JP2000123313A

JP2000123313A - 磁気ヘッドの製造方法

Info

Publication number: JP2000123313A
Application number: JP10297187A
Authority: JP
Inventors: Masaya Yamauchi; 正弥山内; Yuichi Chiba; 雄一千葉; Shuji Hayasaka; 修二早坂
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1998-10-19
Filing date: 1998-10-19
Publication date: 2000-04-28

Abstract

(57)【要約】【課題】磁気ヘッドを高精度に生産でき、生産性を向
上させることができる磁気ヘッドの製造方法を提供する
こと。【解決手段】一対の磁気コアブロック半体２４ａ、２
４ｂを接合して前記磁気コアブロック２４を形成し、前
記磁気コアブロック２４の一面２５を研削により曲面加
工し、前記磁気コアブロック２４を接合面の垂直方向に
向かって磁気ヘッド１０の厚みに切断して、磁気ヘッド
１０を形成する磁気ヘッドの製造方法において、前記磁
気コアブロック２４の一面には接合面に沿って測定溝３
０が一定の幅Ｌ及び一定の深さｄ１をもって形成され、
前記測定溝３０には測定部材３１が設けられており、前
記測定部材３１の幅Ｌに基づいて研削量ＤＬを測定しな
がら研削を行う磁気ヘッドの製造方法により、達成され
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ヘッドの製造
方法の改良、特に効率よく高精度の磁気ヘッドを製造す
ることができる磁気ヘッドの製造方法に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】テープ状の磁気情報記録媒体である磁気
テープに情報を記録し再生する際には、たとえば回転ド
ラム装置等の磁気ヘッド装置が用いられている。この磁
気ヘッド装置には磁気ヘッドが取り付けられていて、磁
気ヘッドが磁気テープと摺動することで情報の記録再生
を行う。特に、磁気ヘッドが情報を記録・再生する作業
は磁気ギャップにより行われる。従って、記録・再生が
高密度かつ高精度に行われるためには、磁気ギャップの
形成が高精度に行われる必要がある。

【０００３】ここで、図１１は従来の磁気ヘッドの製造
工程の一例を示す図であり、図１１を参照して従来の磁
気ヘッドの製造方法について説明する。まず、図１１
（Ａ）のように、たとえば非磁性材料からなる基板１が
板状に形成される。その基板１には、磁気ギャップｇの
深さＤｈが測定できるようにするため、その長手方向
（矢印Ｙ方向）に対する両端部に測定窓２、２が形成さ
れる。そして、図１１（Ｂ）のように、磁性基板１の長
手方向に巻線溝１ｂ、１ｃがそれぞれ形成され、矢印Ｘ
方向に溝３が形成される。

【０００４】次に、磁性基板１が分割線ＣＬで２つに分
割されて、磁気コアブロック半体４ａ、４ｂが形成され
る。その後、磁気コアブロック半体４ａ、４ｂが接合面
１ａで突き合わされて、ガラス融着等により接合され、
図１１（Ｃ）に示すような磁気コアブロック５が形成さ
れる。そして、磁気コアブロック５の摺動面６が研削さ
れて、曲面加工されるとともに、磁気ギャップの深さが
調整される。最後に、図１１（Ｄ）に示すように、磁気
コアブロック５に当たり幅規制溝７ａ、巻線溝７ｂ等が
形成された後、磁気ヘッド８の厚みに切断されて、図１
１（Ｅ）に示すような磁気ヘッド８が完成する。

【０００５】図１２には図１１（Ｃ）における磁気コア
ブロック５の正面図及び側面図をそれぞれ示しており、
図１１を参照して、上述した摺動面６の研削について具
体的に説明する。まず、図１２（Ａ）の摺動面６が曲面
加工される際、矢印Ａ方向から研削が行われる。そし
て、ギャップ部深さＤｈの測定は図１２（Ｂ）の測定溝
２から行われる。具体的には、測定溝２により露出して
いる一方の磁気コアブロック半体４ｂにおける磁気ギャ
ップｇの深さＤｈを測定し、その測定結果に基づいて磁
気コアブロック５の研削量ＤＬが制御される。そして、
磁気ギャップｇの深さＤｈになるまで、研削すると、研
削作業が終了する。これにより、研削方向（矢印Ａ方
向）からでは測定することができない磁気ギャップｇの
深さを測定しながら研削することができる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、研削方向と測
定方向は９０度異なる方向であるため、磁気ギャップｇ
の深さの測定が難しくなってしまうという問題がある。
さらに、磁気コアブロック５の側面方向に対して、磁気
ギャップｇの深さを測定する測定手段を配置する必要が
あり、磁気ヘッドの製造装置が大型化してしまうという
問題もある。

【０００７】また、図１２（Ｂ）において、磁気ギャッ
プｇの深さを測定する位置が磁気コアブロック５の両端
に限定されてしまうため、精度良く磁気ヘッドを製造す
ることができないという問題がある。すなわち、測定が
行われている磁気コアブロック５の両端付近のギャップ
部深さＤｈは測定結果とほぼ一致したものになるが、中
央付近のギャップｂ深さＤｈは測定結果と一致しない場
合がある。このとき、測定溝２からの測定結果に基づい
て研削作業を行うと、磁気ギャップｇの深さが正しく形
成されていない磁気ヘッドが製造されるおそれがある。
従って、磁気コアブロック５の中央部付近を切断して形
成された磁気ヘッドについては、切断した後さらに磁気
ギャップｇの深さを検査する必要があり、生産性の低下
を招いてしまうという問題がある。

【０００８】そこで本発明は上記課題を解消し、磁気ヘ
ッドを高精度に生産でき、生産性を向上させることがで
きる磁気ヘッドの製造方法を提供することを目的として
いる。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的は、請求項１の
発明によれば、一対の磁気コアブロック半体を接合して
前記磁気コアブロックを形成し、前記磁気コアブロック
の一面を研削により曲面加工し、前記磁気コアブロック
を接合面の垂直方向に向かって磁気ヘッドの厚みに切断
して、磁気ヘッドを形成する磁気ヘッドの製造方法にお
いて、前記磁気コアブロックの一面には測定溝が一定の
幅及び一定の深さをもって形成され、前記測定溝には測
定部材が設けられており、前記測定部材の幅に基づいて
研削量を測定しながら研削を行う磁気ヘッドの製造方法
により、達成される。

【００１０】請求項１の構成によれば、磁気コアブロッ
クの一面には測定溝が形成されていて、研削方向と同一
の方向から測定部材の幅を測定することで、研削量を測
定することができる。これにより、研削方向と測定方向
の違いによる測定の困難性及び精度の低下を防止するこ
とができ、容易に高い精度で研削量を測定し、精度良く
磁気ギャップの深さを形成することができる。さらに、
測定部材は接合面に沿って設けられている。従って、た
とえば一対の磁気コアブロック半体がそれぞれ反って接
合されている場合、測定部材の幅は磁気コアブロックの
端部と磁気コアブロックの中央付近で異なる長さにな
る。よって、測定部材の幅を用いて研削量を測定するこ
とで、磁気コアブロックの端部からなる磁気ヘッドと磁
気コアブロックの中央部付近からなる磁気ヘッドのギャ
ップ部深さはほぼ同一ものとなり、生産性を向上させる
ことができる。

【００１１】請求項２の発明によれば、請求項１の構成
において、前記測定溝は、前記磁気コアブロックにおけ
る接合面を中心としたＶ字溝である磁気ヘッドの製造方
法により、達成される。請求項２の構成によれば、測定
溝を接合面を中心としたＶ字溝にする事により、測定部
材の幅を用いて研削量を測定する際に、その測定を容易
にすることができる。

【００１２】請求項３の発明によれば、請求項１の構成
において、前記測定溝は、前記磁気コアブロック半体の
一方のみに形成されている磁気ヘッドの製造方法によ
り、達成される。請求項３の構成によれば、磁気コアブ
ロック半体の一方のみ測定溝を形成することで、測定溝
の形成を容易にすることができる。

【００１３】請求項４の発明によれば、請求項１の構成
において、前記測定溝の深さは、前記研削量とほぼ同一
の大きさである請求項１に記載の磁気ヘッドの製造方法
により、達成される。請求項４の構成によれば、測定溝
の深さと研削量をほぼ同じにすることで、測定部材が磁
気コアブロックからなくなると、所定の磁気ギャップの
深さが形成されていると認識することができる。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明
の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの形態に限られるものではな
い。

【００１５】図１は一般的な磁気ヘッドの使用形態を示
す斜視図であり、図１を参照して磁気ヘッド１０につい
て説明する。図１の磁気ヘッド１０は、ベース１１の上
に配置されて、ベース１１はたとえば回転ドラム装置に
取り付けられている。ベース１１には回路基板が搭載さ
れていて、回路基板と磁気ヘッド１０は電気的に接続さ
れている。磁気ヘッド１０は読み込んだ情報信号を回路
基板に送り、回路基板は磁気テープに記録する情報信号
を磁気ヘッド１０に送る。

【００１６】図２は本発明の磁気ヘッドの製造方法によ
り製造される磁気ヘッドを示す斜視図であり、図２を参
照して磁気ヘッド１０について説明する。図２の磁気ヘ
ッド１０は、１対の磁気コア半体１１、１２からなって
いて、磁気コア半体１１、１２はガラス融着等により接
合されている。磁気コア半体１１、１２の接合面にはた
とえば磁性膜が形成されている。磁気コア半体１１、１
２には巻線窓１３ａ及び巻線溝１３ｂが形成されてい
て、巻線窓１３ａと巻線溝１３ｂにはコイルが巻線され
る。また、磁気ヘッド１０の上部には、磁気テープと摺
動する摺動面１６が形成されていて、この摺動面１６
は、摩耗を防止するために曲面加工されている。摺動面
１６には磁気テープとの当たり幅を調整するため、当た
り幅規制溝１４、１４が形成されている。

【００１７】図３には磁気ヘッドにおける磁気ギャップ
ｇの周辺部位を示す模式図であり、図３において、磁気
ギャップｇは磁気コア半体１１、１２の接合面に形成さ
れている。磁気ギャップｇはコイルから発生した磁界に
基づいて磁場を形成するものであり、この磁気ギャップ
ｇが磁気テープと摺動する事で、情報の記録・再生を行
う。磁気ギャップｇは深さ（以下「ギャップ部深さ」と
いう）Ｄｈになるように形成されている。

【００１８】図４は本発明の磁気ヘッドの製造方法の好
ましい実施の形態を示す工程図であり、図４を参照して
磁気ヘッドの製造方法について詳しく説明する。まず、
図４（Ａ）に示すように、基板２０が板状に形成され
る。この基板２０はたとえば非磁性基板により形成され
る。次に、図４（Ｂ）のように、巻線窓を形成するた
め、基板２０の長手方向（矢印Ｙ方向）に向かって溝２
１、２２が形成される。また、基板２０の矢印Ｘ方向に
おけるほぼ中央部分には、マーカ３１を設けるためのマ
ーカ溝３０がたとえばＶ字溝になるように形成される。
一方、磁気ギャップｇにアジマス角を持たせるため、矢
印Ｘ方向に向かって溝２３が形成される。その後、この
基板２０の接合面２０ａに磁性膜がスパッタリング等に
より形成され、基板２０が切断線ＣＬで２つに分割さ
れ、磁気コアブロック半体２２、２３が形成される。こ
こで、この切断線ＣＬはマーカ溝３０の谷部と一致して
いる。

【００１９】次に、図４（Ｃ）に示すように、磁気コア
ブロック半体２２、２３が接合面２０ａで突き合わされ
て、ガラス等により融着され、磁気コアブロック２４が
形成される。このとき、磁気コアブロック半体２４ａ、
２４ｂは切断線ＣＬで切断することにより形成されてい
るため、それを突き合わせたときには、マーカ溝３０は
Ｖ字溝となる。そして、図４（Ｄ）に示すようにマーカ
溝３０に測定部材であるマーカ３１が設けられる。図５
には磁気コアブロック２４の正面図及び上面図を示して
おり、図５（Ａ）のマーカ３１は断面がほぼ２等辺３角
形に形成されていて、図５（Ｂ）に示すように、磁気コ
アブロック２４の摺動面２５に対して長手方向全体にわ
たって設けられている。

【００２０】次に、磁気コアブロック２４の摺動面２５
を研削して、磁気ヘッドと磁気テープとの摩耗を最小限
に抑えるために、摺動面２５が曲面加工され、ギャップ
部深さ（デプス量）Ｄｈも調整される。研削作業は、図
６に示すように、ギャップ部深さＤｈになるように研削
する際、磁気コアブロック２４の摺動面２５を深さｄ１
だけ研削を行うものとする。なお、マーカ溝３０の深さ
は研削量ｄ１と同一になるように形成されている。測定
溝の深さと研削量をほぼ同じにすることで、測定部材が
磁気コアブロックからなくなると、所定の磁気ギャップ
の深さが形成されていると認識することができる。この
とき、磁気コアブロック２４の研削量（加工量）ＤＬは
以下のように測定される。

【００２１】図７に示すように、マーカ３１の幅Ｌは、
マーカ溝３０の幅と同一であるから、マーカ３１の幅Ｌ
はすでにわかっている。また、マーカ溝３０はＶ字溝で
あるので、中心線に対して対照に形成されている。従っ
て、マーカ３１の角度を２θ、幅Ｌ１＝Ｌ２＝Ｌ／２と
すると、式（１）により研削量ＤＬが算出できる。ｔａｎθ＝Ｌ１／ＤＬ ∴ＤＬ＝Ｌ／（２ｔａｎθ）・・・（１）従って、加工方向（矢印Ａ方向）から幅Ｌのみを測定す
れば、研削量ＤＬを測定することができる。そして、研
削量ＤＬが深さｄ１になったとき（ＤＬ＝ｄ１）、研削
作業を終了させる。このように、マーカ溝３０をＶ字溝
にすることで、研削量ＤＬの測定を容易にすることがで
きる。

【００２２】ここで、研削作業は摺動面２５を曲面加工
することにより行われるため、正確には式（１）により
算出される研削量ＤＬは、磁気ギャップｇ付近における
実際の研削量よりも小さいものとなる。しかし、摺動面
２５の曲率半径は深さｄ１に比べて非常に大きいもので
あるため、実際には算出される研削量ＤＬと実際の研削
量は近似して同一のものと考えられる。たとえば、算出
される研削量と実際の研削量の差をΔＤＬ、摺動面２５
の曲率半径をｒ、磁気コアブロック２４の幅をｃとする
と、ΔＤＬは式（２）のようになる。 ΔＤＬ＝ｒ−１／２×（４ｒ²−ｃ²）^1/2・・・（２）ここで、たとえば曲率半径ｒ＝５（ｍｍ）、磁気コアブ
ロック２４の幅ｃ＝０．１（ｍｍ）のとき、式（２）に
よりΔＤＬ＝０．２５（μｍ）という、非常に小さいも
のとなる。従って、実際の研削量は式（１）により算出
される研削量ＤＬに近似する事ができる。最後に図８
（Ａ）に示すように、磁気コアブロック２４に巻線溝及
び当たり幅規制溝を形成した後、磁気ヘッド１０の厚み
に切断して、図８（Ｂ）に示す磁気ヘッド１０が完成す
る。

【００２３】これにより、研削方向（矢印Ａ方向）から
研削量ＤＬの測定を行うことができるため、測定を容易
に行うとともに、研削装置と同一方向に測定装置を配置
することができるため、磁気ヘッドの製造装置を小型化
する事ができる。また、図９（Ａ）に示すように、たと
えば磁気コアブロック半体２４ａ、２４ｂがその中央部
で凸状に形成されている場合や、図８（Ｂ）に示すよう
に、磁気コアブロック半体２４ａ、２４ｂがその中央部
で凹状に形成されている場合がある。このとき、磁気コ
アブロック２４の長手方向に対する各部位において、そ
の長さＬを測定することにより、その部位における研削
量ＤＬを把握することができる。従って、磁気コアブロ
ック２４の各部位の研削量ＤＬを制御することにより、
１つの磁気コアブロック２４から形成される磁気ヘッド
１０がほぼ同一のギャップ部深さＤｈをもつ磁気ヘッド
１０を製造することができる。従って、磁気ヘッド１０
の生産性を向上させ、効率よく磁気ヘッドを製造するこ
とができるとともに、磁気ヘッドの歩留まりを低下させ
ることができる。

【００２４】上記実施の形態によれば、磁気ヘッド１０
の磁気ギャップｇの深さＤｈを形成する加工プロセスに
おいて、磁気ヘッドの摺動面（磁気ギャップ深さＤｈの
加工面）より磁気ギャップ深さＤｈが読みとれるマーカ
ー溝３０を予め形成しておくことにより、高精度かつ高
生産性の磁気ヘッド１０を製造することができる。すな
わち、磁気ギャップｇの深さＤｈを調整する際、研削す
る方向から深さＤｈを測定することができ、研削しなが
ら研削量を調整することができる。また、磁気コアブロ
ック２４の全長にわたり磁気ギャップｇの深さＤｈを測
定することができ、磁気コアブロック２４における中央
部分の磁気ギャップｇの深さＤｈを正確に測定し、各磁
気ヘッド１０においてギャップ部深さＤｈが均一の磁気
ヘッド１０を製造することができる。

【００２５】本発明は、上記実施の形態に限定されな
い。上記実施の形態において、いわゆるＭＩＧ（Ｍｅｔ
ａｌＩｎＧａｐ）型磁気ヘッドの製造方法において
も同様に適用することができる。この場合、基板２０と
して、磁性基板を用いて、また、この基板２０に溝を形
成する段階で、当たり幅規制溝を形成することが必要で
ある。また、図４の磁気ヘッドの製造方法において、マ
ーカ３１は磁気コアブロック半体２４ａ、２４ｂが接合
された後、マーカ溝３０に対して設けられているが、図
４（Ｂ）の基板２０の段階でマーカ３１を設けるように
しても良い。

【００２６】さらに、マーカ溝３０は、Ｖ字溝に形成さ
れているが、他の形状であってもかまわない。図１０に
はマーカ溝の別の形態を示す平面図であるが、図１０
（Ａ）においては、断面が略直角三角形のマーカ溝３０
が磁気コアブロック半体２４ａ側にのみ形成されてい
て、このマーカ溝３０にマーカ３１が設けられている。
また、図１０（Ｂ）においては、断面が磁気ギャップｇ
側に底辺を有する略２等辺３角形となるマーカ溝３０が
形成されていて、このマーカ溝３０にマーカ３１が設け
られている。図１０（Ｃ）においては、磁気コア半体２
４ａ型にのみ形成されていて、このマーカ溝３０にマー
カ３１が設けられている。図１０（Ｄ）においては、断
面が矩形状のマーカ溝３０が形成されている。

【００２７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
磁気ヘッドを高精度に生産でき、生産性を向上させるこ
とができる磁気ヘッドの製造方法を提供することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】一般的な磁気ヘッドがベースに搭載されている
様子を示す斜視図。

【図２】本発明の磁気ヘッドの製造方法により製造され
た磁気ヘッドの一例を示す斜視図。

【図３】図２の磁気ヘッドにおける磁気ギャップ周辺部
位を示す模式図。

【図４】本発明の磁気ヘッドの製造方法の好ましい実施
の形態を示す工程図。

【図５】本発明の磁気ヘッドの製造方法における磁気コ
アブロックを示す図。

【図６】本発明の磁気ヘッドの製造方法における磁気コ
アブロックを示す正面図。

【図７】本発明の磁気ヘッドの製造方法における磁気コ
アブロックを示す正面図。

【図８】本発明の磁気ヘッドの製造方法の好ましい実施
の形態を示す工程図。

【図９】本発明の磁気ヘッドの製造方法における磁気コ
アブロック半体が歪曲している様子を示す平面図。

【図１０】本発明の磁気ヘッドの製造方法における別の
マーカ溝の形状を示す正面図。

【図１１】従来の磁気ヘッドの製造方法の一例を示す工
程図。

【図１２】従来の磁気ヘッドの製造方法における磁気コ
アブロックの様子を示す図。

【符号の説明】

１０・・・磁気ヘッド、１１、１２・・・磁気コア半
体、２０・・・基板、２４ａ、２４ｂ・・・磁気コアブ
ロック半体、２４・・・磁気コアブロック、２５・・・
摺動面、３０・・・マーカ溝、３１・・・マーカ、ｇ・
・・磁気ギャップ、Ｄｈ・・・ギャップ部深さ、ＤＬ・
・・研削量。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者早坂修二宮城県登米郡中田町宝江新井田字加賀野境 30番地ソニー・プレシジョン・マグネ株式会社内Ｆターム(参考） 5D093 AA01 AC01 DA01 FA22 5D111 AA23 BB28 GG12 JJ25 KK20

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】一対の磁気コアブロック半体を接合して
前記磁気コアブロックを形成し、前記磁気コアブロック
の一面を研削により曲面加工し、前記磁気コアブロック
を接合面の垂直方向に向かって磁気ヘッドの厚みに切断
して、磁気ヘッドを形成する磁気ヘッドの製造方法にお
いて、前記磁気コアブロックの一面には、前記接合面に沿って
測定溝が一定の幅及び一定の深さをもって形成され、前
記測定溝には測定部材が設けられており、前記測定部材
の幅に基づいて研削量を測定しながら研削を行うことを
特徴とする磁気ヘッドの製造方法。
【請求項２】前記測定溝は、前記磁気コアブロックに
おける接合面を中心としたＶ字溝である請求項１に記載
の磁気ヘッドの製造方法。
【請求項３】前記測定溝は、前記磁気コアブロック半
体の一方のみに形成されている請求項１に記載の磁気ヘ
ッドの製造方法。
【請求項４】前記測定溝の深さは、前記研削量とほぼ
同一の大きさである請求項１に記載の磁気ヘッドの製造
方法。