンド(B)時に第一
のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレス信号
(B)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチする
と共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信
号(C)をラッチする。
【0231】ページモードライトコマンド(C)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(D)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(D)が入力
されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,36
は、前回のページモードライトコマンド(C)時に第一
のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレス信号
(C)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチする
と共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信
号(D)をラッチする。また、前回のページモードライ
トコマンド(C)時に第二のアドレスラッチ&比較部分
にラッチしたアドレス信号(B)を第三のアドレスラッ
チ&比較部分にラッチする。
【0232】ページモードライトコマンド(D)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(E)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(E)が入力
されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,36
は、前回のページモードライトコマンド(D)時に第一
のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレス信号
(D)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチする
と共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信
号(E)をラッチする。また、前回のページモードライ
トコマンド(D)時に第二のアドレスラッチ&比較部分
にラッチしたアドレス信号(C)を第三のアドレスラッ
チ&比較部分にラッチすると共に、第三のアドレスラッ
チ&比較部分にラッチされていたアドレス信号(B)を
バンク(0)用回路内に含まれるプリデコーダ20−
1,20−2に供給する。
【0233】トリプルアドレスラッチ&比較器35,3
6からアドレス信号(B)を供給されたプリデコーダ2
0−1,20−2は、アドレス信号(B)をプリデコー
ドし、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワード
デコーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ2
3,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ25
等に供給する。
【0234】また、ページモードライトコマンド(B)
に対応して、データ入力バッファ11に入力されたデー
タ(B)は、データ変換器10を介してライトデータバ
ッファ32に供給され、続いてライトデータバッファ3
2からリードライトバッファ27に供給される。次に、
プリデコードされたアドレス信号(B)に基づいてコラ
ム線選択信号CLが選択されると、リードライトバッフ
ァ27にラッチされているデータ(B)がビット線BL
及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0235】ページモードライトコマンド(E)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードクローズ
コマンド信号(PC)が入力されると、トリプルアドレ
スラッチ&比較器35,36は、前回のページモードラ
イトコマンド(E)時に第一のアドレスラッチ&比較部
分にラッチしたアドレス信号(E)を第二のアドレスラ
ッチ&比較部分にラッチする。また、前回のページモー
ドライトコマンド(E)時に第二のアドレスラッチ&比
較部分にラッチしたアドレス信号(D)を第三のアドレ
スラッチ&比較部分にラッチすると共に、第三のアドレ
スラッチ&比較部分にラッチされていたアドレス信号
(C)をバンク(0)用回路内に含まれるプリデコーダ
20−1,20−2に供給する。
【0236】トリプルアドレスラッチ&比較器35,3
6からアドレス信号(C)を供給されたプリデコーダ2
0−1,20−2は、アドレス信号(C)をプリデコー
ドし、ブロックデコーダ19に供給すると共に、ワード
デコーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコーダ2
3,S/A生成ユニット24,及びコラムデコーダ25
等に供給する。
【0237】また、ページモードライトコマンド(C)
に対応して、データ入力バッファ11に入力されたデー
タ(C)は、データ変換器10を介してライトデータバ
ッファ33に供給され、続いてライトデータバッファ3
3からリードライトバッファ27に供給される。次に、
プリデコードされたアドレス信号(C)に基づいてコラ
ム線選択信号CLが選択されると、リードライトバッフ
ァ27にラッチされているデータ(C)がビット線BL
及び/BLを介して容量501に記憶される。
【0238】以下、トリプルアドレスラッチ&比較器3
5,36にラッチされているアドレス信号がなくなるま
で同様な処理を繰り返すことによりページモードライト
連続動作が行われる。図25は、第三実施例における半
導体記憶装置のページモードライト・ページモードリー
ド連続動作時の一例の動作タイミング図を示す。尚、ク
ロック信号の周期は、図4に示すクロック信号の周期の
2倍であり、そのリードデータレイテンシー及びライト
データレイテンシーが3であるものとする。また、ペー
ジモード以外の通常モードの処理については第一実施例
と同様であり説明を省略する。
【0239】コマンドデコーダ2にページモードライト
コマンド(B)が入力され、ローアドレスバッファ4及
びコラムアドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入
力されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,3
6は、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信号
(B)をラッチする。なお、今回のページモードライト
コマンド(B)は、通常モードからページモードへ移行
させる最初のページモードライトコマンド(C)であ
り、ワード線を活性化させる。
【0240】ページモードライトコマンド(B)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードリードコ
マンド(C)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(C)が入力
されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,36
は、前回のページモードライトコマンド(B)時にラッ
チしたアドレス信号(B)と今回のページモードリード
コマンド(C)で供給されたアドレス信号(C)とを比
較する。
【0241】比較の結果、アドレス信号(B)とアドレ
ス信号(C)とが異なるので、今回のページモードリー
ドコマンド(C)時に供給されたアドレス信号(C)を
プリデコーダ20−1,20−2に供給する。尚、トリ
プルアドレスラッチ&比較器35,36は、前回のペー
ジモードライトコマンド(B)時にラッチしたアドレス
信号(B)をそのままラッチしておく。
【0242】アドレス信号(C)を供給されたプリデコ
ーダ20−1,20−2は、アドレス信号(C)をプリ
デコードし、ブロックデコーダ19に供給すると共に、
ワードデコーダ21,1/4デコーダ22,BLTデコ
ーダ23,S/A生成ユニット24,及びコラムデコー
ダ25等に供給する。次に、プリデコードされたアドレ
ス信号(C)に基づいてコラム線選択信号CLが選択さ
れると、容量501のデータがビット線BL及び/BL
に読み出され、コラムゲートであるNMOSトランジス
タ510及び511を介して、データバスDB及び/D
Bに読み出される。そして、データバスDB及び/DB
に読み出されたデータ(C)は、リードライトバッファ
27に供給され、データ変換器12を介してデータ出力
バッファ13から外部に出力される。
【0243】ページモードリードコマンド(C)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(D)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(D)が入力
されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,36
は、前回のページモードライトコマンド(B)時に第一
のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレス信号
(B)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチする
と共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信
号(D)をラッチする。
【0244】以下の処理については、図24の動作タイ
ミング図と同様であり説明を省略する。続いて、図26
を利用して、ページモードライトコマンド直後に、その
ページモードライトコマンドに対応したライトデータを
ページモードリードコマンドにより読み出す場合の動作
タイミングについて説明する。
【0245】図26は、第三実施例における半導体記憶
装置のページモードライト・ページモードリード連続動
作時の一例の動作タイミング図を示す。尚、クロック信
号の周期は、図4に示すクロック信号の周期の2倍であ
り、そのリードデータレイテンシー及びライトデータレ
イテンシーが3であるものとする。また、ページモード
以外の通常モードの処理については第一実施例と同様で
あり説明を省略する。
【0246】コマンドデコーダ2にページモードライト
コマンド(B)が入力され、ローアドレスバッファ4及
びコラムアドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入
力されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,3
6は、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信号
(B)をラッチする。なお、今回のページモードライト
コマンド(B)は、通常モードからページモードへ移行
させる最初のページモードライトコマンド(B)であ
り、ワード線を活性化させる。
【0247】ページモードライトコマンド(B)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードリードコ
マンド(C)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(B)が入力
されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,36
は、前回のページモードライトコマンド(B)時にラッ
チしたアドレス信号(B)と今回のページモードリード
コマンド(C)で供給されたアドレス信号(B)とを比
較する。
【0248】比較の結果、前回のページモードライトコ
マンド(B)時にラッチしたアドレス信号(B)と今回
のページモードリードコマンド(C)で供給されたアド
レス信号(B)とが同一であるので、バンク(0)用回
路14内に含まれるコントロールユニット26に二つの
アドレス信号が同一であることを示す信号が供給され
る。コントロールユニット26は、前回のページモード
ライトコマンド(B)に対応してデータ入力バッファ1
1から入力され、データ変換器10を介してライトデー
タバッファ32に供給されたデータ(B)をリードライ
トバッファ27及びデータ変換器12を介してデータ出
力バッファ13から外部に出力する。
【0249】尚、トリプルアドレスラッチ&比較器3
5,36は、コマンドデコーダ2にページモードライト
コマンドの次にページモードリードコマンドが入力され
た場合、次のページモードライトコマンドまでページモ
ードライトコマンド時にラッチしたアドレス信号をその
ままラッチしておく。尚、ライトデータバッファ32
は、前回のページモードライトコマンド(B)により供
給されたデータ(B)を、そのままラッチしておく。
【0250】ページモードリードコマンド(C)の1ク
ロック後、コマンドデコーダ2にページモードライトコ
マンド(D)が入力され、ローアドレスバッファ4及び
コラムアドレスバッファ5にアドレス信号(D)が入力
されると、トリプルアドレスラッチ&比較器35,36
は、前回のページモードライトコマンド(B)時に第一
のアドレスラッチ&比較部分にラッチしたアドレス信号
(B)を第二のアドレスラッチ&比較部分にラッチする
と共に、第一のアドレスラッチ&比較部分にアドレス信
号(D)をラッチする。
【0251】以下の処理については、図24の動作タイ
ミング図と同様であり説明を省略する。以上、第三実施
例における半導体記憶装置のページモードにおける動作
は、同一バンク内において、ページモードライトコマン
ド直後に、そのページモードライトコマンドに対応した
ライトデータをページモードリードコマンドにより読み
出す場合に、コア回路29のメモリセルからデータを読
み出すのではなく、ライトデータバッファ32,33,
又は37から読み出すことにより、ページモードライト
コマンドによるメモリセルへのデータの書き込み処理の
終了を待たずにページモードリードコマンドの処理を開
始できる。
【0252】更に、リードレイテンシー及びライトレイ
テンシーが第二実施例の場合より長くなったとしても、
複数のライトデータバッファを含む構成とすることによ
り、リードライトサイクルを短縮することができる。上
記動作のすべては、ライトデータレイテンシーとリード
データレイテンシーとが等しい場合である。しかしなが
ら、ライトデータレイテンシーとリードデータレイテン
シーとは異なる値であってもよい。
【0253】図27は、図5に示すFCRAMでライト
データレイテンシーとリードデータレイテンシーとが等
しい場合においてライト、リード、リード及びライトを
連続して処理する場合のタイミング図である。図27に
示すタイミング図は、図7に示すタイミング図を時間軸
方向に拡張することで得られるものである。図28は、
図5に示すFCRAMでリードデータレイテンシー(C
L)が2でライトデータレイテンシー(WL)が1の場
合(WL=CL−1)ライト、リード、リード及びライ
トを連続して処理する場合のタイミング図である。
【0254】図27において、ライトデータレイテンシ
ーとリードデータレイテンシーは2である。図28の動
作は、ライトデータレイテンシーが1である点で、図2
7の動作と異なる。図28の動作は、図27の動作より
も若干遅れる。しかしながら、ライトデータレイテンシ
ーとリードデータレイテンシーとは異なる値とすること
で、以下に説明する効果が得られる。
【0255】図29は、図16の構成においてライトデ
ータレイテンシーとリードデータレイテンシーが共に3
の場合において、ページモードライトコマンドとページ
モードリードコマンドを連続処理する場合のタイミング
図である。図29において、PWはページモードライト
コマンドを意味し、PRはページモードリードコマンド
を意味する。図29の動作は図25の動作と略同一であ
る。図30は、ライトデータレイテンシーは2でリード
データレイテンシーは3の場合における図29に対応す
るシーケンスを示すタイミング図である。図29と図3
0の比較から、トリプルアドレスラッチ&比較器35、
36を具備する図16の構成で行われる図29の処理
は、ダブルアドレスラッチ&比較器30、31を具備す
る図12の構成で実現できる。
【0256】ライトデータレイテンシーとリードデータ
レイテンシーを異なる値とすることで、データ入出力バ
ッファに接続されるバスの使用をフレキシブルに行え
る。ライトデータレイテンシーとリードデータレイテン
シーが同じ場合には、入力データと出力データとがそれ
ぞれのバス上で同時に現われる場合がある。例えば、図
19は、入力データEと出力データDとがオーバラップ
している様子を示している。このような状況が起こる可
能性がある場合には、データ入力バッファ11とデータ
出力バッファ13にそれぞれ接続されるバスを別個に設
ける必要がある。これに対し、ライトデータレイテンシ
ーとリードデータレイテンシーを異なる値とすること
で、図31に示すように、データ入力バッファ11とデ
ータ出力バッファ13に共通する単一のバス100を設
けることができる。
【0257】図32は、ライトデータレイテンシーが1
でリードデータレイテンシーが3の場合における図2
9、図30に相当するシーケンスを示すタイミング図で
ある。この設定により、アドレスラッチ&比較器6、7
を具備する構成で、図32に示す動作が実現できる。図
5、12、及び16に示す構成では、各バンクにそれぞ
れ書き込みデータバッファ28、32、33、37を設
ける構成であったが、各バンクに共通にこれらのバッフ
ァを設けることとしてもよい。
【0258】以上、本発明の半導体記憶装置の一実施例
としてFCRAMについて説明を行ったが、メモリセル
周辺の回路構成はFCRAMとSDRAMとでは同様で
あり、SDRAMに適用することも可能である。なお、
特許請求の範囲に記載したアドレス保持比較手段はアド
レスラッチ&比較器に対応し、書き込みデータ保持手段
はライトデータバッファに対応し、第一アドレス保持部
は第一のアドレスラッチ&比較部分に対応し、第二アド
レス保持部は第二のアドレスラッチ&比較部分に対応
し、第一書き込みデータ保持手段及び第二書き込みデー
タ保持手段はライトデータバッファに対応する。
【0259】
【発明の効果】上述の如く、本発明の請求項1記載の発
明によれば、書き込みコマンド信号に対応するアドレス
信号及びデータ信号を保持して、書き込みコマンド信号
に対応するアドレス信号と読み出しコマンド信号に対応
するアドレス信号とを比較することにより、書き込みコ
マンド直後にその書き込みコマンドに対応したデータ信
号を読み出しコマンドにより読み出す場合に対応でき
る。これは、書き込みコマンド信号に対応するアドレス
信号と読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号と
の比較結果に基づいて、保持されている書き込みコマン
ド信号に対応するデータ信号を読み出しコマンドに対応
するデータとして出力することが出来るからである。し
たがって、読み出し動作と書き込み動作との間隔である
リードライトサイクルを短縮することができる。
【0260】また、請求項2記載の発明によれば、コマ
ンド信号の入力間隔が常に最小値で一定であり、読み出
しコマンド信号−読み出しコマンド信号,書き込みコマ
ンド信号−書き込みコマンド信号,読み出しコマンド信
号−書き込みコマンド信号,及び書き込みコマンド信号
−読み出しコマンド信号の入力間隔が常に最小値で一定
である。したがって、読み出し動作と書き込み動作との
間隔であるリードライトサイクルを短縮することが可能
である。
【0261】また、請求項3記載の発明によれば、アド
レス保持比較手段による比較結果がアドレス信号の同一
を示すときは、すなわち書き込みコマンド信号に対応す
るアドレス信号と読み出しコマンド信号に対応するアド
レス信号とが同一であることを示している。つまり、リ
ードコマンドに対応するデータ信号は書き込みデータ保
持手段に保持されているデータである。したがって、メ
モリセルからデータを読み出すことなく、書き込みデー
タ保持手段からリードコマンド信号に対応するデータ信
号を出力することができる。
【0262】また、請求項4記載の発明によれば、ライ
トマスク機能が使用されているデータ部分がある場合、
書き込みデータ保持手段により保持している書き込みコ
マンド信号に対応するデータの内、ライトマスク機能が
使用されていないデータ部分のみを前記読み出しコマン
ド信号に対応するデータ信号として出力することによ
り、ライトマスク機能を使用するときもライトコマンド
信号による書き込み処理の終了を待たずにリードコマン
ド信号による読み出し処理を開始できる。
【0263】また、請求項5記載の発明によれば、書き
込みコマンド信号に対応する複数のアドレス信号及び複
数のデータ信号を保持して、書き込みコマンド信号に対
応するアドレス信号と読み出しコマンド信号に対応する
アドレス信号とを比較することにより、書き込みコマン
ド直後にその書き込みコマンドに対応したデータ信号を
読み出しコマンドにより読み出す場合に対応できる。こ
れは、書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号と
読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号との比較
結果に基づいて、保持されている書き込みコマンド信号
に対応するデータ信号を読み出しコマンドに対応するデ
ータとして出力することが出来るからである。
【0264】また、書き込みコマンド信号に対応する複
数のアドレス信号及び複数のデータ信号を保持すること
により、書き込みコマンド信号が取り込まれてから実際
にメモリセルへのデータ信号の書き込み処理が終了する
までの時間が長くなったとしても、書き込みコマンド直
後にその書き込みコマンドに対応したデータ信号を読み
出しコマンドにより読み出すことが可能となる。
【0265】また、請求項6記載の発明によれば、書き
込みコマンド信号に対応する2つのアドレス信号及び2
つのデータ信号を保持して、書き込みコマンド信号に対
応するアドレス信号と読み出しコマンド信号に対応する
アドレス信号とを比較することにより、書き込みコマン
ド直後にその書き込みコマンドに対応したデータ信号を
読み出しコマンドにより読み出す場合に対応できる。こ
れは、書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号と
読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号との比較
結果に基づいて、保持されている書き込みコマンド信号
に対応するデータ信号を読み出しコマンドに対応するデ
ータとして出力することが出来るからである。
【0266】また、書き込みコマンド信号に対応する2
つのアドレス信号及び2つのデータ信号を保持すること
により、書き込みコマンド信号が取り込まれてから実際
にメモリセルへのデータ信号の書き込み処理が終了する
までの時間が長くなったとしても、書き込みコマンド直
後にその書き込みコマンドに対応したデータ信号を読み
出しコマンドにより読み出すことがが可能となる。
【0267】これは、書き込みコマンド信号に対応する
2つのデータ信号を保持して、その2つのデータ信号を
交互に読み出すことにより、メモリセルへのデータ信号
の書き込み処理が終了するまでの時間が長くなったとし
ても処理が行えるようにしているためである。したがっ
て、読み出し動作と書き込み動作との間隔であるリード
ライトサイクルを短縮することができる。
【0268】また、請求項7記載の発明によれば、前回
の書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を第一
アドレス保持部に保持しておき、前々回の書き込みコマ
ンド信号に対応するアドレス信号を第二アドレス保持部
に保持しておくことにより、書き込みコマンド直後にメ
モリセルに格納する必要がなく、二つ後の書き込みコマ
ンドのときにメモリセルに格納すれば良い。したがっ
て、比較的時間のかかるメモリセルへのデータの書き込
み終了を待つことなく、次の読み出しコマンドを取り込
むことが可能となる。
【0269】また、請求項8記載の発明によれば、アド
レス保持比較手段による比較結果がアドレス信号の同一
を示すときは、すなわち読み出しコマンド信号に対応す
るアドレス信号と前回の書き込みコマンド信号に対応す
るアドレス信号とが同一であることを示している。つま
り、リードコマンドに対応するデータ信号は第一又は第
二書き込みデータ保持手段に保持されているデータであ
る。したがって、メモリセルからデータを読み出すこと
なく、第一又は第二書き込みデータ保持手段からリード
コマンド信号に対応するデータ信号を出力することがで
きる。
【0270】請求項9記載の発明によれば、ページモー
ドであっても、前述した効果と同様の作用、効果が得ら
れる。請求項10記載の発明によればページモードの書
き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を次のペー
ジモードの書き込みコマンド信号又はページモードの終
了コマンド信号が取り込まれるまで保持しておくことに
より、ページモードの書き込みコマンド直後にデータを
メモリセルに格納する必要がなく、次のページモードの
書き込みコマンド又はページモードの終了コマンド信号
のときにデータをメモリセルに格納すれば良い。したが
って、比較的時間のかかるメモリセルへのデータの書き
込み終了を待つことなく、次のページモードの読み出し
コマンドを取り込むことが可能となる。
【0271】請求項11記載の発明によれば、バンク毎
の制御が容易になる。請求項12記載の発明によれば、
データバスとのインタフェースを入出力共通にした場
合、入出力データの衝突を容易に回避することができ
る。 (付記)以上、本発明をまとめると次の通りである。 (1)クロック信号に同期して動作する半導体記憶装置
において、取り込まれた書き込みコマンド信号に対応す
るアドレス信号を保持して、取り込まれる読み出しコマ
ンド信号に対応するアドレス信号と比較するアドレス保
持比較手段と、前記書き込みコマンド信号に対応するデ
ータ信号を保持する書き込みデータ保持手段とを含む構
成であり、前記アドレス保持比較手段の比較結果に応じ
て前記書き込みデータ保持手段に保持されているデータ
信号を前記読み出しコマンド信号に対応するデータ信号
として出力することを特徴とする半導体記憶装置。 (2)前記書き込みコマンド信号の取り込みタイミング
から、次のコマンド信号である読み出しコマンド信号の
取り込みタイミングまでの間隔は、前記書き込みコマン
ド信号の取り込みタイミングから、次のコマンド信号で
ある書き込みコマンド信号の取り込みタイミングまでの
間隔と同一とすることを特徴とする(1)記載の半導体
記憶装置。 (3)前記書き込みコマンド信号の取り込みタイミング
から、次のコマンド信号である読み出しコマンド信号の
取り込みタイミングまでの間隔は、センスアンプの動作
間隔に基づいた間隔であることを特徴とする(1)記載
の半導体記録装置。 (4)前記アドレス保持比較手段は、前記取り込まれた
書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を次に書
き込みコマンド信号が取り込まれるまで保持することを
特徴とする(1)ないし(3)のいずれか一項記載の半
導体記憶装置。 (5)前記アドレス保持比較手段は、前記取り込まれた
書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を、次に
前記書き込みコマンドのバンクと異なるバンクの読み出
しコマンド信号が取り込まれるまで保持することを特徴
とする(1)ないし(3)のいずれか一項記載の半導体
記憶装置。 (6)前記書き込みデータ保持手段は、前記アドレス保
持比較手段による比較結果がアドレス信号の同一を示す
とき、前記保持している書き込みコマンド信号に対応す
るデータを、前記読み出しコマンド信号に対応するデー
タ信号として出力することを特徴とする(1)ないし
(5)のいずれか一項記載の半導体記憶装置。 (7)前記書き込みデータ保持手段は、前記保持してい
る書き込みコマンド信号に対応するデータの一部に書き
込みを禁止するライトマスク機能が使用されていると
き、前記ライトマスク機能が使用されていないデータ部
分のみを前記読み出しコマンド信号に対応するデータ信
号として出力することを特徴とする(1)ないし(6)
のいずれか一項記載の半導体記憶装置。 (8)前記半導体記憶装置は、ロー及びコラムに対応し
て縦横に配列されるメモリセルと、ローアクセスされた
メモリセルのデータを保持するセンスアンプと、前記メ
モリセルとセンスアンプとの間でデータ転送を行うビッ
ト線と、ローアクセス命令に応じて所定時間後に内部プ
リチャージ信号を生成して前記ビット線をプリチャージ
するプリチャージ信号生成ユニットとを含むことを特徴
とする(1)ないし(7)いずれか一項記載の半導体記
憶装置。 (9)前記アドレス保持比較手段は、前記取り込まれた
書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を次に書
き込みコマンド信号が取り込まれるまで保持した後、前
記書き込みデータ保持手段に保持しているデータ信号を
そのアドレス信号に基づいて前記メモリセルに格納する
ことを特徴とする(8)記載の半導体記憶装置。 (10)前記アドレス保持比較手段は、前記取り込まれ
た書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を次に
前記書き込みコマンドのバンクと異なるバンクの読み出
しコマンド信号が取り込まれるまで保持した後、前記書
き込みデータ保持手段に保持しているデータ信号をその
アドレス信号に基づいて前記メモリセルに格納すること
を特徴とする(8)記載の半導体記憶装置。 (11)前記アドレス保持比較手段は、ページモードに
移行した場合、前記取り込まれた書き込みコマンド信号
に対応するアドレス信号及びデータ信号を保持し続け、
前記ページモードが終了した後、前記取り込まれた書き
込みコマンド信号に対応するアドレス信号を次に書き込
みコマンド信号が取り込まれたときに、前記書き込みデ
ータ保持手段に保持しているデータ信号をそのアドレス
信号に基づいて前記メモリセルに格納することを特徴と
する(9)記載の半導体記憶装置。 (12)クロック信号に同期して動作する半導体記憶装
置において、取り込まれた複数の書き込みコマンド信号
に対応する複数のアドレス信号を保持して、取り込まれ
る読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号と比較
するアドレス保持比較手段と、前記複数の書き込みコマ
ンド信号に対応する複数のデータ信号を保持する書き込
みデータ保持手段とを含む構成であり、前記アドレス保
持比較手段の比較結果に応じて前記書き込みデータ保持
手段に保持されているデータ信号を前記読み出しコマン
ド信号に対応するデータ信号として出力することを特徴
とする半導体記憶装置。 (13)クロック信号に同期して動作する半導体記憶装
置において、取り込まれた2つの書き込みコマンド信号
に対応する2つのアドレス信号を保持して、取り込まれ
る読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号と比較
するアドレス保持比較手段と、前記2つの書き込みコマ
ンド信号に対応する2つのデータ信号を保持する書き込
みデータ保持手段とを含む構成であり、前記アドレス保
持比較手段の比較結果に応じて前記書き込みデータ保持
手段に保持されているデータ信号を前記読み出しコマン
ド信号に対応するデータ信号として出力することを特徴
とする半導体記憶装置。 (14)前記書き込みコマンド信号の取り込みタイミン
グから、次のコマンド信号である読み出しコマンド信号
の取り込みタイミングまでの間隔は、前記書き込みコマ
ンド信号の取り込みタイミングから、次のコマンド信号
である書き込みコマンド信号の取り込みタイミングまで
の間隔と同一とすることを特徴とする(12)又は(1
3)記載の本導体記憶装置。 (15)前記書き込みコマンド信号の取り込みタイミン
グから、次のコマンド信号である読み出しコマンド信号
の取り込みタイミングまでの間隔は、センスアンプの動
作間隔に基づいた間隔であることを特徴とする(14)
記載の半導体記録装置。 (16)前記アドレス保持比較手段は、前記複数の書き
込みコマンドに対応するN,N−1,・・・ ,1回前の書
き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を保持する
第N,N−1,・・・ ,1アドレス保持部を有することを
特徴とする(12)記載の半導体記憶装置。 (17)前記アドレス保持比較手段は、前回の書き込み
コマンド信号に対応するアドレス信号を保持する第一ア
ドレス保持部と、前々回の書き込みコマンド信号に対応
するアドレス信号を保持する第二アドレス保持部とを有
することを特徴とする(13)記載の半導体記憶装置。 (18)前記書き込みデータ保持手段は、前回又は前々
回の書き込みコマンド信号のどちらか一方に対応するデ
ータ信号を保持する第一書き込みデータ保持手段と、前
回又は前々回の書き込みコマンド信号のうち第一書き込
みデータ保持手段に書き込まれている他方の書き込みコ
マンド信号に対応するデータ信号を保持する第二書き込
みデータ保持手段とを有し、前記アドレス保持比較手段
による比較結果がアドレス信号の同一を示すとき、前記
第一書き込みデータ保持手段又は第二書き込みデータ保
持手段のどちらか一方に保持している前回の書き込みコ
マンド信号に対応するデータを、前記読み出しコマンド
信号に対応するデータ信号として出力することを特徴と
する(17)記載の半導体記憶装置。 (19)前記半導体記憶装置は、ロー及びコラムに対応
して縦横に配列されるメモリセルと、ローアクセスされ
たメモリセルのデータを保持するセンスアンプと、前記
メモリセルとセンスアンプとの間でデータ転送を行うビ
ット線と、ローアクセス命令に応じて所定時間後に内部
プリチャージ信号を生成して前記ビット線をプリチャー
ジするプリチャージ信号生成ユニットとを含むことを特
徴とする(12)ないし(18)いずれか一項記載の半
導体記憶装置。 (20)前記アドレス保持比較手段は、前記取り込まれ
た書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を2つ
の書き込みコマンド信号が取り込まれるまで保持した
後、前記第一又は第二書き込みデータ保持手段のどちら
か一方に保持している前々回の書き込みコマンド信号に
対応するデータ信号をそのアドレス信号に基づいて前記
メモリセルに格納することを特徴とする(18)記載の
半導体記憶装置。 (21)外部からのデータ入力に使用するインターフェ
ース手段と外部へのデータ出力に使用するインターフェ
ース手段とが同一であることを特徴とする(8),(1
2),又は(13)記載の半導体記憶装置。 (22)前記書き込みコマンド信号に応じて外部から入
力されるシリアルデータをシリアル・パラレル変換する
と共に、前記読み出しコマンド信号に応じて出力される
パラレルデータをパラレル・シリアル変換するデータ変
換器を含むことを特徴とする(8),(12),又は
(13)記載の半導体記憶装置。 (23)前記書き込みコマンドはページモードの書き込
みコマンドであり、前記読み出しコマンドはページモー
ドの読み出しコマンドであることを特徴とする(1)な
いし(22)のいずれか一項記載の半導体記憶装置。 (24)前記アドレス保持比較手段は、次のページモー
ドの書き込みコマンド又はページモードの終了コマンド
が取り込まれるまで、前記取り込まれたページモードの
書き込みコマンドに対応するアドレス信号を保持するこ
とを特徴とする(1)ないし(23)のいずれか一項記
載の半導体記憶装置。 (25)前記データ保持手段は、半導体記憶装置内の複
数の各バンク毎に設けられていることを特徴とする
(1)ないし(24)のいずれか一項記載の半導体記憶
装置。 (26)ライトデータレイテンシーとリードデータレイ
テンシーとは異なることを特徴とする(1)又は(1
2)に記載の半導体記憶装置。
【0272】上記(1)記載の発明によれば、書き込み
コマンド信号に対応するアドレス信号及びデータ信号を
保持して、書き込みコマンド信号に対応するアドレス信
号と読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号とを
比較することにより、書き込みコマンド直後にその書き
込みコマンドに対応したデータ信号を読み出しコマンド
により読み出す場合に対応できる。これは、書き込みコ
マンド信号に対応するアドレス信号と読み出しコマンド
信号に対応するアドレス信号との比較結果に基づいて、
保持されている書き込みコマンド信号に対応するデータ
信号を読み出しコマンドに対応するデータとして出力す
ることが出来るからである。したがって、読み出し動作
と書き込み動作との間隔であるリードライトサイクルを
短縮することができる。
【0273】また、上記(2)記載の発明によれば、コ
マンド信号の入力間隔が常に最小値で一定であり、読み
出しコマンド信号−読み出しコマンド信号,書き込みコ
マンド信号−書き込みコマンド信号,読み出しコマンド
信号−書き込みコマンド信号,及び書き込みコマンド信
号−読み出しコマンド信号の入力間隔が常に最小値で一
定である。したがって、読み出し動作と書き込み動作と
の間隔であるリードライトサイクルを短縮することが可
能である。
【0274】また、上記(3)記載の発明によれば、コ
マンド信号の入力間隔がセンスアンプの動作間隔に基づ
いた間隔であることにより、読み出しコマンド信号−読
み出しコマンド信号,書き込みコマンド信号−書き込み
コマンド信号,読み出しコマンド信号−書き込みコマン
ド信号,及び書き込みコマンド信号−読み出しコマンド
信号の入力間隔が常に最小値で一定である。これは、各
ステージ毎に内部処理が独立に行われるFCRAMの特
徴を利用するものであり、処理時間が一番長くかかるス
テージの時間をコマンド信号の入力間隔の最小値をみな
すことができる。したがって、処理時間が一番長いセン
スアンプの動作間隔までコマンド信号の入力間隔を詰め
ることができる。
【0275】また、上記(4)記載の発明によれば、書
き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を次の書き
込みコマンド信号が取り込まれるまで保持しておくこと
により、書き込みコマンド直後にメモリセルに格納する
必要がなく、次の書き込みコマンドのときにメモリセル
に格納すれば良い。したがって、比較的時間のかかるメ
モリセルへのデータの書き込み終了を待つことなく、次
の読み出しコマンドを取り込むことが可能となる。
【0276】また、上記(5)記載の発明によれば、書
き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を次に前記
書き込みコマンドのバンクと異なるバンクの読み出しコ
マンド信号が取り込まれるまで保持しておくことによ
り、書き込みコマンド直後にメモリセルに格納する必要
がない。したがって、比較的時間のかかるメモリセルへ
のデータの書き込み終了を待つことなく、次の読み出し
コマンドを取り込むことが可能となる。
【0277】また、上記(6)記載の発明によれば、ア
ドレス保持比較手段による比較結果がアドレス信号の同
一を示すときは、すなわち書き込みコマンド信号に対応
するアドレス信号と読み出しコマンド信号に対応するア
ドレス信号とが同一であることを示している。つまり、
リードコマンドに対応するデータ信号は書き込みデータ
保持手段に保持されているデータである。したがって、
メモリセルからデータを読み出すことなく、書き込みデ
ータ保持手段からリードコマンド信号に対応するデータ
信号を出力することができる。
【0278】また、上記(7)記載の発明によれば、ラ
イトマスク機能が使用されているデータ部分がある場
合、書き込みデータ保持手段により保持している書き込
みコマンド信号に対応するデータの内、ライトマスク機
能が使用されていないデータ部分のみを前記読み出しコ
マンド信号に対応するデータ信号として出力することに
より、ライトマスク機能を使用するときもライトコマン
ド信号による書き込み処理の終了を待たずにリードコマ
ンド信号による読み出し処理を開始できる。
【0279】また、上記(8)記載の発明によれば、メ
モリセルと、センスアンプと、ビット線と、プリチャー
ジ信号生成ユニットとを含む構成である半導体記憶装置
において、本発明を適用できる。また、上記(9)記載
の発明によれば、取り込まれた書き込みコマンド信号に
対応するアドレス信号を次の書き込みコマンド信号が取
り込まれるまで保持しておくことにより、書き込みコマ
ンド直後にメモリセルに格納する必要がなく、次の書き
込みコマンドのときに書き込みデータ保持手段に保持し
ているデータ信号をそのアドレス信号に基づいてメモリ
セルに格納すれば良い。したがって、比較的時間のかか
るメモリセルへのデータの書き込み終了を待つことな
く、次の読み出しコマンドを取り込むことが可能とな
る。
【0280】また、上記(10)記載の発明によれば、
取り込まれた書き込みコマンド信号に対応するアドレス
信号を次に前記書き込みコマンドのバンクと異なるバン
クの読み出しコマンド信号が取り込まれるまで保持して
おくことにより、書き込みコマンド直後にメモリセルに
格納する必要がない。したがって、比較的時間のかかる
メモリセルへのデータの書き込み終了を待つことなく、
次の読み出しコマンドを取り込むことが可能となる。
【0281】また、上記(11)記載の発明によれば、
ページモードに移行した場合、取り込まれた書き込みコ
マンド信号に対応するアドレス信号及びデータ信号を保
持し続けることにより、ページモード終了後、取り込ま
れた書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を次
に書き込みコマンド信号が取り込まれたときに、書き込
みデータ保持手段に保持しているデータ信号をそのアド
レス信号に基づいてメモリセルに格納することができ
る。したがって、途中でページモードに移行したとして
もライトコマンド信号によるメモリセルへの書き込み処
理の終了を待たずにページモードの処理を開始できる。
【0282】また、上記(12)記載の発明によれば、
書き込みコマンド信号に対応する複数のアドレス信号及
び複数のデータ信号を保持して、書き込みコマンド信号
に対応するアドレス信号と読み出しコマンド信号に対応
するアドレス信号とを比較することにより、書き込みコ
マンド直後にその書き込みコマンドに対応したデータ信
号を読み出しコマンドにより読み出す場合に対応でき
る。これは、書き込みコマンド信号に対応するアドレス
信号と読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号と
の比較結果に基づいて、保持されている書き込みコマン
ド信号に対応するデータ信号を読み出しコマンドに対応
するデータとして出力することが出来るからである。
【0283】また、書き込みコマンド信号に対応する複
数のアドレス信号及び複数のデータ信号を保持すること
により、書き込みコマンド信号が取り込まれてから実際
にメモリセルへのデータ信号の書き込み処理が終了する
までの時間が長くなったとしても、書き込みコマンド直
後にその書き込みコマンドに対応したデータ信号を読み
出しコマンドにより読み出すことが可能となる。
【0284】また、上記(13)記載の発明によれば、
書き込みコマンド信号に対応する2つのアドレス信号及
び2つのデータ信号を保持して、書き込みコマンド信号
に対応するアドレス信号と読み出しコマンド信号に対応
するアドレス信号とを比較することにより、書き込みコ
マンド直後にその書き込みコマンドに対応したデータ信
号を読み出しコマンドにより読み出す場合に対応でき
る。これは、書き込みコマンド信号に対応するアドレス
信号と読み出しコマンド信号に対応するアドレス信号と
の比較結果に基づいて、保持されている書き込みコマン
ド信号に対応するデータ信号を読み出しコマンドに対応
するデータとして出力することが出来るからである。
【0285】また、書き込みコマンド信号に対応する2
つのアドレス信号及び2つのデータ信号を保持すること
により、書き込みコマンド信号が取り込まれてから実際
にメモリセルへのデータ信号の書き込み処理が終了する
までの時間が長くなったとしても、書き込みコマンド直
後にその書き込みコマンドに対応したデータ信号を読み
出しコマンドにより読み出すことがが可能となる。
【0286】これは、書き込みコマンド信号に対応する
2つのデータ信号を保持して、その2つのデータ信号を
交互に読み出すことにより、メモリセルへのデータ信号
の書き込み処理が終了するまでの時間が長くなったとし
ても処理が行えるようにしているためである。したがっ
て、読み出し動作と書き込み動作との間隔であるリード
ライトサイクルを短縮することができる。
【0287】また、上記(14)記載の発明によれば、
コマンド信号の入力間隔が常に最小値で一定であり、読
み出しコマンド信号−読み出しコマンド信号,書き込み
コマンド信号−書き込みコマンド信号,読み出しコマン
ド信号−書き込みコマンド信号,及び書き込みコマンド
信号−読み出しコマンド信号の入力間隔が常に最小値で
一定である。したがって、読み出し動作と書き込み動作
との間隔であるリードライトサイクルを短縮することが
可能である。
【0288】また、上記(15)記載の発明によれば、
コマンド信号の入力間隔がセンスアンプの動作間隔に基
づいた間隔であることにより、読み出しコマンド信号−
読み出しコマンド信号,書き込みコマンド信号−書き込
みコマンド信号,読み出しコマンド信号−書き込みコマ
ンド信号,及び書き込みコマンド信号−読み出しコマン
ド信号の入力間隔が常に最小値で一定である。これは、
各ステージ毎に内部処理が独立に行われるFCRAMの
特徴を利用するものであり、処理時間が一番長くかかる
ステージの時間をコマンド信号の入力間隔の最小値をみ
なすことができる。したがって、処理時間が一番長いセ
ンスアンプの動作間隔までコマンド信号の入力間隔を詰
めることができる。
【0289】また、上記(16)記載の発明によれば、
前記アドレス保持比較手段は、前記複数の書き込みコマ
ンドに対応するN,N−1,・・・ ,1回前の書き込みコ
マンド信号に対応するアドレス信号を保持する第N,N
−1,・・・ ,1アドレス保持部を有することにより、書
き込みコマンド直後にメモリセルに格納する必要がな
く、N回後の書き込みコマンドのときにメモリセルに格
納すれば良い。したがって、比較的時間のかかるメモリ
セルへのデータの書き込み終了を待つことなく、次の読
み出しコマンドを取り込むことが可能となる。
【0290】また、上記(17)記載の発明によれば、
前回の書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を
第一アドレス保持部に保持しておき、前々回の書き込み
コマンド信号に対応するアドレス信号を第二アドレス保
持部に保持しておくことにより、書き込みコマンド直後
にメモリセルに格納する必要がなく、二つ後の書き込み
コマンドのときにメモリセルに格納すれば良い。したが
って、比較的時間のかかるメモリセルへのデータの書き
込み終了を待つことなく、次の読み出しコマンドを取り
込むことが可能となる。
【0291】また、上記(18)記載の発明によれば、
アドレス保持比較手段による比較結果がアドレス信号の
同一を示すときは、すなわち読み出しコマンド信号に対
応するアドレス信号と前回の書き込みコマンド信号に対
応するアドレス信号とが同一であることを示している。
つまり、リードコマンドに対応するデータ信号は第一又
は第二書き込みデータ保持手段に保持されているデータ
である。したがって、メモリセルからデータを読み出す
ことなく、第一又は第二書き込みデータ保持手段からリ
ードコマンド信号に対応するデータ信号を出力すること
ができる。
【0292】また、上記(19)記載の発明によれば、
メモリセルと、センスアンプと、ビット線と、プリチャ
ージ信号生成ユニットとを含む構成である半導体記憶装
置において、本発明を適用できる。また、上記(20)
記載の発明によれば、取り込まれた書き込みコマンド信
号に対応するアドレス信号を2つ後の書き込みコマンド
信号が取り込まれるまで保持しておくことにより、書き
込みコマンド直後にメモリセルに格納する必要がなく、
2つ後の書き込みコマンドのときに第一又は第二書き込
みデータ保持手段のどちらか一方に保持しているデータ
信号をそのアドレス信号に基づいてメモリセルに格納す
れば良い。したがって、比較的時間のかかるメモリセル
へのデータの書き込み終了を待つことなく、次の読み出
しコマンドを取り込むことが可能となる。
【0293】また、上記(21)記載の発明によれば、
外部からのデータ入力に使用するインターフェース手段
と外部へのデータ出力に使用するインターフェース手段
とを同一とすることにより、インターフェース手段の節
約ができる。また、上記(22)記載の発明によれば、
データ変換器を設けることにより、複数のデータをパラ
レルで読み出し、シリアルデータに変換して半導体記憶
装置の外部に出力することで、連続した途切れのないデ
ータ出力が可能となる。
【0294】また、上記(23)記載の発明によれば、
ページモードであっても、前述した効果と同様の作用、
効果が得られる。上記(24)記載の発明によればペー
ジモードの書き込みコマンド信号に対応するアドレス信
号を次のページモードの書き込みコマンド信号又はペー
ジモードの終了コマンド信号が取り込まれるまで保持し
ておくことにより、ページモードの書き込みコマンド直
後にデータをメモリセルに格納する必要がなく、次のペ
ージモードの書き込みコマンド又はページモードの終了
コマンド信号のときにデータをメモリセルに格納すれば
良い。したがって、比較的時間のかかるメモリセルへの
データの書き込み終了を待つことなく、次のページモー
ドの読み出しコマンドを取り込むことが可能となる。
【0295】上記(25)記載の発明によれば、バンク
毎の制御が容易になる。上記(26)記載の発明によれ
ば、データバスとのインタフェースを入出力共通にした
場合、入出力データの衝突を容易に回避することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】FCRAMのメモリセル周辺の回路構成の一例
を示す回路図である。
【図2】図1に示すメモリセル周辺の回路を有するFC
RAMのデータ読み出し動作を示すタイミングチャート
である。
【図3】半導体記憶装置の読み出し動作と書き込み動作
とを交互に連続して実行する動作を示す一例のタイミン
グチャートである。
【図4】本発明の半導体記憶装置の読み出し動作と書き
込み動作とを交互に連続して実行する動作を示す一例の
タイミングチャートである。
【図5】本発明の本導体記憶装置の第一実施例のブロッ
ク図である。
【図6】第一実施例における半導体記憶装置のライト連
続動作時の一例の動作タイミング図である。
【図7】第一実施例における半導体記憶装置のライト・
リード・リード・ライト連続動作時の一例の動作タイミ
ング図である。
【図8】第一実施例における半導体記憶装置のライト・
リード・リード・ライト連続動作時の一例の動作タイミ
ング図である。
【図9】第一実施例における半導体記憶装置のライト・
リード・リード・ライト連続動作時の一例の動作タイミ
ング図である。
【図10】第一実施例における半導体記憶装置のライト
(ライトマスク)・リード・リード・ライト連続動作時
の一例の動作タイミング図である。
【図11】第一実施例における半導体記憶装置のライト
・ライト(ページモードライト)・ライト連続動作時の
一例の動作タイミング図である。
【図12】本発明の半導体記憶装置の第二実施例のブロ
ック図である。
【図13】第二実施例における半導体記憶装置のライト
連続動作時の一例の動作タイミング図である。
【図14】第二実施例における半導体記憶装置のライト
・リード・ライト・リード連続動作時の一例の動作タイ
ミング図である。
【図15】第二実施例における半導体記憶装置のライト
・リード・ライト・リード連続動作時の一例の動作タイ
ミング図である。
【図16】本発明の半導体記憶装置の第三実施例のブロ
ック図である。
【図17】第三実施例における半導体記憶装置のライト
連続動作時の一例の動作タイミング図である。
【図18】第一実施例における半導体記憶装置のページ
モードライト連続動作時の一例の動作タイミング図であ
る。
【図19】第一実施例における半導体記憶装置のページ
モードライト・ページモードリード連続動作時の一例の
動作タイミング図である。
【図20】第一実施例における半導体記憶装置のページ
モードライト・ページモードリード連続動作時の一例の
動作タイミング図である。
【図21】第二実施例における半導体記憶装置のページ
モードライト連続動作時の一例の動作タイミング図であ
る。
【図22】第二実施例における半導体記憶装置のページ
モードライト・ページモードリード連続動作時の一例の
動作タイミング図である。
【図23】第二実施例における半導体記憶装置のページ
モードライト・ページモードリード連続動作時の一例の
動作タイミング図である。
【図24】第三実施例における半導体記憶装置のページ
モードライト連続動作時の一例の動作タイミング図であ
る。
【図25】第三実施例における半導体記憶装置のページ
モードライト・ページモードリード連続動作時の一例の
動作タイミング図である。
【図26】第三実施例における半導体記憶装置のページ
モードライト・ページモードリード連続動作時の一例の
動作タイミング図である。
【図27】第一実施例における半導体記憶装置で5でラ
イトデータレイテンシーとリードデータレイテンシーと
が等しい場合においてライト、リード、リード及びライ
トを連続して処理する場合のタイミング図である。
【図28】第一実施例における半導体記憶装置でリード
データレイテンシー(CL)が2でライトデータレイテ
ンシー(WL)が1の場合(WL=CL−1)ライト、
リード、リード及びライトを連続して処理する場合のタ
イミング図である。
【図29】第三実施例における半導体記憶装置において
ライトデータレイテンシーとリードデータレイテンシー
が共に3の場合において、ページモードライトコマンド
とページモードリードコマンドを連続処理する場合のタ
イミング図である。
【図30】図30は、ライトデータレイテンシーは2で
リードデータレイテンシーは3の場合における図29に
対応するシーケンスを示すタイミング図である
【図31】データ入出力バッファに共通のバスを設けた
構成を示すブロック図である。
【図32】ライトデータレイテンシーが1でリードデー
タレイテンシーが3の場合における図29、図30に相
当するシーケンスを示すタイミング図である。
【符号の説明】
1 クロックバッファ 2 コマンドデコーダ 3 コントロール信号バッファ 4 ローアドレスバッファ 5 コラムアドレスバッファ 6,7 アドレスラッチ&比較器 8 モードレジスタ 9 データレイテンシーカウンタ 10,12 データ変換器 11 データ入力バッファ 13 データ出力バッファ 14 バンク(0)用回路 15 バンク(1)用回路 16 RAS生成ユニット 17 PRE生成ユニット 18,26 コントロールユニット 19 ブロックデコーダ 20−1,20−2 プリデコーダ 21 ワードデコーダ 22 1/4デコーダ 23 BLTデコーダ 24 S/A生成ユニット 25 コラムデコ−タ 27 リードライトバッファ 28,32,33,37 ライトデータバッファ 29 コア回路 30,31 ダブルアドレスラッチ&比較器 35,36 トリプルアドレスラッチ&比較器

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クロック信号に同期して動作する半導体
    記憶装置において、取り込まれた書き込みコマンド信号
    に対応するアドレス信号を保持して、取り込まれる読み
    出しコマンド信号に対応するアドレス信号と比較するア
    ドレス保持比較手段と、 前記書き込みコマンド信号に対応するデータ信号を保持
    する書き込みデータ保持手段とを含む構成であり、 前記アドレス保持比較手段の比較結果に応じて前記書き
    込みデータ保持手段に保持されているデータ信号を前記
    読み出しコマンド信号に対応するデータ信号として出力
    することを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 前記書き込みコマンド信号の取り込みタ
    イミングから、次のコマンド信号である読み出しコマン
    ド信号の取り込みタイミングまでの間隔は、前記書き込
    みコマンド信号の取り込みタイミングから、次のコマン
    ド信号である書き込みコマンド信号の取り込みタイミン
    グまでの間隔と同一とすることを特徴とする請求項1記
    載の半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 前記書き込みデータ保持手段は、前記ア
    ドレス保持比較手段による比較結果がアドレス信号の同
    一を示すとき、前記保持している書き込みコマンド信号
    に対応するデータを、前記読み出しコマンド信号に対応
    するデータ信号として出力することを特徴とする請求項
    1又は2記載の半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】 前記書き込みデータ保持手段は、前記保
    持している書き込みコマンド信号に対応するデータの一
    部に書き込みを禁止するライトマスク機能が使用されて
    いるとき、前記ライトマスク機能が使用されていないデ
    ータ部分のみを前記読み出しコマンド信号に対応するデ
    ータ信号として出力することを特徴とする請求項1ない
    し3のいずれか一項記載の半導体記憶装置。
  5. 【請求項5】 クロック信号に同期して動作する半導体
    記憶装置において、 取り込まれた複数の書き込みコマンド信号に対応する複
    数のアドレス信号を保持して、取り込まれる読み出しコ
    マンド信号に対応するアドレス信号と比較するアドレス
    保持比較手段と、 前記複数の書き込みコマンド信号に対応する複数のデー
    タ信号を保持する書き込みデータ保持手段とを含む構成
    であり、 前記アドレス保持比較手段の比較結果に応じて前記書き
    込みデータ保持手段に保持されているデータ信号を前記
    読み出しコマンド信号に対応するデータ信号として出力
    することを特徴とする半導体記憶装置。
  6. 【請求項6】 クロック信号に同期して動作する半導体
    記憶装置において、 取り込まれた2つの書き込みコマンド信号に対応する2
    つのアドレス信号を保持して、取り込まれる読み出しコ
    マンド信号に対応するアドレス信号と比較するアドレス
    保持比較手段と、 前記2つの書き込みコマンド信号に対応する2つのデー
    タ信号を保持する書き込みデータ保持手段とを含む構成
    であり、 前記アドレス保持比較手段の比較結果に応じて前記書き
    込みデータ保持手段に保持されているデータ信号を前記
    読み出しコマンド信号に対応するデータ信号として出力
    することを特徴とする半導体記憶装置。
  7. 【請求項7】 前記アドレス保持比較手段は、前回の書
    き込みコマンド信号に対応するアドレス信号を保持する
    第一アドレス保持部と、 前々回の書き込みコマンド信号に対応するアドレス信号
    を保持する第二アドレス保持部とを有することを特徴と
    する請求項6記載の半導体記憶装置。
  8. 【請求項8】 前記書き込みデータ保持手段は、前回又
    は前々回の書き込みコマンド信号のどちらか一方に対応
    するデータ信号を保持する第一書き込みデータ保持手段
    と、 前回又は前々回の書き込みコマンド信号のうち第一書き
    込みデータ保持手段に書き込まれている他方の書き込み
    コマンド信号に対応するデータ信号を保持する第二書き
    込みデータ保持手段とを有し、 前記アドレス保持比較手段による比較結果がアドレス信
    号の同一を示すとき、前記第一書き込みデータ保持手段
    又は第二書き込みデータ保持手段のどちらか一方に保持
    している前回の書き込みコマンド信号に対応するデータ
    を、前記読み出しコマンド信号に対応するデータ信号と
    して出力することを特徴とする請求項7記載の半導体記
    憶装置。
  9. 【請求項9】 前記書き込みコマンドはページモードの
    書き込みコマンドであり、前記読み出しコマンドはペー
    ジモードの読み出しコマンドであることを特徴とする請
    求項1ないし8のいずれか一項記載の半導体記憶装置。
  10. 【請求項10】 前記アドレス保持比較手段は、次のペ
    ージモードの書き込みコマンド又はページモードの終了
    コマンドが取り込まれるまで、前記取り込まれたページ
    モードの書き込みコマンドに対応するアドレス信号を保
    持することを特徴とする請求項1ないし9のいずれか一
    項記載の半導体記憶装置。
  11. 【請求項11】 前記データ保持手段は、半導体記憶装
    置内の複数の各バンク毎に設けられていることを特徴と
    する請求項1ないし10のいずれか一項記載の半導体記
    憶装置。
  12. 【請求項12】 ライトデータレイテンシーとリードデ
    ータレイテンシーとは異なることを特徴とする請求項1
    又は5に記載の半導体記憶装置。
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