JP2000162149A - 回転シールの検査装置と検査方法 - Google Patents
回転シールの検査装置と検査方法Info
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- JP2000162149A JP2000162149A JP10350737A JP35073798A JP2000162149A JP 2000162149 A JP2000162149 A JP 2000162149A JP 10350737 A JP10350737 A JP 10350737A JP 35073798 A JP35073798 A JP 35073798A JP 2000162149 A JP2000162149 A JP 2000162149A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 弾性体製の回転シールの密封性能を検査する
装置と方法であって、リップの機械的欠陥を精度よく検
査することが可能で、かつ自動検査を可能とする検査方
法を開発する。 【解決手段】 弾性体で形成されたリップ（１ａ）を有
する回転シール（１）の検査装置と検査方法であって、
回転シール（１）のリップ（１ａ）の直径より大きい締
め代を有する扇形治具（３）をリップ（１ａ）へ押付
け、奥方より光を照射して光漏れの判定を行なう。これ
によりリップ（１ａ）の欠陥部分を引っ張り拡大せしめ
ることができ、漏れ出る光を認知して合否判定をする。
装置と方法であって、リップの機械的欠陥を精度よく検
査することが可能で、かつ自動検査を可能とする検査方
法を開発する。 【解決手段】 弾性体で形成されたリップ（１ａ）を有
する回転シール（１）の検査装置と検査方法であって、
回転シール（１）のリップ（１ａ）の直径より大きい締
め代を有する扇形治具（３）をリップ（１ａ）へ押付
け、奥方より光を照射して光漏れの判定を行なう。これ
によりリップ（１ａ）の欠陥部分を引っ張り拡大せしめ
ることができ、漏れ出る光を認知して合否判定をする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、弾性体からなった
リップを持つ回転シールの密封性能を検査する方法に関
し、具体的には検査機によるリップの自動検査を可能と
する検査装置と検査方法の開発を目的とする。
リップを持つ回転シールの密封性能を検査する方法に関
し、具体的には検査機によるリップの自動検査を可能と
する検査装置と検査方法の開発を目的とする。
【０００２】
【従来の技術】従来、シールのようなゴム製品等、例え
ば回転体に接触するリップを持つ回転シールにおいて
は、製造上エア傷あるいは仕上げ傷等のキズの発生が避
けられないもので、安定した密封性能を保つためにその
リップキズの検査を欠かすことはできない。そのリップ
検査では、単に外観をチェックする目視あるいは指触に
頼る人的な検査判定から、光学機器を利用した光漏れ検
査による精度の高い検査方法に変わりつつ有る。この光
学機器からなる光漏れ検査では、回転シール等の被検体
に対し遮光ケース及びリップ部に対し締代を持たせた遮
光治具をもって暗所を形成し、その下側から光線をあて
て隙間の生じたキズ部分に光漏れを起こし、これをカメ
ラで認知し、この漏れ度合いによってキズ不良等の良否
を判定するものが一般的な検査方法である。（図示して
いない。）
ば回転体に接触するリップを持つ回転シールにおいて
は、製造上エア傷あるいは仕上げ傷等のキズの発生が避
けられないもので、安定した密封性能を保つためにその
リップキズの検査を欠かすことはできない。そのリップ
検査では、単に外観をチェックする目視あるいは指触に
頼る人的な検査判定から、光学機器を利用した光漏れ検
査による精度の高い検査方法に変わりつつ有る。この光
学機器からなる光漏れ検査では、回転シール等の被検体
に対し遮光ケース及びリップ部に対し締代を持たせた遮
光治具をもって暗所を形成し、その下側から光線をあて
て隙間の生じたキズ部分に光漏れを起こし、これをカメ
ラで認知し、この漏れ度合いによってキズ不良等の良否
を判定するものが一般的な検査方法である。（図示して
いない。）
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た光線を被検体に当てただけの光漏れ検査方法では、小
さいキズは勿論、うねり・歪みあるいは偏芯度合いなど
のシールとして重大な不具合箇所を的確に不良と判定す
ることができない欠点を有している。すなわち、不良と
なる切りキズあるいは成形キズ等は微細である場合と
か、あるいは弾性体ゆえ復元して基の形状を保つ性質を
持つもので、これを検査するにはカメラの感知精度を高
めるか、または設置台数を増やす等の対応が必要とな
り、これでも前記復元して隠れる裂きキズ等に対しては
充分な対策となりえていない。
た光線を被検体に当てただけの光漏れ検査方法では、小
さいキズは勿論、うねり・歪みあるいは偏芯度合いなど
のシールとして重大な不具合箇所を的確に不良と判定す
ることができない欠点を有している。すなわち、不良と
なる切りキズあるいは成形キズ等は微細である場合と
か、あるいは弾性体ゆえ復元して基の形状を保つ性質を
持つもので、これを検査するにはカメラの感知精度を高
めるか、または設置台数を増やす等の対応が必要とな
り、これでも前記復元して隠れる裂きキズ等に対しては
充分な対策となりえていない。
【０００４】また、治具への嵌入取付においては、回転
シールのリップがめくれる虞が拭いされず、取り付けら
れても治具と回転シールとの芯ずれあるいはシール径の
バラツキによりリップ部の変形量が安定せずキズの検出
が難しいものとなっている。従って検査の信用精度が低
いと言わざるを得ない。本発明の目的は、上記の欠点を
解消して、弾性体からなるリップの機械的欠陥を精度よ
く検査することが可能で、かつ自動検査を可能とする検
査方法を開発することにある。
シールのリップがめくれる虞が拭いされず、取り付けら
れても治具と回転シールとの芯ずれあるいはシール径の
バラツキによりリップ部の変形量が安定せずキズの検出
が難しいものとなっている。従って検査の信用精度が低
いと言わざるを得ない。本発明の目的は、上記の欠点を
解消して、弾性体からなるリップの機械的欠陥を精度よ
く検査することが可能で、かつ自動検査を可能とする検
査方法を開発することにある。
【０００５】
【課題を解決しようとする手段】本発明は、回転部に装
着され該回転部の流体を密封するための合成ゴムあるい
は合成樹脂等の弾性体で形成されたリップ（１ａ）を有
する回転シール（１）の検査装置であって、前記検査装
置は、図面を基に説明すると図１に示すように、回転シ
ール（１）を把持し１／ｎ（検査範囲をｎ分割する）回
転毎回転する把持部（２）と、中心角（３６０／ｎ＋
α）゜（α＞０）の扇形でその円弧部（３ａ）の曲率半
径が回転シール（１）のリップ（１ａ）の直径より０〜
１０％大きい締め代を有して前記リップ（１ａ）に向き
移動押付ける扇形治具（３）と、図２で示すように前記
把持部（２）の内方へ配置された光源（４）と、図１の
ように前記把持部（２）の外方に配された撮像装置
（５）とで構成されることを特徴としている。
着され該回転部の流体を密封するための合成ゴムあるい
は合成樹脂等の弾性体で形成されたリップ（１ａ）を有
する回転シール（１）の検査装置であって、前記検査装
置は、図面を基に説明すると図１に示すように、回転シ
ール（１）を把持し１／ｎ（検査範囲をｎ分割する）回
転毎回転する把持部（２）と、中心角（３６０／ｎ＋
α）゜（α＞０）の扇形でその円弧部（３ａ）の曲率半
径が回転シール（１）のリップ（１ａ）の直径より０〜
１０％大きい締め代を有して前記リップ（１ａ）に向き
移動押付ける扇形治具（３）と、図２で示すように前記
把持部（２）の内方へ配置された光源（４）と、図１の
ように前記把持部（２）の外方に配された撮像装置
（５）とで構成されることを特徴としている。
【０００６】また、流体を密封するために合成ゴムある
いは合成樹脂等の弾性体で形成されたリップ（１ａ）を
有する回転シール（１）の検査方法であって、前記検査
装置は、図１及び図２に示すように回転シール（１）を
把持し１／ｎ（検査範囲をｎ分割する）回転毎回転する
把持部（２）と、中心角（３６０／ｎ＋α）゜（α＞
０）の扇形で円弧部（３ａ）の曲率半径が回転シール
（１）のリップ（１ａ）の直径より０〜１０％大きい締
め代を有して前記リップ（１ａ）に押付ける扇形治具
（３）と、前記把持部（２）の内方へ配置された光源
（４）と、前記把持部（２）の外方に配された撮像装置
（５）とで構成され、前記把持部（２）にて前記回転シ
ール（１）を把持固定せしめた後、前記扇形治具（３）
を回転シール（１）のリップ（１ａ）に移動押付けて、
前記把持部（２）の内方から前記リップ（１ａ）に向け
て光源（４）より光を照射して光漏れを促し、前記把持
部（２）の外方に配置した撮像装置（５）によって画像
処理し光漏れの判定を行なうことを特徴としている。
いは合成樹脂等の弾性体で形成されたリップ（１ａ）を
有する回転シール（１）の検査方法であって、前記検査
装置は、図１及び図２に示すように回転シール（１）を
把持し１／ｎ（検査範囲をｎ分割する）回転毎回転する
把持部（２）と、中心角（３６０／ｎ＋α）゜（α＞
０）の扇形で円弧部（３ａ）の曲率半径が回転シール
（１）のリップ（１ａ）の直径より０〜１０％大きい締
め代を有して前記リップ（１ａ）に押付ける扇形治具
（３）と、前記把持部（２）の内方へ配置された光源
（４）と、前記把持部（２）の外方に配された撮像装置
（５）とで構成され、前記把持部（２）にて前記回転シ
ール（１）を把持固定せしめた後、前記扇形治具（３）
を回転シール（１）のリップ（１ａ）に移動押付けて、
前記把持部（２）の内方から前記リップ（１ａ）に向け
て光源（４）より光を照射して光漏れを促し、前記把持
部（２）の外方に配置した撮像装置（５）によって画像
処理し光漏れの判定を行なうことを特徴としている。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明は、上記のようにリップ
（１ａ）の良否を判定する検査において、把持部（２）
の内方より図２に示す如く光源（４）を持って光をリッ
プ（１ａ）に照射すると同時に、従来の遮光治具より大
きな締代を持たせた扇形治具（３）を回転シール（１）
のリップ（１ａ）に向けて移動させ、該扇形治具（３）
の円弧部（３ａ）を該リップ（１ａ）に押付け、キズと
か歪み部等の問題形状を押し広げ増幅させて、その合否
の判定を外方に設置した撮像装置（５）によってなす検
査装置と検査方法を提案したものである。
（１ａ）の良否を判定する検査において、把持部（２）
の内方より図２に示す如く光源（４）を持って光をリッ
プ（１ａ）に照射すると同時に、従来の遮光治具より大
きな締代を持たせた扇形治具（３）を回転シール（１）
のリップ（１ａ）に向けて移動させ、該扇形治具（３）
の円弧部（３ａ）を該リップ（１ａ）に押付け、キズと
か歪み部等の問題形状を押し広げ増幅させて、その合否
の判定を外方に設置した撮像装置（５）によってなす検
査装置と検査方法を提案したものである。
【０００８】検査装置では、回転シール（１）を把持し
て回転する把持部（２）と、リップ径より大きい円弧部
（３ａ）を有して回転シール（１）のリップ（１ａ）に
接触する扇形治具（３）と、該接触部を照らす光源
（４）と、その接触部を写す撮像装置（５）とで構成さ
れている。一方、検査方法では、把持部（２）にて回転
シール（１）を把持固定した後、扇形治具（３）を回転
シール（１）のリップ（１ａ）に押付け、その内方から
前記リップ（１ａ）に向けて光を照射して光漏れを促
し、この光漏れを前記把持部（２）の外方に配置した撮
像装置（５）で検査画像を取り込みこれを画像処理装置
によって処理して良否の判定を行なう。
て回転する把持部（２）と、リップ径より大きい円弧部
（３ａ）を有して回転シール（１）のリップ（１ａ）に
接触する扇形治具（３）と、該接触部を照らす光源
（４）と、その接触部を写す撮像装置（５）とで構成さ
れている。一方、検査方法では、把持部（２）にて回転
シール（１）を把持固定した後、扇形治具（３）を回転
シール（１）のリップ（１ａ）に押付け、その内方から
前記リップ（１ａ）に向けて光を照射して光漏れを促
し、この光漏れを前記把持部（２）の外方に配置した撮
像装置（５）で検査画像を取り込みこれを画像処理装置
によって処理して良否の判定を行なう。
【０００９】
【実施例】本発明を実施例に沿って具体的に説明する
と、図１及び図２で示すように、まず始めに把持部
（２）へ検査対象である回転シール（１）を載置せし
め、これを前記シール把持部（２）で固定した後、その
回転シール（１）のリップ（１ａ）へ向けて、中心角
（３６０／ｎ＋α）゜（α＞０）の扇形で円弧部（３
ａ）の曲率半径が回転シール（１）のリップ（１ａ）の
直径より０〜１０％大きい締め代を有して前記リップ
（１ａ）に押付ける扇形治具（３）を移動させ密着押付
けせしめる。このとき、前記扇形治具（３）に対するリ
ップ（１ａ）の締め代は、前記扇形の形状通り、０〜１
０％程度の大きく従来の遮光治具のそれより大きい円弧
をもって押付けせしめるのが好ましい密着状態となる。
と、図１及び図２で示すように、まず始めに把持部
（２）へ検査対象である回転シール（１）を載置せし
め、これを前記シール把持部（２）で固定した後、その
回転シール（１）のリップ（１ａ）へ向けて、中心角
（３６０／ｎ＋α）゜（α＞０）の扇形で円弧部（３
ａ）の曲率半径が回転シール（１）のリップ（１ａ）の
直径より０〜１０％大きい締め代を有して前記リップ
（１ａ）に押付ける扇形治具（３）を移動させ密着押付
けせしめる。このとき、前記扇形治具（３）に対するリ
ップ（１ａ）の締め代は、前記扇形の形状通り、０〜１
０％程度の大きく従来の遮光治具のそれより大きい円弧
をもって押付けせしめるのが好ましい密着状態となる。
【００１０】このような扇形治具（３）と密着状態に有
るリップ（１ａ）は、該円弧部（３ａ）が前記のように
中心角（３６０／ｎ＋α）゜（α＞０）の扇形でその曲
率半径が回転シール（１）のリップ（１ａ）の直径より
０〜１０％大きいため押付け時に扇形治具（３）の両端
の接触部がキズを左右から引っ張り拡大する作用をな
し、微細な成形キズであってもそれを強調して表わすも
のとなる。この状態で前記回転シール（１）の内方から
そのリップ（１ａ）に向けて光を照射せしめれば欠陥部
分にすくなからぬ光漏れが発生し、はっきりとその欠陥
形状を確認することができるものとなり、外方に配した
撮像装置（５）での視認が極めて容易にできる。
るリップ（１ａ）は、該円弧部（３ａ）が前記のように
中心角（３６０／ｎ＋α）゜（α＞０）の扇形でその曲
率半径が回転シール（１）のリップ（１ａ）の直径より
０〜１０％大きいため押付け時に扇形治具（３）の両端
の接触部がキズを左右から引っ張り拡大する作用をな
し、微細な成形キズであってもそれを強調して表わすも
のとなる。この状態で前記回転シール（１）の内方から
そのリップ（１ａ）に向けて光を照射せしめれば欠陥部
分にすくなからぬ光漏れが発生し、はっきりとその欠陥
形状を確認することができるものとなり、外方に配した
撮像装置（５）での視認が極めて容易にできる。
【００１１】尚、回転シール（１２）の形状において、
図１及び図２では接触するリップが単数のシングルタイ
プのリップ（１ａ）を示したが、これに限らず、例えば
図示していないが複数のリップの形成されたダブルリッ
プタイプなどまで採用可能である。このようにして前記
範囲が検査判定されると、回転シール（１）を把持する
把持部（２）はそこから１／ｎ回転して他分割部の検査
をなし、この工程を続けて全周検査をなさしめる。
図１及び図２では接触するリップが単数のシングルタイ
プのリップ（１ａ）を示したが、これに限らず、例えば
図示していないが複数のリップの形成されたダブルリッ
プタイプなどまで採用可能である。このようにして前記
範囲が検査判定されると、回転シール（１）を把持する
把持部（２）はそこから１／ｎ回転して他分割部の検査
をなし、この工程を続けて全周検査をなさしめる。
【００１２】
【発明の効果】上記のような構成によって、以下に示す
優れた効果が得られる。本発明では、リップ（１ａ）の
直径より大きい締め代の扇形治具（３）をリップ（１
ａ）へ部分的に接触せしめることによって該リップ（１
ａ）のキズ、ワレ、変形等の欠陥部分を左右から引っ張
り拡大する作用を生じさせ、その欠陥部分から漏れ出る
光を的確に認知してキズの程度による正確な合否判定を
可能となさしめる。よって、簡単な撮像装置で精度よく
検査することが可能となり、かつ検査装置での自動検査
を可能とする。
優れた効果が得られる。本発明では、リップ（１ａ）の
直径より大きい締め代の扇形治具（３）をリップ（１
ａ）へ部分的に接触せしめることによって該リップ（１
ａ）のキズ、ワレ、変形等の欠陥部分を左右から引っ張
り拡大する作用を生じさせ、その欠陥部分から漏れ出る
光を的確に認知してキズの程度による正確な合否判定を
可能となさしめる。よって、簡単な撮像装置で精度よく
検査することが可能となり、かつ検査装置での自動検査
を可能とする。
【図１】本発明の実施例を示す略断面図である。
【図２】図１の平面図である。
１ 回転シール １ａ リップ ２ 把持部 ３ 扇形治具 ３ａ 円弧部 ４ 光源 ５ 撮像装置
Claims (2)
- 【請求項１】 流体を密封するために合成ゴムあるいは
合成樹脂等の弾性体で形成されたリップを有する回転シ
ールの検査装置において、 前記検査装置は、 回転シールを把持し１／ｎ（検査範囲をｎ分割する）回
転毎回転する把持部と、中心角（３６０／ｎ＋α）゜
（α＞０）の扇形で円弧部の曲率半径が回転シールのリ
ップの直径より０〜１０％大きい締め代を有して前記リ
ップに向いて移動し押付ける扇形治具と、前記把持部の
内方へ配置された光源と、前記把持部の外方に配された
撮像装置とで構成されることを特徴とした回転シール検
査装置。 - 【請求項２】 流体を密封するために合成ゴムあるいは
合成樹脂等の弾性体で形成されたリップを有する回転シ
ールの検査方法において、 前記検査装置は、回転シールを把持し１／ｎ（検査範囲
をｎ分割する）回転毎回転する把持部と、中心角（３６
０／ｎ＋α）゜（α＞０）の扇形で円弧部の曲率半径が
回転シールのリップの直径より０〜１０％大きい締め代
を有して前記リップに押付ける扇形治具と、前記把持部
の内方へ配置された光源と、前記把持部の外方に配され
た撮像装置とで構成され、前記把持部にて前記回転シー
ルを把持固定せしめた後前記扇形治具を回転シールのリ
ップに移動押付けせしめ、前記把持部の内方から前記リ
ップに向けて光源より光を照射してキズ部より光漏れを
促し、前記把持部の外方に配置した撮像装置によって光
漏れの判定を行なうことを特徴とした回転シールの検査
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35073798A JP3491223B2 (ja) | 1998-11-24 | 1998-11-24 | 回転シールの検査装置と検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35073798A JP3491223B2 (ja) | 1998-11-24 | 1998-11-24 | 回転シールの検査装置と検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000162149A true JP2000162149A (ja) | 2000-06-16 |
| JP3491223B2 JP3491223B2 (ja) | 2004-01-26 |
Family
ID=18412520
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35073798A Expired - Fee Related JP3491223B2 (ja) | 1998-11-24 | 1998-11-24 | 回転シールの検査装置と検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3491223B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102706879A (zh) * | 2012-06-13 | 2012-10-03 | 清华大学 | 一种用于唇形密封件的唇部表面质量检测系统 |
| JP2015506476A (ja) * | 2012-01-11 | 2015-03-02 | フェデラル−モーグル ブルシェイド ゲーエムベーハーＦｅｄｅｒａｌ−Ｍｏｇｕｌ Ｂｕｒｓｃｈｅｉｄ Ｇｍｂｈ | ピストンリングの光隙間密閉性測定方法及び装置 |
| US9116133B2 (en) | 2010-03-09 | 2015-08-25 | Federal-Mogul Corporation | Bore inspection system and method of inspection therewith |
| KR20220155703A (ko) * | 2021-05-17 | 2022-11-24 | 주식회사 진성티이씨 | 실 검사방법 |
| KR20220155702A (ko) * | 2021-05-17 | 2022-11-24 | 주식회사 진성티이씨 | 실 검사장치 |
-
1998
- 1998-11-24 JP JP35073798A patent/JP3491223B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9116133B2 (en) | 2010-03-09 | 2015-08-25 | Federal-Mogul Corporation | Bore inspection system and method of inspection therewith |
| JP2015506476A (ja) * | 2012-01-11 | 2015-03-02 | フェデラル−モーグル ブルシェイド ゲーエムベーハーＦｅｄｅｒａｌ−Ｍｏｇｕｌ Ｂｕｒｓｃｈｅｉｄ Ｇｍｂｈ | ピストンリングの光隙間密閉性測定方法及び装置 |
| CN102706879A (zh) * | 2012-06-13 | 2012-10-03 | 清华大学 | 一种用于唇形密封件的唇部表面质量检测系统 |
| CN102706879B (zh) * | 2012-06-13 | 2014-10-08 | 清华大学 | 一种用于唇形密封件的唇部表面质量检测系统 |
| KR20220155703A (ko) * | 2021-05-17 | 2022-11-24 | 주식회사 진성티이씨 | 실 검사방법 |
| KR20220155702A (ko) * | 2021-05-17 | 2022-11-24 | 주식회사 진성티이씨 | 실 검사장치 |
| KR102616330B1 (ko) | 2021-05-17 | 2023-12-21 | 주식회사 진성티이씨 | 실 검사장치 |
| KR102616329B1 (ko) | 2021-05-17 | 2023-12-21 | 주식회사 진성티이씨 | 실 검사방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3491223B2 (ja) | 2004-01-26 |
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