JP2000187853A - 光ディスクサーボ制御方法および光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクの偏芯量や面振れが大きいときで
も２軸アクチュエータのフォーカスコイルの損傷を回避
すると同時に光学系やレーザを保護することを目的とす
る光ディスクサーボ制御方法および光ディスク装置を提
案するものである。 【解決手段】 光ディスクサーボ制御方法は、フォーカ
スコイルのコイル電流が所定値となったとき、フォーカ
スエラー信号に基づいてゲインを低くなるように再設定
するようにしたので、フォーカスコイル電流が所定値を
検出したとき、光ディスク１の偏芯量または面振れが大
きいことを検出して、フォーカスエラー信号のデフォー
カス量に応じてゲインを下げることができ、２軸アクチ
ュエータ４のフォーカスコイルの損傷を防止し、光学系
３や半導体レーザを保護することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクスキュ
ー制御方法および光ディスク装置に関し、例えば円盤状
記録媒体としての光ディスク（ＭＯ）、コンパクトディ
スク（ＣＤ）、追記型コンパクトディスク（ＣＤ−
Ｒ）、ディジタルビデオディスク（ＤＶＤ）に記録され
た情報の記録または再生を行う際の、フォーカスサーボ
に適用することができる。

【０００２】

【従来の技術】近年の光ディスクの分野においては、従
来のＣＤフォーマットに加え、有機色素系の色素膜を塗
布した追記型光ディスク（ＣＤ−Ｒ）、磁気ディスク
（ＭＯ），相変化光ディスク（ＰＤ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，
Ｐｈａｓｅ−Ｃｈａｎｇｅ Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）な
どのさまざまな光ディスクが存在している。

【０００３】これらの光ディスクの形状、光ピックアッ
プの光学的周波数特性、およびこの光ディスクの再生装
置の周波数特性が温度変化や経時変化の影響により変化
することによって、光ディスク再生装置の各部の状態が
ばらつくことがあった。

【０００４】上述した周波数特性が変化しても光ディス
ク再生装置の各部の状態がばらつくことをなくすことを
目的とする従来の技術として、特開平９−２６５６２９
号公報には、再生ＲＦ信号とＲＦ３Ｔ信号のエンベロー
プ検出器を設け、これらの検出信号の比によってＲＦ信
号を処理するトランスバーサルフィルタのタップゲイン
を最適にして再生信号の品質を最良とするように構成
し、また、フォーカスサーボ制御を最適化した後、再生
ＲＦ信号のジッタを測定し、ジッタの値が最良とるよう
にＲＦ信号を処理するトランスバーサルフィルタのタッ
プゲインを最適にするように構成する光ディスク再生装
置及び光ディスク再生装置の制御方法が開示されてい
る。

【０００５】また、特開平６−１２６７３号公報には、
光ディスク表面の傷や異物などによる急激な面振れ方向
の変動があっても、記録面に適正な実効パワーの光ビー
ムを照射でき、安定した記録、再生、もしくは消去が行
えることを目的として、フォーカシングエラー回路から
出力されるフォーカシングエラー信号をサーボ回路を介
して基準パワー発生回路に入力し、フォーカシングエラ
ー信号の急激な変動に対応して、半導体レーザから出力
されるレーザ光の発振パワーをオートレーザパワーコン
トローラにより制御する光ディスク装置が開示されてい
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の特開平
９−２６５６２９号公報記載の光ディスク再生装置で
は、ジッタを最小化することにより最適化しようとする
ものであり、また、特開平６−１２６７３号公報記載の
光ディスク装置では、面振れがあったときにレーザ光の
発振パワー補正するものである。

【０００７】しかし、ジッタや面振れがあるとフォーカ
スサーボ回路は２軸アクチュエータのフォーカスコイル
に大きな電流を流してジッタによる変動に追従しようと
する。また、偏芯や面振れを検出したとき、スピンドル
サーボ回路はスピンドルモータは必要以上にスピンドル
モータの回転数を下げるように制御する。

【０００８】このため、２軸アクチュエータのフォーカ
スコイルやスピンドルモータが高温に加熱して、コイル
の損傷や光学系のレンズを膨張させて光学特性を狂わし
てしまい、また、焦点ズレのレーザ光の照射により半導
体レーザの寿命を縮めてしまうという不都合があった。

【０００９】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、光ディスクの偏芯量や面振れが大きいときでも２軸
アクチュエータのフォーカスコイルの損傷を回避すると
同時に光学系やレーザを保護することを目的とする光デ
ィスクサーボ制御方法および光ディスク装置を提案しよ
うとするものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明の光ディスクサーボ制御方法は、光ディスク上
に、光学ピックアップにより光スポットを照射すること
により、情報を記録し、または情報を再生するために、
上記光学ピックアップのフォーカスコイルを用いて上記
光ディスクに対する上記光スポットのフォーカスサーボ
制御を行う光ディスクサーボ制御方法において、上記フ
ォーカスコイルのコイル電流が所定値となったとき、上
記フォーカスサーボ制御のフォーカスエラー信号に基づ
いて上記フォーカスサーボ制御のゲインを低くなるよう
に再設定するようにしたものである。

【００１１】また、本発明の光ディスクサーボ制御方法
は、光ディスク上に、光学ピックアップにより光スポッ
トを照射することにより、情報を記録し、または情報を
再生するために、上記光学ピックアップのフォーカスコ
イルを用いて上記光ディスクに対する上記光スポットの
フォーカスサーボ制御を行う光ディスクサーボ制御方法
において、上記フォーカスコイルのコイル電流が所定値
となったとき、上記情報の再生ＲＦ信号のジッタまたは
エラーレートに基づいて上記フォーカスサーボ制御のゲ
インを低くなるように再設定するようにしたものであ
る。

【００１２】また、本発明の光ディスク装置は、光ディ
スク上に光学ピックアップによりレーザースポットを照
射することにより、情報を記録し、または情報を再生す
るために、上記光学ピックアップのフォーカスコイルを
用いて上記光ディスクに対する上記光スポットのフォー
カスサーボ制御を行う光ディスク装置において、上記フ
ォーカスコイルのコイル電流が所定値となったことを検
出するコイル電流検出手段と、上記フォーカスサーボ制
御のフォーカスエラー信号、または上記情報の再生ＲＦ
信号のジッターまたはエラーレートに基づいて上記フォ
ーカスサーボ制御のゲインを低くなるように再設定する
ゲイン設定手段とを備えるようにしたものである。

【００１３】本発明の光ディスクサーボ制御方法および
光ディスク装置によれば、以下の作用をする。フォーカ
スサーボ回路のフォーカスエラー信号の検出を行い、ま
たは光ディスクのジッタまたはエラーレートの測定を行
う。

【００１４】次に、フォーカスエラー信号からデフォー
カス量の検出を行う。または、ジッタまたはエラーレー
トからジッタ悪化量またはエラーレート悪化量を検出す
る。

【００１５】そして、フォーカスサーボ回路のサーボゲ
インを降下させて、デフォーカス量またはジッタ悪化量
は許容範囲内の最大値であるか否かを判断する。デフォ
ーカス量またはジッタ悪化量の許容範囲内でサーボゲイ
ンを降下する。そして、このとき、フォーカスエラー信
号のデフォーカス量またはジッタ悪化量が許容範囲内の
最大値であるか否かを判断する。

【００１６】フォーカスサーボのサーボゲインを下げ
て、２軸アクチュエータのフォーカスコイルの電流値を
下げていった結果、ジッタが許容範囲の最大値まで悪化
した状態となる。このようにして、エラーが発生しない
またはエラー訂正可能な最大レベルまで、ジッタの悪化
を許容して、フォーカスコイルの発熱を抑えるようにす
る。

【００１７】面振れがあるとフォーカスサーボ回路は２
軸アクチュエータのフォーカスコイルに大きな電流を流
して面振れによる変動に追従しようとするが、許容され
得る限りフォーカスサーボのサーボゲインを下げて、２
軸アクチュエータのフォーカスコイルの電流値を下げて
発熱を抑えるようにする。このようにすることにより、
２軸アクチュエータのフォーカスコイルやスピンドルモ
ータが高温に加熱することがなくなる。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、適宜図面を参照しながら本
発明の実施の形態の光ディスク装置を詳述する。

【００１９】図１は、本実施の形態に係る光ディスク駆
動装置の構成を示すブロック図である。サーボ回路８の
スピンドルサーボ系によりサーボ制御されたスピンドル
モーター２により回転される光ディスク１に光学系３の
光学ピックアップからレーザービームが照射される。図
示しないフォーカスサーボ系により制御されるフォーカ
スサーボをオンにした後に、サーボ回路８のトラッキン
グサーボ系からの駆動信号をアンプにより増幅して光学
系３の光学ピックアップの２軸アクチュエータ４のトラ
ッキングコイルに印加して、アクチュエータがトラック
方向に移動しているとき、光ディスク１からの反射光に
より光学系３のフォトディテクタから検出信号が検出さ
れる。

【００２０】サーボ回路８により生成されたトラッキン
グエラー信号はアンプにより増幅されてトラッキングア
クチュエータドライブ信号とされ、光学系３の光学ピッ
クアップの２軸アクチュエータ４のトラッキングコイル
に印加される。また、サーボ回路８により生成されたフ
ォーカスエラー信号はアンプにより増幅されてフォーカ
スアクチュエータドライブ信号とされ、光学系３の光学
ピックアップの２軸アクチュエータ４のフォーカスコイ
ルに印加される。

【００２１】なお、光学系３の光学ピックアップにおい
ては、対物レンズは、電磁力を用いた２軸アクチュエー
タ４のフォーカスコイルによりフォーカス方向（光ディ
スク１に近接または離隔する方向）およびトラッキング
コイルによりトラッキング方向（光ディスクのトラック
を横断する方向）に独立に移動される。

【００２２】また、この光学系３の光学ピックアップ
は、図示しないスライド（スレッド）モータにより、光
ディスク１の回転に同期して光ディスク１の外周方向に
順次移動し、これによりレーザービームによる照射位置
を順次光ディスク１の外周方向に変位させる。

【００２３】なお、ＲＦアンプ５は光ディスク１からの
反射光から再生ＲＦ信号を生成する。なお、再生ＲＦ信
号はデータ信号処理部６において復調処理され、誤り訂
正符号を検出して誤り訂正処理を施した後、デインター
リーブ処理、ＥＦＭ−ＰＬＵＳ復調処理され、そして、
復調信号は、出力可能なレベルまで増幅されて、出力さ
れる。

【００２４】ここで、本実施の形態においては、サーボ
回路８には、サーボ回路８のフォーカスサーボ回路から
のフォーカスコイル電流の値に基づいて光ディスク１の
偏芯量または面振れが大きいことを検出するコイル電流
検出部１０が設けられている。また、サーボ回路８に
は、フォーカスサーボ回路のゲインを設定すると共に、
コイル電流検出部１０により光ディスク１の偏芯量また
は面振れが大きいことを検出したときに、デフォーカス
量またはジッタ悪化許容範囲でサーボゲインを降下させ
るゲイン設定部９が設けられている。

【００２５】また、コントロール部７は、ＲＦアンプ５
からのＲＦ信号に基づいてサーボ回路８に送る制御信
号、コイル電流検出部１０からの検出信号によりサーボ
回路８のゲイン設定部９に送るゲイン設定の制御信号等
を生成する他、データ信号処理部６の信号処理や、各部
の動作を制御する。

【００２６】図２は、本実施の形態のゲイン設定部の構
成を示すブロック図である。図２において、図１に示し
たゲイン設定部９は、フォーカスエラー信号を検出する
フォーカスエラー信号検出部２１と、光ディスクのジッ
タまたはエラーレートを測定するジッタまたはエラーレ
ート測定部２２と、フォーカスエラー信号のデフォーカ
ス量またはジッタ悪化量が許容範囲内に収まるか否かを
判定するデフォーカスまたはジッタ悪化許容判定部２３
と、デフォーカス量またはジッタ悪化量の許容範囲内で
サーボゲインを降下するサーボゲイン降下部２４と、を
有して構成されている。

【００２７】図３は、本実施の形態のサーボ制御の動作
を示すフローチャートである。図３において、スタート
して、まず、ステップＳ１でコントロール部７は、光デ
ィスク１が装置の所定位置に挿入されたことを認識す
る。

【００２８】ステップＳ２でコントロール部７は、サー
ボ回路８のサーボゲインを設定する。具体的には、コン
トロール部７は、フォーカスサーボ、スピンドルサーボ
のサーボゲインを設定する。なお、サーボエラー信号の
振幅を規定する初期値のゲインを製造時に設定してお
く。ゲインの再設定の設定方法については後述する。

【００２９】ステップＳ３でコントロール部７は、サー
ボ回路８にサーボ動作を開始させる。具体的には、サー
ボ回路８のスピンドルサーボ系によりサーボ制御された
スピンドルモーター２により回転される光ディスク１に
光学系３の光学ピックアップからレーザービームが照射
される。また、サーボ回路８のフォーカスサーボ系によ
り制御される光学系３の２軸アクチュエータ４のフォー
カスコイルによりフォーカスサーボが行われる。

【００３０】ステップＳ４でコントロール部７は、各部
に対する動作を行わせるための命令待ちをする。具体的
には、光ディスクドライブシステムが対応している各フ
ォーマットのそれぞれのメディアについて、記録、再生
等の動作を行わせるための命令が、例えば、上位のコン
ピュータから供給されるのを待つ。

【００３１】ステップＳ５でコントロール部７は、光デ
ィスクの偏芯量または面振れが大きいか否かを判断す
る。具体的には、コイル電流検出部１０においてサーボ
回路８のフォーカスサーボ回路のフォーカスコイル電流
の値が通常範囲を超えて所定値となったことを検出した
とき、コントロール部７は、コイル電流検出部１０によ
り光ディスク１の偏芯量または面振れが大きいことを検
出して、これを認識する。

【００３２】ステップＳ５で光ディスクの偏芯量または
面振れが大きいときは、ステップＳ６へ進む。ステップ
Ｓ６でフォーカスサーボ回路のゲインを降下設定する。
具体的には、コイル電流検出部１０により光ディスク１
の偏芯量または面振れが大きいことを検出したときに、
ゲイン設定部９において、デフォーカス量またはジッタ
悪化許容範囲でサーボゲインを降下させる。なお、ゲイ
ン降下設定の詳細は後述する。

【００３３】その後、ステップＳ４へ戻り、命令待ちと
なり、ステップＳ５で光ディスク１の偏芯量または面振
れが大きくなければ、ステップＳ４での命令に従って、
ステップＳ７で再生、記録の動作が行われる。ここで、
記録、再生を行う際には、ステップＳ６でゲイン設定部
９より初期値よりも低く再設定されゲインで、サーボ回
路８のフォーカスサーボ回路により光学系３の２軸アク
チュエータ４のフォーカスコイルを光ディスク１に対し
てフォーカス方向に制御する。

【００３４】図４は、本実施の形態のゲイン降下設定の
動作を示すフローチャートである。図４において、ステ
ップＳ１１で、試し再生、記録を行う。具体的には、光
学系３のフォトディテクタで光ディスク１の反射光を検
出し、ＲＦアンプ５でＲＦ信号を生成し、または、光学
系３の対物レンズを介して光ディスク１に記録のための
レーザービームを照射する。

【００３５】ステップＳ１２で、フォーカスエラー信号
の検出、またはジッタまたはエラーレートの測定を行
う。具体的には、図２に示すフォーカスエラー信号検出
部２１によりフォーカスサーボ回路のフォーカスエラー
信号の検出を行い、ジッタまたはエラーレート測定部２
２により光ディスク１のジッタまたはエラーレートの測
定を行う。

【００３６】ステップＳ１３で、デフォーカス量または
ジッタ悪化量を検出する。具体的には、図２に示すフォ
ーカスエラー信号検出部２１からのフォーカスエラー信
号からその振幅に比例するもので、サーボ抑圧残差と呼
ばれるデフォーカス量の検出を行う。または、ジッタま
たはエラーレート測定部２２からのジッタまたはエラー
レートからジッタ悪化量またはエラーレート悪化量を検
出する。

【００３７】ステップＳ１４で、フォーカスサーボ回路
のサーボゲインを降下させる。そして、ステップＳ１５
でデフォーカス量またはジッタ悪化量は許容範囲内の最
大値であるか否かを判断する。ステップＳ１５でデフォ
ーカス量またはジッタ悪化量は許容範囲内の最大値でな
いときは、ステップＳ１１へ戻り、ステップＳ１１〜Ｓ
１５までの処理および判断を繰り返し、ステップＳ１５
でデフォーカス量またはジッタ悪化量は許容範囲内の最
大値であるときは、終了する。

【００３８】具体的には、サーボゲイン降下部２４はデ
フォーカス量またはジッタ悪化量の許容範囲内でサーボ
ゲインを降下する。そして、このとき、デフォーカスま
たはジッタ悪化許容判定部２３はフォーカスエラー信号
のデフォーカス量またはジッタ悪化量が許容範囲内の最
大値であるか否かを判断する。

【００３９】つまり、ジッタを許容範囲の最大値まで悪
化させる。これは、フォーカスサーボのサーボゲインを
下げて、２軸アクチュエータのフォーカスコイルの電流
値を下げていった結果、引き起こされる状態である。こ
のようにして、エラーが発生しないまたはエラー訂正可
能な最大レベルまで、ジッタの悪化を許容して、フォー
カスコイルの発熱を抑えるようにする。

【００４０】面振れがあるとフォーカスサーボ回路は２
軸アクチュエータのフォーカスコイルに大きな電流を流
して面振れによる変動に追従しようとする。この場合に
許容され得る限りフォーカスサーボのサーボゲインを下
げて、２軸アクチュエータのフォーカスコイルに流れる
電流値を下げて、発熱を抑えるようにする。

【００４１】どこまでデフォーカス（ジャストフォーカ
ス位置から離れること）してもよいかを判断する手段と
して、サーボ抑圧残差であるデフォーカス量をフォーカ
スエラー信号で検出して、またこの替わりにジッタやエ
ラーレートを測定して、フォーカスサーボのサーボゲイ
ンを下げていきながら、デフォーカス量やジッタの悪化
を観測して、許容できるところまでデフォーカス量やジ
ッタを悪化させていく。

【００４２】このようにすることにより、２軸アクチュ
エータのフォーカスコイルやスピンドルモータが高温に
加熱することがなくなり、コイルの損傷を防止し、光学
系のレンズが膨張することなく光学特性が劣化せず、ま
た、焦点ズレのレーザ光の照射を防止することにより半
導体レーザの寿命を延ばすことができる。

【００４３】本実施の形態の光ディスクサーボ制御方法
は、光ディスク１上に、光学ピックアップにより光スポ
ットを照射することにより、情報を記録し、または情報
を再生するために、光学ピックアップのフォーカスコイ
ルを用いて光ディスク１に対する光スポットのフォーカ
スサーボ制御を行う光ディスクサーボ制御方法におい
て、フォーカスコイルのコイル電流が所定値となったと
き、フォーカスサーボ制御のフォーカスエラー信号に基
づいて上記フォーカスサーボ制御のゲインを低くなるよ
うに再設定するようにしたので、フォーカスサーボ回路
のフォーカスコイル電流が所定値を検出したとき、光デ
ィスクの偏芯量または面振れが大きいことを検出して、
フォーカスエラー信号のデフォーカス量に応じてゲイン
を下げることができ、２軸アクチュエータ４のフォーカ
スコイルやスピンドルモータ２が高温に加熱することが
なくなり、コイルの損傷を防止し、光学系のレンズが膨
張することがないので光学特性が劣化せず、また、焦点
ズレのレーザ光の照射を防止することにより半導体レー
ザの寿命を延ばすことができる。

【００４４】また、本実施の形態の光ディスクサーボ制
御方法は、上述において、フォーカスエラー信号のデフ
ォーカス量が許容範囲の最大となるまでゲインを降下す
るようにしたので、ジッタや面振れがあるとフォーカス
サーボ回路は２軸アクチュエータのフォーカスコイルに
大きな電流を流してジッタによる変動に追従しようとす
るが、この場合にフォーカスサーボが追随する限界であ
るデフォーカス量の許容範囲の最大までフォーカスサー
ボのサーボゲインを下げて、２軸アクチュエータのフォ
ーカスコイルに流れる電流値を下げて、発熱を最大に抑
えることができる。

【００４５】また、本実施の形態の光ディスクサーボ制
御方法は、光ディスク１上に、光学ピックアップにより
光スポットを照射することにより、情報を記録し、また
は情報を再生するために、光学ピックアップのフォーカ
スコイルを用いて光ディスクに対する光スポットのフォ
ーカスサーボ制御を行う光ディスクサーボ制御方法にお
いて、フォーカスコイルのコイル電流が所定値となった
とき、情報の再生ＲＦ信号のジッタまたはエラーレート
に基づいてフォーカスサーボ制御のゲインを低くなるよ
うに再設定するようにしたので、フォーカスサーボ回路
のフォーカスコイル電流が所定値を検出したとき、光デ
ィスクの偏芯量または面振れが大きいことを検出して、
ジッタまたはエラーレートに応じてゲインを下げること
ができ、２軸アクチュエータ４のフォーカスコイルやス
ピンドルモータが高温に加熱することがなくなり、コイ
ルの損傷を防止し、光学系のレンズが膨張することがな
いので光学特性が劣化せず、また、焦点ズレのレーザ光
の照射を防止することにより半導体レーザの寿命を延ば
すことができる。

【００４６】また、本実施の形態の光ディスクサーボ制
御方法は、上述において、ジッタまたはエラーレート悪
化量が許容範囲の最大となるまで上記ゲインを降下する
ようにしたので、フォーカスサーボのサーボゲインを下
げて、２軸アクチュエータ４のフォーカスコイルの電流
値を下げていった結果、ジッタまたはエラーレートが許
容範囲の最大値まで悪化するが、エラーが発生しないま
たはエラー訂正可能な最大レベルまで、ジッタの悪化を
許容することにより、フォーカスコイルの発熱を最大に
抑えることができる。

【００４７】また、本実施の形態の光ディスク装置は、
光ディスク上に光学ピックアップによりレーザースポッ
トを照射することにより、情報を記録し、または情報を
再生するために、光学ピックアップのフォーカスコイル
を用いて光ディスクに対する光スポットのフォーカスサ
ーボ制御を行う光ディスク装置において、フォーカスコ
イルのコイル電流が所定値となったことを検出するコイ
ル電流検出手段としてのコイル電流検出部１０と、フォ
ーカスサーボ制御のフォーカスエラー信号、または情報
の再生ＲＦ信号のジッタまたはエラーレートに基づいて
フォーカスサーボ制御のゲインを低くなるように再設定
するゲイン設定手段としてのゲイン設定部９とを備える
ようにしたので、フォーカスサーボ回路のフォーカスコ
イル電流が所定値を検出したとき、光ディスクの偏芯量
または面振れが大きいことを検出して、フォーカスエラ
ー信号のデフォーカス量、またはジッタまたはエラーレ
ートに応じてゲインを下げることができ、２軸アクチュ
エータ４のフォーカスコイルやスピンドルモータが高温
に加熱することがなくなり、コイルの損傷を防止し、光
学系のレンズが膨張することがないので光学特性が劣化
せず、また、焦点ズレのレーザ光の照射を防止すること
により半導体レーザの寿命を延ばすことができ、光ディ
スクに対する情報の記録または再生の動作の信頼性の向
上を図ることができる。

【００４８】また、本実施の形態の光ディスク装置は、
上述において、ゲイン設定手段としてのゲイン設定部９
は、フォーカスサーボ制御のフォーカスエラー信号を検
出するフォーカスエラー信号検出部２１と、情報の再生
ＲＦ信号のジッタまたはエラーレートを測定するジッタ
またはエラーレート測定部２２と、フォーカスエラー信
号のデフォーカス量、またはジッタまたはエラーレート
の悪化量が許容範囲であることを判定するデフォーカス
またはジッタ悪化許容判定部２３と、フォーカスエラー
信号のデフォーカス量、またはジッタまたはエラーレー
トの悪化量が許容範囲の最大となるまでフォーカスサー
ボ制御のゲインを降下させるサーボゲイン降下部２４と
を備えるようにしたので、どこまでデフォーカスしても
よいかを判断する手段として、デフォーカス量をフォー
カスエラー信号で検出して、またこの替わりにジッタや
エラーレートを測定して、フォーカスサーボのサーボゲ
インを下げていきながら、デフォーカス量やジッタの悪
化を観測して、許容できる最大限のところまでデフォー
カス量やジッタを悪化させていくことにより、フォーカ
スコイルの発熱を最大に抑えることができる。

【００４９】なお、上述した本実施の形態では、光ディ
スク装置のフォーカスサーボに適用する例のみを示した
が、カード読み取り装置や、ハードディスク等の板状記
録媒体を有する他の電子機器のフォーカスサーボ装置に
適用してもよいことはいうまでもない。

【００５０】

【発明の効果】本発明の光ディスクサーボ制御方法は、
光ディスク上に、光学ピックアップにより光スポットを
照射することにより、情報を記録し、または情報を再生
するために、上記光学ピックアップのフォーカスコイル
を用いて上記光ディスクに対する上記光スポットのフォ
ーカスサーボ制御を行う光ディスクサーボ制御方法にお
いて、上記フォーカスコイルのコイル電流が所定値とな
ったとき、上記フォーカスサーボ制御のフォーカスエラ
ー信号に基づいて上記フォーカスサーボ制御のゲインを
低くなるように再設定するようにしたので、フォーカス
サーボ回路のフォーカスコイル電流が所定値を検出した
とき、光ディスクの偏芯量または面振れが大きいことを
検出して、フォーカスエラー信号のデフォーカス量に応
じてゲインを下げることができ、２軸アクチュエータの
フォーカスコイルやスピンドルモータが高温に加熱する
ことがなくなり、コイルの損傷を防止し、光学系のレン
ズが膨張することがないので光学特性が劣化せず、ま
た、焦点ズレのレーザ光の照射を防止することにより半
導体レーザの寿命を延ばすことができるという効果を奏
する。

【００５１】また、本発明の光ディスクサーボ制御方法
は、上述において、上記フォーカスエラー信号のデフォ
ーカス量が許容範囲の最大となるまで上記ゲインを降下
するようにしたので、ジッタや面振れがあるとフォーカ
スサーボ回路は２軸アクチュエータのフォーカスコイル
に大きな電流を流してジッタによる変動に追従しようと
するが、この場合にフォーカスサーボが追随する限界で
あるデフォーカス量の許容範囲の最大までフォーカスサ
ーボのサーボゲインを下げて、２軸アクチュエータのフ
ォーカスコイルに流れる電流値を下げて、発熱を最大に
抑えることができるという効果を奏する。

【００５２】また、本発明の光ディスクサーボ制御方法
は、上述において、光ディスク上に、光学ピックアップ
により光スポットを照射することにより、情報を記録
し、または情報を再生するために、上記光学ピックアッ
プのフォーカスコイルを用いて上記光ディスクに対する
上記光スポットのフォーカスサーボ制御を行う光ディス
クサーボ制御方法において、上記フォーカスコイルのコ
イル電流が所定値となったとき、上記情報の再生ＲＦ信
号のジッタまたはエラーレートに基づいて上記フォーカ
スサーボ制御のゲインを低くなるように再設定するよう
にしたので、フォーカスサーボ回路のフォーカスコイル
電流が所定値を検出したとき、光ディスクの偏芯量また
は面振れが大きいことを検出して、ジッタまたはエラー
レートに応じてゲインを下げることができ、２軸アクチ
ュエータのフォーカスコイルやスピンドルモータが高温
に加熱することがなくなり、コイルの損傷を防止し、光
学系のレンズが膨張することがないので光学特性が劣化
せず、また、焦点ズレのレーザ光の照射を防止すること
により半導体レーザの寿命を延ばすことができるという
効果を奏する。

【００５３】また、本発明の光ディスクサーボ制御方法
は、上述において、上記ジッタまたはエラーレート悪化
量が許容範囲の最大となるまで上記ゲインを降下するよ
うにしたので、フォーカスサーボのサーボゲインを下げ
て、２軸アクチュエータのフォーカスコイルの電流値を
下げていった結果、ジッタまたはエラーレートが許容範
囲の最大値まで悪化するが、エラーが発生しないまたは
エラー訂正可能な最大レベルまで、ジッタの悪化を許容
することにより、フォーカスコイルの発熱を最大に抑え
ることができるという効果を奏する。

【００５４】また、本発明の光ディスク装置は、光ディ
スク上に光学ピックアップによりレーザースポットを照
射することにより、情報を記録し、または情報を再生す
るために、上記光学ピックアップのフォーカスコイルを
用いて上記光ディスクに対する上記光スポットのフォー
カスサーボ制御を行う光ディスク装置において、上記フ
ォーカスコイルのコイル電流が所定値となったことを検
出するコイル電流検出手段と、上記フォーカスサーボ制
御のフォーカスエラー信号、または上記情報の再生ＲＦ
信号のジッタまたはエラーレートに基づいて上記フォー
カスサーボ制御のゲインを低くなるように再設定するゲ
イン設定手段とを備えるようにしたので、フォーカスサ
ーボ回路のフォーカスコイル電流が所定値を検出したと
き、光ディスクの偏芯量または面振れが大きいことを検
出して、フォーカスエラー信号のデフォーカス量、また
はジッタまたはエラーレートに応じてゲインを下げるこ
とができ、２軸アクチュエータのフォーカスコイルやス
ピンドルモータが高温に加熱することがなくなり、コイ
ルの損傷を防止し、光学系のレンズが膨張することなく
光学特性が劣化せず、また、焦点ズレのレーザ光の照射
を防止することにより半導体レーザの寿命を延ばすこと
ができ、光ディスクに対する情報の記録または再生の動
作の信頼性の向上を図ることができるという効果を奏す
る。

【００５５】また、本発明の光ディスク装置は、上述に
おいて、上記ゲイン設定手段は、上記フォーカスサーボ
制御のフォーカスエラー信号を検出するフォーカスエラ
ー信号検出部と、上記情報の再生ＲＦ信号のジッタまた
はエラーレートを測定するジッタまたはエラーレート測
定部と、上記フォーカスエラー信号のデフォーカス量、
または上記ジッタまたはエラーレートの悪化量が許容範
囲であることを判定するデフォーカスまたはジッタ悪化
許容判定部と、上記フォーカスエラー信号のデフォーカ
ス量、または上記ジッタまたはエラーレートの悪化量が
許容範囲の最大となるまで上記フォーカスサーボ制御の
ゲインを降下させるサーボゲイン降下部とを備えるよう
にしたので、どこまでデフォーカスしてもよいかを判断
する手段として、デフォーカス量をフォーカスエラー信
号で検出して、またこの替わりにジッタやエラーレート
を測定して、フォーカスサーボのサーボゲインを下げて
いきながら、デフォーカス量やジッタの悪化を観測し
て、許容できる最大限のところまでデフォーカス量やジ
ッタを悪化させていくことにより、フォーカスコイルの
発熱を最大に抑えることができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の光ディスク駆動装置の構
成を示すブロック図である。

【図２】本発明の実施の形態のゲイン設定部の構成を示
すブロック図である。

【図３】本発明の実施の形態のサーボ制御の動作を示す
フローチャートである。

【図４】本発明の実施の形態のゲイン降下設定の動作を
示すフローチャートである。

【符号の説明】

１……光ディスク、２……スピンドルモーター、３……
光学系、４……２軸アクチュエータ４、５……ＲＦアン
プ、６……データ信号処理部、７……コントロール部、
８……サーボ回路、９……ゲイン設定部、１０……コイ
ル電流検出部、２１……フォーカスエラー信号検出部、
２２……ジッタまたはエラーレート測定部、２３……デ
フォーカスまたはジッタ悪化許容判定部、２４……サー
ボゲイン降下部

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスク上に、光学ピックアップによ
   り光スポットを照射することにより、情報を記録し、ま
   たは情報を再生するために、上記光学ピックアップのフ
   ォーカスコイルを用いて上記光ディスクに対する上記光
   スポットのフォーカスサーボ制御を行う光ディスクサー
   ボ制御方法において、 上記フォーカスコイルのコイル電流が所定値となったと
   き、 上記フォーカスサーボ制御のフォーカスエラー信号に基
   づいて上記フォーカスサーボ制御のゲインを低くなるよ
   うに再設定するようにしたことを特徴とする光ディスク
   サーボ制御方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の光ディスクサーボ制御方
   法において、 上記フォーカスエラー信号のデフォーカス量が許容範囲
   の最大となるまで上記ゲインを降下するようにしたこと
   を特徴とする光ディスクサーボ制御方法。
3. 【請求項３】 光ディスク上に、光学ピックアップによ
   り光スポットを照射することにより、情報を記録し、ま
   たは情報を再生するために、上記光学ピックアップのフ
   ォーカスコイルを用いて上記光ディスクに対する上記光
   スポットのフォーカスサーボ制御を行う光ディスクサー
   ボ制御方法において、 上記フォーカスコイルのコイル電流が所定値となったと
   き、上記情報の再生ＲＦ信号のジッタまたはエラーレー
   トに基づいて上記フォーカスサーボ制御のゲインを低く
   なるように再設定するようにしたことを特徴とする光デ
   ィスクサーボ制御方法。
4. 【請求項４】 請求項１記載の光ディスクサーボ制御方
   法において、 上記ジッタまたはエラーレート悪化量が許容範囲の最大
   となるまで上記ゲインを降下するようにしたことを特徴
   とする光ディスクサーボ制御方法。
5. 【請求項５】 光ディスク上に光学ピックアップにより
   レーザースポットを照射することにより、情報を記録
   し、または情報を再生するために、上記光学ピックアッ
   プのフォーカスコイルを用いて上記光ディスクに対する
   上記光スポットのフォーカスサーボ制御を行う光ディス
   ク装置において、 上記フォーカスコイルのコイル電流が所定値となったこ
   とを検出するコイル電流検出手段と、上記フォーカスサ
   ーボ制御のフォーカスエラー信号、または上記情報の再
   生ＲＦ信号のジッタまたはエラーレートに基づいて上記
   フォーカスサーボ制御のゲインを低くなるように再設定
   するゲイン設定手段と、 を備えるようにしたことを特徴とする光ディスク装置。
6. 【請求項６】 請求項５記載の光ディスク装置におい
   て、 上記ゲイン設定手段は、 上記フォーカスサーボ制御のフォーカスエラー信号を検
   出するフォーカスエラー信号検出部と、 上記情報の再生ＲＦ信号のジッタまたはエラーレートを
   測定するジッタまたはエラーレート測定部と、 上記フォーカスエラー信号のデフォーカス量、または上
   記ジッタまたはエラーレートの悪化量が許容範囲である
   ことを判定するデフォーカスまたはジッタ悪化許容判定
   部と、 上記フォーカスエラー信号のデフォーカス量、または上
   記ジッタまたはエラーレートの悪化量が許容範囲の最大
   となるまで上記フォーカスサーボ制御のゲインを降下さ
   せるサーボゲイン降下部と、 を備えるようにしたことを特徴とする光ディスク装置。