JP2000071303A - インサート成形品の良否判定方法 - Google Patents
インサート成形品の良否判定方法Info
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- JP2000071303A JP2000071303A JP10247045A JP24704598A JP2000071303A JP 2000071303 A JP2000071303 A JP 2000071303A JP 10247045 A JP10247045 A JP 10247045A JP 24704598 A JP24704598 A JP 24704598A JP 2000071303 A JP2000071303 A JP 2000071303A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/17—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C45/76—Measuring, controlling or regulating
- B29C45/768—Detecting defective moulding conditions
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】インサート成形品における微妙な内部不良を含
む良否判定を的確かつ正確に行うことにより信頼性の高
い判定結果を得る。 【解決手段】予め、設定した成形条件によりインサート
成形品Ｍを成形し、射出成形機１から良品を成形する物
理量、例えば、射出圧力Ｐの標準波形データＰｓを得る
とともに、この標準波形データＰｓに基づいて上限判定
用波形データＰａ及び（又は）下限判定用波形データＰ
ｂを設定し、稼働時に、射出成形機１から射出圧力Ｐに
係わる実測波形データＰｄを得ることにより、当該実測
波形データＰｄと上限判定用波形データＰａ及び（又
は）下限判定用波形データＰｂを比較し、この比較結果
に基づいてインサート成形品Ｍの良否判定を行う。
む良否判定を的確かつ正確に行うことにより信頼性の高
い判定結果を得る。 【解決手段】予め、設定した成形条件によりインサート
成形品Ｍを成形し、射出成形機１から良品を成形する物
理量、例えば、射出圧力Ｐの標準波形データＰｓを得る
とともに、この標準波形データＰｓに基づいて上限判定
用波形データＰａ及び（又は）下限判定用波形データＰ
ｂを設定し、稼働時に、射出成形機１から射出圧力Ｐに
係わる実測波形データＰｄを得ることにより、当該実測
波形データＰｄと上限判定用波形データＰａ及び（又
は）下限判定用波形データＰｂを比較し、この比較結果
に基づいてインサート成形品Ｍの良否判定を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は射出成形機により成
形した内部に部品を収容するインサート成形品の良否判
定方法に関する。
形した内部に部品を収容するインサート成形品の良否判
定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、射出成形機により成形した成形品
の良否を、オペレータの目視に頼ることなく、射出成形
機側で自動判定する方法としては、特公平４−８１９３
０号公報で開示される射出成形機の制御方法が知られて
いる。
の良否を、オペレータの目視に頼ることなく、射出成形
機側で自動判定する方法としては、特公平４−８１９３
０号公報で開示される射出成形機の制御方法が知られて
いる。
【０００３】この方法は、成形品質に直接影響を与える
スクリュ前進位置等の物理量を成形サイクル毎に検出
し、検出した物理量が予め設定したモニター範囲内にあ
るか否かに基づいて成形品の良否を判定するもので、不
良品の場合には運転を停止して警報を発したり、制御量
を再設定（補正）することができる。
スクリュ前進位置等の物理量を成形サイクル毎に検出
し、検出した物理量が予め設定したモニター範囲内にあ
るか否かに基づいて成形品の良否を判定するもので、不
良品の場合には運転を停止して警報を発したり、制御量
を再設定（補正）することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、成形する成
形品が、図６に示すような、ガラスファイバ等の添加物
を含む成形樹脂Ｌの内部にコイル部品Ｃ等を含む電子部
品Ｗをインサート成形するインサート成形品Ｍの場合に
は、射出圧力の挙動が極めて重要となる。即ち、内部に
デリケートな電子部品Ｗを収容するインサート成形品Ｍ
では、射出工程における射出スクリュの前進中に、射出
圧力が一時的に上昇したような場合（図３中Ｐｅ参
照）、電子部品Ｗの断線（内部不良）を生ずる虞れがあ
る。そして、このような断線は完全な通電不良であれ
ば、外部からの電気的検査により不良品としての判定を
行うことができるが、断線は生じたものの通電不良には
至らない場合には、良品として判定される虞れがあり、
この結果、インサート成形品Ｍの使用中における機械的
振動や温度変動等によって通電不良に至る問題を生ず
る。
形品が、図６に示すような、ガラスファイバ等の添加物
を含む成形樹脂Ｌの内部にコイル部品Ｃ等を含む電子部
品Ｗをインサート成形するインサート成形品Ｍの場合に
は、射出圧力の挙動が極めて重要となる。即ち、内部に
デリケートな電子部品Ｗを収容するインサート成形品Ｍ
では、射出工程における射出スクリュの前進中に、射出
圧力が一時的に上昇したような場合（図３中Ｐｅ参
照）、電子部品Ｗの断線（内部不良）を生ずる虞れがあ
る。そして、このような断線は完全な通電不良であれ
ば、外部からの電気的検査により不良品としての判定を
行うことができるが、断線は生じたものの通電不良には
至らない場合には、良品として判定される虞れがあり、
この結果、インサート成形品Ｍの使用中における機械的
振動や温度変動等によって通電不良に至る問題を生ず
る。
【０００５】しかし、上述した従来の良否判定方法で
は、成形工程における必要な範囲の成形状態を連続的に
監視することができないため、この種のインサート成形
品Ｍにおける微妙な内部不良を含む良否判定を的確かつ
正確に行うことができない難点があった。
は、成形工程における必要な範囲の成形状態を連続的に
監視することができないため、この種のインサート成形
品Ｍにおける微妙な内部不良を含む良否判定を的確かつ
正確に行うことができない難点があった。
【０００６】本発明は、このような従来の技術に存在す
る課題を解決したものであり、インサート成形品におけ
る微妙な内部不良を含む良否判定を的確かつ正確に行え
るようにして、信頼性の高い判定結果を得ることができ
るインサート成形品の良否判定方法の提供を目的とす
る。
る課題を解決したものであり、インサート成形品におけ
る微妙な内部不良を含む良否判定を的確かつ正確に行え
るようにして、信頼性の高い判定結果を得ることができ
るインサート成形品の良否判定方法の提供を目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段及び実施の形態】本発明に
係るインサート成形品の良否判定方法は、射出成形機１
により成形した内部に電気部品Ｗ等の部品を収容するイ
ンサート成形品Ｍの良否判定を行うに際し、予め、設定
した成形条件によりインサート成形品Ｍを成形し、射出
成形機１から良品成形時の物理量、例えば、射出圧力Ｐ
に係わる標準波形データＰｓを得るとともに、この標準
波形データＰｓに基づいて上限判定用波形データＰａ及
び（又は）下限判定用波形データＰｂを設定し、稼働時
に、射出成形機１から射出圧力Ｐに係わる実測波形デー
タＰｓを得ることにより、当該実測波形データＰｄと上
限判定用波形データＰａ及び（又は）下限判定用波形デ
ータＰｂを比較し、この比較結果に基づいてインサート
成形品Ｍの良否判定を行うようにしたことを特徴とす
る。
係るインサート成形品の良否判定方法は、射出成形機１
により成形した内部に電気部品Ｗ等の部品を収容するイ
ンサート成形品Ｍの良否判定を行うに際し、予め、設定
した成形条件によりインサート成形品Ｍを成形し、射出
成形機１から良品成形時の物理量、例えば、射出圧力Ｐ
に係わる標準波形データＰｓを得るとともに、この標準
波形データＰｓに基づいて上限判定用波形データＰａ及
び（又は）下限判定用波形データＰｂを設定し、稼働時
に、射出成形機１から射出圧力Ｐに係わる実測波形デー
タＰｓを得ることにより、当該実測波形データＰｄと上
限判定用波形データＰａ及び（又は）下限判定用波形デ
ータＰｂを比較し、この比較結果に基づいてインサート
成形品Ｍの良否判定を行うようにしたことを特徴とす
る。
【０００８】これにより、成形工程における必要な監視
範囲の物理量（射出圧力Ｐ）に係わる実測波形データＰ
ｄが、標準波形データＰｓに対してどのような挙動にあ
るのかを知ることができ、インサート成形品Ｍの良否判
定を的確かつ正確に行うことができる。
範囲の物理量（射出圧力Ｐ）に係わる実測波形データＰ
ｄが、標準波形データＰｓに対してどのような挙動にあ
るのかを知ることができ、インサート成形品Ｍの良否判
定を的確かつ正確に行うことができる。
【０００９】
【実施例】次に、本発明に係る好適な実施例を挙げ、図
面に基づき詳細に説明する。
面に基づき詳細に説明する。
【００１０】まず、本実施例に係る良否判定方法を実施
できる監視システム１０の構成について、図４及び図５
を参照して説明する。
できる監視システム１０の構成について、図４及び図５
を参照して説明する。
【００１１】図５は、監視システム１０の接続図であ
り、仮想線は射出成形機１を示す。この射出成形機１に
は、データ出力部２を設け、このデータ出力部２から、
スクリュ位置Ｘ〔ｍｍ〕，射出圧力Ｐ〔ｋｇ／ｃ
ｍ2〕，射出速度Ｖ〔ｍｍ／秒〕をそれぞれアナログ信
号により出力させるとともに、射出タイミング信号Ｓｔ
を出力させる。また、データ出力部２にはコントローラ
３を接続するとともに、このコントローラ３にはＲＳ−
２３２Ｃ（商品名）等の接続ケーブル４を介してパーソ
ナルコンピュータ５を接続する。
り、仮想線は射出成形機１を示す。この射出成形機１に
は、データ出力部２を設け、このデータ出力部２から、
スクリュ位置Ｘ〔ｍｍ〕，射出圧力Ｐ〔ｋｇ／ｃ
ｍ2〕，射出速度Ｖ〔ｍｍ／秒〕をそれぞれアナログ信
号により出力させるとともに、射出タイミング信号Ｓｔ
を出力させる。また、データ出力部２にはコントローラ
３を接続するとともに、このコントローラ３にはＲＳ−
２３２Ｃ（商品名）等の接続ケーブル４を介してパーソ
ナルコンピュータ５を接続する。
【００１２】この場合、コントローラ３は、データ出力
部２から出力するアナログ信号に対するサンプリング制
御機能，アナログ−ディジタル変換機能，パーソナルコ
ンピュータ５に各種データを転送するためのバッファ機
能，良否判定機能等を備える。一方、パーソナルコンピ
ュータ５は、図４に示すように、記憶部（メモリ）５ｍ
へのデータの保存機能，表示部（ディスプレイ）５ｄへ
の波形表示機能，入力部（キーボード）５ｋを利用して
上限判定用波形データＰａ，下限判定用波形データＰｂ
及び監視範囲Ｚ等を設定する各種設定機能，各種データ
の解析機能等を備える。
部２から出力するアナログ信号に対するサンプリング制
御機能，アナログ−ディジタル変換機能，パーソナルコ
ンピュータ５に各種データを転送するためのバッファ機
能，良否判定機能等を備える。一方、パーソナルコンピ
ュータ５は、図４に示すように、記憶部（メモリ）５ｍ
へのデータの保存機能，表示部（ディスプレイ）５ｄへ
の波形表示機能，入力部（キーボード）５ｋを利用して
上限判定用波形データＰａ，下限判定用波形データＰｂ
及び監視範囲Ｚ等を設定する各種設定機能，各種データ
の解析機能等を備える。
【００１３】次に、このような監視システム１０を用い
た本実施例に係る良否判定方法について、図２〜図４を
参照しつつ図１に示すフローチャートに従って説明す
る。
た本実施例に係る良否判定方法について、図２〜図４を
参照しつつ図１に示すフローチャートに従って説明す
る。
【００１４】まず、パーソナルコンピュータ５では、上
限判定用波形データＰａ，下限判定用波形データＰｂ，
監視範囲Ｚを決めるためのパラメータＤｐを設定する
（ステップＳ１）。即ち、上限判定用波形データＰａ
は、図３に示すように、後述する標準波形データＰｓの
全体をそのまま上限側へシフトして設定するため、その
シフト量をパラメータＤｐとして設定する。また、下限
判定用波形データＰｂも標準波形データＰｓの全体をそ
のまま下限側へシフトして設定するため、そのシフト量
をパラメータＤｐとして設定する。さらに、射出圧力Ｐ
の小さい領域ではほとんど問題を生じないため、データ
量を削減する意味からも、一定の射出圧力以上に達して
から射出工程（保圧工程を除く）が終了するまでの区間
を監視範囲Ｚとして設定する。したがって、設定するパ
ラメータＤｐにはこの監視範囲Ｚを設定するパラメータ
を含む。
限判定用波形データＰａ，下限判定用波形データＰｂ，
監視範囲Ｚを決めるためのパラメータＤｐを設定する
（ステップＳ１）。即ち、上限判定用波形データＰａ
は、図３に示すように、後述する標準波形データＰｓの
全体をそのまま上限側へシフトして設定するため、その
シフト量をパラメータＤｐとして設定する。また、下限
判定用波形データＰｂも標準波形データＰｓの全体をそ
のまま下限側へシフトして設定するため、そのシフト量
をパラメータＤｐとして設定する。さらに、射出圧力Ｐ
の小さい領域ではほとんど問題を生じないため、データ
量を削減する意味からも、一定の射出圧力以上に達して
から射出工程（保圧工程を除く）が終了するまでの区間
を監視範囲Ｚとして設定する。したがって、設定するパ
ラメータＤｐにはこの監視範囲Ｚを設定するパラメータ
を含む。
【００１５】そして、予め、設定した標準の成形条件に
よりインサート成形品Ｍの成形を行う（ステップＳ
２）。この際、射出成形機１のデータ出力部２からは、
スクリュ位置Ｘ，射出圧力Ｐ，射出速度Ｖのアナログ信
号が出力し、コントローラ３に付与される。コントロー
ラ３では、予め設定したサンプリング時間により、スク
リュ位置Ｘ，射出圧力Ｐ及び射出速度Ｖのアナログ信号
に対するサンプリングを実行し、得られる基準ログデー
タＤｓをバッファＢａに蓄積するとともに、パーソナル
コンピュータ５に順次転送する。パーソナルコンピュー
タ５では転送された基準ログデータＤｓを記憶部５ｍに
保存するとともに、表示部５ｄに波形表示する。
よりインサート成形品Ｍの成形を行う（ステップＳ
２）。この際、射出成形機１のデータ出力部２からは、
スクリュ位置Ｘ，射出圧力Ｐ，射出速度Ｖのアナログ信
号が出力し、コントローラ３に付与される。コントロー
ラ３では、予め設定したサンプリング時間により、スク
リュ位置Ｘ，射出圧力Ｐ及び射出速度Ｖのアナログ信号
に対するサンプリングを実行し、得られる基準ログデー
タＤｓをバッファＢａに蓄積するとともに、パーソナル
コンピュータ５に順次転送する。パーソナルコンピュー
タ５では転送された基準ログデータＤｓを記憶部５ｍに
保存するとともに、表示部５ｄに波形表示する。
【００１６】このとき、特に、良品を成形する射出圧力
Ｐの標準波形データＰｓを採取する（ステップＳ３）。
標準波形データＰｓの採取は、例えば、成形条件を様々
に変更して得たサンプル品を、定められた手順に従って
評価，分析し、成形状態の完成度が最も良好な波形デー
タを採用すればよい。この標準波形データＰｓを図２に
示す。なお、同図中Ｖｓは射出速度Ｖの標準波形データ
を示す。
Ｐの標準波形データＰｓを採取する（ステップＳ３）。
標準波形データＰｓの採取は、例えば、成形条件を様々
に変更して得たサンプル品を、定められた手順に従って
評価，分析し、成形状態の完成度が最も良好な波形デー
タを採用すればよい。この標準波形データＰｓを図２に
示す。なお、同図中Ｖｓは射出速度Ｖの標準波形データ
を示す。
【００１７】一方、稼働時には、通常の成形サイクルに
よりインサート成形品Ｍの生産を行う（ステップＳ
４）。この際、射出成形機１のデータ出力部２からはス
クリュ位置Ｘ，射出圧力Ｐ，射出速度Ｖのアナログ信号
が出力し、コントローラ３に付与されるため、射出圧力
Ｐの実測波形データＰｓの取込を行う（ステップＳ
５）。即ち、コントローラ３では、上述した標準波形デ
ータＰｓを採取するステップと同様に、予め設定したサ
ンプリング時間により、スクリュ位置Ｘ，射出圧力Ｐ及
び射出速度Ｖのアナログ信号に対するサンプリングを実
行し、得られる実測ログデータＤｄをバッファＢｂに蓄
積するとともに、パーソナルコンピュータ５に順次転送
する。パーソナルコンピュータ５では転送された実測ロ
グデータＤｄに基づき、表示部５ｄに波形表示するとと
もに、実測ログデータＤｄは必要に応じて記憶部５ｍに
保存する。一方、パーソナルコンピュータ５からは保存
してある基準ログデータＤｓ及び設定されたパラメータ
Ｄｐが予めコントローラ３に転送され、バッファＢａに
蓄積（記憶）される。図４はこの状態を示している。
よりインサート成形品Ｍの生産を行う（ステップＳ
４）。この際、射出成形機１のデータ出力部２からはス
クリュ位置Ｘ，射出圧力Ｐ，射出速度Ｖのアナログ信号
が出力し、コントローラ３に付与されるため、射出圧力
Ｐの実測波形データＰｓの取込を行う（ステップＳ
５）。即ち、コントローラ３では、上述した標準波形デ
ータＰｓを採取するステップと同様に、予め設定したサ
ンプリング時間により、スクリュ位置Ｘ，射出圧力Ｐ及
び射出速度Ｖのアナログ信号に対するサンプリングを実
行し、得られる実測ログデータＤｄをバッファＢｂに蓄
積するとともに、パーソナルコンピュータ５に順次転送
する。パーソナルコンピュータ５では転送された実測ロ
グデータＤｄに基づき、表示部５ｄに波形表示するとと
もに、実測ログデータＤｄは必要に応じて記憶部５ｍに
保存する。一方、パーソナルコンピュータ５からは保存
してある基準ログデータＤｓ及び設定されたパラメータ
Ｄｐが予めコントローラ３に転送され、バッファＢａに
蓄積（記憶）される。図４はこの状態を示している。
【００１８】なお、コントローラ３では、基準ログデー
タＤｓ（標準波形データＰｓ）とパラメータＤｐ（例え
ば、＋ΔＰ，−ΔＰ）に基づいて、図３に示すような上
限判定用波形データＰａ（Ｐｓ＋ΔＰ）と下限判定用波
形データＰｂ（Ｐｓ−ΔＰ）が設定されるとともに、前
述した監視範囲Ｚが設定される。
タＤｓ（標準波形データＰｓ）とパラメータＤｐ（例え
ば、＋ΔＰ，−ΔＰ）に基づいて、図３に示すような上
限判定用波形データＰａ（Ｐｓ＋ΔＰ）と下限判定用波
形データＰｂ（Ｐｓ−ΔＰ）が設定されるとともに、前
述した監視範囲Ｚが設定される。
【００１９】これにより、コントローラ３では、バッフ
ァＢａの基準ログデータＤｓとバッファＢｂの実測ログ
データＤｄを比較し、目的の良否判定を行う（ステップ
Ｓ６，Ｓ７，Ｓ８）。具体的には、同一のスクリュ位置
Ｘにおける射出圧力Ｐに係る基準ログデータＤｓと実測
ログデータＤｄを順次比較し、その偏差を演算するとと
もに、得られた偏差の大きさに基づいて良否判定を行
う。
ァＢａの基準ログデータＤｓとバッファＢｂの実測ログ
データＤｄを比較し、目的の良否判定を行う（ステップ
Ｓ６，Ｓ７，Ｓ８）。具体的には、同一のスクリュ位置
Ｘにおける射出圧力Ｐに係る基準ログデータＤｓと実測
ログデータＤｄを順次比較し、その偏差を演算するとと
もに、得られた偏差の大きさに基づいて良否判定を行
う。
【００２０】最も基本的な判定処理としては、実測波形
データＰｄが上限判定用波形データＰａ及び下限判定用
波形データＰｂを超えたか否かを判定すればよい。具体
的には、図３に符号Ｐｅで示すように、実測波形データ
Ｐｄが、一時、上限判定用波形データＰａを超えたよう
な場合には不良品として処理する（ステップＳ９）。即
ち、判定結果としての不良品判定信号Ｓｅが射出成形機
１に送られ、射出成形機１では成形品シュータを切換え
ることにより金型から取出されたインサート成形品Ｍを
不良品回収ボックスに回収する。
データＰｄが上限判定用波形データＰａ及び下限判定用
波形データＰｂを超えたか否かを判定すればよい。具体
的には、図３に符号Ｐｅで示すように、実測波形データ
Ｐｄが、一時、上限判定用波形データＰａを超えたよう
な場合には不良品として処理する（ステップＳ９）。即
ち、判定結果としての不良品判定信号Ｓｅが射出成形機
１に送られ、射出成形機１では成形品シュータを切換え
ることにより金型から取出されたインサート成形品Ｍを
不良品回収ボックスに回収する。
【００２１】なお、このような判定処理は最も基本とな
る。本発明では監視範囲Ｚを連続的に監視するため、例
えば、実測波形データＰｄと上限判定用波形データＰａ
の偏差が一定の大きさ以内の状態が一定区間以上続いた
場合も不良品と判断したり、或いは射出圧力Ｐが急激に
変動した場合に準不良品と判断するなど、各種の判定処
理を実行することができる。なお、このような監視シス
テム１０で得られる各種データは必要に応じてパーソナ
ルコンピュータ５に保存され、統計や解析に利用され
る。
る。本発明では監視範囲Ｚを連続的に監視するため、例
えば、実測波形データＰｄと上限判定用波形データＰａ
の偏差が一定の大きさ以内の状態が一定区間以上続いた
場合も不良品と判断したり、或いは射出圧力Ｐが急激に
変動した場合に準不良品と判断するなど、各種の判定処
理を実行することができる。なお、このような監視シス
テム１０で得られる各種データは必要に応じてパーソナ
ルコンピュータ５に保存され、統計や解析に利用され
る。
【００２２】よって、本実施例に係る良否判定方法によ
れば、成形工程における必要な監視範囲Ｚの射出圧力Ｐ
に係わる実測波形データＰｄが標準波形データＰｓに対
してどのような挙動（変化状態）であるかを正確に知る
ことができるため、インサート成形品Ｍにおける微妙な
内部不良を含む良否判定を的確かつ正確に行うことがで
きる。
れば、成形工程における必要な監視範囲Ｚの射出圧力Ｐ
に係わる実測波形データＰｄが標準波形データＰｓに対
してどのような挙動（変化状態）であるかを正確に知る
ことができるため、インサート成形品Ｍにおける微妙な
内部不良を含む良否判定を的確かつ正確に行うことがで
きる。
【００２３】以上、実施例について詳細に説明したが、
本発明はこのような実施例に限定されるものではなく、
細部の構成，手法等において、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲で任意に変更，追加，削除することができる。例
えば、実施例は、監視する物理量を射出圧力Ｐにより説
明したが、射出速度Ｖにおいても同様に実施できる。ま
た、電気部品Ｗを収容するインサート成形品Ｍを例示し
たが、高度の位置精度が要求されるアクティブセンサや
機械部品等の任意の部品を収容するインサート成形品Ｍ
に適用して好適である。さらに、実測波形データＰｄは
上限判定用波形データＰａ及び下限判定用波形データＰ
ｂの双方と比較した場合を示したが、いずれか一方のみ
であってもよい。
本発明はこのような実施例に限定されるものではなく、
細部の構成，手法等において、本発明の要旨を逸脱しな
い範囲で任意に変更，追加，削除することができる。例
えば、実施例は、監視する物理量を射出圧力Ｐにより説
明したが、射出速度Ｖにおいても同様に実施できる。ま
た、電気部品Ｗを収容するインサート成形品Ｍを例示し
たが、高度の位置精度が要求されるアクティブセンサや
機械部品等の任意の部品を収容するインサート成形品Ｍ
に適用して好適である。さらに、実測波形データＰｄは
上限判定用波形データＰａ及び下限判定用波形データＰ
ｂの双方と比較した場合を示したが、いずれか一方のみ
であってもよい。
【００２４】
【発明の効果】このように、本発明に係るインサート成
形品の良否判定方法は、予め、設定した成形条件により
インサート成形品を成形し、射出成形機から良品を成形
する物理量の標準波形データを得るとともに、この標準
波形データに基づいて上限判定用波形データ及び（又
は）下限判定用波形データを設定し、稼働時に、射出成
形機から物理量に係わる実測波形データを得ることによ
り、当該実測波形データと上限判定用波形データ及び
（又は）下限判定用波形データを比較し、この比較結果
に基づいてインサート成形品の良否判定を行うようにし
たため、特に、内部に電子部品等を収容するインサート
成形品における微妙な内部不良を含む良否判定を的確か
つ正確に行うことができ、もって、信頼性の高い判定結
果を得ることができるという顕著な効果を奏する。
形品の良否判定方法は、予め、設定した成形条件により
インサート成形品を成形し、射出成形機から良品を成形
する物理量の標準波形データを得るとともに、この標準
波形データに基づいて上限判定用波形データ及び（又
は）下限判定用波形データを設定し、稼働時に、射出成
形機から物理量に係わる実測波形データを得ることによ
り、当該実測波形データと上限判定用波形データ及び
（又は）下限判定用波形データを比較し、この比較結果
に基づいてインサート成形品の良否判定を行うようにし
たため、特に、内部に電子部品等を収容するインサート
成形品における微妙な内部不良を含む良否判定を的確か
つ正確に行うことができ、もって、信頼性の高い判定結
果を得ることができるという顕著な効果を奏する。
【図１】本発明の好適な実施例に係るインサート成形品
の良否判定方法の処理手順を示すフローチャート、
の良否判定方法の処理手順を示すフローチャート、
【図２】同良否判定方法において使用するスクリュ位置
に対する標準波形データの特性図、
に対する標準波形データの特性図、
【図３】同良否判定方法において使用するスクリュ位置
に対する実測波形データ，上限判定用波形データ及び下
限判定用波形データの特性図、
に対する実測波形データ，上限判定用波形データ及び下
限判定用波形データの特性図、
【図４】同良否判定方法の実施に用いる監視システムの
ブロック系統図、
ブロック系統図、
【図５】同監視システムの接続図、
【図６】同良否判定方法により判定されるインサート成
形品の一部断面図、
形品の一部断面図、
１ 射出成形機 Ｗ 電気部品 Ｍ インサート成形品 Ｐ 射出圧力 Ｐｓ 標準波形データ Ｐｄ 実測波形データ Ｐａ 上限判定用波形データ Ｐｂ 下限判定用波形データ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河野 満雄 長野県長野市稲里町下氷鉋1163番地 長野 日本無線株式会社内 Ｆターム(参考） 4F206 AD00 AH33 AM02 AP024 AP074 JB12 JP01 JP13 JP22
Claims (3)
- 【請求項１】 射出成形機により成形した内部に部品を
収容するインサート成形品の良否判定方法において、予
め、設定した成形条件によりインサート成形品を成形
し、射出成形機から良品成形時の物理量に係わる標準波
形データを得るとともに、この標準波形データに基づい
て上限判定用波形データ及び（又は）下限判定用波形デ
ータを設定し、稼働時に、射出成形機から前記物理量に
係わる実測波形データを得ることにより、当該実測波形
データと前記上限判定用波形データ及び（又は）前記下
限判定用波形データを比較し、この比較結果に基づいて
インサート成形品の良否判定を行うことを特徴とするイ
ンサート成形品の良否判定方法。 - 【請求項２】 前記部品は電気部品であることを特徴と
する請求項１記載のインサート成形品の良否判定方法。 - 【請求項３】 前記物理量には少なくとも射出圧力を含
むことを特徴とする請求項１記載のインサート成形品の
良否判定方法。
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|---|---|---|---|
| JP10247045A JP2000071303A (ja) | 1998-09-01 | 1998-09-01 | インサート成形品の良否判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10247045A JP2000071303A (ja) | 1998-09-01 | 1998-09-01 | インサート成形品の良否判定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000071303A true JP2000071303A (ja) | 2000-03-07 |
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ID=17157601
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10247045A Pending JP2000071303A (ja) | 1998-09-01 | 1998-09-01 | インサート成形品の良否判定方法 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000071303A (ja) |
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- 1998-09-01 JP JP10247045A patent/JP2000071303A/ja active Pending
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