JP2000258717A - 光学走査装置 - Google Patents
光学走査装置Info
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- JP2000258717A JP2000258717A JP11065126A JP6512699A JP2000258717A JP 2000258717 A JP2000258717 A JP 2000258717A JP 11065126 A JP11065126 A JP 11065126A JP 6512699 A JP6512699 A JP 6512699A JP 2000258717 A JP2000258717 A JP 2000258717A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 温度上昇による光学特性の劣化を抑制する光
学走査装置を提供することを目的とする。 【解決手段】半導体レーザ46が実装された回路基板4
8は、光学箱12の壁面12Aに取り付けられる。ま
た、鏡筒50に配設されたコリメートレンズ16は、光
学箱12の底面12Bに形成された凸部52に配置され
ている。光学箱12の壁面12Aと底面12Bに、光学
箱12よりも線膨張係数の小さいL字型の連結部材60
が固定されている。したがって、温度上昇の際の半導体
レーザ46とコリメートレンズ16の間の距離変化が光
学箱12単独の場合と比較して抑制される。この結果、
光学走査装置10の光学特性の劣化が抑制される。
学走査装置を提供することを目的とする。 【解決手段】半導体レーザ46が実装された回路基板4
8は、光学箱12の壁面12Aに取り付けられる。ま
た、鏡筒50に配設されたコリメートレンズ16は、光
学箱12の底面12Bに形成された凸部52に配置され
ている。光学箱12の壁面12Aと底面12Bに、光学
箱12よりも線膨張係数の小さいL字型の連結部材60
が固定されている。したがって、温度上昇の際の半導体
レーザ46とコリメートレンズ16の間の距離変化が光
学箱12単独の場合と比較して抑制される。この結果、
光学走査装置10の光学特性の劣化が抑制される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル複写機や
プリンタ等の画像形成装置において使用され、画像信号
を感光体ドラム上に光学像として走査露光するための光
学走査装置に関し、一層詳細には、温度変化による光学
特性の劣化を抑制する光学走査装置に関する。
プリンタ等の画像形成装置において使用され、画像信号
を感光体ドラム上に光学像として走査露光するための光
学走査装置に関し、一層詳細には、温度変化による光学
特性の劣化を抑制する光学走査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、レーザプリンタ等の画像記録装置
の発達に伴い、半導体レーザを光源として用いた光学走
査装置が使用されるようになった。これらの光学走査装
置では、半導体レーザとコリメートレンズを一体的に備
え、両者の光路調整を行った光源装置を光学走査装置に
固定するのが一般的であった。このような光学走査装置
(光源装置)が特開昭59−15206号公報(以下、
従来例1という)、特開平2−59717号公報(以
下、従来例2という)に開示されている。
の発達に伴い、半導体レーザを光源として用いた光学走
査装置が使用されるようになった。これらの光学走査装
置では、半導体レーザとコリメートレンズを一体的に備
え、両者の光路調整を行った光源装置を光学走査装置に
固定するのが一般的であった。このような光学走査装置
(光源装置)が特開昭59−15206号公報(以下、
従来例1という)、特開平2−59717号公報(以
下、従来例2という)に開示されている。
【0003】従来例1に係る光源装置100は、図13
に示すように、半導体レーザ102と鏡筒104に支持
されたコリメートレンズ106が、カバー部材108介
して一体的に構成されている。従来例2に係る光源装置
110は、図14に示すように、半導体レーザ102が
実装された回路基板112と、コリメートレンズ106
を保持する鏡筒104が保持部材114およびカバー部
材108を介して一体的に構成されている。
に示すように、半導体レーザ102と鏡筒104に支持
されたコリメートレンズ106が、カバー部材108介
して一体的に構成されている。従来例2に係る光源装置
110は、図14に示すように、半導体レーザ102が
実装された回路基板112と、コリメートレンズ106
を保持する鏡筒104が保持部材114およびカバー部
材108を介して一体的に構成されている。
【0004】光源装置110では鏡筒104によってフ
ォーカス調整を行い、回路基板112を光軸垂直な方向
に変位させることによって光軸(アライメント)調整を
行う。この調整後、光源装置110を光学箱122の壁
面所定位置に取り付ける(図15参照)。
ォーカス調整を行い、回路基板112を光軸垂直な方向
に変位させることによって光軸(アライメント)調整を
行う。この調整後、光源装置110を光学箱122の壁
面所定位置に取り付ける(図15参照)。
【0005】光学走査装置120では、半導体レーザ1
02から出射される光ビームがシリンドリカルレンズ1
24を通過して一定速度で回転する偏向器126の回転
多面鏡128によって偏向され、結像レンズ130を介
して感光体に結像される。
02から出射される光ビームがシリンドリカルレンズ1
24を通過して一定速度で回転する偏向器126の回転
多面鏡128によって偏向され、結像レンズ130を介
して感光体に結像される。
【0006】なお、上記光源装置100、110は光路
調整(フォーカス調整、アライメント調整)を済ませた
後、温度管理された環境または室温で光学走査装置の組
立/調整を行う。しかしながら、光学走査装置は画像記
録装置の内部で使用されるため、環境温度が調整(設
定)時よりも上昇してしまう。このため、光源装置10
0、110における半導体レーザ102とコリメートレ
ンズ106の間隔を決める部品が熱膨張し、フォーカス
調整が狂ってしまう。この結果、光学走査装置の光学特
性が変化(劣化)してしまうという問題があった。
調整(フォーカス調整、アライメント調整)を済ませた
後、温度管理された環境または室温で光学走査装置の組
立/調整を行う。しかしながら、光学走査装置は画像記
録装置の内部で使用されるため、環境温度が調整(設
定)時よりも上昇してしまう。このため、光源装置10
0、110における半導体レーザ102とコリメートレ
ンズ106の間隔を決める部品が熱膨張し、フォーカス
調整が狂ってしまう。この結果、光学走査装置の光学特
性が変化(劣化)してしまうという問題があった。
【0007】そこで、例えば、光源装置110では、鏡
筒104および保持部材114等を適当な線膨張係数と
なるように形成し、温度上昇による半導体レーザ102
とコリメートレンズ106の間隔の変化を抑制する(打
ち消し合う)ような構造とすることで対処していた。
筒104および保持部材114等を適当な線膨張係数と
なるように形成し、温度上昇による半導体レーザ102
とコリメートレンズ106の間隔の変化を抑制する(打
ち消し合う)ような構造とすることで対処していた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記従来例1、2に係
る光学走査装置では、光路調整を行った光源装置を光学
箱に取り付けるため、光源装置の取付誤差や、集光レン
ズ等の光学部品、光学箱等の製造精度等の誤差の累積に
より所望の光学特性が確保されないという不都合があっ
た。また、熱膨張による問題に対処するためには、光源
装置110において鏡筒104や保持部材114等のう
ち、少なくとも1つの部品を一般的な樹脂と比べて線膨
張係数の小さい材料から形成しなくてはならず、部品製
造コストが上昇するという問題があった。
る光学走査装置では、光路調整を行った光源装置を光学
箱に取り付けるため、光源装置の取付誤差や、集光レン
ズ等の光学部品、光学箱等の製造精度等の誤差の累積に
より所望の光学特性が確保されないという不都合があっ
た。また、熱膨張による問題に対処するためには、光源
装置110において鏡筒104や保持部材114等のう
ち、少なくとも1つの部品を一般的な樹脂と比べて線膨
張係数の小さい材料から形成しなくてはならず、部品製
造コストが上昇するという問題があった。
【0009】上記取付誤差等による光学特性への影響を
取り除いた光学走査装置が特開平5−297303号公
報(以下、従来例3という)に開示されている。すなわ
ち、図16、図17に示すように、光源装置140は、
鏡筒104に保持されたコリメートレンズ106と半導
体レーザ102が保持部材114を介して一体的に備え
られている。この光源装置140を光学箱122に仮固
定し、光学特性をモニタしながら調整ネジ142等によ
ってフォーカス調整およびアライメント調整を行って取
付誤差等を解消する。また、熱膨張による誤差は、光源
装置140では線膨張係数の異なる各部品を熱膨張を打
ち消し合うように配置することによって対処している。
取り除いた光学走査装置が特開平5−297303号公
報(以下、従来例3という)に開示されている。すなわ
ち、図16、図17に示すように、光源装置140は、
鏡筒104に保持されたコリメートレンズ106と半導
体レーザ102が保持部材114を介して一体的に備え
られている。この光源装置140を光学箱122に仮固
定し、光学特性をモニタしながら調整ネジ142等によ
ってフォーカス調整およびアライメント調整を行って取
付誤差等を解消する。また、熱膨張による誤差は、光源
装置140では線膨張係数の異なる各部品を熱膨張を打
ち消し合うように配置することによって対処している。
【0010】しかしながら、従来例3に係る光源装置1
40では部品の配置が複雑になり、低コストで製造する
ことが困難である。
40では部品の配置が複雑になり、低コストで製造する
ことが困難である。
【0011】上記構造の複雑さを解消した光学走査装置
を図18に示す。この光学走査装置では、半導体レーザ
が実装された回路基板と、コリメートレンズを保持する
鏡筒104を光学箱122に直接設置している。これに
より、光学走査装置を仮組み立てした状態で感光体上に
相当する位置で光学特性をモニタしながら半導体レーザ
およびコリメートレンズを調整することによって、光学
走査装置を所望の光学特性とすることができる。
を図18に示す。この光学走査装置では、半導体レーザ
が実装された回路基板と、コリメートレンズを保持する
鏡筒104を光学箱122に直接設置している。これに
より、光学走査装置を仮組み立てした状態で感光体上に
相当する位置で光学特性をモニタしながら半導体レーザ
およびコリメートレンズを調整することによって、光学
走査装置を所望の光学特性とすることができる。
【0012】しかしながら、上記熱膨張による半導体レ
ーザとコリメートレンズとの間隔変化に対処するために
は、光学箱自体を線膨張係数の小さな材料で形成せざる
を得ず、光学走査装置を低コストで製造することが困難
である。
ーザとコリメートレンズとの間隔変化に対処するために
は、光学箱自体を線膨張係数の小さな材料で形成せざる
を得ず、光学走査装置を低コストで製造することが困難
である。
【0013】なお、光学箱自体も上記熱膨張によって変
形し、特に変形が顕著な壁面に取り付けられた光源装置
は、光ビームの出射方向が変わってしまうという問題も
ある。
形し、特に変形が顕著な壁面に取り付けられた光源装置
は、光ビームの出射方向が変わってしまうという問題も
ある。
【0014】本発明は、上記不都合を解決すべく成され
たもので、温度変化による光学特性の劣化を抑制した光
学走査装置を提供することを目的とする。
たもので、温度変化による光学特性の劣化を抑制した光
学走査装置を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、請求項1記載の光学走査装置は、光源から
出射された光ビームを感光体上に走査光として結像させ
る光学部品が配設された光学箱を備え、前記光学箱より
も線膨張係数が小さい連結部材を介して、少なくとも2
つの光学部品近傍の光学箱上の2点を連結したことを特
徴とする。
に本発明は、請求項1記載の光学走査装置は、光源から
出射された光ビームを感光体上に走査光として結像させ
る光学部品が配設された光学箱を備え、前記光学箱より
も線膨張係数が小さい連結部材を介して、少なくとも2
つの光学部品近傍の光学箱上の2点を連結したことを特
徴とする。
【0016】請求項1記載の光学走査装置の作用につい
て説明する。
て説明する。
【0017】この光学走査装置は、室内温度下等で光路
調整を行い、所望の光学特性に調整しておく。前記調整
済みの光学走査装置を画像記録装置の内部に配設して使
用する。画像記録装置内部は使用に伴って室内温度より
も高温となるため、光学箱が熱膨張し、光学箱に配設さ
れた光学部品間の距離が変化して(伸びて)しまうおそ
れがある。しかしながら、少なくとも二つの光学部品近
傍の光学箱上の2点を、光学箱よりも線膨張係数の小さ
い連結部材によって連結したことによって、二つの光学
部品間の距離の変化が連結部材によって規定される。す
なわち、二つの光学部品間の距離の変化が抑制される。
調整を行い、所望の光学特性に調整しておく。前記調整
済みの光学走査装置を画像記録装置の内部に配設して使
用する。画像記録装置内部は使用に伴って室内温度より
も高温となるため、光学箱が熱膨張し、光学箱に配設さ
れた光学部品間の距離が変化して(伸びて)しまうおそ
れがある。しかしながら、少なくとも二つの光学部品近
傍の光学箱上の2点を、光学箱よりも線膨張係数の小さ
い連結部材によって連結したことによって、二つの光学
部品間の距離の変化が連結部材によって規定される。す
なわち、二つの光学部品間の距離の変化が抑制される。
【0018】請求項2記載の光学走査装置は、請求項1
記載の光学走査装置において、光学箱は、前記光源が取
りつけられた壁面と、前記コリメートレンズが取りつけ
られた底面とを備え、前記壁面と前記底面のなす角部に
光軸と直交する方向に延在するスリットが形成されたこ
とを特徴とする。
記載の光学走査装置において、光学箱は、前記光源が取
りつけられた壁面と、前記コリメートレンズが取りつけ
られた底面とを備え、前記壁面と前記底面のなす角部に
光軸と直交する方向に延在するスリットが形成されたこ
とを特徴とする。
【0019】請求項2記載の光学走査装置の作用につい
て説明する。
て説明する。
【0020】光学箱において、連結部材によって熱膨張
を規制できない部分の伸びをスリットによって吸収す
る。これによって、前記伸びによって光学箱の壁面が傾
斜して光源の光ビーム射出方向(光軸)がずれる等とい
うことを防止できる。
を規制できない部分の伸びをスリットによって吸収す
る。これによって、前記伸びによって光学箱の壁面が傾
斜して光源の光ビーム射出方向(光軸)がずれる等とい
うことを防止できる。
【0021】請求項3記載の光学走査装置は、請求項1
または2記載の光学走査装置において、前記連結部材で
拘束される第1の光学部品と第2の光学部品の少なくと
も一方は、連結部材よりも線膨張係数が大きい調整部材
を介して前記連結部材に取り付けられており、当該調整
部材が光軸方向において前記第1と第2の光学部品間の
外側に配置されることを特徴とする。
または2記載の光学走査装置において、前記連結部材で
拘束される第1の光学部品と第2の光学部品の少なくと
も一方は、連結部材よりも線膨張係数が大きい調整部材
を介して前記連結部材に取り付けられており、当該調整
部材が光軸方向において前記第1と第2の光学部品間の
外側に配置されることを特徴とする。
【0022】請求項3記載の光学走査装置の作用につい
て説明する。
て説明する。
【0023】請求項1記載の光学走査装置では連結部材
の線膨張係数分だけ第1光学部品と第2光学部品の間隔
が変化するが、本光学走査装置では、光学部品と連結部
材の間に介在する調整部材が連結部材よりも線膨張係数
が大きく、しかも光軸方向において第1光学部品と第2
光学部品の外側に配置されているため、連結部材と調整
部材の熱膨張が反対方向に作用し、連結部材の熱膨張に
よる変化を打ち消す方向に作用する。したがって、熱膨
張による第1光学部品と第2光学部品の間隔の変化が一
層抑制される。
の線膨張係数分だけ第1光学部品と第2光学部品の間隔
が変化するが、本光学走査装置では、光学部品と連結部
材の間に介在する調整部材が連結部材よりも線膨張係数
が大きく、しかも光軸方向において第1光学部品と第2
光学部品の外側に配置されているため、連結部材と調整
部材の熱膨張が反対方向に作用し、連結部材の熱膨張に
よる変化を打ち消す方向に作用する。したがって、熱膨
張による第1光学部品と第2光学部品の間隔の変化が一
層抑制される。
【0024】
【発明の実施の形態】[第1実施形態]本発明の第1実
施形態に係る光学走査装置について図1〜図6を参照し
て説明する。先ず、光学走査装置の概略説明を行い、次
に要部である連結部材の取付状態について詳細な説明を
行う。 (光学走査装置の概略説明)図2〜図4に示すように、
光学走査装置10では、光学箱12の壁面外部に取り付
けられた光源装置14から出射される光ビームがコリメ
ートレンズ16によって平行光束とされ、平行光束とさ
れた光ビームがシリンドリカルレンズ18、反射ミラー
20、22を介して回転多面鏡24(偏向装置26)に
入射され、反射面28上に線状に結像される。回転多面
鏡24によって偏向された光ビームは、反射ミラー3
0、32によって光学箱12の下側に折り返され、結像
レンズ34によって集光され、反射ミラー36、38を
介して感光体ドラム40上に結像される(図3参照)。
なお、結像レンズ34から出射された光ビームの一部
は、反射ミラー42によって同期検出器44(図4参
照)に導かれる。
施形態に係る光学走査装置について図1〜図6を参照し
て説明する。先ず、光学走査装置の概略説明を行い、次
に要部である連結部材の取付状態について詳細な説明を
行う。 (光学走査装置の概略説明)図2〜図4に示すように、
光学走査装置10では、光学箱12の壁面外部に取り付
けられた光源装置14から出射される光ビームがコリメ
ートレンズ16によって平行光束とされ、平行光束とさ
れた光ビームがシリンドリカルレンズ18、反射ミラー
20、22を介して回転多面鏡24(偏向装置26)に
入射され、反射面28上に線状に結像される。回転多面
鏡24によって偏向された光ビームは、反射ミラー3
0、32によって光学箱12の下側に折り返され、結像
レンズ34によって集光され、反射ミラー36、38を
介して感光体ドラム40上に結像される(図3参照)。
なお、結像レンズ34から出射された光ビームの一部
は、反射ミラー42によって同期検出器44(図4参
照)に導かれる。
【0025】このように、光ビームの光路上に配置され
た光学部品(光源装置14〜反射ミラー42)は、ネジ
等によって光学箱12に位置決め固定されている。例え
ば、光源装置14は、図1に示すように、半導体レーザ
46が実装された回路基板48が光学箱12の壁面12
Aに外側から装着されている。また、コリメートレンズ
16は鏡筒50内に配置され、光学箱12の底面12B
に形成された凸部52上に固定されている。 (連結部材の取付状態)本実施形態に係る光学走査装置
10に使用される連結部材60は、図5に示すように、
側面部60Aと底面部60Bを略直角に連続させた略L
字型の部材であり、側面部60Aに円形の光ビーム出射
窓62、底面部60Bに矩形の孔部64が形成されてい
る。また、側面部60Aにはネジ孔66、底面部60B
には孔部68がそれぞれ2箇所ずつが形成されている。
た光学部品(光源装置14〜反射ミラー42)は、ネジ
等によって光学箱12に位置決め固定されている。例え
ば、光源装置14は、図1に示すように、半導体レーザ
46が実装された回路基板48が光学箱12の壁面12
Aに外側から装着されている。また、コリメートレンズ
16は鏡筒50内に配置され、光学箱12の底面12B
に形成された凸部52上に固定されている。 (連結部材の取付状態)本実施形態に係る光学走査装置
10に使用される連結部材60は、図5に示すように、
側面部60Aと底面部60Bを略直角に連続させた略L
字型の部材であり、側面部60Aに円形の光ビーム出射
窓62、底面部60Bに矩形の孔部64が形成されてい
る。また、側面部60Aにはネジ孔66、底面部60B
には孔部68がそれぞれ2箇所ずつが形成されている。
【0026】このように形成された連結部材60は、図
1および図6に示すように、光学箱12において光源装
置14とコリメートレンズ16の間に配置される。すな
わち、固定ネジ70、72によって連結部材60の側面
部60A、底面部60Bが光学箱12の壁面12A、底
面12Bに固定される。この結果、半導体レーザ46が
出射窓62内部に配設されると共に、光学箱12の底面
12Bの凸部52が連結部材60の孔部64内部に位置
することになる。
1および図6に示すように、光学箱12において光源装
置14とコリメートレンズ16の間に配置される。すな
わち、固定ネジ70、72によって連結部材60の側面
部60A、底面部60Bが光学箱12の壁面12A、底
面12Bに固定される。この結果、半導体レーザ46が
出射窓62内部に配設されると共に、光学箱12の底面
12Bの凸部52が連結部材60の孔部64内部に位置
することになる。
【0027】なお、光学箱12において壁面12Aと底
面12Bのなす角部74に、光軸方向と直交する方向
(図7において、紙面に垂直な方向)に延在するスリッ
ト76が形成されている。
面12Bのなす角部74に、光軸方向と直交する方向
(図7において、紙面に垂直な方向)に延在するスリッ
ト76が形成されている。
【0028】このように構成される光学走査装置10
は、以下のようにして組み立て、調整した後、画像記録
装置内で使用される。
は、以下のようにして組み立て、調整した後、画像記録
装置内で使用される。
【0029】先ず、光学箱12の壁面12Aに回路基板
48、底面12Bの凸部52に鏡筒50が固定ネジ70
等によって仮固定される。次に、連結部材60は、回路
基板48が固定されている壁面12Aと前記凸部52が
形成されている底面12Bに固定ネジ70、72で固定
される。
48、底面12Bの凸部52に鏡筒50が固定ネジ70
等によって仮固定される。次に、連結部材60は、回路
基板48が固定されている壁面12Aと前記凸部52が
形成されている底面12Bに固定ネジ70、72で固定
される。
【0030】続いて、光学走査装置10の光学特性をモ
ニタしながら光路調整を行う。すなわち、固定ネジ70
を緩めて回路基板48を光軸と直交する方向に移動させ
ることによって、半導体レーザ46のコリメートレンズ
16に対する光軸(アライメント)調整を行う。さら
に、鏡筒50を凸部52上で光軸方向に移動させ、フォ
ーカス調整を行う。
ニタしながら光路調整を行う。すなわち、固定ネジ70
を緩めて回路基板48を光軸と直交する方向に移動させ
ることによって、半導体レーザ46のコリメートレンズ
16に対する光軸(アライメント)調整を行う。さら
に、鏡筒50を凸部52上で光軸方向に移動させ、フォ
ーカス調整を行う。
【0031】このように光路調整を行った後に光学走査
装置10は画像記録装置内に配設される。画像記録装置
内部では、使用によって環境温度が上昇し、光学箱12
が熱膨張する。この結果、半導体レーザ46とコリメー
トレンズ16の距離(以下、フォーカス距離という)を
広げ、壁面12Aが外側に倒す方向に力が作用する。
装置10は画像記録装置内に配設される。画像記録装置
内部では、使用によって環境温度が上昇し、光学箱12
が熱膨張する。この結果、半導体レーザ46とコリメー
トレンズ16の距離(以下、フォーカス距離という)を
広げ、壁面12Aが外側に倒す方向に力が作用する。
【0032】しかしながら、回路基板48に固定されて
いる半導体レーザ46近傍の壁面12Aと、鏡筒50が
固定されている凸部52近傍の底面12Bを、光学箱1
2よりも線膨張係数が小さい連結部材60と固定してい
るため、光学箱12の熱膨張によるフォーカス距離の変
化(伸び)が抑制される。
いる半導体レーザ46近傍の壁面12Aと、鏡筒50が
固定されている凸部52近傍の底面12Bを、光学箱1
2よりも線膨張係数が小さい連結部材60と固定してい
るため、光学箱12の熱膨張によるフォーカス距離の変
化(伸び)が抑制される。
【0033】また、光学箱12の壁面12Aと底面12
Bでなす角部74に光軸方向に直交する方向に延在する
スリット76が形成されているため、光学箱12の連結
部材60に固定されていない部分の変形を吸収し、半導
体レーザ46とコリメートレンズ16のフォーカス距離
および光軸ずれの変化を一層抑制することができる。な
お、本実施形態の光学走査装置10では、光学箱12の
底面12Bにスリット76(図6、図7参照)を形成し
たが、壁面12Aに形成しても同様の作用効果が得られ
る。
Bでなす角部74に光軸方向に直交する方向に延在する
スリット76が形成されているため、光学箱12の連結
部材60に固定されていない部分の変形を吸収し、半導
体レーザ46とコリメートレンズ16のフォーカス距離
および光軸ずれの変化を一層抑制することができる。な
お、本実施形態の光学走査装置10では、光学箱12の
底面12Bにスリット76(図6、図7参照)を形成し
たが、壁面12Aに形成しても同様の作用効果が得られ
る。
【0034】さらに、回路基板48を光学箱12の壁面
12Aに直接取り付け、鏡筒50を凸部52に固定する
簡単な構造でありながら、光学走査装置10に組み立て
後に簡単にフォーカス調整およびアライメント調整がで
きるため、光学箱12に対する取付誤差などによって光
学走査装置10の光学特性が低下するおそれはない。
12Aに直接取り付け、鏡筒50を凸部52に固定する
簡単な構造でありながら、光学走査装置10に組み立て
後に簡単にフォーカス調整およびアライメント調整がで
きるため、光学箱12に対する取付誤差などによって光
学走査装置10の光学特性が低下するおそれはない。
【0035】なお、本実施形態では、最も光学倍率が大
きい半導体レーザ46とコリメートレンズ16の間に連
結部材60を配設したが、他の光学部品間にも連結部材
を配設することによって、光学走査装置10の光学特性
が一層良好な状態で維持される。 [第2実施形態]本発明の第2実施形態に係る光学走査
装置について図7、図8を参照して説明する。第1実施
形態と異なるのは連結部材の形状のみなので、要部のみ
説明し、他は省略する。なお、第1実施形態と同様の構
成要素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省
略する。
きい半導体レーザ46とコリメートレンズ16の間に連
結部材60を配設したが、他の光学部品間にも連結部材
を配設することによって、光学走査装置10の光学特性
が一層良好な状態で維持される。 [第2実施形態]本発明の第2実施形態に係る光学走査
装置について図7、図8を参照して説明する。第1実施
形態と異なるのは連結部材の形状のみなので、要部のみ
説明し、他は省略する。なお、第1実施形態と同様の構
成要素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省
略する。
【0036】連結部材80は、底面80Bの上に鏡筒5
0を固定するものであり、光軸に沿って形成された底面
80Bの突起82に鏡筒50の溝84を係合させること
によって、底面80B上で鏡筒50を光軸方向に移動さ
せてフォーカス調整を行う。
0を固定するものであり、光軸に沿って形成された底面
80Bの突起82に鏡筒50の溝84を係合させること
によって、底面80B上で鏡筒50を光軸方向に移動さ
せてフォーカス調整を行う。
【0037】このように構成された光学走査装置では、
画像記録装置内部の温度上昇により光学箱12に熱膨張
が発生しても、半導体レーザ46近傍の壁面12Aが線
膨張係数の小さい連結部材80に固定されると共に、コ
リメートレンズ16が連結部材80上に配置されている
ため、フォーカス距離の変化が一層抑制される。また、
連結部材80上にコリメートレンズ16が配設されてい
るため、光軸に垂直な方向(図における上下方向)にお
ける半導体レーザ46とコリメートレンズ16の相対的
変化が抑制され、光軸ずれを抑制することができる。 [第3実施形態]本発明の第3実施形態に係る光学走査
装置について図9、図10を参照して説明する。第1実
施形態と異なるのは連結部材の形状のみなので、要部の
み説明し、他は省略する。なお、第1実施形態と同様の
構成要素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明を
省略する。
画像記録装置内部の温度上昇により光学箱12に熱膨張
が発生しても、半導体レーザ46近傍の壁面12Aが線
膨張係数の小さい連結部材80に固定されると共に、コ
リメートレンズ16が連結部材80上に配置されている
ため、フォーカス距離の変化が一層抑制される。また、
連結部材80上にコリメートレンズ16が配設されてい
るため、光軸に垂直な方向(図における上下方向)にお
ける半導体レーザ46とコリメートレンズ16の相対的
変化が抑制され、光軸ずれを抑制することができる。 [第3実施形態]本発明の第3実施形態に係る光学走査
装置について図9、図10を参照して説明する。第1実
施形態と異なるのは連結部材の形状のみなので、要部の
み説明し、他は省略する。なお、第1実施形態と同様の
構成要素には同一の参照符号を付し、その詳細な説明を
省略する。
【0038】連結部材90は、図10に示すように、略
コの字型に形成されており、光学箱12の壁面12A取
付用の取付部90Aと底面12B取付用の取付部90B
が形成されると共に、後述する調整部材94固定用のネ
ジ孔92が形成されている。
コの字型に形成されており、光学箱12の壁面12A取
付用の取付部90Aと底面12B取付用の取付部90B
が形成されると共に、後述する調整部材94固定用のネ
ジ孔92が形成されている。
【0039】調整部材94は、連結部材90よりも線膨
張係数が大きい筒状体であり、鏡筒50に対して光軸方
向に沿って半導体レーザ46と反対側に装着されてい
る。調整部材94は、鏡筒50の内部に設けられたネジ
孔を螺入されており、回転させることによってコリメー
トレンズ16を光軸方向に移動可能とされている。
張係数が大きい筒状体であり、鏡筒50に対して光軸方
向に沿って半導体レーザ46と反対側に装着されてい
る。調整部材94は、鏡筒50の内部に設けられたネジ
孔を螺入されており、回転させることによってコリメー
トレンズ16を光軸方向に移動可能とされている。
【0040】このように構成された光学走査装置の作用
について説明する。
について説明する。
【0041】第1実施形態と同様にして連結部材90が
光学箱12に取り付けられる。この際、調整部材94が
連結部材90のネジ孔92に螺入され、さらに、鏡筒5
0の孔部に進入することによってフォーカス調整を行
う。
光学箱12に取り付けられる。この際、調整部材94が
連結部材90のネジ孔92に螺入され、さらに、鏡筒5
0の孔部に進入することによってフォーカス調整を行
う。
【0042】この光学走査装置が画像記録装置に配設さ
れることによって、使用に伴う温度上昇によって光学箱
12等が熱膨張する。連結部材90も光学箱12よりは
線膨張係数が小さいものの膨張する。しかしながら、本
実施形態においては、コリメートレンズ16を基準にし
て半導体レーザ46と反対側に連結部材90よりも線膨
張係数の大きい調整部材94を配設したため、調整部材
94の熱膨張が連結部材90の熱膨張を打ち消すように
作用し、連結部材90によるフォーカス距離の伸びが抑
制される。
れることによって、使用に伴う温度上昇によって光学箱
12等が熱膨張する。連結部材90も光学箱12よりは
線膨張係数が小さいものの膨張する。しかしながら、本
実施形態においては、コリメートレンズ16を基準にし
て半導体レーザ46と反対側に連結部材90よりも線膨
張係数の大きい調整部材94を配設したため、調整部材
94の熱膨張が連結部材90の熱膨張を打ち消すように
作用し、連結部材90によるフォーカス距離の伸びが抑
制される。
【0043】例えば、図9のような配置の場合、連結部
材90、半導体レーザ46、および固定ネジ70の材質
が同じであると仮定し、その線膨張係数をα1、調整部
材94の線膨張係数をα2、鏡筒50の線膨張係数をα
3とし、それぞれ部品間の距離を図9に示すように設定
し(L0〜L4)、温度変化をT℃とすると、半導体レ
ーザ46とコリメートレンズ16の間隔(フォーカス距
離)L0は、 L0=T×((L1−L2)×α1−L3×α2−L4
×α3) で示すことができる。したがって、これらの距離L1〜
L4と、線膨張係数α1〜α3を適当に選択することに
よって、特殊な材料を使用せずにコリメートレンズ16
と半導体レーザ46の間隔L0を一定に保つことができ
る。すなわち、画像記録装置内部で使用されても、温度
上昇により光学特性が変化しない光学走査装置を低コス
トに提供できる。 [シミュレーション結果]本発明の作用を確認するため
にシミュレーションを行って作用を確認した。第1実施
形態に係る光学走査装置10(実施例)と連結部材無し
の光学走査装置(従来例)のモデルについて、25℃か
ら60℃への温度上昇による半導体レーザとコリメート
レンズ間の距離L0の変化を調べた。
材90、半導体レーザ46、および固定ネジ70の材質
が同じであると仮定し、その線膨張係数をα1、調整部
材94の線膨張係数をα2、鏡筒50の線膨張係数をα
3とし、それぞれ部品間の距離を図9に示すように設定
し(L0〜L4)、温度変化をT℃とすると、半導体レ
ーザ46とコリメートレンズ16の間隔(フォーカス距
離)L0は、 L0=T×((L1−L2)×α1−L3×α2−L4
×α3) で示すことができる。したがって、これらの距離L1〜
L4と、線膨張係数α1〜α3を適当に選択することに
よって、特殊な材料を使用せずにコリメートレンズ16
と半導体レーザ46の間隔L0を一定に保つことができ
る。すなわち、画像記録装置内部で使用されても、温度
上昇により光学特性が変化しない光学走査装置を低コス
トに提供できる。 [シミュレーション結果]本発明の作用を確認するため
にシミュレーションを行って作用を確認した。第1実施
形態に係る光学走査装置10(実施例)と連結部材無し
の光学走査装置(従来例)のモデルについて、25℃か
ら60℃への温度上昇による半導体レーザとコリメート
レンズ間の距離L0の変化を調べた。
【0044】温度上昇によりモデルは図11(A)の形
状から図11(B)の形状に変化する。実際のシミュレ
ーション結果を図12(A)、(B)に示す。実施例に
係る光学走査装置(図12(A)参照)は、連結部材6
0(斜線部参照)の存在によって変形が抑制され、距離
Lが従来例に係る光学走査装置における距離L’(図1
2(B)参照)と比較して距離D分抑制されることがわ
かる。
状から図11(B)の形状に変化する。実際のシミュレ
ーション結果を図12(A)、(B)に示す。実施例に
係る光学走査装置(図12(A)参照)は、連結部材6
0(斜線部参照)の存在によって変形が抑制され、距離
Lが従来例に係る光学走査装置における距離L’(図1
2(B)参照)と比較して距離D分抑制されることがわ
かる。
【0045】なお、シミュレーション(計算)結果を表
1に示す。
1に示す。
【0046】
【表1】
【0047】このように、連結部材を設けることによっ
てフォーカス距離の伸びが大幅に抑制されることが確認
された。また、スリットを設けることによって、光学箱
の変化が吸収され、フォーカス距離の変化が一層抑制さ
れることが確認された。
てフォーカス距離の伸びが大幅に抑制されることが確認
された。また、スリットを設けることによって、光学箱
の変化が吸収され、フォーカス距離の変化が一層抑制さ
れることが確認された。
【0048】
【発明の効果】本発明に係る光学走査装置は、簡単な構
造でありながら、熱膨張による光学特性の低下を抑制す
ることができる。
造でありながら、熱膨張による光学特性の低下を抑制す
ることができる。
【図1】 本発明の第1実施形態に係る連結部材の取付
状態を説明する断面図である。
状態を説明する断面図である。
【図2】 本発明の第1実施形態に係る光学走査装置を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図3】 本発明の第1実施形態に係る光学走査装置を
示す断面図である。
示す断面図である。
【図4】 本発明の第1実施形態に係る光学走査装置を
示す平面図である。
示す平面図である。
【図5】 本発明の第1実施形態に係る連結部材の斜視
図である。
図である。
【図6】 本発明の第1実施形態に係る連結部材の取付
状態を説明する平面図である。
状態を説明する平面図である。
【図7】 本発明の第2実施形態に係る連結部材の取付
状態を説明する断面図である。
状態を説明する断面図である。
【図8】 本発明の第2実施形態に係る連結部材の斜視
図である。
図である。
【図9】 本発明の第3実施形態に係る連結部材の取付
状態を説明する断面図である。
状態を説明する断面図である。
【図10】 本発明の第3実施形態に係る連結部材の斜
視図である。
視図である。
【図11】 シミュレーションにおける、(A)はモデ
ルの変形前、(B)は変形後の模式図である。
ルの変形前、(B)は変形後の模式図である。
【図12】 (A)は実施例、(B)は従来例のシミュ
レーション結果を示した図である。
レーション結果を示した図である。
【図13】 従来例1に係る光源装置の断面図である。
【図14】 従来例2に係る光源装置の断面図である。
【図15】 従来例2に係る光学走査装置の平面図であ
る。
る。
【図16】 従来例3に係る光源装置の断面図である。
【図17】 従来例3に係る光学走査装置の斜視図であ
る。
る。
【図18】 他の従来例に係る光学走査装置の斜視図で
ある。
ある。
10 光学走査装置 16 コリメートレンズ 46 半導体レーザ(光源) 60、80、90 連結部材 76 スリット 94 調整ネジ(調整部材)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C362 AA43 AA45 AA46 AA47 AA48 BA86 BA90 DA03 2H045 AA01 CB22 DA02 DA04 5C072 AA03 BA12 DA02 DA18 DA21 DA23 HA02 HA13 RA12 XA01 XA04
Claims (3)
- 【請求項1】 光源から出射された光ビームを感光体上
に走査光として結像させる光学部品が配設された光学箱
を備え、 前記光学箱よりも線膨張係数が小さい連結部材を介し
て、少なくとも2つの光学部品近傍の光学箱上の2点を
連結したことを特徴とする光学走査装置。 - 【請求項2】 光学箱は、前記光源が取りつけられた壁
面と、前記コリメートレンズが取りつけられた底面とを
備え、前記壁面と前記底面のなす角部に光軸と直交する
方向に延在するスリットが形成されたことを特徴とする
請求項1記載の光学走査装置。 - 【請求項3】 前記連結部材で拘束される第1の光学部
品と第2の光学部品の少なくとも一方は、連結部材より
も線膨張係数が大きい調整部材を介して前記連結部材に
取り付けられており、当該調整部材が光軸方向において
前記第1と第2の光学部品間の外側に配置されることを
特徴とする請求項1または2記載の光学走査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11065126A JP2000258717A (ja) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | 光学走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11065126A JP2000258717A (ja) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | 光学走査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000258717A true JP2000258717A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=13277881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11065126A Pending JP2000258717A (ja) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | 光学走査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000258717A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6933959B2 (en) * | 2000-09-12 | 2005-08-23 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning device and image forming apparatus |
JP2007079558A (ja) * | 2005-08-18 | 2007-03-29 | Kyocera Mita Corp | 光源装置及びこれを備えた光学走査装置 |
JP2010217239A (ja) * | 2009-03-13 | 2010-09-30 | Kyocera Mita Corp | 光源装置、光走査装置およびそれを備えた画像形成装置 |
JP2015227936A (ja) * | 2014-05-30 | 2015-12-17 | 株式会社東芝 | 画像形成装置 |
-
1999
- 1999-03-11 JP JP11065126A patent/JP2000258717A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6933959B2 (en) * | 2000-09-12 | 2005-08-23 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning device and image forming apparatus |
JP2007079558A (ja) * | 2005-08-18 | 2007-03-29 | Kyocera Mita Corp | 光源装置及びこれを備えた光学走査装置 |
JP2010217239A (ja) * | 2009-03-13 | 2010-09-30 | Kyocera Mita Corp | 光源装置、光走査装置およびそれを備えた画像形成装置 |
JP2015227936A (ja) * | 2014-05-30 | 2015-12-17 | 株式会社東芝 | 画像形成装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20031209 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060403 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060418 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060627 |