JP2000024909A - ポリッシング装置 - Google Patents

ポリッシング装置

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JP2000024909A JP12699999A JP12699999A JP2000024909A JP 2000024909 A JP2000024909 A JP 2000024909A JP 12699999 A JP12699999 A JP 12699999A JP 12699999 A JP12699999 A JP 12699999A JP 2000024909 A JP2000024909 A JP 2000024909A
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一人 廣川
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尚典 松尾
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 研磨パッドの研磨面に生じる凹凸を効果的に
解消し、被研磨基板の被研磨面を精度良く平坦に研磨で
き、且つ研磨パッドの寿命を長くできるポリッシング装
置を提供することを目的とする。 【解決手段】 定盤1に張付けた研磨パッド2に、トッ
プリング3に保持された被研磨基板4を押し付け、該研
磨パッド2と被研磨基板4の相対運動により該被研磨基
板4の被研磨面を研磨するように構成したポリッシング
装置において、配列された複数の押圧手段を具備し、該
複数の押圧手段はそれぞれシリンダ6により押し付け圧
力を設定できるようになっており、該押圧手段により研
磨パッド2を設定圧力により押圧して、該研磨パッド2
の表面形状を調整することができるように構成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体ウエハー等の
被研磨基板を研磨するポリッシング装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体の製造において、半導体ウ
エハ等の被研磨基板の表面を平坦化するのに化学的機械
的研磨(CMP)が行われている。この化学的機械的研
磨を行うポリッシング装置はターンテーブルの上面に弾
性を有する研磨パッドを張付け、ターンテーブルと共に
回転する該研磨パッドの研磨面に対して、スラリーを供
給すると共にトップリングによって支持されたウエハを
該研磨面に押し付けることによって、被研磨基板と研磨
パッドの相対運動により、被研磨基板の表面の平坦化を
行っている。
【0003】従って、半導体ウエハ等の被研磨基板の表
面を平坦に研磨するためには、研磨される被研磨基板の
表面と研磨パッドの研磨面との間の係合押圧力は均一で
あることが望まれるが、研磨作業中に該研磨パッドの研
磨面に凹凸が生じ、このため均一な圧力が得られず、そ
の結果、被研磨基板の表面の平坦化を適正に行うことが
困難になる場合がある。
【0004】上記研磨パッドの研磨面に凹凸が生じる最
大の原因は、研磨の際の被研磨基板の表面と研磨パッド
との係合押圧関係にある。被研磨基板は回転する研磨パ
ッドの中心から半径方向外側にずれた位置で当該研磨パ
ッドに押圧されるので、研磨パッドと係合される研磨面
の部分は研磨パッドの中心の回りに環状の軌跡を描くこ
とになるが、被研磨基板が半導体ウエハの場合、ウエハ
は円板状とされているために、研磨パッドの当該環状の
軌跡部分におけるウエハとの(研磨パッド1回転当り
の)係合時間が、その半径方向位置によって差が生じ
る。即ち、研磨パッドの環状軌跡部分の半径方向での中
央部分(ウエハの中心を通る部分)は、当該研磨パッド
の1回転毎の係合時間が最も長く、同環状軌跡部分の半
径方向で最も外側と内側の部分は、係合時間が最も短く
なる。
【0005】従って、上記環状軌跡の中央部分では係合
押圧時間が長く、押圧の後、一回転して再びウエハと係
合押圧されるまでの時間が最も短い時間となるのであ
り、半径方向内側及び外側部分はその逆となる。このた
め、環状軌跡の中央部分では、押圧されて生じた凹みの
変形が十分に回復する前にウエハと係合することにな
り、半径方向での最も外側と内側の部分では、かなり回
復された状態となる。これによりウエハと係合する研磨
面の部分では凹凸が生じることになる。この凹凸がパッ
ドの研磨面とウエハの研磨面との間の押圧力に差を生じ
る結果となる。
【0006】上記押圧力の差を解消するため種々の方法
が提案されている。例えば、特開平9−225812号
公報には、研磨パッドの研磨面におけるウエハとの係合
部分とは異なる部分に係合するパッド加圧手段を設け、
該パッド加圧手段により研磨パッドの研磨面を、ウエハ
研磨面との間の押圧力以上の押圧力をもって押圧するこ
とにより、上記の如き凹凸の付けられた部分を平坦化
し、これにより、上記の如き問題を解消する発明が開示
されている。
【0007】しかしながら、研磨パッドの研磨面に生じ
る凹凸に関しては、上記以外の原因も考えられウエハと
研磨パッドの研磨面との間の押圧力以上の押圧力を一律
にかけるという上記公報に開示された発明では、研磨面
の凹凸に対して十分に対応できない場合がある。
【0008】また、この種の化学的機械的研磨を行うポ
リッシング装置は、上記のようにターンテーブルに張付
けた研磨パッドに、トップリングに保持された半導体ウ
エハー等の被研磨基板を押し付け、研磨パッドと被研磨
基板の相対回転運動により被研磨基板の被研磨面を研磨
するように構成されており、被研磨基板の被研磨面を研
磨し平坦面を創出することを目的としている。この所望
の平坦面を得るために、ポリッシング装置では一般に、
研磨中の被研磨基板の裏面に部分的に空圧をかけて被研
磨基板中央部の研磨プロファイルを調整する手法に加
え、被研磨基板を保持する基板保持用のガイドリングが
一定面圧で研磨パッドに当接するように調整して被研磨
基板の外周部の研磨速度を保つ手法などが採用されてい
る。
【0009】上記定盤上の研磨パッドは被研磨基板を研
磨すると、パッド面の性状変化や研磨剤(スラリ)の付
着が進行するため、研磨パッドの研磨性能が低下してく
る。そこで、被研磨基板を研磨する度に毎回研磨パッド
面のコンディショニングを必要とする。このコンディシ
ョニングとは、研磨パッド面にドレッサーといわれる円
板(一般に表面にダイヤモンド微粒子を電着したものが
用いられる)を押し付けてパッド表面を削り取ること
で、毎回新しい研磨パッド面を創出し、ポリッシング装
置の研磨性能を安定化させることを目的とするものであ
る。
【0010】しかしながら、上記従来技術には下記、
のような問題がある。 上記ガイドリングを研磨パッド面に当接させる手法
は、ガイドリングが摩耗しやすいため、摩耗が進むとガ
イドリングが研磨パッド面に当接しにくくなり、その効
果が安定せず、被研磨基板の被研磨面の平坦化が困難に
なるという問題がある。これを解決するため現状では、
ガイドリングが一定面圧で研磨パッド面に押し付けられ
るように、頻繁にガイドリングの位置調整を行う必要が
あった。
【0011】研磨パッド面にドレッサーといわれる円
板(一般に表面にダイヤモンド微粒子を電着したものが
用いられる)を押し付けてパッド表面を削り取るコンデ
ィショニング手法では、研磨パッドが摩耗しやすいため
該研磨パッドの寿命が短いという問題がある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述の点に鑑
みてなされたもので、研磨パッドの研磨面に生じる凹凸
を効果的に解消し、被研磨基板の被研磨面を精度良く平
坦に研磨でき、且つ研磨パッドの寿命を長くできるポリ
ッシング装置を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
請求項1に記載の発明は、定盤に張付けた研磨パッド
に、トップリングに保持された被研磨基板を押し付け、
該研磨パッドと被研磨基板の相対運動により該被研磨基
板の被研磨面を研磨するように構成したポリッシング装
置において、配列された複数の押圧手段を具備し、該複
数の押圧手段はそれぞれシリンダにより押し付け圧力を
設定できるようになっており、該押圧手段により研磨パ
ッドを設定圧力により押圧して、該研磨パッドの表面形
状を調整することができるように構成したことを特徴と
する。
【0014】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
に記載のポリッシング装置において、複数の押圧手段は
それぞれプレス子を具備し、配列した複数の該プレス子
の下端に張付けたシートを設け、各該プレス子はそれぞ
れシリンダにより押し付け圧力を設定できるようになっ
ており、各該プレス子により該シートを介して研磨パッ
ドを設定圧力により押圧して、該研磨パッドの表面形状
を調整することができるように構成したことを特徴とす
る。
【0015】また、請求項3に記載の発明は、請求項1
に記載のポリッシング装置において、複数の押圧手段は
それぞれ押圧ローラーを具備し、該押圧ローラーはそれ
ぞれシリンダにより押し付け圧力を設定できるようにな
っており、各該押圧ローラーにより研磨パッドを設定圧
力により押圧して、該研磨パッドの表面形状を調整する
ことができるように構成したことを特徴とする。
【0016】また、請求項4に記載の発明は、請求項1
に記載のポリッシング装置において、複数の押圧手段は
それぞれエアーノズルを具備し、各該エアーノズルはそ
れぞれ高圧のエアーを研磨パッド面に噴射すると共に該
噴射圧力を設定できるようになっており、各該エアーノ
ズルから噴射するエアーにより研磨パッドを該設定圧力
により押圧して、該研磨パッドの表面形状を調整するこ
とができるように構成したことを特徴とする。
【0017】また、請求項1乃至4のいずれか1に記載
のポリッシング装置において、押圧手段又はプレス子又
は押圧ローラー又はエアーノズルによる研磨パッドの表
面形状の調整は被研磨基板の研磨加工中に行うように構
成し、該研磨パッドの性状を研磨加工中に変化させない
ことを特徴とする。
【0018】押圧手段による研磨パッドの表面形状の調
整は、研磨中の研磨パッドの表面形状を直接測定し、そ
れに基づき、各押圧手段等の押圧力を調整して行う方法
と、研磨された非研磨基板の被研磨面の研磨状態を測定
して、各押圧手段の押圧力を調整して行う方法とがあ
る。
【0019】被研磨基板の被研磨面の研磨状態を測定す
る方法としては、被研磨基板の被研磨面の凹凸を直接測
定する方法があるが、被研磨基板が半導体デバイス製造
工程におけるウエハの場合には、研磨される膜厚を測定
して行うこともできる。この被研磨基板の被研磨面の研
磨状態を測定して行う方法では、研磨の終了した被研磨
基板の被研磨面の研磨状態を測定して、次に行う研磨作
業を行うための研磨条件を規定する場合と、研磨途中で
の被研磨面の研磨状態を測定して、それに基づき、最終
的な研磨作業のための研磨条件を規定する場合とが考え
られる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態例を図
面に基づいて説明する。図1乃至図2は請求項1に記載
のポリッシング装置の定盤とトップリングと押し込み装
置部分を示す図で、図1は平面図、図2は図1のA−A
断面図である。図において、1は定盤(ターンテーブ
ル)であり、該定盤1の上面に研磨パッド2が張付けら
れている。3は定盤1の上に配置されたトップリングで
あり、該トップリング3と研磨パッド2の間に半導体ウ
エハー等の被研磨基板4が介在している。
【0021】定盤1は矢印B方向に回転し、トップリン
グ3は矢印C方向に回転し、トップリング3で被研磨基
板4を研磨パッド2の上面に所定の押圧力で押圧するこ
とにより、被研磨基板4の被研磨面を研磨する。なお、
研磨パッド2の上面には砥液等の研磨液がノズル(図示
せず)等で供給されるようになっている。
【0022】5は定盤1の上面で且つトップリング3よ
り上流側に配置された研磨パッドの研磨パッド押圧手段
としての押し込み装置であり、該押し込み装置5は複数
個(図では4個)のシリンダ6を具備し、それぞれのシ
リンダ6の先端にはプレス子7が設けられ、更に各プレ
ス子7の先端をまたいで一枚のシート8が張付けられて
いる。複数のプレス子7は定盤1の回転方向に略直交す
る方向に一列に配列している。各シリンダ6に各々独立
に任意圧力をかけることにより、任意にシート8を変形
させ、研磨パッド2を押し込む。
【0023】上記のように押し込み装置5の各シリンダ
6に任意圧力をかけ、シート8を任意に変形させること
により、定盤1上の研磨パッド2の上面は該シート8に
押されて変形する。この変形状態を最適に調整すること
により、研磨の際、該研磨パッド2の上面に押される被
研磨基板4の被研磨面上の圧力分布が修正され、その結
果として被研磨面を精度良く平坦化することができる。
【0024】図3及び図4はプレス子7にかける圧力を
制御するため、研磨パッド2の表面形状を測定するため
のパッド形状測定装置を具備するポリッシング装置の構
成を示す図である。図3は平面図、図4は図3のB−B
断面を示す図である。図3に示すように、研磨パッド2
の表面形状を測定するためのパッド形状測定装置14を
被研磨基板4を保持するトップリング3の上流側直前に
配置している。該パッド形状測定装置14には押し込み
装置5のプレス子7に対応した研磨パッド2の半径方向
位置に複数個(図では5個)の変位センサ15が設けら
れている。各変位センサ15は研磨パッド2の表面の凹
凸に追従して上下動する転動ローラー16を下端に備え
ている。
【0025】変位センサ15は例えばダイヤルゲージか
らなり、転動ローラー16の上下動により研磨パッド2
の凹凸の大きさを測定し、その値を制御器17に送り、
制御器17は各プレス子7を介して研磨パッド2の研磨
面に押圧力を与えるべき各シリンダ6への供給圧力を決
定し、それに基づき各シリンダ6は各プレス子7を押圧
する。何等かの原因によって、研磨パッド2の研磨面に
凹凸ができたことを各変位センサ15が検知した場合に
は、その出力により制御器17はその凹凸を是正するた
めの押圧力を各シリンダ6及びプレス子7を介して研磨
面に加える。即ち、本実施例では研磨加工中に、研磨面
の形状を測定し、同時に任意に形状を修正することがで
きる。また、上記例ではパッド形状測定装置14の上流
に押し込み装置5を配したが両者の関係は逆でもよい。
【0026】上記例では、パッド形状測定装置14が研
磨パッド2の研磨面を転動する転動ローラー16を具備
し、接触式に研磨面の凹凸を測定する方式を示したが、
このような接触式に限定されるものではなく、例えばパ
ッド形状測定装置14は図5に示すように、研磨パッド
2の半径方向位置に複数個(図では5個)の非接触式の
変位センサ18を設けた構成のパッド形状測定装置14
を用いてもよい。非接触式に変位を測定する変位センサ
18としては、例えばレーザ光を用いるレーザ変位セン
サや、超音波を用いる超音波変位センサ等が用いられ
る。また、パッド形状測定装置14としては、テレビカ
メラで研磨パッド面を監視し、画像処理技術を用いてパ
ッド形状を測定するようにしてもよい。
【0027】また、押し込み装置5の制御を行う場合、
上記のように研磨パッド2の研磨面の凹凸の測定に基づ
くのではなく、被研磨基板4の研磨された面の研磨状態
を測定し、その測定値により行うこともできる。その場
合には、例えば、研磨作業を停止しまたは終了し、被研
磨基板4の膜厚を測定して、その値に基づいて押し込み
装置5の各シリンダ6に供給する供給圧力を決定する。
削り方が不十分な場合は研磨作業を再開して、この供給
圧力に基づき各シリンダ6で各プレス子7を押圧して最
終研磨を行う。また、前記被研磨基板4の膜厚を測定し
て決定した各シリンダ6への供給圧力は、次の被研磨基
板4の研磨作業の各シリンダ6へ供給する供給圧力にも
利用できる。
【0028】図6乃至図7は請求項3に記載のポリッシ
ング装置の定盤とトップリングと押し込み装置部分を示
す図で、図6は平面図、図7(a)は研磨パッド押圧手
段としての押し込み装置の平面図、図7(b)は押し込
み装置の正面図、図7(c)は押し込み装置の側面図で
ある。本ポリッシング装置の定盤1及びトップリング3
部分の構成は図1と同じであり、相違する点は押し込み
装置10の構成の点である。
【0029】押し込み装置10は定盤1の上部に配置さ
れ、該定盤1の半径方向に2列に交互に配置された複数
個(図では8個)の押圧ローラー12を具備し、それぞ
れの押圧ローラー12はローラー支持枠13を介してシ
リンダ部11に支持されている。各押圧ローラー12は
シリンダ部11の圧力により任意の設定圧力で研磨パッ
ド2を押し込むことができるように構成されている。
【0030】押し込み装置10のシリンダ部11で各々
の押圧ローラー12に任意の設定圧力を加えることによ
り、定盤1上の研磨パッド2の上面は該押圧ローラー1
2に押されて変形する。この変形状態を調整することに
より、研磨の際、該研磨パッド2の上面に押圧される被
研磨基板4の被研磨面上の圧力分布が修正され、その結
果として被研磨面を精度良く平坦化することができる。
【0031】なお、図示は省略するが、図6に示すポリ
ッシング装置においても、図3に示すように、パッド形
状測定装置14を設け、研磨パッド2の研磨面の凹凸状
態を測定し、該測定値に基づいて制御器17で各押圧ロ
ーラー12に加える圧力を決定し、シリンダ部11に出
力し、各押圧ローラー12に加える圧力を制御するよう
にしてもよい。
【0032】図8乃至図9は請求項4に記載のポリッシ
ング装置の定盤とトップリングと押し込み装置部分を示
す図で、図8は平面図、図9(a)は研磨パッド押圧手
段としての押し込み装置の平面図、図9(b)は押し込
み装置の正面図、図9(c)は押し込み装置の側面図で
ある。本ポリッシング装置の定盤1及びトップリング3
部分の構成は図1と同じであり、相違する点は押し込み
装置の構成の点である。
【0033】押し込み装置20は定盤1の上部に配置さ
れ、該定盤1の半径方向に2列に交互に配置された複数
個(図では16個)のエアーノズル21を具備し、エア
ーノズル21はそれぞれ任意の設定圧力で電磁弁部22
の操作によりその先端から、研磨パッド2に向けて高圧
のエアーが吹き出されるように構成されている。
【0034】押し込み装置20の各々のエアーノズル2
1から高圧のエアーを噴出し、定盤1上の研磨パッド2
を押圧し、該研磨パッド2は変形される。この変形状態
を調整することにより、研磨の際、該研磨パッド2の上
面に押圧される被研磨基板4の被研磨面上の圧力分布が
修正され、その結果として被研磨面を精度良く平坦化す
ることができる。
【0035】上記押し込み装置20の構成例では、各々
のエアーノズル21を定盤1の半径方向に2列に交互に
配置する構成としたが、これに限定されるものではな
く、例えば、図10に示すように押し込み装置20に構
成し、エアーノズル21をリング状に配置しても良い。
【0036】上記のように、上記実施形態例では、押し
込み装置5、10、20により、被研磨基板4と研磨パ
ッド2との相対回転運動により、該被研磨基板4の研磨
加工中に研磨パッド2の表面形状を調整できるから、研
磨パッドの性状を研磨加工中に変化させないことが可能
となる。従って、従来のように研磨加工終了毎に研磨パ
ッドのコンディショニングを行う場合に比較し、精度の
よい平坦度の被研磨面を実現することが可能となる。
【0037】なお、図示は省略するが、図8に示すポリ
ッシング装置においても、図3に示すように、パッド形
状測定装置14を設け、研磨パッド2の研磨面の凹凸状
態を測定し、該測定値に基づいて制御器17で各エアー
ノズル21に加える圧力を決定し、押し込み装置20に
出力し、各エアーノズル21に加える圧力を制御するよ
うにしてもよい。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように各請求項に記載の発
明によれば下記のような優れた効果が得られる。
【0039】請求項1に記載の発明によれば、複数の
押圧手段により研磨パッドを設定圧力により押圧して、
該研磨パッドの表面形状を任意に調整することができる
ので、平坦性の優れた研磨ができると共に、研磨パッド
の押し付け部の摩耗を大幅に軽減できる。従って、従来
のようにガイドリングの摩耗による位置調整を行う必要
が無くなる。
【0040】請求項2に記載の発明によれば、押圧手
段としてプレス子を用い、複数のプレス子によりシート
を介して研磨パッドを設定圧力により押圧して、該研磨
パッドの表面形状を任意に調整することができるので、
平坦性の優れた研磨ができると共に、研磨パッドの押し
付け部の摩耗を大幅に軽減できる。従って、従来のよう
にガイドリングの摩耗による位置調整を行う必要が無く
なる。
【0041】請求項3に記載の発明によれば、配列さ
れた複数の押圧ローラーを介して研磨パッドを設定圧力
により押圧して、該研磨パッドの表面形状を任意に調整
することができるので、平坦性の優れた研磨ができると
共に、研磨パッドの押し付け部の摩耗を殆ど無くするこ
とができる。従って、従来のようにガイドリングの摩耗
による位置調整を行う必要が無くなる。
【0042】請求項4に記載の発明によれば、複数の
エアーノズルから噴射される高圧のエアーを介して研磨
パッドを押圧して、該研磨パッドの表面形状を任意に調
整することができるので、平坦性の優れた研磨ができる
と共に、研磨パッドの押し付け部の摩耗を殆ど無くする
ことができる。従って、従来のようにガイドリングの摩
耗による位置調整を行う必要が無くなる。
【0043】また、各請求項に記載の発明によれば、
従来のように研磨パッド面のコンディショニングにドレ
ッサ等を用いて研磨パッド面の削り取りを行わなくと
も、研磨パッド面のコンディショニングができるので、
研磨パッドの寿命が大幅に向上することが期待できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のポリッシング装置の定盤とトップリン
グと押し込み装置部分を示す平面図である。
【図2】図1のA−A断面図である。
【図3】本発明のポリッシング装置の定盤とトップリン
グと押し込み装置部分を示す平面図である。
【図4】図3のB−B断面図である。
【図5】図3のB−B断面図である。
【図6】本発明のポリッシング装置の定盤とトップリン
グと押し込み装置部分を示す平面図である。
【図7】図7(a)は図6の押し込み装置の平面図、図
7(b)は押し込み装置の正面図、図7(c)は押し込
み装置の側面図である。
【図8】本発明のポリッシング装置の定盤とトップリン
グと押し込み装置部分を示す平面図である。
【図9】図9(a)は図8の押し込み装置の平面図、図
9(b)は押し込み装置の正面図、図9(c)は押し込
み装置の側面図である。
【図10】本発明のポリッシング装置に用いる押し込み
装置の構成を示す平面図である。
【符号の説明】
1 定盤 2 研磨パッド 3 トップリング 4 被研磨基板 5 押し込み装置 6 シリンダ 7 プレス子 8 シート 10 押し込み装置 11 シリンダ部 12 押圧ローラー 13 ローラー支持枠 14 パッド形状測定装置 15 変位センサ 16 転動ローラー 17 制御器 18 変位センサ 20 押し込み装置 21 エアーノズル 22 電磁弁部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 廣川 一人 神奈川県藤沢市本藤沢4丁目2番1号 株 式会社荏原総合研究所内 (72)発明者 松尾 尚典 神奈川県藤沢市本藤沢4丁目2番1号 株 式会社荏原総合研究所内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 定盤に張付けた研磨パッドに、トップリ
    ングに保持された被研磨基板を押し付け、該研磨パッド
    と被研磨基板の相対運動により該被研磨基板の被研磨面
    を研磨するように構成したポリッシング装置において、 配列された複数の押圧手段を具備し、該複数の押圧手段
    はそれぞれシリンダにより押し付け圧力を設定できるよ
    うになっており、該押圧手段により前記研磨パッドを前
    記設定圧力により押圧して、該研磨パッドの表面形状を
    調整することができるように構成したことを特徴とする
    ポリッシング装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のポリッシング装置にお
    いて、 前記複数の押圧手段はそれぞれプレス子を具備し、配列
    した複数の該プレス子の下端に張付けたシートを設け、
    各該プレス子はそれぞれシリンダにより押し付け圧力を
    設定できるようになっており、各該プレス子により該シ
    ートを介して前記研磨パッドを該設定圧力により押圧し
    て、該研磨パッドの表面形状を調整することができるよ
    うに構成したことを特徴とするポリッシング装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載のポリッシング装置にお
    いて、 前記複数の押圧手段はそれぞれ押圧ローラーを具備し、
    該押圧ローラーはそれぞれシリンダにより押し付け圧力
    を設定できるようになっており、各該押圧ローラーによ
    り前記研磨パッドを該設定圧力により押圧して、該研磨
    パッドの表面形状を調整することができるように構成し
    たことを特徴とするポリッシング装置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載のポリッシング装置にお
    いて、 前記複数の押圧手段はそれぞれエアーノズルを具備し、
    各該エアーノズルはそれぞれ高圧のエアーを研磨パッド
    面に噴射すると共に該噴射圧力を設定できるようになっ
    ており、各該エアーノズルから噴射するエアーにより前
    記研磨パッドを該設定圧力により押圧して、該研磨パッ
    ドの表面形状を調整することができるように構成したこ
    とを特徴とするポリッシング装置。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれか1に記載のポ
    リッシング装置において、 前記押圧手段又はプレス子又は押圧ローラー又はエアー
    ノズルによる前記研磨パッドの表面形状の調整は前記被
    研磨基板の研磨加工中に行うように構成し、該研磨パッ
    ドの性状を研磨加工中に変化させないことを特徴とする
    ポリッシング装置。
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