JP2007196480A - 成形機のデータ処理方法及び装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 相関関係を、容易，正確かつ迅速に把握できるようにして相関の強いデータを見逃してしまう不具合を回避するとともに、相関関係の性格や傾向或いは他のデータとの関連性など、多様な情報を十分に把握できるようにする。
【解決手段】 ショット毎の動作状態に係わる複数の異なる検出項目に対応する物理量を順次検出し、検出した複数の物理量（検出データ）から統計データを求めて表示するに際し、任意の異なる二つの検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に対応する検出データ間の相関係数Ｒ…を一又は二以上求めるとともに、求めた相関係数Ｒ…を所定の表示条件により順次定量的に表示し、かつ検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…を各相関係数Ｒ…に対応させて表示する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、ショット毎の動作状態に係わる検出データから統計データを求めて表示する際に用いて好適な成形機のデータ処理方法及び装置に関する。

従来、射出成形機では、ショット毎の動作状態に係わる複数の異なる検出項目に対応する物理量（検出データ）を順次検出し、トレンドグラフ等によりリアルタイムで表示するとともに、成形状態を、より正確，容易かつ迅速に把握できるように、複数の検出データから統計データを求め、この統計データを表示することも行われており、例えば、特開平３−１９９０２５号公報には、設定された各成形運転条件値と各センサからの計測情報とに基づき成形機の各部を駆動制御するマイクロコンピュータを具備し、このマイクロコンピュータは、連続自動運転時における各ショット毎に、予め定められた複数のモニタ項目の測定データを取り込んで記憶する機能を具備するとともに、マイクロコンピュータは、取り込んだ各モニタ項目毎に統計演算処理を実行し、この演算処理結果を測定データの分布状態が視認できる形にグラフ化してプリンタ又は表示装置に出力可能にした射出成形機における測定データ処理装置が開示されている。

また、特開２００４−１５５１２５号公報には、成形機又はこの成形機の運転を補助する周辺機器の状態を検出する各種検出器と、この検出器から状態に係る情報を取り入れる制御装置からなる成形機システムであって、この制御装置の表示部は、情報をグラフ又は数値で表示し、グラフ又は数値のうち特定の情報範囲を指定すると、指定された特定の情報範囲に対して統計処理を行うとともに、表示を行う成形機の成形情報表示方法が開示されている。
特開平３−１９９０２５号 特開２００４−１５５１２５号

しかし、上述した射出成形機における従来のデータ処理方法（装置）は、次のような問題点があった。

第一に、データ処理技術の発展による検出データの多様化及び同時処理化により、検出データ（検出項目）及び統計データも多種に及んでいるが、単純表示による従来の表示方法では、大量のデータ数（項目数）に対して的確に対応できない。例えば、検出項目の種類が２３種の場合、相関関係に係わる統計データの組み合せは２５３通りになるが、単純表示による表示方法では、相関の強いデータを見逃してしまうなど、相関関係を容易，正確かつ迅速に把握できない。

第二に、単純表示による従来の表示方法では、多様で緻密な情報を十分に把握できない。即ち、相関関係の有無やその度合についてはある程度把握できるものの、相関関係の性格や傾向或いは他のデータとの関連性等、より幅の広い、かつ奥の深い情報の把握が容易でない。

本発明は、このような背景技術に存在する課題を解決した成形機のデータ処理方法及び装置の提供を目的とするものである。

本発明に係る成形機のデータ処理方法は、上述した課題を解決するため、ショット毎の動作状態に係わる複数の異なる検出項目に対応する物理量を順次検出し、検出した複数の物理量（検出データ）から統計データを求めて表示するに際し、任意の異なる二つの検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に対応する検出データ間の相関係数Ｒ…を一又は二以上求めるとともに、求めた相関係数Ｒ…を所定の表示条件により順次定量的に表示し、かつ検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…を各相関係数Ｒ…に対応させて表示することを特徴とする。

この場合、発明の好適な態様により、表示条件として、相関係数Ｒ…の大きい順又は相関係数Ｒ…の小さい順などを用いることができる。また、相関係数Ｒ…を表示するに際しては、予め設定した基準値Ｒｓ以上の相関係数Ｒ…のみを表示する態様、予め一又は二以上の特定の検出項目（親項目）Ｈｘｐ…を指定し、この親項目Ｈｘｐ…と他の対応する検出項目Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみを表示する態様、予め一又は二以上の特定の検出項目（除外項目）Ｈｔ…を指定し、この除外項目Ｈｔ…を除いた検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみを表示する態様などを用いることができる。さらに、相関係数Ｒ…は、ショットに対して指定した任意のサンプリング範囲Ａｒから求めることができる。また、本発明に係るデータ処理方法では、相関係数Ｒ…に対応する検出データの分布状態を示す相関図ｆｒ…を相関係数Ｒ…の表示画面Ｖｃ内に一緒に表示することができる。

一方、本発明に係る成形機のデータ処理装置１は、上述した課題を解決するため、成形機Ｍの制御を司るコンピュータ機能を有する成形機コントローラ２に、ショット毎の動作状態に係わる複数の異なる検出項目に対応する物理量を順次検出する検出手段３と、この検出手段３により検出した物理量（検出データ）を記憶する記憶手段４と、この記憶手段４に記憶した検出データから得られる統計データを表示する表示手段５とを備えるデータ処理装置であって、記憶手段４に記憶した任意の異なる二つの検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に対応する検出データ間の相関係数Ｒ…を演算処理により一又は二以上求める相関係数演算処理手段６と、この相関係数演算処理手段６により求めた相関係数Ｒ…を所定の表示条件により順次定量的に表示し、かつ検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…を各相関係数Ｒ…に対応させて表示する表示処理手段７を備えることを特徴とする。

この場合、発明の好適な態様により、相関係数演算処理手段６には、サンプリング範囲指定手段１１により指定したショットに対する任意のサンプリング範囲Ａｒにおける相関係数Ｒ…を求める機能Ｆａを設けることができる。また、表示処理手段７には、基準値設定手段１２により設定した基準値Ｒｓ以上の相関係数Ｒ…のみを表示する機能Ｆｂ、親項目指定手段１３により指定した一又は二以上の特定の検出項目（親項目）Ｈｘｐ…と他の対応する検出項目Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみを表示する機能Ｆｃ、除外項目指定手段１４により指定した一又は二以上の特定の検出項目（除外項目）Ｈｔ…を除いた検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみを表示する機能Ｆｄなどを設けることができる。さらに、表示処理手段７には、相関係数Ｒ…に対応する検出データの分布状態を示す相関図ｆｒ…を相関係数Ｒ…の表示画面Ｖｃ内に一緒に表示する機能Ｆｅを設けることができる。

このような本発明に係る成形機のデータ処理方法及び装置１によれば、次のような顕著な効果を奏する。

（１） 任意の異なる二つの検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に対応する検出データ間における一又は二以上の相関係数Ｒ…を所定の表示条件により順次定量的に表示するとともに、検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…を各相関係数Ｒ…に対応させて表示するようにしたため、相関関係Ｒ…を容易，正確かつ迅速に把握でき、相関の強いデータを見逃してしまう不具合を回避できるなど、大量のデータ数（項目数）に対して的確に対応できる。しかも、相関関係の性格や傾向或いは他のデータとの関連性等、より幅の広い、かつ奥の深い情報の把握が容易となり、多様な情報を十分に把握することができる。

（２） 好適な態様により、表示条件として、相関係数Ｒ…の大きい順又は相関係数Ｒ…の小さい順を用いれば、相関係数Ｒ…の強弱関係を容易かつ確実に把握することができる。特に、表示条件として相関係数Ｒ…の大きい順を用いれば、相関関係の強い検出項目を速やかに把握し、成形条件出しや良否判定の閾値設定などに有効に利用できるとともに、相関係数Ｒ…の小さい順を用いれば、本来、相関関係の強いと言われている検出項目における相関関係の無いことを速やかに検出し、異常検出などに有効に利用できる。

（３） 好適な態様により、相関係数Ｒ…を表示するに際し、予め設定した基準値Ｒｓ以上の相関係数Ｒ…のみを表示するようにすれば、特に、相関係数Ｒ…の弱いものを排除し、比較的強い相関係数Ｒ…を容易に把握することができる。また、予め親項目Ｈｘｐ…を指定し、この親項目Ｈｘｐ…と他の対応する検出項目Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみを表示するようにすれば、特定の親項目Ｈｘｐ…に着目した相関状態を容易かつ的確に把握することができる。さらに、予め除外項目Ｈｔ…を指定し、この除外項目Ｈｔ…を除いた検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみを表示するようにすれば、オペレータにとって必要性の無い不要な表示を排除することができる。そして、このような各表示態様は、必要に応じて選択できるため、使い勝手及び利便性をより高めることができる。

（４） 好適な態様により、相関係数Ｒ…を、ショットに対して指定した任意のサンプリング範囲Ａｒから求めるようにすれば、オペレータの判断した任意のサンプリング範囲Ａｒにおける相関関係を把握できるため、オペレータにとってより的確な相関情報を得ることができる。

（５） 好適な態様により、相関係数Ｒ…に対応する検出データの分布状態を示す相関図ｆｒ…を相関係数Ｒ…の表示画面Ｖｃ内に一緒に表示するようにすれば、相関関係に係わる多彩な情報を同時に観察できるため、より正確かつ確実な相関情報を得ることができる。

次に、本発明に係る最良の実施形態を挙げ、図面に基づき詳細に説明する。

まず、本実施形態に係るデータ処理装置１を備える射出成形機Ｍの構成について、図２及び図３を参照して説明する。

図２中、仮想線で示すＭは射出成形機であり、機台Ｍｂと、この機台Ｍｂ上に設置された射出装置Ｍｉ及び型締装置Ｍｃを備える。射出装置Ｍｉは、加熱筒２１を備え、この加熱筒２１の前端に図に現れない射出ノズルを有するとともに、加熱筒２１の後部には材料を供給するホッパ２２を備える。一方、型締装置Ｍｃには可動型と固定型からなる金型２３を備える。また、機台Ｍｂ上には側面パネル２４を起設し、この側面パネル２４にカラー液晶ディスプレイ等を用いたディスプレイ２５を配設する。このディスプレイ２５は、図３に示すように、タッチパネル２５ｔが付設され、タッチパネル２５ｔを含むディスプレイ２５は、機台Ｍｂに内蔵したコントローラ本体３０に接続する。

図３は、成形機コントローラ２のブロック構成図を示す。３１はＣＰＵであり、このＣＰＵ３１には内部バス３２を介してチップセット３３を接続する。また、チップセット３３には、ＰＣＩバス等のローカルバスを用いたバスライン３４を接続してＨＭＩ（ヒューマン・マシン・インタフェース）制御系を構成する。このため、バスライン３４には、ＲＡＭ，ＲＯＭ等の各種メモリ類を総括する内部メモリ３５を接続する。さらに、バスライン３４には、表示インタフェース３６を介して上述したディスプレイ２５及びタッチパネル２５ｔを接続するとともに、入出力インターフェイス３７を介してメモリカード等の記憶メディア３８に対する読出及び書込を行うドライブユニット３９を接続する。

一方、チップセット３３には、バスライン３４と同様のバスライン４０を接続してＰＬＣ（プログラマブル・ロジック・コントローラ）制御系を構成する。このため、バスライン４０には、各種スイッチやリレー等を含むスイッチ群４１から得る切換データＤｄ…をＣＰＵ３１に付与し、かつＣＰＵ３１から得る制御指令データＤｏ…を対応するアクチュエータに付与する入出力インターフェイス４２を接続するとともに、各種センサを含むセンサ群４３から得る検出信号Ｓｄ…を、アナログ−ディジタル変換してＣＰＵ３１に付与し、かつＣＰＵ３１から得る制御指令データをディジタル−アナログ変換して得た制御信号Ｓｏ…を対応するアクチュエータに付与する入出力インターフェイス４４を接続する。これにより、所定のフィードバック制御系及びオープンループ制御系が構成される。

したがって、前述した内部メモリ３５には、ＰＬＣプログラムとＨＭＩプログラムを格納するとともに、各種処理プログラムを格納する。なお、ＰＬＣプログラムは、射出成形機Ｍにおける各種工程のシーケンス動作や射出成形機Ｍの監視等を実現するためのソフトウェアであり、ＨＭＩプログラムは、射出成形機Ｍの動作パラメータの設定及び表示，射出成形機Ｍの動作監視データの表示等を実現するためのソフトウェアである。これらのソフトウェアは、成形機コントローラ２を搭載する射出成形機Ｍの固有アーキテクチャとして構築され、特に、本実施形態に係るデータ処理方法に係わる処理を実行できる。

このような射出成形機Ｍの制御を司るコンピュータ機能を有する成形機コントローラ２は、本実施形態に係るデータ処理装置１として機能する。この場合、上述したスイッチ群４１及びセンサ群４３は、ショット毎の動作状態に係わる複数の異なる検出項目に対応する物理量を順次検出する検出手段３の主要部を構成し、内部メモリ３５は、この検出手段３により検出した物理量（検出データ）を記憶する記憶手段４を構成し、ディスプレイ２５は、この記憶手段４に記憶した検出データから得られる統計データを表示する表示手段５を構成する。したがって、上述した検出信号Ｓｄ…をＡ／Ｄ変換して得るデータ及び切換データＤｄ…は、検出手段３により検出される検出データとなる。

また、成形機コントローラ２は、記憶手段４に記憶した任意の異なる二つの検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に対応する検出データ間の相関係数Ｒ…を演算処理により一又は二以上求める相関係数演算処理手段６を構成するとともに、この相関係数演算処理手段６により求めた相関係数Ｒ…を所定の表示条件により順次定量的に表示し、かつ検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…を各相関係数Ｒ…に対応させてディスプレイ２５に表示する表示処理手段７を構成する。

図１及び図２に、相関係数Ｒ…を所定の表示条件により順次定量的に表示し、かつ検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…を各相関係数Ｒ…に対応させて表示するための相関チェック画面（表示画面Ｖｃ）を示す。この相関チェック画面Ｖｃは、相関係数Ｒ…を大きい順に表示する相関係数表示部５１、各相関係数Ｒ…に対応させた検出項目Ｈｘ，Ｘｙ…を表示する項目表示部５２、相関係数Ｒ…に対応する検出データの分布状態を示す相関図ｆｒ…を表示する相関図表示部５３を有する。この場合、相関係数Ｒ…を大きい順に表示することが所定の表示条件となる。また、相関図表示部５３による表示は、相関図ｆｒ…を相関係数Ｒ…の表示画面、即ち、相関チェック画面Ｖｃ内に一緒に表示する機能（表示処理手段７による機能Ｆｅ）となる。なお、５４は相関係数Ｒ…の大きい順を順位番号で示す順位番号表示部、５５ｕ，５５ｄはスクロールキー、５６は相関チェック開始キーをそれぞれ示す。

一方、相関チェック画面Ｖｃにおいて、５７は基準値Ｒｓを設定する基準相関係数設定キーであり、この基準相関係数設定キー５７は基準値設定手段１２を構成する。これにより、基準相関係数設定キー５７により設定した基準値Ｒｓ以上の相関係数Ｒ…のみを相関係数表示部５１及び項目表示部５２に表示する処理が行われる（表示処理手段７による機能Ｆｂ）。５８は一又は二以上の特定の検出項目（親項目）Ｈｘｐ…を指定するための親項目設定キーであり、この親項目設定キー５８は親項目指定手段１３を構成する。これにより、親項目設定キー５８により指定した一又は二以上の親項目Ｈｘｐ…と他の対応する検出項目Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみを相関係数表示部５１及び項目表示部５２に表示する処理が行われる（表示処理手段７による機能Ｆｃ）。５９は一又は二以上の特定の検出項目（除外項目）Ｈｔ…を指定するための除外項目設定キーであり、この除外項目設定キー５９は除外項目指定手段１４を構成する。これにより、除外項目設定キー５９により指定した一又は二以上の除外項目Ｈｔ…を除いた検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみを相関係数表示部５１及び項目表示部５２に表示する処理が行われる（表示処理手段７による機能Ｆｄ）。

さらに、６０はショットに対する任意のサンプリング範囲Ａｒを指定するためのサンプリング範囲指定キーであり、このサンプリング範囲指定キー６０はサンプリング範囲指定手段１１を構成する。この場合、サンプリング範囲指定手段１１は相関係数演算処理手段６の一部として機能する。したがって、相関係数演算処理手段６では、サンプリング範囲指定手段１１により指定されたショットに対する任意のサンプリング範囲Ａｒにおける相関係数Ｒ…を求める処理が行われる（相関係数演算処理手段６における機能Ｆａ）。

他方、ディスプレイ２５には、図２に示すように、上段と下段に、各種画面を切換える画面項目毎に設けた複数の画面切換キーＫ１，Ｋ２，Ｋ３…を表示する。この画面切換キーＫ１…は、使用頻度の高さを考慮してランク分けされ、上段に、型開閉画面切換キーＫ１，エジェクタ画面切換キーＫ２，射出・計量画面切換キーＫ３，温度画面切換キーＫ４，モニタ画面切換キーＫ５，主要条件画面切換キーＫ６，条件切換画面切換キーＫ７を有する成形機の動作条件の設定に係わる第一のグループＧａを横一列に配するとともに、下段に、これ以外となる段取り画面切換キーＫ８，工程監視画面切換キーＫ９，生産情報画面切換キーＫ１０，波形画面切換キーＫ１１，履歴画面切換キーＫ１２，支援画面切換キーＫ１３を有する第二のグループＧｂを横一列に配する。なお、第二のグループＧｂは、第一階層が表示された状態であるが、画面右端の階層画面切換キーＫｃを選択（ＯＮ）することにより、第二階層における画面切換キーに入れ替えることができる。

次に、本実施形態に係るデータ処理方法について、図１〜図３及び図５〜図８を参照しつつ図４に示すフローチャートに従って説明する。

なお、本実施形態に係るデータ処理方法は、射出成形機Ｍが稼働中であるか否かは問わずに実施できる。今、オペレータは、図２に示すモニタ画面切換キーＫ５を選択（ＯＮ）したものとする（ステップＳ１）。これにより、図５に示すモニタ画面Ｖｍがディスプレイ２５に表示される。このモニタ画面Ｖｍは、上段に「射出充填時間」など、全部で八つの検出項目が表示される検出項目表示部６１を有する。この検出項目表示部６１の検出項目は、他の検出項目に変更することができる。検出項目は、「射出充填時間」，「指定位置通過時間」，「射出開始位置」，「Ｖ−Ｐ切換位置」，「射出最前進位置」，「射出終了位置」，「Ｖ−Ｐ切換圧」，「射出最前進圧」，「射出ピーク圧」，「指定位置通圧」，「区間平均射出圧」，「射出開始圧」など、全部で２３項目存在する。したがって、相関係数Ｒ…は、全部で２５３通り求められる。また、各検出項目の下には、成形品の良否判別のための設定を行う基準値設定部６２及び監視幅設定部６３を有するとともに、さらにこの下に、検出データがショット毎に順次時系列的にプロットされてトレンドグラフとなるトレンドグラフ表示部６４を有する。この場合、トレンドグラフの横方向は検出データの大きさ（時間）となり、縦方向はショット数となる。例示の場合、表示されるショット数は２５０回であるが、隠れたショット分はスクロールキー６５ｕ，６５ｄによりスクロール表示することができる。

一方、この状態でオペレータがトレンドグラフをモニタし、検出データの相関チェックを行う場合を想定する。この場合、オペレータは、図５に示す相関チェックキー６６を選択（ＯＮ）する（ステップＳ２）。これにより、ディスプレイ２５の画面切換が行われ、図１（図２）に示す相関チェック画面Ｖｃが表示される（ステップＳ３）。相関チェック画面Ｖｃでは、相関チェックに際しての必要な設定（指定）を行うことができる。なお、設定（指定）は必ずしも行う必要がなく、設定（指定）を行わない場合には標準モードによる全表示が行われる。標準モードによる全表示は、初期段階の生産において、成形品の品質に影響を与える検出データ（検出項目）が全く或いはほとんど把握ができていない場合に有用であり、品質をより安定させることができる。

設定（指定）は、基準値Ｒｓの設定，親項目Ｈｘｐ…の指定及び除外項目Ｈｔ…の指定があり、基準値Ｒｓの設定には、基準相関係数設定キー５７を用いる。この場合、基準相関係数設定キー５７を選択（ＯＮ）することにより、テンキーが表示されるため、このテンキーを用いて所望の数値を入力する（ステップＳ４）。例示の設定は「０．６０」である。したがって、「０．６０」以上の相関係数Ｒ…のみが表示され、「０．６０」未満の相関係数Ｒ…は表示されない。これにより、特に、相関係数Ｒ…の弱いものを排除でき、オペレータは、比較的強い相関係数Ｒ…を容易に把握することができる利点がある。

また、親項目Ｈｘｐ…の指定（設定）には、親項目設定キー５８を用いる。この場合、親項目設定キー５８を選択（ＯＮ）することにより、図６に示す親項目指定画面Ｖｃｐが表示されるため、この親項目指定画面Ｖｃｐを用いて一又は二以上の特定の検出項目（親項目）Ｈｘｐ…を指定する（ステップＳ５）。これにより、指定した親項目Ｈｘｐ…と他の対応する検出項目Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみが表示される。例示の場合、親項目Ｈｘｐとして「可塑化時間」が指定されているため、「可塑化時間−計量減速開始位置」，「可塑化時間−計量トルク平均」など、「可塑化時間−〇〇〇〇」の組み合せによる相関係数Ｒ…のみが表示される。したがって、「〇〇〇〇」に対応する「計量減速開始位置」や「計量トルク平均」などが親項目Ｈｘｐに対する他の検出項目Ｈｙ…となる。このような表示態様により、オペレータは、指定した親項目Ｈｘｐ…に着目した相関状態を容易かつ的確に把握できる利点がある。親項目Ｈｘｐ…を指定する表示態様は、生産が進み、成形品の品質に影響を与える検出データ（検出項目）について、ある程度の把握ができている場合に有用であり、特定の検出項目に着目してより品質を高めることができる。

さらに、除外項目Ｈｔ…の指定（設定）には、除外項目設定キー５９を用いる。この場合、除外項目設定キー５９を選択（ＯＮ）することにより、図７に示す除外項目指定画面Ｖｃｔが表示されるため、この除外項目指定画面Ｖｃｔを用いて一又は二以上の特定の検出項目（除外項目）Ｈｔ…を指定する（ステップＳ６）。これにより、指定した除外項目Ｈｔ…を除いた検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみが表示される。例示の場合、「サイクル時間（Ｈｘ）」−「全項目（Ｈｙ…）」の組み合せによる相関係数Ｒと「指定位置通過圧（Ｈｘ）」−「Ｖ−Ｐ切換圧（Ｈｙ）」の組み合せによる相関係数Ｒが除かれることになる。７１は項目追加キーであり、除外項目Ｈｔ…を追加する場合には、この項目追加キー７１を選択（ＯＮ）して追加することができる。このような表示態様により、オペレータにとって必要性の無い不要な表示を排除できる利点がある。

一方、以上の設定が終了したなら、相関係数Ｒ…を求める検出データ（ショット）のサンプリング範囲Ａｒを指定する。サンプリング範囲Ａｒの指定は、まず、サンプリング範囲指定キー６０を選択（ＯＮ）する（ステップＳ７）。これにより、ディスプレイ２５の画面切換が行われ、設定用モニタ画面が表示される（ステップＳ８）。この設定用モニタ画面は、図５に示すモニタ画面Ｖｍのトレンドグラフ表示部６４とサンプリング範囲Ａｒを指定するための指定画面（図示を省略）を有する。したがって、オペレータは、トレンドグラフ表示部６４のトレンドグラフを見ながら設定画面により所望のサンプリング範囲Ａｒを指定する（ステップＳ９）。例示は、８０ショット分を指定した場合を示しており、指定した範囲は容易に判別できるように色替表示される。このように、ショットに対して指定した任意のサンプリング範囲Ａｒにおける相関係数Ｒ…を求めることができるため、オペレータは、自分の判断したサンプリング範囲Ａｒにおける相関関係を把握でき、オペレータにとってより的確な相関情報を得ることができる利点がある。

そして、サンプリング範囲Ａｒの指定が終了したなら確定キー（不図示）を選択（ＯＮ）する（ステップＳ１０，Ｓ１１）。これにより、ディスプレイ２５の画面切換が行われ、図１に示す相関チェック画面Ｖｃが再表示される（ステップＳ１２）。相関チェック画面Ｖｃでは、サンプリング範囲指定キー６０の隣に有する範囲表示部６０ｒに、指定したサンプリング範囲Ａｒとなるショット数「８０」が表示される。なお、必要によりサンプリング範囲指定キー６０におけるアップダウンキー６０ｓによりサンプリング範囲Ａｒの増減を行うことができる。

この後、相関チェック開始キー５６を選択（ＯＮ）することにより、成形機コントローラ２における相関係数演算処理手段６により相関係数Ｒ…の演算処理が行われる（ステップＳ１３，Ｓ１４）。この場合、相関係数Ｒの演算には、公知であるピアソンの積率相関係数Ｒを利用し、この積率相関係数Ｒは［数１］式により算出する。

そして、相関係数Ｒ…が得られたなら、表示処理手段７によりディスプレイ２５の相関チェック画面Ｖｃに図１に示す表示を行う（ステップＳ１５）。この場合、相関係数Ｒ…は、得られた数値を、相関係数Ｒ…の大きい順に相関係数表示部５１に表示を行う。したがって、相関係数Ｒ…は設定した表示条件により順次定量的に表示されることになる。このように、表示条件として、相関係数Ｒ…の大きい順を用いれば、相関係数Ｒ…の強弱関係を容易かつ確実に把握することができるとともに、特に、相関関係の強い検出項目を速やかに把握し、成形条件出しや良否判定の閾値設定などに有効に利用できる利点がある。また、各相関係数Ｒ…にそれぞれ係わる二つの検出項目Ｈｘ，Ｘｙ…は、各相関係数Ｒ…に対応させて項目表示部５２に表示する。

さらに、項目表示部５２の隣に位置する相関図表示部５３には、相関係数Ｒ…に対応する検出データの分布状態を示す相関図ｆｒ…を表示する。各相関図ｆｒ…は、横軸に一方の検出項目Ｈｘを設定し、縦軸に他方の検出項目Ｈｙを設定する。これにより、各相関図ｆｒ…には、ショット毎の検出データがプロット表示され、プロット数は、サンプリング範囲Ａｒにより指定したショット数分となる。なお、各相関図ｆｒ…を表示する順番（番号）は、相関係数Ｒ…に付した順位番号表示部５４の順位番号に対応する。

このように、相関係数Ｒ…に対応する検出データの分布状態を示す相関図ｆｒ…を相関係数Ｒ…の表示画面Ｖｃ内に一緒に表示するようにすれば、相関関係に係わる多彩な情報を同時に観察できるため、より正確かつ確実な相関情報を得ることができる利点がある。特に、図８に示すようなイレギュラデータｄｉが存在する相関図ｆｒの場合、イレギュラデータｄｉを含めた相関係数Ｒは「０．６９」となるが、このイレギュラデータｄｉを除いたレギュラデータ群ｄｒの相関係数Ｒは「−０．３６７」となる。したがって、相関係数Ｒ…と相関図ｆｒ…を同一画面により一緒に表示することにより、このようなイレギュラデータｄｉを考慮して相関関係を的確に把握することができる。

なお、例示の相関チェック画面Ｖｃは、表示できる相関係数Ｒ…，検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…及び相関図ｆｒ…の件数は９件となるが、１０件目以降は、スクロールキー５５ｕ，５５ｄにより表示させることができる。一方、前述した基準値Ｒｓが設定されている場合には、基準値Ｒｓ以上の相関係数Ｒ…のみが表示される。また、親項目Ｈｘｐ…が指定されている場合には、親項目Ｈｘｐ…及び他の対応する検出項目Ｈｙ…に係わる相関係数Ｒ…のみが表示される。この場合、表示は親項目Ｈｘｐ…単位となり、各親項目Ｈｘｐ…毎に相関係数Ｒ…は大きい順に表示される。さらに、除外項目Ｈｔ…が指定されている場合には、除外項目Ｈｔ…を除いた検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…のみが表示される。

他方、オペレータが表示内容を確認することにより、基準値Ｒｓの設定，親項目Ｈｘｐ…の指定及び除外項目Ｈｔ…の指定、更にはサンプリング範囲Ａｒの指定の変更が必要と判断したときは、再設定（再指定）が可能である（ステップＳ１６）。このように、本実施形態に係るデータ処理方法では、各種表示態様を選択できるため、使い勝手及び利便性をより高めることができる利点がある。

よって、このような本実施形態に係るデータ処理方法（データ処理装置１）によれば、任意の異なる二つの検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…に対応する検出データ間における一又は二以上の相関係数Ｒ…を所定の表示条件により順次定量的に表示するとともに、検出項目Ｈｘ，Ｈｙ…を各相関係数Ｒ…に対応させて表示するため、相関関係Ｒ…を容易，正確かつ迅速に把握でき、相関の強いデータを見逃してしまう不具合を回避できるなど、大量のデータ数（項目数）に対して的確に対応できる。しかも、相関関係の性格や傾向或いは他のデータとの関連性等、より幅の広い、かつ奥の深い情報の把握が容易となり、多様な情報を十分に把握することができる。

図９には、相関チェック画面Ｖｃの変更例を示す。図１に示した相関チェック画面Ｖｃは、相関係数Ｒ…を表示する態様として数値を用いたいわゆるデジタルタイプで表示する場合を例示したが、図９に示す相関チェック画面Ｖｃは、相関係数Ｒ…を棒グラフ形式によるいわゆるアナログタイプで表示したものである。なお、相関係数Ｒ…が負の場合には、色替表示する。このように、相関係数Ｒ…を表示するに際しては、各種表示態様を適用することができる。

以上、最良の実施形態について詳細に説明したが、本発明は、このような実施形態に限定されるものではなく、細部の構成，形状，数量，数値等において、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、任意に変更，追加，削除することができる。

例えば、動作状態に係わる物理量（検出データ）は、動作自体に伴う検出データは勿論のこと、時間や指令値の取込みなども検出データに含まれる。また、ショット毎とは、毎回のショットのみならず、所定間隔毎のショットも含まれる。一方、表示には、ディスプレイ２５による表示のみならず、プリンタによりプリントアウトした印刷用紙に表示される態様や通信により他の表示器などに表示する態様も含まれる。さらに、表示条件として、相関係数Ｒ…の大きい順を例示したが、相関係数Ｒ…の小さい順であってもよい。この場合、本来、相関関係の強いと言われている検出項目における相関関係の無いことを速やかに検出し、異常検出などに有効に利用できる。その他、表示条件としては、各検出項目毎における相関係数Ｒ…の平均値を登録し、平均値に対する乖離の大きい順番などを適用することができる。なお、射出成形機Ｍに適用した場合を例示したが、押出成形機など各種タイプの成形機にも同様に適用できるとともに、広くは各種生産機械にも同様に適用することができる。

本発明の最良の実施形態に係るデータ処理方法の実施に用いる相関チェック画面の表示態様図、 同データ処理方法の実施に用いる射出成形機及び同射出成形機に搭載するディスプレイの概要図、 同射出成形機に備える成形機コントローラのブロック構成図、 同データ処理方法の手順を説明するためのフローチャート、 同データ処理方法の実施に用いるモニタ画面の表示態様図、 同データ処理方法の実施に用いる親項目指定画面の表示態様図、 同データ処理方法の実施に用いる除外項目指定画面の表示態様図、 同データ処理方法の実施に用いる相関図の一例を示す表示態様図、 同データ処理方法の実施に用いる相関チェック画面の変更例を示す表示態様図、

符号の説明

１：データ処理装置，２：成形機コントローラ，３：検出手段，４：記憶手段，５：表示手段，６：相関係数演算処理手段，７：表示処理手段，１１：サンプリング範囲指定手段，１２：基準値設定手段，１３：親項目指定手段，１４：除外項目指定手段，Ｍ：成形機（射出成形機），Ｒ：相関係数，Ｒｓ：基準値，Ｈｘ：検出項目，Ｈｘｐ：親項目（検出項目），Ｈｙ：検出項目，Ｈｔ：除外項目（検出項目），Ａｒ：サンプリング範囲，ｆｒ：相関図，Ｖｃ：表示画面

Claims (13)

1. ショット毎の動作状態に係わる複数の異なる検出項目に対応する物理量を順次検出し、検出した複数の物理量（検出データ）から統計データを求めて表示する射出成形機のデータ処理方法において、任意の異なる二つの検出項目に対応する検出データ間の相関係数を一又は二以上求めるとともに、求めた相関係数を所定の表示条件により順次定量的に表示し、かつ検出項目を各相関係数に対応させて表示することを特徴とする成形機のデータ処理方法。
2. 前記表示条件は、相関係数の大きい順又は相関係数の小さい順であることを特徴とする請求項１記載の成形機のデータ処理方法。
3. 前記相関係数を表示するに際し、予め設定した基準値以上の相関係数のみを表示することを特徴とする請求項１又は２記載の成形機のデータ処理方法。
4. 前記相関係数を表示するに際し、予め一又は二以上の特定の検出項目（親項目）を指定し、この親項目と他の対応する検出項目に係わる相関係数のみを表示することを特徴とする請求項１，２又は３記載の成形機のデータ処理方法。
5. 前記相関係数を表示するに際し、予め一又は二以上の特定の検出項目（除外項目）を指定し、この除外項目を除いた検出項目に係わる相関係数のみを表示することを特徴とする請求項１，２又は３記載の成形機のデータ処理方法。
6. 前記相関係数は、前記ショットに対して指定した任意のサンプリング範囲から求めることを特徴とする請求項１記載の成形機のデータ処理方法。
7. 前記相関係数に対応する検出データの分布状態を示す相関図を前記相関係数の表示画面内に一緒に表示することを特徴とする請求項１記載の成形機のデータ処理方法。
8. 成形機の制御を司るコンピュータ機能を有する成形機コントローラに、ショット毎の動作状態に係わる複数の異なる検出項目に対応する物理量を順次検出する検出手段と、この検出手段により検出した物理量（検出データ）を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶した検出データから得られる統計データを表示する表示手段とを備える成形機のデータ処理装置において、前記記憶手段に記憶した任意の異なる二つの検出項目に対応する検出データ間の相関係数を演算処理により一又は二以上求める相関係数演算処理手段と、この相関係数演算処理手段により求めた相関係数を所定の表示条件により順次定量的に表示し、かつ検出項目を各相関係数に対応させて表示する表示処理手段を備えることを特徴とする成形機のデータ処理装置。
9. 前記相関係数演算処理手段は、サンプリング範囲指定手段により指定した前記ショットに対する任意のサンプリング範囲における相関係数を求める機能を備えることを特徴とする請求項８記載の成形機のデータ処理装置。
10. 前記表示処理手段は、基準値設定手段により設定した基準値以上の相関係数のみを表示する機能を備えることを特徴とする請求項８記載の成形機のデータ処理装置。
11. 前記表示処理手段は、親項目指定手段により指定した一又は二以上の特定の検出項目（親項目）と他の対応する検出項目に係わる相関係数のみを表示する機能を備えることを特徴とする請求項８記載の成形機のデータ処理装置。
12. 前記表示処理手段は、除外項目指定手段により指定した一又は二以上の特定の検出項目（除外項目）を除いた検出項目に係わる相関係数のみを表示する機能を備えることを特徴とする請求項８記載の成形機のデータ処理装置。
13. 前記表示処理手段は、前記相関係数に対応する検出データの分布状態を示す相関図を前記相関係数の表示画面内に一緒に表示する機能を備えることを特徴とする請求項８記載の成形機のデータ処理装置。

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