JP2000021690A - アルミニウム電解コンデンサ及びその製造方法並びにアルミニウム電解コンデンサ用電極箔及びその製造方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】安全性を向上させると共に長寿命化を図る。 【解決手段】ステップＳ2 の第１乃至第３化成工程によ
って、アルミニウム箔には化成皮膜が形成される。次に
ステップＳ3 の減極処理によって化成皮膜の欠陥を除去
する。ステップＳ7 の熱処理工程では、温度が４００°
Ｃ〜６６０°Ｃの温度範囲で３０分以上の時間熱処理を
行う。これにより、残存する欠陥を確実に暴露して、エ
ージング工程による欠陥の除去を確実なものにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、アルミニウム電解
コンデンサ及びその製造方法並びにアルミニウム電解コ
ンデンサ用電極箔及びその製造方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、比較的低価格で大容量のコンデン
サとして、アルミニウム電解コンデンサが用いられてい
る。アルミニウム電解コンデンサは、陽極金属として、
エッチングにより表面積を拡大されたアルミニウム箔を
用い、陽極酸化によって陽極に形成されるアルミニウム
の酸化皮膜（化成被膜）を誘電体として用いたものであ
る。このアルミニウム電解コンデンサは、過電圧が印加
されると、漏れ電流が急激に増大し、発熱及びガス発生
による内圧上昇によって、寿命が短くなったり破壊され
たりすることがある。アルミニウム電解コンデンサの長
寿命化及び高信頼性化には、化成皮膜の安定性が重要で
ある。

【０００３】図８はこのようなアルミニウム電解コンデ
ンサに用いられる電極箔（陽極箔）の製造方法を示すフ
ローチャートである。

【０００４】図８のステップＳ1 では、所定の前処理が
行われ、次にステップＳ2 の１段乃至複数段の化成工程
において、化成皮膜が形成される。これらの化成工程に
おいては、弱酸性水溶液中においてアルミニウム箔を電
気化学的に陽極酸化（化成）することによって、酸化ア
ルミニウムの皮膜を形成する。

【０００５】形成された皮膜は、結晶化に伴う体積収縮
等により内部に割れやボイド等の多くの欠陥を有してい
る。このため、このままでアルミニウム電解コンデンサ
に使用すると、コンデンサの耐圧が急激に低下する等の
不具合が発生することがある。

【０００６】この理由から、次のステップＳ3 において
減極処理が行われる。減極処理は、化成皮膜の内部の欠
陥を意図的に露出させるためのものである。減極処理工
程においては、化成された箔をリン酸等の酸やアンモニ
ア水等のアルカリ水溶液中に浸漬して皮膜を一部溶解さ
せる方法等が採用される。

【０００７】次に、ステップＳ4 において再化成工程が
行われる。減極処理工程において欠陥が露出されてお
り、再度化成を行うことによって、欠陥が少ない化成皮
膜を生成することができる。

【０００８】次に、ステップＳ5 において、洗浄工程が
行われ、次いで乾燥工程（ステップＳ6 ）が行われる。
こうして、生成されたアルミニウム電解コンデンサ用陽
極箔は、ステップＳ8 において、ロール状に巻取られ
て、製品として出荷される。

【０００９】一般的には、連続装置を用いて上述した各
工程を行うことによって、量産を可能にしている。これ
により、アルミニウム電解コンデンサ用電極箔のコスト
ダウンが図られる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たステップＳ3 の減極処理では、化成皮膜中の水分及び
欠陥部を完全に除去することができない。このため、コ
ンデンサの長時間使用時において、欠陥が成長して電解
液に暴露されてしまい、絶縁皮膜の形成に伴う電流が欠
陥部へ流れて漏れ電流が増大すると共に、水素ガス発生
量も増大する。

【００１１】その結果、アルミニウム電解コンデンサ素
子を収納する収納用金属ケースに設けられた安全弁（以
下、防爆弁という）が作動（弁作動）して、破壊されて
しまう。また、過電圧が印加された場合には、欠陥部近
傍に過大な電流が流れ、ショートしたり、ひいては発火
に至ることもあるという問題点があった。

【００１２】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、水分を除去すると共に欠陥部を確実に暴露
することができるアルミニウム電解コンデンサ用電極箔
を製造することができるアルミニウム電解コンデンサ用
電極箔の製造方法を提供することを目的とする。

【００１３】また、本発明は、水分を除去すると共に欠
陥部を確実に暴露したアルミニウム電解コンデンサ用電
極箔を用いることにより、長寿命で信頼性が高いアルミ
ニウム電解コンデンサを製造することができるアルミニ
ウム電解コンデンサの製造方法を提供することを目的と
する。

【００１４】また、本発明は、水分を含まず且つ欠陥部
が確実に暴露されたアルミニウム電解コンデンサ用電極
箔を提供することを目的とする。

【００１５】また、本発明は、水分を含まず且つ欠陥部
が確実に暴露された電極箔を用いることにより、ガス発
生を減少させて長寿命化を図ると共に、過電圧印加時の
電流を低減し正常に弁作動させることにより信頼性を向
上させることができるアルミニウム電解コンデンサを提
供することを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に係る
アルミニウム電解コンデンサの製造方法は、コンデンサ
素子として利用するために、アルミニウム電解コンデン
サ用化成箔を熱処理する工程と、熱処理されたアルミニ
ウム電解コンデンサ用化成箔を用いてコンデンサ素子を
作成する工程と、電解液を前記コンデンサ素子に含浸し
ケース内に収納して組み付ける工程と、前記コンデンサ
素子をエージングする工程とを具備したものであり、本
発明の請求項２に係るアルミニウム電解コンデンサ用電
極箔の製造方法は、アルミニウム箔に対する少なくとも
１回以上の化成処理によって化成皮膜を形成する化成工
程と、初回の前記化成処理以後において前記アルミニウ
ム箔に温度が４００°Ｃ以上６６０°Ｃ未満で３０分以
上の時間熱処理を施す工程とを具備したものであり、本
発明の請求項３に係るアルミニウム電解コンデンサ用電
極箔は、アルミニウム箔と、前記アルミニウム箔に対す
る少なくとも１回以上の化成処理によって形成された化
成被膜とを具備し、前記アルミニウム箔及び化成皮膜
は、初回の前記化成処理以後において温度が４００°Ｃ
以上６６０°Ｃ未満で３０分以上の時間熱処理が施され
たものであり、本発明の請求項４に係るアルミニウム電
解コンデンサは、少なくとも１回以上の化成処理によっ
て化成被膜が形成されたアルミニウム箔による化成箔で
あって、初回の前記化成処理以後において温度が４００
°Ｃ以上６６０°Ｃ未満で３０分以上の時間熱処理が施
された化成箔によって構成されたコンデンサ素子と、前
記コンデンサ素子に含浸される電解液と、前記コンデン
サ素子を収納するケースとを具備したものである。

【００１７】本発明の請求項１においては、熱処理を施
す工程によって、化成箔には温度が４００°Ｃ以上６６
０°Ｃ未満で３０分以上の時間熱処理が施される。これ
により、化成皮膜に残存する欠陥は確実に暴露される。
暴露された欠陥は、エージング工程によって確実に除去
される。

【００１８】本発明の請求項２においては、熱処理を施
す工程によって、アルミニウム箔には温度が４００°Ｃ
以上６６０°Ｃ未満で３０分以上の時間熱処理が施され
る。これにより、アルミニウム箔に形成された化成皮膜
に残存する欠陥は確実に暴露される。

【００１９】本発明の請求項３において、アルミニウム
箔及び化成皮膜には温度が４００°Ｃ以上６６０°Ｃ未
満で３０分以上の時間熱処理が施されている。従って、
化成皮膜に残存する欠陥は確実に暴露されている。

【００２０】本発明の請求項４において、化成箔には温
度が４００°Ｃ以上６６０°Ｃ未満で３０分以上の時間
熱処理が施されている。従って、化成皮膜に残存する欠
陥は熱処理時に暴露され、エージング処理時に除去され
ている。従って、耐電圧特性に優れ過電圧印加時におけ
る漏れ電流は低い。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について詳細に説明する。図１は本発明に係る
アルミニウム電解コンデンサ用電極箔の製造方法の一実
施の形態を示すフローチャートである。

【００２２】本実施の形態は従来の製造方法に対して温
度が４００°Ｃ〜６６０°Ｃで且つ３０分以上の時間の
熱処理を行う工程を付加したものである。この熱処理工
程は、第１化成工程以降であれば、いつ行ってもよい。
図１では、コンデンサ素子巻き取り工程の前に行う例を
示している。

【００２３】ステップＳ1 においては、アルミニウム箔
の洗浄等の所定の前処理が行われる。次に、ステップＳ
2 において、第１乃至第３化成工程が行われる。第１乃
至第３化成工程においては、弱酸性水溶液中でアルミニ
ウム箔を電気化学的に陽極酸化（化成）することによっ
て酸化アルミニウムの皮膜を形成する。この工程は下記
の化学式によって示される。

【００２４】 この皮膜がアルミニウム電解コンデンサの陽極誘電体を
構成する。実際の皮膜は、水分を多量に含有する疑似ベ
ーマイトＡｌＯ・ＯＨ等が陽極酸化中に脱水・結晶化し
つつ水分の少ない酸化アルミニウムを生成して形成され
るようになっている。

【００２５】次に、ステップＳ3 において減極処理が行
われ、ステップＳ4 において再化成処理が行われる。減
極処理及び再生化成工程では、リン酸等の酸やアンモニ
ア水等のアルカリ水溶液中に浸漬して皮膜を一部溶解さ
せ、欠陥部を露出させた後再化成を行う方法が採用され
る。

【００２６】次のステップＳ5 では洗浄処理が行われ
る。次いで、ステップＳ6 において乾燥処理が行われ
る。

【００２７】本実施の形態においては、次のステップＳ
7 において空気雰囲気中における熱処理を行うようにな
っている。この熱処理工程は、空気雰囲気中だけでな
く、窒素及びアルゴン等の不活性ガス雰囲気中でも可能
であり、更に、真空雰囲気中で行うことも可能である
が、空気中で実施することが最も経済的である。

【００２８】本実施の形態においては、熱処理工程とし
て、４００°Ｃ〜６６０°Ｃ（アルミニウムの融点）の
温度範囲で、３０分以上の時間熱処理を行うようになっ
ている。

【００２９】次のステップＳ8 においては、生成された
電極箔をコンデンサ素子として巻取るようになってい
る。

【００３０】次に、このように構成された実施の形態の
作用について説明する。

【００３１】先ず、ステップＳ1 において所定の前処理
を行う。例えば、前処理工程では、エッチングした高純
度アルミニウム箔を高温純水に浸漬し、水和皮膜を形成
する。次に、ステップＳ2 において、アルミニウム箔を
弱酸性水溶液中で電気化学的に陽極酸化させる。これに
より、アルミニウム電解コンデンサの誘電体が形成され
る。生成された酸化皮膜は、結晶化に伴う体積収縮等に
よって、内部に欠陥を有する。

【００３２】次のステップＳ3 ，Ｓ4 の減極及び再化成
処理によって、酸化皮膜の内部欠陥を除去する。しかし
ながら、これらの減極及び再化成処理では、内部欠陥の
除去には不十分である。

【００３３】次のステップＳ5 において洗浄処理を行
い、ステップＳ6 において乾燥処理を行う。

【００３４】本実施の形態においては、次のステップＳ
7 において熱処理を行う。この熱処理工程では、例え
ば、５００°Ｃ等の高温度の空気雰囲気中において３０
分以上の時間熱処理を行う。なお、熱処理工程における
熱処理温度としては、約４００°Ｃ〜６６０°Ｃの範囲
内の温度に設定する。この熱処理工程によって、酸化皮
膜に残存する欠陥が確実に暴露される。

【００３５】最後に、ステップＳ8 において生成された
アルミニウム酸化皮膜をコンデンサ素子として巻取って
アルミニウム電解コンデンサ用電極箔を得る。

【００３６】このように、本実施の形態においては、４
００°Ｃ〜６６０°Ｃの温度範囲で３０分以上の時間の
熱処理工程を設けていることから、酸化皮膜に残存する
欠陥を確実に暴露することができる。これにより、この
アルミニウム電解コンデンサ用電極箔を用いてアルミニ
ウム電解コンデンサを製造する場合において、その製造
工程中のエージング工程において、欠陥を確実に修復す
ることが可能となる。化成皮膜中の残存水分も確実に除
去することができ、信頼性が高く高耐電圧のものを製造
することができる。

【００３７】なお、図１においては、熱処理工程をコン
デンサ素子巻き取り工程の前の工程で行ったが、第１化
成工程以降のいずれのタイミングで行ってもよい。例え
ば、第１乃至第３化成工程の後に行ってもよい。この場
合においても、減極処理は必要であるが、減極処理及び
再化成によって確実な欠陥の除去が可能である。

【００３８】図２は本発明の一実施の形態に係るアルミ
ニウム電解コンデンサの製造方法を示すフローチャート
である。また、図３は図２の製造方法によって製造した
アルミニウム電解コンデンサを示す側面透過図である。
なお、図３のアルミニウム電解コンデンサは、図１の製
造方法によって製造したアルミニウム電解コンデンサ用
電極箔を用いて、図２の熱処理工程を省略した製造方法
によって構成することができることは明らかである。ま
た、図４は図３のアルミニウム電解コンデンサを底面側
から見た底面図である。

【００３９】本実施の形態は図８に示す製造方法によっ
て製造された従来のアルミニウム電解コンデンサ用電極
箔、即ち、流通されている市販のアルミニウム電解コン
デンサ用電極箔を用いてアルミニウム電解コンデンサを
製造するものである。

【００４０】ステップＳ11はスリット工程である。市販
されている従来のアルミニウム電解コンデンサ用電極箔
を、アルミニウム電解コンデンサ素子として必要な幅、
例えば３７ｍｍ幅にスリットする。

【００４１】次に、ステップＳ12は、スリットした電極
箔を熱処理する工程である。この熱処理工程において
は、図１のステップＳ7 と同様に、例えば、５００°Ｃ
等の高温度の空気雰囲気中において３０分以上の時間熱
処理を行う。熱処理温度は、約４００°Ｃ〜６６０°Ｃ
であればよく、また、熱処理は、窒素及びアルゴン等の
不活性ガス雰囲気中並びに真空雰囲気中で行ってもよ
い。この熱処理工程によって、残存する欠陥は確実に箔
表面に暴露される。

【００４２】ステップＳ13は、コンデンサ素子作成工程
である。この工程では、熱処理した電極箔を陽極箔と
し、この電極箔と陰極箔としての導電性金属とをセパレ
ータを介在させて巻回する。

【００４３】次のステップＳ14は、コンデンサ素子に電
解液を含浸する工程である。次のステップＳ15は電解液
が含浸されたコンデンサ素子をアルミニウムケースに収
納して組み付ける工程である。

【００４４】次のステップＳ16はエージング工程であ
る。エージング工程においては、例えば、１００°Ｃ等
の温度で、所定の電圧を印加することによって、化成を
行う。ステップＳ12の熱処理工程によって電極箔の欠陥
が暴露されているので、このエージング工程によって欠
陥は確実に除去される。

【００４５】この製造方法によれば、スリット工程の次
に熱処理工程が行われる。熱処理工程によって、市販さ
れている電極箔に残存した欠陥は確実に暴露される。更
に、エージング工程によって、暴露された欠陥は確実に
除去される。

【００４６】図４は完成したアルミニウム電解コンデン
サを示している。

【００４７】図４において、円筒形状の金属ケース１の
内部には、コンデンサ素子１が収納されている。コンデ
ンサ素子１は、図２のステップＳ12の熱処理後の電極箔
である。なお、コンデンサ素子１として、図１の製造方
法によるアルミニウム電解コンデンサ用電極箔を陽極箔
とし、この陽極箔に対向させて導電性金属よりなる陰極
箔を設け、これらの陽極箔及び陰極箔の間にセパレータ
を介在させて巻回したものを用いてもよい。陽極箔に形
成された酸化皮膜を誘電体とする。

【００４８】金属ケース２内に収納されたコンデンサ素
子１には電解液が含浸されている。金属ケース２は上面
が開口している。金属ケース２の上面には、開口部を封
口するための封口板４が設けられており、封口板４には
コンデンサ素子１と電気的に接続された外部端子３が取
り付けられる。

【００４９】一方、金属ケース２の底面には、コンデン
サ内圧力が増大した際にガスを外部に放出させるため
に、底面に浅い切り込みを施して防爆弁６を構成してい
る。

【００５０】また、金属ケース２の外表面は、外部端子
３近傍及び防爆弁６の部分を除いて、塩化ビニール又は
ポリエステル等からなる絶縁スリープ５によって被覆さ
れている。

【００５１】このように構成されたアルミニウム電解コ
ンデンサにおいては、コンデンサ素子１は熱処理工程に
よって欠陥が暴露された電極箔を用いて構成されてお
り、化成皮膜中の残存水分も確実に除去されて結晶化度
が高いので、耐電圧特性に優れている。従って、過電圧
印加時における漏れ電流を低減することができ、ショー
ト及び発火を防止して確実に防爆弁を弁作動させ、従来
にない高信頼性のアルミニウム電解コンデンサを得るこ
とができる。また、化成皮膜はエージング工程によって
微細な欠陥まで確実に除去されているので、ガス発生量
を低減し長寿命化を図ることもできる。

【００５２】なお、図１の製造方法で製造したアルミニ
ウム電解コンデンサ用電極箔を用いてアルミニウム電解
コンデンサを製造した場合にも、同様の効果が得られる
ことは明らかである。

【００５３】

【実施例１】図２の製造方法によって製造したアルミニ
ウム電解コンデンサについて、箔特性、初期コンデンサ
特性、弁作動時間及び過電圧特性を測定した結果を図５
乃至図７の図表１乃至３に示す。

【００５４】即ち、図８の従来の製造方法によって製造
したアルミニウム電解コンデンサ用電極箔（以下、高圧
化成箔ともいう）（市販されている高圧化成箔）に対し
て、熱処理を行う。熱処理工程前の試料は、５８０Ｖに
よる化成が行われた高圧化成箔を３７ｍｍ幅にスリット
したものである。この高圧化成箔を電気炉の空気雰囲気
中において５００°Ｃで１時間熱処理を行う。

【００５５】こうして製造された高圧化成箔（以下、実
施例１の高圧化成箔という）について、箔容量及び上昇
電圧を測定すると共に、５８０Ｖの電圧を印加した場合
の漏れ電流を測定する。測定結果は、箔容量が０．６２
８μＦ／平方センチメートルで、上昇電圧は５８５Ｖ、
漏れ電流は６５０μＡであった。

【００５６】更に、実施例１の高圧化成箔を用いて、定
格電圧が４００Ｖで容量が５６０μＦの基板自立型のコ
ンデンサ（以下、実施例１のコンデンサという）を組立
し、エージングを行って初期特性を測定した。実施例１
のコンデンサの容量は、５７１μＦであり、Ｔａｎδは
４．８％であり、漏れ電流は８０μＡであった。

【００５７】また、実施例１のコンデンサの寿命試験を
行った。寿命試験は実施例１のコンデンサを同一条件で
１０個組立して、これらについて行った。寿命試験の設
定条件は、使用温度が１０５°Ｃであり、４００Ｖの直
流電圧を印加した状態で、防爆弁が作動するまでの時間
（弁作動時間）を５０００時間以内で計測した。この結
果、２個のコンデンサが４０００時間までに弁作動し、
残りの８個中の３個のコンデンサが５０００時間までに
弁作動し、他の５個のコンデンサは５０００時間までに
は弁作動しなかった。

【００５８】更に、実施例１のコンデンサと同一条件で
組立した１０個のコンデンサについて、夫々５９０Ｖの
直流電圧を印加して過電圧試験を行った。この結果、８
個のコンデンサの弁作動は正常であり、２個のコンデン
サはショートした。なお、発火したコンデンサは無かっ
た。

【００５９】

【実施例２】本実施例は図２のステップＳ12における熱
処理工程の熱処理時間のみが実施例１と異なる。即ち、
図８の従来の製造方法によって製造した高圧化成箔に対
して、熱処理を行う。熱処理工程前の試料は、５８０Ｖ
による化成が行われた高圧化成箔を３７ｍｍ幅にスリッ
トしたものである。この高圧化成箔を電気炉の空気雰囲
気中において５００°Ｃで１５時間熱処理を行う。

【００６０】こうして製造された高圧化成箔（以下、実
施例２の高圧化成箔という）について、実施例１と同一
の条件で箔特性を求めると共に、実施例１と同一の条件
でコンデンサ（以下、実施例２のコンデンサという）を
組立して、初期特性の測定、寿命試験及び過電圧試験を
行った。

【００６１】これらの試験結果は、図５乃至図７の図表
１乃至３に示してある。

【００６２】

【実施例３】本実施例は図２のステップＳ12における熱
処理工程の熱処理温度のみが実施例２と異なる。即ち、
図８の従来の製造方法によって製造した高圧化成箔に対
して、熱処理を行う。熱処理工程前の試料は、５８０Ｖ
による化成が行われた高圧化成箔を３７ｍｍ幅にスリッ
トしたものである。この高圧化成箔を電気炉の空気雰囲
気中において５５０°Ｃで１５時間熱処理を行う。

【００６３】こうして製造された高圧化成箔（以下、実
施例３の高圧化成箔という）について、実施例２と同一
の条件で箔特性を求めると共に、実施例２と同一の条件
でコンデンサ（以下、実施例３のコンデンサという）を
組立して、初期特性の測定、寿命試験及び過電圧試験を
行った。

【００６４】これらの試験結果は、図５乃至図７の図表
１乃至３に示してある。

【００６５】

【比較例１】本比較例は、図８の従来の製造方法によっ
て製造した高圧化成箔（以下、比較例１の高圧化成箔と
いう）について、実施例１と同一の条件で箔特性を求め
ると共に、実施例１と同一の条件でコンデンサ（以下、
比較例１のコンデンサという）を組立して、初期特性の
測定、寿命試験及び過電圧試験を行った。

【００６６】寿命試験においては、２個のコンデンサが
３０００時間までに弁作動し、残りの８個のコンデンサ
も４０００時間までに弁作動した。また、過電圧試験で
は、正常に弁作動したのは５個のコンデンサのみであ
り、４個のコンデンサはショートし、１個のコンデンサ
は発火した。

【００６７】これらの試験結果は、図５乃至図７の図表
１乃至３に示してある。

【００６８】

【実施例４】本実施例においても、図８の従来の製造方
法によって製造した化成箔に対して熱処理を行う。熱処
理工程前の試料は、３００Ｖによる化成が行われた化成
箔（以下、中圧化成箔という）を３７ｍｍ幅にスリット
したものである。この中圧化成箔を電気炉の空気雰囲気
中において５００°Ｃで１時間熱処理を行う。

【００６９】こうして製造された中圧化成箔（以下、実
施例４の中圧化成箔という）について、箔容量及び上昇
電圧を測定すると共に、３００Ｖの電圧を印加した場合
の漏れ電流を測定する。測定結果は、箔容量が１．２９
μＦ／平方センチメートルで、上昇電圧は３０５Ｖ、漏
れ電流は６１０μＡであった。

【００７０】更に、実施例４の中圧化成箔を用いて、定
格電圧が２００Ｖで容量が２２００μＦの基板自立型の
コンデンサ（以下、実施例４のコンデンサという）を組
立し、エージングを行って初期特性を測定した。実施例
４のコンデンサの容量は、２２４７μＦであり、Ｔａｎ
δは５．１％であり、漏れ電流は４６μＡであった。

【００７１】また、実施例４のコンデンサの寿命試験を
行った。寿命試験は実施例４のコンデンサを同一条件で
１０個組立して、これらについて行った。寿命試験の設
定条件は、使用温度が１０５°Ｃであり、２００Ｖの直
流電圧を印加した状態で、弁作動時間を５０００時間以
内で計測した。この結果、１個のコンデンサが４０００
時間までに弁作動し、残りの９個中の２個のコンデンサ
が５０００時間までに弁作動し、他の７個のコンデンサ
は５０００時間までには弁作動しなかった。

【００７２】更に、実施例４のコンデンサと同一条件で
組立した１０個のコンデンサについて、夫々３１０Ｖの
直流電圧を印加して過電圧試験を行った。この結果、７
個のコンデンサの弁作動は正常であり、３個のコンデン
サはショートした。なお、発火したコンデンサは無かっ
た。

【００７３】

【実施例５】本実施例は図２のステップＳ12における熱
処理工程の熱処理時間のみが実施例４と異なる。即ち、
図８の従来の製造方法によって製造した中圧化成箔に対
して、熱処理を行う。熱処理工程前の試料は、３００Ｖ
による化成が行われた中圧化成箔を３７ｍｍ幅にスリッ
トしたものである。この中圧化成箔を電気炉の空気雰囲
気中において５００°Ｃで１５時間熱処理を行う。

【００７４】こうして製造された中圧化成箔（以下、実
施例５の中圧化成箔という）について、実施例４と同一
の条件で箔特性を求めると共に、実施例４と同一の条件
でコンデンサ（以下、実施例５のコンデンサという）を
組立して、初期特性の測定、寿命試験及び過電圧試験を
行った。

【００７５】これらの試験結果は、図５乃至図７の図表
１乃至３に示してある。

【００７６】

【実施例６】本実施例は図２のステップＳ12における熱
処理工程の熱処理温度のみが実施例５と異なる。即ち、
図８の従来の製造方法によって製造した中圧化成箔に対
して、熱処理を行う。熱処理工程前の試料は、３００Ｖ
による化成が行われた中圧化成箔を３７ｍｍ幅にスリッ
トしたものである。この中圧化成箔を電気炉の空気雰囲
気中において５５０°Ｃで１５時間熱処理を行う。

【００７７】こうして製造された中圧化成箔（以下、実
施例６の中圧化成箔という）について、実施例５と同一
の条件で箔特性を求めると共に、実施例５と同一の条件
でコンデンサ（以下、実施例６のコンデンサという）を
組立して、初期特性の測定、寿命試験及び過電圧試験を
行った。

【００７８】これらの試験結果は、図５乃至図７の図表
１乃至３に示してある。

【００７９】

【比較例２】本比較例は、図８の従来の製造方法によっ
て製造した中圧化成箔（以下、比較例２の中圧化成箔と
いう）について、実施例４と同一の条件で箔特性を求め
ると共に、実施例４と同一の条件でコンデンサ（以下、
比較例２のコンデンサという）を組立して、初期特性の
測定、寿命試験及び過電圧試験を行った。

【００８０】寿命試験においては、３個のコンデンサが
３０００時間までに弁作動し、残りの７個のコンデンサ
も４０００時間までに弁作動した。また、過電圧試験で
は、正常に弁作動したのは４個のコンデンサのみであ
り、５個のコンデンサはショートし、１個のコンデンサ
は発火した。

【００８１】これらの試験結果は、図５乃至図７の図表
１乃至３に示してある。

【００８２】図５の図表１から明らかなように、熱処理
工程を行うことによって、実質的な容量を低下させるこ
となく、耐電圧を向上させることができ、更に、漏れ電
流も低減させることができる。また、熱処理の程度が高
いほど、耐電圧の向上効果及び漏れ電流の低減効果が高
いことが分かる。

【００８３】図６の図表２から明らかなように、熱処理
工程を行うことによって、容量を低下させることなく、
コンデンサの寿命を長くすることができる。また、熱処
理の程度が高いほど、弁作動に至るまでの時間を遅くす
ることができる。

【００８４】図７の図表３から明らかなように、熱処理
工程を行うことによって、正常に弁作動する確率を高く
することができる。また、熱処理の程度が高いほど、そ
の効果は高い。例えば、実施例２，３で行っている条
件、即ち、温度が５００〜５５０°Ｃで熱処理時間が１
５時間の高圧化成箔を用いたコンデンサでは、全てが正
常に弁作動し、ショート及び発火等の安全上問題となる
現象は発生しなかった。

【００８５】なお、熱処理温度が４００°Ｃよりも低
く、また、時間が３０分未満では、上述したような顕著
な効果は得られなかった。

【００８６】また、熱処理温度が６６０°Ｃ以上では、
アルミニウムの融点になるため、物理的な不都合が発生
し望ましくない。

【００８７】本発明は上記実施の形態に限定されるもの
ではなく、例えば、熱処理の方法としては種々の方法を
採用することができることは明らかである。

【００８８】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、水
分及び欠陥部を確実に除去することができることから、
ガス発生を減少させて長寿命化を図ると共に、過電圧印
加時の電流を低減し正常に弁作動させることによって信
頼性を向上させることができるという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るアルミニウム電解コンデンサ用電
極箔の製造方法の一実施の形態を示すフローチャート。

【図２】本発明に係るアルミニウム電解コンデンサの製
造方法の一実施の形態を示すフローチャート。

【図３】図２の製造方法によって製造したアルミニウム
電解コンデンサを示す側面透過図。

【図４】図３のアルミニウム電解コンデンサを底面側か
ら見た底面図。

【図５】実施例を説明するための図表。

【図６】実施例を説明するための図表。

【図７】実施例を説明するための図表。

【図８】従来のアルミニウム電解コンデンサ用電極箔の
製造方法を示すフローチャート。

【符号の説明】

ステップＳ2 …第１乃至第３化成工程、ステップＳ3 …
減極処理工程、ステップＳ7 …熱処理工程

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コンデンサ素子として利用するために、
   アルミニウム電解コンデンサ用化成箔を熱処理する工程
   と、 熱処理されたアルミニウム電解コンデンサ用化成箔を用
   いてコンデンサ素子を作成する工程と、 電解液を前記コンデンサ素子に含浸しケース内に収納し
   て組み付ける工程と、 前記コンデンサ素子をエージングする工程とを具備した
   ことを特徴とするアルミニウム電解コンデンサの製造方
   法。
2. 【請求項２】 アルミニウム箔に対する少なくとも１回
   以上の化成処理によって化成皮膜を形成する化成工程
   と、 初回の前記化成処理以後において前記アルミニウム箔に
   温度が４００°Ｃ以上６６０°Ｃ未満で３０分以上の時
   間熱処理を施す工程とを具備したことを特徴とするアル
   ミニウム電解コンデンサ用電極箔の製造方法。
3. 【請求項３】 アルミニウム箔と、 前記アルミニウム箔に対する少なくとも１回以上の化成
   処理によって形成された化成被膜とを具備し、 前記アルミニウム箔及び化成皮膜は、初回の前記化成処
   理以後において温度が４００°Ｃ以上６６０°Ｃ未満で
   ３０分以上の時間熱処理が施されたことを特徴とするア
   ルミニウム電解コンデンサ用電極箔。
4. 【請求項４】 少なくとも１回以上の化成処理によって
   化成被膜が形成されたアルミニウム箔による化成箔であ
   って、初回の前記化成処理以後において温度が４００°
   Ｃ以上６６０°Ｃ未満で３０分以上の時間熱処理が施さ
   れた化成箔によって構成されたコンデンサ素子と、 前記コンデンサ素子に含浸される電解液と、 前記コンデンサ素子を収納するケースとを具備したこと
   を特徴とするアルミニウム電解コンデンサ。