JP2000021733A - 基板加熱装置 - Google Patents

基板加熱装置

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JP2000021733A
JP2000021733A JP18798198A JP18798198A JP2000021733A JP 2000021733 A JP2000021733 A JP 2000021733A JP 18798198 A JP18798198 A JP 18798198A JP 18798198 A JP18798198 A JP 18798198A JP 2000021733 A JP2000021733 A JP 2000021733A
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Japan
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substrate
heat
heat treatment
heating
heating plate
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JP18798198A
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English (en)
Inventor
Masao Tsuji
雅夫 辻
Kazushi Shigemori
和士 茂森
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板に対して所望の加熱処理を行うことがで
き、しかも製品品質の安定化を図り、歩留りの低下を抑
制することができる基板加熱装置を提供する。 【解決手段】 基板Sを支持して加熱する加熱プレート
1と、該加熱プレート1の上面を覆うように配置された
天板部31を有し、前記加熱プレート1とともに熱処理
室2を形成するベークカバー30とを備えた基板加熱装
置である。前記ベークカバー30の少なくとも前記天板
部31は高熱伝導率を有する高熱伝導層33が熱処理室
2内に面して設けられている。該高熱伝導層33の外側
に前記高熱伝導率よりも低い熱伝導率を有する保温層3
5が積層形成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ、液
晶表示装置用あるいはフォトマスク用のガラス基板など
の基板の表面にフォトレジスト、SOG材やドーパント
材のようなシリカ系被膜形成用塗布液などの塗布液を塗
布した後に基板を加熱処理したり、化学増幅型レジスト
が塗布された基板を露光後にベーク処理したり、あるい
は現像後に基板を加熱処理したりする場合に使用される
基板加熱装置に関する。
【0002】
【従来の技術】基板に対して複数の処理を順次施す半導
体製造装置等の基板処理装置は、例えば図6に示すよう
に、複数枚の基板Sを収納するカセットCが載置された
載置台109と、処理しようとする基板Sを1枚ずつ取
り出して搬出するとともに、すべての処理を終えた基板
Sを再びカセットC内に搬入する搬出搬入アーム101
を備えたインデクサ部102と、基板Sを回転させつつ
その表面にフォトレジストなどの塗布液を供給してレジ
スト膜を形成するスピンコータ103やレジスト膜にパ
タンを露光した後の基板を回転させつつ現像液などを供
給して現像処理を行うスピンデベロッパ104を備えた
成膜処理部105と、複数の基板加熱装置や複数の基板
冷却装置を備えた熱処理部106と、前記インデクサ部
102、前記成膜処理部105および前記熱処理部10
6との間で基板Sを搬送アーム107によって保持して
移送する基板搬送ロボット108とを備えている。
【0003】前記熱処理部106の基板加熱装置では、
レジスト膜が形成された基板を加熱処理したり、露光後
の基板を露光後ベーク(PEB)処理したりする加熱処
理が行われる。一方、前記熱処理部106の基板冷却装
置では加熱処理された基板に対し冷却処理が行われる。
【0004】前記基板加熱装置は、図5に示すように、
基板Sを支持して基板Sを加熱するための加熱プレート
1と、該加熱プレート1に対して昇降自在に設けられ、
基板Sの処理時に加熱プレート側に降下して熱処理室2
を形成し、その熱処理室2内部に基板Sを収容するベー
クカバー3とを備えている。前記加熱プレート1やベー
クカバー3は、通常、筐体5の中に収められる。なお、
基板Sは加熱プレート1の上面に直接載置されることに
より加熱プレート1に支持されるほか、加熱プレート1
の上面に該上面からわずかに突出する、少なくとも3個
の球状凸部を設け、これらの上端部に基板Sを載置する
ことにより、加熱プレート1の上面からわずかに離間し
た状態で加熱プレート1に支持される。
【0005】前記加熱プレート1には、少なくとも3本
のリフトピン9が同速度で昇降自在に設けられており、
リフトピン9の昇降動作によりリフトピン9の上端部が
加熱プレート1の基板支持面から出没する。なお、基板
支持面は、基板Sを加熱プレート1の上面に直接載置す
る場合には加熱プレート1の上面を、加熱プレート1の
上面に前記球状凸部を設けた場合にはこれらの上端部に
よって基板Sが支持される面を意味する。
【0006】基板Sを基板加熱装置に搬入して加熱処理
するには、リフトピン9の上端を基板支持面から上方に
上昇させるとともに、ベークカバー3を上昇させ、筐体
5の側壁に開設された開口部6を開閉するシャッタ7を
開く。そして、基板Sを保持した搬送ロボット108の
搬送アーム107を前記開口部6より加熱プレート1側
に進入させ、リフトピン9の上部にて下降させる。これ
により、搬送アーム107の上に載置されていた基板S
は各リフトピン9の上端部に移載される。その後、搬送
アーム107を後退させ、リフトピン9を基板支持面の
下方に下降させて基板Sを加熱プレート1に支持させる
とともに、ベークカバー3を加熱プレート1側に下降さ
せて熱処理室2を形成する。一方、筐体5の開口部6に
設けられたシャッタ7は、搬送アーム107が開口部6
から外側に退出した後、閉じられる。
【0007】基板加熱装置においては、加熱プレート1
からの輻射熱が加熱プレート1上に支持された基板Sに
伝達することにより、基板Sに対して加熱処理が行われ
る。また、熱処理室2内の空気は加熱プレート1からの
輻射熱により熱せられて上昇するが、加熱空気の上昇は
加熱プレート1の上方に位置するベークカバー3によっ
て遮られて加熱プレート1の上方に滞留し、加熱雰囲気
を形成する。この加熱雰囲気によっても加熱プレート上
に支持された基板Sは加熱処理される。
【0008】熱処理室2から処理済の基板Sを基板加熱
装置外へ搬出するには、各リフトピン9をその上端が基
板支持面よりも上方となるように上昇させ、その上端で
基板Sを支持するとともに、ベークカバー3を上昇さ
せ、筐体5の側壁に開設された開口部6を開閉するシャ
ッタ7を開く。そして、搬送ロボット108の搬送アー
ム107を前記開口部6よりリフトピン9によって支持
された基板Sの直下に進入させ、リフトピン9を下降し
て搬送アーム107に基板Sを載置した後、搬送アーム
107を加熱処理装置外に退出させ、筐体5のシャッタ
7を閉じる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来、前記熱処理室2
を形成するベークカバー3は、例えばステンレスやアル
ミニウムなどの単一の材質で形成されていた。前記ベー
クカバー3をアルミニウムなどの高い熱伝導率を有する
材質で形成すると、加熱プレート1からの輻射熱が加熱
プレート1の上面を覆うベークカバー3の各部に速やか
に伝導し、ベークカバー3の中央部付近と周辺部付近と
の温度差が小さくなる。そのため、加熱プレート1から
の輻射熱により熱せられた空気が基板Sとベークカバー
3との間で均一な温度分布で滞留する。しかし、熱処理
室2内における基板Sの加熱処理中に熱処理室2内から
高い熱伝導率を有するベークカバー3を伝って熱処理室
2の外部に放熱される熱量が多くなるため、熱処理室2
内の温度が低下し、基板Sを所望の温度で処理すること
が困難になるという問題がある。
【0010】一方、前記ベークカバー3をステンレスな
どの低い熱伝導率を有する材質で形成すると、熱処理室
2内の保温性が向上するため熱処理室2内の温度低下は
防止することができるが、加熱プレート1からの輻射熱
により熱せられた空気によってベークカバー3の中央部
付近が周辺部付近よりも熱せられて、中央部の温度が周
辺部に比して高い温度勾配がベークカバー3の大きな領
域に渡って形成される。このため、加熱プレート1から
の輻射熱によって熱せられた空気がベークカバー3の中
央部から周辺部へと向かうとともに、加熱プレート1の
上面近傍においては加熱プレート1の周辺部から中央部
へと向かう空気の対流が生じるようになる。その結果、
加熱プレート1に支持された基板Sが空気の対流に曝さ
れつつ加熱されるため、基板面内において温度のばらつ
きが発生し、基板の品質にばらつきが生じるという問題
がある。
【0011】このように加熱プレート1とともに熱処理
室2を形成するベークカバー3を単一の材質により形成
すると、基板Sに対して所望の加熱処理を行うことがで
きず、また製品の品質にばらつきが生じたり、歩留りが
低下する。本発明はかかる問題に鑑みなされたもので、
基板に対して所望の加熱処理を行うことができ、しかも
製品品質の安定化を図り、歩留りの低下を抑制すること
ができる基板加熱装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明の基
板加熱装置は、基板を支持して加熱する加熱プレート
と、該加熱プレートの上面を覆うように配置された天板
部を有し、前記加熱プレートとともに熱処理室を形成す
るベークカバーとを備えた基板加熱装置であって、前記
ベークカバーの少なくとも前記天板部は高熱伝導率を有
する高熱伝導層が熱処理室内に面して設けられ、該高熱
伝導層の外側に前記高熱伝導率よりも低い熱伝導率を有
する保温層が積層形成されたものである。
【0013】この基板加熱装置によると、加熱プレート
の上面を覆うように配置されたベークカバーの天板部は
熱処理室に面して高熱伝導率を有する高熱伝導層が設け
られているので、熱処理室内において加熱プレートから
の輻射熱によって天板部の高熱伝導層は速やかに均一温
度に加熱され、前記高熱伝導層はほぼ均一な温度分布が
得られるため、熱処理室内における空気の対流が抑制さ
れ、加熱プレートからの輻射熱によって熱せられた空気
が加熱プレートの中央域と天板部の中央域との間で均一
に滞留するようになる。従って、加熱プレートの中央域
で基板を支持することにより、基板に対して均一な加熱
処理を行うことが可能になる。また、天板部の高熱伝導
層の外側はこの高熱伝導層の熱伝導率と比べて相対的に
熱伝導率の低い保温層が積層形成されているので、基板
に対する加熱処理中に熱処理室内の熱が表面積の大きな
天板部を伝って熱処理室の外部に放熱されることが抑制
されるため、熱処理室内における温度の低下も抑制され
る。その結果、基板を所望の温度で処理することが可能
となり、製品の品質が安定し、歩留まりも向上する。
【0014】また、請求項2に係る発明の基板加熱装置
は、請求項1に記載された基板加熱装置において、前記
保温層が断熱材により形成されたものである。
【0015】この基板加熱装置によると、保温層が熱伝
導率の非常に低い断熱材で形成されているため、基板に
対する加熱処理中に熱処理室内の熱が熱処理室の外部に
放熱されることをより一層防止できる。このため、熱処
理室内における温度低下をより一層防止することがで
き、熱処理室内における温度の維持が促進される。その
結果、基板に対する所望の熱処理をより安定的に行うこ
とができ、製品の品質の安定性、歩留まりがより一層向
上する。
【0016】また、請求項3にかかる発明の基板加熱装
置は、基板を支持して加熱する加熱プレートと、該加熱
プレートの上面を覆うように配置された天板部を有し、
前記加熱プレートとともに熱処理室を形成するベークカ
バーとを備えた基板加熱装置であって、前記ベークカバ
ーの少なくとも前記天板部は断熱材により形成された保
温層が熱処理室内に面して設けられたものである。
【0017】この基板加熱装置によると、加熱プレート
の上面を覆うように配置されたベークカバーの天板部は
断熱材により形成された保温層が熱処理室内に面して設
けられているので、熱処理室内において加熱プレートか
らの輻射熱が天板部にはほとんど伝わらず、天板部の中
央部付近と周辺部付近とで温度差がほとんど生じない。
したがって、熱処理室内における空気の対流が抑制さ
れ、加熱プレートからの輻射熱によって熱せられた空気
が加熱プレートの中央域とベークカバーの天板部の中央
域との間で均一に滞留するようになる。従って、加熱プ
レートの中央域で基板を支持することにより、基板に対
して均一な熱処理を行うことが可能になる。また、基板
に対する加熱処理中に熱処理室内の熱が表面積の大きな
天板部を伝って熱処理室の外部に放熱されにくいため、
熱処理室内における温度低下も抑制される。その結果、
基板を所望の温度で処理することが可能となり、製品の
品質が安定し、歩留まりも向上する。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明に係る
基板加熱装置の実施形態について説明するが、ベークカ
バー以外の構成および各部の動作は図5で示した従来の
基板加熱装置と同様であるので、同様の構成は同符号を
付すこととし、それらの説明を省略する。
【0019】図1は本発明の実施形態にかかる基板加熱
装置であり、基板Sを支持して加熱する加熱プレート1
と、前記加熱プレート1とともに熱処理室2を形成する
ベークカバー30とを備えており、前記ベークカバー3
0は加熱プレート1の上面に対向し、これを覆うように
配置された天板部31と、該天板部31の周縁から下方
に延設された周側部32とで構成されている。なお、図
1においては、基板加熱装置の筐体は記載省略されてい
る。
【0020】前記天板部31および前記周側部32の内
面部分すなわち熱処理室2の内面に面した部分には、熱
伝導率の大きな高熱伝導材で形成された高熱伝導層3
3,34が設けられ、その外側には前記高熱伝導層3
3,34の熱伝導率よりも低い熱伝導率を有する低熱伝
導材や断熱材で形成された保温層35,36が積層形成
されている。
【0021】前記高熱伝導材としては、例えばアルミニ
ウムなどの熱伝導率が200(W/(m・K))以上の
金属材が好適に使用され、前記低熱伝導材としては、熱
伝導率が高熱伝導材の1/2未満のものがよく、例えば
ステンレス鋼などの熱伝導率が100(W/(m・
K))未満の金属材が好適に使用される。また、前記断
熱材としては、熱伝導率が1(W/(m・K))未満の
各種材料、例えば基板の加熱処理温度で軟化しない合成
樹脂、ゴム又はこれらの発泡材(発泡ポリテトラフルオ
ロエチレン、発泡シリコンゴムなど)が使用される。合
成樹脂の内では、ポリテトラフルオロエチレンは耐熱
性、化学的安定性に優れ、またフェノール樹脂やメラミ
ン樹脂等の熱硬化性合成樹脂は強度が大きく、耐熱性に
も優れるため好適である。なお、前記高熱伝導材、低熱
伝導材、断熱材は後述のベークカバーの他の実施形態に
おいて本実施形態と同様に高熱伝導層、保温層を形成す
る。また、高熱伝導層33,34の内表面には、熱伝導
の作用を実質的に妨げない範囲で、耐食性や耐摩耗性等
を向上させるために適宜材料により保護被膜を形成して
もよい。例えば、高熱伝導層33,34をアルミニウム
により形成する場合、その表面にアルマイト皮膜を形成
することができる。
【0022】前記基板加熱装置では、ベークカバー30
の天板部31および周側部32の内面部分が高熱伝導層
33,34で形成されているため、熱処理室2内におい
て加熱プレート1からの輻射熱が高熱伝導層33,34
に速やかに伝わり、高熱伝導層33,34を均一温度に
加熱する。このため、ベークカバー1の内面の各部にお
いて均一な温度分布が得られ、加熱プレート1に支持さ
れた基板Sとベークカバー30との間で加熱プレート1
からの輻射熱によって熱せられた空気が対流することな
く、基板Sとベークカバー30との間で均一に滞留する
ようになり、基板Sに対して均一な加熱処理を行うこと
が可能となる。
【0023】また、前記高熱伝導層33,34の外側に
は保温層35,36が積層形成されているので、基板S
に対する加熱処理中に熱処理室2内の熱がベークカバー
30を伝って熱処理室2の外部に放熱されることが抑制
されるため、熱処理室2内における温度の低下も抑制さ
れる。特に、保温層35,36を断熱材で形成すること
により、外部への放熱はより一層防止され、熱処理室2
内の温度の維持が促進される。その結果、基板Sを所望
の温度で加熱処理することが可能となり、製品の品質が
安定し、歩留まりも向上する。
【0024】図2はベークカバーの他の実施形態を示す
断面図であり、この形態ではベークカバー30Aの天板
部31Aおよび周側部32Aの内側から外側に高熱伝導
層33A,34A、保温層35A,36Aおよび外皮層
37A,38Aが同順序で積層形成されている。前記外
皮層37A,38Aは、特に保温層35A,36Aが軟
質の断熱材で形成された場合に保温層35A,36Aの
外表面を保護するためのものであり、適宜の金属材、好
ましくはステンレス鋼等の耐食性の良好な金属材により
形成される。かかる3層構造を採る場合、中間に配置さ
れる保温層35A,36Aは、有形の断熱材で形成する
ほか、空気等の気体層、あるいは真空層とすることもで
きる。
【0025】図3はベークカバーの他の実施形態を示す
断面図であり、この形態ではベークカバー30Bの天板
部31Bは高熱伝導層33Bおよび保温層35Bが積層
形成されているが、周側部32Bは前記高熱伝導層33
Bが延設された帯状部材によって形成されている。かか
る構成によっても、天板部31Bの高熱伝導層33Bお
よび周側部32Bは加熱プレート1からの輻射熱が速や
かに伝達され、均一温度になるため、熱処理室2内には
空気の対流が生じず、加熱空気の滞留により、加熱プレ
ート1上に支持された基板Sに対して均一な加熱処理を
行うことができる。もっとも、周側部32Bは天板部3
1Bに比して熱が外部に放熱されやすくなるが、周側部
32Bは天板部31Bに比して加熱プレート1からの輻
射熱による影響を受けにくく、また表面積も小さいた
め、天板部31Bでの放熱に比して放熱量も少ないの
で、基板Sの加熱処理に際して温度低下はほとんど問題
とならない。なお、前記周側部32Bをステンレス鋼の
ような低熱伝導部材で形成した場合には、天板部31B
の高熱伝導層33Bに比して周側部32Bの温度が低下
するが、温度勾配は周側部32Bの近傍において生じる
ため、空気の対流が生じても局所的であり、加熱プレー
ト1の中央域と天板部31Bの中央域との間では空気の
対流はほとんど生じず、加熱空気が滞留する。このた
め、図1に示すように、基板Sを加熱プレート1の中央
域で支持することにより、基板Sに所望の熱処理を施す
ことができる。
【0026】図4はベークカバーの他の実施形態を示す
断面図であり、この形態ではベークカバー30Cの天板
部31Cおよび周側部32Cの内面部分には断熱材で形
成された保温層35C,36Cが設けられ、その外側に
該保温層35C,36Cを保護したり、保形する外皮層
37C,38Cが形成されている。かかる構成の場合、
保温層35C,36Cは加熱プレート1からの輻射熱に
よる加熱の影響をほとんど受けず、ほぼ均一な温度に維
持されるため、熱処理室2内には空気の対流が生じず、
加熱空気の滞留により、加熱プレート1上に支持された
基板に対して均一な熱処理を行うことができる。この場
合においても、周側部32Cには保温層36Cは必ずし
も必要ではなく、天板部31Cのみに保温層35Cを形
成してもよい。また、断熱材として、例えば熱硬化性合
成樹脂のような強度を有するものを用いる場合、外皮層
37C,38Cは必ずしも必要でない。
【0027】
【発明の効果】本発明の基板加熱装置によれば、熱処理
室内での空気の対流が抑制されて加熱空気の滞留が促進
され、またベークカバーの外部への放熱が抑制されるた
め、加熱プレートで支持された基板に対して所望の加熱
処理を行うことができ、製品の品質の安定性、歩留まり
の向上に資することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態にかかる基板加熱装置の要部断面側面
図である。
【図2】高熱伝導層、保温層および外皮層が積層された
3層構造のベークカバーの断面図である。
【図3】天板部のみに高熱伝導層および保温層が積層さ
れたベークカバーの断面図である。
【図4】内面部分が断熱材によって形成された保温層を
備えたベークカバーの断面図である。
【図5】従来の基板加熱装置の一例を示す要部断面図で
ある。
【図6】基板処理装置の一例を示す全体斜視図である。
【符号の説明】
1 加熱プレート 30,30A,30B,30C ベークカバー 31,31A,31B,31C 天板部 33,33A,33B 高熱伝導層 35,35A,35B,35C 保温層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 茂森 和士 京都府京都市伏見区羽束師古川町322番地 大日本スクリーン製造株式会社洛西事業 所内 Fターム(参考) 2H096 AA24 AA25 AA27 DA01 GB00 GB03 HA01 5F046 KA04

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を支持して加熱する加熱プレート
    と、該加熱プレートの上面を覆うように配置された天板
    部を有し、前記加熱プレートとともに熱処理室を形成す
    るベークカバーとを備えた基板加熱装置であって、 前記ベークカバーの少なくとも前記天板部は高熱伝導率
    を有する高熱伝導層が熱処理室内に面して設けられ、該
    高熱伝導層の外側に前記高熱伝導率よりも低い熱伝導率
    を有する保温層が積層形成された基板加熱装置。
  2. 【請求項2】 前記保温層は断熱材により形成された請
    求項1に記載された基板加熱装置。
  3. 【請求項3】 基板を支持して加熱する加熱プレート
    と、該加熱プレートの上面を覆うように配置された天板
    部を有し、前記加熱プレートとともに熱処理室を形成す
    るベークカバーとを備えた基板加熱装置であって、 前記ベークカバーの少なくとも前記天板部は断熱材によ
    り形成された保温層が熱処理室内に面して設けられた基
    板加熱装置。
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