JP2000222738A - 光学的情報記録再生方法及び光学的情報記録再生装置 - Google Patents
光学的情報記録再生方法及び光学的情報記録再生装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 データを記録した装置とは別の装置で再生し
た場合に、再生データのエッジ位置変動が大きくなり再
生互換性がとれない状態を解決する。 【解決手段】 局所的光学定数の変化を検出する再生系
の周波数特性を、所定の周波数特性に切り替える再生学
習手段１３、２４と、光学的情報記録媒体上にテストパ
ターンを記録した後再生し、２値化した再生データのエ
ッジ位置が所望の位置になるよう、記録パルスの始端ま
たは終端エッジ位置をマーク区間と先行または後続する
スペースの長さの組み合わせ毎に補正する記録学習手段
２０を備え、マーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
学習する前に再生系の周波数特性を一定に揃えておくこ
とができるので、記録したマーク及びスペースの長さを
常に一定の長さにでき、装置間の再生互換性が向上す
る。
た場合に、再生データのエッジ位置変動が大きくなり再
生互換性がとれない状態を解決する。 【解決手段】 局所的光学定数の変化を検出する再生系
の周波数特性を、所定の周波数特性に切り替える再生学
習手段１３、２４と、光学的情報記録媒体上にテストパ
ターンを記録した後再生し、２値化した再生データのエ
ッジ位置が所望の位置になるよう、記録パルスの始端ま
たは終端エッジ位置をマーク区間と先行または後続する
スペースの長さの組み合わせ毎に補正する記録学習手段
２０を備え、マーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
学習する前に再生系の周波数特性を一定に揃えておくこ
とができるので、記録したマーク及びスペースの長さを
常に一定の長さにでき、装置間の再生互換性が向上す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、書き換え型光ディ
スクにマークエッジ記録方式でデータを記録するための
光学的情報記録再生方法及び光学的情報記録再生装置に
関するもので、特に、記録マークのエッジ位置を正確に
制御する記録補償に関するものである。
スクにマークエッジ記録方式でデータを記録するための
光学的情報記録再生方法及び光学的情報記録再生装置に
関するもので、特に、記録マークのエッジ位置を正確に
制御する記録補償に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、映像もしくは音声信号などの情報
信号を記録再生できる光情報記録媒体、とりわけ光ディ
スクの開発が盛んである。高密度な記録が可能な光ディ
スク媒体の一つに相変化型光ディスクがある。相変化型
光ディスクへのデータの記録は、レーザ光を直径１μｍ
以下の光ビームに絞って回転するディスクに照射し、記
録膜を加熱融解させることで行う。その記録光ビームの
強弱により記録膜の到達温度及び冷却過程が異なり、結
晶状態とアモルファス状態の間で記録膜の相変化が起こ
る。
信号を記録再生できる光情報記録媒体、とりわけ光ディ
スクの開発が盛んである。高密度な記録が可能な光ディ
スク媒体の一つに相変化型光ディスクがある。相変化型
光ディスクへのデータの記録は、レーザ光を直径１μｍ
以下の光ビームに絞って回転するディスクに照射し、記
録膜を加熱融解させることで行う。その記録光ビームの
強弱により記録膜の到達温度及び冷却過程が異なり、結
晶状態とアモルファス状態の間で記録膜の相変化が起こ
る。
【０００３】光ビームが強いときは（これをピークパワ
ーレベルと呼ぶ）、記録膜が融点以上に熱せられて溶融
してから急速に冷却するのでアモルファス化する。光ビ
ームが中程度の強さのときは（これをバイアスパワーレ
ベルと呼ぶ）、記録膜が結晶化温度よりも高く融点より
も低い状態に保たれるので結晶化する。アモルファス化
した部分をマークと呼び、結晶化した部分をスペースと
呼ぶことにする。このマークとスペースの長さに情報を
持たせてデータを記録する方法をマークエッジ記録方式
と呼ぶ。相変化光ディスクは、記録膜がアモルファス状
態であっても結晶状態であっても、ピークパワーレベル
で溶融させてマークを形成することができるので、一つ
の光ビームで古いデータの消去と新しいデータの記録を
同時に行うこと、即ちダイレクトオーバライトが可能で
ある。
ーレベルと呼ぶ）、記録膜が融点以上に熱せられて溶融
してから急速に冷却するのでアモルファス化する。光ビ
ームが中程度の強さのときは（これをバイアスパワーレ
ベルと呼ぶ）、記録膜が結晶化温度よりも高く融点より
も低い状態に保たれるので結晶化する。アモルファス化
した部分をマークと呼び、結晶化した部分をスペースと
呼ぶことにする。このマークとスペースの長さに情報を
持たせてデータを記録する方法をマークエッジ記録方式
と呼ぶ。相変化光ディスクは、記録膜がアモルファス状
態であっても結晶状態であっても、ピークパワーレベル
で溶融させてマークを形成することができるので、一つ
の光ビームで古いデータの消去と新しいデータの記録を
同時に行うこと、即ちダイレクトオーバライトが可能で
ある。
【０００４】ところが、マークエッジ記録で長いマーク
を記録する場合、ピークパワーレベルの光ビームをマー
ク部分に一定の強さで照射すると、記録膜の熱蓄積効果
のため、マークの後半部ほど幅が太くなる。これはダイ
レクトオーバライトしたときに消しのこりが発生するな
ど、信号品質を損ねる。この対策として、一定の強さで
なく、マーク区間で光ビームをピークパワーレベルとバ
イアスパワーレベルの間で交互に高速に切り替えてマー
クを記録する、いわゆるマルチパルス記録が有効であ
る。これにより、マーク後半の蓄熱効果を緩和し、始端
から終端まで一定幅のマークを形成することができる。
を記録する場合、ピークパワーレベルの光ビームをマー
ク部分に一定の強さで照射すると、記録膜の熱蓄積効果
のため、マークの後半部ほど幅が太くなる。これはダイ
レクトオーバライトしたときに消しのこりが発生するな
ど、信号品質を損ねる。この対策として、一定の強さで
なく、マーク区間で光ビームをピークパワーレベルとバ
イアスパワーレベルの間で交互に高速に切り替えてマー
クを記録する、いわゆるマルチパルス記録が有効であ
る。これにより、マーク後半の蓄熱効果を緩和し、始端
から終端まで一定幅のマークを形成することができる。
【０００５】再生は、記録膜が相変化を起こさない程度
に弱い光ビームを照射し、その反射光の強さをフォトデ
ィテクタで検出する。記録膜の材料や保護層との構成に
より、アモルファス化したマーク部分の反射率を結晶化
したスペース部分の反射率と大きく変えることができ、
これにより、マーク部分とスペース部分の反射光量の違
いを検出して記録データの再生信号を得ることができ
る。
に弱い光ビームを照射し、その反射光の強さをフォトデ
ィテクタで検出する。記録膜の材料や保護層との構成に
より、アモルファス化したマーク部分の反射率を結晶化
したスペース部分の反射率と大きく変えることができ、
これにより、マーク部分とスペース部分の反射光量の違
いを検出して記録データの再生信号を得ることができ
る。
【０００６】このような相変化型光ディスクの記録密度
を高めるために、記録するマーク及びスペースの長さを
短くすることが考えられる。ところが、スペース長が小
さくなると、記録した終端の熱がスペース部分を伝導し
て次のマークの始端温度上昇に影響を与えたり、次に記
録したマーク始端の熱が前のマーク終端の冷却工程に影
響を与えたりする、いわゆる熱干渉が生じる。この結
果、マークのエッジ位置が変動することになり、再生時
のデータ誤り率が増加する。図９を用いてこの現象を説
明する。同図（ａ）は記録データを２値で示した波形
図、（ｂ）はレーザの発光する強度を２値で示した波形
図で、上述したように一つのマークに対して複数の短パ
ルスが対応している。（ｃ）はディスクに形成された記
録マークの模式図、（ｄ）は（ｃ）の記録マークの再生
信号の波形図、（ｅ）は再生信号を２値化したときの波
形図である。同図は長いマークの前後に短いスペースが
ある場合を、熱干渉の影響の特徴的な例として表してい
る。前後のスペース長に関わらず、（ｂ）図の発光パル
スの始終端エッジを（ａ）図の記録データの始終端エッ
ジと同じ位置関係にすると、（ｃ）図に示すように記録
マークの始終端が伸びる。同図において、中央のマーク
の前端及び後端のシフト量をＥｓ１及びＥｓ２で示す。
この結果、再生波形は図（ｄ）のようにマーク区間が所
望の長さよりも長くなり、（ｅ）図のように２値化する
とエッジシフトが生じる。
を高めるために、記録するマーク及びスペースの長さを
短くすることが考えられる。ところが、スペース長が小
さくなると、記録した終端の熱がスペース部分を伝導し
て次のマークの始端温度上昇に影響を与えたり、次に記
録したマーク始端の熱が前のマーク終端の冷却工程に影
響を与えたりする、いわゆる熱干渉が生じる。この結
果、マークのエッジ位置が変動することになり、再生時
のデータ誤り率が増加する。図９を用いてこの現象を説
明する。同図（ａ）は記録データを２値で示した波形
図、（ｂ）はレーザの発光する強度を２値で示した波形
図で、上述したように一つのマークに対して複数の短パ
ルスが対応している。（ｃ）はディスクに形成された記
録マークの模式図、（ｄ）は（ｃ）の記録マークの再生
信号の波形図、（ｅ）は再生信号を２値化したときの波
形図である。同図は長いマークの前後に短いスペースが
ある場合を、熱干渉の影響の特徴的な例として表してい
る。前後のスペース長に関わらず、（ｂ）図の発光パル
スの始終端エッジを（ａ）図の記録データの始終端エッ
ジと同じ位置関係にすると、（ｃ）図に示すように記録
マークの始終端が伸びる。同図において、中央のマーク
の前端及び後端のシフト量をＥｓ１及びＥｓ２で示す。
この結果、再生波形は図（ｄ）のようにマーク区間が所
望の長さよりも長くなり、（ｅ）図のように２値化する
とエッジシフトが生じる。
【０００７】この熱干渉によるエッジ位置の変動量は、
注目しているマークの前のスペースや後ろのスペースの
長さによって異なる。そこで、この課題を解決するため
に、特開昭６３−４８６１７号公報には、マークの前の
スペースの長さに応じて、予めマーク部分の記録パルス
の始端位置を変化させ、熱干渉によるエッジ位置の変動
を補償する技術が開示されている。始端位置の変化量
は、異なる長さの複数のマーク及びスペースの組み合わ
せからなるテストパターンを予め記録した後再生し、再
生信号のエッジ位置と目標値とのずれ量を測定して求め
る。図１０にテストパターンの一例を示す。このテスト
パターンはデータの変調方式によってパターンが異なる
が、少なくとも最短のマーク及びスペースと、エッジ位
置測定のための基準となる長いマーク及びスペースを含
むものが用いられる。ここでマーク及びスペースの長さ
の単位となるチャンネルビット長をＴとすると、８−１
６変調では記録データの最短は３Ｔ、最長は１１Ｔとな
る。例えば注目する３Ｔマークに後続するスペースの長
さが３Ｔの場合と１１Ｔの場合とで、再生信号において
は基準マーク（１１Ｔ）とのエッジ間隔が異なる。この
様なテストパターンを記録して予め求めたずれ量によっ
てエッジシフトを補償する方法を図１１を用いて説明す
る。 同図（ａ）から（ｅ）はそれぞれ図１０と同じ
く、記録データ、レーザ発光信号、記録マーク、再生信
号及び２値化信号である。エッジ補償は図１１（ｂ）に
示す様に、レーザ発光信号の前端パルス及び後端パルス
を、前述のシフト量Ｅｓ１呼びＥｓ２に対応してＥｓ
１’及びＥｓ２’だけずらすことで行う。これにより、
同図（ｃ）乃至（ｅ）に示すように、所望の長さのマー
クが記録され、データの再生誤りを防ぐことができる。
注目しているマークの前のスペースや後ろのスペースの
長さによって異なる。そこで、この課題を解決するため
に、特開昭６３−４８６１７号公報には、マークの前の
スペースの長さに応じて、予めマーク部分の記録パルス
の始端位置を変化させ、熱干渉によるエッジ位置の変動
を補償する技術が開示されている。始端位置の変化量
は、異なる長さの複数のマーク及びスペースの組み合わ
せからなるテストパターンを予め記録した後再生し、再
生信号のエッジ位置と目標値とのずれ量を測定して求め
る。図１０にテストパターンの一例を示す。このテスト
パターンはデータの変調方式によってパターンが異なる
が、少なくとも最短のマーク及びスペースと、エッジ位
置測定のための基準となる長いマーク及びスペースを含
むものが用いられる。ここでマーク及びスペースの長さ
の単位となるチャンネルビット長をＴとすると、８−１
６変調では記録データの最短は３Ｔ、最長は１１Ｔとな
る。例えば注目する３Ｔマークに後続するスペースの長
さが３Ｔの場合と１１Ｔの場合とで、再生信号において
は基準マーク（１１Ｔ）とのエッジ間隔が異なる。この
様なテストパターンを記録して予め求めたずれ量によっ
てエッジシフトを補償する方法を図１１を用いて説明す
る。 同図（ａ）から（ｅ）はそれぞれ図１０と同じ
く、記録データ、レーザ発光信号、記録マーク、再生信
号及び２値化信号である。エッジ補償は図１１（ｂ）に
示す様に、レーザ発光信号の前端パルス及び後端パルス
を、前述のシフト量Ｅｓ１呼びＥｓ２に対応してＥｓ
１’及びＥｓ２’だけずらすことで行う。これにより、
同図（ｃ）乃至（ｅ）に示すように、所望の長さのマー
クが記録され、データの再生誤りを防ぐことができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、以上の
ような従来の光学的情報記録再生方法及び光学的情報記
録再生装置では、データを記録した装置と同一の装置で
再生を行った場合は、再生データのエッジ位置変動を低
減することは可能であるが、記録した装置とは別の装置
で再生した場合に、記録再生のレーザスポット形状、記
録膜の特性バラツキ、再生系の特性バラツキなどの影響
でエッジ位置変動が大きくなってしまう、即ち再生互換
性がとれないという課題があることがわかった。以下そ
の課題について説明する。
ような従来の光学的情報記録再生方法及び光学的情報記
録再生装置では、データを記録した装置と同一の装置で
再生を行った場合は、再生データのエッジ位置変動を低
減することは可能であるが、記録した装置とは別の装置
で再生した場合に、記録再生のレーザスポット形状、記
録膜の特性バラツキ、再生系の特性バラツキなどの影響
でエッジ位置変動が大きくなってしまう、即ち再生互換
性がとれないという課題があることがわかった。以下そ
の課題について説明する。
【０００９】熱干渉によるエッジ位置の補正量は、テス
トパターンの記録再生により求めるが、この補正量は再
生光学系や再生回路の群遅延特性に左右される。なぜな
ら、テストパターンは前述したように短いマーク及びス
ペースと、長いマーク及びスペースを含む。エッジの補
正量を学習するために、基準となる長マークの前もしく
は後エッジと、測定対象となる短マークのエッジとの間
隔を測定しなければならない。再生系が群遅延特性を有
すると、短いマーク及びスペースの再生信号が長いマー
ク及びスペースの再生信号に対して遅れたり進んだりす
るので、マークのエッジシフト量を正しく測定すること
ができない。したがって、群遅延特性を有するある装置
でエッジの補正量を学習して、２値化信号でのシフト量
がゼロになるよう記録しても、群遅延特性がそれと異な
るか全く無い装置で再生すると、再生信号にエッジシフ
トが生じてしまう。即ち、同じマーク及びスペースに対
して、再生する装置によって２値化後の長さが異なって
来るという問題点があった。
トパターンの記録再生により求めるが、この補正量は再
生光学系や再生回路の群遅延特性に左右される。なぜな
ら、テストパターンは前述したように短いマーク及びス
ペースと、長いマーク及びスペースを含む。エッジの補
正量を学習するために、基準となる長マークの前もしく
は後エッジと、測定対象となる短マークのエッジとの間
隔を測定しなければならない。再生系が群遅延特性を有
すると、短いマーク及びスペースの再生信号が長いマー
ク及びスペースの再生信号に対して遅れたり進んだりす
るので、マークのエッジシフト量を正しく測定すること
ができない。したがって、群遅延特性を有するある装置
でエッジの補正量を学習して、２値化信号でのシフト量
がゼロになるよう記録しても、群遅延特性がそれと異な
るか全く無い装置で再生すると、再生信号にエッジシフ
トが生じてしまう。即ち、同じマーク及びスペースに対
して、再生する装置によって２値化後の長さが異なって
来るという問題点があった。
【００１０】本発明の目的は、このような従来の課題を
解決し、記録マーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
正しく補償して、再生装置間の互換が容易な光学的情報
記録再生方法を提供することにある。
解決し、記録マーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
正しく補償して、再生装置間の互換が容易な光学的情報
記録再生方法を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明による光学的情報記録再生方法は、データを
マーク区間及びスペース区間の長さ情報とし、前記マー
ク区間に対して１個または複数の記録パルスに応じて光
ビームの強度を切り替えて光学的記録媒体に照射するこ
とによって記録層の局所的光学定数変化の形でデータの
記録を行い、所定強度の光ビームによって前記局所的光
学定数の変化を検出することによってデータを再生する
光学的情報記録再生方法であって、前記方法は、前記局
所的光学定数の変化を検出する再生系の周波数特性を、
所定の周波数特性に切り替える再生学習工程と、前記光
学的情報記録媒体上にテストパターンを記録した後再生
し、２値化した再生データのエッジ位置が所望の位置に
なるよう、前記記録パルスの始端または終端エッジ位置
を前記マーク区間と先行または後続するスペース区間の
長さの組み合わせ毎に補正する記録学習工程を含むこと
を特徴としている。
め、本発明による光学的情報記録再生方法は、データを
マーク区間及びスペース区間の長さ情報とし、前記マー
ク区間に対して１個または複数の記録パルスに応じて光
ビームの強度を切り替えて光学的記録媒体に照射するこ
とによって記録層の局所的光学定数変化の形でデータの
記録を行い、所定強度の光ビームによって前記局所的光
学定数の変化を検出することによってデータを再生する
光学的情報記録再生方法であって、前記方法は、前記局
所的光学定数の変化を検出する再生系の周波数特性を、
所定の周波数特性に切り替える再生学習工程と、前記光
学的情報記録媒体上にテストパターンを記録した後再生
し、２値化した再生データのエッジ位置が所望の位置に
なるよう、前記記録パルスの始端または終端エッジ位置
を前記マーク区間と先行または後続するスペース区間の
長さの組み合わせ毎に補正する記録学習工程を含むこと
を特徴としている。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、実施の形態を用いて本発明
をさらに具体的に説明する。
をさらに具体的に説明する。
【００１３】尚、以下の実施の形態においては、光学的
情報記録媒体として、実反射率の変化によって記録を行
う相変化型の記録材料を用いた光ディスクを例に挙げて
説明する。
情報記録媒体として、実反射率の変化によって記録を行
う相変化型の記録材料を用いた光ディスクを例に挙げて
説明する。
【００１４】(実施の形態１)図１に本発明の第１の実施
の形態による光学的情報記録再生方法を適用した光ディ
スク装置の構成を示す。
の形態による光学的情報記録再生方法を適用した光ディ
スク装置の構成を示す。
【００１５】同図に示したように、光ディスク装置１０
０は、光ディスク１を駆動する光ディスクドライブ１０
１及びホストコンピュータ１０２を有している。光ディ
スク１上には情報トラック２が形成されており、光ヘッ
ド９によるレーザの照射によりデータの記録及び再生が
行われる。
０は、光ディスク１を駆動する光ディスクドライブ１０
１及びホストコンピュータ１０２を有している。光ディ
スク１上には情報トラック２が形成されており、光ヘッ
ド９によるレーザの照射によりデータの記録及び再生が
行われる。
【００１６】光ディスクドライブ１０１は、図１に示す
ように、光ヘッド９、ヘッド移送台１０、再生信号処理
部１０３、記録信号処理部１０４、光ディスク１を回転
させるスピンドルモータ２２、及びシステムコントロー
ラ２３を備えている。
ように、光ヘッド９、ヘッド移送台１０、再生信号処理
部１０３、記録信号処理部１０４、光ディスク１を回転
させるスピンドルモータ２２、及びシステムコントロー
ラ２３を備えている。
【００１７】光ヘッド９は、半導体レーザ３、半導体レ
ーザ３から出射された光ビームを平行光に変換するコリ
メートレンズ４、平行光束上に設けられたハーフミラー
５、及びハーフミラー５を透過した平行光を光ディスク
１の情報面に集光する対物レンズ６を備えており、光デ
ィスク１の情報トラック２に光ビームを照射する。光ヘ
ッド９は、また、光ディスク１面上で反射し、対物レン
ズ６、ハーフミラー５及び検出レンズ７を経由してきた
光を受光する光検出器８を備えている。半導体レーザ
３、コリメートレンズ４、ハーフミラー５、対物レンズ
６、検出レンズ７及び光検出器８は、図示しないヘッド
ベースに取り付けられ、光ヘッド９を構成している。光
ヘッド９はヘッド移送台１０に取り付けられ、光ディス
ク１の半径方向に移動可能になっている。
ーザ３から出射された光ビームを平行光に変換するコリ
メートレンズ４、平行光束上に設けられたハーフミラー
５、及びハーフミラー５を透過した平行光を光ディスク
１の情報面に集光する対物レンズ６を備えており、光デ
ィスク１の情報トラック２に光ビームを照射する。光ヘ
ッド９は、また、光ディスク１面上で反射し、対物レン
ズ６、ハーフミラー５及び検出レンズ７を経由してきた
光を受光する光検出器８を備えている。半導体レーザ
３、コリメートレンズ４、ハーフミラー５、対物レンズ
６、検出レンズ７及び光検出器８は、図示しないヘッド
ベースに取り付けられ、光ヘッド９を構成している。光
ヘッド９はヘッド移送台１０に取り付けられ、光ディス
ク１の半径方向に移動可能になっている。
【００１８】再生信号処理部１０３は、光検出器８から
出力される光検出信号を増幅して再生信号として出力す
るアンプ１１、アンプ１１から与えられる再生信号の周
波数特性を変換して出力する波形等化回路１２、波形等
化回路１２からの出力を受け取り、所定の群遅延特性を
加えて出力する群遅延特性補正回路１３、群遅延特性補
正回路１３からの信号を受け取り、２値化再生信号を出
力する２値化回路１４、２値化再生信号に同期した再生
クロックを生成し、この再生クロックに同期してディジ
タル再生信号を出力するＰＬＬ（Phase Locked Loop）
１５、ディジタル再生信号を受け取り、復調して復調デ
ータを出力する復調回路１６及び受け取った復調データ
に誤り訂正を行い、復号データとしてホストコンピュー
タ１０２に出力する再生信号処理回路１７を有してい
る。
出力される光検出信号を増幅して再生信号として出力す
るアンプ１１、アンプ１１から与えられる再生信号の周
波数特性を変換して出力する波形等化回路１２、波形等
化回路１２からの出力を受け取り、所定の群遅延特性を
加えて出力する群遅延特性補正回路１３、群遅延特性補
正回路１３からの信号を受け取り、２値化再生信号を出
力する２値化回路１４、２値化再生信号に同期した再生
クロックを生成し、この再生クロックに同期してディジ
タル再生信号を出力するＰＬＬ（Phase Locked Loop）
１５、ディジタル再生信号を受け取り、復調して復調デ
ータを出力する復調回路１６及び受け取った復調データ
に誤り訂正を行い、復号データとしてホストコンピュー
タ１０２に出力する再生信号処理回路１７を有してい
る。
【００１９】記録信号処理部１０４は、記録信号処理回
路１８，変調回路１９、エッジ位置調整回路２０、レー
ザ駆動回路２１、エッジ間隔測定回路２４及びテーブル
生成回路２５を備えている。記録信号処理回路１８は、
ホストコンピュータ１０２からの記録データを受け取
り、誤り訂正符号などを付加して符号データとして出力
する。変調回路１９は、受け取った符号データに光ディ
スクに適した変調、例えば８−１６変調とマルチパルス
化を施し、マルチパルス化された変調データとして出力
する。エッジ位置調整回路２０は、受け取った変調デー
タの始端パルス及び終端パルスの位置を、テーブル生成
回路２５からの設定値に従って調整し、レーザ駆動パル
スとして出力する。レーザ駆動回路２１は、受け取った
レーザ駆動パルスに応じて、半導体レーザ３に駆動電流
を出力する。エッジ間隔測定回路２４は、２値化回路１
４が出力する２値化再生信号のうち、特定のマーク長と
スペース長の組み合わせパターンを抜き出し、そのエッ
ジ間隔を測定してエッジ位置データとしてテーブル生成
回路２５及びシステムコントローラ２３に出力する。テ
ーブル生成回路２５は、受け取ったエッジ位置データを
基にエッジ設定値のテーブルを作成し、各エッジ設定値
をエッジ位置調整回路２０に出力する。
路１８，変調回路１９、エッジ位置調整回路２０、レー
ザ駆動回路２１、エッジ間隔測定回路２４及びテーブル
生成回路２５を備えている。記録信号処理回路１８は、
ホストコンピュータ１０２からの記録データを受け取
り、誤り訂正符号などを付加して符号データとして出力
する。変調回路１９は、受け取った符号データに光ディ
スクに適した変調、例えば８−１６変調とマルチパルス
化を施し、マルチパルス化された変調データとして出力
する。エッジ位置調整回路２０は、受け取った変調デー
タの始端パルス及び終端パルスの位置を、テーブル生成
回路２５からの設定値に従って調整し、レーザ駆動パル
スとして出力する。レーザ駆動回路２１は、受け取った
レーザ駆動パルスに応じて、半導体レーザ３に駆動電流
を出力する。エッジ間隔測定回路２４は、２値化回路１
４が出力する２値化再生信号のうち、特定のマーク長と
スペース長の組み合わせパターンを抜き出し、そのエッ
ジ間隔を測定してエッジ位置データとしてテーブル生成
回路２５及びシステムコントローラ２３に出力する。テ
ーブル生成回路２５は、受け取ったエッジ位置データを
基にエッジ設定値のテーブルを作成し、各エッジ設定値
をエッジ位置調整回路２０に出力する。
【００２０】システムコントローラ２３は、ヘッド移送
台１０へ駆動信号を送り、光ヘッド９をディスク半径方
向に移動させて、光ビームを所望の位置にアクセスさせ
る。また、エッジ間隔測定回路２４から受け取ったエッ
ジ位置データを基に、群遅延特性を計算し、群遅延特性
補正回路１３に補正用制御信号を出力する。
台１０へ駆動信号を送り、光ヘッド９をディスク半径方
向に移動させて、光ビームを所望の位置にアクセスさせ
る。また、エッジ間隔測定回路２４から受け取ったエッ
ジ位置データを基に、群遅延特性を計算し、群遅延特性
補正回路１３に補正用制御信号を出力する。
【００２１】ホストコンピュータ１０２は、光ディスク
ドライブ１０１の外部にあって、ディジタル映像音声デ
ータやコンピュータデータなどの情報信号及び制御デー
タの入出力を行う。
ドライブ１０１の外部にあって、ディジタル映像音声デ
ータやコンピュータデータなどの情報信号及び制御デー
タの入出力を行う。
【００２２】光ディスク１は図２に示すように、案内溝
によってトラックが形成され情報信号がアモルファス状
態からなるマークと結晶状態からなるスペースとして記
録される情報信号領域と、案内溝は形成されず群遅延特
性等を測定するための基準パターンがディスク基板のエ
ンボスピットとして予め形成されている再生学習領域
と、案内溝によってトラックが形成されエッジシフト量
を学習するためのテストパターンがマークとして記録さ
れる記録学習領域とを備えている。
によってトラックが形成され情報信号がアモルファス状
態からなるマークと結晶状態からなるスペースとして記
録される情報信号領域と、案内溝は形成されず群遅延特
性等を測定するための基準パターンがディスク基板のエ
ンボスピットとして予め形成されている再生学習領域
と、案内溝によってトラックが形成されエッジシフト量
を学習するためのテストパターンがマークとして記録さ
れる記録学習領域とを備えている。
【００２３】次に、上記のように構成された光ディスク
装置１００の動作について、図１に戻って説明する。
装置１００の動作について、図１に戻って説明する。
【００２４】本実施の形態の光学的情報記録再生方法に
おいては、再生学習領域の再生による再生学習工程、記
録学習領域における記録学習工程及び情報信号の記録工
程の順に行われるので、以下この順に説明する。
おいては、再生学習領域の再生による再生学習工程、記
録学習領域における記録学習工程及び情報信号の記録工
程の順に行われるので、以下この順に説明する。
【００２５】まず、ホストコンピュータ１０２は、再生
モードを示すコマンドをシステムコントローラ２３に送
る。システムコントローラ２３は、再生モードを示すコ
マンドに対応して制御信号をスピンドルモータ２２及び
レーザ駆動回路２１に出力する。スピンドルモータ２２
が光ディスク１を回転させ始めた後、レーザ駆動回路２
１は再生モードとなり、半導体レーザ３に駆動電流を出
力し、半導体レーザ３を一定の再生パワーレベルで発光
させる。
モードを示すコマンドをシステムコントローラ２３に送
る。システムコントローラ２３は、再生モードを示すコ
マンドに対応して制御信号をスピンドルモータ２２及び
レーザ駆動回路２１に出力する。スピンドルモータ２２
が光ディスク１を回転させ始めた後、レーザ駆動回路２
１は再生モードとなり、半導体レーザ３に駆動電流を出
力し、半導体レーザ３を一定の再生パワーレベルで発光
させる。
【００２６】システムコントローラ２３はまた、ヘッド
移送台１０へ制御信号を出力し、光ビームが光ディスク
１の再生学習領域の基準パターン上に来るよう、光ヘッ
ド９を移動させる。
移送台１０へ制御信号を出力し、光ビームが光ディスク
１の再生学習領域の基準パターン上に来るよう、光ヘッ
ド９を移動させる。
【００２７】次に光ビームの焦点方向（フォーカス方
向）及びディスク半径方向（トラッキング方向）の位置
制御が行われる。光ビームのフォーカス方向の位置制御
は、非点収差法等の一般的なフォーカス制御によって実
現され、トラッキング方向の位置制御はプッシュプル法
などの一般的なトラッキング制御によって実現されてい
ることを前提とし、各々の説明は省略する。これらの位
置制御により、基準パターン上を光ビームが走査可能と
なる。
向）及びディスク半径方向（トラッキング方向）の位置
制御が行われる。光ビームのフォーカス方向の位置制御
は、非点収差法等の一般的なフォーカス制御によって実
現され、トラッキング方向の位置制御はプッシュプル法
などの一般的なトラッキング制御によって実現されてい
ることを前提とし、各々の説明は省略する。これらの位
置制御により、基準パターン上を光ビームが走査可能と
なる。
【００２８】光ディスク１上の基準パターンで変調され
た光ビームは光検出器８で光検出信号に変換され、同信
号はアンプ１１で増幅された後、再生信号として波形等
化回路１２に送られる。波形等化回路１２は、再生信号
の符号間干渉を低減するために高い周波数領域の振幅を
強調するように変換し、群遅延特性補正回路１３に出力
する。群遅延特性補正回路１３は、システムコントロー
ラ２３からの制御信号により、再生信号に所定の遅延量
を加え、２値化回路１４へ出力する。ここで、再生学習
領域の再生時には、群遅延特性補正回路１３における遅
延量の補正は行われない。２値化回路１４はアナログの
再生信号を所定のスライスレベルで２値化してエッジ間
隔測定回路２４に出力する。上記基準パターンは、例え
ば最短マークと最短スペースの組み合わせから順にマー
ク及びスペ−ス長が増していく周期パターンとなってお
り、予めそのパターンがわかっているので、それぞれの
エッジ位置をエッジ間隔測定回路２４で測定すること
で、２値化回路１４の出力までの群遅延特性がわかるよ
うになっている。つまり、測定したエッジ間隔と基準パ
ターン本来のエッジ間隔との間にずれがあり、そのずれ
量が周波数に依存するならば、その再生系の群遅延特性
が平坦ではないことがわかる。
た光ビームは光検出器８で光検出信号に変換され、同信
号はアンプ１１で増幅された後、再生信号として波形等
化回路１２に送られる。波形等化回路１２は、再生信号
の符号間干渉を低減するために高い周波数領域の振幅を
強調するように変換し、群遅延特性補正回路１３に出力
する。群遅延特性補正回路１３は、システムコントロー
ラ２３からの制御信号により、再生信号に所定の遅延量
を加え、２値化回路１４へ出力する。ここで、再生学習
領域の再生時には、群遅延特性補正回路１３における遅
延量の補正は行われない。２値化回路１４はアナログの
再生信号を所定のスライスレベルで２値化してエッジ間
隔測定回路２４に出力する。上記基準パターンは、例え
ば最短マークと最短スペースの組み合わせから順にマー
ク及びスペ−ス長が増していく周期パターンとなってお
り、予めそのパターンがわかっているので、それぞれの
エッジ位置をエッジ間隔測定回路２４で測定すること
で、２値化回路１４の出力までの群遅延特性がわかるよ
うになっている。つまり、測定したエッジ間隔と基準パ
ターン本来のエッジ間隔との間にずれがあり、そのずれ
量が周波数に依存するならば、その再生系の群遅延特性
が平坦ではないことがわかる。
【００２９】システムコントローラ２３は、エッジ間隔
測定回路２４がマーク及びスペースの長さ毎に測定した
エッジ位置データをもとに群遅延特性を計算し、これを
が平坦になるよう補正用制御信号を、群遅延特性補正回
路１３に出力する。これにより、再生信号処理部１０３
の群遅延特性が平坦になり、再生学習工程が終了する。
なお、システムコントローラ２３は、群遅延特性を計
算する代わりに、幾通りかの補正制御信号を群遅延補正
回路に出力し、その都度エッジ間隔測定回路２４が測定
したエッジ位置と基準パターンの本来のエッジ位置との
ずれ量をモニタし、そのずれ量が最小になったところで
再生学習工程を終了してもよい。
測定回路２４がマーク及びスペースの長さ毎に測定した
エッジ位置データをもとに群遅延特性を計算し、これを
が平坦になるよう補正用制御信号を、群遅延特性補正回
路１３に出力する。これにより、再生信号処理部１０３
の群遅延特性が平坦になり、再生学習工程が終了する。
なお、システムコントローラ２３は、群遅延特性を計
算する代わりに、幾通りかの補正制御信号を群遅延補正
回路に出力し、その都度エッジ間隔測定回路２４が測定
したエッジ位置と基準パターンの本来のエッジ位置との
ずれ量をモニタし、そのずれ量が最小になったところで
再生学習工程を終了してもよい。
【００３０】次に、記録学習工程について説明する。
【００３１】システムコントローラ２３は、ヘッド移送
台１０へ制御信号を出力し、光ビームが光ディスク１の
記録学習領域のトラックに来るよう、光ヘッド９を移動
させる。次に、記録信号処理回路１８に記録学習用のテ
ストパターンデータを出力するよう制御信号を送り、テ
ストパターンデータが変調回路１９，エッジ位置調整回
路２０及びレーザ駆動回路２１を経て、半導体レーザ３
に送られる。半導体レーザ３は、ピークパワーレベル及
びバイアスパワーレベルの間で変調された光ビームを放
射し、ディスク上にテストパターンに対応したマークが
記録される。このとき、エッジ位置調整回路２０におけ
る始端及び終端パルスの設定値は、所定の初期値に設定
されている。テストパターンの記録が終わると、システ
ムコントローラ２３は再生モードに移り、ディスクに記
録されたテストパターンを再生する様、制御信号をレー
ザ駆動回路２１及びヘッド移送台１０に送る。
台１０へ制御信号を出力し、光ビームが光ディスク１の
記録学習領域のトラックに来るよう、光ヘッド９を移動
させる。次に、記録信号処理回路１８に記録学習用のテ
ストパターンデータを出力するよう制御信号を送り、テ
ストパターンデータが変調回路１９，エッジ位置調整回
路２０及びレーザ駆動回路２１を経て、半導体レーザ３
に送られる。半導体レーザ３は、ピークパワーレベル及
びバイアスパワーレベルの間で変調された光ビームを放
射し、ディスク上にテストパターンに対応したマークが
記録される。このとき、エッジ位置調整回路２０におけ
る始端及び終端パルスの設定値は、所定の初期値に設定
されている。テストパターンの記録が終わると、システ
ムコントローラ２３は再生モードに移り、ディスクに記
録されたテストパターンを再生する様、制御信号をレー
ザ駆動回路２１及びヘッド移送台１０に送る。
【００３２】記録学習領域に記録されたテストパターン
上に光ビームが位置制御されると、再生信号の２値化ま
でが再生学習工程と同様に行われる。ここで群遅延特性
補正回路１３は、先の再生学習工程によって再生系の群
遅延特性が平坦になるよう設定されている。２値化信号
はエッジ間隔測定回路２４でそのエッジ間隔が測定され
る。テーブル生成回路２５は、測定されたエッジ位置デ
ータを基に、エッジシフトが小さくなるようエッジ設定
値のテーブルを作成し、エッジ位置調整回路２０へ送出
する。
上に光ビームが位置制御されると、再生信号の２値化ま
でが再生学習工程と同様に行われる。ここで群遅延特性
補正回路１３は、先の再生学習工程によって再生系の群
遅延特性が平坦になるよう設定されている。２値化信号
はエッジ間隔測定回路２４でそのエッジ間隔が測定され
る。テーブル生成回路２５は、測定されたエッジ位置デ
ータを基に、エッジシフトが小さくなるようエッジ設定
値のテーブルを作成し、エッジ位置調整回路２０へ送出
する。
【００３３】以上のテストパターンの記録と再生を繰り
返し、エッジシフトが零または所望のしきい値以下にな
ると、システムコントローラ２３は記録学習工程を終了
させる。このときのエッジ設定値のテーブルは、再生系
の群遅延の周波数特性が平坦な状態で作成されているの
で、この設定値で記録するとマーク及びスペースの組み
合わせに関わらず正しいで記録できる。なお、図３に、
再生学習工程を始めてから記録学習工程が終了するまで
のフローチャートを示す。
返し、エッジシフトが零または所望のしきい値以下にな
ると、システムコントローラ２３は記録学習工程を終了
させる。このときのエッジ設定値のテーブルは、再生系
の群遅延の周波数特性が平坦な状態で作成されているの
で、この設定値で記録するとマーク及びスペースの組み
合わせに関わらず正しいで記録できる。なお、図３に、
再生学習工程を始めてから記録学習工程が終了するまで
のフローチャートを示す。
【００３４】エッジ設定値のテーブルは、例えば最短マ
ーク長からチャンネルビット（Ｔ）ずつ長い３種類のマ
ーク長と、前後のスペース長（これも３種類）の組み合
わせに対して、一つずつ設定値が対応するとよい。例え
ば、ＤＶＤ（ＤｉｇｉｔａｌＶｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉ
ｓｃ：ディジタル・バーサタイル・ディスク）で採用さ
れている８−１６変調信号では、最短マーク及びスペー
ス長は３Ｔである。よって、記録マークの長さが３Ｔ、
４Ｔ及び５Ｔ以上の場合と先行するスペースの長さが３
Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の場合の組み合わせ（３×３＝９
通り）に対して、始端パルスのエッジ設定値をそれぞれ
学習し、記録マークの長さが３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の
場合と後続するスペースの長さが３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以
上の場合の組み合わせ（３×３＝９通り）に対して、終
端パルスのエッジ設定値をそれぞれ学習する。また、マ
ーク及びスペースの長さを３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ及び６Ｔ以
上の４種類として、始端及び終端をそれぞれ４×４＝１
６通りの組み合わせに対して、エッジ設定値を学習して
もよい。図４に、再生学習領域の基準パターンの一例を
示す。同図（ａ）乃至（ｃ）は、基準パターンの波形図
で、それぞれ（ａ）３Ｔマークの前または後ろが５Ｔス
ペース、（ｂ）３Ｔマークの前または後ろがが４Ｔスペ
ース、（ｃ）３Ｔマークの前または後ろが３Ｔスペース
の場合のエッジ間隔を測定する。なお、それぞれの基準
パターンはＤＣ成分を持って２値化時にオフセットが生
じないよう、マークとスペースの平均長が等しくなるよ
う設計されている。
ーク長からチャンネルビット（Ｔ）ずつ長い３種類のマ
ーク長と、前後のスペース長（これも３種類）の組み合
わせに対して、一つずつ設定値が対応するとよい。例え
ば、ＤＶＤ（ＤｉｇｉｔａｌＶｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉ
ｓｃ：ディジタル・バーサタイル・ディスク）で採用さ
れている８−１６変調信号では、最短マーク及びスペー
ス長は３Ｔである。よって、記録マークの長さが３Ｔ、
４Ｔ及び５Ｔ以上の場合と先行するスペースの長さが３
Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の場合の組み合わせ（３×３＝９
通り）に対して、始端パルスのエッジ設定値をそれぞれ
学習し、記録マークの長さが３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以上の
場合と後続するスペースの長さが３Ｔ、４Ｔ及び５Ｔ以
上の場合の組み合わせ（３×３＝９通り）に対して、終
端パルスのエッジ設定値をそれぞれ学習する。また、マ
ーク及びスペースの長さを３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ及び６Ｔ以
上の４種類として、始端及び終端をそれぞれ４×４＝１
６通りの組み合わせに対して、エッジ設定値を学習して
もよい。図４に、再生学習領域の基準パターンの一例を
示す。同図（ａ）乃至（ｃ）は、基準パターンの波形図
で、それぞれ（ａ）３Ｔマークの前または後ろが５Ｔス
ペース、（ｂ）３Ｔマークの前または後ろがが４Ｔスペ
ース、（ｃ）３Ｔマークの前または後ろが３Ｔスペース
の場合のエッジ間隔を測定する。なお、それぞれの基準
パターンはＤＣ成分を持って２値化時にオフセットが生
じないよう、マークとスペースの平均長が等しくなるよ
う設計されている。
【００３５】このようにしてエッジ設定値が決まった
後、情報信号の記録工程に移行する。システムコントロ
ーラ２３は、記録信号処理回路１８及びレーザ駆動回路
２１に情報信号の記録モードであることを知らせるとと
もに、光ディスク１の情報信号領域まで光ビームを移動
させるべく、ヘッド移送台１０に制御信号を出力する。
光ビームの位置制御が終了すると、ホストコンピュータ
１０２から出力された記録すべき情報、例えば、ディジ
タル化された映像音声データもしくはコンピュータデー
タなどの記録データは、記録信号処理回路１８、変調回
路１９経て、マルチパルス化された変調データとしてエ
ッジ位置調整回路２０に送られる。エッジ位置調整回路
２０は、記録学習工程で求めたエッジ設定値のテーブル
をもとに、変調データの始端パルス及び終端パルスのエ
ッジが最適な位置に補正される。こうして補正された記
録パルスに応じてレーザ駆動回路２１は、半導体レーザ
３を発光させ、光ディスク１上に適切な長さのマーク及
びスペースが形成される。
後、情報信号の記録工程に移行する。システムコントロ
ーラ２３は、記録信号処理回路１８及びレーザ駆動回路
２１に情報信号の記録モードであることを知らせるとと
もに、光ディスク１の情報信号領域まで光ビームを移動
させるべく、ヘッド移送台１０に制御信号を出力する。
光ビームの位置制御が終了すると、ホストコンピュータ
１０２から出力された記録すべき情報、例えば、ディジ
タル化された映像音声データもしくはコンピュータデー
タなどの記録データは、記録信号処理回路１８、変調回
路１９経て、マルチパルス化された変調データとしてエ
ッジ位置調整回路２０に送られる。エッジ位置調整回路
２０は、記録学習工程で求めたエッジ設定値のテーブル
をもとに、変調データの始端パルス及び終端パルスのエ
ッジが最適な位置に補正される。こうして補正された記
録パルスに応じてレーザ駆動回路２１は、半導体レーザ
３を発光させ、光ディスク１上に適切な長さのマーク及
びスペースが形成される。
【００３６】以上のようにして光ディスク１に記録され
た情報信号の再生は、次のように行われる。記録された
情報信号に照射されて変調を受けた光ビームは、光検出
器８、アンプ１１、波形等化回路１２、群遅延補正回路
１３及び２値化回路１４を経て２値化信号に変換され、
同信号は今度はＰＬＬ１５へ送られる。ＰＬＬ１５は、
この２値化信号からデータ及び読み出し用クロックを抽
出し、ディジタル再生信号として復調回路１６に出力す
る。復調回路１６は、ディジタル再生信号を復調し、再
生信号処理回路１７に出力する。再生信号処理回路１７
は、復調信号の誤りを訂正し、再生データとしてホスト
コンピュータ１０２に出力する。
た情報信号の再生は、次のように行われる。記録された
情報信号に照射されて変調を受けた光ビームは、光検出
器８、アンプ１１、波形等化回路１２、群遅延補正回路
１３及び２値化回路１４を経て２値化信号に変換され、
同信号は今度はＰＬＬ１５へ送られる。ＰＬＬ１５は、
この２値化信号からデータ及び読み出し用クロックを抽
出し、ディジタル再生信号として復調回路１６に出力す
る。復調回路１６は、ディジタル再生信号を復調し、再
生信号処理回路１７に出力する。再生信号処理回路１７
は、復調信号の誤りを訂正し、再生データとしてホスト
コンピュータ１０２に出力する。
【００３７】以上のように、本実施の形態では、マーク
間の熱干渉によるエッジシフト量を学習する前に、基準
パターンを用いて再生系の群遅延特性が平坦になるよう
補正しているので、テストパターンによる学習後の記録
データのエッジ位置が常に一定の長さになる。よって、
装置間の再生互換性が向上する。
間の熱干渉によるエッジシフト量を学習する前に、基準
パターンを用いて再生系の群遅延特性が平坦になるよう
補正しているので、テストパターンによる学習後の記録
データのエッジ位置が常に一定の長さになる。よって、
装置間の再生互換性が向上する。
【００３８】なお、本実施の形態においては、再生学習
工程に用いる基準パターンは情報信号領域を備えた光デ
ィスク１上に形成しているものとしたが、エンボスピッ
トのみを備えた再生学習工程専用のディスクに形成した
ものでも良い。また、基準パターンのマーク長とスペー
ス長の配列はテストパターンと同じ配列でも良い。
工程に用いる基準パターンは情報信号領域を備えた光デ
ィスク１上に形成しているものとしたが、エンボスピッ
トのみを備えた再生学習工程専用のディスクに形成した
ものでも良い。また、基準パターンのマーク長とスペー
ス長の配列はテストパターンと同じ配列でも良い。
【００３９】（実施の形態２）図５に、本発明の第２の
実施の形態による光学的情報記録再生方法を適用した光
ディスク装置１１０の構成を示す。
実施の形態による光学的情報記録再生方法を適用した光
ディスク装置１１０の構成を示す。
【００４０】同図において、図１に示した第１の実施の
形態を適用した光ディスク装置１００と同一の構成要素
に対しては、同一番号を付してその詳細な説明は省略す
る。図１と異なるのは、２値化回路１４の出力する２値
化した再生信号とＰＬＬ１５の出力する再生クロックを
受けとり、再生信号のジッタを測定してジッタ情報とし
て出力するジッタ測定回路３０を備えたことである。
形態を適用した光ディスク装置１００と同一の構成要素
に対しては、同一番号を付してその詳細な説明は省略す
る。図１と異なるのは、２値化回路１４の出力する２値
化した再生信号とＰＬＬ１５の出力する再生クロックを
受けとり、再生信号のジッタを測定してジッタ情報とし
て出力するジッタ測定回路３０を備えたことである。
【００４１】また、光ディスク１の再生学習領域には、
特定の長さのエンボスピットが周期的に形成された基準
パターンに代えて、記録データと同じ変調方式のエンボ
スピットからなるランダムパターンデータが配されてい
る。
特定の長さのエンボスピットが周期的に形成された基準
パターンに代えて、記録データと同じ変調方式のエンボ
スピットからなるランダムパターンデータが配されてい
る。
【００４２】以上のように構成された光ディスク装置１
１０の動作説明を通じて、本実施の形態の光学的情報記
録再生方法について説明する。
１０の動作説明を通じて、本実施の形態の光学的情報記
録再生方法について説明する。
【００４３】本実施の形態の光学的情報記録再生方法に
おいても、再生学習領域の再生による再生学習工程、記
録学習領域における記録学習工程及び情報信号の記録工
程の順に行われる。本実施の形態においては、記録学工
程及び情報信号の記録工程は第１の実施の形態と同様に
行われ、それに先立って行われる再生学習工程のみが異
なる。
おいても、再生学習領域の再生による再生学習工程、記
録学習領域における記録学習工程及び情報信号の記録工
程の順に行われる。本実施の形態においては、記録学工
程及び情報信号の記録工程は第１の実施の形態と同様に
行われ、それに先立って行われる再生学習工程のみが異
なる。
【００４４】まず、光ビームを光ディスク１上の再生学
習領域へ移動させ、エンボスピットで形成されたランダ
ムパターンデータを再生したときの、２値化回路１４が
出力する２値化信号が、ＰＬＬ１５及びジッタ測定回路
３０へ送られる。ジッタ測定回路３０は、２値化信号と
ＰＬＬ１５が出力する再生クロックの間のジッタを測定
し、測定結果をジッタ情報としてシステムコントローラ
２３に送る。ジッタ情報は、例えば、２値化信号と再生
クロックとの間の位相差を積分して電圧値に変換した
後、ＡＤ（アナログ・ディジタル）変換してコード化し
たものでよい。
習領域へ移動させ、エンボスピットで形成されたランダ
ムパターンデータを再生したときの、２値化回路１４が
出力する２値化信号が、ＰＬＬ１５及びジッタ測定回路
３０へ送られる。ジッタ測定回路３０は、２値化信号と
ＰＬＬ１５が出力する再生クロックの間のジッタを測定
し、測定結果をジッタ情報としてシステムコントローラ
２３に送る。ジッタ情報は、例えば、２値化信号と再生
クロックとの間の位相差を積分して電圧値に変換した
後、ＡＤ（アナログ・ディジタル）変換してコード化し
たものでよい。
【００４５】次に、システムコントローラ２３は、再生
信号のジッタ値が所定のしきい値よりも高い場合は、再
生系の群遅延特性が平坦でないと判断し、群遅延特性補
正回路１３に、補正用制御信号を出力する。群遅延特性
補正回路１３は、例えば入力信号に対する出力信号の遅
延量が周波数の１次関数になる様な特性を有しており、
補正用制御信号によってその比例係数が変化するように
なっている。比例係数を幾通りかに変化させながら逐次
ジッタ値を測定することにより、システムコントローラ
２３は比例係数の最適値を決定し、再生学習工程を終了
する。
信号のジッタ値が所定のしきい値よりも高い場合は、再
生系の群遅延特性が平坦でないと判断し、群遅延特性補
正回路１３に、補正用制御信号を出力する。群遅延特性
補正回路１３は、例えば入力信号に対する出力信号の遅
延量が周波数の１次関数になる様な特性を有しており、
補正用制御信号によってその比例係数が変化するように
なっている。比例係数を幾通りかに変化させながら逐次
ジッタ値を測定することにより、システムコントローラ
２３は比例係数の最適値を決定し、再生学習工程を終了
する。
【００４６】以後は、第１の実施の形態と同じく、記録
学習工程においてテストパターンの記録及び再生によっ
てマーク及びスペースのエッジシフト量を学習し、その
結果に基づいて記録データを正しいマーク及びスペース
の長さで記録する。
学習工程においてテストパターンの記録及び再生によっ
てマーク及びスペースのエッジシフト量を学習し、その
結果に基づいて記録データを正しいマーク及びスペース
の長さで記録する。
【００４７】以上のように本実施の形態においては、記
録学習工程でマーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
学習する前に、エンボスピットからなるランダムパター
ンデータの再生ジッタが最小になるよう、再生系の群遅
延特性を補正しているので、テストパターンによる学習
後の記録データのエッジ位置が常に一定の長さになる。
よって、装置間の再生互換性が向上する。しかも、記録
データと同じ変調方式のエンボスピットからなるランダ
ムパターンデータを用いるため、ディスク管理情報等を
予めエンボスピットで記録するコントロールデータを、
ランダムパターンデータとして兼用でき、ディスクの利
用効率が向上する。
録学習工程でマーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
学習する前に、エンボスピットからなるランダムパター
ンデータの再生ジッタが最小になるよう、再生系の群遅
延特性を補正しているので、テストパターンによる学習
後の記録データのエッジ位置が常に一定の長さになる。
よって、装置間の再生互換性が向上する。しかも、記録
データと同じ変調方式のエンボスピットからなるランダ
ムパターンデータを用いるため、ディスク管理情報等を
予めエンボスピットで記録するコントロールデータを、
ランダムパターンデータとして兼用でき、ディスクの利
用効率が向上する。
【００４８】なお、群遅延特性補正回路１３における遅
延量と周波数の関係が一次関数としたが、適用される関
数はこれに限定されるものではない。
延量と周波数の関係が一次関数としたが、適用される関
数はこれに限定されるものではない。
【００４９】（実施の形態３）図６に、本発明の第３の
実施の形態による光学的情報記録再生方法を適用した光
ディスク装置１２０の構成を示す。
実施の形態による光学的情報記録再生方法を適用した光
ディスク装置１２０の構成を示す。
【００５０】同図において、図１に示した第１の実施の
形態を適用した光ディスク装置１００と同一の構成要素
に対しては、同一番号を付してその詳細な説明は省略す
る。図１と異なるのは、光ディスク１に代えて調整用光
ディスク４０を備えたことと、その周波数が連続的もし
くは離散的に変化する正弦波の周波数掃引（ｓｗｅｅ
ｐ）信号を出力する掃引信号発生回路４１と、周波数掃
引信号と群遅延特性補正回路１３が出力する再生信号を
受け取り、両信号間の遅延特性を測定して群遅延測定デ
ータとしてシステムコントローラ２３に出力する群遅延
測定回路４２を備えたことである。また、周波数掃引信
号はレーザ駆動回路２１にも送られ、レーザの駆動電流
に周波数掃引信号が重畳される。
形態を適用した光ディスク装置１００と同一の構成要素
に対しては、同一番号を付してその詳細な説明は省略す
る。図１と異なるのは、光ディスク１に代えて調整用光
ディスク４０を備えたことと、その周波数が連続的もし
くは離散的に変化する正弦波の周波数掃引（ｓｗｅｅ
ｐ）信号を出力する掃引信号発生回路４１と、周波数掃
引信号と群遅延特性補正回路１３が出力する再生信号を
受け取り、両信号間の遅延特性を測定して群遅延測定デ
ータとしてシステムコントローラ２３に出力する群遅延
測定回路４２を備えたことである。また、周波数掃引信
号はレーザ駆動回路２１にも送られ、レーザの駆動電流
に周波数掃引信号が重畳される。
【００５１】また、調整用光ディスク４０には案内溝や
エンボスピットが無く全面鏡面になっている。
エンボスピットが無く全面鏡面になっている。
【００５２】次に、以上のように構成された光ディスク
装置１２０の動作説明を通じて、本実施の形態の光学的
情報記録再生方法について説明する。
装置１２０の動作説明を通じて、本実施の形態の光学的
情報記録再生方法について説明する。
【００５３】本実施の形態の光学的情報記録再生方法に
おいても、再生学習領域の再生による再生学習工程、記
録学習領域における記録学習工程及び情報信号の記録工
程の順に行われる。本実施の形態においても、記録学工
程程及び情報信号の記録工程は第１乃至２の実施の形態
と同様に行われ、それに先立って行われる再生学習工程
のみが異なる。
おいても、再生学習領域の再生による再生学習工程、記
録学習領域における記録学習工程及び情報信号の記録工
程の順に行われる。本実施の形態においても、記録学工
程程及び情報信号の記録工程は第１乃至２の実施の形態
と同様に行われ、それに先立って行われる再生学習工程
のみが異なる。
【００５４】まず、システムコントローラ２３は半導体
レーザ３を再生用の一定強度で発光させたのち、光ビー
ムを回転している調整用光ディスク４０の鏡面上にフォ
ーカス制御する。次に、掃引信号発生回路４１に周波数
掃引信号をレーザ駆動回路２１及び群遅延測定回路４２
に送出させる。レーザ駆動回路２１は、再生パワー用の
駆動電流に周波数掃引信号を重畳し、半導体レーザ３に
出力する。半導体レーザ３が照射する光ビームの強度
は、周波数掃引信号によって変調される。周波数掃引信
号によって変調された光ビームは、ディスク鏡面でその
まま反射され、光検出器８で受光される。光検出器８か
らの光検出信号は、アンプ１１、波形等化回路１２及び
群遅延特性補正回路１３を経て群遅延測定回路４２へ被
測定信号として送られる。ディスク鏡面で反射された光
ビームは周波数掃引信号で変調されているので、この被
測定信号も周波数掃引信号で変調され、かつ再生系の群
遅延特性の影響を受けた信号になっている。群遅延測定
回路４２は、掃引信号発生回路４１から受け取った周波
数掃引信号とこの被測定信号との位相差を複数の周波数
に対して測定し、測定結果を群遅延特性データとしてシ
ステムコントローラ２３に送る。システムコントローラ
２３は受け取った群遅延特性データを基に、再生系の群
遅延特性が平坦になるように、補正用制御信号を群遅延
特性補正回路１３に出力する。これにより、再生系の群
遅延特性が平坦になり、再生学習工程が終了する。
レーザ３を再生用の一定強度で発光させたのち、光ビー
ムを回転している調整用光ディスク４０の鏡面上にフォ
ーカス制御する。次に、掃引信号発生回路４１に周波数
掃引信号をレーザ駆動回路２１及び群遅延測定回路４２
に送出させる。レーザ駆動回路２１は、再生パワー用の
駆動電流に周波数掃引信号を重畳し、半導体レーザ３に
出力する。半導体レーザ３が照射する光ビームの強度
は、周波数掃引信号によって変調される。周波数掃引信
号によって変調された光ビームは、ディスク鏡面でその
まま反射され、光検出器８で受光される。光検出器８か
らの光検出信号は、アンプ１１、波形等化回路１２及び
群遅延特性補正回路１３を経て群遅延測定回路４２へ被
測定信号として送られる。ディスク鏡面で反射された光
ビームは周波数掃引信号で変調されているので、この被
測定信号も周波数掃引信号で変調され、かつ再生系の群
遅延特性の影響を受けた信号になっている。群遅延測定
回路４２は、掃引信号発生回路４１から受け取った周波
数掃引信号とこの被測定信号との位相差を複数の周波数
に対して測定し、測定結果を群遅延特性データとしてシ
ステムコントローラ２３に送る。システムコントローラ
２３は受け取った群遅延特性データを基に、再生系の群
遅延特性が平坦になるように、補正用制御信号を群遅延
特性補正回路１３に出力する。これにより、再生系の群
遅延特性が平坦になり、再生学習工程が終了する。
【００５５】次に、記録学習工程は調整用光ディスク４
０を情報信号を記録すべき光ディスク１に交換する。以
後本装置は、第１の実施の形態と同じく、記録学習工程
においてテストパターンの記録及び再生によってエッジ
シフト量を学習し、その結果に基づいて記録データを正
しいマーク及びスペースの長さで記録する。
０を情報信号を記録すべき光ディスク１に交換する。以
後本装置は、第１の実施の形態と同じく、記録学習工程
においてテストパターンの記録及び再生によってエッジ
シフト量を学習し、その結果に基づいて記録データを正
しいマーク及びスペースの長さで記録する。
【００５６】以上のように本実施の形態においては、記
録学習工程でマーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
学習する前に、光ビームの強度を周波数が連続的もしく
は離散的に変化する周波数掃引信号で変調し、ディスク
鏡面で反射された光ビームを受光して再生系を経由した
再生信号と周波数掃引信号を比較した結果を基に、再生
系の群遅延特性を補正しているので、テストパターンに
よる学習後の記録データのエッジ位置が常に一定の長さ
になる。よって、装置間の再生互換性が向上する。しか
も、連続もしくは離散的に周波数が変化する周波数掃引
信号に同期をとって群遅延特性を測定しているので測定
精度が高く、記録データのエッジ位置精度が向上する。
録学習工程でマーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
学習する前に、光ビームの強度を周波数が連続的もしく
は離散的に変化する周波数掃引信号で変調し、ディスク
鏡面で反射された光ビームを受光して再生系を経由した
再生信号と周波数掃引信号を比較した結果を基に、再生
系の群遅延特性を補正しているので、テストパターンに
よる学習後の記録データのエッジ位置が常に一定の長さ
になる。よって、装置間の再生互換性が向上する。しか
も、連続もしくは離散的に周波数が変化する周波数掃引
信号に同期をとって群遅延特性を測定しているので測定
精度が高く、記録データのエッジ位置精度が向上する。
【００５７】なお、以上の説明では、掃引信号発生回路
４１及び群遅延特性測定回路４２を光ディスク装置１２
０の一部としたが、再生学習工程は同装置製造工程にお
いて行うものとすれば、ネットワークアナライザ等群遅
延特性が測定できる外部測定器であっても良い。この場
合、システムコントローラ２３への群遅延データの入力
は、ホストコンピュータ１０２から行えばよい。
４１及び群遅延特性測定回路４２を光ディスク装置１２
０の一部としたが、再生学習工程は同装置製造工程にお
いて行うものとすれば、ネットワークアナライザ等群遅
延特性が測定できる外部測定器であっても良い。この場
合、システムコントローラ２３への群遅延データの入力
は、ホストコンピュータ１０２から行えばよい。
【００５８】（実施の形態４）図７に、本発明の第４の
実施の形態による光学的情報記録再生方法を適用した光
ディスク装置１３０の構成を示す。
実施の形態による光学的情報記録再生方法を適用した光
ディスク装置１３０の構成を示す。
【００５９】同図において、図５に示した第２の実施の
形態を適用した光ディスク装置１１０と同一の構成要素
に対しては、同一番号を付してその詳細な説明は省略す
る。図５と異なるのは、群遅延特性補正回路１３が削除
され、波形等化回路１２の代わりに可変型波形等化回路
５０を備えたことである。この可変型波形等化回路５０
は、アンプ１１から再生信号を受け取り、高い周波数領
域の振幅増幅率が高くなるように変換し、かつ、その増
幅率がシステムコントローラ２３からの補正用制御信号
で切り替え可能になっている。図８に可変型波形等化回
路５０の周波数特性のグラフを示す。同図に示すよう
に、振幅増幅率はｆｏで示した周波数において、ＤＣ増
幅率に比べてＧｂだけ高くなっている。このＧｂはブー
スト量と呼ばれ、本実施の形態においては補正用制御信
号に応じて上下する。
形態を適用した光ディスク装置１１０と同一の構成要素
に対しては、同一番号を付してその詳細な説明は省略す
る。図５と異なるのは、群遅延特性補正回路１３が削除
され、波形等化回路１２の代わりに可変型波形等化回路
５０を備えたことである。この可変型波形等化回路５０
は、アンプ１１から再生信号を受け取り、高い周波数領
域の振幅増幅率が高くなるように変換し、かつ、その増
幅率がシステムコントローラ２３からの補正用制御信号
で切り替え可能になっている。図８に可変型波形等化回
路５０の周波数特性のグラフを示す。同図に示すよう
に、振幅増幅率はｆｏで示した周波数において、ＤＣ増
幅率に比べてＧｂだけ高くなっている。このＧｂはブー
スト量と呼ばれ、本実施の形態においては補正用制御信
号に応じて上下する。
【００６０】また、光ディスク１の再生学習領域には、
記録データと同じ変調方式のエンボスピットからなるラ
ンダムパターンデータが配されている点も、第２の実施
の形態と同じである。
記録データと同じ変調方式のエンボスピットからなるラ
ンダムパターンデータが配されている点も、第２の実施
の形態と同じである。
【００６１】以上のように構成された光ディスク装置１
３０の動作説明を通じて、本実施の形態の光学的情報記
録再生方法について説明する。
３０の動作説明を通じて、本実施の形態の光学的情報記
録再生方法について説明する。
【００６２】本実施の形態の光学的情報記録再生方法に
おいても、再生学習領域の再生による再生学習工程、記
録学習領域における記録学習工程及び情報信号の記録工
程の順に行われる。本実施の形態においては、記録学工
程程及び情報信号の記録工程は第１乃至３の実施の形態
と同様に行われ、それに先立って行われる再生学習工程
のみが異なる。
おいても、再生学習領域の再生による再生学習工程、記
録学習領域における記録学習工程及び情報信号の記録工
程の順に行われる。本実施の形態においては、記録学工
程程及び情報信号の記録工程は第１乃至３の実施の形態
と同様に行われ、それに先立って行われる再生学習工程
のみが異なる。
【００６３】まず、光ビームを光ディスク１上の再生学
習領域へ移動させ、エンボスピットで形成されたランダ
ムパターンデータを再生したときの、２値化回路１４が
出力する２値化信号が、ＰＬＬ１５及びジッタ測定回路
３０へ送られる。ジッタ測定回路３０は、２値化信号と
ＰＬＬ１５が出力する再生クロックの間のジッタを測定
し、測定結果をジッタ情報としてシステムコントローラ
２３に送る。
習領域へ移動させ、エンボスピットで形成されたランダ
ムパターンデータを再生したときの、２値化回路１４が
出力する２値化信号が、ＰＬＬ１５及びジッタ測定回路
３０へ送られる。ジッタ測定回路３０は、２値化信号と
ＰＬＬ１５が出力する再生クロックの間のジッタを測定
し、測定結果をジッタ情報としてシステムコントローラ
２３に送る。
【００６４】次に、システムコントローラ２３は、ジッ
タ値が所定のしきい値よりも高い場合は、再生系の振幅
周波数特性が適切でないと判断し、可変型波形等化回路
５０に補正用制御信号を出力する。可変型波形等化回路
５０のブースト量を幾通りかに変化させながら逐次ジッ
タを測定することにより、システムコントローラ２３は
ブースト量の最適値を決定し、再生学習工程を終了す
る。
タ値が所定のしきい値よりも高い場合は、再生系の振幅
周波数特性が適切でないと判断し、可変型波形等化回路
５０に補正用制御信号を出力する。可変型波形等化回路
５０のブースト量を幾通りかに変化させながら逐次ジッ
タを測定することにより、システムコントローラ２３は
ブースト量の最適値を決定し、再生学習工程を終了す
る。
【００６５】以後は、第２の実施の形態と同じく、記録
学習工程においてテストパターンの記録及び再生によっ
てエッジシフト量を学習し、その結果に基づいて記録デ
ータを正しい長さで記録する。
学習工程においてテストパターンの記録及び再生によっ
てエッジシフト量を学習し、その結果に基づいて記録デ
ータを正しい長さで記録する。
【００６６】以上のように本実施の形態においては、記
録学習工程でマーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
学習する前に、エンボスピットからなるランダムパター
ンデータの再生ジッタが最小になるよう、再生系の波形
等化特性を補正しているので、テストパターンによる学
習後の記録データのエッジ位置が再生学習領域のエンボ
スピットと常に対応のとれた長さになる。よって、装置
間の再生互換性が向上する。しかも、波形等化特性にお
ける高域のブースト量を可変しているので、光学系の分
解能のばらつきも同時に補正することができ、再生互換
性がさらに向上する。
録学習工程でマーク間の熱干渉によるエッジシフト量を
学習する前に、エンボスピットからなるランダムパター
ンデータの再生ジッタが最小になるよう、再生系の波形
等化特性を補正しているので、テストパターンによる学
習後の記録データのエッジ位置が再生学習領域のエンボ
スピットと常に対応のとれた長さになる。よって、装置
間の再生互換性が向上する。しかも、波形等化特性にお
ける高域のブースト量を可変しているので、光学系の分
解能のばらつきも同時に補正することができ、再生互換
性がさらに向上する。
【００６７】なお、以上の実施の形態の説明の中で、記
録学習工程においては記録パルスのエッジ位置の学習に
ついてだけ述べたが、その前工程もしくは後工程として
記録時のピークパワーやバイアスパワーの最適値を求め
る工程等、別の学習工程を導入する事も可能である。
録学習工程においては記録パルスのエッジ位置の学習に
ついてだけ述べたが、その前工程もしくは後工程として
記録時のピークパワーやバイアスパワーの最適値を求め
る工程等、別の学習工程を導入する事も可能である。
【００６８】また、記録再生特性に大きな影響を与える
記録膜上での光スポット形状を、フォーカスのバイアス
学習することにより決定することは重要であり、本発明
で示す特定の長さのエンボスピットが周期的に形成され
た基準パターンや、記録データと同じ変調方式のエンボ
スピットからなるランダムパターンデータエンボスピッ
トで再生信号振幅最大になるよう、フォーカスバイアス
調整を行った後に群遅延特性を調整することは有効であ
り、フォーカス学習工程、再生学習工程、パワー学習工
程、記録学習工程の各ステップの組み合わせで記録再生
装置の信頼性を一層向上することができるものである。
記録膜上での光スポット形状を、フォーカスのバイアス
学習することにより決定することは重要であり、本発明
で示す特定の長さのエンボスピットが周期的に形成され
た基準パターンや、記録データと同じ変調方式のエンボ
スピットからなるランダムパターンデータエンボスピッ
トで再生信号振幅最大になるよう、フォーカスバイアス
調整を行った後に群遅延特性を調整することは有効であ
り、フォーカス学習工程、再生学習工程、パワー学習工
程、記録学習工程の各ステップの組み合わせで記録再生
装置の信頼性を一層向上することができるものである。
【００６９】さらに、装置の寿命などの影響で上記学習
が所望の範囲に収まらない場合は、その結果をディスプ
レー等を介し「再生のみ可能」「記録不可能」「記録再
生不可能」など診断結果として、ユーザーに知らせるこ
とに利用でき、そのことにより、ユーザーの故障対応を
容易にすることができるものである。
が所望の範囲に収まらない場合は、その結果をディスプ
レー等を介し「再生のみ可能」「記録不可能」「記録再
生不可能」など診断結果として、ユーザーに知らせるこ
とに利用でき、そのことにより、ユーザーの故障対応を
容易にすることができるものである。
【００７０】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の光
学的情報記録再生方法によれば、局所的光学定数の変化
を検出する再生系の周波数特性を、所定の周波数特性に
切り替える再生学習工程と、光学的情報記録媒体上にテ
ストパターンを記録した後再生し、２値化した再生デー
タのエッジ位置が所望の位置になるよう、記録パルスの
始端または終端エッジ位置をマーク区間と先行または後
続するスペースの長さの組み合わせ毎に補正する記録学
習工程を備えたことにより、マーク間の熱干渉によるエ
ッジシフト量を学習する前に再生系の周波数特性を一定
に揃えておくことができるので、記録したマーク及びス
ペースの長さを常に一定の長さにでき、装置間の再生互
換性が向上する。
学的情報記録再生方法によれば、局所的光学定数の変化
を検出する再生系の周波数特性を、所定の周波数特性に
切り替える再生学習工程と、光学的情報記録媒体上にテ
ストパターンを記録した後再生し、２値化した再生デー
タのエッジ位置が所望の位置になるよう、記録パルスの
始端または終端エッジ位置をマーク区間と先行または後
続するスペースの長さの組み合わせ毎に補正する記録学
習工程を備えたことにより、マーク間の熱干渉によるエ
ッジシフト量を学習する前に再生系の周波数特性を一定
に揃えておくことができるので、記録したマーク及びス
ペースの長さを常に一定の長さにでき、装置間の再生互
換性が向上する。
【図１】本発明の第１の実施の形態による光学的情報記
録再生方法を適用した光ディスク装置の構成を示すブロ
ック図
録再生方法を適用した光ディスク装置の構成を示すブロ
ック図
【図２】同装置に用いる光ディスクの構成図
【図３】同実施の形態における学習方法のフローチャー
ト
ト
【図４】同実施の形態における再生学習領域の基準パタ
ーンの一例の波形図
ーンの一例の波形図
【図５】本発明の第２の実施の形態による光学的情報記
録再生方法を適用した光ディスク装置の構成を示すブロ
ック図
録再生方法を適用した光ディスク装置の構成を示すブロ
ック図
【図６】本発明の第３の実施の形態による光学的情報記
録再生方法を適用した光ディスク装置の構成を示すブロ
ック図
録再生方法を適用した光ディスク装置の構成を示すブロ
ック図
【図７】本発明の第４の実施の形態による光学的情報記
録再生方法を適用した光ディスク装置の構成を示すブロ
ック図
録再生方法を適用した光ディスク装置の構成を示すブロ
ック図
【図８】同装置に用いる波形等化回路の周波数特性図
【図９】記録マーク間の熱干渉によるエッジシフトを説
明するための模式図
明するための模式図
【図１０】テストパターンの一例の波形図
【図１１】エッジシフト補正を説明するための模式図
１ 光ディスク ２ 情報トラック ３ 半導体レーザ ６ 対物レンズ ８ 光検出器 １２ 波形等化回路 １３ 群遅延特性補正回路 １４ ２値化回路 １５ ＰＬＬ １６ 復調回路 １７ 再生信号処理回路 １８ 記録信号処理回路 １９ 変調回路 ２０ エッジ位置調整回路 ２１ レーザ駆動回路 ２３ システムコントローラ ３０ ジッタ測定回路 ４０ 調整用光ディスク ４１ 掃引信号発生回路 ４２ 群遅延測定回路 ５０ 可変型波形等化回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 南野 順一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 小石 健二 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 古宮 成 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB04 CC01 CC04 CC05 EE14 EE16 FF08 FF17 GG26 HH01 JJ12 KK03 KK05
Claims (14)
- 【請求項１】 データをマーク区間及びスペース区間の
長さ情報とし、前記マーク区間に対して１個または複数
の記録パルスに応じて光ビームの強度を切り替えて光学
的記録媒体に照射することによって記録層の局所的光学
定数変化の形でデータの記録を行い、所定強度の光ビー
ムによって前記局所的光学定数の変化を検出することに
よってデータを再生する光学的情報記録再生方法であっ
て、 前記方法は、前記局所的光学定数の変化を検出する再生
系の周波数特性を、所定の周波数特性に切り替える再生
学習工程と、 前記光学的情報記録媒体上にテストパターンを記録した
後再生し、２値化した再生データのエッジ位置が所望の
位置になるよう、前記記録パルスの始端または終端エッ
ジ位置を、前記マーク区間と先行または後続するスペー
ス区間の長さの組み合わせ毎に補正する記録学習工程の
うち少なくとも何れか一方を含む光学的情報記録再生方
法。 - 【請求項２】 再生学習工程は、 光学的記録媒体上にマーク及びスペースと同程度の大き
さのエンボスピットとして基板上に予め形成された基準
パターンに所定強度の光ビームを照射するステップと、
反射した前記光ビームを受光して再生信号を出力するス
テップと、前記基準パターンに応じて変調された前記再
生信号を２値化するステップと、２値化された前記再生
信号のエッジ位置を測定するステップと、エッジ位置の
測定結果に基づいて再生系の群遅延特性を平滑にするス
テップとを含む請求項１記載の光学的情報記録再生方
法。 - 【請求項３】 再生学習工程は、 光学的記録媒体上にマーク及びスペースと同程度の大き
さのエンボスピットによって基板上に予め形成されたラ
ンダムパターンに所定強度の光ビームを照射するステッ
プと、反射した前記光ビームを受光して再生信号を出力
するステップと、前記ランダムパターンに応じて変調さ
れた前記再生信号を２値化するステップと、２値化され
た前記再生信号のジッタを測定するステップと、再生ジ
ッタの測定結果に基づいて再生系の群遅延特性を平滑に
するステップとを含む請求項１記載の光学的情報記録再
生方法。 - 【請求項４】 再生学習工程は、 光学的記録媒体上にマーク及びスペースと同程度の大き
さのエンボスピットによって基板上に予め形成されたラ
ンダムパターンに所定強度の光ビームを照射するステッ
プと、反射した前記光ビームを受光して再生信号を出力
するステップと、前記ランダムパターンに応じて変調さ
れた前記再生信号を２値化するステップと、２値化され
た前記再生信号のジッタを測定するステップと、再生ジ
ッタの測定結果に基づいて再生系の振幅周波数特性を調
整するステップとを含む請求項１記載の光学的情報記録
再生方法。 - 【請求項５】 再生学習工程は、光ビームの強度を、周
波数が連続的に変化する掃引信号で変調するステップ
と、鏡面を有する光学的情報記録媒体で反射された前記
光ビームを受光して再生信号を出力するステップと、前
記掃引信号と前記再生信号の位相の周波数特性を比較す
るステップと、比較結果に基づいて再生系の群遅延特性
を平滑にするステップとを含む請求項１記載の光学的情
報記録再生方法。 - 【請求項６】 記録学習工程は、 テストパターンを光学的情報記録媒体上の記録学習領域
に記録するステップと、前記所定強度の光ビームを記録
された前記テストパターンに照射するステップと、前記
テストパターンに対応して前記光検出器が出力する再生
信号を２値化するステップと、２値化された前記再生信
号から前記テストパターンのマーク及びスペースのエッ
ジ位置を検出するステップと、検出された前記エッジ位
置の目標位置からのずれ量を、マーク区間と先行または
後続するスペース区間の長さの組み合わせ毎にエッジ補
正量として記憶するステップと、前記記録パルスの始端
位置または終端位置を前記エッジ補正量に応じて補正す
るステップとを含む請求項１記載の光学的情報記録再生
方法。 - 【請求項７】 基準パターンまたはランダムパターン
は、テストパターン及びデータが記録される光学的情報
記録媒体とは別の媒体に形成されていることを特徴とす
る請求項２から４の何れかに記載の光学的情報記録再生
方法。 - 【請求項８】 データをマーク区間及びスペース区間の
長さ情報とし、前記マーク区間に対して１個または複数
の記録パルスに応じて光ビームの強度を切り替えて光学
的記録媒体に照射することによって記録層の局所的光学
定数変化の形でデータの記録を行い、所定強度の光ビー
ムによって前記局所的光学定数の変化を検出することに
よってデータを再生する光学的情報記録再生装置であっ
て、 前記局所的光学定数の変化を検出する再生系の周波数特
性を、所定の周波数特性に切り替える再生学習手段と、 前記光学的情報記録媒体上にテストパターンを記録した
後再生し、２値化した再生データのエッジ位置が所望の
位置になるよう、前記記録パルスの始端または終端エッ
ジ位置を、前記マーク区間と先行または後続するスペー
ス区間の長さの組み合わせ毎に補正する記録学習手段の
うち少なくとも何れか一方を有する光学的情報記録再生
装置。 - 【請求項９】 再生学習手段は、 光学的記録媒体上にマーク及びスペースと同程度の大き
さのエンボスピットとして基板上に予め形成された基準
パターンに所定強度の光ビームを照射する手段と、反射
した前記光ビームを受光して再生信号を出力する手段
と、前記基準パターンに応じて変調された前記再生信号
を２値化する手段と、２値化された前記再生信号のエッ
ジ位置を測定する手段と、エッジ位置の測定結果に基づ
いて再生系の群遅延特性を平滑にする手段とを含む請求
項８記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項１０】 再生学習手段は、 光学的記録媒体上にマーク及びスペースと同程度の大き
さのエンボスピットによって基板上に予め形成されたラ
ンダムパターンに所定強度の光ビームを照射する手段
と、反射した前記光ビームを受光して再生信号を出力す
る手段と、前記ランダムパターンに応じて変調された前
記再生信号を２値化する手段と、２値化された前記再生
信号のジッタを測定する手段と、再生ジッタの測定結果
に基づいて再生系の群遅延特性を平滑にする手段とを含
む請求項８記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項１１】 再生学習手段は、 光学的記録媒体上にマーク及びスペースと同程度の大き
さのエンボスピットによって基板上に予め形成されたラ
ンダムパターンに所定強度の光ビームを照射する手段
と、反射した前記光ビームを受光して再生信号を出力す
る手段と、前記ランダムパターンに応じて変調された前
記再生信号を２値化する手段と、２値化された前記再生
信号のジッタを測定する手段と、再生ジッタの測定結果
に基づいて再生系の振幅周波数特性を調整する手段とを
含む請求項８記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項１２】 再生学習手段は、 光ビームの強度を、周波数が連続的に変化する掃引信号
で変調する手段と、鏡面を有する光学的情報記録媒体で
反射された前記光ビームを受光して再生信号を出力する
手段と、前記掃引信号と前記再生信号の位相の周波数特
性を比較する手段と、比較結果に基づいて再生系の群遅
延特性を平滑にする手段とを含む請求項８記載の光学的
情報記録再生装置。 - 【請求項１３】 記録学習手段は、 テストパターンを光学的情報記録媒体上の記録学習領域
に記録する手段と、前記所定強度の光ビームを記録され
た前記テストパターンに照射する手段と、前記テストパ
ターンに対応して前記光検出器が出力する再生信号を２
値化する手段と、２値化された前記再生信号から前記テ
ストパターンのマーク及びスペースのエッジ位置を検出
する手段と、検出された前記エッジ位置の目標位置から
のずれ量を、マーク区間と先行または後続するスペース
区間の長さの組み合わせ毎にエッジ補正量として記憶す
る手段と、前記記録パルスの始端位置または終端位置を
前記エッジ補正量に応じて補正する手段とを含む請求項
８記載の光学的情報記録再生装置。 - 【請求項１４】 基準パターンまたはランダムパターン
は、テストパターン及びデータが記録される光学的情報
記録媒体とは別の媒体に形成されていることを特徴とす
る請求項９から１１の何れかに記載の光学的情報記録再
生装置。
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| US7675826B2 (en) * | 2005-09-23 | 2010-03-09 | Marvell World Trade Ltd. | Automatic write strategy calibration method for optical drive |
| US7420759B2 (en) * | 2006-10-31 | 2008-09-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for internal calibration of normalized playback transfer curve in a hard disk drive |
| KR100867124B1 (ko) * | 2007-02-15 | 2008-11-06 | 삼성전자주식회사 | 광디스크의 데이터 기록 및 재생 장치 및 방법 |
| US20080273432A1 (en) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | Taiyo Yuden Co., Ltd | Processing method of optical disc recording/playback signal, optical disc recording/playback device and program |
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| US5450383A (en) * | 1994-05-26 | 1995-09-12 | International Business Machines Corporation | Monitoring and adjusting laser write power in an optical disk recorder using pulse-width modulated power level checking signals |
| US5808988A (en) * | 1995-02-15 | 1998-09-15 | Hitachi, Ltd. | Reproduction of optical information by one-beam optics with reduced crosstalk as recorded in multi-phases and multi-levels at staggered lattice points, and apparatus and recording medium therefor |
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