JPH05243987A - 位相比較器 - Google Patents

位相比較器

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Publication number
JPH05243987A
JPH05243987A JP4042654A JP4265492A JPH05243987A JP H05243987 A JPH05243987 A JP H05243987A JP 4042654 A JP4042654 A JP 4042654A JP 4265492 A JP4265492 A JP 4265492A JP H05243987 A JPH05243987 A JP H05243987A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
phase comparator
phase
low
delay
Prior art date
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Pending
Application number
JP4042654A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuaki Masuda
和明 増田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority to JP4042654A priority Critical patent/JPH05243987A/ja
Publication of JPH05243987A publication Critical patent/JPH05243987A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】アナログPLLに使う位相比較器において、位
相比較の際に内部遅延から発生するみかけ上の進み遅れ
同時検出をなくして、低ジッタのアナログPLLを実現
する。 【構成】従来の位相比較器3の進み,遅れ検出出力にひ
げを防止する回路即ち、インバータ4,5を接続するこ
とにより、進みまたは遅れの検出が終了する際に他方で
発生するひげを位相比較器の外へ伝えることをなくす。
これにより、本来禁止されている同期アクティブ区間を
完全になくす。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は位相比較器に関し、特に
アナログ・フェイズ・ロック・ループ(PLL)の位相
比較器に関する。
【0002】
【従来の技術】図3(a)は従来の位相比較器の一例を
示す回路図である。図3(a)において、基準入力端子
1と、比較信号入力端子2と、進み検出出力端子8と、
遅れ検出出力端子9とを備え、インバータ5とNAND
回路11との組み合わせで、構成されている。
【0003】図3(b)は図3(a)のタイム図である
(例えば、IEEE SC−22No.2 Apr’8
7 pp255〜261)。
【0004】図3(a),(b)において、比較信号入
力端子2からの信号がハイレベルのとき、基準信号入力
端子1からの信号がハイレベルからロウレベルに変わる
と、進みを検出し、進み検出出力端子8がロイレベルに
なり、比較信号入力端子2の信号がロウレベルにある
と、進み検出出力端子8はハイレベルにもどる。即ち、
進み検出パルスP1を得る。
【0005】同様に、基準信号入力端子1からの信号が
ハイレベルのとき、比較信号入力端子2からの信号がハ
イレベルからロウレベルに変わると、遅れを検出し、遅
れ検出出力端子9がロウレベルになり、基準信号入力端
子1の信号がロウレベルになると、遅れ検出出力端子9
はハイレベルにもどる。即ち、遅れ検出パルスP2を得
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来の位相比較回路で
は、進み検出中で進み検出出力端子8がロウレベルにな
っている状態で、比較信号2がハイレベルからロウレベ
ルに変わると、進み検出出力端子8がハイレベルにもど
るが、その際に内部の遅延により遅れ検出信号9にひげ
N1(本来ハイレベルになるべきとき、一時的に電圧が
下る現象)が発生する。
【0007】従来例においても、インバータを追加し遅
延調整を行なってきたが、動作条件や製造ばらつき等に
よって完全になくすことができず、幅2〜3ns,電圧
値0.6〜0.8VのひげN1,N2はまだ発生してし
まう。この間は、みかけ上進み遅れを両方検出してしま
うことになる。遅れ検出中にも同様の現象が発生する。
【0008】特に、〔PCM CODEC〕などの様
に、高精度のA/D,D/Aに使用するクロックは、ノ
イズ特性を確保するために、アナログPLLのジッタ幅
を5nsにしなくてはならない。
【0009】本発明の目的は、このような欠点を除去
し、進み検出出力端子がロウレベルの間は遅れ検出出力
端子を常にハイレベルに保ち、遅れ検出出力端子がロウ
レベルの間は進み検出出力端子を常にハイレベルに保つ
ようにした位相比較器を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の構成は、基準信
号と比較信号との2つの入力端子と、第1の出力として
位相進み検出のときロウレベルを、位相遅れ検出と位相
同相のときハイレベルに出力し、第2の出力として位相
遅れ検出のときロウレベルを、位相進み検出と位相同期
のときハイレベルを出力する演算回路とを備えた位相比
較器において、前記演算回路の第1の出力及び第2の出
力に、ハイレベルからロウレベル側に発生するグリッジ
ノイズ除去回路を接続したことを特徴とする。
【0011】
【実施例】図1(a)は本発明の第1の実施例の位相比
較器のブロック図である。図1(b)は図1(a)の動
作を示すタイム図である。図1(c)は図1(a)の低
電位シュレッシュホールドのインバータ(4)の入出力
特性図である。
【0012】図1(b)において、図1(a)の入力端
子1,入力端子2,出力6,出力7,出力端子8,出力
端子9の各波形が示されている。図1(c)において、
横軸は入力電圧Vinであり、縦軸は出力電圧Vout
である。入力電圧Vinが2.0V前後で、出力が0V
かVDD電圧となる。
【0013】図1(a)において、従来の位相比較器3
の進み出力6と遅れ出力7とには、それぞれ低電位のし
きい値のインバータ4が接続され、その出力にはインバ
ータ5がそれぞれ接続されている。
【0014】この低電位のしきい値のインバータ4は、
図1(c)に示すように通常のインバータより低めにシ
ュレッシュホールドレベルを設定したインバータであ
り、この例では2.0Vとした。図1(b)に示すよう
に、進み出力6と遅れ出力7にひげN1,N2が発生し
ても、低電位シュレッシュホールドのインバータ4の出
力には伝わらないので、進み検出出力端子8と遅れ検出
出力端子9とには、ハイレベルかロウレベルの信号しか
出力されない。
【0015】図2(a)は本発明の第2の実施例の位相
比較器のブロック図であり、図2(b)は図2(a)の
タイム図である。
【0016】図2(a)において、本実施例は、従来の
位相比較器3の進み出力6と遅れ出力7とに、それぞれ
RS型フリップフロップ10が接続されており、セット
(S)入力は従来の位相比較器3の出力6,7を直接接
続し、リセット(R)入力にはインバータ5を間に入れ
て接続されている。図2(b)に示すように、進み出力
6または遅れ出力7にひげN1,N2が発生した場合、
RS型フリップフロップ10にリセットがかからないよ
うに、インバータ5で波形を整形してから入力する。一
方、セット側は進み検出出力端子8と遅れ検出出力端子
9を本来ハイレベルに保ちたいため、パルスが入力して
も影響しない。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、従来の
位相比較器の出力にハイレベルからロウレベル側に発生
するグリッジノイズ除去回路を追加したので、ひげが発
生しなくなったという結果を有し、したがって、本発明
の位相比較器を用いることで、低ジッタのアナログPL
Lを実現できるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a),(b),(c)はそれぞれ本発明の第
1の実施例の位相比較器を示すそれぞれブロック図、タ
イム図、特性図である。
【図2】(a),(b)は本発明の第2の実施例の位相
比較器を示すそれぞれブロック図、タイム図である。
【図3】(a),(b)は従来の位相比較器を示すそれ
ぞれブロック図、タイム図である。
【符号の説明】
1 基準信号入力端子 2 比較信号入力端子 3 従来の位相比較器 4 低電位しきい値のインバータ 5 インバータ 6 進み出力 7 遅れ出力 8 進み検出出力端子 9 遅れ検出出力端子 10 RS型フリップフロップ 11 NAND回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準信号と比較信号との2つの入力端子
    と、第1の出力として位相進み検出のときロウレベル
    を、位相遅れ検出と位相同相のときハイレベルに出力
    し、第2の出力として位相遅れ検出のときロウレベル
    を、位相進み検出と位相同期のときハイレベルを出力す
    る演算回路とを備えた位相比較器において、前記演算回
    路の第1の出力及び第2の出力に、ハイレベルからロウ
    レベル側に発生するグリッジノイズ除去回路を接続した
    ことを特徴とする位相比較器。
  2. 【請求項2】 グリッジノイズ除去回路が、しきい値の
    低いインバータを有する請求項1記載の位相比較器。
  3. 【請求項3】 グリッジノイズ除去回路が、RS型フリ
    ップフロップを有する請求項1記載の位相比較器。
JP4042654A 1992-02-28 1992-02-28 位相比較器 Pending JPH05243987A (ja)

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JP4042654A JPH05243987A (ja) 1992-02-28 1992-02-28 位相比較器

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JPH05243987A true JPH05243987A (ja) 1993-09-21

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ID=12641999

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03101520A (ja) * 1989-09-14 1991-04-26 Hitachi Ltd Pll回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03101520A (ja) * 1989-09-14 1991-04-26 Hitachi Ltd Pll回路

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