JP2000258197A - 環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法 - Google Patents
環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法Info
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- JP2000258197A JP2000258197A JP11060854A JP6085499A JP2000258197A JP 2000258197 A JP2000258197 A JP 2000258197A JP 11060854 A JP11060854 A JP 11060854A JP 6085499 A JP6085499 A JP 6085499A JP 2000258197 A JP2000258197 A JP 2000258197A
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 試験パターンを手作業で入力したり、コンピ
ュータで任意のパターンを構成することなく、試験パタ
ーンを短時間且つ容易に入力できるようにする。 【解決手段】 予め、試験パターン曲線を専用フォーマ
ットの用紙に記入する。次に、作成した試験パターン曲
線をパターン読み取り部２で読み取る。読み取られた試
験パターン曲線は、パターン認識によってコードデータ
に変換される。試験パターン指令部３が、受信したコー
ドデータに基づいて、制御回路４に対して環境パラメー
タの設定を行う。環境パラメータの設定は、最初に記入
された試験パターン曲線が、例えば温度であれば横軸に
時間、縦軸に温度のディメンジョンを設定する。そし
て、制御回路４が、環境パラメータに応じて、環境試験
槽５の環境条件を制御する。すなわち、試験パターン曲
線が温度特性であれば温度制御を行う。このように、試
験パターンを読み取るだけでパターン設定ができる。
ュータで任意のパターンを構成することなく、試験パタ
ーンを短時間且つ容易に入力できるようにする。 【解決手段】 予め、試験パターン曲線を専用フォーマ
ットの用紙に記入する。次に、作成した試験パターン曲
線をパターン読み取り部２で読み取る。読み取られた試
験パターン曲線は、パターン認識によってコードデータ
に変換される。試験パターン指令部３が、受信したコー
ドデータに基づいて、制御回路４に対して環境パラメー
タの設定を行う。環境パラメータの設定は、最初に記入
された試験パターン曲線が、例えば温度であれば横軸に
時間、縦軸に温度のディメンジョンを設定する。そし
て、制御回路４が、環境パラメータに応じて、環境試験
槽５の環境条件を制御する。すなわち、試験パターン曲
線が温度特性であれば温度制御を行う。このように、試
験パターンを読み取るだけでパターン設定ができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、環境試験装置を動
作させるための試験パターンのプログラム設定技術に関
する。
作させるための試験パターンのプログラム設定技術に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来、環境試験装置における温度、振
動、衝撃、気圧等の試験パターンの入力方法は、所望の
パターンプログラムを作成し、操作パネル面のテンキー
などから手作業による入力を行っている。例えば、図２
の、温度試験パターンの一例に示すようなパターンプロ
グラムを環境試験装置に入力する場合は、図３に示すよ
うな従来の作業手順によって行っている。この例を説明
すると、先ず、図２に示す試験パターン曲線を所定の用
紙に作成する（Ｓ１）。そして、温度Ｐ１と継続時間ｔ
１を環境試験装置のキーボードに入力する（Ｓ２）。続
いて、温度Ｐ２と継続時間ｔ３を入力すると共に、温度
Ｐ１から温度Ｐ２への温度変化時間ｔ２を入力する（Ｓ
３）。さらに、温度Ｐ３と継続時間ｔ５を入力すると共
に、温度Ｐ２から温度Ｐ３への温度変化時間ｔ４を入力
する（Ｓ４）。そして、温度Ｐ４と継続時間ｔ７を入力
すると共に、温度Ｐ３から温度Ｐ４への温度変化時間ｔ
６を入力して（Ｓ５）、環境試験を実行する（Ｓ６）。
動、衝撃、気圧等の試験パターンの入力方法は、所望の
パターンプログラムを作成し、操作パネル面のテンキー
などから手作業による入力を行っている。例えば、図２
の、温度試験パターンの一例に示すようなパターンプロ
グラムを環境試験装置に入力する場合は、図３に示すよ
うな従来の作業手順によって行っている。この例を説明
すると、先ず、図２に示す試験パターン曲線を所定の用
紙に作成する（Ｓ１）。そして、温度Ｐ１と継続時間ｔ
１を環境試験装置のキーボードに入力する（Ｓ２）。続
いて、温度Ｐ２と継続時間ｔ３を入力すると共に、温度
Ｐ１から温度Ｐ２への温度変化時間ｔ２を入力する（Ｓ
３）。さらに、温度Ｐ３と継続時間ｔ５を入力すると共
に、温度Ｐ２から温度Ｐ３への温度変化時間ｔ４を入力
する（Ｓ４）。そして、温度Ｐ４と継続時間ｔ７を入力
すると共に、温度Ｐ３から温度Ｐ４への温度変化時間ｔ
６を入力して（Ｓ５）、環境試験を実行する（Ｓ６）。
【０００３】また、実開昭６２ー１００５０５号公報に
は、予め、メモりに２個以上の試験パターンのプログラ
ムを格納し、これらのパターンを時間軸方向に直列に連
結することにより、任意の試験パターンを作成する技術
が開示されている。
は、予め、メモりに２個以上の試験パターンのプログラ
ムを格納し、これらのパターンを時間軸方向に直列に連
結することにより、任意の試験パターンを作成する技術
が開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述
の、温度と時間を逐一入力する方法は、図３のステップ
Ｓ２からステップＳ５までの温度と時間の入力を、オペ
レータが操作面パネルからいちいち手作業で行ってい
る。このため、複雑な試験パターン曲線を使用する場合
には、入力作業に多大な時間を要し、また、試験状況に
応じて行う臨機応変な試験パターンの変更にも、多くの
時間を費やすなどの問題がある。また、実開昭６２ー１
００５０５号公報の方法は、メモリに格納できるプログ
ラムのパターン数がメモり容量によって制限され、複雑
な試験パターンを設定することが出来なかったり、任意
の試験パターンを構成することが出来ないなどの問題が
ある。特に、新規開発品の環境試験を行う場合は、試験
時の供試品の状況に応じて、試験パターンを随時変更し
ていく必要あるが、従来の何れの試験パターンの設定方
法においても、これらの要求に対応するためには、変更
するパターンを入力するために相当な時間を費やしてい
る。
の、温度と時間を逐一入力する方法は、図３のステップ
Ｓ２からステップＳ５までの温度と時間の入力を、オペ
レータが操作面パネルからいちいち手作業で行ってい
る。このため、複雑な試験パターン曲線を使用する場合
には、入力作業に多大な時間を要し、また、試験状況に
応じて行う臨機応変な試験パターンの変更にも、多くの
時間を費やすなどの問題がある。また、実開昭６２ー１
００５０５号公報の方法は、メモリに格納できるプログ
ラムのパターン数がメモり容量によって制限され、複雑
な試験パターンを設定することが出来なかったり、任意
の試験パターンを構成することが出来ないなどの問題が
ある。特に、新規開発品の環境試験を行う場合は、試験
時の供試品の状況に応じて、試験パターンを随時変更し
ていく必要あるが、従来の何れの試験パターンの設定方
法においても、これらの要求に対応するためには、変更
するパターンを入力するために相当な時間を費やしてい
る。
【０００５】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、環境試験装置の試験パターン
のプログラムを手作業で入力したり、コンピュータで任
意のパターンを構成したりすることなく、任意の試験パ
ターンを短時間且つ容易に入力できる環境試験装置を提
供することにある。
ものであり、その目的は、環境試験装置の試験パターン
のプログラムを手作業で入力したり、コンピュータで任
意のパターンを構成したりすることなく、任意の試験パ
ターンを短時間且つ容易に入力できる環境試験装置を提
供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の環境試験装置の試験パターンプログラム
の設定方法は、予め、所望の試験パターンを専用の用紙
に手書きで記入し、これをパターン読み取り装置、例え
ば光学的文字認識装置（ＯＣＲ＝Optical Character Re
cognition）によって読み取る。そして、パターン読み
取り装置が読み取った試験パターンのデータに基づい
て、温度、振動、衝撃、気圧等の環境パラメータを設定
し、この環境パラメータに応じて環境試験装置の環境条
件を制御することを特徴とする。
めに、本発明の環境試験装置の試験パターンプログラム
の設定方法は、予め、所望の試験パターンを専用の用紙
に手書きで記入し、これをパターン読み取り装置、例え
ば光学的文字認識装置（ＯＣＲ＝Optical Character Re
cognition）によって読み取る。そして、パターン読み
取り装置が読み取った試験パターンのデータに基づい
て、温度、振動、衝撃、気圧等の環境パラメータを設定
し、この環境パラメータに応じて環境試験装置の環境条
件を制御することを特徴とする。
【０００７】このような試験パターンの設定方法によっ
て、任意かつ複雑な試験パターンを、プログラムの作成
やキー入力等の手作業を行わずに、容易に設定すること
が出来る。したがって、試験パターンの設定に要する時
間は、従来に比べて著しく削減される。
て、任意かつ複雑な試験パターンを、プログラムの作成
やキー入力等の手作業を行わずに、容易に設定すること
が出来る。したがって、試験パターンの設定に要する時
間は、従来に比べて著しく削減される。
【０００８】すなわち、請求項１に係る環境試験装置
は、予め定められた試験パターンのプログラムを入力し
て、被測定物に対して所定の環境試験を行う環境試験装
置において、予め記載された試験パターン曲線を光学的
に読み取り、読み取られた試験パターンに基づいて所定
の環境試験を行うことを特徴とする。
は、予め定められた試験パターンのプログラムを入力し
て、被測定物に対して所定の環境試験を行う環境試験装
置において、予め記載された試験パターン曲線を光学的
に読み取り、読み取られた試験パターンに基づいて所定
の環境試験を行うことを特徴とする。
【０００９】請求項２に係る環境試験装置は、請求項１
記載の環境試験装置において、予め記載された試験パタ
ーン曲線を光学的に読み取り、試験パターン曲線に対応
するコードデータを生成するパターン読取手段と、この
パターン読取手段から受信したコードデータに基づい
て、試験パターン指令信号を生成する試験パターン指令
手段と、試験パターン指令信号に基づいて設定された環
境パラメータによって、環境条件の制御を行う制御手段
と、被測定物に対して環境パラメータに応じた環境試験
を行う環境試験手段とを備え、パターン読取手段が読み
取った試験パターンが、試験パターン指令手段によって
試験パターン指令信号に変換され、さらに、制御手段
が、試験パターン指令信号に基づいて設定された環境パ
ラメータによって、環境試験手段の環境条件の制御を行
い、環境試験手段が、制御手段の行う環境条件の制御に
よって、被測定物の環境試験を行うことを特徴とする。
記載の環境試験装置において、予め記載された試験パタ
ーン曲線を光学的に読み取り、試験パターン曲線に対応
するコードデータを生成するパターン読取手段と、この
パターン読取手段から受信したコードデータに基づい
て、試験パターン指令信号を生成する試験パターン指令
手段と、試験パターン指令信号に基づいて設定された環
境パラメータによって、環境条件の制御を行う制御手段
と、被測定物に対して環境パラメータに応じた環境試験
を行う環境試験手段とを備え、パターン読取手段が読み
取った試験パターンが、試験パターン指令手段によって
試験パターン指令信号に変換され、さらに、制御手段
が、試験パターン指令信号に基づいて設定された環境パ
ラメータによって、環境試験手段の環境条件の制御を行
い、環境試験手段が、制御手段の行う環境条件の制御に
よって、被測定物の環境試験を行うことを特徴とする。
【００１０】請求項３に係る環境試験装置は、請求項２
記載の環境試験装置において、パターン読取手段は光学
的文字認識装置（ＯＣＲ装置）であることを特徴とす
る。また、請求項４に係る環境試験装置は、請求項２ま
たは請求項３記載の環境試験装置において、環境パラメ
ータは、２種類以上の環境条件によって個別に設定され
た環境パラメータであることを特徴とする。さらに、請
求項５に係る環境試験装置は、請求項２または請求項３
記載の環境試験装置において、環境パラメータは、任意
に選択した１種類の環境条件によって設定された環境パ
ラメータであることを特徴とする。
記載の環境試験装置において、パターン読取手段は光学
的文字認識装置（ＯＣＲ装置）であることを特徴とす
る。また、請求項４に係る環境試験装置は、請求項２ま
たは請求項３記載の環境試験装置において、環境パラメ
ータは、２種類以上の環境条件によって個別に設定され
た環境パラメータであることを特徴とする。さらに、請
求項５に係る環境試験装置は、請求項２または請求項３
記載の環境試験装置において、環境パラメータは、任意
に選択した１種類の環境条件によって設定された環境パ
ラメータであることを特徴とする。
【００１１】請求項６は環境試験装置の試験パターンの
設定方法であって、被測定物に対して所定の環境試験を
行う環境試験装置に、予め定められた試験パターンのプ
ログラムを入力する試験パターンの設定方法において、
所望の試験パターンを所定の用紙に記入する過程と、こ
の試験パターンを光学的の読み取る過程と、読み取った
試験パターンのデータに基づいて環境パラメータを設定
し、被測定物に対して環境試験を行う過程とを備えたこ
とを特徴とする環境試験装置の試験パターンの設定方法
である。
設定方法であって、被測定物に対して所定の環境試験を
行う環境試験装置に、予め定められた試験パターンのプ
ログラムを入力する試験パターンの設定方法において、
所望の試験パターンを所定の用紙に記入する過程と、こ
の試験パターンを光学的の読み取る過程と、読み取った
試験パターンのデータに基づいて環境パラメータを設定
し、被測定物に対して環境試験を行う過程とを備えたこ
とを特徴とする環境試験装置の試験パターンの設定方法
である。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の環境
試験装置の実施の形態を詳細に説明する。図１は、本発
明の実施の形態の、パターン読み取り機能付き環境試験
装置の構成図である。同図において、環境試験装置１
は、パターン読み取り部２と試験パターン指令部３と制
御回路４と環境試験槽５とによって構成されている。
試験装置の実施の形態を詳細に説明する。図１は、本発
明の実施の形態の、パターン読み取り機能付き環境試験
装置の構成図である。同図において、環境試験装置１
は、パターン読み取り部２と試験パターン指令部３と制
御回路４と環境試験槽５とによって構成されている。
【００１３】パターン読み取り部２は、例えば光学的文
字認識装置（ＯＣＲ装置）であって、専用紙に記入され
た試験パターン曲線を読み取り、これをパターン認識に
よってコードデータに変換する。また、試験パターン指
令部３は、パターン読み取り部２が読み取った試験パタ
ーン曲線のコードデータに基づいて、制御回路４に送信
するための試験パターン指令信号を生成する。さらに、
制御回路４は、試験パターン指令部３が生成した試験パ
ターン指令信号に基づいて、環境試験槽５の各環境パラ
メータ（温度、湿度、振動、衝撃、気圧など）を制御す
る。環境試験槽５は、被測定物に対して、試験パターン
曲線で決められた環境条件を印加する。
字認識装置（ＯＣＲ装置）であって、専用紙に記入され
た試験パターン曲線を読み取り、これをパターン認識に
よってコードデータに変換する。また、試験パターン指
令部３は、パターン読み取り部２が読み取った試験パタ
ーン曲線のコードデータに基づいて、制御回路４に送信
するための試験パターン指令信号を生成する。さらに、
制御回路４は、試験パターン指令部３が生成した試験パ
ターン指令信号に基づいて、環境試験槽５の各環境パラ
メータ（温度、湿度、振動、衝撃、気圧など）を制御す
る。環境試験槽５は、被測定物に対して、試験パターン
曲線で決められた環境条件を印加する。
【００１４】次に、本発明の環境試験装置の動作につい
て説明する。先ず、 温度、湿度、振動、衝撃、及び気
圧の各条件について、試験パターン曲線を専用フォーマ
ットの用紙に記入する。試験パターン曲線の記入方法
は、例えば、図２に示すように、横軸に時間をとり、縦
軸に温度、湿度、振動、衝撃、及び気圧など、各試験条
件のパラメータをとり、手書きなどによって記入する。
て説明する。先ず、 温度、湿度、振動、衝撃、及び気
圧の各条件について、試験パターン曲線を専用フォーマ
ットの用紙に記入する。試験パターン曲線の記入方法
は、例えば、図２に示すように、横軸に時間をとり、縦
軸に温度、湿度、振動、衝撃、及び気圧など、各試験条
件のパラメータをとり、手書きなどによって記入する。
【００１５】そして、作成した試験パターン曲線を、パ
ターン読み取り部２によって読み取る。読み取り方法
は、スキャナーで読み取るのと同様の方法で行う。読み
取られた試験パターン曲線はパターン認識によってコー
ドデータに変換される。次に、試験パターン指令部３に
よって、パターン読み取り部２からの送られてきたコー
ドデータに基づいて、制御回路３に対して環境パラメー
タの設定を行う。環境パラメータの設定は、最初に記入
された試験パターン曲線が、例えば温度であれば横軸に
時間、縦軸に温度のディメンジョンを設定する。
ターン読み取り部２によって読み取る。読み取り方法
は、スキャナーで読み取るのと同様の方法で行う。読み
取られた試験パターン曲線はパターン認識によってコー
ドデータに変換される。次に、試験パターン指令部３に
よって、パターン読み取り部２からの送られてきたコー
ドデータに基づいて、制御回路３に対して環境パラメー
タの設定を行う。環境パラメータの設定は、最初に記入
された試験パターン曲線が、例えば温度であれば横軸に
時間、縦軸に温度のディメンジョンを設定する。
【００１６】これによって、制御回路４は、環境パラメ
ータに応じて環境試験槽５の環境条件を制御する。すな
わち、試験パターン曲線が温度特性であれば、例えば、
図２の温度試験パターンに基づく温度制御を、制御回路
４が環境試験槽５に対して行う。同様にして、パターン
読み取り装置２に入力した試験パターン曲線の湿度特性
／振動特性／衝撃特性／気圧特性に基づいて、制御回路
４は環境試験槽５に対して、湿度制御／振動制御／衝撃
制御／気圧制御を行う。
ータに応じて環境試験槽５の環境条件を制御する。すな
わち、試験パターン曲線が温度特性であれば、例えば、
図２の温度試験パターンに基づく温度制御を、制御回路
４が環境試験槽５に対して行う。同様にして、パターン
読み取り装置２に入力した試験パターン曲線の湿度特性
／振動特性／衝撃特性／気圧特性に基づいて、制御回路
４は環境試験槽５に対して、湿度制御／振動制御／衝撃
制御／気圧制御を行う。
【００１７】図４は、本発明の環境試験装置に試験パタ
ーン曲線を入力する場合の、処理の手順を示すフローチ
ャートである。例えば、図２に示す試験パターン曲線を
作成し（Ｓ１１）、この試験パターン曲線をパターン読
み取り部２によって読み取り（Ｓ１２）、直ちに、環境
試験槽５の環境試験を実行する（Ｓ１３）。したがっ
て、図３に示す従来の試験パターン曲線の設定方法に比
べて、本発明の設定方法はかなり作業手順が削減されて
いる。すなわち、図３のステップＳ２〜Ｓ５の温度と時
間の入力作業が全て省略され、図４に示すように、ステ
ップＳ１２のパターン読み取り部２への試験パターン曲
線の入力作業だけでよいことになる。
ーン曲線を入力する場合の、処理の手順を示すフローチ
ャートである。例えば、図２に示す試験パターン曲線を
作成し（Ｓ１１）、この試験パターン曲線をパターン読
み取り部２によって読み取り（Ｓ１２）、直ちに、環境
試験槽５の環境試験を実行する（Ｓ１３）。したがっ
て、図３に示す従来の試験パターン曲線の設定方法に比
べて、本発明の設定方法はかなり作業手順が削減されて
いる。すなわち、図３のステップＳ２〜Ｓ５の温度と時
間の入力作業が全て省略され、図４に示すように、ステ
ップＳ１２のパターン読み取り部２への試験パターン曲
線の入力作業だけでよいことになる。
【００１８】以上述べた実施の形態は本発明を説明する
ための一例であり、本発明は、上記の実施の形態に限定
されるものではなく、発明の要旨の範囲で種々の変形が
可能である。例えば、上記の実施の形態では、温度、湿
度、振動、衝撃、気圧の５つのパラメータを用いた複合
環境試験装置を例に挙げたが、これら５つのパラメータ
のうちの任意のパラメータのみを用いた試験装置や、新
たなパラメータを加えた試験装置についても、前述と同
様のパターン読み取り処理によって試験パターンプログ
ラムの設定を行うことができる。
ための一例であり、本発明は、上記の実施の形態に限定
されるものではなく、発明の要旨の範囲で種々の変形が
可能である。例えば、上記の実施の形態では、温度、湿
度、振動、衝撃、気圧の５つのパラメータを用いた複合
環境試験装置を例に挙げたが、これら５つのパラメータ
のうちの任意のパラメータのみを用いた試験装置や、新
たなパラメータを加えた試験装置についても、前述と同
様のパターン読み取り処理によって試験パターンプログ
ラムの設定を行うことができる。
【００１９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の環境試験
装置によれば、従来のように試験パターンをパネル面か
らキー入力する必要がなく、所定の用紙に試験パターン
曲線を手書きして、これをＯＣＲ装置で読み取るだけで
試験パターンプログラムの設定ができる。したがって、
複雑な試験パターンになるほど、本発明の効果は大き
い。また、試験パターンプログラムを簡単且つ短時間に
設定できるため、試験状況に応じて臨機応変な試験条件
の変更を行うことも容易である。
装置によれば、従来のように試験パターンをパネル面か
らキー入力する必要がなく、所定の用紙に試験パターン
曲線を手書きして、これをＯＣＲ装置で読み取るだけで
試験パターンプログラムの設定ができる。したがって、
複雑な試験パターンになるほど、本発明の効果は大き
い。また、試験パターンプログラムを簡単且つ短時間に
設定できるため、試験状況に応じて臨機応変な試験条件
の変更を行うことも容易である。
【図１】 本発明の実施の形態の、パターン読み取り機
能付き環境試験装置の構成図である。
能付き環境試験装置の構成図である。
【図２】 環境試験装置を動作させるための温度試験パ
ターンの一例である。
ターンの一例である。
【図３】 図２の試験パターンプログラムを、従来の環
境試験装置に入力する処理手順を示すフローチャートで
ある。
境試験装置に入力する処理手順を示すフローチャートで
ある。
【図４】 本発明の環境試験装置に試験パターン曲線を
入力する場合の、処理の手順を示すフローチャートであ
る。
入力する場合の、処理の手順を示すフローチャートであ
る。
１ 環境試験装置 ２ パターン読み取り部 ３ 試験パターン指令部 ４ 制御回路 ５ 環境試験槽
Claims (6)
- 【請求項１】 予め定められた試験パターンのプログラ
ムを入力して、被測定物に対して所定の環境試験を行う
環境試験装置において、 予め記載された試験パターン曲線を光学的に読み取り、
読み取られた試験パターンに基づいて所定の環境試験を
行うことを特徴とする環境試験装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の環境試験装置において、 予め記載された試験パターン曲線を光学的に読み取り、
前記試験パターン曲線に対応するコードデータを生成す
るパターン読取手段と、 前記パターン読取手段から受信したコードデータに基づ
いて、試験パターン指令信号を生成する試験パターン指
令手段と、 前記試験パターン指令信号に基づいて設定された環境パ
ラメータによって、環境条件の制御を行う制御手段と、 前記被測定物に対して、環境パラメータに応じた環境試
験を行う環境試験手段とを備え、 前記パターン読取手段が読み取った試験パターンは、前
記試験パターン指令手段によって試験パターン指令信号
に変換され、 前記制御手段が、前記試験パターン指令信号に基づいて
設定された環境パラメータによって、前記環境試験手段
の環境条件の制御を行い、 前記環境試験手段が、前記制御手段の行う環境条件の制
御によって、前記被測定物の環境試験を行うことを特徴
とする環境試験装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の環境試験装置において、 前記パターン読取手段は光学的文字認識装置（ＯＣＲ装
置）であることを特徴とする環境試験装置。 - 【請求項４】 請求項２または請求項３記載の環境試験
装置において、 前記環境パラメータは、２種類以上の環境条件によって
個別に設定された環境パラメータであることを特徴とす
る環境試験装置。 - 【請求項５】 請求項２または請求項３記載の環境試験
装置において、 前記環境パラメータは、任意に選択した１種類の環境条
件によって設定された環境パラメータであることを特徴
とする環境試験装置。 - 【請求項６】 被測定物に対して所定の環境試験を行う
環境試験装置に、予め定められた試験パターンのプログ
ラムを入力する試験パターンの設定方法において、 所望の試験パターンを所定の用紙に記入する過程と、 前記試験パターンを光学的の読み取る過程と、 読み取った試験パターンのデータに基づいて環境パラメ
ータを設定し、前記被測定物に対して環境試験を行う過
程と、 を備えたことを特徴とする環境試験装置の試験パターン
の設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11060854A JP2000258197A (ja) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | 環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11060854A JP2000258197A (ja) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | 環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000258197A true JP2000258197A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=13154397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11060854A Pending JP2000258197A (ja) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | 環境試験装置及びこれの試験パターンの設定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000258197A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005522693A (ja) * | 2002-04-15 | 2005-07-28 | アメビス・インテレクチュアル・プロパティーズ・リミテッド | 材料安定性テストシステム |
| KR101742400B1 (ko) * | 2015-12-23 | 2017-05-31 | 주식회사 현대케피코 | 차량 부품의 테스트 장치 및 방법 |
| JP2017223652A (ja) * | 2016-04-21 | 2017-12-21 | ザ・ボーイング・カンパニーＴｈｅ Ｂｏｅｉｎｇ Ｃｏｍｐａｎｙ | 構造物における気泡形成の可能性を評価するためのシステム及び方法 |
| JP2018059793A (ja) * | 2016-10-05 | 2018-04-12 | エスペック株式会社 | 環境形成装置 |
| CN108956444A (zh) * | 2018-06-14 | 2018-12-07 | 中国船舶重工集团公司第七二五研究所 | 一种防腐涂层自然环境试验和性能检测系统 |
-
1999
- 1999-03-08 JP JP11060854A patent/JP2000258197A/ja active Pending
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