JP2000065642A - スペクトロメ―タ - Google Patents

スペクトロメ―タ

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JP2000065642A
JP2000065642A JP11063866A JP6386699A JP2000065642A JP 2000065642 A JP2000065642 A JP 2000065642A JP 11063866 A JP11063866 A JP 11063866A JP 6386699 A JP6386699 A JP 6386699A JP 2000065642 A JP2000065642 A JP 2000065642A
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spectrometer
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carrier body
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Helmut Teichmann
テックマン ヘルムート
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Centre Suisse dElectronique et Microtechnique SA CSEM
X Rite Switzerland GmbH
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Ct Suisse D Electronique & De
ENVIROS MONITORS Ltd
Centre Suisse dElectronique et Microtechnique SA CSEM
Gretag Macbeth AG
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 一般的スペクトロメータを思想的に改良し
て、光学的特性の実質的な損失なしに大量生産ができ、
且つ従来の同様のスペクトロメータより実質的に簡単且
つ経済的に製造でき、しかも、小型化の前提条件を提供
できるようにすること。 【解決手段】 光入射部と反射回折格子とスペクトル的
に分かれた測定光を射出する光出射面とを備えてなり、
光学装置Oは、少なくとも一部分が実質上透明で対向す
る2つの端面1、2によって限定されるキャリアボディ
Tからなり、第1端面1側に光入射部10と反射回折格
子20と光出射面とを設け、第2端面2に入射光を平行
化して反射回折格子に反射させその反射回折格子により
回折した光を光出射面に焦点を合わせる反射性の凹面鏡
を設け、且つ光入射部10と光出射面とを所定距離を置
いて設け、光出射面の光の分散Rを光入射部10と光出
射面とを結ぶ線に対してほぼ直交させる。

Description

【発明の詳細な説明】
発明の分野 本発明は、スペクトロメータに関する。特に、測定する
光を集光して、スペクトル部分に分光する光学装置を備
えたスペクトロメータに関する。
【0001】発明の背景技術 このようなスペクトロメータの利用分野は多岐にわたる
が、代表的なものとして、例えば、グラフィック産業用
や食品産業用カラーデテクタ、産業処理操作用装置、臨
床診断用測定装置、等々が挙げられる。
【0002】従来の一般的スペクトロメータとして、例
えば、EP−A−0489286に開示されているもの
がある。この公知の測定ヘッドは、キャリアボディを比
較的厚めの両凸レンズとして構成し、光入射間隙とダイ
オードラインとして構成された光電変換装置とを、その
両凸レンズの一方の曲面に配置し、回析格子を両凸レン
ズの他方の曲面に配置している。このような構成のもの
は、製造が比較的簡単で、良好な光学的修正が可能な調
整能力を得ることができるが、一般に収差―修正が行わ
れた湾曲状の凹面格子を使用する必要がある。
【0003】このような必要条件は、例えば、米国特許
第4744618号の特許明細書「デマルチプレクサ」
に記載されている−Fastie−Ebert−法によ
るスペクトロメータを使用することによって回避するこ
とはできるが、そのようなスペクトロメータは、一般に
正の回折次数でしか操作できず、また上記米国特許第4
744618号の図11に示されているような斜格子で
しか操作できないという問題があった。
【0004】発明の要約 このような従来技術の現状に基づき、本発明の目的は、
このような一般的スペクトロメータを思想的に改良し
て、光学的特性の実質的な損失なしに大量生産ができ、
且つ従来の同様のスペクトロメータより実質的に簡単且
つ経済的に製造でき、しかも、小型化の前提条件を提供
できるようにすることにある。このような目的を、凹面
格子を用いることなく、特に、新たな光学装置を導入す
ることにより、簡単な構成のスペクトロメータで達成し
た。本発明の新規な光学装置では、格子は、格子線(格
子溝)を光入射部に近傍する格子の一側から離れる方向
に指向するよう方位付けするのが好ましい。また、その
格子は、光入射部と光出射部との間周りに配置するのが
好ましい。光入射部と光出射部とを格子の直ぐ近傍に配
置すると装置の小型化を保証され特に好ましい。また、
格子線すなわち格子溝は、既述したように、光入射部か
ら離反し、且つ格子における光出射部配置側に向かう方
向に方向付けすることが好ましい。特に、光入射部と、
格子と、光出射部との構成を選ぶと共に、格子の方位を
選んで、光出射面におけるスペクトル回折の方向(以下
「分散方向R」と称する)を、少なくとも光入射部と光
出射領域とを結ぶある線に対してほぼ直交するように
し、また個々のスペクトル部の焦点が前記光出射面に位
置するようにして製造するのが好ましい。また、前記光
入射部と光出射領域とを結ぶ線は、前記光入射部と前記
平面状の光出射領域の少なくともほぼ中心点との間を延
びるものであることが好ましい。
【0005】また、上記米国特許第4744618号の
図11に示されている装置と異なり、本発明の装置で
は、負の回折次数を用いるので、光の入射部と光の出射
面とを、分散方向Rに対して格子の同一側に配置させ
て、装置を小型化することができると共に、焦点変形も
小さなものにできる。さらには、回折格子を、スペクト
ルモジュールボディの対称軸Aに対して少なくともほぼ
直交するよう位置させることもできる。
【0006】さらには、格子のミクロ構造と同時に製造
する光入射領域におけるディンプル構造やミクロプリズ
ム等の一体化したミクロ構造と光電変換装置とを一緒に
用いることにより、例えば、入力ファイバー等の後続の
システム部品の再生可能な組込みが容易になり、経済性
に優れた大量生産が可能になる。技術的にさらに新規な
点は、このような思想の実現、例えば、スペクトロメー
タの光の分散抑制の最適化に凹面鏡面の分化蒸着にあ
る。
【0007】本発明の目的は、独立クレーム1の特徴記
載部に記載の各構成により達成される。また、従属クレ
ームの主題は、特に好適な実施例と、さらなる発展例で
ある。
【0008】好適実施例の詳細な説明 図中、対応する部分には、同一参照番号を付している。
なお、別異の実施例の各構成部分は、相互に組み合わせ
ることが可能である。
【0009】図1に示したスペクトロメータは、基本的
には、2つの主要構成部分、すなわち、光学装置Oと光
電変換装置Wとからなっている。
【0010】光電変換装置Wとしては、例えば、市販の
リニアCMOS−フォトダイオードマトリックス、例え
ば、HamamatsuのS5463−256型や、同
じく市販のCCD−デテクタマトリックスが挙げられ
る。光電変換装置Wは、内部にフォトダイオードを含む
デテクタチップ30を備えていて、該デテクタチップ3
0は、通常デテクタハウジング、図示せず、内に密閉さ
れている。外部コントロール装置および評価電子装置、
図示せず、との接続には、例えば、バンドケーブル31
が用いられる。このようなフォトダイオードフィールド
および電気制御は、当該技術分野およびスペクトロメー
タに関する熟練者には公知、例えば上記EP―A−04
89286参照、であるので、詳細な説明は割愛する。
【0011】また、光学装置Oは、基本的に、対象のバ
ンド幅内において基本的に透明であるキャリアボディT
からなるもので、該キャリアボディTは、測定する光の
スペクトル分光に必要なすべての光学的構成要素を備え
ている。このキャリアボディTは、さらに、端部の立上
がったドーム形のキャップを備えた筒状の外面形状を有
している、すなわち、実質的に平面の第1端面1と、回
転対称で球状あるいは放物線状に湾曲し(内方に)凹ん
だ凹面の対向端面2と、光学装置の機能には重要でない
筒状の外装面(符号ナシ)とを備えている。なお、第1
端面1の面は、回転対称の第2端面2の対称軸Aに対し
て垂直であることが好ましい。
【0012】キャリアボディTの第1端面1には、マイ
クロプリズム10および反射回析格子20としたインプ
ットカプラ構造で構成された測定光入射口が設けられて
いる。このキャリアボディTの第1端面1には、前記変
換装置Wのデテクタチップ30も配置するようにしてい
る。製造および調整能力達成をより容易にするため、前
記反射回析格子20を、実質上平面に形成し、収差―修
正を行わず、凹面の端面2の対称軸Aに対し中心をつけ
ることにより、格子溝の方向Gを、光入射部と個々のス
ペクトル部の焦点が位置する平面領域(30a)の中心
点とを結ぶ線に対し平行に指向するようにしている。イ
ンプットカプラ構造を構成する前記マイクロプリズム1
0は、前記第1端面1に対して実質上垂直な光入射面1
1と、前記端面1と平行な光出射面12と、該面に対し
て約45°傾斜した後面13とを有し、例えば、蒸気蒸
着したアルミニウム層により反射性をもたせるようにし
ている。従って、第1端面1に対し平行に方向付けされ
て入射する測定光は、2倍のプリズム角で偏向し、第2
端面2の対称軸Aに対して所定の小さな角度で前記キャ
リアボディTに結合する。なお、マイクロプリズム10
は、第1端面1上あるいは第1端面1内に直接形成する
ようにして、光出射面12が別体の構成部として存在す
ることがないようにするのが好ましい。
【0013】第1端面1には、マイクロプリズム10の
直ぐ手前に溝構造15を形成している。この溝構造15
は、マイクロプリズム10の光入射面に対し直交する複
数本の、例えば16本の、溝部から構成している。各溝
部は、V形状の横断面を有するようにし、例えば、幅1
70μm、深さ100μmの溝部とするのが好ましい。
この溝構造15は、一本の(または複数本の)光案内フ
ァイバーFを第1端面1に位置決めする働きをするもの
で、この光案内ファイバーFを介し、分析する光が前記
マイクロプリズム10、ひいてはスペクトロメータのキ
ャリアボディTに、案内されるようにしている。光案内
ファイバーの光出射側端部は、屈折率の整合する接着剤
により前記マイクロプリズム10の光入射面11に直接
貼着されている。なお、光案内ファイバーFのキャリア
ボディTへの取り付けは、適宜の方法(例えば、接着)
で行なえばよく説明は省く。
【0014】前記マイクロプリズム10と溝構造15の
詳細な構成を、図5の拡大図に示す。
【0015】偏向プリズムを備えた前記インプットカプ
ラ構造の構成は、光を前記キャリアボディの第1端面1
に対し平行に入力できるので、光が端面に対し直交して
入力される従来のものに比し、スペクトロメータ全体の
高さを実質上低くすることができる。
【0016】また、既述したように、前記溝構造15を
用いて、光案内ファイバーFを前記キャリアボディTの
第1端面1に位置決めさせるようにしているので、ファ
イバーのテンションのゆるみや破損を簡便な方法により
防止することができる。さらに、前記溝構造15は、選
択可能な入力結合位置を複数有するので、製造過程の終
了時の自由度が高い(以下の説明参照)。その上、既述
したように、光案内ファイバーFを複数並列に設けるこ
とできるので、これら光案内ファイバーFを介して、数
個の別々の光源から、あるいは、一つの同一光源から光
を供給することが可能である。このため、後者の場合に
おいては、光のスループットをより高めることができ、
一方、前者の場合は、光学マルチプレクサ(多重変換装
置)を別途設けることなく、複数の光源を順に測定する
ことができる。
【0017】また、前記回析格子20は、対応する局部
面構造によって前記キャリアボディTの第1端面1に直
接形成して、その面構造に反射コーティングを施し、格
子溝をG方向に指向させるようにしている。一般に、こ
の回析格子20は、実質的に平面状で、1mm当たり8
00本の線を有する、収差無修正の線格子である。な
お、可視スペクトルでのスペクトル分析用に用いる場
合、反射コーティングはアルミニウムからなるのが好ま
しい。
【0018】前記キャリアボディの第2端面2は、外側
に高反射コーティング、例えば、蒸気蒸着したアルミニ
ウムコーティング、を施して、球状または放物線状の凹
面鏡(内側から見て)を形成している。その凹面鏡は、
以下の説明から判るように、2つの比較的小さな領域に
おいてのみ光を受けるようにしている。従って、第2端
面2は、全面が反射可能とするのではなく、実際に光に
当てる部分(セグメント部分)のみ反射可能とすること
も可能である。斯くすることにより、光の散乱をより良
く抑制できるだけでなく、有効開口数および使用バンド
幅の影響を少なくすることもできる。その上、回折の高
めの次数も抑制することができる。なお、第2端面を2
つの別個のセグメント部でなく、単一の連続したセグメ
ントとすることも勿論可能である。
【0019】図1から判るように、スペクトロメータに
は折返しの光路を設けており、測定する光が光入射部
(マイクロプリズム10)から変換装置Wまでの途中、
全部で3回、すなわち、反射回折格子20で1回、キャ
リアボディTの凹状の第2端面2で2回、反射するよう
にしている。従って、非常に短小な構造を大きな焦点距
離で得ることができる。そして、前記第1端面1に対し
実質上平行に延びる光案内ファイバーFを介して供給さ
れる測定する光を、マイクロプリズムによりプリズム角
の2倍の角度で偏向させ、(光案内ファイバーFで決定
される所定の開口数を有する)第1端面1に対し実質上
直交するキャリアボディTに入射するようにしている。
このとき、最初、測定する光は、凹状の第2端面2によ
って反射し、第1端面1の回折格子20に平行化するよ
うにしている。そして、前記反射回折格子20の溝部の
所定方位Gへの方位付けにより、測定する光が、反射性
の第2端面2に反射して、波長(分散)による空間的分
離を一般に知られた方法で同時に行なえるようにしてい
る。従って、空間的分離の方向Rは、光入射部と、個々
のスペクトル部の焦点が位置する平面領域(30a)の
中心とを結ぶ線に対してほぼ垂直である。次いで、その
測定する光は、前記第2端面2で2度目の反射が行わ
れ、最終的に変換装置Wに指向づけられる。キャリアボ
ディTの各寸法および光入射部10、反射回折格子2
0、および変換装置Wの位置、すなわち測定する光の光
路、を適宜選択することにより、波長に対応して分散さ
れる光線の発散配列が変換装置Wの位置に焦点付けられ
るようにして、その光線の発散配列の焦点面が、変換装
置のデテクタチップ30における各光感応性要素(フォ
トダイオード)と一致するようにしている。従って、線
形フォトダイオード配列における25μm幅の一般的な
個々のフォトダイオードが、波長の異なる光を受け、そ
れらフォトダイオードによって生じる各波長に対応した
電気信号が分析光のスペルトル強度部分を表すようにし
ている。
【0020】ところで、光軸の外側の凹面鏡部分の反射
によって、分解能を低下させる固有の結像誤差が生じ
る。しかし、上記米国特許第4744618号の図11
に示されている回折の正の次数とは逆に、本発明の提案
する光入射部の構成と格子の方位付けとにより、回折の
負の次数を用いることができるため、図3、4に示すよ
うに、光入射部と光の出射面とを共に分散方向Rに対し
て格子の同一側に配置させることができ、結象誤差は、
上記したように、光入射部10の配置と回折の負の次数
とを使用する構成によるスペクトル分離の方向Rにおい
て少なくとも補償されるため、分散方向Rにおける各焦
点の広がりが小さく抑えられ、良好な波長の分解能が得
られる。また、光入射部および格子の構成における光入
射部10の所定位置への配置により、ほかの結象誤差も
すべてスチグマチックな結象(無非点収差)、すなわち
分散方向Rに対して実質上直交する焦点の広がり、にし
かならず、スペクトロメータの分解能が低下することは
ない。また、個々のフォトダイオードのフィールドの非
対称形状の適応フォトダイオードを用いれば、広がった
焦点パッチ内の光を完全に検出でき、スチグマチックな
結象(無非点収差)が透過効率の分解能に悪影響を及ぼ
すことはない。なお、スペクトロメータにはフォトダイ
オードのフィールドを用いるのが好ましく、個々のフォ
トダイオードは、例えば、長さ方向(幅)が約25μm
で横方向(高さ)が約500μmの、矩形の有効面を有
するものが好ましい。
【0021】上記のことから、又図3、4からも明らか
なように、このようなスペクトロメータの基本的な光学
的コンセプトでは円錐回折が起こる。このスペクトロメ
ータは、ほかの直線の共通焦線ではなくて、円錐回折の
焦線を湾曲させたことを特徴とするものであるが、その
湾曲は顕著なものではなく、変換装置の個々の光感応要
素(フォトダイオード、ピクセル高さ)の有効高さ(長
さ方向)が十分に大きいものであれば、重大な誤差は生
じない。ただし、このことは、一般にこのような目的に
使用される市販のフォトダイオードのフィールドを有し
ている場合である。
【0022】なお、前記光入射部の所定位置への配置、
格子溝の方位G、および平面1に対し傾斜のない平面状
の収差無修正の格子による構成により、最も簡単な構成
となり従って製造も簡単化できながら、このような配置
は、比較的製造費の高い製造方法(例えば、上記米国特
許第4744618号の図11に示されている、軸40
に対する垂直位置から格子を傾斜させることによる、
「デマルチプレクサ」の製造方法)と同等のサイズと開
口数のみの構成のスペクトロメータで達成可能な分解能
を得ることもできる。
【0023】本発明に係るスペクトロメータの変更実施
形態を図2に示す。なお、この実施例が図1の実施例と
基本的に異なる点は、変換装置Wのデテクタチップ30
をキャリアボディTの第1端面1に直接配置せず、少な
くとも一部が透明の中間スペーサ40を設け、該スペー
サ40を別途接着する部分とするか第1端面1に直接形
成するようにした点だけである。
【0024】図6は、そのスペーサ40と変換装置Wの
取り付けを拡大して示したものである。図6は、フォト
ダイオードのフィールドとして構成した代表的な変換装
置の底面図を示したもので、自由にアクセス可能な各フ
ォトダイオード32もデテクタチップ30およびバンド
ケーブル31とは別に認識可能としたものである。スペ
ーサ40は、その上面に凹部41を有し、該凹部内には
平面状の嵌合面43を持つブリッジ42を設けている。
そして、デテクタチップ30は、フォトダイオード32
がブリッジ42の嵌合面43上に直接配置されるような
方法でスペーサ40に取り付けられるようにしている。
なお、このスペーサ40は、少なくともブリッジ42部
分が透明となっている。
【0025】スペーサ40上に前記変換装置Wを取り付
けるようにした方が、第1端面1に直接取り付けるより
も次の点で有利である。すなわち、(他の部分の)キャ
リアボディTに製造許容誤差のある場合、スペーサの高
さを調整して変換装置Wのフォトダイオードを光路の焦
点面内に光学的に配置させるようにすることで、そのよ
うな許容誤差を補償することができるからである。ま
た、スペクトルの透明性やブロッキング特性もスペーサ
40の材質を適宜選定することにより組織的に調整する
ことができる。なお、第1端面1を全体に平面状とする
ことは、製造技術面の理由での利点はあるが、本発明に
係るスペクトロメータの光学的コンセプトにとって本質
的なものではない。重要なのは、光入射部10と反射回
折格子20の光学的ミクロ構造や変換装置Wのデテクタ
チップ30の結合部を配置する、平面状の、同一平面上
の、あるいは、相互に平行な、部分領域や部分面を含む
ということである。図示した実施例では、これらの部分
面は、前記溝構造15およびマイクロプリズム10を設
置する面10aや、反射回折格子20を設置する面20
aや、デテクタチップ30を設置する面30aや、スペ
ーサ40の平面状嵌合面43である。
【0026】キャリアボディTは、押し出し成形可能な
透明のプラスティックおよび/または熱可塑性プラスチ
ック(熱成型性)で形成するのが好ましい。好適なポリ
マー材料としては、例えば、ポリカーボネート、PMM
A、COC、UVT、Degalan、等が挙げられ、
ポリマー材料の選定は、その材料の、対象波長範囲に関
する透過特性によって適宜決められる。製造技術上の理
由から、キャリアボディTは、少なくとも2つ、好まし
くは3つの部分、から構成し、それらをほぼ屈折率の整
合する接着剤により接着するようにするのが好ましい。
図1、2に示したものは、キャリアボディを3つのボデ
ィ部分T1,T2,T3に分割した好適例を示すもので
ある。第1ボディ部T1は、基本的に比較的薄いシート
として形成し、既述した光学構造を有する第1端面1を
備えている。第2ボディ部T2は、比較的薄い平凸レン
ズの形状を有し、前記第2反射端面2を有している。ま
た、第3ボディ部T3は、単に筒状とし、他の2つのボ
ディ部T1,T2の間に配設している。このボディ部の
作用は、全体のキャリアボディTに所定高さを与えて、
発散する光路の焦点面を、第1端面1内、あるいは、第
1端面1から僅かに距離を置いて配設できるようにする
ようにすることである。なお、これら各ボディ部には、
組立て時、相互の方位付けを容易にする機械的構造、図
示せず、を設けるのが好ましい。
【0027】発散する光路の焦点面の位置は、既述した
ように、前記第3ボディ部T3の厚み(高さ)を適宜選
択することにより調整可能である。従って、焦点面は、
回折格子20の平面内に配設することもできるし(例え
ば図1)、それより僅かに上(例えば図2)または下に
配設することも可能である。因って、変換装置の様々な
ハウジング形状にもうまく適合させることが可能であ
る。光の散乱を抑え、調整を簡単に行えるようにするた
め、使用する変換装置の形状に合わせたスペーサ40を
設け、そのスペーサを前記第1端面1に別部分として接
着するか、直接第1端面にミクロ構造として形成するの
が好ましい。もちろん、キャリアボディTと変換装置W
の光感応要素との間には空隙があってもよい。例えば、
デテクタハウジング内のフォトダイオードを直接アクセ
ス可能とせず、窓部の下に配置すると、そのようにな
る。その場合、発散する光路の焦点位置を第1端面1の
上方に適宜の距離を置いて配置し、スペーサによりデテ
クタハウジング又はデテクタチップ30の正確な位置決
めを再調整するのが好ましい。
【0028】光学的コンセプト(すなわち、光の入射部
の所定位置への位置決め、および実質的に平面状の回折
格子を方位付けすることで回折の負の次数で使用するよ
うにしたことにより、光の入射部および出射部を格子、
折返し光路の一側に配設するようにしたこと)と、キャ
リアボディのボディ分割とにより、例えば射出成型や箔
押や押出等の比較的安価な反復技術を用いて、スペクト
ロメータの簡単で、かつ、経済性に優れた大量生産が可
能となる。また、熱可塑性プラスチックや、プラスチッ
ク基板やガラス基板上に紫外線やマイクロ波照射により
硬化するプラスチックで、製造することが可能である。
また、この光学的コンセプトは、また非常にコンパクト
な構成を可能とするので、スペクトロメータの小型化の
前提条件を提供することができる。因みに、図1、2の
キャリアボディTは、一般に幅(直径)が約22mm
で、高さが約18mmでしかなく、第2端面2の湾曲は
約31mmである。このような小さな寸法でありなが
ら、市販のフォトダイオードのフィールドを変換装置と
し、100/140μmのファイバーを光入射部とする
ことで、約5乃至8μmのスペクトル分解も依然として
可能である。
【0029】スペクトロメータの好適な製造手順につい
て以下説明する。
【0030】―(マイクロプリズムを有する入力結合構
造、回折格子構造、必要に応じスペーサ)を備えた構造
を有するボディ部T1を、射出成型により製造する、前
記各光学的構造は箔押で製造することも可能である; ―マイクロプリズムの後面および回折格子構造にマスキ
ングしたアルミニウム蒸気蒸着により反射コーティング
を施す; ―湾曲した第2端面を有するボディ部T2を射出成型法
で製造する; ―湾曲した第2端面およびその全面あるいは一部分にア
ルミニウムの反射コーティングを施す(被覆); ―筒状のボディ部T3を射出成型法で、または押出しシ
ート材から製造する; ―変換装置のボディ部T1への設置と調整を行う; ―ボディ部T2とT3の接着を行う; ―ボディ部T1とT3(T2と接着した)の接着と調整
を行う; ―光案内ファイバーFの位置決めと接着を行う; ―装置全体を黒くする。
【0031】既述したように、測定する光は、第1端面
1に設けたマイクロプリズム10としての入力結合構造
と組み合わせた光案内ファイバーFを介してキャリアボ
ディTに供給するようにするのが好ましく、斯くするこ
とで、他の従来型の入射間隙を前記光案内ファイバーと
替えることが可能である。例えば、光案内ファイバーF
として好適なものとして、市販の100/140μm反
射率グラディエントファイバーが挙げられるが、8μm
までの小さ目の芯線を有するファイバーや、単一モード
ファイバーや、125μmのクラッドファイバーも使用
可能である。光の透過を改善するため、光案内ファイバ
ーを2個以上同時に用いてもよいが、変換装置の画素サ
イズを考慮しなければならないのは言うまでもない。例
えば、変換装置の許容画素サイズが0.5mmである場
合、100/140μm反射率グラディエントファイバ
ーを3本までは同時に使用することができる。太めの芯
線を有する光案内ファイバーを用いる場合は、入射間隙
を設けてもよく(例えば100μm×700μmま
で)、例えばマイクロプリズム10に直接に形成しても
よい。また、光案内ファイバーを第1端面1の溝構造1
5に取り付ける場合、例えばフロートグラス片による接
着被覆により行ってもよい。
【0032】測定する光を例えば溝構造15における近
接する溝部内に設けた3本のファイバーを介して供給す
ると、外部のファイバーマルチプレクサを別途設けなく
ても、一定時間で順に作動する3つまたは多重チャンネ
ルを作動させることができる。このような機能は、波長
較正の実行および基準スペクトルの測定に関し実質上利
点がある。
【0033】本発明では、スペクトロメータの散乱光の
挙動は、他の方法で改善することも可能である。例え
ば、第2端面における反射領域を小さくすることによっ
て、開口数を少なくする。また、インプット結合部、特
にマイクロプリズム10上に、スロットマスクを配置す
る。さらには、キャリアボディTの個々のボディ部T1
とT3との間、またはT3とT2との間にマスクを配置
する。そして最後に、例えばフィルターを各ボディ間に
配置したり、変換装置の手前に連続して配置することに
より、望ましくない対象外の波長域をろ過する、という
ようにしてもよい。
【0034】本発明に係るスペクトロメータは、全体
が、特に、測定する光の捕捉用およびその光の各スペク
トル部分への分離用の光学装置と、各スペクトル部に属
し、該スペクトル部の対応電気信号への変換用光電変換
装置とを備えてなるものである。光学装置(O)は、実
質的に透明なキャリアボディ(T)からなる。該キャリ
アボディ(T)は、実質上一対の対向端面(1、2)に
より限定され、内部に反射回折格子(20)および変換
装置(W)を配置し、光入射部(10)を介して測定す
る光が供給されるようになっている。そして、光入射部
(10)の所定選択位置および実質的に平面状の回折格
子の所定方位(G)とにより、光入射部と、個々のスペ
クトル部の焦点が所在する平面状領域(30a)の中心
点とを結ぶ線に対してほぼ垂直なスペクトル分光になる
ようにしている。光入射部(10)、平面状の反射回折
格子(20)および変換装置(W)は、キャリアボディ
(T)の2つの端面(1、2)のうち第1端面(1)側
に配置する一方、2つの端面(1、2)のうち第2端面
(2)全体または一部分を、回転対称の、内側に凹ん
だ、反射性を有する凹面鏡として構成している。キャリ
アボディ(T)は、全て透明のプラスチックからなり、
光学的に接合された3つのボディ部(T1,T2,T
3)からなる。これらボディ部のうち、第1ボディ部
(T1)は、第1端面(1)を備え、第2ボディ部(T
2)は、キャリアボディ(T)の第2端面(2)を備え
ており、これら第1、第2ボディ部(T1、T2)の間
に第3ボディ部(T3)を配置している。第1端面
(1)には、光学的に有効なミクロ構造を設けており、
これらミクロ構造で光入射部(10)および反射回折格
子(20)を構成している。そして、測定する光を、第
1端面(1)と平行な1本もしくは複数本の光案内ファ
イバー(F)を介して供給するようにし、第1端面
(1)に配置した有効ミクロ構造により、その(それら
の)ファイバーの取り付けが簡単に行えるようにしてい
る。このスペクトロメータは、小型化を促進できる前提
条件を提供し、且つ簡単で経済性に優れた大量生産に非
常に適している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るスペクトロメータの第1実施例で
ある。
【図2】若干の変更が加えられた第2実施例である。
【図3】回折格子配置面の平面図である。
【図4】キャリアボディにおける光路の斜視図(ミクロ
構造は図示せず)である。
【図5】第1端面におけるマイクロプリズムと溝構造の
構成を示す拡大スケッチである。
【図6】スペーサと変換装置の取り付けを示す拡大スケ
ッチである。
【符号の説明】
1 第1端面 2 第2端面 10 マイクロプリズム 11 光入射面 12 光出射面 13 後面 15 溝構造 20 反射回析格子 30 デテクタチップ 31 バンドケーブル 32 フォトダイオード 40 スペーサ 42 ブリッジ 43 嵌合面 A 対象軸 F 光案内ファイバー G 格子溝の方位 O 光学装置 R 分散方向 T キャリアボディ W 光電変換装置
フロントページの続き (71)出願人 598062310 Althardstrasse 70,8105 Regensdorf,Switzer land (71)出願人 599033302 Steamer Quay Road,T otnes,Devon TQ9 5A L,Great Britain (71)出願人 599033313 センター スイス エレクトロニーク マ イクロテクニーク エス エー (CSE M) Centre Suisse d’Ele ctronique et de Mic rotechnique SA (CSE M) スイス国、8048 チューリッヒ、バデナー ストラッセ、569 Badener Strasse 569, 8048 Zurich,Switzerla nd (72)発明者 ヘルムート テックマン スイス国、8047 チューリッヒ、アルビス リーデルストラッセ、265

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定する光を捕捉し、その光をスペクト
    ル部分に分光する光学装置を備えたスペクトロメータで
    あって、光入射部と、反射回折格子と、スペクトル的に
    分かれた測定光を射出する光出射面とを備えてなり、前
    記光学装置は、少なくとも一部分が実質上透明で、対向
    する2つの端面によって限定されるキャリアボディから
    なり、該キャリアボディの2つの端面のうち第1端面側
    に、前記光入射部と、前記反射回折格子と、前記光出射
    面とを設ける一方、前記2つの端面のうち第2端面に、
    入射光を平行化して、前記反射回折格子に反射させ、そ
    してその反射回折格子により回折した光を前記光出射面
    に焦点を合わせる、反射性の凹面鏡を設け、且つ前記光
    入射部と光出射面とを所定距離を置いて設け、前記光出
    射面の光の分散が、前記光入射部と光出射面とを結ぶ線
    に対してほぼ直交することを特徴とするスペクトロメー
    タ。
  2. 【請求項2】 前記反射回折格子が実質上平面状である
    ことを特徴とする、請求項1に記載のスペクトロメー
    タ。
  3. 【請求項3】 前記第1端面に、前記光入射部と前記反
    射回折格子とを構成する光学的に有効なミクロ構造を設
    けたことを特徴とする、請求項1に記載のスペクトロメ
    ータ。
  4. 【請求項4】 前記第1端面は、同一平面の部分面と、
    相互に平行な平面状の部分面のいずれかの部分面を有し
    ていて、その部分面に、前記光出射面に焦点を合わせた
    光を対応する電気信号または電子信号に変換する変換装
    置の前記光入射部と前記反射回折格子とを設けたことを
    特徴とする、請求項1に記載のスペクトロメータ。
  5. 【請求項5】 前記反射回折格子を、前記凹面鏡の回転
    対称軸Aに直交する平面における部分面に実質上配置し
    ていることを特徴とする、請求項4に記載のスペクトロ
    メータ。
  6. 【請求項6】 第2端面を、球面状または放物線状に形
    成し、その全面または一部分に反射性の高いコーティン
    グを施したことを特徴とする、請求項1に記載のスペク
    トロメータ。
  7. 【請求項7】 前記光入射部を、マイクロプリズムを有
    する入力結合構造で構成するとともに、前記第1端面ま
    たはその平面状の部分面に設け、その結合構造で、測定
    する光を前記第2端面の回転対称軸に対し比較的小さな
    角度でキャリアボディに結合するようにしたことを特徴
    とする、請求項1に記載のスペクトロメータ。
  8. 【請求項8】 前記入力結合構造が、少なくとも1本の
    光案内ファイバーを前記マイクロプリズムに対し機械的
    に位置決めさせる溝構造からなり、この光案内ファイバ
    ーを介して測定する光を供給することを特徴とする、請
    求項7に記載のスペクトロメータ。
  9. 【請求項9】 前記マイクロプリズムおよび溝構造を、
    前記キャリアボディの第1端面に直接形成したことを特
    徴とする、請求項7および8のいずれか1項に記載のス
    ペクトロメータ。
  10. 【請求項10】 前記キャリアボディにおける第1端面
    の面構造と、前記部分面構造に施した反射性のコーティ
    ングとの組み合わせで、前記回折格子を構成したことを
    特徴とする、請求項1に記載のスペクトロメータ。
  11. 【請求項11】 前記キャリアボディが、圧力硬化プラ
    スチック、熱硬化プラスチック、放射線硬化プラスチッ
    ク、熱・放射線硬化プラスチックおよび熱変形プラスチ
    ックからなる群から選ばれた実質的に透明なプラスチッ
    クでできていることを特徴とする、請求項1に記載のス
    ペクトロメータ。
  12. 【請求項12】 前記キャリアボディが、少なくとも2
    つの光学的に相互結合されたボディ部からなり、第1ボ
    ディ部に第1端面を設け、第2ボディ部に前記キャリア
    ボディの第2端面を設けたことを特徴とする、請求項1
    に記載のスペクトロメータ。
  13. 【請求項13】 前記キャリアボディが、少なくとも3
    つの光学的に相互結合されたボディ部からなり、第1ボ
    ディ部に第1端面を設け、第2ボディ部に前記キャリア
    ボディの第2端面を設け、第3ボディ部を前記第1ボデ
    ィ部と第2ボディ部との間に配設したことを特徴とす
    る、請求項1に記載のスペクトロメータ。
  14. 【請求項14】 前記第1、第3ボディ部を実質上平―
    平行に構成し、第2ボディ部を実質上平凸形状としたこ
    とを特徴とする、請求項13に記載のスペクトロメー
    タ。
  15. 【請求項15】 前記変換装置用の平―平行のスペーサ
    を、前記第1端面に配置するか、形成したことを特徴と
    する、請求項14に記載のスペクトロメータ。
  16. 【請求項16】 測定する光を、少なくとも1つの測定
    光源から供給するための光案内ファイバーを少なくとも
    2つさらに備えてなる、請求項1に記載のスペクトロメ
    ータ。
  17. 【請求項17】 前記コーティングが、アルミニウムコ
    ーティングであることを特徴とする、請求項6に記載の
    スペクトロメータ。
  18. 【請求項18】 前記溝構造が、実質上V形状の横断面
    の少なくとも1つの溝からなることを特徴とする、請求
    項8に記載のスペクトロメータ。
  19. 【請求項19】 前記放射線硬化プラスチックが、紫外
    線照射で硬化するプラスチックであることを特徴とす
    る、請求項11に記載のスペクトロメータ。
JP11063866A 1998-03-11 1999-03-10 スペクトロメ―タ Pending JP2000065642A (ja)

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EP99100338A EP0942267B1 (de) 1998-03-11 1999-01-13 Spektrometer
EP98104395.3 1999-01-13

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Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004106873A1 (en) 2003-05-28 2004-12-09 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector and spectrometer using the same
WO2007034569A1 (en) 2005-09-22 2007-03-29 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometer mount and measuring apparatus including same
JP2008304379A (ja) * 2007-06-08 2008-12-18 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
US7605917B2 (en) 2004-07-16 2009-10-20 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometer
WO2009139321A1 (ja) * 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
WO2009139315A1 (ja) 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
WO2009139322A1 (ja) 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及び分光モジュールの製造方法
WO2009139320A1 (ja) 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
WO2009139316A1 (ja) 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
JP2009544015A (ja) * 2006-07-20 2009-12-10 トリネアン・ナムローゼ・フェンノートシャップ コンパクトな反射屈折分光計
DE102009021440A1 (de) 2008-05-15 2009-12-17 Hamamatsu Photonics K.K., Hamamatsu Spektroskopiemodul und Verfahren zum Herstellen desselben
JP2009300416A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
JP2009300421A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光器
JP2009300418A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP2009300413A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP2009300415A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
WO2011021557A1 (ja) * 2009-08-19 2011-02-24 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及びその製造方法
JP2012037533A (ja) * 2011-11-18 2012-02-23 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP2012037534A (ja) * 2011-11-18 2012-02-23 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP2012053067A (ja) * 2011-11-17 2012-03-15 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP2012137506A (ja) * 2012-04-18 2012-07-19 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP4990420B1 (ja) * 2012-04-04 2012-08-01 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュールの製造方法
US8368885B2 (en) 2007-06-08 2013-02-05 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
US8477305B2 (en) 2007-06-08 2013-07-02 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscope
JP2018105883A (ja) * 2018-02-14 2018-07-05 浜松ホトニクス株式会社 分光器
US10775236B2 (en) 2014-02-05 2020-09-15 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometer, and spectrometer production method

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6399405B1 (en) * 1998-12-21 2002-06-04 Xerox Corporation Process for constructing a spectrophotometer
AU3032700A (en) 1999-01-08 2000-07-24 Ibsen Micro Structures A/S Spectrometer
US6498872B2 (en) * 2000-02-17 2002-12-24 Jds Uniphase Inc. Optical configuration for a dynamic gain equalizer and a configurable add/drop multiplexer
US6678445B2 (en) 2000-12-04 2004-01-13 Jds Uniphase Corporation Dynamic gain flattening filter
US6625346B2 (en) 2001-03-19 2003-09-23 Capella Photonics, Inc. Reconfigurable optical add-drop multiplexers with servo control and dynamic spectral power management capabilities
US7349597B2 (en) * 2001-12-21 2008-03-25 Opnext, Inc. Grating based multiplexer/demultiplexer component
DE10304312A1 (de) * 2003-02-04 2004-08-12 Carl Zeiss Jena Gmbh Kompakt-Spektrometer
US7262845B2 (en) * 2003-05-27 2007-08-28 Wayne State University Diffractive imaging spectrometer
US6768834B1 (en) * 2003-06-13 2004-07-27 Agilent Technologies, Inc. Slab optical multiplexer
EP1784622A4 (en) * 2004-08-19 2009-06-03 Headwall Photonics Inc MULTI-CHANNEL, MULTI-SPECTRUM IMAGING SPECTROMETER
US20100239436A1 (en) * 2005-05-17 2010-09-23 Honeywell International Inc. A thermal pump
US7330258B2 (en) * 2005-05-27 2008-02-12 Innovative Technical Solutions, Inc. Spectrometer designs
JP4887221B2 (ja) * 2007-06-08 2012-02-29 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
WO2008149930A1 (ja) * 2007-06-08 2008-12-11 Hamamatsu Photonics K.K. 分光モジュール
KR20100017086A (ko) * 2007-06-08 2010-02-16 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 분광 모듈
WO2008149941A1 (ja) * 2007-06-08 2008-12-11 Hamamatsu Photonics K.K. 分光モジュール
US7817274B2 (en) 2007-10-05 2010-10-19 Jingyun Zhang Compact spectrometer
US8345226B2 (en) * 2007-11-30 2013-01-01 Jingyun Zhang Spectrometers miniaturized for working with cellular phones and other portable electronic devices
EP2116828A4 (en) * 2008-03-04 2014-01-08 Hamamatsu Photonics Kk SPEKTROSKOPMODUL
JP5205239B2 (ja) * 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光器
JP5205242B2 (ja) * 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光器の製造方法
US10757308B2 (en) 2009-03-02 2020-08-25 Flir Systems, Inc. Techniques for device attachment with dual band imaging sensor
WO2015103448A2 (en) * 2013-12-31 2015-07-09 Flir Systems, Inc. Techniques for device attachment with dual band imaging sensor
EP2615435B1 (en) * 2012-01-10 2014-08-20 ams AG Dispersive element, spectrometer and method to spectrally separate wavelengths of light incident on a dispersive element
EP2857810A1 (en) * 2013-10-02 2015-04-08 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Monolith spectrometer
EP3191811A4 (en) 2014-09-11 2018-04-25 Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. Determining spectral emission characteristics of incident radiation
DE102016225344A1 (de) * 2016-12-16 2018-06-21 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. System zur Analyse von elektromagnetischer Strahlung und Bauelement zur Herstellung desselben
WO2018138609A1 (en) 2017-01-25 2018-08-02 Rathore Shubham Spectrometer and method for measuring the spectral characteristics thereof
US11207870B2 (en) * 2017-07-24 2021-12-28 Oak Analytics Inc Refractive-index matching optical window

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3216516A1 (de) * 1982-05-03 1983-11-03 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Optischer wellenlaengendemultiplexer nach dem beugungsgitterprinzip
JP2791038B2 (ja) * 1988-06-24 1998-08-27 株式会社日立製作所 分光器及びそれを用いた投影露光装置並びに投影露光方法
US5026160A (en) * 1989-10-04 1991-06-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Monolithic optical programmable spectrograph (MOPS)
DE4038638A1 (de) * 1990-12-04 1992-06-11 Zeiss Carl Fa Diodenzeilen-spektrometer

Cited By (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004354176A (ja) * 2003-05-28 2004-12-16 Hamamatsu Photonics Kk 光検出器及びそれを用いた分光器
US7081955B2 (en) 2003-05-28 2006-07-25 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector and spectrometer using the same
WO2004106873A1 (en) 2003-05-28 2004-12-09 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector and spectrometer using the same
US7605917B2 (en) 2004-07-16 2009-10-20 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometer
WO2007034569A1 (en) 2005-09-22 2007-03-29 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometer mount and measuring apparatus including same
JP2009544015A (ja) * 2006-07-20 2009-12-10 トリネアン・ナムローゼ・フェンノートシャップ コンパクトな反射屈折分光計
US8368885B2 (en) 2007-06-08 2013-02-05 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
JP2008304379A (ja) * 2007-06-08 2008-12-18 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
US8477306B2 (en) 2007-06-08 2013-07-02 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscope
US8477305B2 (en) 2007-06-08 2013-07-02 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscope
US8411269B2 (en) 2007-06-08 2013-04-02 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopic module
JP2009300421A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光器
DE102009021440B4 (de) * 2008-05-15 2020-04-16 Hamamatsu Photonics K.K. Spektroskopiemodul und Verfahren zum Herstellen desselben
DE102009021440A1 (de) 2008-05-15 2009-12-17 Hamamatsu Photonics K.K., Hamamatsu Spektroskopiemodul und Verfahren zum Herstellen desselben
JP2009300416A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
JP2009300419A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP2009300422A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
WO2009139315A1 (ja) 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP2009300418A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
US8804118B2 (en) 2008-05-15 2014-08-12 Hamamatsu Photonics K.K. Spectral module
JP2009300415A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP2009300417A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
US8742320B2 (en) 2008-05-15 2014-06-03 Hamamatsu Photonics K.K. Spectral module and method for manufacturing spectral module
US8604412B2 (en) 2008-05-15 2013-12-10 Hamamatsu Photonics K.K. Spectral module and method for manufacturing spectral module
US8013993B2 (en) 2008-05-15 2011-09-06 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopy module
US8018591B2 (en) 2008-05-15 2011-09-13 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopy module
US8027034B2 (en) 2008-05-15 2011-09-27 Hamamatsu Photonics K.K. Method for manufacturing spectroscopy module, and spectroscopy module
US8035814B2 (en) 2008-05-15 2011-10-11 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopy module
US8040507B2 (en) 2008-05-15 2011-10-18 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometer
JP2009300413A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
WO2009139321A1 (ja) * 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP2009276244A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
US8139214B2 (en) 2008-05-15 2012-03-20 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopy module, and method for manufacturing the same
US8564773B2 (en) 2008-05-15 2013-10-22 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopy module
WO2009139322A1 (ja) 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及び分光モジュールの製造方法
WO2009139320A1 (ja) 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
WO2009139316A1 (ja) 2008-05-15 2009-11-19 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
CN102472663A (zh) * 2009-08-19 2012-05-23 浜松光子学株式会社 分光模块及其制造方法
JP2011043360A (ja) * 2009-08-19 2011-03-03 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール及びその製造方法
WO2011021557A1 (ja) * 2009-08-19 2011-02-24 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及びその製造方法
US9075193B2 (en) 2009-08-19 2015-07-07 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopy module and manufacturing method therefor
US9797773B2 (en) 2009-08-19 2017-10-24 Hamamatsu Photonics K.K. Spectroscopy module and manufacturing method therefor
JP2012053067A (ja) * 2011-11-17 2012-03-15 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP2012037533A (ja) * 2011-11-18 2012-02-23 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP2012037534A (ja) * 2011-11-18 2012-02-23 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP4990420B1 (ja) * 2012-04-04 2012-08-01 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュールの製造方法
JP2012137506A (ja) * 2012-04-18 2012-07-19 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
US10775236B2 (en) 2014-02-05 2020-09-15 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometer, and spectrometer production method
JP2018105883A (ja) * 2018-02-14 2018-07-05 浜松ホトニクス株式会社 分光器

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