JP2000208867A - レ―ザダイオ―ド発光検出回路 - Google Patents
レ―ザダイオ―ド発光検出回路Info
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 27
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 11
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 101000860173 Myxococcus xanthus C-factor Proteins 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
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- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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-
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザダイオードの発光状態をディジタル的
に保持するレーザダイオード発光検出回路を提供する。 【解決手段】 レーザダイオードの光信号を検出して電
流信号に変換するフォトダイオード3と、フォトダイオ
ード3からの電流信号を電圧信号に変換するI/V変換
回路4と、I/V変換回路4からの電圧信号と、基準電
圧源5からの基準電圧とを比較し、I/V変換回路から
の電圧信号が基準電圧を越えた場合に所定の信号を出力
するコンパレータ6と、コンパレータ6に基準電圧を出
力する基準電圧源5と、セル信号の出力を反転させるイ
ンバータ9と、コンパレータ6の出力をクロック入力と
しインバータ9の出力をリセット入力とし、データ入力
を常時ハイレベルとするDFF回路7とを有することに
より、レーザダイオードの発光状態をディジタル的に保
持することができる。よって、レーザダイオードの発光
状態の保持と保持解除をディジタル的に処理することが
でき、処理を高速化することができる。
に保持するレーザダイオード発光検出回路を提供する。 【解決手段】 レーザダイオードの光信号を検出して電
流信号に変換するフォトダイオード3と、フォトダイオ
ード3からの電流信号を電圧信号に変換するI/V変換
回路4と、I/V変換回路4からの電圧信号と、基準電
圧源5からの基準電圧とを比較し、I/V変換回路から
の電圧信号が基準電圧を越えた場合に所定の信号を出力
するコンパレータ6と、コンパレータ6に基準電圧を出
力する基準電圧源5と、セル信号の出力を反転させるイ
ンバータ9と、コンパレータ6の出力をクロック入力と
しインバータ9の出力をリセット入力とし、データ入力
を常時ハイレベルとするDFF回路7とを有することに
より、レーザダイオードの発光状態をディジタル的に保
持することができる。よって、レーザダイオードの発光
状態の保持と保持解除をディジタル的に処理することが
でき、処理を高速化することができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザダイオード発
光検出回路に関する。
光検出回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図6に従来のレーザダイオード発光検出
回路の構成を示す。図6に示された従来のレーザダイオ
ード発光検出回路は、レーザダイオード20と、レーザ
ダイオード20の発光状態を検出するためのフォトダイ
オード22と、フォトダイオード22からの電流信号を
電圧信号に変換する電流/電圧変換回路(以下、I/V
変換回路という)23と、基準電圧を発生させる基準電
圧源24と、I/V変換回路23からの電圧信号と基準
電圧源24からの基準電圧とを比較するコンパレータ2
5と、時定数回路26と、出力端子32とから構成され
る。また、時定数回路26は、トランジスタ27と、抵
抗28と、コンデンサ29と、コンパレータ31と、基
準電圧源30とから構成される。
回路の構成を示す。図6に示された従来のレーザダイオ
ード発光検出回路は、レーザダイオード20と、レーザ
ダイオード20の発光状態を検出するためのフォトダイ
オード22と、フォトダイオード22からの電流信号を
電圧信号に変換する電流/電圧変換回路(以下、I/V
変換回路という)23と、基準電圧を発生させる基準電
圧源24と、I/V変換回路23からの電圧信号と基準
電圧源24からの基準電圧とを比較するコンパレータ2
5と、時定数回路26と、出力端子32とから構成され
る。また、時定数回路26は、トランジスタ27と、抵
抗28と、コンデンサ29と、コンパレータ31と、基
準電圧源30とから構成される。
【0003】上記構成のレーザダイオード発光検出回路
は、レーザダイオード20の発光状態を検出するため
に、レーザダイオード20の光信号をフォトダイオード
22で受光し、フォトダイオード3の電流信号出力をI
/V変換回路23で電圧信号に変換し、コンパレータ2
5で基準電圧源24からの基準電圧と比較し、更に時定
数回路26を使用して出力端子32の論理出力を保持し
ている。時定数回路26は、レーザダイオード20の出
力を検出後にレーザダイオード20の論理0が一定時間
続いても出力を保持するために必要となる。
は、レーザダイオード20の発光状態を検出するため
に、レーザダイオード20の光信号をフォトダイオード
22で受光し、フォトダイオード3の電流信号出力をI
/V変換回路23で電圧信号に変換し、コンパレータ2
5で基準電圧源24からの基準電圧と比較し、更に時定
数回路26を使用して出力端子32の論理出力を保持し
ている。時定数回路26は、レーザダイオード20の出
力を検出後にレーザダイオード20の論理0が一定時間
続いても出力を保持するために必要となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たレーザダイオード発光検出回路は、時定数回路を用い
て出力端子の論理出力を保持しているため、装置の小型
化を図ることができない不具合を伴う。
たレーザダイオード発光検出回路は、時定数回路を用い
て出力端子の論理出力を保持しているため、装置の小型
化を図ることができない不具合を伴う。
【0005】時定数回路はアナログ的に出力を保持する
ため、大容量のコンデンサが必要となる。このコンデン
サはビットレート150Mbpsの信号において論理0を7
2ビット以上保持するためには、100pF以上の容量値
が必要となり、LSIに内蔵する場合には、チップサイ
ズが大きくなってしまう。
ため、大容量のコンデンサが必要となる。このコンデン
サはビットレート150Mbpsの信号において論理0を7
2ビット以上保持するためには、100pF以上の容量値
が必要となり、LSIに内蔵する場合には、チップサイ
ズが大きくなってしまう。
【0006】また、一般にレーザダイオードの発光タイ
ミングおよび消灯タイミングに同期して生成されるバー
スト信号の長さは約2.5μsec であり、バースト信号
間のガードタイム時間は26nsecであり、前述した時定
数回路の放電時定数が約1.5μsec である。図7に示
されるようにレーザダイオードがバースト信号の途中で
故障して発光しなくなった場合、放電時定数よりバース
ト信号の途中までは故障を検出することができない。
ミングおよび消灯タイミングに同期して生成されるバー
スト信号の長さは約2.5μsec であり、バースト信号
間のガードタイム時間は26nsecであり、前述した時定
数回路の放電時定数が約1.5μsec である。図7に示
されるようにレーザダイオードがバースト信号の途中で
故障して発光しなくなった場合、放電時定数よりバース
ト信号の途中までは故障を検出することができない。
【0007】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、装置のサイズを縮小させることができ、レーザダ
イオードの故障検出にかかる時間を短縮させることがで
きるレーザダイオード発光検出回路を提供することを目
的とする。
あり、装置のサイズを縮小させることができ、レーザダ
イオードの故障検出にかかる時間を短縮させることがで
きるレーザダイオード発光検出回路を提供することを目
的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに本発明のレーザダイオード発光検出回路は、レーザ
ダイオードの発光状態を検出するレーザダイオード発光
検出回路であって、レーザダイオードの発光タイミング
に同期して第1の状態に遷移し、該レーザダイオードの
消灯タイミングに同期して第2の状態に遷移するバース
ト信号を生成するバースト信号生成手段と、レーザダイ
オードが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期間の開
始前に第3の状態に遷移し、発光期間の終了から第4の
状態に遷移するセル信号が第3の状態の期間のバースト
信号の第1の状態への遷移に同期してレーザダイオード
の発光状態を表す所定の出力状態を保持し、セル信号の
第4の状態への遷移に同期して保持した所定の出力状態
を解除する保持手段とを有することを特徴とする。
めに本発明のレーザダイオード発光検出回路は、レーザ
ダイオードの発光状態を検出するレーザダイオード発光
検出回路であって、レーザダイオードの発光タイミング
に同期して第1の状態に遷移し、該レーザダイオードの
消灯タイミングに同期して第2の状態に遷移するバース
ト信号を生成するバースト信号生成手段と、レーザダイ
オードが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期間の開
始前に第3の状態に遷移し、発光期間の終了から第4の
状態に遷移するセル信号が第3の状態の期間のバースト
信号の第1の状態への遷移に同期してレーザダイオード
の発光状態を表す所定の出力状態を保持し、セル信号の
第4の状態への遷移に同期して保持した所定の出力状態
を解除する保持手段とを有することを特徴とする。
【0009】上記の保持手段は、バースト信号生成手段
からのバースト信号をクロック入力とし、セル信号をリ
セット入力とし、データ入力を常時ハイレベルとするデ
ィレイフリップフロップであるとよい。
からのバースト信号をクロック入力とし、セル信号をリ
セット入力とし、データ入力を常時ハイレベルとするデ
ィレイフリップフロップであるとよい。
【0010】上記の保持手段は、バースト信号とセル信
号を入力とするNOR回路と、NOR回路の出力をセッ
ト入力とし、セル信号をリセット入力とするセット−リ
セットフリップフロップとを有するとよい。
号を入力とするNOR回路と、NOR回路の出力をセッ
ト入力とし、セル信号をリセット入力とするセット−リ
セットフリップフロップとを有するとよい。
【0011】本発明のレーザダイオード発光検出回路
は、レーザダイオードの発光状態を検出するレーザダイ
オード発光検出回路であって、レーザダイオードの光信
号を検出して電流信号に変換する光検出手段と、光検出
手段からの電流信号を電圧信号に変換する電流−電圧変
換手段と、電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準
電圧発生手段からの基準電圧とを比較し、電流−電圧変
換手段からの電圧信号が基準電圧発生手段からの基準電
圧を越えた場合に所定の信号を出力する比較手段と、比
較手段に基準電圧を出力する基準電圧発生手段と、レー
ザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期
間の開始前に立ち上がり、発光期間の終了から立ち下が
るセル信号の出力を反転させる第1の出力反転手段と、
比較手段の出力をクロック入力とし、第1の出力反転手
段の出力をリセット入力とし、データ入力を常時ハイレ
ベルとするディレイフリップフロップとを有することを
特徴とする。
は、レーザダイオードの発光状態を検出するレーザダイ
オード発光検出回路であって、レーザダイオードの光信
号を検出して電流信号に変換する光検出手段と、光検出
手段からの電流信号を電圧信号に変換する電流−電圧変
換手段と、電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準
電圧発生手段からの基準電圧とを比較し、電流−電圧変
換手段からの電圧信号が基準電圧発生手段からの基準電
圧を越えた場合に所定の信号を出力する比較手段と、比
較手段に基準電圧を出力する基準電圧発生手段と、レー
ザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期
間の開始前に立ち上がり、発光期間の終了から立ち下が
るセル信号の出力を反転させる第1の出力反転手段と、
比較手段の出力をクロック入力とし、第1の出力反転手
段の出力をリセット入力とし、データ入力を常時ハイレ
ベルとするディレイフリップフロップとを有することを
特徴とする。
【0012】本発明のレーザダイオード発光検出回路
は、レーザダイオードの発光状態を検出するレーザダイ
オード発光検出回路であって、レーザダイオードの光信
号を検出して電流信号に変換する光検出手段と、光検出
手段からの電流信号を電圧信号に変換する電流−電圧変
換手段と、電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準
電圧発生手段からの基準電圧とを比較し、電流−電圧変
換手段からの電圧信号が基準電圧発生手段からの基準電
圧を越えた場合に所定の信号を出力する比較手段と、比
較手段に基準電圧を出力する基準電圧発生手段と、レー
ザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期
間の開始前に立ち下がり、発光期間の終了から立ち上が
るセル信号をリセット入力とし、比較手段の出力をクロ
ック入力とし、データ入力を常時ハイレベルとするディ
レイフリップフロップとを有することを特徴とする。
は、レーザダイオードの発光状態を検出するレーザダイ
オード発光検出回路であって、レーザダイオードの光信
号を検出して電流信号に変換する光検出手段と、光検出
手段からの電流信号を電圧信号に変換する電流−電圧変
換手段と、電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準
電圧発生手段からの基準電圧とを比較し、電流−電圧変
換手段からの電圧信号が基準電圧発生手段からの基準電
圧を越えた場合に所定の信号を出力する比較手段と、比
較手段に基準電圧を出力する基準電圧発生手段と、レー
ザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期
間の開始前に立ち下がり、発光期間の終了から立ち上が
るセル信号をリセット入力とし、比較手段の出力をクロ
ック入力とし、データ入力を常時ハイレベルとするディ
レイフリップフロップとを有することを特徴とする。
【0013】本発明のレーザダイオード発光検出回路
は、レーザダイオードの発光状態を検出するレーザダイ
オード発光検出回路であって、レーザダイオードの光信
号を検出して電流信号に変換する光検出手段と、光検出
手段からの電流信号を電圧信号に変換する電流−電圧変
換手段と、電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準
電圧発生手段からの基準電圧とを比較し、電流−電圧変
換手段からの電圧信号が基準電圧発生手段からの基準電
圧を越えた場合に所定の信号を出力する比較手段と、比
較手段に基準電圧を出力する基準電圧発生手段と、レー
ザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期
間の開始前に立ち上がり、発光期間の終了から立ち下が
るセル信号の出力を反転させる第2の出力反転手段と、
比較手段からの所定の信号の出力を反転させる第3の出
力反転手段と、第2の出力反転手段からの信号と第3の
出力反転手段からの信号を入力とし、両信号がローレベ
ルである場合に所定の信号を出力するNOR回路と、N
OR回路の出力をセット入力とし、第2の出力反転手段
からの信号をリセット入力とするセット−リセットフリ
ップフロップとを有することを特徴とする。
は、レーザダイオードの発光状態を検出するレーザダイ
オード発光検出回路であって、レーザダイオードの光信
号を検出して電流信号に変換する光検出手段と、光検出
手段からの電流信号を電圧信号に変換する電流−電圧変
換手段と、電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準
電圧発生手段からの基準電圧とを比較し、電流−電圧変
換手段からの電圧信号が基準電圧発生手段からの基準電
圧を越えた場合に所定の信号を出力する比較手段と、比
較手段に基準電圧を出力する基準電圧発生手段と、レー
ザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期
間の開始前に立ち上がり、発光期間の終了から立ち下が
るセル信号の出力を反転させる第2の出力反転手段と、
比較手段からの所定の信号の出力を反転させる第3の出
力反転手段と、第2の出力反転手段からの信号と第3の
出力反転手段からの信号を入力とし、両信号がローレベ
ルである場合に所定の信号を出力するNOR回路と、N
OR回路の出力をセット入力とし、第2の出力反転手段
からの信号をリセット入力とするセット−リセットフリ
ップフロップとを有することを特徴とする。
【0014】本発明のレーザダイオード発光検出回路
は、レーザダイオードの発光状態を検出するレーザダイ
オード発光検出回路であって、レーザダイオードの光信
号を検出して電流信号に変換する光検出手段と、光検出
手段からの電流信号を電圧信号に変換する電流−電圧変
換手段と、電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準
電圧発生手段からの基準電圧とを比較し、電流−電圧変
換手段からの電圧信号が基準電圧発生手段からの基準電
圧を越えた場合に所定の信号を出力をする比較手段と、
比較手段に基準電圧を出力する基準電圧発生手段と、比
較手段からの所定の信号の出力を反転させる第3の出力
反転手段と、レーザダイオードが発光と消灯とを連続し
て繰り返す発光期間の開始前に立ち下がり、発光期間の
終了から立ち上がるセル信号と、第3の出力反転手段か
らの信号を入力とし、両信号がローレベルである場合に
所定の信号を出力するNOR回路と、NOR回路の出力
をセット入力とし、セル信号をリセット入力とするセッ
ト−リセットフリップフロップとを有することを特徴と
する。
は、レーザダイオードの発光状態を検出するレーザダイ
オード発光検出回路であって、レーザダイオードの光信
号を検出して電流信号に変換する光検出手段と、光検出
手段からの電流信号を電圧信号に変換する電流−電圧変
換手段と、電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準
電圧発生手段からの基準電圧とを比較し、電流−電圧変
換手段からの電圧信号が基準電圧発生手段からの基準電
圧を越えた場合に所定の信号を出力をする比較手段と、
比較手段に基準電圧を出力する基準電圧発生手段と、比
較手段からの所定の信号の出力を反転させる第3の出力
反転手段と、レーザダイオードが発光と消灯とを連続し
て繰り返す発光期間の開始前に立ち下がり、発光期間の
終了から立ち上がるセル信号と、第3の出力反転手段か
らの信号を入力とし、両信号がローレベルである場合に
所定の信号を出力するNOR回路と、NOR回路の出力
をセット入力とし、セル信号をリセット入力とするセッ
ト−リセットフリップフロップとを有することを特徴と
する。
【0015】
【発明の実施の形態】次に添付図面を参照しながら本発
明のレーザダイオード発光検出回路に係る実施の形態を
詳細に説明する。図1〜図5を参照すると本発明のレー
ザダイオード発光検出回路に係る実施形態が示されてい
る。
明のレーザダイオード発光検出回路に係る実施の形態を
詳細に説明する。図1〜図5を参照すると本発明のレー
ザダイオード発光検出回路に係る実施形態が示されてい
る。
【0016】図1に本発明のレーザダイオード発光検出
回路に係る実施形態の構成を示す。図1に示されるよう
に本発明のレーザダイオード発光検出回路は、レーザダ
イオード1の光信号2を受光し、電流信号に変換するフ
ォトダイオード3と、フォトダイオード3の電流信号を
電圧信号に変換するI/V変換回路4と、I/V変換回
路4の出力電圧信号と基準電圧源5の基準電圧とを比較
するコンパレータ6と、コンパレータ6出力をクロック
入力として、データ入力を常時ハイレベルとするDFF
(Delay Flip-Flop)回路7と、CELL信号入力端子8
を入力としてDFF回路7のリセット入力へ出力するイ
ンバータ9とから構成される。なお、DFF回路7とイ
ンバータ9によりレーザダイオードの発光状態の保持と
保持の解除とを行う。
回路に係る実施形態の構成を示す。図1に示されるよう
に本発明のレーザダイオード発光検出回路は、レーザダ
イオード1の光信号2を受光し、電流信号に変換するフ
ォトダイオード3と、フォトダイオード3の電流信号を
電圧信号に変換するI/V変換回路4と、I/V変換回
路4の出力電圧信号と基準電圧源5の基準電圧とを比較
するコンパレータ6と、コンパレータ6出力をクロック
入力として、データ入力を常時ハイレベルとするDFF
(Delay Flip-Flop)回路7と、CELL信号入力端子8
を入力としてDFF回路7のリセット入力へ出力するイ
ンバータ9とから構成される。なお、DFF回路7とイ
ンバータ9によりレーザダイオードの発光状態の保持と
保持の解除とを行う。
【0017】上記構成の本実施形態は、レーザダイオー
ドが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期間におい
て、レーザダイオードの出力を検出後にレーザダイオー
ドの故障等によりレーザダイオードが一定時間発光しな
かった場合に対処するためにDFF回路7を用いて出力
をディジタル的に保持している。また、CELL信号に
より保持した出力を解除することを特徴とする。
ドが発光と消灯とを連続して繰り返す発光期間におい
て、レーザダイオードの出力を検出後にレーザダイオー
ドの故障等によりレーザダイオードが一定時間発光しな
かった場合に対処するためにDFF回路7を用いて出力
をディジタル的に保持している。また、CELL信号に
より保持した出力を解除することを特徴とする。
【0018】レーザダイオード1が発光と消灯を繰り返
す発光期間は既知であり、本実施形態はこの発光期間を
CELL信号によりDFF回路7に通知している。従っ
て、レーザダイオード1が発光期間に一定時間発光しな
いなどの問題を生じても、CELL信号が発光期間を示
す状態である限りは、DFF回路7がレーザダイオード
の発光状態を表す所定の出力状態を保持する。
す発光期間は既知であり、本実施形態はこの発光期間を
CELL信号によりDFF回路7に通知している。従っ
て、レーザダイオード1が発光期間に一定時間発光しな
いなどの問題を生じても、CELL信号が発光期間を示
す状態である限りは、DFF回路7がレーザダイオード
の発光状態を表す所定の出力状態を保持する。
【0019】なお、本実施形態においては、CELL信
号はレーザダイオードの発光期間の開始前に立ち上が
り、レーザダイオードの発光期間の終了から立ち下が
る。また、CELL信号が立ち上がってからレーザダイ
オードが発光を開始するまでの時間と、レーザダイオー
ドの発光期間が終了してからCELL信号が立ち下がる
までの時間は各々決められている。
号はレーザダイオードの発光期間の開始前に立ち上が
り、レーザダイオードの発光期間の終了から立ち下が
る。また、CELL信号が立ち上がってからレーザダイ
オードが発光を開始するまでの時間と、レーザダイオー
ドの発光期間が終了してからCELL信号が立ち下がる
までの時間は各々決められている。
【0020】次に、上述したレーザダイオード発光検出
回路の動作を図2に示された信号波形図を参照しながら
説明する。
回路の動作を図2に示された信号波形図を参照しながら
説明する。
【0021】図2に示されるように時刻T0でCELL
信号入力端子8の電圧がLレベルの時、DFF回路7は
リセットされ、出力端子10は強制的にLレベルとな
る。これはレーザダイオード1が非発光状態であること
を表している。
信号入力端子8の電圧がLレベルの時、DFF回路7は
リセットされ、出力端子10は強制的にLレベルとな
る。これはレーザダイオード1が非発光状態であること
を表している。
【0022】時刻T1において、CELL信号入力端子
8の電圧がLレベルからHレベルに変化すると、DFF
回路7のリセットが解除される。但し、レーザダイオー
ド1の出力がLレベルのために出力端子10の出力はL
レベルから変化しない。
8の電圧がLレベルからHレベルに変化すると、DFF
回路7のリセットが解除される。但し、レーザダイオー
ド1の出力がLレベルのために出力端子10の出力はL
レベルから変化しない。
【0023】時刻T2において、I/V変換回路4の出
力電圧が基準電圧源5からの基準電圧よりも低くなり、
レーザダイオード1の出力がHレベルになると、コンパ
レータ6の出力はHレベルとなる。このコンパレータ6
の出力がDFF回路7のクロックに入力されているた
め、時刻T2において、DFF回路7の出力はHレベル
に変化する。CELL信号入力端子8の電圧がLレベル
になり、DFF回路7がリセットされるまで出力端子1
0の出力はHレベルのままで変化しないので、レーザダ
イオード1出力に論理0が連続しても、レーザダイオー
ドの出力状態を保持することができる。
力電圧が基準電圧源5からの基準電圧よりも低くなり、
レーザダイオード1の出力がHレベルになると、コンパ
レータ6の出力はHレベルとなる。このコンパレータ6
の出力がDFF回路7のクロックに入力されているた
め、時刻T2において、DFF回路7の出力はHレベル
に変化する。CELL信号入力端子8の電圧がLレベル
になり、DFF回路7がリセットされるまで出力端子1
0の出力はHレベルのままで変化しないので、レーザダ
イオード1出力に論理0が連続しても、レーザダイオー
ドの出力状態を保持することができる。
【0024】時刻T3でレーザダイオード1からの光信
号2が終了し、その後、時刻T4にてCELL信号入力
端子8の電圧がHレベルからLレベルに変化すると、D
FF回路7出力はリセットされ、出力端子10はレーザ
ダイオード1が非発光状態を意味するLレベルの論理と
なる。
号2が終了し、その後、時刻T4にてCELL信号入力
端子8の電圧がHレベルからLレベルに変化すると、D
FF回路7出力はリセットされ、出力端子10はレーザ
ダイオード1が非発光状態を意味するLレベルの論理と
なる。
【0025】上述した実施形態は、検出したレーザダイ
オードの発光状態の論理を時定数回路を用いずにディジ
タル的に保持しているので、大容量のコンデンサが不要
となる。従って、LSIのチップサイズを縮小すること
ができる。さらには、時定数回路を使用していないた
め、大容量のコンデンサを放電する必要がなく、レーザ
ダイオードの発光状態の保持と保持解除はディジタル回
路だけで済むため高速で処理が可能となり、高速に故障
検出が可能となる。
オードの発光状態の論理を時定数回路を用いずにディジ
タル的に保持しているので、大容量のコンデンサが不要
となる。従って、LSIのチップサイズを縮小すること
ができる。さらには、時定数回路を使用していないた
め、大容量のコンデンサを放電する必要がなく、レーザ
ダイオードの発光状態の保持と保持解除はディジタル回
路だけで済むため高速で処理が可能となり、高速に故障
検出が可能となる。
【0026】なお、上述した第1の実施形態は、CEL
L信号をレーザダイオードの発光期間の開始の前に立ち
上がり、レーザダイオードの発光期間の終了から立ち下
がるように設定しているため、インバータ9を設けてC
ELL信号とは逆相の信号をDFF回路のリセット端子
に入力している。
L信号をレーザダイオードの発光期間の開始の前に立ち
上がり、レーザダイオードの発光期間の終了から立ち下
がるように設定しているため、インバータ9を設けてC
ELL信号とは逆相の信号をDFF回路のリセット端子
に入力している。
【0027】そこで、この第1の実施形態の変形例とし
て、CELL信号をレーザダイオードの発光期間の開始
前に立ち下がり、レーザダイオードの発光期間の終了か
ら立ち上がるように設定してもよい。このような設定と
することで、図3に示されるようにインバータ9を設け
ることなくDFF回路7をリセットすることができる。
て、CELL信号をレーザダイオードの発光期間の開始
前に立ち下がり、レーザダイオードの発光期間の終了か
ら立ち上がるように設定してもよい。このような設定と
することで、図3に示されるようにインバータ9を設け
ることなくDFF回路7をリセットすることができる。
【0028】次に、図4を参照しながら本発明のレーザ
ダイオード発光検出回路に係る第2の実施形態について
説明する。
ダイオード発光検出回路に係る第2の実施形態について
説明する。
【0029】図4に示された第2の実施形態のレーザダ
イオード発光検出回路は、DFF回路7に代えて、コン
パレータ6からの信号の出力を反転させるインバータ1
1と、インバータ11の出力信号とCELL信号の出力
を反転させるインバータ9の出力信号を入力とするNO
R回路12と、NOR回路の出力信号をセット入力と
し、インバータ9の出力信号をリセット入力とするRS
FF(Reset-Set Flip-Flop)回路13とを設けている。
イオード発光検出回路は、DFF回路7に代えて、コン
パレータ6からの信号の出力を反転させるインバータ1
1と、インバータ11の出力信号とCELL信号の出力
を反転させるインバータ9の出力信号を入力とするNO
R回路12と、NOR回路の出力信号をセット入力と
し、インバータ9の出力信号をリセット入力とするRS
FF(Reset-Set Flip-Flop)回路13とを設けている。
【0030】図4に示された第2の実施形態は、RSF
F回路13と、インバータ11と、NOR回路12で保
持回路を構成している。インバータ11とNOR回路1
2を使用することで、RSFF回路13ではコンパレー
タ9出力の論理よりもCELL信号入力端子8の論理が
優先される。
F回路13と、インバータ11と、NOR回路12で保
持回路を構成している。インバータ11とNOR回路1
2を使用することで、RSFF回路13ではコンパレー
タ9出力の論理よりもCELL信号入力端子8の論理が
優先される。
【0031】また、本実施形態においても、CELL信
号はレーザダイオードの発光期間の開始前に立ち上が
り、レーザダイオードの発光期間の終了から立ち下が
る。また、CELL信号が立ち下がってからレーザダイ
オードが発光を開始するまでの時間と、レーザダイオー
ドの発光期間が終了してからCELL信号が立ち下がる
までの時間も各々決められている。
号はレーザダイオードの発光期間の開始前に立ち上が
り、レーザダイオードの発光期間の終了から立ち下が
る。また、CELL信号が立ち下がってからレーザダイ
オードが発光を開始するまでの時間と、レーザダイオー
ドの発光期間が終了してからCELL信号が立ち下がる
までの時間も各々決められている。
【0032】図4に示された第2の実施形態のレーザダ
イオード発光検出回路は、CELL信号入力端子8の電
圧がLレベルである場合、RSFF回路13はリセット
される。よって出力端子10は強制的にLレベルとな
る。CELL信号入力端子8の電圧がLレベルからHレ
ベルに変化するとRSFF回路13のリセットが解除さ
れる。このとき、出力端子10の出力はLレベルのまま
である。ここで、コンパレータ6の出力がHレベルにな
ると、RSFF回路13の出力はセット状態となり、H
レベルに変化してその状態を保持する。よって、この状
態ではフォトダイオード3入力の論理に0が続いても出
力端子10の出力はHレベルのままで変化しない。CE
LL信号入力端子8の電圧がHレベルからLレベルに変
化すると、RSFF回路13出力はリセットされ、出力
端子10はLレベルに戻り、その状態を保持する。
イオード発光検出回路は、CELL信号入力端子8の電
圧がLレベルである場合、RSFF回路13はリセット
される。よって出力端子10は強制的にLレベルとな
る。CELL信号入力端子8の電圧がLレベルからHレ
ベルに変化するとRSFF回路13のリセットが解除さ
れる。このとき、出力端子10の出力はLレベルのまま
である。ここで、コンパレータ6の出力がHレベルにな
ると、RSFF回路13の出力はセット状態となり、H
レベルに変化してその状態を保持する。よって、この状
態ではフォトダイオード3入力の論理に0が続いても出
力端子10の出力はHレベルのままで変化しない。CE
LL信号入力端子8の電圧がHレベルからLレベルに変
化すると、RSFF回路13出力はリセットされ、出力
端子10はLレベルに戻り、その状態を保持する。
【0033】上述した実施形態においても、検出したレ
ーザダイオードの発光状態の論理を時定数回路を用いず
にディジタル的に保持しているため、大容量のコンデン
サが不要となる。従って、LSIのチップサイズを縮小
することができる。また、時定数回路を使用していない
ため、大容量のコンデンサを放電する必要がなく、レー
ザダイオードの発光状態の保持と保持解除はディジタル
回路だけで済むため、処理を高速化することができ、故
障を早期に検出することができる。
ーザダイオードの発光状態の論理を時定数回路を用いず
にディジタル的に保持しているため、大容量のコンデン
サが不要となる。従って、LSIのチップサイズを縮小
することができる。また、時定数回路を使用していない
ため、大容量のコンデンサを放電する必要がなく、レー
ザダイオードの発光状態の保持と保持解除はディジタル
回路だけで済むため、処理を高速化することができ、故
障を早期に検出することができる。
【0034】なお、上述した第2の実施形態の変形例と
して、CELL信号をレーザダイオードの発光期間の開
始前に立ち下がり、レーザダイオードの発光期間の終了
から立ち上がるように設定してもよい。このような設定
とすることで、図5に示されるようにインバータ9を設
けることなくRSFF回路13をリセットすることがで
きる。
して、CELL信号をレーザダイオードの発光期間の開
始前に立ち下がり、レーザダイオードの発光期間の終了
から立ち上がるように設定してもよい。このような設定
とすることで、図5に示されるようにインバータ9を設
けることなくRSFF回路13をリセットすることがで
きる。
【0035】また、コンパレータ6は、I/V変換回路
4からの電圧信号が基準電圧を越えた場合にハイレベル
に遷移する信号を出力しているが、逆にローレベルに立
ち下がる信号を出力するものであってもよい。この場
合、インバータ11を設ける必要がなくなる。
4からの電圧信号が基準電圧を越えた場合にハイレベル
に遷移する信号を出力しているが、逆にローレベルに立
ち下がる信号を出力するものであってもよい。この場
合、インバータ11を設ける必要がなくなる。
【0036】上述した実施形態は本発明の好適な実施の
形態である。但し、これに限定されるものではなく、本
発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施が
可能である。
形態である。但し、これに限定されるものではなく、本
発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施が
可能である。
【0037】
【発明の効果】以上の説明より明らかなように本発明の
レーザダイオード発光検出回路は、レーザダイオードが
発光と消灯とを連続して繰り返す発光期間の開始前に第
3の状態に遷移し、発光期間の終了と共に第4の状態に
遷移するセル信号が第3の状態の期間のバースト信号の
第1の状態への遷移に同期してレーザダイオードの発光
状態を表す所定の出力状態を保持し、セル信号の第4の
状態への遷移に同期して保持した所定の出力状態を解除
する保持手段を有することにより、発光期間にレーザダ
イオードの発光状態が不安定になっても出力を保持する
ことができる。
レーザダイオード発光検出回路は、レーザダイオードが
発光と消灯とを連続して繰り返す発光期間の開始前に第
3の状態に遷移し、発光期間の終了と共に第4の状態に
遷移するセル信号が第3の状態の期間のバースト信号の
第1の状態への遷移に同期してレーザダイオードの発光
状態を表す所定の出力状態を保持し、セル信号の第4の
状態への遷移に同期して保持した所定の出力状態を解除
する保持手段を有することにより、発光期間にレーザダ
イオードの発光状態が不安定になっても出力を保持する
ことができる。
【0038】また、保持手段がバースト信号をクロック
入力とし、セル信号をリセット入力とし、データ入力を
常時ハイレベルとするディレイフリップフロップである
ことにより、検出したレーザダイオードの発光状態の論
理をディジタル的に保持することができる。従って、レ
ーザダイオードの発光状態の論理を保持するための大容
量のコンデンサを用いた時定数回路が不要となり、LS
Iのチップサイズを縮小することができる。また、レー
ザダイオードの発光状態の保持と保持解除をディジタル
回路だけで行うことが可能となるため、高速で処理を行
うことが可能となり、レーザダイオードの故障検出時間
を短縮することができる。
入力とし、セル信号をリセット入力とし、データ入力を
常時ハイレベルとするディレイフリップフロップである
ことにより、検出したレーザダイオードの発光状態の論
理をディジタル的に保持することができる。従って、レ
ーザダイオードの発光状態の論理を保持するための大容
量のコンデンサを用いた時定数回路が不要となり、LS
Iのチップサイズを縮小することができる。また、レー
ザダイオードの発光状態の保持と保持解除をディジタル
回路だけで行うことが可能となるため、高速で処理を行
うことが可能となり、レーザダイオードの故障検出時間
を短縮することができる。
【0039】また、保持手段がバースト信号とセル信号
を入力とするNOR回路と、NOR回路の出力をセット
入力とし、セル信号をリセット入力とするセット−リセ
ットフリップフロップとを有することにより、検出した
レーザダイオードの発光状態の論理をディジタル的に保
持することができる。従って、レーザダイオードの発光
状態の論理を保持するための大容量のコンデンサを用い
た時定数回路が不要となり、LSIのチップサイズを縮
小することができる。また、レーザダイオードの発光状
態の保持と保持解除をディジタル回路だけで行うことが
可能となるため、高速で処理を行うことが可能となり、
レーザダイオードの故障検出時間を短縮することができ
る。
を入力とするNOR回路と、NOR回路の出力をセット
入力とし、セル信号をリセット入力とするセット−リセ
ットフリップフロップとを有することにより、検出した
レーザダイオードの発光状態の論理をディジタル的に保
持することができる。従って、レーザダイオードの発光
状態の論理を保持するための大容量のコンデンサを用い
た時定数回路が不要となり、LSIのチップサイズを縮
小することができる。また、レーザダイオードの発光状
態の保持と保持解除をディジタル回路だけで行うことが
可能となるため、高速で処理を行うことが可能となり、
レーザダイオードの故障検出時間を短縮することができ
る。
【図1】本発明のレーザダイオード発光検出回路に係る
第1の実施形態の構成を表す図である。
第1の実施形態の構成を表す図である。
【図2】第1の実施形態の信号波形を表す図である。
【図3】第1の実施形態の変形例の構成を表す図であ
る。
る。
【図4】本発明のレーザダイオード発光検出回路に係る
第2の実施形態の構成を表す図である。
第2の実施形態の構成を表す図である。
【図5】第2の実施形態の変形例の構成を表す図であ
る。
る。
【図6】従来のレーザダイオード発光検出回路の構成を
表す図である。
表す図である。
【図7】従来のレーザダイオード発光検出回路の信号波
形を表す図である。
形を表す図である。
1 レーザダイオード 2 光信号 3 フォトダイオード 4 I/V変換回路 5 基準電圧源 6 コンパレータ 7 DFF回路 8 CELL信号入力端子 9 インバータ 10 出力端子 11 インバータ 12 NOR回路 13 RSFF回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大塚 康弘 宮城県黒川郡大和町吉岡字雷神2番地 宮 城日本電気株式会社内 Fターム(参考) 5F073 EA12 GA38
Claims (7)
- 【請求項1】 レーザダイオードの発光状態を検出する
レーザダイオード発光検出回路であって、 前記レーザダイオードの発光タイミングに同期して第1
の状態に遷移し、該レーザダイオードの消灯タイミング
に同期して第2の状態に遷移するバースト信号を生成す
るバースト信号生成手段と、 前記レーザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返
す発光期間の開始前に第3の状態に遷移し、前記発光期
間の終了から第4の状態に遷移するセル信号が前記第3
の状態の期間の前記バースト信号の前記第1の状態への
遷移に同期して前記レーザダイオードの発光状態を表す
所定の出力状態を保持し、前記セル信号の第4の状態へ
の遷移に同期して保持した前記所定の出力状態を解除す
る保持手段と、 を有することを特徴とするレーザダイオード発光検出回
路。 - 【請求項2】 前記保持手段は、 前記バースト信号生成手段からの前記バースト信号をク
ロック入力とし、前記セル信号をリセット入力とし、デ
ータ入力を常時ハイレベルとするディレイフリップフロ
ップであることを特徴とする請求項1記載のレーザダイ
オード発光検出回路。 - 【請求項3】 前記保持手段は、 前記バースト信号と前記セル信号を入力とするNOR回
路と、 前記NOR回路の出力をセット入力とし、前記セル信号
をリセット入力とするセット−リセットフリップフロッ
プとを有することを特徴とする請求項1記載のレーザダ
イオード発光検出回路。 - 【請求項4】 レーザダイオードの発光状態を検出する
レーザダイオード発光検出回路であって、 前記レーザダイオードの光信号を検出して電流信号に変
換する光検出手段と、 前記光検出手段からの電流信号を電圧信号に変換する電
流−電圧変換手段と、 前記電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準電圧発
生手段からの基準電圧とを比較し、前記電流−電圧変換
手段からの電圧信号が前記基準電圧発生手段からの前記
基準電圧を越えた場合に所定の信号を出力する比較手段
と、 前記比較手段に前記基準電圧を出力する前記基準電圧発
生手段と、 前記レーザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返
す発光期間の開始前に立ち上がり、前記発光期間の終了
から立ち下がるセル信号の出力を反転させる第1の出力
反転手段と、 前記比較手段の出力をクロック入力とし、前記第1の出
力反転手段の出力をリセット入力とし、データ入力を常
時ハイレベルとするディレイフリップフロップと、 を有することを特徴とするレーザダイオード発光検出回
路。 - 【請求項5】 レーザダイオードの発光状態を検出する
レーザダイオード発光検出回路であって、 前記レーザダイオードの光信号を検出して電流信号に変
換する光検出手段と、 前記光検出手段からの電流信号を電圧信号に変換する電
流−電圧変換手段と、 前記電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準電圧発
生手段からの基準電圧とを比較し、前記電流−電圧変換
手段からの電圧信号が前記基準電圧発生手段からの前記
基準電圧を越えた場合に所定の信号を出力する比較手段
と、 前記比較手段に前記基準電圧を出力する前記基準電圧発
生手段と、 前記レーザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返
す発光期間の開始前に立ち下がり、前記発光期間の終了
から立ち上がるセル信号をリセット入力とし、前記比較
手段の出力をクロック入力とし、データ入力を常時ハイ
レベルとするディレイフリップフロップと、 を有することを特徴とするレーザダイオード発光検出回
路。 - 【請求項6】 レーザダイオードの発光状態を検出する
レーザダイオード発光検出回路であって、 前記レーザダイオードの光信号を検出して電流信号に変
換する光検出手段と、 前記光検出手段からの電流信号を電圧信号に変換する電
流−電圧変換手段と、 前記電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準電圧発
生手段からの基準電圧とを比較し、前記電流−電圧変換
手段からの電圧信号が前記基準電圧発生手段からの前記
基準電圧を越えた場合に所定の信号を出力する比較手段
と、 前記比較手段に前記基準電圧を出力する前記基準電圧発
生手段と、 前記レーザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返
す発光期間の開始前に立ち上がり、前記発光期間の終了
から立ち下がるセル信号の出力を反転させる第2の出力
反転手段と、 前記比較手段からの所定の信号の出力を反転させる第3
の出力反転手段と、 前記第2の出力反転手段からの信号と前記第3の出力反
転手段からの信号を入力とし、両信号がローレベルであ
る場合に所定の信号を出力するNOR回路と、 前記NOR回路の出力をセット入力とし、前記第2の出
力反転手段からの信号をリセット入力とするセット−リ
セットフリップフロップと、 を有することを特徴とするレーザダイオード発光検出回
路。 - 【請求項7】 レーザダイオードの発光状態を検出する
レーザダイオード発光検出回路であって、 前記レーザダイオードの光信号を検出して電流信号に変
換する光検出手段と、 前記光検出手段からの電流信号を電圧信号に変換する電
流−電圧変換手段と、 前記電流−電圧変換手段からの電圧信号と、基準電圧発
生手段からの基準電圧とを比較し、前記電流−電圧変換
手段からの電圧信号が前記基準電圧発生手段からの前記
基準電圧を越えた場合に所定の信号を出力をする比較手
段と、 前記比較手段に前記基準電圧を出力する前記基準電圧発
生手段と、 前記比較手段からの所定の信号の出力を反転させる第3
の出力反転手段と、 前記レーザダイオードが発光と消灯とを連続して繰り返
す発光期間の開始前に立ち下がり、前記発光期間の終了
から立ち上がるセル信号と、前記第3の出力反転手段か
らの信号を入力とし、両信号がローレベルである場合に
所定の信号を出力するNOR回路と、 前記NOR回路の出力をセット入力とし、前記セル信号
をリセット入力とするセット−リセットフリップフロッ
プと、 を有することを特徴とするレーザダイオード発光検出回
路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11007005A JP2000208867A (ja) | 1999-01-13 | 1999-01-13 | レ―ザダイオ―ド発光検出回路 |
US09/472,949 US6445721B1 (en) | 1999-01-13 | 1999-12-27 | Laser diode light emission sensing circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11007005A JP2000208867A (ja) | 1999-01-13 | 1999-01-13 | レ―ザダイオ―ド発光検出回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000208867A true JP2000208867A (ja) | 2000-07-28 |
Family
ID=11653963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11007005A Pending JP2000208867A (ja) | 1999-01-13 | 1999-01-13 | レ―ザダイオ―ド発光検出回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6445721B1 (ja) |
JP (1) | JP2000208867A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102010025782A1 (de) * | 2010-07-01 | 2012-01-05 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Elektronische Schaltung zur optischen Ansteuerung eines Flip Flop |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0361966A (ja) * | 1989-07-31 | 1991-03-18 | Ricoh Co Ltd | 半導体レーザの出力制御装置 |
JP2941353B2 (ja) | 1990-04-27 | 1999-08-25 | 富士通株式会社 | 半導体レーザ駆動回路 |
JP3681447B2 (ja) * | 1995-10-25 | 2005-08-10 | 富士通株式会社 | 光波長安定化システム |
US5754577A (en) * | 1996-07-23 | 1998-05-19 | Broadband Communications Products, Inc. | Compensation for variations in temperature and aging of laser diode by use of small signal, square-law portion of transfer function of diode detection circuit |
US5986687A (en) * | 1996-11-11 | 1999-11-16 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Laser scan based recording apparatus |
US6229833B1 (en) * | 1997-10-16 | 2001-05-08 | Fujitsu Limited | Laser diode protecting circuit and laser driving current control circuit |
JPH11266049A (ja) * | 1998-03-17 | 1999-09-28 | Fujitsu Ltd | 発光素子駆動装置 |
-
1999
- 1999-01-13 JP JP11007005A patent/JP2000208867A/ja active Pending
- 1999-12-27 US US09/472,949 patent/US6445721B1/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
US6445721B1 (en) | 2002-09-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030617 |