JP2000158400A - 局部的に補強された金属性のマイクロ構造を製作する製法並びに局部的に補強された金属性のマイクロ構造 - Google Patents
局部的に補強された金属性のマイクロ構造を製作する製法並びに局部的に補強された金属性のマイクロ構造Info
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Abstract
とにある。 【解決手段】 本発明は、電気的な接触接続手段又は制
御回路を備えた基板、及び、金属性のマイクロ構造を設
けた後で除去される有機的な構造化された犠牲層に、局
部的に補強された金属性のマイクロ構造を製作する製法
に関する。マイクロ構造の局部的な補強部を製作する場
合、マスクとして成形された有機的な少なくとも1つの
別の層(16,19,20,26,30,116,12
0)を設け、該層を金属層(14,15,18,24,
28,114,118)を構造化した後で同様に除去す
る。
Description
1項の上位概念に記載の形式の局部的に補強された金属
性のマイクロ構造、特にマイクロミラーの製法に関す
る。
エレメントを懸架するための切欠きの所要の安定性を得
るために、マイクロ構造、例えばミラープレート及び/
又は切欠きの局部的な補強が提案されている。
から出発する局部的に厚い層を備えたマイクロミラーの
製法が開発されている。この製法は、”Texas Instrume
ntsDigital Ligth Processing and MEMS: Timely Conve
rgence for a Bright Future,L,J.Hornbeck, Micromach
ining and Microfabrication 95, Plenary SessionPape
r, Texas, USA, 1995”の出版物に記載されている。前
記公知の製法は、二酸化珪素・マスクによって鏡面をマ
スキングするための複雑で不経済なプロセス及び次いで
行われるアルミニウム層のプラズマエッチングが利用さ
れる。
された製法並びにマイクロ構造を提供することにある。
ば、特許請求の範囲第1項及び第9項に記載の製法並び
に第10項及び第12項に記載のマイクロ構造によって
解決された。
版及びこれに次いで行われる金属層の化学的なウエット
エッチングは、技術的に簡単でしかも経済的である。
項に記載されている。
な感光性樹脂層を製作するために、ポジ型並びにネガ型
の感光性樹脂を使用できる。ポジ型の感光性樹脂の場
合、露光後及び現像後に露光された領域が除去される。
ロミラーを支持する切欠き(支柱及び中空支柱)が互い
に隣接する2つのマイクロミラーを担持するマイクロミ
ラーアレーにおいてマイクロミラーとしての局部的に補
強された構造を製作するための実施例を説明する。
使用される材料並びにフォト構造化のための所要のマス
クの数に関し異なっている。
述する。マイクロミラーは、以下の基本的なプロセスス
テップで実現される。即ち、基板(ウエーハ)10の浄
化及び不動態化、電極の構造化又はCMOS・制御手段
の製作、犠牲層の切欠きの構造化、金属層(Al、N
i、Au)のスッパタリング、場合によっては電気メッ
キ式の金属析出(Ni)、ミラーの構造化及び犠牲層の
除去。本発明による製法の記述は、犠牲層12の製作後
に開始される(第1図a、製法1)。ポジ型の感光性樹
脂(HOECHST社のAZ4562)から成る犠牲層は、樹脂遠心
機においてスピンコートされる。例えば50μm×50
μmの大きさのミラープレートを有するマイクロミラー
は、10度の切換え角のために4.35μmの理論的な
犠牲層厚さを必要とする。犠牲層の厚さは、その都度の
旋回角が得られるように、選択されている。次いで樹脂
が、下面をUV・光に関し透過性のクロム・酸化クロム
・層により構造化されているUV・光を透過するマスク
17、例えば石英又は生ガラスから成るマスク17を介
してHg・HDランプで露光されて、現像される。次い
で、アルミニウムから成る第1の金属層14が、犠牲層
12にスパッタリングされ、即ち、アルミニウム層がカ
ソードスパッタによって塗布され、この場合例えば、2
0−100sccmのアルゴン流で350−450Wの出力
及び10-3 −10-2 mbarの圧力を有するマグネトロン
・スパッタ装置が使用される。
の厚さ(0.1μm乃至数μm)は、トーションウエブ
の後で得られる厚さに相応する。基板の温度はスパッタ
プロセス中には、樹脂層の褶曲及び発泡を阻止するため
に、犠牲層12の感光性樹脂の最大硬化温度以下に維持
されねばならない。後で得られるトーションウエブのマ
スキングのために、感光性樹脂(例えば、HOECHST社のA
Z8112)がスピンコートされる。感光性樹脂層16の厚
さはほぼ1μmである。感光性樹脂は、クロムマスク1
7によって露光され、露光された領域は、アルカリ性現
像水溶液によって除去される。感光性樹脂の前硬化及び
後硬化時の温度は、犠牲層の硬化温度以下に保たれる。
これにも拘わらず構造化可能な耐酸性のポリマー層を得
るために、調質ステップは、通常の処理の場合よりも長
く継続する。例えば酸素プラズマ内での短時間の焼却に
よる表面活性化後に、ミラープレート5及び切欠き7を
補強する別の金属層18、例えばアルミニウム層がスパ
ッタリングされる。
には、第1の金属層14をスパッタリングする際と同じ
プロセス条件が該当する。しかしながら別の金属層18
は比較的厚く(0.2μm乃至数μm)かつ付加的に高
い反射性(例えば88%乃至92%)を有する必要があ
る。アルミニウム層14,18を構造化するために、も
う一度ポジ型の感光性樹脂(例えば、HOECHST社のAZ811
2)から成る第2の感光性樹脂層20が、第2のアルミ
ニウム層18に塗布される。マスク21を用いた感光性
樹脂・マスキングプロセスは、トーションウエブ3をマ
スキングするための既述のプロセスに相応する。
エッチングの際にトーションウエブが損傷又はエッチン
グされないようにするために、トーションウエブ3用の
感光性樹脂層16とミラープレート5用の層と後で得ら
れる切欠き7とを局部的にオーバーラップすることが重
要である。トーションウエブの取付け個所におけるオー
バーラップは、例えば3μmである。両アルミニウム層
14,18は、有利にはウエット化学式にエッチングさ
れる。イオン・ビーム・エッチング(IBE)によるド
ライエッチングプロセスも同様に可能である。エッチン
グ混合物は、例えばリン酸、硝酸及び酢酸(H3PO4/CH3C
OOH/HNO3/H2O(4:4:1:1)及び湿潤剤から成る。エッチン
グ率は温度に関連している。特に高温度の場合に前記エ
ッチング混合物が感光性樹脂に作用することを考慮する
必要がある。それ故、アルミニウム層が厚い場合には感
光性樹脂層も比較的厚く選ばれねばならずかつ場合によ
っては長く硬化されねばならない。感光性樹脂層16,
18は、アセトンのような溶剤又は感光性樹脂現像剤に
よって又は400−800sccm のO2 ・流過量及び4
50Wを有するトンネルリアクタの酸素プラズマ内での
焼却によって除去される。
として有機的な構造化された犠牲層12が設けられてい
る。犠牲層12はウエット式に溶解させることはできな
い。それというのもこの場合、金属層14が付着力によ
り基板に引きつけられて、接着状態で維持されるからで
ある。それ故犠牲層12は、トンネルリアクタのフルオ
ル炭化水素化合物を含有するプラズマ内で、特に200
W、50−250sccmのO2 ・流過量及び2−10sccm
のCF4 ・流過量のテトラフルオル炭素ガスを含有す
るプラズマ内で乾式に除去される。
2を全面で露光しかつウエット化学式に金属層14(ミ
ラープレート)の外部の領域を現像除去できる。
されており、この場合、種々のステップのために同一の
反応条件が維持される。有機的に構造化された犠牲層1
2にアルミニウムから成る第1の金属層14をスパッタ
リングするに続いて、全表面に、切欠き7を充填するポ
ジ型の感光性樹脂から成る感光性樹脂層16がスピンコ
ートされる。マスク31を用いた感光性樹脂の露光後及
び第1の金属層14のエッチング後に、マイクロミラー
が均質な層厚さで構造化される。既に露光されかつ現像
された感光性樹脂は、後で得られる鏡面5の領域でマス
ク33によって新たに露光されかつ現像により除去され
る。これに次いで行われるスパッタステップでは、アル
ミニウムから成る第2の金属層18が塗布されかつマス
ク35によるマスキンク後にエッチングされる。次い
で、残りの感光性樹脂は、アセトンのような溶剤又は感
光性樹脂現像剤により又はトンネルリアクタの酸素プラ
ズマ内で除去される。有機的な構造化された犠牲層12
は、前述の製法1のように除去される。
は、構造化された犠牲層12にサンドイッチ状の順序の
金属層14,15,18がスパッタリングされる。この
場合、第1のアルミニウム層14がベース層として構造
化された犠牲層12に、次いで第2の金属層15がチタ
ン、ニッケル又はチタンタングステン(TiW)から成
る中間層としてかつ最終的に別のアルミニウム層18が
カバー層としてスパッタリングされる。カバー層18に
は、切欠き7及びミラープレート5の領域が写真製版式
に感光性樹脂層19によってマスキングされる。マスク
37を用いたプロセスは、ポジ型の感光性樹脂(例え
ば、HOECHST社のAZ8112)を用いた製法1の金属層の第
2のマスキング法に相応する。アルミニウム層18は、
既述のリン酸・エッチング混合物によって除去されかつ
チタン又はチタンタングステンから成る中間層15は、
フッ酸又は過酸化水素によって局部的にウエット化学式
に除去される。ミラープレート5及び切欠き7用の感光
性樹脂マスク19は、まずアセトンのような溶剤又は感
光性樹脂現像剤により、次いでトンネルリアクタの酸素
プラズマ内で完全に除去される。まだ完全に維持されて
いる第1のアルミニウム層14を構造化するために、全
表面に、マスク39によって構造化される第2のポジ型
の感光性樹脂20が備えられる。
の外部でエッチング混合物によってウエット化学式にエ
ッチングされかつ第1の製法のように犠牲層12が乾式
に除去される。
及び有機的な構造化された犠牲層12を除去する前に、
金属構造上に更に積層することもできる。第4図実施例
で図示の第4の製法では、窒化タンタル(TaN)から
成る防護層24が、構造の最上部の金属層18にしかも
犠牲層12を介して塗布される。この場合感光性樹脂層
は、犠牲層26として塗布されかつマスク41によって
構造化される、例えばミラー用の切欠き7が形成され
る。次のステップにおいて、防護層24が切欠きの領域
でエッチング除去され、例えば窒化タンタルから成る防
護層24が、アンモニウム・ペルオキシソジルスルフェ
ート(Peroxodisulfat)(NH4)2S2O8)によって又はフ
ッ酸、酢酸及び硝酸(HF/CH3COOH/HNO3/H2O)から成る
混合物によってエッチング除去される。
層28が、感光性樹脂層(犠牲層26)にスパッタリン
グされかつ化学式のウエットエッチングによりマスク4
3を用いて構造化されてミラープレートが形成される。
次いで既述のように、両犠牲層12,26除去される。
省略できる。この場合、マイクロミラーの金属層18と
後で得られる鏡面28との間の伝導結合は得られないの
で、静電式の制御に際して、アレー内に配置する場合の
相互の影響は減少される。キャパシタンスひいては再充
電電流も減少される。
の補強を許容する特殊な幾何学形状、特にU字形プロフ
ィル及びV字形プロフィルを有することもできるので、
可動なエレメントの質量が減少されひいてはマイクロミ
ラーの高い固有周波数が得られる。構造エレメントの補
強は縁部領域によって行われるので、これらの間に位置
する面は比較的薄くできる。付加的に前記面は、種々の
2つの材料から形成されるので、温度に関連して撓みが
生ずる。犠牲層技術は、マイクロ構造エレメントの製作
の根拠となっている。U字形プロフィルの実施例は、第
5図で図示されている。例えば金属電極、CMOS・制
御手段及び電子機構を有する適当な基板上には、既述の
製法におけるように、感光性樹脂(例えば、HOECHST社
のAZ4562)から成る犠牲層112が樹脂遠心機によって
塗布されかつ20mW/cm2 の露光及び現像によって構造
化される。構造化された第1の犠牲層112は、局部的
に補強されたプロフィルを形成ために、種々の層順序
(114,116,118,120)で塗布される。
チタン又はチタンタングステンから成る第1の金属層1
14は、付着層及びスタート層として第1の犠牲層11
2に塗布される。金から成る第1の金属層(付着層)の
スパッタリングのために、300W乃至500Wの出
力、0.01mbar 範囲のプロセスチャンバ圧力及び1
00度C以下のプロセス温度が使用される。金属層11
4は、第2の犠牲層116用の防護層としても用いら
れ、該犠牲層は、感光性樹脂(例えば、HOECHST社のAZ4
533)から成り、第1の金属層114にスピンコートさ
れる。製作すべきU字形プロフィルの高さを有する第2
の犠牲層116は、マスク45によって構造化されか
つ、特に金又は銅のような貴金属から成る又はチタン又
はチタンタングステンから成る第2の金属層118は、
第2の犠牲層に析出される。この場合、 U字形プロフ
ィルのトーションウエブ及び縁部で垂直な補強エッジが
生ずる。この構造はトラフ形状とも呼ばれる。
は、 U字形プロフィルの縁部を形成するためにマスク
47によって構造化される。マスク47はマスク45に
類似しているが、マスク47の開口はプロフィル幅だけ
大きく、従って、次の層の塗布を容易にするように基板
縁部における金属被覆はカバーされない。マイクロ構造
の金属層122は、例えば電気メッキ式にニッケル又は
ニッケルコバルトによって形成される。電気メッキ式の
金属析出のための代表的なNi・浴は、50度Cの浴温
度及び5.3のpH・値を有する硫酸ニッケル(NiS
O4)、塩化ニッケル(NiCl)及びホウ酸(H3BO3)から
形成される。マイクロ構造を製作した後では、第3の犠
牲層120がアセトンのような溶剤によって、第2の金
属層18が適当なエッチング溶剤によって、第2の犠牲
層116が矢張りアセトンのような溶剤によって及び第
1の金属層114が適当なエッチング溶剤によって除去
される。
部が洗い流されずかつこの際構造が変形されて基板に引
きつけられるまで、有利にはウエット化学式に行われ
る。
の、酸素・及びフルオル(フッ素)を含有した炭素化合
物(例えばCF4)から成るプラズマ内での焼却によって
除去される。使用されるプロセスパラメータは、 層厚
さ及びミラー寸法に応じて、RF・出力のために100
乃至500W、 O2 ・流過量のために100−200sc
cm 及びCF4・流過量のために2乃至10sccm である。
V字形構造が得られる。このために、犠牲層内に支柱
(切欠き)のために適当なパラメータ選択により極めて
フラットなフランクが実現され、該フランクにはスパッ
タリングにより十分な金属(アルミニウム)が析出され
る。
な質量で戻しモーメントを増大して形成できしかも大面
積の片持ち式の構造を僅かな質量で強度/剛性を増大し
て形成できる。前述の原理により、2つの異なる材料か
ら安定したフレームを有する薄膜(ダイヤフラム)を形
成できる。温度変化が生じた場合には、バイメタル効果
が生ずる。従って、静電式の駆動装置によって熱的に焦
点距離を制御可能なマイクロミラーを形成できる。凹面
状及び凸面状の表面は温度に亘って所望のように調節さ
れひいてはマイクロミラーにおいて焦点合わせ特性及び
焦点ずらし特性が生ぜしめられる。
れ、ミラープレート及び支柱として用いられる2つの切
欠きを補強する製法ステップを示す図。
れ、補強されたミラープレートの製法ステップを示す
図。
はそれぞれ、サンドイッチ状の層順序によりミラープレ
ート及び2つの支柱を補強する製法ステップを示す図。
k,lはそれぞれ、局部的に互いに結合された多層の構
造を構成するための製法ステップを示す図。
k,lはそれぞれ、U字形プロフィルによって補強され
たマイクロ構造を製作するための製法ステップを示す
図。
Claims (14)
- 【請求項1】 有利には電気的な接触接続手段又は制御
回路を備えた基板、及び、金属性のマイクロ構造を設け
た後で除去される有機的な構造化された犠牲層に、局部
的に補強された金属性のマイクロ構造、特にアルミニウ
ム構造を製作する製法において、マイクロ構造の局部的
な補強部を製作する際に、マスクとして成形された有機
的な少なくとも1つの別の層(16,19,20,2
6,30,116,120)を設け、該層を金属層(1
4,15,18,24,28,114,118)を構造
化した後で同様に除去することを特徴とする、局部的に
補強された金属性のマイクロ構造を製作する製法。 - 【請求項2】 金属性の構造(1)を形成するためのマ
スク(16,19,20,26,30,116,12
0)として、感光性樹脂、有利にはポジ型の感光性樹脂
から成る有機的な層を設ける、請求項1記載の製法。 - 【請求項3】 有機的な層(16,19,20,26,
30,116,120)をスピンコートする、請求項1
又は2記載の製法。 - 【請求項4】 犠牲層(12)に第1の金属層(14)
をスパッタリングし、得るべき第1の金属層(14)の
領域を、第1の感光性樹脂層(16)でマスキング(1
7)し、第2の金属層(18)を全面にスパッタリング
し、得るべき第2の金属層(18)の領域を、第2の感
光性樹脂層(20)でマスキング(21)し、金属層
(14,18)のマスキングされない領域をエッチング
し、次いで、感光性樹脂層(16,20)を除去する、
請求項1から3までのいずれか1項記載の製法(図1a
−1i)。 - 【請求項5】 犠牲層(12)に第1の金属層(14)
をスパッタリングし、得るべき第1の金属層(14)の
領域を、第1の感光性樹脂被覆(16)でマスキング
(31)し、第1の金属層(14)のマスキングされな
い領域をエッチングし、第1の感光性樹脂層(16)を
補強すべき領域で除去し、次いで第2の金属層(18)
をスパッタリングし、得るべき第2の金属層(18)の
領域を、第2の感光性樹脂層(20)でマスキング(3
5)し、両金属層(14,18)のマスキングされない
領域をエッチングし、次いで、感光性樹脂層(16,2
0)を除去する、請求項1から3までのいずれか1項記
載の製法(図2a−2i)。 - 【請求項6】 犠牲層(12)に第1の金属層(14)
をスパッタリングし、第1の金属層(14)に、特にT
i、Ni又はTiWから成る第2の異なる金属層(1
5)をスパッタリングし、第2の金属層(15)に、別
の金属層(18)、特にアルミニウム層をスパッタリン
グし、得るべき金属層(14,15,18)の領域を、
第1の感光性樹脂層(19)でマスキング(37)し、
別の金属層(18)のマスキングされない領域をエッチ
ングし、次いで、第2の異なる金属層(15)のマスキ
ングされない領域をエッチングし、第1の感光性樹脂層
(19)を除去し、得るべき金属層(14,15,1
8)の領域を、第2の感光性樹脂層(20)でマスキン
グ(39)し、第1の金属層(14)のマスキングされ
ない領域をエッチングし、次いで、感光性樹脂層(2
0)を除去する、請求項1から3までのいずれか1項記
載の製法(図3a−3k)。 - 【請求項7】 特に窒化タンタルから成る防護層(2
4)をマイクロ構造(1,14,15,18)に設け、
これに感光性樹脂から成る犠牲層(26)を設け、露光
及び現像により構造化し、防護層(24)をエッチング
により部分的に除去し、別の金属層、有利には同様にア
ルミニウム層(28)をスパッタリングし、次いで、感
光性樹脂層(30)を設けて、マスク(43)として成
形し、次いで、別の金属層(28)を化学式のウエット
エッチングにより構造化する、請求項1から6までのい
ずれか1項記載の製法(図4a−4g)。 - 【請求項8】 マイクロ構造(1)の金属層(14,1
5,18,24,28)を構造化した後で感光性樹脂層
(16,19,20,30)を溶剤、特にアセトン又は
硫酸・過酸化水素混合物によって又はトンネルリアクタ
の酸素プラズマ内での焼却又はトンネルリアクタのフッ
素を含有した炭素化合物、特にテトラフルオル炭化水素
を有する酸素プラズマ内での焼却によって除去する、請
求項1から7までのいずれか1項記載の製法。 - 【請求項9】 有利には電気的な接触接続手段又は制御
回路を備えた基板、及び、金属性のマイクロ構造を設け
た後で除去される有機的な構造化された犠牲層に、局部
的に補強された金属性のマイクロ構造、特にアルミニウ
ム構造を製作する製法において、特に金から成る第1の
金属層(114)を防護層として構造化された第1の犠
牲層(112)に設け、第1の金属層(114)に第2
の犠牲層(116)を設けて、縁部領域で構造化し、有
利には同様に金から成る第2の金属層(118)を防護
層として第2の犠牲層(116)に設け、次いで、第2
の金属層(118)に第3の犠牲層(120)を設け
て、構造化し、マイクロ構造を電気メッキ式に特にNi
又はCo/Niによって補完し、次いで、防護層(11
4,118)及び犠牲層(112,116,120)を
除去することを特徴とする、局部的に補強された金属性
のマイクロ構造を製作する製法(図5a−5l)。 - 【請求項10】 有利には電気的な接触接続手段又は制
御回路を備えた基板及び有機的な構造化された犠牲層に
設けられる局部的に補強された金属性のマイクロ構造、
特に請求項6記載の製法により製作されたマイクロ構造
において、局部的な補強部が、サンドイッチ式の順序の
3つの金属層、つまり、ベース層(14)、中間層(1
5)及びカバー層(18)から形成されていることを特
徴とする、局部的に補強された金属性のマイクロ構造
(図3k)。 - 【請求項11】 ベース層(14)とカバー層(18)
とが同一の金属、特にアルミニウムから形成されていて
かつ中間層(15)が、別の金属、特にチタン又はチタ
ンタングステンから形成されている、請求項10記載の
マイクロ構造。 - 【請求項12】 有利には電気的な接触接続手段又は制
御回路を備えた基板及び有機的な構造化された犠牲層に
設けられる局部的に補強された金属性のマイクロ構造、
特に請求項9記載の製法により製作されたマイクロ構造
において、犠牲層(112,116,120)が、U字
形乃至V字形の切欠き(7)及び平坦な帯域(9)を有
していることを特徴とする、局部的に補強された金属性
のマイクロ構造。 - 【請求項13】 犠牲層(112,116,120)の
平坦な帯域(9)が、2つの種々の材料(114,11
8)から成るライニングを備えている、請求項12記載
のマイクロ構造。 - 【請求項14】 マイクロ構造を熱的に制御可能なマイ
クロミラーとして使用する、請求項10から13までの
いずれか1項記載のマイクロ構造。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19854803A DE19854803A1 (de) | 1998-11-27 | 1998-11-27 | Verfahren zur Herstellung einer lokal verstärkten metallischen Mikrostruktur |
DE19854803.6 | 1998-11-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000158400A true JP2000158400A (ja) | 2000-06-13 |
Family
ID=7889251
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11336196A Pending JP2000158400A (ja) | 1998-11-27 | 1999-11-26 | 局部的に補強された金属性のマイクロ構造を製作する製法並びに局部的に補強された金属性のマイクロ構造 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6362083B1 (ja) |
JP (1) | JP2000158400A (ja) |
DE (1) | DE19854803A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6958123B2 (en) * | 2001-06-15 | 2005-10-25 | Reflectivity, Inc | Method for removing a sacrificial material with a compressed fluid |
US6905613B2 (en) * | 2001-07-10 | 2005-06-14 | Honeywell International Inc. | Use of an organic dielectric as a sacrificial layer |
US20030063465A1 (en) * | 2001-09-28 | 2003-04-03 | Mcmillan Richard K. | Etched metal light reflector for vehicle feature illumination |
US7048423B2 (en) * | 2001-09-28 | 2006-05-23 | Visteon Global Technologies, Inc. | Integrated light and accessory assembly |
KR101140688B1 (ko) * | 2003-10-31 | 2012-05-03 | 에프코스 아게 | 전자 장치 및 그 제조 방법 |
DE102004030803A1 (de) * | 2004-06-25 | 2006-01-19 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Hochreflektiv beschichteter mikromechanischer Spiegel, Verfahren zu dessen Herstellung sowie dessen Verwendung |
KR100570219B1 (ko) * | 2004-12-23 | 2006-04-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 체인 게이트 라인 및 그 제조 방법 |
CN102469754A (zh) * | 2010-11-11 | 2012-05-23 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 塑料表面电磁屏蔽处理方法及其制品 |
CN103130177A (zh) * | 2011-11-30 | 2013-06-05 | 中国科学院微电子研究所 | 一种悬浮结构mems器件及其制造方法 |
US10175199B2 (en) | 2012-11-15 | 2019-01-08 | Micro-Tracers, Inc. | Tracer particles, and methods for making same |
US9446947B2 (en) * | 2014-08-25 | 2016-09-20 | Texas Instruments Incorporated | Use of metal native oxide to control stress gradient and bending moment of a released MEMS structure |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06223686A (ja) * | 1992-12-15 | 1994-08-12 | Asulab Sa | リード接触器およびその製造方法 |
US5567334A (en) * | 1995-02-27 | 1996-10-22 | Texas Instruments Incorporated | Method for creating a digital micromirror device using an aluminum hard mask |
JPH09222572A (ja) * | 1996-02-19 | 1997-08-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 空間的光変調装置におけるミラー装置およびその製造方法 |
JPH09297272A (ja) * | 1995-12-15 | 1997-11-18 | Texas Instr Inc <Ti> | マイクロメカニカルデバイス |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5638946A (en) * | 1996-01-11 | 1997-06-17 | Northeastern University | Micromechanical switch with insulated switch contact |
US6171945B1 (en) * | 1998-10-22 | 2001-01-09 | Applied Materials, Inc. | CVD nanoporous silica low dielectric constant films |
-
1998
- 1998-11-27 DE DE19854803A patent/DE19854803A1/de not_active Ceased
-
1999
- 1999-11-24 US US09/449,369 patent/US6362083B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-11-26 JP JP11336196A patent/JP2000158400A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06223686A (ja) * | 1992-12-15 | 1994-08-12 | Asulab Sa | リード接触器およびその製造方法 |
US5567334A (en) * | 1995-02-27 | 1996-10-22 | Texas Instruments Incorporated | Method for creating a digital micromirror device using an aluminum hard mask |
JPH09297272A (ja) * | 1995-12-15 | 1997-11-18 | Texas Instr Inc <Ti> | マイクロメカニカルデバイス |
JPH09222572A (ja) * | 1996-02-19 | 1997-08-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 空間的光変調装置におけるミラー装置およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6362083B1 (en) | 2002-03-26 |
DE19854803A1 (de) | 2000-05-31 |
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