JP2000223453A - 半導体ウエハ保護用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法 - Google Patents

半導体ウエハ保護用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法

Info

Publication number
JP2000223453A
JP2000223453A JP11025588A JP2558899A JP2000223453A JP 2000223453 A JP2000223453 A JP 2000223453A JP 11025588 A JP11025588 A JP 11025588A JP 2558899 A JP2558899 A JP 2558899A JP 2000223453 A JP2000223453 A JP 2000223453A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pressure
sensitive adhesive
adhesive layer
radiation
semiconductor wafer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11025588A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4544658B2 (ja
Inventor
Mitsuharu Akazawa
光治 赤沢
Yoshio Nakagawa
善夫 中川
Takahiro Fukuoka
孝博 福岡
Koichi Hashimoto
浩一 橋本
Tatsuya Kubozono
達也 久保園
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Priority to JP02558899A priority Critical patent/JP4544658B2/ja
Publication of JP2000223453A publication Critical patent/JP2000223453A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4544658B2 publication Critical patent/JP4544658B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Adhesive Tapes (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放射線照射後のウエハの反りを抑制できる放
射線硬化型の半導体ウエハ保護用粘着シートを得る。 【解決手段】 半導体ウエハ保護用粘着シートは、基材
フィルムと放射線により硬化する粘着剤層とで構成され
た放射線硬化型の半導体ウエハ保護用粘着シートであっ
て、粘着剤層の放射線硬化後の収縮力が30MPa以下
であることを特徴とする。このような粘着シートには、
(i)粘着剤層に、1分子中に不飽和結合を1〜5個有
する放射線反応性オリゴマーが、該粘着剤層において骨
格となる主ポリマー100重量部に対して30〜300
重量部配合された粘着シート、(ii)粘着剤層に、1分
子中に不飽和結合を6以上有する放射線反応性オリゴマ
ーが、該粘着剤層において骨格となる主ポリマー100
重量部に対して10〜40重量部配合された粘着シート
などが含まれる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、各種半導体の製造
工程のうち半導体ウエハの裏面を研削するバックグライ
ンド工程において用いる放射線硬化型の半導体ウエハ保
護用粘着シート、及び前記粘着シートを用いる半導体ウ
エハの研削方法に関する。
【0002】
【従来の技術】各種半導体を製造する際、半導体ウエハ
の表(おもて)面にパターンを形成した後、所定の厚さ
になるまでウエハ裏面をバックグラインダー等で研削す
るバックグラインド工程を経るのが一般的である。その
際、ウエハの保護等の目的で、ウエハ表面に半導体ウエ
ハ保護シート(テープ)なる粘着シートを貼り合わせた
上で研削することが一般的に行われている。そして、最
近では、直径8インチ又は12インチといったウエハの
大型化や、ICカード用途などのウエハの薄型化が進ん
でおり、これに伴って、保護シートの軽剥離化のため放
射線硬化型保護シートを用いる場合が多くなってきてい
る。しかし、放射線硬化型保護シートは軽剥離化が可能
な反面、放射線照射後にウエハが反りやすいという問題
がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、放射線照射後のウエハの反りを抑制できる放射
線硬化型の半導体ウエハ保護用粘着シート、及び放射線
を照射してもウエハの反りを極めて低いレベルに抑制で
きる半導体ウエハの研削方法を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、前記目的
を達成するため鋭意検討した結果、半導体ウエハ保護用
粘着シート(以下、「保護シート」又は「ウエハ固定用
粘着シート」と称する場合がある)を構成する粘着層の
放射線照射(硬化)後の収縮力を特定の値以下に設定す
ると、放射線照射を行っても半導体ウエハの反りが著し
く小さいことを見いだし、本発明を完成した。
【0005】すなわち、本発明は、基材フィルムと放射
線により硬化する粘着剤層とで構成された放射線硬化型
の半導体ウエハ保護用粘着シートであって、粘着剤層の
放射線硬化後の収縮力が30MPa以下であることを特
徴とする半導体ウエハ保護用粘着シートを提供する。
【0006】また、本発明は、ウエハの表面に上記の半
導体ウエハ保護用粘着シートを貼付してウエハの裏面を
研削する半導体ウエハの研削方法を提供する。
【0007】なお、本明細書において、収縮力とは片持
ち梁によって測定した粘着剤層単独の放射線硬化後の収
縮力(放射線の照射による硬化により収縮したときに発
生する力)であり、以下の方法により測定したものであ
る。図1に示すように、燐青銅板A(長さ200mm、
幅20mm、厚み200μm、JIS C 5210)
に試料となる粘着剤層Bを貼り合わせ、長さ方向の片側
を固定し、水平におく。その後、粘着剤層B側より紫外
線を60秒間照射し(紫外線照射機:NEL UM−1
10、日東精機株式会社製)、常温に戻ってから、元の
位置からの鉛直方向の変位δを測定し、下式により収縮
力σを計算した(1Kg/mm2=9.8MPa)。
【0008】 ρ=(L2/8δ)+δ/2≒(L2/8δ) σ=(E11 3/12h2)×2/ρ(h1+h2)×{1
+(h1/(h1+h22/3)} ρ:片持ち梁の曲率半径(mm) σ:内部応力(収縮力)(Kg/mm2) E1:燐青銅板のヤング率(Kg/mm2) h1:燐青銅板の厚み(mm) h2:粘着剤層の厚み(mm) L/2:支点/測定点間距離(mm) δ:試験片の変位量(mm)。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明において、基材フィルムと
しては、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィル
ム、ポリブチレンテレフタレート(PBT)フィルム、
ポリエチレンナフタレートフィルムなどのポリエステル
フィルム;2軸延伸ポリプロピレン(OPP)フィル
ム、低密度ポリエチレン(PE)フィルム、各種軟質ポ
リオレフィンフィルムなどのポリオレフィン系フィル
ム;エチレン−酢酸ビニル共重合体(EVA)フィル
ム;などのプラスチックフィルム、及びこれらのフィル
ムを含む多層フィルムなどが挙げられる。なかでも、ウ
エハの反り抑制に効果のあるPETフィルム、PETフ
ィルムを含む多層フィルム、OPPフィルムなどが好ま
しい。基材フィルムの厚みは、例えば20〜300μm
程度である。
【0010】粘着剤層を構成する粘着剤としては、アク
リル系粘着剤、ゴム系粘着剤等の適宜な粘着剤を用いる
ことができる。なかでも、半導体ウエハへの接着性、剥
離後のウエハの超純水やアルコール等の有機溶剤による
清浄洗浄性などの点から、アクリル系ポリマーを主成分
とするアクリル系粘着剤が好ましい。
【0011】前記アクリル系ポリマーとしては、例え
ば、(メタ)アクリル酸アルキルエステル(例えば、メ
チルエステル、エチルエステル、プロピルエステル、イ
ソプロピルエステル、ブチルエステル、イソブチルエス
テル、s−ブチルエステル、t−ブチルエステル、ペン
チルエステル、イソペンチルエステル、ヘキシルエステ
ル、ヘプチルエステル、オクチルエステル、2−エチル
ヘキシルエステル、イソオクチルエステル、ノニルエス
テル、デシルエステル、イソデシルエステル、ウンデシ
ルエステル、ドデシルエステル、トリデシルエステル、
テトラデシルエステル、ヘキサデシルエステル、オクタ
デシルエステル、エイコシルエステルなどの炭素数1〜
30、特に炭素数4〜18の直鎖状又は分岐鎖状のアル
キルエステルなど)、及び(メタ)アクリル酸シクロア
ルキルエステル(例えば、シクロペンチルエステル、シ
クロヘキシルエステルなど)の1種又は2種以上を単量
体成分として用いたアクリル系ポリマーなどが挙げられ
る。
【0012】前記アクリル系ポリマーは、凝集力、耐熱
性などの改質を目的として、必要に応じ、前記(メタ)
アクリル酸アルキルエステル又はシクロアルキルエステ
ルと共重合可能な他のモノマー成分に対応する単位を含
んでいてもよい。このようなモノマー成分として、例え
ば、アクリル酸、メタクリル酸、カルボキシエチルアク
リレート、カルボキシペンチルアクリレート、イタコン
酸、マレイン酸、フマル酸、クロトン酸などのカルボキ
シル基含有モノマー;無水マレイン酸、無水イタコン酸
などの酸無水物モノマー;(メタ)アクリル酸2−ヒド
ロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロ
ピル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシブチル、(メ
タ)アクリル酸6−ヒドロキシヘキシル、(メタ)アク
リル酸8−ヒドロキシオクチル、(メタ)アクリル酸1
0−ヒドロキシデシル、(メタ)アクリル酸12−ヒド
ロキシラウリル、(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシ
ル)メチルアクリレートなどのヒドロキシル基含有モノ
マー;スチレンスルホン酸、アリルスルホン酸、2−
(メタ)アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン
酸、(メタ)アクリルアミドプロパンスルホン酸、スル
ホプロピル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリロイ
ルオキシナフタレンスルホン酸などのスルホン酸基含有
モノマー;2−ヒドロキシエチルアクリロイルホスフェ
ートなどのリン酸基含有モノマーなどが挙げられる。こ
れらのモノマー成分は1種又は2種以上使用できる。
【0013】さらに、前記アクリル系ポリマーにおい
て、架橋処理等を目的として、多官能性モノマーなど
も、必要に応じて共重合用モノマー成分として用いう
る。このようなモノマーとして、例えば、ヘキサンジオ
ールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)エチレングリコ
ールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)プロピレングリ
コールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコー
ルジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールジ
(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ
(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メ
タ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メ
タ)アクリレート、エポキシアクリレート、ポリエステ
ルアクリレート、ウレタンアクリレートなどが挙げられ
る。これらの多官能性モノマーも1種又は2種以上用い
ることができる。多官能性モノマーの使用量は、粘着特
性等の点から、全モノマー成分の30重量%以下が好ま
しい。
【0014】アクリル系ポリマーは、単一モノマー又は
2種以上のモノマー混合物を重合に付すことにより得ら
れる。重合は、溶液重合、乳化重合、塊状重合、懸濁重
合等の何れの方式で行うこともできる。粘着剤層はウエ
ハの汚染防止等の点から、低分子量物質の含有量が小さ
いのが好ましい。この点から、アクリル系ポリマーの数
平均分子量は、好ましくは30万以上、さらに好ましく
は40万〜300万程度である。ポリマーの数平均分子
量を高めるため、内部架橋方式又は外部架橋方式などの
適宜な方法により架橋された架橋型ポリマーを用いるこ
ともできる。
【0015】粘着剤層には放射線反応成分が配合され
る。このような成分には、公知乃至慣用の放射線反応性
(放射線硬化性)オリゴマー及びモノマーが含まれる。
【0016】放射線反応性オリゴマーとして、例えば、
ウレタンオリゴマー、ポリエーテル系オリゴマー、ポリ
エステル系オリゴマー、ポリカーボネート系オリゴマ
ー、ポリブタジエン系オリゴマーなどが例示できる。こ
れらの成分は1種または2種以上混合して使用できる。
【0017】前記の放射線反応性オリゴマー等を含む混
合物を紫外線等により硬化させる場合に使用される光重
合開始剤として、例えば、4−(2−ヒドロキシエトキ
シ)フェニル(2−ヒドロキシ−2−プロピル)ケト
ン、α−ヒドロキシ−α、α′−ジメチルアセトフェノ
ン、2−メチル−2−ヒドロキシプロピオフェノン、1
−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトンなどのα−
ケトール系化合物;メトキシアセトフェノン、2,2−
ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジ
エトキシアセトフェノン、2−メチル−1−[4−(メ
チルチオ)−フェニル]−2−モルホリノプロパン−1
などのアセトフェノン系化合物;ベンゾインエチルエー
テル、ベンゾインイソプロピルエーテル、アニソインメ
チルエーテルなどのベンゾインエーテル系化合物;ベン
ジルジメチルケタールなどのケタール系化合物;2−ナ
フタレンスルホニルクロリドなどの芳香族スルホニルク
ロリド系化合物;1−フェノン−1,1−プロパンジオ
ン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシムなどの光
活性オキシム系化合物;ベンゾフェノン、ベンゾイル安
息香酸、3,3′−ジメチル−4−メトキシベンゾフェ
ノンなどのベンゾフェノン系化合物;チオキサンソン、
2−クロロチオキサンソン、2−メチルチオキサンソ
ン、2,4−ジメチルチオキサンソン、イソプロピルチ
オキサンソン、2,4−ジクロロチオキサンソン、2,
4−ジエチルチオキサンソン、2,4−ジイソプロピル
チオキサンソンなどのチオキサンソン系化合物;カンフ
ァーキノン;ハロゲン化ケトン;アシルホスフィノキシ
ド;アシルホスフォナートなどが挙げられる。
【0018】粘着剤層の接着力は、使用目的等に応じて
適宜設定できるが、一般には、半導体ウエハに対する密
着維持性やウエハからの剥離性などの点から、ウエハミ
ラー面に対する接着力(常温、180°ピール値、剥離
速度300mm/分)が、例えば100g/20mm以
上、放射線照射後のウエハミラー面に対する接着力が、
例えば40g/20mm以下であるのが好ましい。
【0019】粘着剤層の厚さは適宜に決定してよいが、
一般には1〜300μm、好ましくは3〜200μm、
さらに好ましくは5〜100μm程度である。
【0020】本発明の重要な特徴は、粘着剤層の放射線
硬化後の収縮力が30MPa以下(好ましくは25MP
a以下)である点にある。なお、前記収縮力の下限は、
特に限定されないが、例えば0.01MPa程度であ
る。
【0021】半導体ウエハの表面に半導体ウエハ保護用
粘着シートを貼付し、ウエハの裏面を研削した後、例え
ば紫外線などの放射線を照射すると、粘着シートの粘着
剤層が硬化し粘着力が低下するため、該粘着シートをウ
エハから容易に剥がすことができる。その一方、前記放
射線照射時には、粘着剤層に体積収縮を起こし収縮力が
発生し、その結果としてウエハに反りが生じる。本発明
の粘着シートでは、この粘着剤層の放射線硬化後の収縮
力を30MPa以下に設定するため、放射線を照射して
粘着剤層を硬化させても、ウエハの反りは極めて小さ
い。
【0022】粘着剤層の放射線硬化後の収縮力を30M
Pa以下にする方法としては、例えば、(i)粘着剤層
に、低収縮性でありながら粘着力が低下するオリゴマ
ー、例えば1分子中に不飽和結合(炭素−炭素二重結合
など)を1〜5個有する低官能の放射線反応性オリゴマ
ーを該粘着剤層において骨格となる主ポリマー(粘着剤
の主成分となるポリマー;例えば、前記アクリル系ポリ
マー)100重量部に対して、例えば30〜300重量
部、好ましくは40〜200重量部程度配合する方法、
(ii)粘着剤層に配合する放射線反応性オリゴマーの量
を少なくする方法、より具体的には、粘着剤層に、量が
少なくても十分に粘着力が低下するオリゴマー、例えば
1分子中に不飽和結合(炭素−炭素二重結合など)を6
以上(例えば6〜12程度)有する多官能の放射線反応
性オリゴマーを、該粘着剤層において骨格となる主ポリ
マー100重量部に対して、例えば10〜40重量部、
好ましくは15〜35重量部程度配合する方法、(ii
i)粘着剤層に、前記1分子中に不飽和結合を1〜5個
有する放射線反応性オリゴマー(低官能オリゴマー)と
前記1分子中に不飽和結合を6以上有する放射線反応性
オリゴマー(多官能オリゴマー)とを、該粘着剤層にお
いて骨格となる主ポリマー100重量部に対して、例え
ば総計20〜300重量部、好ましくは30〜200重
量部程度配合する方法、(iv)粘着剤層に、前記1分子
中に不飽和結合を1〜5個有する放射線反応性オリゴマ
ー(低官能オリゴマー)を、該粘着剤層において骨格と
なる主ポリマー100重量部に対して、例えば10〜3
00重量部、好ましくは20〜200重量部程度配合す
るとともに、前記1分子中に不飽和結合を6以上有する
放射線反応性オリゴマー(多官能オリゴマー)を、該粘
着剤層において骨格となる主ポリマー100重量部に対
して、例えば1〜100重量部、好ましくは5〜50重
量部程度配合する方法、(v)粘着剤層を複数の層で構
成するとともに、粘着剤層のウエハ側には比較的収縮力
の大きい層を形成して十分な粘着力低下を可能とし、粘
着剤層の基材側には収縮力の小さい層を形成する、例え
ば、各層の放射線硬化後の収縮率を基材フィルム側から
ウエハ当接側に向かって順次高くなるように形成し、粘
着剤層全体の収縮力を30MPa以下にする方法などが
挙げられる。
【0023】なお、前記(ii)の方法においては、放射
線照射前の粘着力を一定のレベルに保持するため、粘着
剤層において骨格となる主ポリマー(例えば、アクリル
系ポリマー)として弾性率の低いポリマー、より具体的
には、引張り貯蔵弾性率が0.5MPa以下のポリマー
を選択するのが好ましい。
【0024】放射線反応性オリゴマー中の不飽和結合の
数は、例えば、該オリゴマー(例えば、ウレタンオリゴ
マー)を合成するに際し、反応成分として用いる単量体
中の反応性官能基の数(例えば、イソシアネート化合物
中のイソシアネート基の数)や単量体比(例えば、イソ
シアネート化合物とヒドロキシル基含有不飽和化合物と
の比)などを適宜選択することにより調整できる。
【0025】本発明の半導体ウエハ保護用粘着シート
は、慣用の方法、例えば、粘着剤、放射線反応性オリゴ
マー、光重合開始剤、及び必要に応じて、放射線反応性
モノマー、慣用の添加剤、架橋剤等を含むコーティング
液を前記基材フィルム上にコーティングすることにより
製造できる。また、適当なセパレータ(剥離紙など)上
に前記コーティング液を塗布して粘着剤層を形成し、こ
れを前記基材フィルム上に転写(移着)することにより
製造することもできる。
【0026】本発明の半導体ウエハ保護用粘着シート
は、各種半導体の製造工程のうち半導体ウエハの裏面を
研削するバックグラインド工程において半導体ウエハの
保護のために用いることができる。本発明の粘着シート
は、特に研削時に反りが発生しやすい大型ウエハ(例え
ば、直径8インチ又は12インチのウエハ)や薄型ウエ
ハ(例えば、ICカード用などのウエハ)、とりわけ、
研削により、ウエハの厚み(μm)をウエハの直径(イ
ンチ)で割った値が27(μm/インチ)以下である半
導体ウエハを得る際の保護シートとして好適である。半
導体ウエハには、シリコンウエハのほか、ガリウム−ヒ
素ウエハなどの汎用の半導体ウエハが含まれる。
【0027】半導体ウエハ保護用粘着シートの半導体ウ
エハ表面への貼着は、慣用の方法、例えば、自動貼付装
置などにより行うことができる。また、このようにして
表面に保護シートが貼付された半導体ウエハの裏面の研
削(研磨)は、バックグラインダーなどの慣用の研削装
置により行うことができる。ウエハ裏面の研削後、紫外
線などの放射線を照射することにより、粘着シートの粘
着剤層が硬化し粘着力が低下するため、粘着シートを容
易に剥離できる。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、粘着剤層の放射線照射
後の収縮力が特定の値以下に設定されているため、放射
線照射後のウエハの反りを顕著に抑制できる。
【0029】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づいてより詳細に
説明するが、本発明はこれらの実施例により限定される
ものではない。なお、ウエハ裏面のグラインドの条件、
UV照射条件等は下記の通りである。 グラインド装置:ディスコ社製 DFD−840 ウエハ:6インチ径(600μmから100μmにバッ
クグラインド) ウエハの貼り合わせ装置:DR−8500II(日東精機
(株)製) 紫外線(UV)照射装置:NEL UM−110(日東
精機(株)製) UV照射時間:10秒 また、グラインド後及びUV照射後のウエハの反り量
は、図2に示すように、研削後のウエハを保護シートを
貼ったままの状態で平坦な場所に置き、端部の浮いてい
る距離(mm)を測定することにより求めた。粘着剤層
のUV照射後(硬化後)の収縮力は、前記の方法により
求めた。
【0030】実施例1 アクリル酸エチル50重量部、アクリル酸ブチル50重
量部及びアクリル酸5重量部からなる配合組成物をトル
エン中で共重合させて、数平均分子量300000のア
クリル系共重合物を含む重合組成物を得た。この重合組
成物に、前記アクリル系共重合物100重量部に対し
て、1分子中に不飽和結合を6つ含むウレタンオリゴマ
ー[紫光UV−1700B、日本合成(株)製]30重
量部、ポリイソシアネート化合物5重量部、光開始剤
(イルガキュア184)5重量部を混合して粘着剤組成
物を調製した。この粘着剤組成物を基材フィルムとして
のエチレン−酢酸ビニル共重合体(EVA)フィルム
(厚み110μm)に、乾燥後の厚みが30μmとなる
ように塗工して粘着剤層を形成し、ウエハ固定用粘着シ
ート(保護シート)を作成した。このようにして得られ
たシートにシリコンウエハを貼り合わせ、上記の条件で
ウエハ裏面をグラインドし、UV照射を行った。研削直
後及びUV照射後のウエハの反り量を測定した。結果を
表1に示す。
【0031】実施例2 アクリル酸エチル50重量部、アクリル酸ブチル50重
量部及びアクリル酸5重量部からなる配合組成物をトル
エン中で共重合させて、数平均分子量300000のア
クリル系共重合物を含む重合組成物を得た。この重合組
成物に、前記アクリル系共重合物100重量部に対し
て、1分子中に不飽和結合を6つ含むウレタンオリゴマ
ー[紫光UV−1700B、日本合成(株)製]20重
量部、1分子中に不飽和結合を2つ含むウレタンオリゴ
マー[UA−122P、新中村化学(株)製]50重量
部、ポリイソシアネート化合物5重量部、光開始剤(イ
ルガキュア184)5重量部を混合して粘着剤組成物を
調製した。この粘着剤組成物を基材フィルムとしてのエ
チレン−酢酸ビニル共重合体(EVA)フィルム(厚み
110μm)に、乾燥後の厚みが30μmとなるように
塗工して粘着剤層を形成し、ウエハ固定用粘着シート
(保護シート)を作成した。このようにして得られたシ
ートにシリコンウエハを貼り合わせ、上記の条件でウエ
ハ裏面をグラインドし、UV照射を行った。研削直後及
びUV照射後のウエハの反り量を測定した。結果を表1
に示す。
【0032】実施例3 基材フィルムとしてポリエチレンテレフタレートフィル
ム(厚み50μm)を用いた以外は、実施例2と同様の
操作を行い、ウエハ固定用粘着シート(保護シート)を
作成した。このシートにシリコンウエハを貼り合わせ、
上記の条件でウエハ裏面をグラインドし、UV照射を行
った。研削直後及びUV照射後のウエハの反り量を測定
した。結果を表1に示す。
【0033】比較例1 アクリル酸エチル50重量部、アクリル酸ブチル50重
量部及びアクリル酸5重量部からなる配合組成物をトル
エン中で共重合させて、数平均分子量300000のア
クリル系共重合物を含む重合組成物を得た。この重合組
成物に、前記アクリル系共重合物100重量部に対し
て、1分子中に不飽和結合を6つ含むウレタンオリゴマ
ー[紫光UV−1700B、日本合成(株)製]80重
量部、ポリイソシアネート化合物5重量部、光開始剤
(イルガキュア184)5重量部を混合して粘着剤組成
物を調製した。この粘着剤組成物を基材フィルムとして
のエチレン−酢酸ビニル共重合体(EVA)フィルム
(厚み110μm)に、乾燥後の厚みが30μmとなる
ように塗工して粘着剤層を形成し、ウエハ固定用粘着シ
ート(保護シート)を作成した。このようにして得られ
たシートにシリコンウエハを貼り合わせ、上記の条件で
ウエハ裏面をグラインドし、UV照射を行った。研削直
後及びUV照射後のウエハの反り量を測定した。結果を
表1に示す。
【0034】比較例2 基材フィルムとしてポリエチレンテレフタレートフィル
ム(厚み50μm)を用いた以外は、比較例1と同様の
操作を行い、ウエハ固定用粘着シート(保護シート)を
作成した。このシートにシリコンウエハを貼り合わせ、
上記の条件でウエハ裏面をグラインドし、UV照射を行
った。研削直後及びUV照射後のウエハの反り量を測定
した。結果を表1に示す。
【0035】
【表1】 表1より明らかなように、実施例のウエハ固定用粘着シ
ートを用いてバックグラインドし放射線照射を行う場合
には、比較例のウエハ固定用粘着シートに比べて、放射
線照射後のウエハの反り量は極めて小さい。
【図面の簡単な説明】
【図1】粘着剤層の放射線硬化後の収縮力の測定方法を
示す図である。
【図2】ウエハの反り量の測定方法を示す図である。
【符号の説明】
A 燐青銅板 B 粘着剤層 1 ウエハ 2 保護シート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 福岡 孝博 大阪府茨木市下穂積一丁目1番2号 日東 電工株式会社内 (72)発明者 橋本 浩一 大阪府茨木市下穂積一丁目1番2号 日東 電工株式会社内 (72)発明者 久保園 達也 大阪府茨木市下穂積一丁目1番2号 日東 電工株式会社内 Fターム(参考) 4J004 AA01 AA05 AA07 AA10 AA11 AA14 AA15 AB06 CA03 CA04 CA06 CC02 CC03 CE01 FA04 FA05 4J040 CA051 CA052 DB091 DB092 DF011 DF012 DF041 DF042 DF051 DF052 DF061 DF062 DF101 DF102 DG001 DG002 DG021 DG022 EC321 EC322 EF221 EF222 FA271 FA272 FA281 FA282 FA291 FA292 GA02 GA05 GA07 GA08 GA11 GA19 GA22 GA25 GA27 JA09 JB07 JB09 LA11 MA01 NA20 PA42

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基材フィルムと放射線により硬化する粘
    着剤層とで構成された放射線硬化型の半導体ウエハ保護
    用粘着シートであって、粘着剤層の放射線硬化後の収縮
    力が30MPa以下であることを特徴とする半導体ウエ
    ハ保護用粘着シート。
  2. 【請求項2】 粘着剤層に、1分子中に不飽和結合を1
    〜5個有する放射線反応性オリゴマーが、該粘着剤層に
    おいて骨格となる主ポリマー100重量部に対して30
    〜300重量部配合された請求項1記載の半導体ウエハ
    保護用粘着シート。
  3. 【請求項3】 粘着剤層に、1分子中に不飽和結合を6
    以上有する放射線反応性オリゴマーが、該粘着剤層にお
    いて骨格となる主ポリマー100重量部に対して10〜
    40重量部配合された請求項1記載の半導体ウエハ保護
    用粘着シート。
  4. 【請求項4】 粘着剤層に、1分子中に不飽和結合を1
    〜5個有する放射線反応性オリゴマーと1分子中に不飽
    和結合を6以上有する放射線反応性オリゴマーとが、該
    粘着剤層において骨格となる主ポリマー100重量部に
    対して総計20〜300重量部配合された請求項1記載
    の半導体ウエハ保護用粘着シート。
  5. 【請求項5】 粘着剤層に、1分子中に不飽和結合を1
    〜5個有する放射線反応性オリゴマーが、該粘着剤層に
    おいて骨格となる主ポリマー100重量部に対して10
    〜300重量部配合され、且つ1分子中に不飽和結合を
    6以上有する放射線反応性オリゴマーが、該粘着剤層に
    おいて骨格となる主ポリマー100重量部に対して1〜
    100重量部配合された請求項1記載の半導体ウエハ保
    護用粘着シート。
  6. 【請求項6】 粘着剤層が複数の層で構成されていると
    共に、各層の放射線硬化後の収縮率が基材フィルム側か
    らウエハ当接側に向かって順次高くなるように形成され
    ている請求項1記載の半導体ウエハ保護用粘着シート。
  7. 【請求項7】 ウエハの表面に請求項1〜6の何れかの
    項に記載の半導体ウエハ保護用粘着シートを貼付してウ
    エハの裏面を研削する半導体ウエハの研削方法。
  8. 【請求項8】 研削により、ウエハの厚み(μm)をウ
    エハの直径(インチ)で割った値が27(μm/イン
    チ)以下である半導体ウエハを得る請求項7記載の半導
    体ウエハの研削方法。
JP02558899A 1999-02-02 1999-02-02 半導体ウエハ保護用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法 Expired - Fee Related JP4544658B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP02558899A JP4544658B2 (ja) 1999-02-02 1999-02-02 半導体ウエハ保護用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP02558899A JP4544658B2 (ja) 1999-02-02 1999-02-02 半導体ウエハ保護用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000223453A true JP2000223453A (ja) 2000-08-11
JP4544658B2 JP4544658B2 (ja) 2010-09-15

Family

ID=12170082

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP02558899A Expired - Fee Related JP4544658B2 (ja) 1999-02-02 1999-02-02 半導体ウエハ保護用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4544658B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002080804A (ja) * 2000-09-06 2002-03-22 Mitsui Chemicals Inc 半導体ウェハ裏面研削用粘着フィルム及びそれを用いる半導体ウェハ裏面研削方法
JP2002220571A (ja) * 2001-01-24 2002-08-09 Nitto Denko Corp 半導体ウエハ加工用保護シート
DE10121556A1 (de) * 2001-05-03 2002-11-14 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Rückseitenschleifen von Wafern
JP2004346296A (ja) * 2003-04-30 2004-12-09 Nitto Denko Corp 放射線硬化型再剥離用水分散型アクリル系粘着剤組成物および放射線硬化再剥離型アクリル系粘着シート
JP2008063492A (ja) * 2006-09-08 2008-03-21 Nitto Denko Corp ウエハ保持用粘着シート
WO2009084511A1 (ja) * 2007-12-28 2009-07-09 The Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd. 活性エネルギー線硬化型圧着塗膜形成用組成物およびそれを用いた剥離性接着加工紙
WO2011049112A1 (ja) 2009-10-20 2011-04-28 日東電工株式会社 放射線硬化再剥離型粘着シート

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002080804A (ja) * 2000-09-06 2002-03-22 Mitsui Chemicals Inc 半導体ウェハ裏面研削用粘着フィルム及びそれを用いる半導体ウェハ裏面研削方法
JP4663081B2 (ja) * 2000-09-06 2011-03-30 三井化学株式会社 半導体ウェハ裏面研削用粘着フィルム及びそれを用いる半導体ウェハ裏面研削方法
JP2002220571A (ja) * 2001-01-24 2002-08-09 Nitto Denko Corp 半導体ウエハ加工用保護シート
US6958256B2 (en) 2001-05-03 2005-10-25 Infineon Technologies Ag Process for the back-surface grinding of wafers
WO2002091433A3 (de) * 2001-05-03 2003-10-23 Infineon Technologies Ag Verfahren zum rückseitenschleifen von wafern
WO2002091433A2 (de) * 2001-05-03 2002-11-14 Infineon Technologies Ag Verfahren zum rückseitenschleifen von wafern
DE10121556A1 (de) * 2001-05-03 2002-11-14 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Rückseitenschleifen von Wafern
JP2004346296A (ja) * 2003-04-30 2004-12-09 Nitto Denko Corp 放射線硬化型再剥離用水分散型アクリル系粘着剤組成物および放射線硬化再剥離型アクリル系粘着シート
JP4606010B2 (ja) * 2003-04-30 2011-01-05 日東電工株式会社 放射線硬化型再剥離用水分散型アクリル系粘着剤組成物および放射線硬化再剥離型アクリル系粘着シート
JP2008063492A (ja) * 2006-09-08 2008-03-21 Nitto Denko Corp ウエハ保持用粘着シート
WO2009084511A1 (ja) * 2007-12-28 2009-07-09 The Nippon Synthetic Chemical Industry Co., Ltd. 活性エネルギー線硬化型圧着塗膜形成用組成物およびそれを用いた剥離性接着加工紙
WO2011049112A1 (ja) 2009-10-20 2011-04-28 日東電工株式会社 放射線硬化再剥離型粘着シート
JP2011088960A (ja) * 2009-10-20 2011-05-06 Nitto Denko Corp 放射線硬化再剥離型粘着シート
CN102549095A (zh) * 2009-10-20 2012-07-04 日东电工株式会社 辐射线固化再剥离型粘合片
US8889255B2 (en) 2009-10-20 2014-11-18 Nitto Denko Corporation Radiation-cure removal type pressure-sensitive adhesive sheet

Also Published As

Publication number Publication date
JP4544658B2 (ja) 2010-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4721834B2 (ja) 粘着シート及びこの粘着シートを用いた製品の加工方法
JP4417460B2 (ja) 半導体ウエハ保護用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法
JP5491049B2 (ja) 半導体ウエハ保護用基材レス粘着シート、その粘着シートを用いた半導体ウエハ裏面研削方法及びその粘着シートの製造方法
JP4954572B2 (ja) 半導体ウエハ加工用保護シート、及びそれを用いた半導体ウエハの加工方法
JP4666565B2 (ja) 半導体ウエハ加工用保護シート及び半導体ウエハの裏面研削方法
JP2007070432A (ja) 粘着シート及びこの粘着シートを用いた製品の加工方法
JP2011151355A (ja) 半導体ウエハ表面保護用粘着テープ
JP2001203255A (ja) 半導体ウエハ保持保護用粘着シート
JP5201768B2 (ja) 再剥離型粘着剤及び再剥離型粘着シート
JP2010053346A (ja) 再剥離型粘着剤及び再剥離型粘着シート
JP4518535B2 (ja) ダイシング用粘着シート用粘着剤、ダイシング用粘着シート、半導体素子の製造方法、半導体素子
JP2003007646A (ja) ダイシング用粘着シートおよび切断片の製造方法
JP4947564B2 (ja) 半導体ウエハ加工用粘着シート
JP4689075B2 (ja) 半導体ウエハ加工用保護シート
JP2002371262A (ja) ウエハ加工用粘着シート用粘着剤およびウエハ加工用粘着シート
JP2003309088A (ja) 半導体ウエハ加工用保護シート及び該シートの使用方法
JP2003096412A (ja) 半導体部品ダイシング用粘着シートおよび半導体部品の製造方法
JP4544658B2 (ja) 半導体ウエハ保護用粘着シート及び半導体ウエハの研削方法
JP2004200451A (ja) 半導体ウエハ加工用保護シート
JP4804625B2 (ja) 半導体ウエハ加工用保護シートおよび半導体ウエハの加工方法
KR20200026178A (ko) 스텔스 다이싱용 점착 시트 및 반도체 장치의 제조 방법
JP2005019518A (ja) 半導体ウエハ加工用保護シート及び半導体ウエハの裏面研削方法
JP2004119780A (ja) 半導体ウエハの加工方法
WO2022209153A1 (ja) ワーク加工用粘着テープ
JP4743578B2 (ja) 半導体ウェハ加工用保護シート、及び半導体ウェハの裏面研削方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051114

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080702

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090303

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090427

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100105

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100329

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20100512

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100629

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100629

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160709

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees