JP2000160399A - めっき装置 - Google Patents

めっき装置

Info

Publication number
JP2000160399A
JP2000160399A JP10342611A JP34261198A JP2000160399A JP 2000160399 A JP2000160399 A JP 2000160399A JP 10342611 A JP10342611 A JP 10342611A JP 34261198 A JP34261198 A JP 34261198A JP 2000160399 A JP2000160399 A JP 2000160399A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plating
solution
tank
plating solution
room
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10342611A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3967479B2 (ja
Inventor
Fumio Kuriyama
文夫 栗山
Hiroyuki Kamiyama
浩幸 上山
Sumiyasu Yamakawa
純逸 山川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP34261198A priority Critical patent/JP3967479B2/ja
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Priority to US09/601,084 priority patent/US6379520B1/en
Priority to PCT/JP1999/006600 priority patent/WO2000032850A1/ja
Priority to TW088120666A priority patent/TW473811B/zh
Priority to KR1020047018838A priority patent/KR100660485B1/ko
Priority to EP99973080A priority patent/EP1052311A4/en
Priority to KR1020007008160A priority patent/KR100665384B1/ko
Priority to US10/187,801 priority patent/USRE39123E1/en
Publication of JP2000160399A publication Critical patent/JP2000160399A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3967479B2 publication Critical patent/JP3967479B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 めっき装置に洗浄水処理機能及びめっき廃液
再生機能、めっき液及びめっき液を含む液の処理につい
て自己完結的な専用処理機能を持たせためっき装置を提
供する。 【解決手段】 めっき部1はめっき液1−1を収容する
と共に陽極電極1−3と陰極としての被めっき基板1−
4を対向して配置しめっきを行なうためのめっき槽1−
2、被めっき基板1−4をめっき後に洗浄する洗浄装置
1−6を具備し、管理部2はめっき液1−1の成分及び
/又は濃度を調整する調整槽2−1、めっき液2−8及
び添加剤2−7を注入する補充機構、めっき液1−1の
成分分析又は/及び濃度測定をする分析装置2−6、洗
浄液中に含まれる金属イオンを取り除く金属イオン採取
器2−5、めっき液の老かい物の除去及び金属イオン濃
度や水素イオン指数等を調整するめっき液再生装置2−
4を具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はめっき装置に関し、
特に被めっき体を洗浄した洗浄液中に含まれる金属イオ
ンを除去する金属イオン除去機能、洗浄液再生機能、め
っき液中の老かい物の除去及び金属イオン濃度や水素イ
オン指数等を調整してめっき液を再生するめっき液再生
機能を具備するめっき装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造プロセスでは、めっき工程は
配線用又は膜付用として多用されている。図6は従来の
この種のめっき装置の構成を示す図である。めっき装置
は図示するように、めっき部1と管理部2とからなり、
めっき部1にはめっき槽1−2が、管理部2に補充槽2
−2と補充槽2−3が設置されている。
【0003】めっき槽1−2にはめっき液1−1が収容
され、該めっき液1−1中には治具に装着された被めっ
き基板1−4と陽極電極(溶解性)1−3とが対向して
配置され、該被めっき基板1−4と陽極電極1−3との
間にはめっき電源1−5が接続されている。また、ポン
プ1−14及び温度調節器1−15が設けられ、ポンプ
1−14によりめっき液1−1が温度調節器1−15に
送られ、該温度調節器1−15でめっきを行なうに最適
な液温に調整されてめっき槽1−2に戻されるようにな
っている。
【0004】補充槽2−3には所定濃度のめっき液(例
えば所定濃度の硫酸銅を主体とした溶液)2−8が収容
されて、めっき液2−8はポンプ2−11により配管3
を通してめっき槽1−2に供給されるようになってお
り、補充槽2−2には添加剤液2−7が収容され、ポン
プ2−9により配管4を通してめっき槽1−2に供給さ
れるようになっている。運転時には図示しない分析装置
でめっき槽1−2内のめっき液1−1の組成及び濃度を
分析し、該組成及び濃度が所定の値に維持されるよう
に、補充槽2−2や補充槽2−3から添加剤液2−7や
めっき液2−8がめっき槽1−2に供給される。
【0005】被めっき基板1−4と陽極電極1−3の間
にめっき電源1−5からめっき電流を通電すると、溶解
性の陽極電極(例えば、含リン銅電極)1−3から放出
された金属イオン(例えば、Cu2+)は被めっき基板1
−4の表面に付着し、金属めっき膜が形成される。陽極
電極1−3はめっき液1−1中に金属イオンを放出して
消耗していくから、定期的に該陽極電極1−3を交換す
る必要がある。
【0006】上記構成のめっき装置において、めっき後
の被めっき基板1−4を洗浄するには多くの洗浄水が排
出される。特に被めっき基板1−4が半導体ウエハ等の
半導体用基板である場合、多くの洗浄水や純水を消費す
る。また、この洗浄水にはめっき液が含まれているため
に金属イオン除去等の処理を必要とするため排水処理設
備に大きな負担がかかる。また、めっき液の劣化による
めっき液の廃液処理を行なう場合にも同様のことがいえ
る。
【0007】そこで、めっき装置に洗浄水処理機能及び
めっき廃液再生機能を持たせ、めっき液及びめっき液を
含む液の処理について自己完結的な専用処理機能を持た
せることは、一般設備の負荷軽減を考慮すると効率的な
方法といえる。このとき、めっき液を調整・管理するめ
っき液調整機能、洗浄に使用済みの洗浄水から金属イオ
ンを取り除く金属イオン除去機能、めっき廃液を再調整
・再生するめっき液再生機能をクリーン度が要求される
めっき部1が設置されている部屋とは異なる部屋に設置
し、めっき液の管理やめっき液の処理及び洗浄水の処理
を行なうことはメンテナンス上大きなメリットがある
が、従来このような要望に答えるめっき装置が開発され
ていない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述の点に鑑
みてなされたもので、めっき装置に洗浄水処理機能及び
めっき廃液再生機能、めっき液及びめっき液を含む液の
処理について自己完結的な専用処理機能を持たせ、且つ
これらの諸機能をクリーン度が要求されるめっき部が設
置されている部屋とは異なる部屋で行なわれるように
し、効率的でメンテナンス上も好適なめっき装置を提供
することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
請求項1に記載の発明は、被めっき体にめっきを行なう
めっき部と、被めっき液及びめっき液を含む液の調整等
を行なう管理部とからなるめっき装置において、めっき
部はめっき液を収容すると共に、陽極電極と陰極として
のめっき体を対向して配置しめっきを行なうめっき槽、
被めっき体をめっき後に洗浄する洗浄装置を具備し、管
理部はめっき液の成分及び/又は濃度を調整する調整
槽、該調整槽にめっき液及び補充剤を注入する補充機
構、該調整槽のめっき液の一部を抽出して該めっき液の
成分分析又は/及び濃度測定をする分析装置、洗浄装置
で被めっき体を洗浄した洗浄液中に含まれる金属イオン
を取り除くか又は金属イオンを取り除いて洗浄液を再生
する装置、調整槽のめっき液を抽出して該めっき液の老
かい物の除去及び金属イオン濃度や水素イオン指数等を
調整するめっき液再生装置を具備し、めっき部は第1の
部屋に設置し、管理部は第2の部屋に設置したことを特
徴とする。
【0010】上記のように、管理部にめっき液の成分及
び/又は濃度を調整する調整槽、めっき液及び補充剤を
注入する補充機構、めっき液の成分分析又は/及び濃度
測定をする分析装置、洗浄装置で被めっき体を洗浄した
洗浄液中に含まれる金属イオンを取り除くか又は金属イ
オンを取り除いて洗浄液を再生する装置、調整槽のめっ
き液を抽出して該めっき液の老かい物の除去及び金属イ
オン濃度や水素イオン指数等を調整するめっき液再生装
置を設けるので、洗浄水処理及びめっき廃液再生、めっ
き液及びめっき液を含む液の処理からなる自己完結的な
専用処理機能を有することになる。従って、これらの処
理が効率的に行なわれると同時に、めっき装置の殆どの
メンテナンス作業を管理部が設置されている第2の部屋
で行なうことができ、メンテナンス作業効率が向上する
と共にめっき部が設置されるクリーン度の高い第1の部
屋の汚染を防止できる。
【0011】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載のめっき装置において、第1の部屋はクリーンル
ームであり、第2の部屋は該クリーンルームよりクリー
ン度の低いユーティリティルームであることを特徴とす
る。
【0012】また、請求項3に記載の発明は、請求項1
又は2に記載のめっき装置において、第1の部屋に設置
されるめっき部が複数であるのに対し、第2の部屋に設
置される管理部は1つであることを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態例を図
面に基づいて説明する。図1は本発明に係るめっき装置
の構成例を示す図である。図1において、図6と同一符
号を付した部分は同一又は相当部分を示す。本めっき装
置は図示するように、めっき部1と管理部2とからな
る。
【0014】めっき部1には、めっき槽1−2と洗浄装
置1−6が設けられている。めっき槽1−2内にはめっ
き液1−1が収容され、該めっき液1−1中に陽極電極
1−3と陰極となる治具に装着された被めっき基板(例
えば、半導体ウエハ)1−4が対向して配置されてい
る。陽極電極1−3と被めっき基板1−4の間にはめっ
き電源1−5が接続され、該めっき電源1−5から陽極
電極1−3と被めっき基板1−4の間にめっき電流を通
電することにより、被めっき基板1−4の表面に金属め
っき膜(例えば、銅めっき膜)を形成する。
【0015】洗浄装置1−6はめっき後の被めっき基板
1−4’を洗浄するための装置で、めっき後の被めっき
基板1−4’に向けて洗浄水(例えば、純水)1−7を
噴射する洗浄ノズル1−8と、該洗浄ノズル1−8から
噴射された使用済みの洗浄水1−7’を受けて収容する
洗浄水槽1−9と、該洗浄水槽1−9の洗浄済みの洗浄
水1−7’を管理部2に送るポンプ1−10を具備す
る。
【0016】管理部2は調整槽2−1、補充槽2−2、
補充槽2−3、めっき液再生装置2−4、金属イオン採
取器2−5及び分析装置2−6を具備する。調整槽2−
1には調整されためっき液1−1が収容され、補充槽2
−2には添加剤液2−7が収容され、補充槽2−3には
所定濃度のめっき液(例えば所定濃度の硫酸銅を主体と
した溶液)2−8が収容されている。添加剤液2−7は
ポンプ2−9により配管2−10を通して調整槽2−1
に供給されるようになっており、めっき液2−8はポン
プ2−11により配管2−12を通して調整槽2−1に
供給されるようになっている。
【0017】調整槽2−1とめっき槽1−2とは配管3
及び配管4で接続されており、調整槽2−1のめっき液
1−1はポンプ2−13によりフィルタ2−14及び配
管3を通してめっき槽1−2に送られ、めっき槽1−2
のめっき液1−1はポンプ1−11により配管4を通っ
て調整槽2−1に送られるようになっている。つまり配
管3、ポンプ2−13、フィルタ2−14、配管4及び
ポンプ1−11は、調整槽2−1とめっき槽1−2の間
をめっき液1−1を循環させるめっき液循環機構を構成
している。
【0018】調整槽2−1のめっき液1−1はポンプに
2−15によりめっき液再生装置2−4に送られ、該液
再生装置2−4でめっき液1−1中の老かい物の除去及
び金属イオン濃度や水素イオン指数等が調整される。該
老かい物の除去及び金属イオン濃度や水素イオン指数等
が調整されためっき液1−1はポンプ2−16によりフ
ィルタ2−17を通って調整槽2−1に送られる。つま
り、ポンプ2−15、ポンプ2−16及びフィルタ2−
17は調整槽2−1とめっき液再生装置2−4の間をめ
っき液1−1を循環させる循環機構を構成している。
【0019】めっき部1の洗浄水槽1−9の洗浄に使用
済みの洗浄水1−7’はポンプ1−10により配管1−
12を通して管理部2の金属イオン採取器2−5に送ら
れ、該金属イオン採取器2−5で洗浄水1−7’から金
属イオン(例えば、Cu2+)を採取(除去)して、該金
属イオンを除去した使用済みの洗浄水1−7’を一般排
水2−18として排出する。また、2−19は温度調節
器であり、調整槽2−1のめっき液1−1はポンプ2−
20により該温度調節器2−19を通って液温が調整さ
れ、所定の液温に維持されるようになっている。
【0020】また、ポンプ2−13で調整槽2−1から
送り出されためっき液1−1の一部は分析装置2−6に
送られ、めっき液の成分及び/又は濃度が分析される。
その分析結果に基づいて、ポンプ2−9やポンプ2−1
1を起動し、補充槽2−2内の添加剤液2−7や補充槽
2−3内のめっき液2−8を調整槽2−1に補充し、調
整槽2−1内のめっき液1−1の成分及び/又は濃度を
調整するようになっている。
【0021】上記構成のめっき装置において、めっき電
源1−5から所定値の電圧を印加することにより、溶解
性の陽極電極(例えば、含リン銅電極)1−3から放出
された金属イオン(例えば、Cu2+)は被めっき基板1
−4の表面に付着し、金属めっき膜が形成される。めっ
き運転の継続と被めっき基板1−4の処理枚数に伴い、
めっき液1−1の組成、濃度及びめっき液量が変化す
る。その変化の状態に応じて、調整槽2−1に補充槽2
−2の添加剤液2−7や補充槽2−3のめっき液2−8
を補充し、めっき液1−1の組成成分及び濃度を所定の
値に維持する。なお、補充槽2−2の添加剤液2−7と
しては、有機添加剤液(ポリマー、レベラー、キャリア
及びHClの混合溶液)が用いられる。
【0022】上記構成のめっき装置のめっき部1をクリ
ーンルーム等のクリーン度の高い第1の部屋に設置し、
管理部2をユーティリティルーム等のクリーン度の低い
第2の部屋に設置する。これにより、めっき部1の洗浄
装置1−6の洗浄水槽1−9中の洗浄に使用済みの洗浄
水1−7’はポンプ1−10により管理部2の金属イオ
ン採取器2−5に送られ、金属イオンが除去され、一般
排水2−18となって排出される。
【0023】図2は本発明に係るめっき装置の他の構成
例を示す図である。図2において、図1と同一符号を付
した部分は同一又は相当部分を示す。本めっき装置が図
1に示すめっき装置と異なる点は、管理部2に金属イオ
ン採取器2−5に替えて洗浄水再生装置2−21を設
け、めっき部1のポンプ1−10により配管1−12を
通して洗浄水槽1−9中の洗浄に使用済みの洗浄水1−
7’を該洗浄水再生装置2−21に送り、該洗浄水再生
装置2−21で洗浄水1−7’中の金属イオン及び異物
を除去して洗浄水を再生している点である。そして再生
した洗浄水を配管1−13を通して、めっき部1の洗浄
ノズル1−8に供給し、洗浄水1−7として利用する。
また、洗浄水再生装置2−21には必要に応じて純水2
−22が補給される。
【0024】図3は金属イオン採取器2−5の構成例を
示す図である。金属イオン採取器2−5はpH調整槽1
2及びキレート樹脂塔14を具備し、図1のめっき部1
の洗浄水槽1−9の洗浄に使用済みの洗浄水1−7’は
ポンプ1−10により配管1−12を通ってpH調整槽
12に送られ収容される。ここでpH調整槽12に中和
剤が注入され、洗浄水1−7’のpH値が調整される。
pH値が調整された洗浄水1−7’はポンプ13により
キレート樹脂塔14に送られる。
【0025】洗浄水1−7’がキレート樹脂塔14を通
ると、洗浄水1−7’中に例えば金属イオンとしてCu
2+イオンが含まれていると、化学反応(R=Ca+Cu
2+→R=Cu+Ca2+ 但し、Rは官能基を示す)によ
り、Ca2+より選択性の強いCu2+イオンは該キレート
樹脂塔14のCa型キレート樹脂のCa2+と置き換わ
り、Cu2+イオンが官能基の末端に吸着し、洗浄水中の
Cu2+イオンが除去される。このようにキレート樹脂塔
14で金属イオンの除去された洗浄水1−7’は一般排
水2−18となって排出される。
【0026】図4は洗浄水再生装置2−21の構成例を
示す図である。本洗浄水再生装置2−21は洗浄排水貯
蔵槽21、界面活性剤塔22、紫外線殺菌塔23、アニ
オン交換樹脂塔24、カチオン交換樹脂塔25を具備す
る。図2のめっき部1の洗浄水槽1−9の洗浄に使用済
みの洗浄水1−7’はポンプ1−10により、配管1−
12を通して洗浄排水貯蔵槽21に貯留される。
【0027】洗浄排水貯蔵槽21の洗浄水1−7’はポ
ンプ26はフィルタ27を通し異物を除去した後、界面
活性剤塔22を通ることにより有機添加の分解物や老か
い物を吸着除去してから、紫外線殺菌塔23を通して雑
菌の繁殖を抑え、更にアニオン交換樹脂塔24とカチオ
ン交換樹脂塔25を通ることにより、それぞれ洗浄水1
−7’陰イオンと陽イオンとを水酸イオンOHと水素
イオンHとに置き換え、樹水に再生する。この後フィ
ルタ28を通って異物が除去され、再生された純水とな
って三方弁29から配管1−13を通って、めっき部1
の洗浄ノズル1−8に供給される。なお、洗浄排水貯蔵
槽21には必要に応じて、純水30が開閉弁31を介し
て補給される。
【0028】図5はめっき液再生装置2−4の構成例を
示す図である。めっき液再生装置2−4は界面活性剤塔
41、界面活性剤塔42、めっき液再生槽43、添加剤
液槽44、添加剤液槽45、硫酸銅溶液槽46、硫酸槽
47及び塩酸槽48を具備する。図1又は図2の調整槽
2−1からの老かい物等を含んだめっき液1−1がフィ
ルタ49を通過することによって固形パーティクルが除
去される。更に特性の異なる界面活性剤塔41及び42
に通すことによって有機添加剤の分解物等の老かい物が
除去される。ここで特性の異なる2つの界面活性剤塔4
1及び42を設ける理由は、有機添加物の分解物や老か
い物は分子量の大きいものから小さいものまであり、こ
れを効率良く吸着するためには、複数の種類の界面活性
剤塔を必要とするからである。
【0029】次に、異なる界面活性剤塔42を通っため
っき液1−1はめっき液再生槽43に貯留される。めっ
き液再生槽43には添加剤液槽44からポンプ55によ
り第1の添加剤50が、添加剤液槽45からポンプ56
により第2の添加剤51が、硫酸銅溶液槽46からポン
プ57により硫酸銅溶液52が、硫酸槽47からポンプ
58により硫酸溶液53が、塩酸槽48からポンプ59
により塩酸溶液54がそれぞれ供給されるようになって
いる。
【0030】ここでめっき液を適正な成分組成にするた
めに濃度の高い硫酸銅溶液52を追加し、銅イオン濃度
を適正値にする。そして硫酸溶液53や塩酸溶液54を
加え、水素イオン指数(pH値)と塩素イオン濃度を調
整する。そして、有機添加剤である第1の添加剤50、
有機添加剤である第2の添加剤51を加えてめっき液1
−1を調整する。調整されためっき液1−1はポンプ2
−16によりフィルタ2−17を通して調整槽2−1に
送られる。なお、めっき再生槽43には開閉弁60を介
して純水61が必要に応じて補給されるようになってい
る。
【0031】また、上記例では図1及び図2に示す構成
のめっき装置において、めっき部1を設置する第1の部
屋をクリーンルームとする例を示したが、クリーンルー
ムに限定されるものではなく、クリーンブース、クリー
ンベンチ、クリーンボックス等のクリーン度の高い部屋
又は領域であればよい。
【0032】また、上記図1及び図2に示すめっき装置
の構成例では、めっき電源1−5を該めっき部1に設け
第1の部屋に設置するように図示しているが、このめっ
き電源1−5を管理部2が設置されている第2の部屋に
設け、ここから給電するように構成してもよい。こうす
ることにより、めっき電源1−5のメンテナンス作業も
管理部2が設置される第2の部屋で行なうことができ
る。特にめっき電源1−5に蓄電池を用いる場合は、ダ
ーティな蓄電池のメンテナンス作業をクリーン度の低い
第2の部屋で行なうことになり、好ましい。
【0033】また、上記図1及び図2に示すめっき装置
の構成例では、1個のめっき部1に対して1個の管理部
を設けるように構成しているが、複数個のめっき部1に
対して、1個の管理部2を設け、複数個のめっき部1を
第1の部屋に設置し、1個の管理部2を第2の部屋に設
け、1個の管理部で複数個のめっき部を管理できるよう
に構成してもよい。
【0034】また、上記図1乃至図2に示すめっき装置
の構成例では、省略したが、めっき液や電解液等の液の
流量を測定するフローメータ、圧力を測定する圧力計、
温度計等、メンテナンスを必要とする機器は管理部2の
設置されるクリーン度の低い第2の部屋へ設置する。こ
れにより、めっき部1が設置されたクリーン度の高い第
1の部屋をこれらのメンテナンスで汚染させる心配がな
くなる。
【0035】なお、上記実施形態例では被めっき体とし
て、半導体ウエハ等の半導体用の被めっき基板1−4に
金属めっき膜を形成する場合を例に説明したが、被めっ
き体はこれに限定されるものではない。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、各請求項に記載の
発明によれば、管理部にめっき液の成分及び/又は濃度
を調整する調整槽、めっき液及び補充剤を注入する補充
機構、めっき液の成分分析又は/及び濃度測定をする分
析装置、洗浄装置で被めっき体を洗浄した洗浄液中に含
まれる金属イオンを取り除くか又は金属イオンを取り除
いて洗浄液を再生する装置、調整整槽のめっき液を抽出
して該めっき液の老かい物の除去及び金属イオン指数等
を調整するめっき液再生装置を設け、めっき部を第1の
部屋に設置し、管理部を第2の部屋に設置したので、下
記のような優れた効果が得られる。
【0037】浄水処理及びめっき廃液再生、めっき液
及びめっき液を含む液の処理からなる自己完結的な専用
処理機能を有することにり、これらの処理が効率的に行
なわれる
【0038】めっき装置の殆どのメンテナンス作業を
管理部が設置されている第2の部屋で行なうことがで
き、メンテナンス作業効率が向上すると共にめっき部が
設置されるクリーン度の高い第1の部屋の汚染を防止で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るめっき装置の構成例を示す図であ
る。
【図2】本発明に係るめっき装置の構成例を示す図であ
る。
【図3】金属イオン採取器の構成例を示す図である。
【図4】洗浄水再生装置の構成例を示す図である。
【図5】めっき液再生装置の構成例を示す図である。
【図6】従来のめっき装置の構成例を示す図である。
【符号の説明】
1 めっき部 1−1 めっき液 1−2 めっき槽 1−3 陽極電極 1−4 被めっき基板 1−5 めっき電源 1−6 洗浄装置 1−7 洗浄水 1−8 洗浄ノズル 1−9 洗浄水槽 1−10 ポンプ 1−11 ポンプ 2 管理部 2−1 調整槽 2−2 補充槽 2−3 補充槽 2−4 めっき液再生装置 2−5 金属イオン採取器 2−6 分析装置 2−7 添加剤液 2−8 めっき液 2−9 ポンプ 2−11 ポンプ 2−13 ポンプ 2−14 フィルタ 2−15 ポンプ 2−16 ポンプ 2−17 フィルタ 2−18 一般排水 2−19 温度調節器 2−20 ポンプ 2−21 洗浄水再生装置 2−22 純水 11 12 pH調整槽 13 ポンプ 14 キレート樹脂塔 21 洗浄排水貯蔵槽 22 界面活性剤塔 23 紫外線殺菌塔 24 アニオン交換樹脂塔 25 カチオン交換樹脂塔 26 ポンプ 27 フィルタ 28 フィルタ 29 三方弁 30 純水 31 開閉弁 41 界面活性剤塔 42 界面活性剤塔 43 めっき液再生槽 44 添加剤液槽 45 添加剤液槽 46 硫酸銅溶液槽 47 硫酸槽 48 塩酸槽 49 フィルタ 50 第1の添加剤 51 第2の添加剤 52 硫酸銅溶液 53 硫酸溶液 54 塩酸溶液 55 ポンプ 56 ポンプ 57 ポンプ 58 ポンプ 59 ポンプ 60 開閉弁 61 純水
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山川 純逸 東京都大田区羽田旭町11番1号 株式会社 荏原製作所内 Fターム(参考) 4K024 BB12 CA01 CA03 CB01 CB11 CB19 CB24 CB26 GA16 4M104 BB04 DD52

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被めっき体にめっき行なう部と、めっき
    液及びめっき液を含む液の調整等を行なう管理部とから
    なるめっき装置において、 前記めっき部はめっき液を収容すると共に、陽極電極と
    陰極としての前記被めっき体を対向して配置しめっきを
    行なうめっき槽、前記被めっき体をめっき後に洗浄する
    洗浄装置を具備し、 前記管理部はめっき液の成分及び/又は濃度を調整する
    調整槽、該調整槽にめっき液及び補充剤を注入する補充
    機構、該調整槽のめっき液の一部を抽出して該めっき液
    の成分分析又は/及び濃度測定をする分析装置、前記洗
    浄装置で前記被めっき体を洗浄した洗浄液中に含まれる
    金属イオンを取り除くか又は金属イオンを取り除いた洗
    浄液を再生する装置、前記調整槽のめっき液を抽出して
    該めっき液の老かい物の除去及び金属イオン濃度や水素
    イオン指数等を調整するめっき液再生装置を具備し、 前記めっき部は第1の部屋に設置し、前記管理部は第2
    の部屋に設置したことを特徴とするめっき装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のめっき装置において、 前記第1の部屋はクリーンルームであり、前記第2の部
    屋は該クリーンルームよりクリーン度の低いユーティリ
    ティルームであることを特徴とするめっき装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2に記載のめっキ装置にお
    いて、 前記第1の部屋に設置されるめっき部が複数であるのに
    対し、前記第2の部屋に設置される管理部は1つである
    ことを特徴とするめっき装置。
JP34261198A 1998-11-30 1998-12-02 めっき装置 Expired - Lifetime JP3967479B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34261198A JP3967479B2 (ja) 1998-12-02 1998-12-02 めっき装置
PCT/JP1999/006600 WO2000032850A1 (en) 1998-11-30 1999-11-26 Plating machine
TW088120666A TW473811B (en) 1998-11-30 1999-11-26 Plating apparatus
KR1020047018838A KR100660485B1 (ko) 1998-11-30 1999-11-26 도금장치
US09/601,084 US6379520B1 (en) 1998-11-30 1999-11-26 Plating apparatus
EP99973080A EP1052311A4 (en) 1998-11-30 1999-11-26 electroplating
KR1020007008160A KR100665384B1 (ko) 1998-11-30 1999-11-26 도금장치
US10/187,801 USRE39123E1 (en) 1998-11-30 1999-11-26 Plating apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34261198A JP3967479B2 (ja) 1998-12-02 1998-12-02 めっき装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000160399A true JP2000160399A (ja) 2000-06-13
JP3967479B2 JP3967479B2 (ja) 2007-08-29

Family

ID=18355121

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34261198A Expired - Lifetime JP3967479B2 (ja) 1998-11-30 1998-12-02 めっき装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3967479B2 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003073845A (ja) * 2001-08-29 2003-03-12 Sony Corp 回転式メッキ装置およびメッキ方法
JP2004526050A (ja) * 2000-06-26 2004-08-26 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 電気化学堆積の装置および方法
WO2005105322A1 (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Ebara Corporation 基板処理ユニット及び基板処理装置
JP2012516560A (ja) * 2009-01-30 2012-07-19 ケンブリッジ ディスプレイ テクノロジー リミテッド 無電解めっきによる有機薄膜トランジスタのソース及びドレイン電極の形成方法
CN103741199A (zh) * 2013-12-31 2014-04-23 江阴康强电子有限公司 一种镀银液预溶解工艺
US9005409B2 (en) 2011-04-14 2015-04-14 Tel Nexx, Inc. Electro chemical deposition and replenishment apparatus
US9017528B2 (en) 2011-04-14 2015-04-28 Tel Nexx, Inc. Electro chemical deposition and replenishment apparatus
CN104818517A (zh) * 2015-04-07 2015-08-05 安徽江南鸣放电子科技有限公司 一种镀锌铜电镀溶液锌离子控制装置
US9303329B2 (en) 2013-11-11 2016-04-05 Tel Nexx, Inc. Electrochemical deposition apparatus with remote catholyte fluid management
JP2018199848A (ja) * 2017-05-26 2018-12-20 株式会社日本ラスパート 電気亜鉛めっき装置及び電気亜鉛めっき方法

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004526050A (ja) * 2000-06-26 2004-08-26 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 電気化学堆積の装置および方法
JP2015166494A (ja) * 2000-06-26 2015-09-24 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 電気化学堆積の装置および方法
JP2012177203A (ja) * 2000-06-26 2012-09-13 Applied Materials Inc 電気化学堆積の装置および方法
JP2003073845A (ja) * 2001-08-29 2003-03-12 Sony Corp 回転式メッキ装置およびメッキ方法
US7368016B2 (en) 2004-04-28 2008-05-06 Ebara Corporation Substrate processing unit and substrate processing apparatus
US7735450B2 (en) 2004-04-28 2010-06-15 Ebara Corporation Substrate holding apparatus
KR101140770B1 (ko) * 2004-04-28 2012-05-03 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 기판처리유닛 및 기판처리장치와 기판 유지장치 및 기판 유지방법
JPWO2005105322A1 (ja) * 2004-04-28 2008-03-13 株式会社荏原製作所 基板処理ユニット及び基板処理装置
WO2005105322A1 (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Ebara Corporation 基板処理ユニット及び基板処理装置
JP2012516560A (ja) * 2009-01-30 2012-07-19 ケンブリッジ ディスプレイ テクノロジー リミテッド 無電解めっきによる有機薄膜トランジスタのソース及びドレイン電極の形成方法
US9017528B2 (en) 2011-04-14 2015-04-28 Tel Nexx, Inc. Electro chemical deposition and replenishment apparatus
US9005409B2 (en) 2011-04-14 2015-04-14 Tel Nexx, Inc. Electro chemical deposition and replenishment apparatus
US9303329B2 (en) 2013-11-11 2016-04-05 Tel Nexx, Inc. Electrochemical deposition apparatus with remote catholyte fluid management
CN103741199A (zh) * 2013-12-31 2014-04-23 江阴康强电子有限公司 一种镀银液预溶解工艺
CN103741199B (zh) * 2013-12-31 2016-06-29 江阴康强电子有限公司 一种镀银液预溶解工艺
CN104818517A (zh) * 2015-04-07 2015-08-05 安徽江南鸣放电子科技有限公司 一种镀锌铜电镀溶液锌离子控制装置
JP2018199848A (ja) * 2017-05-26 2018-12-20 株式会社日本ラスパート 電気亜鉛めっき装置及び電気亜鉛めっき方法
JP7075573B2 (ja) 2017-05-26 2022-05-26 株式会社日本ラスパート 電気亜鉛めっき装置及び電気亜鉛めっき方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3967479B2 (ja) 2007-08-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2000032850A1 (en) Plating machine
KR100926743B1 (ko) 수소용해수 제조장치
KR100396955B1 (ko) 습식처리방법
JP2000160399A (ja) めっき装置
WO2007024515A1 (en) Silicon surface preparation
JPH02233194A (ja) 超純水ラインの滅菌方法
JP2004122020A (ja) 超純水製造装置及び該装置における超純水製造供給システムの洗浄方法
JPWO2019088015A1 (ja) 洗浄水処理方法
US6841074B2 (en) Method and apparatus of purifying an electrolyte
US6827832B2 (en) Electrochemical cell and process for reducing the amount of organic contaminants in metal plating baths
JPWO2009082008A1 (ja) 過酸化水素除去方法およびその装置、オゾン水製造方法およびその装置、並びに洗浄方法およびその装置
KR101066461B1 (ko) 고순도수 제조시스템 및 그 운전방법
JP2005240108A5 (ja)
JP3138901B2 (ja) 基板の浸漬処理装置
KR20070090378A (ko) 기판세정장치 및 세정수 공급방법
JPH1036999A (ja) メッキ液中の不純物除去方法と装置
KR20110082730A (ko) 웨이퍼 세정장치 및 세정방법
JP2003001043A (ja) 湿式汚染ガス除去装置の洗浄装置
JP3507590B2 (ja) ウエット処理方法及び処理装置
JP4429427B2 (ja) 可溶性ガスの除去装置
JPH07956A (ja) 汚水浄化方法
US6851436B1 (en) Substrate processing using a fluid re-circulation system in a wafer scrubbing system
CN115156186B (zh) 一种用于高洁净度超声波清洗循环过滤及表面处理方法
JP2003027289A (ja) メッキ装置、メッキ方法、および半導体装置の製造方法
JP2003340458A (ja) 機能水の回収方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061121

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20070122

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070220

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070423

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20070423

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070529

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070531

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100608

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110608

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120608

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120608

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130608

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term