JP2000228824A - 静電気対策回路 - Google Patents

静電気対策回路

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Publication number
JP2000228824A
JP2000228824A JP11027525A JP2752599A JP2000228824A JP 2000228824 A JP2000228824 A JP 2000228824A JP 11027525 A JP11027525 A JP 11027525A JP 2752599 A JP2752599 A JP 2752599A JP 2000228824 A JP2000228824 A JP 2000228824A
Authority
JP
Japan
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gap
circuit
internal circuit
output terminal
signal line
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP11027525A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuya Miyazaki
達也 宮崎
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Denso Ten Ltd
Original Assignee
Denso Ten Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 長期間使用していてもESDにより回路要素
が劣化することがなく、内部回路に誤動作を生じさせる
虞のない静電気対策回路を提供すること。 【解決手段】 入出力端子1と内部回路とを接続する信
号線2の途中に第1のギャップG1を形成し、第1のギ
ャップG1と入出力端子1との間の信号線2とア−スパ
タ−ン4との間に第1のギャップG1よりは間隔の小さ
い第2のギャップG2を形成し、第1のギャップG1及
び第2のギャップG2にそれぞれ適切な絶縁抵抗値を有
する抵抗3、15を接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は静電気対策回路、よ
り詳細には通常、入出力端子と内部回路とを接続する信
号線の途中に介装され、電子機器の内部回路を静電気か
ら保護するための静電気対策回路に関する。
【0002】
【従来の技術】開放状態の入出力端子に高電圧の静電パ
ルスが飛び込んでくると内部回路が破壊されることがあ
る。このため従来から電子機器には内部回路保護のため
の様々な対策が施されている。
【0003】例えば特開平3−49524号公報には、
図2に示す静電気対策回路が開示されている。図中1
は、入出力端子を示しており、入出力端子1には信号線
2が接続され、信号線2は内部回路(図示せず)へと延
設されている。入出力端子1と前記内部回路とを接続す
る信号線2の途中には第1のギャップG1が形成され、
第1のギャップG1と入出力端子1との間の信号線2と
ア−スパタ−ン4との間には第1のギャップG1よりは
間隔の小さい第2のギャップG2が形成され、第1のギ
ャップG1には抵抗3が配置、接続される一方、第2の
ギャップG2にはチップ磁気コンデンサ5が配置、接続
されている。
【0004】かかる構成の静電気対策回路の場合、第2
のギャップG2の間隔が第1のギャップG1の間隔より
も小さく設定されているので、ESD(electro-static
discharge: 静電放電)はほぼ確実に第2のギャップG
2(チップ磁気コンデンサ5)側で生じ、前記内部回路
は高電圧の静電パルスから保護される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た静電気対策回路の場合、前記内部回路に図3に示すよ
うなトランジスタ回路を含む場合、以下のような課題を
抱えていた。すなわち、チップ磁気コンデンサ5はES
Dにより劣化することがあり、チップ磁気コンデンサ5
が劣化するとチップ磁気コンデンサ5の絶縁抵抗値Ra
が下がり、チップ磁気コンデンサ5の絶縁抵抗値Raが
下がると前記内部回路に誤動作を生じさせる虞がでてく
る。例えば図3に示した静電気対策回路の場合、チップ
磁気コンデンサ5の絶縁抵抗値Raが下がり、電源電圧
をVccで表した場合、 Vcc×Rc/(Rc+Rb+Ra) で表される値がトランジスタTrのオンする電圧に近付
いてくると、トランジスタTrにコレクタ電流が流れ始
める。この場合、例えば内部回路がオ−ディオのミュ−
ト回路であったりすると、ずっとミュ−トがかかった状
態になってしまい、音声が流れなくなるといった課題が
あった。
【0006】本発明は上記課題に鑑みなされたものであ
って、長期間使用していてもESDにより回路要素が劣
化することがなく、内部回路に誤動作を生じさせる虞の
ない静電気対策回路を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段及びその効果】上記目的を
達成するために、本発明に係る静電気対策回路は、入出
力端子と内部回路とを接続する信号線の途中に第1のギ
ャップが形成され、該第1のギャップと前記入出力端子
との間の前記信号線とア−スパタ−ンとの間に前記第1
のギャップよりは間隔の小さい第2のギャップが形成さ
れ、前記第1のギャップ及び第2のギャップにそれぞれ
抵抗が接続されていることを特徴としている。
【0008】上記静電気対策回路によれば、前記第2の
ギャップの間隔は前記第1のギャップの間隔よりも小さ
いので、ESDはほぼ確実に前記第2のギャップ側で生
じ、前記内部回路は高電圧の静電パルスから保護され
る。しかも、前記第2のギャップには抵抗が接続されて
おり、この抵抗の絶縁抵抗値を当初適切な値に設定して
おけば、この抵抗はチップ磁器コンデンサ等と相違し、
ESDにより劣化して前記絶縁抵抗値が下がってしまう
ことはほとんどなく、従って、絶縁抵抗値が下がり、前
記内部回路に誤動作を生じさせるといった虞もなくすこ
とができる。また、前記抵抗はチップ磁器コンデンサ等
に比べると安価であり、静電気対策回路作製の製造コス
トを削減することもできる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る静電気対策回
路の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0010】図1に、実施の形態に係る静電気対策回路
の回路構成を示す。図中1は、入出力端子を示してお
り、入出力端子1には信号線2が接続され、信号線2は
内部回路(図示せず)へと延設されている。入出力端子
1と前記内部回路とを接続する信号線2の途中には第1
のギャップG1が形成され、第1のギャップG1と入出
力端子1との間の信号線2とア−スパタ−ン4との間に
は第1のギャップG1よりは間隔の小さい第2のギャッ
プG2が形成され、第1のギャップG1には抵抗3が配
置、接続される一方、第2のギャップG2には適切な絶
縁抵抗値を有する抵抗15が配置、接続されている。
【0011】かかる構成の静電気対策回路の場合、第2
のギャップG2の間隔が第1のギャップG1の間隔より
も小さく設定されているので、ESDはほぼ確実に第2
のギャップG2(抵抗15)側で生じ、前記内部回路は
高電圧の静電パルスから確実に保護される。
【0012】しかも、この抵抗15はチップ磁気コンデ
ンサ5(図2)等と相違し、ESDにより劣化して前記
絶縁抵抗値が当初の適切に設定された値から下がってし
まうことはほとんどなく、従って、当初、抵抗15の絶
縁抵抗値を適切な値に設定しておけば、前記内部回路に
誤動作を生じさせるといった虞もなくすことができる。
また、抵抗15はチップ磁器コンデンサ5等に比べると
安価であり、静電気対策回路作製の製造コストを削減す
ることもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る静電気対策回路の要
部を示す斜視図である。
【図2】従来の静電気対策回路の一例を示す斜視図であ
る。
【図3】従来の内部回路の一部を含めて示した静電気対
策回路の一例を示す回路構成図である。
【符号の説明】
1 入出力端子 2 信号線 3 抵抗 4 ア−スパタ−ン 15 抵抗 G1 第1のギャップ G2 第2のギャップ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入出力端子と内部回路とを接続する信号
    線の途中に第1のギャップが形成され、該第1のギャッ
    プと前記入出力端子との間の前記信号線とア−スパタ−
    ンとの間に前記第1のギャップよりは間隔の小さい第2
    のギャップが形成され、前記第1のギャップ及び第2の
    ギャップにそれぞれ抵抗が接続されていることを特徴と
    する静電気対策回路。
JP11027525A 1999-02-04 1999-02-04 静電気対策回路 Withdrawn JP2000228824A (ja)

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Effective date: 20060404