JP2000097871A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2000097871A5 JP2000097871A5 JP1998270944A JP27094498A JP2000097871A5 JP 2000097871 A5 JP2000097871 A5 JP 2000097871A5 JP 1998270944 A JP1998270944 A JP 1998270944A JP 27094498 A JP27094498 A JP 27094498A JP 2000097871 A5 JP2000097871 A5 JP 2000097871A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- abnormal part
- abnormal
- review
- sample
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims 1
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27094498A JP3893765B2 (ja) | 1998-09-25 | 1998-09-25 | レビュー装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27094498A JP3893765B2 (ja) | 1998-09-25 | 1998-09-25 | レビュー装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000097871A JP2000097871A (ja) | 2000-04-07 |
| JP2000097871A5 true JP2000097871A5 (https=) | 2005-01-13 |
| JP3893765B2 JP3893765B2 (ja) | 2007-03-14 |
Family
ID=17493195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27094498A Expired - Fee Related JP3893765B2 (ja) | 1998-09-25 | 1998-09-25 | レビュー装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3893765B2 (https=) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4526661B2 (ja) * | 2000-06-28 | 2010-08-18 | 株式会社日立製作所 | 検査装置および検査方法 |
| WO2003100405A1 (fr) * | 2002-05-23 | 2003-12-04 | Hitachi High-Technologies Corporation | Procede de generation de dispositif de classification de defauts et procede de classification automatique des defauts |
| US7602962B2 (en) | 2003-02-25 | 2009-10-13 | Hitachi High-Technologies Corporation | Method of classifying defects using multiple inspection machines |
| JP2007285880A (ja) * | 2006-04-17 | 2007-11-01 | Omron Corp | 基板検査における見本画像の登録方法および見本画像作成装置 |
| JP2008076242A (ja) * | 2006-09-21 | 2008-04-03 | Olympus Corp | 目視マクロ検査装置、基板検査システム、基板処理システム、目視マクロ検査方法 |
| JP2019053050A (ja) * | 2017-09-13 | 2019-04-04 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
| WO2019054235A1 (ja) * | 2017-09-13 | 2019-03-21 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
| JP7273556B2 (ja) * | 2019-03-15 | 2023-05-15 | 株式会社東芝 | 分析システム、分析方法、プログラム、及び記憶媒体 |
| CN116930207B (zh) * | 2023-07-24 | 2024-04-12 | 上海感图网络科技有限公司 | 展示区与实时区视野同步放大的显示方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0891543A (ja) * | 1994-09-28 | 1996-04-09 | Omron Corp | 画像処理方法およびその装置 |
| US6542830B1 (en) * | 1996-03-19 | 2003-04-01 | Hitachi, Ltd. | Process control system |
| US6148099A (en) * | 1997-07-03 | 2000-11-14 | Neopath, Inc. | Method and apparatus for incremental concurrent learning in automatic semiconductor wafer and liquid crystal display defect classification |
| JP4220595B2 (ja) * | 1998-08-10 | 2009-02-04 | 株式会社日立製作所 | 欠陥の分類方法並びに教示用データ作成方法 |
-
1998
- 1998-09-25 JP JP27094498A patent/JP3893765B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102021999B1 (ko) | 인체 감시 발열 경보 장치 | |
| US20160116309A1 (en) | Underlying wall structure finder and infrared camera | |
| JPH01153903A (ja) | 監視装置 | |
| JP6610640B2 (ja) | 位置認識方法およびシステム、ならびに異常判定方法およびシステム | |
| TW201043945A (en) | Visual inspection device and visual inspection method | |
| US11227249B2 (en) | Method of providing feedback data indicating quality of food processing performed by an operator | |
| JP2000097871A5 (https=) | ||
| JP2020178228A5 (ja) | 画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム、および、画像形成システム | |
| JP4331541B2 (ja) | 内視鏡装置 | |
| JP1742931S (ja) | 情報端末機 | |
| EP3306453B1 (en) | Apparatus and method for assisting an operator of an alarm screen | |
| JP2011234237A5 (https=) | ||
| JP2003111063A5 (https=) | ||
| JP7828357B2 (ja) | 表示処理装置、表示処理方法、及び、表示処理プログラム | |
| JP3893765B2 (ja) | レビュー装置 | |
| CN107121160A (zh) | 转向架检测系统以及转向架检测方法 | |
| JP1742932S (ja) | 情報端末機 | |
| JP7176429B2 (ja) | ガス漏れ位置特定システム及びガス漏れ位置特定プログラム | |
| JPH04238592A (ja) | 結束棒鋼自動検数装置 | |
| KR20180003193A (ko) | 구조물 검사 지원 장치 및 방법 | |
| KR20170127318A (ko) | 객체 추적 시스템 | |
| JP3270336B2 (ja) | 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法 | |
| JP3682587B2 (ja) | X線異物検査装置およびx線異物検査装置のための判定用パラメータ設定装置 | |
| JPH0792106A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPWO2023162016A5 (ja) | 監視システム、監視装置、監視方法、およびプログラム |