JP2000030360A

JP2000030360A - 記憶装置及び記録媒体

Info

Publication number: JP2000030360A
Application number: JP10196012A
Authority: JP
Inventors: Toshiyuki Oi; 俊之大井; Masaki Otsuka; 正起大塚
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1998-07-10
Filing date: 1998-07-10
Publication date: 2000-01-28
Anticipated expiration: 2018-07-10
Also published as: US6563776B1; JP3763974B2

Abstract

(57)【要約】【課題】不良セクタ発生した場合に情報を交代エリア
に移動させる記憶装置に関し、迅速に記憶情報を記憶で
きる記憶装置を提供することを目的とする。【解決手段】ゾーンＺN 内のセクタに情報をライト中
にエラーＥn が発生すると（ステップＳ２−１）、欠陥
管理部１４２に格納された情報に基づいてゾーンＺN へ
の交代処理条件を満たすか否かを判定し（ステップＳ２
−２）、交代処理条件を満たすとき、ゾーンＺN に設け
られた交代エリアＡn に情報を書き込み（ステップＳ２
−３）、交代処理条件を満たさない場合には、ゾーンＺ
(N+1) の交代エリアＡn+1 に情報を書き込む（ステップ
Ｓ２−４）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は記憶装置に係り、特
に、不良セクタ発生した場合に情報を交代エリアに移動
させる記憶装置に関する。光磁気記録媒体や相変化記録
媒体を用いたディスクドライブでは、記録媒体の回転を
角速度一定で回転させて記録再生を行う、いわゆる、Ｃ
ＡＶ方式が適用されている。

【０００２】しかし、近年、高密度化のため記録媒体を
半径方向に複数のゾーンに分割し、内周側のゾーンと外
周側のゾーンとで角速度を異ならせた、いわゆる、ＺＣ
ＶＡ方式が採用されている。ＣＡＶ方式は物理トラック
のセクタ数を全半径位置に対して固定するため、内周側
から外周側に向かうにつれて円周方向の密度が低くな
る。これに対し、ＺＣＡＶ方式は半径方向でゾーンを分
割するため、円周方向の密度を内外周で、ある程度一定
にすることが可能であり、高密度化が可能となる。ＺＣ
ＶＡ方式によって、高密度化することによって情報の欠
陥に対して効率よく対処する必要がでてきた。

【０００３】

【従来の技術】情報の欠陥に対する対処方法として、Ｍ
Ｏドライブなどでは、交代処理が用いられている。図１
は従来の一例の交代処理の処理フローチャート、図２は
従来の一例の交代処理の動作説明図を示す。

【０００４】所定のゾーンＺN 内のセクタに情報をライ
ト中にエラーが発生すると（ステップＳ１−１）、ま
ず、情報をライトしようとするゾーンＺN に設定された
交代エリアＡN に空きがあるか否かを判断する（ステッ
プＳ１−２）。ステップＳ１−２で、情報をライトしよ
うとするゾーンＺN に設定された交代エリアＡN に空き
があれば、ゾーンＺN に設定された交代エリアＡN に情
報をライトする、いわゆる、交代処理を行う（ステップ
Ｓ１−３）。

【０００５】一方、ＺＣＡＶ方式では、外周側では円周
方向の密度が高くなり、記録時のレーザパワーや磁界に
対するマージンが狭くなっているため、装置のばらつき
による固有的なマージン不足によって外周側でエラーが
発生し、交代処理が発生した場合、当該ゾーンにていく
ら交代処理を行っても正しく処理が行えない場合があ
る。

【０００６】しかし、現在、不良セクタは交代処理が必
要となるエラーが発生したセクタの存在する当該ゾーン
内の交代エリアでアサインし、当該ゾーンの交代エリア
が交代処理によって全て使用されており、使用不可の場
合は近接ゾーン内の交代エリアから使用していく処理方
法が一般的である。また、特開平９−８２０３６号、特
開平４−３３６７号に示されるように、所定ゾーンに設
けられた交代エリアが全て登録済になると、他のゾーン
の交代エリアに登録するようにしていた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来のこの
種の記憶装置では、当該ゾーンにエラーが発生した場合
には当該ゾーンの交代エリアに情報を交代し、当該ゾー
ンの交代エリアが全て使い果たされると、他のゾーンの
交代エリアに情報を交代していた。このため、元々不良
セクタの発生する可能性の高いゾーン内の交代エリアに
交代処理を行うため、再び交代処理が行われる可能性が
高いので、当該ゾーンの交代エリアを使い切ってしまう
ことがある。当該ゾーンの交代エリアを使い切ってしま
うと、近傍のゾーン内の交代エリアへ交代処理を行い、
交代処理が終了する。

【０００８】したがって、このような場合、交代エリア
でもエラーが発生する確率が高いので交代エリアで交代
が起こり、交代処理に時間がかかり、ＯＳに設定された
アクセス時のタイムアウト時間により処理が停止してし
まう等の問題点があった。また、交代処理回数が多くな
り、媒体上の不良セクタが急増するなどの問題点があっ
た。

【０００９】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、迅速に記憶情報を記憶できる記憶装置を提供するこ
とを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１は、複
数のゾーンに分割された記録媒体の各ゾーンに交代エリ
アを設ける。所定のゾーンに情報を記憶する際に、所定
のゾーンの不良セクタを検出し、検出された不良セクタ
が所定数となると所定のゾーンに記憶すべき情報を他の
ゾーンの交代エリアに記憶する。

【００１１】請求項１によれば、不良セクタが所定数、
発生すると、不良セクタが発生しやすいゾーンであると
判断して、他のゾーンの交代エリアに情報を記憶するの
で、不良の発生しやすい、ゾーンの交代エリアで交代処
理が繰り返されるのを防止して、無駄な交代処理を行う
ことなく、短い時間で、確実に情報を記憶できる。請求
項２は、請求項１において、所定のゾーンの交代エリア
の不良セクタを検出し、検出された不良セクタが所定数
のときに、所定のゾーンに記憶すべき情報を他のゾーン
の交代エリアに記憶する。

【００１２】請求項２によれば、情報を交代すべき先の
交代エリアに所定数の不良セクタが発生したときに、不
良が発生しやすいゾーンであると判断して、他のゾーン
の交代エリアに情報を記憶するので、不良の発生しやす
い、ゾーンの交代エリアで交代処理が繰り返されるのを
防止して、無駄な交代処理を行うことなく、短い時間
で、確実に情報を記憶できる。

【００１３】請求項３は、記録媒体の初期化時に所定の
ゾーンに所定数の不良セクタを検出したときに、所定の
ゾーンに記憶すべき情報を他のゾーンの交代エリアに記
憶する。請求項３によれば、記録媒体の初期化時に所定
のゾーンに所定数の不良セクタを検出したときに、所定
のゾーンに記憶すべき情報を他のゾーンの交代エリアに
記憶することにより、他のゾーンの交代エリアに情報を
記憶するので、不良の発生しやすい、ゾーンの交代エリ
アで交代処理が繰り返されるのを防止して、無駄な交代
処理を行うことなく、短い時間で、確実に情報を記憶で
きる。

【００１４】請求項４は、トラック当たりの不良セクタ
を検出したときに、所定のゾーンに記憶すべき情報を他
のゾーンの交代エリアに記憶する。請求項４によれば、
トラック当たりの不良セクタを検出したときに、所定の
ゾーンに記憶すべき情報を他のゾーンの交代エリアに記
憶することにより、不良の発生しやすい、ゾーンの交代
エリアで交代処理が繰り返されるのを防止して、無駄な
交代処理を行うことなく、短い時間で、確実に情報を記
憶できる。

【００１５】請求項５は、記録媒体への１回のアクセス
において所定数の不良セクタが検出されたときに、アク
セスすべき所定のゾーンに記憶すべき情報を他のゾーン
の交代エリアに記憶する。請求項５によれば、記録媒体
への１回のアクセスにおいて所定数の不良セクタが検出
されたときに、アクセスすべき所定のゾーンに記憶すべ
き情報を他のゾーンの交代エリアに記憶することによ
り、不良の発生しやすい、ゾーンの交代エリアで交代処
理が繰り返されるのを防止して、無駄な交代処理を行う
ことなく、短い時間で、確実に情報を記憶できる。

【００１６】請求項６は、記録媒体の交代エリアにおけ
る不良セクタを検出し、交代エリアの不良セクタが所定
数のときに、アクセスすべき所定のゾーンに記憶すべき
情報を他のゾーンの交代エリアに記憶する。請求項６に
よれば、交代エリアの不良セクタが所定数のときにアク
セスすべき所定のゾーンに記憶すべき情報を他のゾーン
の交代エリアに交代することにより、不良の発生しやす
い、ゾーンの交代エリアで交代処理が繰り返されるのを
防止して、無駄な交代処理を行うことなく、短い時間
で、確実に情報を記憶できる。

【００１７】請求項７は、請求項１乃至６において、媒
体の種類に応じて所定数を設定する。請求項７によれ
ば、記録媒体の種類に応じて不良の発生しやすさを判断
して、不良の発生しやすさに応じて交代エリアを他のゾ
ーンに切り換える所定数を設定することにより、記録媒
体の種類毎に最適な交代制御を行える。

【００１８】請求項８は、温度に応じて所定数を設定す
る。請求項８によれば、温度に応じて不良の発生しやす
さを判断して、不良の発生しやすさに応じて交代エリア
を他のゾーンに切り換える所定数を設定することによ
り、温度に応じて最適な交代制御を行える。請求項９
は、情報記憶制御手段で所定のゾーンに記憶すべき情報
を他のゾーンの交代エリアに記憶する所定数を外部から
指示により設定可能とする。

【００１９】請求項９によれば、他のゾーンに交代を行
うまでの数を設定する回数を外部から設定可能とするこ
とにより、使用状況に応じて所定回数の設定が行え、最
適な交代制御を行える。

【００２０】

【発明の実施の形態】図３は本発明の第１実施例のブロ
ック構成図を示す。本実施例の光磁気ディスク装置１０
０は、主にコントロールユニット１１０及びエンクロー
ジャ１１１から構成される。コントロールユニット１１
０は、エンクロージャ１１１の各部に接続され、記録再
生のための各種信号処理を行う。エンクロージャ１１１
は、記録媒体が挿入され、記録媒体への情報の記憶を行
う。

【００２１】コントロールユニット１１０は、ＭＰＵ１
１２、光ディスクコントローラ１１３、ＤＳＰ１１４、
上位インタフェース１１５、バッファメモリ１１６、ラ
イトＬＳＩ回路１１７、リードＬＳＩ回路１１８、ドラ
イバ１１９〜１２３、フォーカスエラー信号検出回路１
２４、トラッキングエラー信号検出回路１２５、トラッ
クゼロクロス検出回路１２６から構成される。また、エ
ンクロージャ１１１は、レーザダイオードユニット１２
７、ＩＤ／ＭＯ用ディテクタ１２８、ヘッドアンプ１２
９、温度センサ１３０、スピンドルモータ１３１、磁場
印加部１３２、フォーカスサーボ用ディテクタ１３３、
トラッキングサーボ用ディテクタ１３４、レンズ位置セ
ンサ１３５、フォーカスアクチュエータ１３６、レンズ
アクチュエータ１３７、ＶＣＭ１３８から構成される。

【００２２】ＭＰＵ１１２は、プログラム領域１１２ａ
を有し、プログラム領域１１２ａに記憶されたプログラ
ムにより光ディスクドライブ全体の制御を行う。光ディ
スクコントローラ１１３は、フォーマッタ１１３ａ及び
エラーチェックコード処理部１１３ｂを有する。フォー
マッタ１１３ａは、ライトアクセス時にＮＲＺライトデ
ータを媒体のセクタ単位に分割して記録フォーマットを
生成する。ＥＣＣ処理部１１３ｂは、セクタライトデー
タ単位にＥＣＣコードを生成して、付加し、さらに必要
ならばＣＲＣコードを生成して付加する。光ディスクコ
ントローラ１１４は、ＥＣＣエンコードの済んだセクタ
データを例えば１−７ＲＬＬ符号に変換し、ライトＬＳ
Ｉ回路１１７に供給する。

【００２３】光ディスクコントローラ１１３は、リード
アクセス時には、リードＬＳＩ回路１１８で復調された
セクタリードデータを１−７ＲＬＬ符号から逆変換す
る。ＥＣＣ処理ユニット１１３ｂは、セクタリードデー
タをＣＲＣチェックした後にエラー検出訂正する。フォ
ーマッタ１１３ａは、セクタ単位のＮＲＺデータを連結
してＮＲＺリードデータのストリームとして、バッファ
メモリ１１６に記憶する。

【００２４】ＤＳＰ１１４は、ＭＰＵ１１２、光ディス
クコントローラ１１３、上位インタフェース１１５とド
ライバ、検出手段との間に接続され、各種信号処理を行
う。上位インタフェース１１５は、上位装置との間でデ
ータのやり取りを行う。バッファメモリ１１６は、ライ
トデータ、リードデータを一時記憶する。ライトＬＳＩ
回路１１７は、ライト変調部１１７ａ及びＬＤ制御回路
１１７ｂを有する。ライト変調部１１７ａは、光ディス
クコントローラ１１３から供給されるライトデータをＰ
ＰＭ記録又はＰＷＭ記録のデータ形式に変換する。

【００２５】リードＬＳＩ回路１１８は、リード復調部
１１８ａ及び周波数シンセサイザ１１８ｂを有する。リ
ード復調部１１８ａは、ライトデータをＰＰＭ記録又は
ＰＷＭ記録のデータ形式に変換する。周波数シンセサイ
ザ１１８ｂは、ＭＰＵ１１２からの指示に応じてライト
データのゾーンに対応した周波数のクロックを発生し、
リード復調部１１８ａに供給する。リード復調部１１８
ａは、周波数シンセサイザ１１８ｂから供給されるクロ
ックに応じて復調を行う。

【００２６】ドライバ１１９は、ＤＳＰ１１４からの駆
動データに応じて記録媒体を回転させるための駆動信号
を生成し、エンクロージャ１１１に設けられたスピンド
ルモータ１３１に供給する。ドライバ１２０は、ＤＳＰ
１１４からの磁場印加データに応じて駆動信号を生成
し、磁場印加部１３２に供給する。ドライバ１２１は、
ＤＳＰ１１４から供給されるフォーカス駆動データに応
じてフォーカス駆動用信号を生成し、エンクロージャ１
１１に設けられたフォーカスアクチュエータ１３６に供
給する。ドライバ１２２は、ＤＳＰ１１４から供給され
るレンズ駆動データに応じてレンズ駆動用信号を生成
し、エンクロージャ１１１に設けられたレンズアクチュ
エータ１３７に供給する。ドライバ１２３は、ＤＳＰ１
１４から供給されるＶＣＭ駆動データに応じてＶＣＭ駆
動用信号を生成し、エンクロージャ１１１に設けられた
ＶＣＭ１３８に供給する。

【００２７】ＦＥＳ検出回路１２４は、エンクロージャ
１１１のＦＥＳ検出用ディテクタ１３２に接続され、Ｆ
ＥＳ検出用ディテクタ１３３で検出されたフォーカスエ
ラー検出信号をＤＳＰ１１４に供給する。ＴＥＳ検出回
路１２５は、エンクロージャ１１１のＴＥＳ検出用ディ
テクタ１３４に接続され、ＴＥＳ検出用ディテクタ１３
４で検出されたトラッキングエラー検出信号をＤＳＰ１
１４及びＴＺＣ検出回路１２６に供給する。ＴＺＣ検出
回路１２６は、ＴＥＳ検出回路１２５の検出信号に応じ
てゼロクロス信号を検出し、ＤＳＰ１１４に供給する。

【００２８】エンクロージャ１１１は、レーザダイオー
ドユニット１２７、ＩＤ／ＭＯ用ディテクタ１２８、ヘ
ッドアンプ１２９、温度センサ１３０、スピンドルモー
タ１３１、磁場印加部１３２、ＦＥＳ用ディテクタ１３
３、ＴＥＳ用ディテクタ１３４、レンズ位置センサ１３
５、フォーカスアクチュエータ１３６、レンズアクチュ
エータ１３７、ＶＣＭ１３８から構成される。

【００２９】レーザダイオードユニット１２７は、レー
ザダイオード１２７ａ及びモニタＰＤ（フォトディテク
タ）１２７ｂを有する。レーザダイオード１２７ａは、
ライトＬＳＩ回路１１７から供給される書込信号に応じ
たレーザ光を記録媒体に照射する。モニタＰＤ１２７ｂ
は、レーザダイオード１２７ａから出力されたレーザ光
の強度を検出し、ライトＬＳＩ回路１１７に供給する。
ライトＬＳＩ回路１１７は、モニタＰＤ１２７ｂで検出
されたレーザ光量に応じて書込信号を制御する。

【００３０】ＩＤ／ＭＯ用ディテクタ１２８は、レーザ
ダイオード１２７ａから出射されたレーザ光の記録媒体
からの反射光を検出する。ＩＤ／ＭＯ用ディテクタ１２
８で検出された検出信号は、ヘッドアンプ１２９に供給
される。ヘッドアンプ１２９は、ＩＤ／ＭＯ用ディテク
タ１２８で検出されたＭＯ／ＩＤ検出信号を増幅して、
リードＬＳＩ回路１１８に供給する。

【００３１】温度センサ１３０は、記録媒体の周囲温度
を検出し、ＤＳＰ１１４に供給する。スピンドルモータ
１３１は、記録媒体の中心孔に係合し、記録媒体を回転
する。磁場印加部１３２は、記録媒体に記録用のバイア
ス磁界を印加する。ＦＥＳ用ディテクタ１３３は、レー
ザダイオード１２７ａから記録媒体に照射されたレーザ
光の反射光からレーザ光のフォーカスエラー信号を検出
し、コントロールユニット１１０に設けられたＦＥＳ検
出回路１２４に供給する。ＴＥＳ用ディテクタ１３４
は、レーザダイオード１２７ａから記録媒体に照射され
たレーザ光の反射光からレーザ光のトラッキングエラー
信号を検出し、コントロールユニット１１０に設けられ
たＴＥＳ検出回路１２５に供給する。

【００３２】レンズ位置センサ１３５は、レーザ光を記
録媒体に出射するときにレーザ光を集光するレンズの位
置に応じたレンズ位置信号を検出し、ＤＳＰ１１４に供
給する。フォーカスアクチュエータ１３６は、ドライバ
１２１からのフォーカス駆動信号に応じてレンズ位置を
レーザ光が記録媒体上で合焦するように制御する。レン
ズアクチュエータ１３７は、ドライバ１２２からトラッ
キング制御信号が供給され、供給されたトラッキング制
御信号に応じてレンズ位置をレーザ光が記録媒体上の所
望のトラックを走査するように制御する。

【００３３】ＶＣＭ１３８は、レーザ光の記録媒体への
照射位置及び磁場の印加位置を記録媒体の半径方向に移
動する。図４は本発明の第１実施例の機能ブロック図を
示す。光ディスクドライブ１００と上位装置２００とは
ＳＣＳＩインタフェース３００を介して接続されてい
る。

【００３４】光ディスクドライブ１００は、大まかにコ
マンド処理部１３９、交代処理部１４０、媒体アクセス
部１４１、ディスク管理部１４２から構成される。上記
機能は、例えば、ＭＰＵ１１２のプログラム領域１１２
ａに格納されたプログラムにより処理を行う。コマンド
処理部１３９は、図３のハード構成の上位インタフェー
ス１１５及び光ディスクコントローラ１１３で実現され
る。また、交代処理部１４０は、光ディスクコントロー
ラ１１３及び他の回路で実現される。媒体アクセス部１
４１は、コントロールユニット１１０の各回路及びエン
クロージャ１１１により実現される。

【００３５】ディスク管理部１４２は、ＭＰＵ１１２及
びＭＰＵ１１２を動作させるプログラム１１２ａにより
実現される。コマンド処理部１３９は、ＳＣＳＩインタ
フェース３００を介して上位装置２００からコマンドを
受信する。コマンド処理部１３９は、受信したコマンド
に応じて媒体アクセス部１４１を制御する。媒体アクセ
ス部１４１は、コマンド処理部１３９により光ディスク
ドライブ１００に挿入された光ディスクカートリッジ４
００に内蔵された光ディスク４０１へのアクセス処理を
行う。

【００３６】交代処理部１４０は、コマンド処理部１３
９からコマンドが供給され、コマンドが実行されたとき
に、欠陥セクタを検出した場合、ディスク管理部１４２
で管理された欠陥管理情報に基づいて欠陥セクタの交代
処理を行う。ディスク管理部１４２は、光ディスク４０
１に記録された管理情報から作成される。

【００３７】ここで、光ディスク４０１のデータ構造に
ついて説明する。図５は本発明の第１実施例の光ディス
クのデータ構成図を示す。図５において、ディスクレイ
アウトは、光ディスク４０１の論理トラック番号で示さ
れる。１論理トラックは１７セクタで構成される。ま
た、１セクタは２０４８バイトで構成される。

【００３８】光ディスク４０１は、ゾーンＣＡＶ方式で
記録再生される。ディスクレイアウトは、アウタ側から
リードインゾーン４０２、欠陥管理領域４０３、ユーザ
ゾーン４０４、欠陥管理領域４０５、テストトラックを
含むバッファゾーン４０６、バッファゾーン４０７、イ
ンナコントロールゾーン４０８、及び、バッファゾーン
４０９で構成される。

【００３９】このうち、アウタ側の欠陥管理領域４０３
からインナ側のバッファゾーン４０６までがデータゾー
ンであり、それ以外がシステムゾーンとなる。ユーザゾ
ーン４０４に対するアウタ側の欠陥領域４０３には第１
欠陥管理領域（ＤＭＡ１）４１１と第２欠陥管理領域
（ＤＭＡ２）４１２が設けられ、一方、インナ側の欠陥
管理領域４０５には第３欠陥領域（ＤＭＡ３）４１３と
第４欠陥管理領域（ＤＭＡ３）４１４が設けられる。

【００４０】この第１欠陥管理領域４１１、第２欠陥管
理領域４１２、第３欠陥管理領域４１３及び第４欠陥管
理領域４１４は、開始位置及び終了位置が定められてい
る。図６は本発明の第１実施例の欠陥管理領域のデータ
構成図を示す。第１欠陥管理領域４１１、第２欠陥管理
領域４１２、第３欠陥管理領域４１３及び第４欠陥管理
領域４１４は、図６に示すように欠陥領域のトラック番
号及びセクタ番号で指定される開始位置及びトラック番
号及びセクタ番号で指定される終了位置が定められてい
る。

【００４１】また、第１欠陥管理領域４１１から第４欠
陥管理領域４１４のそれぞれには同一内容が記録され
る。再び、図５に戻って説明を続ける。第１欠陥領域４
１１は、ディスク定義構造（ＤＤＳ）４２１、１次欠陥
リスト（ＰＤＬ）４２２及び２次欠陥リスト（ＳＤＬ）
４２３で構成される。このような第１欠陥管理領域４１
１の内容は、残りの第２欠陥管理領域４１２、第３欠陥
管理領域４１３及び第４欠陥管理領域４１４についても
同様である。

【００４２】ディスク定義構造４２１は、予め定められ
たＤＤＳフォーマットに従って１次欠陥リスト４２２と
２次欠陥リスト４２３の開始アドレスが格納され、ま
た、ユーザゾーン４０４の各ゾーンにおけるデータ領域
及びスペア領域に関するディスクマップデータ（ＤＭ
Ｄ）４２４が格納されている。図７は本発明の第１実施
例のディスクマップデータのデータ構成図を示す。

【００４３】ディスクマップデータには、図７に示すよ
うに各ゾーン毎のデータセクタ数、スペアセクタ数、ス
ペア論理トラック数が格納されている。ユーザゾーン４
０４は、上位装置からのＳＣＳＩインタフェース等を通
してアクセスできるリライタブルゾーンである。図８は
本発明の第１実施例の光ディスクのユーザゾーンのデー
タ構造を説明するための図を示す。

【００４４】ユーザゾーン４０４は、１８ゾーンに分割
されている。分割されたユーザゾーン４０４は、アウタ
側から０、１、２、３、・・・１７の順にゾーン番号が
付けられる。各ゾーンは、データ領域４３１及びスペア
領域４３２から構成される。このとき、クロック周波数
は、ゾーンＣＡＶ方式により一定線密度が得ることがで
きるようにするために内周側のゾーン程低く設定され
る。

【００４５】図９は本発明の第１実施例の１次及び２次
欠陥リストを説明するための図を示す。図９（Ａ）はあ
るゾーンのデータ領域４３１及びスペア領域４３２の状
態、図９（Ｂ）は１次欠陥リスト４２２、図９（Ｃ）は
２次欠陥リスト４２３の構成を示す。まず、１次欠陥リ
スト４２２の作成方法について説明する。

【００４６】フォーマット処理により図９（Ａ）に示す
ようにアドレスＡ0 をもつ先頭セクタ４４１にフォーマ
ットを行ったとき、欠陥が発生したとすると、アドレス
Ａ0のセクタ１００が欠陥セクタとして検出される。ア
ドレスＡ0 のセクタ４４１が欠陥セクタとして検出され
ると、図９（Ｂ）に示すように１次欠陥リスト４２２に
欠陥セクタのアドレスＡ0 が登録される。

【００４７】図９（Ｂ）に示す１次欠陥リスト４２２に
欠陥セクタのアドレスＡ0 が登録されると、図９（Ａ）
に示すようにデータ領域４３１の最終セクタ４４２は、
欠陥セクタ４１１分だけスペア領域４３２にスリップさ
れる。セクタフォーマットが終了すると、図９（Ｂ）に
示すように欠陥があるアドレスＡ0 、Ａ10、Ａi が登録
される。

【００４８】また、フォーマット後、リード／ライトコ
マンドで、例えば、データ領域４３１の先頭セクタ４４
１をアクセスしたとすると、このとき、アクセスアドレ
スＡ0 により１次欠陥リスト４２２を参照する。１次欠
陥リスト４２２を参照すると、アクセスアドレスＡ0 が
欠陥アドレスＡ0 として登録されており、アクセスセク
タは不良セクタであることが分かる。

【００４９】そこで、この場合には次のアドレスＡ1 の
セクタ４４３にスリップし、このスリップセクタ４４３
にアクセスする。スリップセクタ４４３についても同様
に１次欠陥リスト４４２を参照して欠陥アドレスとして
登録されているか否かを判定する。判定結果、欠陥アド
レスであれば、次にセクタにスリップし、同様な動作を
行う。

【００５０】次に２次欠陥リスト４２３の作成方法につ
いて説明する。例えば、ライトコマンドによりデータ領
域４３１のセクタアドレスＡ50のセクタ４４４をアクセ
スしたとする。このとき、アクセスしたセクタアドレス
Ａ50のセクタ４４４が欠陥セクタであるとする。アクセ
スしたセクタアドレスＡ50のセクタ４４４に欠陥が検出
されると、図９（Ｃ）に示すように２次欠陥リスト４２
３の最後の空きセクタに欠陥アドレスＡ50と交代処理部
１４０により交代処理された交代エリアの交代アドレス
Ａn とを組み合わせて登録される。

【００５１】リード／ライトコマンドにより、２次欠陥
リスト４２３に登録された欠陥アドレスＡ50にアクセス
が行われる場合には、まず、１次欠陥リスト４２２が参
照される。１次欠陥リスト４２２の参照により１次欠陥
がなければ、次に２次欠陥リスト４２３が参照される。
２次欠陥リスト４２３の参照により、アドレスＡ50が欠
陥アドレスとして登録されているので、対で登録された
スペア領域４３２のアドレスである交代アドレスＡn に
アクセスされる。

【００５２】なお、上記ディスク定義構造４２１、１次
欠陥リスト４２２、２次欠陥リスト４２３は、光ディス
クカートリッジ４００の装着時に光ディスク４０１から
読み出されて、ＭＰＵ１１２内のメモリに展開される。
また、光ディスクカートリッジ４００を光ディスクドラ
イブ１００から排出するときには、装着時に更新された
１次欠陥リスト４２２、２次欠陥リスト４２３を光ディ
スク４０１に上書きする。

【００５３】なお、図５〜９のデータ構造は、１．３Ｇ
ＢのＭＯ媒体について説明したが、１２８、２３０、５
４０、６４０ＭＢのＭＯ媒体もほぼ同様なフォーマット
であるので、その説明は省略する。交代処理部１４０で
は、１次欠陥リスト４２２及び２次欠陥リスト４２３に
基づいてアクセスしたゾーンの欠陥の発生しやすさを判
断し、交代処理の制御を行う。

【００５４】図１０は本発明の第１実施例の交代処理部
の処理フローチャートを示す。交代処理部１４０は、ゾ
ーンＺN 内のセクタに情報をライト中にエラーＥn が発
生すると（ステップＳ２−１）、欠陥管理部１４２に格
納された情報に基づいてゾーンＺN への交代処理条件を
満たすか否かを判定する（ステップＳ２−２）。ステ
ップＳ２−２で、ゾーンＺN の交代エリアへの交代処理
条件を満たすと、ゾーンＺN に設けられた交代エリアＡ
n に情報を書き込む（ステップＳ２−３）。

【００５５】また、ステップＳ２−２で、ゾーンＺN の
交代エリアＡn への交代処理条件を満たさない場合に
は、ゾーンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1 に情報を書き込
む（ステップＳ２−４）。次に、ステップＳ２−２で判
定する交代処理条件について説明する。まず、第１の交
代処理条件について説明する。第１の交代処理条件は、
ゾーンＺN に発生したエラーが予め設定された所定数ｎ
個以下であるという条件である。

【００５６】図１１は本発明の第１実施例の交代処理部
の第１の交代処理条件の動作説明図を示す。交代処理部
１４０は、ゾーンＺN に（ｎ＋１）個目のエラーＥn+1
が発生すると、２次欠陥リスト４２３に基づいて第１の
交代処理条件であるゾーンＺN に発生したエラーがｎ個
以下か否かを判定して、第１の交代処理条件であるゾー
ンＺN に発生したエラーがｎ個以上のときは、ゾーンＺ
(N+1) の交代エリアＡn+1 にエラーが発生したセクタに
記憶しようとした情報を記憶する。ただし、ｎ個は交代
エリアの全セクタ数より少ない数である。

【００５７】ゾーンＺN に発生したエラーの数は、２次
欠陥リスト４２３を参照して、２次欠陥リスト４２３に
登録された欠陥アドレスのうちゾーンＺN に含まれるア
ドレスの個数を算出することにより求める。ここでは、
例えば、０．２×ｎ〜０．９×ｎ個くらいに設定する。
ゾーンＺN に（ｎ＋１）個目のエラーＥn+1 が発生する
と、ゾーンＺN はエラーが発生しやすいゾーンであると
判定して、本来ならゾーンＺN の交代エリアＡn に記憶
すべき情報を他のゾーンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1 に
記憶する。つまり、エラーの発生する確率の高いゾーン
ＺN は同じゾーン内の交代エリアＡn に情報を記憶して
も、交代エリア内でエラーが発生する確率が高いため、
そのゾーン内の交代エリアは使用しないようにして交代
処理が連続するのを防止する。このように交代処理が連
続するのを防止されることにより交代処理時間を短縮で
きる。

【００５８】次に第２の交代処理条件について説明す
る。第２の交代処理条件は、ゾーンＺN の交代エリアＡ
n に発生したエラーが予め設定された所定数ｎ個未満で
あるという条件である。図１２は本発明の第１実施例の
交代処理部の第２の交代処理条件の動作説明図を示す。

【００５９】交代処理部１４０は、ゾーンＺN に（ｎ＋
１）個目のエラーＥn+1 が発生すると、第２の交代処理
条件であるゾーンＺN の交代エリアＡn に発生したエラ
ーがｎ個未満か否かを２次欠陥リスト４２３から判定し
て、ゾーンＺN の交代エリアＡn に発生したエラーがｎ
個以上のときは、ゾーンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1に
エラーが発生したセクタに記憶しようとした情報を記憶
する。ただし、ｎ個は交代エリアの全セクタ数より少な
い数である。

【００６０】このとき、ゾーンＺN の交代エリアＡn に
発生したエラーの数は、２次欠陥リスト４２３を参照し
て、２次欠陥リスト４２３に登録された欠陥アドレスの
うちゾーンＺN の交代エリアＡn に含まれるアドレスの
個数を算出することにより求める。ゾーンＺN の交代エ
リアＡn にｎ個目のエラーＥn が発生すると、ゾーンＺ
Nはエラーが発生しやすゾーンであると判定して、本来
ならゾーンＺN の交代エリアＡn に記憶すべき情報を他
のゾーンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1 に記憶する。つま
り、エラーの発生する確率の高いゾーンＺN は同じゾー
ン内の交代エリアＡn に情報を記憶しても、交代エリア
内でエラーが発生する確率が高いため、そのゾーン内の
交代エリアは使用しないようにして交代処理が連続する
のを防止する。このように交代処理が連続するのを防止
されることにより交代処理時間を短縮できる。

【００６１】次に第３の交代処理条件について説明す
る。第３の交代処理条件は、ゾーンＺN の１トラックＴ
ｒに発生したエラーが予め設定された所定数ｎ個未満で
あるという条件である。図１３は本発明の第１実施例の
交代処理部の第３の交代処理条件の動作説明図を示す。

【００６２】交代処理部１４０は、ゾーンＺN に（ｎ＋
１）個目のエラーＥn+1 が発生すると、第３の交代処理
条件であるゾーンＺN の１トラックＴｒに発生したエラ
ーが予め設定された所定数ｎ個未満であるか否かを２次
欠陥リスト４２３から判定して、ゾーンＺN の１トラッ
クＴｒに発生したエラーが予め設定された所定数ｎ個以
上のときは、ゾーンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1 にエラ
ーが発生したセクタに記憶しようとした情報を記憶す
る。ただし、ｎ個は交代エリアの全セクタ数より少ない
数である。

【００６３】このとき、ゾーンＺN の１トラックＴｒに
発生したエラーは、２次欠陥リスト４２３を参照して、
２次欠陥リスト４２３に登録された欠陥アドレスのうち
ゾーンＺN の１トラックＴｒに含まれるアドレスの個数
を算出することにより求める。ゾーンＺN の１トラック
Ｔｒにｎ個目のエラーＥn が発生すると、ゾーンＺNは
エラーが発生しやすゾーンであると判定して、本来なら
ゾーンＺN の交代エリアＡn に記憶すべき情報を他のゾ
ーンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1 に記憶する。つまり、
エラーの発生する確率の高いゾーンＺN は同じゾーン内
の交代エリアＡn に情報を記憶しても、交代エリア内で
エラーが発生する確率が高いため、そのゾーン内の交代
エリアは使用しないようにして交代処理が連続するのを
防止する。このように交代処理が連続するのを防止され
ることにより交代処理時間を短縮できる。

【００６４】次に第４の交代処理条件について説明す
る。第４の交代処理条件は、ゾーンＺN への１回のアク
セスに発生したエラーが予め設定された所定数ｎ個未満
であるという条件である。図１４は本発明の第１実施例
の交代処理部の第４の交代処理条件の動作説明図を示
す。

【００６５】交代処理部１４０は、ゾーンＺN に（ｎ＋
１）個目のエラーＥn+1 が発生すると、第４の交代処理
条件であるゾーンＺN への１回のアクセスに発生したエ
ラーが予め設定された所定数ｎ個未満か否かを２次欠陥
リスト４２３から判定して、ゾーンＺN の１トラックＴ
ｒに発生したエラーが予め設定された所定数ｎ個以上の
ときは、ゾーンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1 にエラーが
発生したセクタに記憶しようとした情報を記憶する。た
だし、ｎ個は交代エリアの全セクタ数より少ない数であ
る。

【００６６】このとき、ゾーンＺN への１回のアクセス
に発生したエラーは、２次欠陥リスト４２３を参照し
て、２次欠陥リスト４２３に登録された欠陥アドレスの
うちゾーンＺN への１回のアクセスでアクセスされるア
ドレスに含まれるアドレスの個数を算出することにより
求める。ゾーンＺN への１回のアクセスに発生したエラ
ーが予め設定された所定数ｎ個であると、ゾーンＺN は
エラーが発生しやすいゾーンであると判定して、本来な
らゾーンＺN の交代エリアＡn に記憶すべき情報を他の
ゾーンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1 に記憶する。つま
り、エラーの発生する確率の高いゾーンＺN は同じゾー
ン内の交代エリアＡn に情報を記憶しても、交代エリア
内でエラーが発生する確率が高いため、そのゾーン内の
交代エリアは使用しないようにして交代処理が連続する
のを防止する。このように交代処理が連続するのを防止
されることにより交代処理時間を短縮できる。

【００６７】次に第５の交代処理条件について説明す
る。第５の交代処理条件は、ゾーンＺN の交代エリアＡ
n に発生したエラーが予め設定された所定数ｎ個以下で
あるという条件である。図１５は本発明の第１実施例の
交代処理部の第５の交代処理条件の動作説明図を示す。

【００６８】交代処理部１４０は、ゾーンＺN にエラー
が発生し、交代エリアＡn に交代処理を行う。交代処理
の結果、交代エリアＡn でエラーが発生し、予め設定さ
れた所定数（ｎ＋１）個になると、第５の交代処理条件
であるゾーンＺN の交代エリアＡn に発生したエラーが
予め設定された所定数（ｎ＋１）個になったか否かをＲ
ＡＭ９８に記憶された２次欠陥リスト６６から判定し
て、ゾーンＺN の交代エリアＡn に発生したエラーが予
め設定された所定数（ｎ＋１）個になったときは、ゾー
ンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1 にエラーが発生したセク
タに記憶しようとした情報を記憶する。

【００６９】このとき、ゾーンＺN の交代エリアＡn で
の交代処理の回数は、２次欠陥リスト４２３を参照し
て、２次欠陥リスト４２３に登録された欠陥アドレスの
うちゾーンＺN の交代エリアＡn のアドレスに含まれる
アドレスの個数を算出することにより求める。ゾーンＺ
N の交代エリアＡn で発生したエラーが（ｎ＋１）個に
なるとゾーンＺN の交代エリアＡn はエラーが発生しや
すゾーンであると判定して、本来ならゾーンＺN の交代
エリアＡn に記憶すべき情報を他のゾーンＺ(N+1) の交
代エリアＡn+1 に記憶する。このため、エラーの発生す
る確率の高いゾーンＺN の交代エリアＡn に情報を記憶
して、再びエラーが発生し、これを繰り返すことを防止
できる。よって、交代処理時間を短縮できる。

【００７０】次に第６の交代処理条件について説明す
る。第６の交代処理条件は、記録媒体に情報を記録する
前のフォーマッティング時に不良セクタを発見し、リス
ト化した１次欠陥リスト、すなわち、「Primary Defect
List 」でゾーンＺN の初期不良セクタがｎ個以下であ
るという条件である。図１６は本発明の第１実施例の交
代処理部の第６の交代処理条件の動作説明図を示す。

【００７１】交代処理部１４０は、ゾーンＺN にエラー
Ｅが発生し、交代処理を行う場合、１次欠陥リスト４２
２を参照して、ゾーンＺN の１次欠陥セクタの個数を求
める。交代処理部は、第６の交代処理条件であるゾーン
ＺN の１次欠陥数がｎ個以下か否かを判定する。交代処
理部１４０は、判定結果、ゾーンＺN の１次欠陥セクタ
の個数数が（ｎ＋１）個以上のときには、ゾーンＺ(N+
1) の交代エリアＡn+1 にエラーが発生したセクタに記
憶しようとした情報を記憶する。ただし、ｎ個は交代エ
リアの全セクタ数より少ない数である。

【００７２】このとき、ゾーンＺN の１次欠陥セクタの
個数数は、１次欠陥リスト４２２を参照し、ゾーンＺN
のアドレスに含まれるアドレスをカウントすることによ
り求められる。このように、ゾーンＺN にエラーが発生
したとき、１次欠陥個数を参照し、１次欠陥個数が（ｎ
＋１）個以上のときには、ゾーンＺN の交代エリアＡn
はエラーが発生しやすゾーンであると判定して、本来な
らゾーンＺN の交代エリアＡnに記憶すべき情報を他の
ゾーンＺ(N+1) の交代エリアＡn+1 に記憶する。つま
り、エラーの発生する確率の高いゾーンＺN は同じゾー
ン内の交代エリアＡn に情報を記憶しても、交代エリア
内でエラーが発生する確率が高いため、そのゾーン内の
交代エリアは使用しないようにして交代処理が連続する
のを防止する。このように交代処理が連続するのを防止
されることにより交代処理時間を短縮できる。

【００７３】なお、上記実施例では、ホストコンピュー
タからのコマンドにより閾値ｎを設定する。図１７は本
発明の第１実施例の閾値の設定方法を説明するための図
を示す。図１７に示すようにホストコンピュータ２００
から光磁気ディスクドライブ１００にＳＣＳＩインタフ
ェース３００を介して２バイトのコマンドを供給する。

【００７４】ホストコンピュータ２００から光磁気ディ
スクドライブ１００に供給するコマンドは、第１バイト
BYTE1 がコマンドコード及び第２バイトBYTE2 が閾値ｎ
とされている。光磁気ディスクドライブ１００は、ホス
トコンピュータ２００から図１７に示すようなコマンド
が供給されると、閾値ｎを設定する。ここで、閾値ｎ
は、ＤＲＡＭなどのメモリに電源断まで保存される。な
お、設定しないときには予め格納された初期値を使用し
てもよい。

【００７５】なお、本実施例では、ホストコンピュータ
２００からのコマンドにより閾値ｎを設定するようにし
たが、媒体種及び周囲温度に応じて自動的に閾値ｎを設
定するようにしてもよい。図１８に本発明の第２実施例
の機能ブロック図を示す。同図中、図４と同一構成部分
には同一符号を付し、その説明は省略する。

【００７６】本実施例の光磁気ディスクドライブ５００
は、媒体種を検出する媒体種検出手段５０１と、記録媒
体の周囲温度を検出する温度検出手段５０２、媒体種検
出手段５０１で検出された媒体種と温度検出手段５０２
で検出された周囲温度とに応じた閾値が設定された閾値
設定テーブル５０３を有する。本実施例の交代処理部５
０４は、媒体種検出手段５０１及び温度検出手段５０２
で検出された周囲温度とに応じて閾値設定テーブル５０
３から値を読み出し、閾値ｎとして設定する。

【００７７】媒体種検出手段５０１は、例えば、ＭＰＵ
１１２のプログラムにより実現される。媒体種は、ＭＰ
Ｕ１１２によりＩＤデータの記録ピット間隔を検出する
ことにより判定される。また、温度検出手段５０２は、
温度センサ１３０で実現できる。図１９に本発明の第２
実施例の閾値設定テーブルのデータ構成図を示す。

【００７８】閾値設定テーブル５０３は、媒体種及び温
度毎に閾値ｎ1 〜ｎ3 、ｎ11〜ｎ13、ｎ21〜ｎ23、ｎ31
〜ｎ33、ｎ41〜ｎ43が設定されている。例えば、媒体種
検出手段５０１により１２８ＭＢの媒体種が媒体の管理
領域を読み出すことで検出され、温度検出手段５０２に
より低温であると検出された場合、値Ｎ1 が閾値ｎとし
て交代処理部９４に設定される。また、媒体種検出手段
により５４０ＭＢの媒体種が検出され、温度検出手段に
より中温であると検出された場合、値Ｎ22が閾値ｎとし
て交代処理部９４に設定される。さらに、媒体種検出手
段により１．３ＧＢの媒体種が検出され、温度検出手段
により高温であると検出された場合、値Ｎ43が閾値ｎと
して交代処理部５０４に設定される。

【００７９】以上のように媒体種検出手段及び温度検出
手段により媒体種及び温度を検出し検出された媒体種及
び温度に対応する閾値ｎを閾値設定テーブルから得て、
交代処理部５０４に設定することにより、媒体及び温度
に応じて最適な閾値を自動的に設定できる。なお、本実
施例では媒体種及び温度に応じて閾値を設定したが、媒
体種及び温度に限られるものではない。また、１種類の
条件又は３種以上の条件から閾値を設定してもよい。ま
た、媒体種は容量毎に説明したが、光磁気ディスク、相
変化型光ディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭ光ディスクなどで種
別を検出するようにしてもよい。

【００８０】さらに、上記実施例では、１．３ＧＢ光デ
ィスクとして、ダブルマスクＲＡＤ−ＭＳＲ光磁気記録
について説明したが、これに限られるものではなく、Ｆ
ＡＤ−ＭＳＲ光磁気記録や相変化記録の光ディスクであ
ってもよい。上記説明した実施例において、フォーマッ
ト後の２次欠陥に対するだけでなく、フォマット時に検
出された１次欠陥に対する交代処理にも応用できること
は言うまでもない。

【００８１】

【発明の効果】上述の如く、本発明の請求項１によれ
ば、不良セクタが所定数、発生すると、不良セクタが発
生しやすいゾーンであると判断して、他のゾーンの交代
エリアを利用し情報を記憶するので、不良の発生しやす
い、ゾーンの交代エリアで交代処理が繰り返されるのを
防止して、無駄な交代処理を行うことなく、短い時間
で、確実に情報を記憶できる等の特長を有する。

【００８２】請求項２によれば、情報を交代すべき先の
交代エリアに所定数の不良セクタが発生したときに、不
良が発生しやすいゾーンであると判断して、他のゾーン
の交代エリアを利用し情報を記憶するので、不良の発生
しやすい、ゾーンの交代エリアで交代処理が繰り返され
るのを防止して、無駄な交代処理を行うことなく、短い
時間で、確実に情報を記憶できる等の特長を有する。

【００８３】請求項３によれば、記録媒体の初期化時に
所定のゾーンに所定数の不良セクタを検出したときに、
所定のゾーンに記憶すべき情報を他のゾーンの交代エリ
アに記憶することにより、情報を記憶する前に不良が発
生しやすい交代エリアを判定し、他のゾーンの交代エリ
アを利用し情報を記憶するので、不良の発生しやすい、
ゾーンの交代エリアで交代処理が繰り返されるのを防止
して、無駄な交代処理を行うことなく、短い時間で、確
実に情報を記憶できる等の特長を有する。

【００８４】請求項４によれば、トラック当たりの不良
セクタを検出したときに、所定のゾーンに記憶すべき情
報を他のゾーンの交代エリアに記憶することにより、他
のゾーンの交代エリアを利用し情報を記憶するので、不
良の発生しやすい、ゾーンの交代エリアで交代処理が繰
り返されるのを防止して、無駄な交代処理を行うことな
く、短い時間で、確実に情報を記憶できる等の特長を有
する。

【００８５】請求項５によれば、記録媒体への１回のア
クセスにおいて所定数の不良セクタが検出されたとき
に、アクセスすべき所定のゾーンに記憶すべき情報を他
のゾーンの交代エリアに記憶することにより、他のゾー
ンの交代エリアを利用し情報を記憶するので、不良の発
生しやすい、ゾーンの交代エリアで交代処理が繰り返さ
れるのを防止して、無駄な交代処理を行うことなく、短
い時間で、確実に情報を記憶できる等の特長を有する。

【００８６】請求項６によれば、交代エリアの不良セク
タが所定数のときにアクセスすべき所定のゾーンに記憶
すべき情報を他のゾーンの交代エリアに交代することに
より、不良の発生しやすい、ゾーンの交代エリアで交代
処理が繰り返されるのを防止して、無駄な交代処理を行
うことなく、短い時間で、確実に情報を記憶できる等の
特長を有する。

【００８７】請求項７によれば、記録媒体の種類に応じ
て不良の発生しやすさを判断して、不良の発生しやすさ
に応じて交代エリアを他のゾーンに切り換える所定数を
設定することにより、記録媒体の種類毎に最適な交代制
御を行える等の特長を有する。請求項８によれば、温度
に応じて不良の発生しやすさを判断して、不良の発生し
やすさに応じて交代エリアを他のゾーンに切り換える所
定数を設定することにより、温度に応じて最適な交代制
御を行える等の特長を有する。

【００８８】請求項９によれば、他のゾーンに交代を行
うまでの数を設定する回数を外部から設定可能とするこ
とにより、使用状況に応じて所定回数の設定が行え、最
適な交代制御を行える等の特長を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の一例の処理フローチャートである。

【図２】従来の一例の動作説明図である。

【図３】本発明の第１実施例のブロック構成図である。

【図４】本発明の第１実施例の機能ブロック図である。

【図５】本発明の第１実施例の光ディスクのデータ構成
図である。

【図６】本発明の第１実施例の欠陥管理領域のデータ構
成図である。

【図７】本発明の第１実施例のディスクマップデータの
データ構成図である。

【図８】本発明の第１実施例の光ディスクのユーザゾー
ンのデータ構成図である。

【図９】本発明の第１実施例の１次及び２次欠陥リスト
を説明するための図である。

【図１０】本発明の第１実施例の交代処理部の処理フロ
ーチャートである。

【図１１】本発明の第１実施例の交代処理部の第１の交
代処理条件の動作説明図である。

【図１２】本発明の第１実施例の交代処理部の第２の交
代処理条件の動作説明図である。

【図１３】本発明の第１実施例の交代処理部の第３の交
代処理条件の動作説明図である。

【図１４】本発明の第１実施例の交代処理部の第４の交
代処理条件の動作説明図である。

【図１５】本発明の第１実施例の交代処理部の第５の交
代処理条件の動作説明図である。

【図１６】本発明の第１実施例の交代処理部の第６の交
代処理条件の動作説明図である。

【図１７】本発明の第１実施例の閾値の設定方法を説明
するための図である。

【図１８】本発明の第２実施例の機能ブロック図であ
る。

【図１９】本発明の第２実施例の閾値設定テーブルのデ
ータ構成図である。

【符号の説明】

１００光ディスクドライブ１１０コントロールユニット１１１エンクロージャ１１２ＭＰＵ１１２ａプログラム領域１１３光ディスクコントローラ１１３ａフォーマッタ１１３ｂＥＣＣ処理部１１４ＤＳＰ１１５上位インタフェース１１６バッファメモリ１１７ライトＬＳＩ回路１１７ａライト変調部１１７ｂＬＤ制御回路１１８リードＬＳＩ回路１１８ａリード復調部１１８ｂ周波数シンセサイザ１１９〜１２３ドライバ１２４ＦＥＳ検出回路１２５ＴＥＳ検出回路１２６ＴＺＣ検出回路１２７レーザダイオードユニット１２７ａレーザダイオード１２７ｂモニタＰＤ１２８ＩＤ／ＭＯ用ディテクタ１２９ヘッドアンプ１３０温度センサ１３１スピンドルモータ１３２磁場印加部１３３ＦＥＳ用ディテクタ１３４ＴＥＳ用ディテクタ１３５レンズ位置センサ１３６フォーカスアクチュエータ１３７レンズアクチュエータ１３８ＶＣＭ１３９コマンド処理部１４０交代処理部１４１媒体アクセス部１４２欠陥管理部４２１ディスク定義構造４２２１次欠陥リスト４２３２次欠陥リスト

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数のゾーンに分割された記録媒体に情
報を記憶する記憶装置において、前記複数のゾーンに交代エリアを有し、所定のゾーンの不良セクタを検出する不良セクタ検出手
段と、前記不良セクタ検出手段により検出された前記不良セク
タが所定数のときに、前記所定のゾーンの交代エリアに
空きがあったても前記交代エリアを使用せずに記憶すべ
き情報を他のゾーンの交代エリアに記憶する情報記憶制
御手段を有することを特徴とする記憶装置。
【請求項２】前記不良セクタ検出手段は、所定のゾー
ンの交代エリアの不良セクタを検出する第１の不良セク
タ検出手段を有し、前記情報記憶制御手段は、前記第１の不良セクタ検出手
段により検出された前記不良セクタが所定数のときに、
前記所定のゾーンに記憶すべき情報を他のゾーンの交代
エリアに記憶する第１の制御手段を有することを特徴と
する請求項１記載の記憶装置。
【請求項３】前記不良セクタ検出手段は、前記記憶媒
体の初期化時の不良セクタを検出する第２の不良セクタ
検出手段を有し、前記情報記憶制御手段は、前記第２の不良セクタ検出手
段により検出された前記不良セクタが所定数のときに、
前記所定のゾーンに記憶すべき情報を他のゾーンの交代
エリアに記憶する第２の制御手段を有することを特徴と
する請求項１又は２記載の記憶装置。
【請求項４】前記不良セクタ検出手段は、トラック当
たりの不良セクタを検出する第３の不良セクタ検出手段
を有し、前記情報記憶制御手段は、前記第３の不良セクタ検出手
段により検出された前記不良セクタが所定数のときに、
前記所定のゾーンに記憶すべき情報を他のゾーンの交代
エリアに記憶する第２の制御手段を有することを特徴と
する請求項１乃至３のいずれか一項記載の記憶装置。
【請求項５】前記不良セクタ検出手段は、前記記録媒
体への１回のアクセスにおける不良セクタを検出する第
４の不良セクタ検出手段を有し、前記情報記憶制御手段は、前記第４の不良セクタ検出手
段により検出された前記不良セクタが所定数のときに、
前記アクセスすべき所定のゾーンに記憶すべき情報を他
のゾーンの交代エリアに記憶する第４の制御手段を有す
ることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項記載
の記憶装置。
【請求項６】前記不良セクタ検出手段は、前記記録媒
体の交代エリアにおける不良セクタを検出する第５の不
良セクタ検出手段を有し、前記情報記憶制御手段は、前記第５の不良セクタ検出手
段により検出された前記不良セクタが所定数のときに、
前記アクセスすべき所定のゾーンに記憶すべき情報を他
のゾーンの交代エリアに記憶する第５の制御手段を有す
ることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一項記載
の記憶装置。
【請求項７】前記挿入された記録媒体の種類を検出す
る媒体検出手段を有し、前記情報記憶制御手段は、前記媒体検出手段で検出され
た媒体の種類に応じて所定数を設定し、前記不良セクタ
検出手段により検出された前記不良セクタが所定数のと
きに、前記アクセスすべき所定のゾーンに記憶すべき情
報を他のゾーンの交代エリアに記憶する第６の制御手段
を有することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか一
項記載の記憶装置。
【請求項８】温度を検出する温度検出手段を有し、前記情報記憶制御手段は、前記温度検出手段により検出
された温度に応じて所定数を設定し、前記不良セクタ検
出手段により検出された前記不良セクタが該所定数のと
きに、前記アクセスすべき所定のゾーンに記憶すべき情
報を他のゾーンの交代エリアに記憶する第７の制御手段
を有することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一
項記載の記憶装置。
【請求項９】前記情報記憶制御手段で所定のゾーンに
記憶すべき情報を他のゾーンの交代エリアに記憶する所
定数を外部から指示により設定する設定手段を有するこ
とを特徴とする請求項１乃至８のいずれか一項記載の記
憶装置。