JP2009300421A - 分光器 - Google Patents

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Abstract

【課題】 分光部や光検出素子を収容するパッケージの小型化と共に、パッケージの光入射部に対する分光部や光検出素子の高精度な位置決めを実現し得る分光器を提供する。
【解決手段】 分光器1では、分光部4が設けられた球面35、及び光検出素子5が配置された底面31を有するレンズ部3が、底面31と略直交する側面32、並びに、底面31及び側面32と略直交する側面34を有している。そして、分光モジュール10を収容するパッケージ11が、側面32,34とそれぞれ面接触する側面16,18、及び球面35と接触する接触部22を有している。そのため、レンズ部3の球面35をパッケージ11の接触部22に接触させつつ、レンズ部3の側面32,34をそれぞれパッケージ11の側面16,18に面接触させることで、パッケージ11の光入射窓板25に対して分光部4及び光検出素子5が位置決めされる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、パッケージ内に分光部や光検出素子が収容されてなる分光器に関する。
分光器は、測定対象となる光をプリズムや回折格子等の分光部で分光して光検出素子で検出する装置である。従来の分光器として、特許文献1には、各種の光学素子が装着される光学ベンチと、光学ベンチを収容する容器と、を備えるものが開示されている。この分光器において、光学ベンチは、光学素子が取り付けられる素子取付部、及び容器に固定される容器固定部を有しており、素子取付部は、容器固定部に対して片持ちはりの構造で形成されている。
特開平8−145794号公報
ところで、近年、分光部や光検出素子を収容するパッケージが小型化された分光器の開発が進められている。その一方で、パッケージの光入射部に対して分光部や光検出素子が高精度に位置決めされた分光器が求められている。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、分光部や光検出素子を収容するパッケージの小型化と共に、パッケージの光入射部に対する分光部や光検出素子の高精度な位置決めを実現することができる分光器を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明に係る分光器は、光を透過させる本体部と、本体部の所定の面側から本体部に入射した光を分光すると共に所定の面側に反射する分光部と、所定の面に配置され、分光部によって分光された光を検出する光検出素子と、分光部に進行する光を内部に入射させる光入射部を有し、本体部、分光部及び光検出素子を収容するパッケージと、を備え、本体部は、所定の面と略直交する第1の平面、所定の面及び第1の平面と略直交する第2の平面、並びに、分光部が設けられ、所定の面、第1の平面及び第2の平面と交差する曲面を有し、パッケージは、第1の平面と面接触する第1の内壁面、第2の平面と面接触する第2の内壁面、及び曲面と接触する接触部を有することを特徴とする。
この分光器では、分光部が設けられた曲面、及び光検出素子が配置された所定の面を有する本体部が、所定の面と略直交する第1の平面、並びに、所定の面及び第1の平面と略直交する第2の平面を有している。そして、本体部、分光部及び光検出素子を収容するパッケージが、本体部の第1の平面と面接触する第1の内壁面、本体部の第2の平面と面接触する第2の内壁面、及び本体部の曲面と接触する接触部を有している。そのため、本体部の曲面をパッケージの接触部に接触させつつ、本体部の第1の平面をパッケージの第1の内壁面に面接触させ、本体部の第2の平面をパッケージの第2の内壁面に面接触させることで、パッケージの光入射部に対して分光部及び光検出素子が位置決めされる。従って、この分光器によれば、分光部や光検出素子を収容するパッケージの小型化と共に、パッケージの光入射部に対する分光部や光検出素子の高精度な位置決めを実現することができる。
本発明に係る分光器においては、第1の平面は、分光部のグレーティング溝の配列方向と略平行に形成されており、第2の平面は、グレーティング溝の配列方向と略垂直に形成されていることが好ましい。この構成によれば、パッケージの光入射部に対して分光部が位置決めされるだけでなく、パッケージの光入射部に対して分光部のグレーティング溝の配列方向が規定される。そのため、パッケージの光入射部を基準として、分光部の位置、及び分光部のグレーティング溝の配列方向を正確に知得することができる。
本発明に係る分光器においては、接触部は、第1の平面と略直交する方向において分光部の両側に位置するように形成されていることが好ましい。この構成によれば、分光部に損傷が生じるのを防止しつつ、パッケージに対して本体部を所定の位置及び所定の角度で確実に支持させることができる。
本発明に係る分光器においては、パッケージは、光吸収性材料からなることが好ましい。また、第1の平面及び第2の平面には、光吸収膜が形成されていることが好ましい。これらの構成によれば、本体部の第1の平面や第2の平面に0次光や不要な次数の光が入射し、反射や拡散することにより迷光が生じるのを抑制することができる。
本発明によれば、分光部や光検出素子を収容するパッケージの小型化と共に、パッケージの光入射部に対する分光部や光検出素子の高精度な位置決めを実現することができる。
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
図1は、本発明に係る分光器の一実施形態の分解斜視図であり、図2,3は、それぞれ図1のII−II線,III−III線に沿っての断面図である。図1〜3に示されるように、分光器1は、底面(所定の面)31側から入射した光L1を透過させるレンズ部(本体部)3と、レンズ部3に入射した光L1を分光すると共に底面31側に反射する分光部4と、分光部4によって分光された光L2を検出する光検出素子5と、レンズ部3、分光部4及び光検出素子5を収容するパッケージ11と、を備えている。なお、レンズ部3、分光部4及び光検出素子5は、ユニット化されて、分光モジュール10を構成している。
パッケージ11は、直方体状の箱体12及び長方形板状の蓋体13を有している。箱体12及び蓋体13は、光吸収性を有する樹脂やセラミック等の光吸収性材料からなる。蓋体13には、光入射孔13aが形成されており、光入射孔13aには、分光部4に進行する光L1をパッケージ11の内部に入射させる光入射窓板(光入射部)25が固定されている。箱体12には、蓋体13が嵌め合わされる断面長方形状の凹部23が形成されており、凹部23の底面には、分光モジュール10が配置される断面長方形状の凹部15が形成されている。
凹部15は、側面(第1の内壁面)16と側面17とが略平行となり且つ側面(第2の内壁面)18と側面19とが略平行となるように形成されている。つまり、側面16と側面18とは略直交することになる。なお、箱体12を射出成形等により一体成形すると、側面16〜19に抜き勾配が生じる場合があるが、抜き勾配程度であれば、側面16と側面18とが略直交する場合に含まれるものとする。
凹部15の底面21と側面16との交線上、及び底面21と側面17との交線上には、直方体状の接触部22が一体的に形成されている。また、凹部15の開口部には、各側面16,17に対して段差状に切欠き部23aが形成されている。各切欠き部23aには、箱体12に埋設された複数のリード24の基端部が露出しており、各リード24の先端部は、箱体12の外部に延在している。
ここで、分光モジュール10の構成について説明する。図4は、図1の分光モジュールの平面図であり、図5は、図4のV−V線に沿っての断面図である。図6は、図1の分光モジュールの下面図である。
図4〜6に示されるように、レンズ部3は、BK7、パイレックス(登録商標)、石英等の光透過性ガラス、プラスチック等によって、底面31と略直交し且つ互いに略平行な2平面、並びに、その2平面及び底面31と略直交する1平面で、半球状のレンズが切り落とされた形状(例えば曲率半径6〜10mm、底面31の全長5〜15mm、底面31の全幅6〜10mm、高さ5〜8mm)に形成されている。つまり、レンズ部3は、底面31と略直交し且つ互いに略平行な側面(第1の平面)32及び側面33、底面31及び側面32,33と略直交する側面(第2の平面)34、並びに、底面31及び側面32〜34と交差する球面(曲面)35を有している。
レンズ部3の球面35の頂部には、分光部4が設けられている。分光部4は、球面35に形成された回折層6、回折層6の外側表面に形成された反射層7、並びに、回折層6及び反射層7の外側表面を覆うパッシベーション層54を有する反射型グレーティングである。回折層6は、側面32,33と略平行な方向に沿って複数のグレーティング溝6aが並設されることによって形成されている。つまり、レンズ部3の側面32は、グレーティング溝6aの配列方向と略平行に形成され、レンズ部3の側面34は、グレーティング溝6aの配列方向と略垂直に形成されている。
回折層6は、例えば、鋸歯状断面のブレーズドグレーティング、矩形状断面のバイナリグレーティング、正弦波状断面のホログラフィックグレーティング等が適用され、光硬化性のエポキシ樹脂、アクリル樹脂、又は有機無機ハイブリッド樹脂等のレプリカ用光学樹脂を光硬化させることよって形成される。反射層7は、膜状であって、例えば、回折層6の外側表面にAlやAu等を蒸着することで形成される。パッシベーション層54は、膜状であって、例えば、回折層6及び反射層7の外側表面にMgFやSiO等を蒸着したり、樹脂を塗布したりすることで形成される。なお、反射層7を形成する面積を調整することで、分光モジュール10の光学NAを調整することができる。また、レンズ部3と分光部4を構成する回折層6とを、上記の材料により一体に形成することも可能である。
レンズ部3の底面31には、光L1,L2を透過させる光学樹脂剤63によって、中間基板81が接着されている。中間基板81は、BK7、パイレックス(登録商標)、石英等の光透過性ガラス、プラスチック等によって、長方形板状に形成されており、光L1,L2を透過させる。なお、レンズ部3の底面31には、光L1,L2が通過する光通過開口67aを有する光吸収層67が形成されている。光吸収層67の材料としては、ブラックレジスト、フィラー(カーボンや酸化物等)が入った有色の樹脂(シリコーン、エポキシ、アクリル、ウレタン、ポリイミド、複合樹脂等)、CrやCo等の金属又は酸化金属、或いはその積層膜、ポーラス状のセラミックや金属又は酸化金属が挙げられる。
中間基板81の前面には、光検出素子5が配置されている。光検出素子5は、長方形板状(例えば、全長5〜10mm、全幅1.5〜3mm、厚さ0.1〜0.8mm)に形成されており、光検出素子5の分光部4側の面には、光検出部5aが形成されている。光検出部5aは、CCDイメージセンサ、PDアレイ、或いはCMOSイメージセンサ等であり、複数のチャンネルが分光部4のグレーティング溝6aの延在方向と略直交する方向(すなわちグレーティング溝6aの並設方向)に配列されてなる。
また、光検出素子5には、チャンネルの配列方向において光検出部5aと並設され、分光部4に進行する光L1が通過する光通過孔50が形成されている。光通過孔50は、光検出部5aのチャンネルの配列方向と略直交する方向に延在するスリット(例えば、長さ0.5〜1mm、幅10〜100μm)であり、光検出部5aに対して高精度に位置決めされた状態でエッチング等によって形成されている。
更に、光検出素子5の分光部4側の面には、金属材料からなる電極58が複数設けられている。中間基板81の前面には、各電極58と対応するように、金属材料からなる配線82が設けられており、対応する電極58と配線82とは、バンプ14によって電気的に接続されている。なお、中間基板81と光検出素子5との間において光L1,L2の光路を除く領域には、中間基板81と光検出素子5との接続強度を向上させるべく、バンプ14を覆うように樹脂剤85が塗布されている。
以上のように構成された分光モジュール10は、図1〜3に示されるように、箱体12の凹部15内に配置される。このとき、レンズ部3の側面32は、凹部15の側面16と面接触し、レンズ部3の側面34は、凹部15の側面18と面接触する。更に、レンズ部3の球面35は、レンズ部3の側面32と略直交する方向において分光部4の両側に位置するように形成された接触部22と接触する。そして、この状態で、蓋体13が箱体12の凹部23に嵌め合わされて(このとき、蓋体13の光入射窓板25と光検出素子5の光通過孔50とが対向することになる)、分光モジュール10がパッケージ11内に収容される。
なお、箱体12の凹部15内に分光モジュール10が配置された状態で、中間基板81の各配線82は、切欠き部23aに露出したリード24の基端部とワイヤ62によって電気的に接続されている。これにより、光検出素子5の光検出部5aで発生した電気信号は、電極58、バンプ14、中間基板81の配線82、ワイヤ62及びリード24を介して外部に取り出される。
以上のように構成された分光器1においては、光L1は、パッケージ11の光入射窓板25、光検出素子5の光通過孔50、中間基板81、並びに光吸収層67の光通過開口67a及び光学樹脂剤63を介して、レンズ部3の底面31側からレンズ部3に入射し、レンズ部3内を進行して分光部4に到達する。分光部4に到達した光L1は、分光部4によって複数の光L2に分光される。分光された光L2は、分光部4によってレンズ部3の底面31側に反射され、レンズ部3内を進行して、光吸収層67の光通過開口67a及び光学樹脂剤63、並びに中間基板81を介して、光検出素子5の光検出部5aに到達する。光検出部5aに到達した光L2は、光検出素子5によって検出される。
上述した分光器1の製造方法について説明する。
まず、レンズ部3の底面31に光吸収層67を形成した後、フォトリソグラフィにより光吸収層67を取り除いた光通過開口67aを形成すると共に、レンズ部3の球面35に分光部4を形成する。その一方で、配線82が設けられた中間基板81、及び光通過孔50が形成された光検出素子5を準備し、光検出素子5の電極58を端子電極として、対応する中間基板81の配線82とバンプ14によって電気的に接続して、バンプ14を覆うように樹脂剤85を側方から塗布する。続いて、光検出素子5が実装された中間基板81を、光学樹脂剤63によってレンズ部3の底面31における光通過開口67aの部分に接着し、分光モジュール10を得る。
なお、分光部4の形成は、具体的には次のように行われる。すなわち、レンズ部3の球面35の頂部に滴下したレプリカ用光学樹脂に対し、回折層6に対応するグレーティングが刻まれた光透過性のマスターグレーティングを押し当てる。そして、この状態で光を照射することによりレプリカ用光学樹脂を硬化させ、好ましくは、安定化させるために加熱キュアを行うことで、複数のグレーティング溝6aを有する回折層6を形成する。その後、マスターグレーティングを離型して、回折層6の外側表面にAlやAu等を蒸着することで反射層7を形成し、更に、回折層6及び反射層7の外側表面にMgF等を蒸着することでパッシベーション層54を形成する。
分光モジュール10を得た後、分光モジュール10を箱体12の凹部15内に配置する。具体的には、図7に示されるように、レンズ部3の側面34側に対してその反対側が上がった状態となるように分光モジュール10を傾斜させて、レンズ部3の側面32と略直交する方向において分光部4の両側に凹部15の接触部22が位置するように、レンズ部3の球面35を接触部22に接触させる。そして、レンズ部3の球面35を接触部22に接触させつつ、接触部22をガイドとして分光モジュール10をスライドさせ、レンズ部3の側面32を凹部15の側面16に面接触させると共に、レンズ部3の側面34を凹部15の側面18に面接触させる。
続いて、対応する中間基板81の配線82とリード24の基端部とをワイヤ62によって電気的に接続する。最後に、蓋体13を箱体12の凹部23に嵌め合わせて気密に接合し、分光モジュール10がパッケージ11内に収容された分光器1を得る。
以上説明したように、分光器1においては、分光部4が設けられた球面35、及び光検出素子5が配置された底面31を有するレンズ部3が、底面31と略直交する側面32、並びに、底面31及び側面32と略直交する側面34を有している。そして、レンズ部3、分光部4及び光検出素子5がユニット化されて構成された分光モジュール10を収容するパッケージ11が、レンズ部3の側面32と面接触する側面16、レンズ部3の側面34と面接触する側面18、及びレンズ部3の球面35と接触する接触部22を有している。そのため、レンズ部3の球面35をパッケージ11の接触部22に接触させつつ、レンズ部3の側面32をパッケージ11の側面16に面接触させ、レンズ部3の側面34をパッケージ11の側面18に面接触させることで、パッケージ11の光入射窓板25に対して分光部4及び光検出素子5が位置決めされる(特に、レンズ部3の底面31の水平精度が確保される)。しかも、分光部4がパッケージ11に接触しないため、分光部4への損傷の発生が防止される。従って、分光器1によれば、分光部4や光検出素子5を収容するパッケージ11の小型化と共に、パッケージ11の光入射窓板25に対する分光部4や光検出素子5の高精度な位置決めを実現することができる。
また、レンズ部3の側面32は、分光部4のグレーティング溝6aの配列方向と略平行に形成されており、レンズ部3の側面34は、分光部4のグレーティング溝6aの配列方向と略垂直に形成されている。これにより、パッケージ11の光入射窓板25に対して分光部4が位置決めされるだけでなく、パッケージ11の光入射窓板25に対して分光部4のグレーティング溝6aの配列方向が規定される。そのため、パッケージ11の光入射窓板25を基準として、分光部4の位置、及び分光部4のグレーティング溝6aの配列方向を正確に知得することができる。
また、パッケージ11の接触部22は、レンズ部3の側面32と略直交する方向において分光部4の両側に位置するように形成されている。これにより、分光部4に損傷が生じるのを防止しつつ、パッケージ11に対してレンズ部3を所定の位置及び所定の角度で確実に支持させることができる。
更に、パッケージ11が光吸収性材料からなるため、レンズ部3の側面32〜34に0次光が入射することにより迷光が生じるのを抑制することができる。
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではない。
例えば、図8(a)に示されるように、接触部22は、凹部15の底面21と側面16との交線上、及び底面21と側面17との交線上において、凹部15の側面18から側面19に至らず、部分的に形成されていてもよい。また、図8(b)に示されるように、接触部22は、分光部4に対応するように切り欠かれていてもよい。更に、図8(c)に示されるように、接触部22は、凹部15の底面21に柱状に形成されていてもよい。
また、図9(a),(b)に示されるように、接触部22は、凹部15の底面21と側面16との交線上や、底面21と側面17との交線上に限らず、凹部15の底面21や側面16,17に形成されていてもよい。更に、接触部22は、箱体12と別体として形成され、接着等によって箱体12に固定されたものであってもよい。なお、レンズ部3において接触部22が接触する面は、球面以外の曲面であってもよい。
また、分光部に進行する光をパッケージ内に入射させる光入射部は、パッケージの側壁に形成されていてもよい。このような分光器によれば、例えば、分光部に進行する光を導光する光ファイバを、分光器が実装される基板に沿わせることができるので、光ファイバの取回し、延いては基板に対する分光器の実装の容易化、並びに実装スペースの縮小化を図ることが可能となる。
ここで、光入射部がパッケージの側壁に形成された分光器の一例について説明する。図10は、本発明に係る分光器の他の実施形態の斜視図であり、図11は、図10のXI−XI線に沿っての断面図である。図10,11に示されるように、パッケージ11の側壁に形成された貫通孔11aには、分光部4に進行する光L1を導光する光ファイバ(光入射部)26がスリーブ27を介して挿通され、気密に固定されている。光ファイバ26は、光検出素子5上に延在しており、その延在部26aは、光検出素子5とカバー体28とで挟持されている。
図12は、図10の光検出素子及びカバー体の斜視図である。図12に示されるように、光検出素子5には、光ファイバ26の延在部26aが配置されるV溝5bがエッチング等によって形成されており、カバー体28には、光ファイバ26の延在部26aが配置されるV溝28bがエッチング等によって形成されている。カバー体28には、V溝28bに配置された光ファイバ26の光出射端26bから出射された光L1を、光検出素子5の光通過孔50に向けて反射する光反射面28aがAlやAu等の蒸着によって形成されている。光検出素子5とカバー体28とは、光ファイバ26の延在部26aがV溝5b,28bに配置され、且つ光ファイバ26の光出射端26bが光反射面28aに対向した状態で、接着等によって互いに固定されている。
図13は、本発明に係る分光器の他の実施形態の光入射部周辺の拡大縦断面図である。図13(a)に示されるように、パッケージ11の貫通孔11aにレンズ(光入射部)29を気密に固定し、光検出素子5とカバー体28とで挟持された光ファイバ26に光L1をレンズカップリングさせてもよい。また、図13(b)に示されるように、パッケージ11の貫通孔11aに光入射窓板25を気密に固定し、光検出素子5とカバー体28とで挟持された光ファイバ26に光L1を入射させてもよい。このように、光入射部としてレンズ29や光入射窓板25を用いれば、分光器1を含む光学系の設計の自由度を大きくすることが可能となる。更に、パッケージ11に対するハーメチックシールが容易であるため、信頼性の高いパッケージングが可能となる。
また、レンズ部3の側面32〜34に光吸収膜を形成すれば、パッケージ11が光吸収性材料からなる場合と同様に、側面32〜34に0次光や不要な次数の光が入射し、反射や拡散することにより迷光が生じるのを抑制することができる。これは、例えばパッケージ11が金属材料からなる場合等に有効である。
また、光通過孔50を光検出素子5に形成せずに、例えば光吸収層67に形成してもよい。更に、レンズ部3の底面31に対する光検出素子5の配置等は、何らかの部材等を介して間接的に行われてもよいし、或いは直接的に行われてもよい。また、パッケージ11のリード24を光入射窓板25側に折り曲げた構成としてもよい。この場合、分光器1の実装面側が光入射側の場合(例えば、実装基板に孔が開いており、そこから光を導入する場合等)においても適用することができる。
本発明に係る分光器の一実施形態の分解斜視図である。 図1のII−II線に沿っての断面図である。 図1のIII−III線に沿っての断面図である。 図1の分光モジュールの平面図である。 図4のV−V線に沿っての断面図である。 図1の分光モジュールの下面図である。 図1の分光器における分光モジュールの箱体への配置を説明するための図である。 本発明に係る分光器の他の実施形態の箱体の平面図である。 本発明に係る分光器の他の実施形態の箱体の縦断面図である。 本発明に係る分光器の他の実施形態の斜視図である。 図10のXI−XI線に沿っての断面図である。 図10の光検出素子及びカバー体の斜視図である。 本発明に係る分光器の他の実施形態の光入射部周辺の拡大縦断面図である。
符号の説明
1…分光器、3…レンズ部(本体部)、4…分光部、5…光検出素子、11…パッケージ、16…側面(第1の内壁面)、18…側面(第2の内壁面)、22…接触部、25…光入射窓板(光入射部)、26…光ファイバ(光入射部)、29…レンズ(光入射部)、31…底面(所定の面)、32…側面(第1の平面)、34…側面(第2の平面)、35…球面(曲面)。

Claims (5)

  1. 光を透過させる本体部と、
    前記本体部の所定の面側から前記本体部に入射した光を分光すると共に前記所定の面側に反射する分光部と、
    前記所定の面に配置され、前記分光部によって分光された光を検出する光検出素子と、
    前記分光部に進行する光を内部に入射させる光入射部を有し、前記本体部、前記分光部及び前記光検出素子を収容するパッケージと、を備え、
    前記本体部は、前記所定の面と略直交する第1の平面、前記所定の面及び前記第1の平面と略直交する第2の平面、並びに、前記分光部が設けられ、前記所定の面、前記第1の平面及び前記第2の平面と交差する曲面を有し、
    前記パッケージは、前記第1の平面と面接触する第1の内壁面、前記第2の平面と面接触する第2の内壁面、及び前記曲面と接触する接触部を有することを特徴とする分光器。
  2. 前記第1の平面は、前記分光部のグレーティング溝の配列方向と略平行に形成されており、前記第2の平面は、前記グレーティング溝の配列方向と略垂直に形成されていることを特徴とする請求項1記載の分光器。
  3. 前記接触部は、前記第1の平面と略直交する方向において前記分光部の両側に位置するように形成されていることを特徴とする請求項1又は2記載の分光器。
  4. 前記パッケージは、光吸収性材料からなることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項記載の分光器。
  5. 前記第1の平面及び前記第2の平面には、光吸収膜が形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の分光器。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5415060B2 (ja) 2008-05-15 2014-02-12 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP5205242B2 (ja) * 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光器の製造方法
JP5205241B2 (ja) * 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP5205239B2 (ja) * 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光器
JP2009300417A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
JP2009300418A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP5205240B2 (ja) * 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
JP5205238B2 (ja) * 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP2009300422A (ja) * 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP5207938B2 (ja) 2008-05-15 2013-06-12 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及び分光モジュールの製造方法
JP5512961B2 (ja) * 2008-05-15 2014-06-04 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及びその製造方法
US8390806B1 (en) * 2009-05-21 2013-03-05 Lockheed Martin Corporation MEMS spectrometer and sensing systems therefrom
JP6061542B2 (ja) 2012-08-06 2017-01-18 浜松ホトニクス株式会社 分光器
JP2015106106A (ja) 2013-12-02 2015-06-08 セイコーエプソン株式会社 電子デバイスおよび電子機器
JP6325268B2 (ja) 2014-02-05 2018-05-16 浜松ホトニクス株式会社 分光器、及び分光器の製造方法
JP6251073B2 (ja) * 2014-02-05 2017-12-20 浜松ホトニクス株式会社 分光器、及び分光器の製造方法
DE102016225344A1 (de) * 2016-12-16 2018-06-21 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. System zur Analyse von elektromagnetischer Strahlung und Bauelement zur Herstellung desselben
EP3372966B1 (en) * 2017-03-10 2021-09-01 Hitachi High-Tech Analytical Science Limited A portable analyzer using optical emission spectoscopy
DE102018221522A1 (de) * 2018-12-12 2020-06-18 Robert Bosch Gmbh Spektrometervorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Spektrometervorrichtung

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000065642A (ja) * 1998-03-11 2000-03-03 Gretag Macbeth Ag スペクトロメ―タ
JP2003202463A (ja) * 2002-01-09 2003-07-18 Fujitsu Ltd 波長多重双方向光伝送モジュール
JP2004309146A (ja) * 2003-04-02 2004-11-04 Olympus Corp 分光光度計
JP2004537750A (ja) * 2001-08-02 2004-12-16 アイギス セミコンダクター インコーポレイテッド 同調可能な光学機器
JP2004354176A (ja) * 2003-05-28 2004-12-16 Hamamatsu Photonics Kk 光検出器及びそれを用いた分光器
JP2005308495A (ja) * 2004-04-20 2005-11-04 Hamamatsu Photonics Kk 分光器及びそれを用いた測定装置
WO2008149939A1 (ja) * 2007-06-08 2008-12-11 Hamamatsu Photonics K.K. 分光器

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3509131A1 (de) 1985-03-14 1986-09-18 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Verfahren zur justierten montage der optischen bauteile eines optischen geraetes
JP2592081B2 (ja) 1987-12-28 1997-03-19 スズキ株式会社 自動二輪車等のマフラ
DE4038638A1 (de) 1990-12-04 1992-06-11 Zeiss Carl Fa Diodenzeilen-spektrometer
JPH04287001A (ja) 1991-03-15 1992-10-12 Sekinosu Kk 光回折格子の製造方法
JPH06167637A (ja) 1992-11-30 1994-06-14 Hitachi Ltd 多芯光コネクタ
JPH08145794A (ja) 1994-11-17 1996-06-07 Shimadzu Corp 分光器
US5995221A (en) 1997-02-28 1999-11-30 Instruments S.A., Inc. Modified concentric spectrograph
US6303934B1 (en) * 1997-04-10 2001-10-16 James T. Daly Monolithic infrared spectrometer apparatus and methods
DE19717015A1 (de) 1997-04-23 1998-10-29 Inst Mikrotechnik Mainz Gmbh Miniaturisiertes optisches Bauelement sowie Verfahren zu seiner Herstellung
EP1041372B1 (de) 1999-04-01 2006-03-01 Gretag-Macbeth AG Spektrometer
US6538736B1 (en) 1999-12-01 2003-03-25 Hach Company Concentric spectrometer with mitigation of internal specular reflections
AU2001276875A1 (en) * 2000-07-11 2002-01-21 Ibsen Photonics Monitoring apparatus for optical transmission systems
EP1305582A1 (en) 2000-07-28 2003-05-02 Otsuka Electronics Co., Ltd. Light spectrum detecting apparatus
US6657723B2 (en) * 2000-12-13 2003-12-02 International Business Machines Corporation Multimode planar spectrographs for wavelength demultiplexing and methods of fabrication
JP2003139611A (ja) 2001-11-06 2003-05-14 Olympus Optical Co Ltd 分光光度計
JP3818441B2 (ja) 2002-02-20 2006-09-06 日本電信電話株式会社 基板実装構造及び半導体装置
FR2847978B1 (fr) * 2002-12-02 2005-12-02 Technologie Optique Et Etudes Spectrometre compact a composant optique monolithique
JP2004191246A (ja) 2002-12-12 2004-07-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 凹凸検出センサ
WO2006010367A2 (en) * 2004-07-26 2006-02-02 Danmarks Tekniske Universitet On-chip spectroscopy
US7330258B2 (en) * 2005-05-27 2008-02-12 Innovative Technical Solutions, Inc. Spectrometer designs
JP4811032B2 (ja) 2006-01-30 2011-11-09 株式会社島津製作所 反射型レプリカ光学素子
US7697137B2 (en) 2006-04-28 2010-04-13 Corning Incorporated Monolithic Offner spectrometer
EP1882916A1 (en) * 2006-07-20 2008-01-30 Interuniversitair Microelektronica Centrum Compact catadioptric spectrometer
JP5182093B2 (ja) 2006-09-06 2013-04-10 株式会社ニコン 光学装置、露光装置、並びにデバイス製造方法
JP4891841B2 (ja) 2007-06-08 2012-03-07 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
WO2008149940A1 (ja) 2007-06-08 2008-12-11 Hamamatsu Photonics K.K. 分光モジュール
JP2009300418A (ja) 2008-05-15 2009-12-24 Hamamatsu Photonics Kk 分光モジュール
JP5205240B2 (ja) 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール
JP5205238B2 (ja) 2008-05-15 2013-06-05 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP5512961B2 (ja) 2008-05-15 2014-06-04 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及びその製造方法
JP5415060B2 (ja) 2008-05-15 2014-02-12 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール
JP5207938B2 (ja) 2008-05-15 2013-06-12 浜松ホトニクス株式会社 分光モジュール及び分光モジュールの製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000065642A (ja) * 1998-03-11 2000-03-03 Gretag Macbeth Ag スペクトロメ―タ
JP2004537750A (ja) * 2001-08-02 2004-12-16 アイギス セミコンダクター インコーポレイテッド 同調可能な光学機器
JP2003202463A (ja) * 2002-01-09 2003-07-18 Fujitsu Ltd 波長多重双方向光伝送モジュール
JP2004309146A (ja) * 2003-04-02 2004-11-04 Olympus Corp 分光光度計
JP2004354176A (ja) * 2003-05-28 2004-12-16 Hamamatsu Photonics Kk 光検出器及びそれを用いた分光器
JP2005308495A (ja) * 2004-04-20 2005-11-04 Hamamatsu Photonics Kk 分光器及びそれを用いた測定装置
WO2008149939A1 (ja) * 2007-06-08 2008-12-11 Hamamatsu Photonics K.K. 分光器

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
H.W. TEICHMANN, ET.AL.: ""Replizierter mikro-optischer Sensor fuer die industrielle Spektralsensorik"", TM-TECHNISCHES MESSEN, vol. 68, no. 5, JPN6009025094, May 2001 (2001-05-01), pages 200 - 203, XP008147667, ISSN: 0002434375, DOI: 10.1524/teme.2001.68.5.200 *

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