JP2000015576A - ラッピングマシンにおける冷却方法 - Google Patents

ラッピングマシンにおける冷却方法

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JP2000015576A
JP2000015576A JP10196516A JP19651698A JP2000015576A JP 2000015576 A JP2000015576 A JP 2000015576A JP 10196516 A JP10196516 A JP 10196516A JP 19651698 A JP19651698 A JP 19651698A JP 2000015576 A JP2000015576 A JP 2000015576A
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JP
Japan
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liquid
lapping
cooling
polishing
small holes
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JP10196516A
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English (en)
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Heiji Takizawa
平治 滝沢
Yasuo Matsumoto
康男 松本
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RAPPU MASTER SFT KK
Original Assignee
RAPPU MASTER SFT KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】超高精度の研磨機能を搭載した現在使用されて
いるラッピングマシンは、マシンのイニシャルコストが
非常に高価なものと成ると共に、高価な純水等を多量に
使用するため、超LSIの1枚あたりの研磨コストが高
価に成っており、超高精度の研磨加工技術の向上とコス
トの低減が必要とされる。 【解決手段】本発明は、ラッピングプレ−トを設けると
共に回転可能に立設させたラッピングテ−ブルと、ワ−
クヘッドを設けると共に回転可能に垂設させたスピンド
ル軸と、ラッピングプレ−トとワ−クヘッドとの間でワ
−クを研磨加工するラッピングマシンにおいて、ラッピ
ングプレ−トを貫通する多数の小孔を穿設し、小孔と連
通した液溜りを設け、液溜りとスラリ−液冷却兼供給装
置と連通させた液供給系を配したものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、超LSI等の
製造工程で基板と成る半導体ウエハであるワ−クを研磨
加工するラッピングマシンにおける冷却方法に関するも
のであり、更に詳細には、ラッピングテ−ブルの研磨加
工面を研磨加工後に冷却する方法に関するものである。
【0002】
【従来技術】特に、本発明に係るこの種の半導体ウエハ
のデバイスは、高密度化、高集積化に伴って、64メガ
バイト以上の超LSI(ULSI)の生産が必要と成っ
てきており、更に、近年では256メガバイト或いは1
ギガバイト等の超LSIの開発も着手されている。
【0003】これ等の半導体デバイスの表面には配線層
(メタル膜)や絶縁層(酸化膜等)或いはポリシリコン
膜(半導体膜)が多層膜として形成されるものであり、
つまり、LSIが一階建てに対して超LSIは二階建
て、三階建てに相当する構造となっている。
【0004】そして、超LSI等の製造過程には、多層
膜の各膜層を平坦化させるために超高精度の平坦面の研
磨加工技術は不可欠な技術と成るものである。
【0005】
【解決しようとする課題】然し乍、これ等の超高精度の
研磨機能を搭載した現在使用されているラッピングマシ
ンは、ラッピングマシンそのもののイニシャルコストが
非常に高価なものと成ると共に、高価な純水等を多量に
使用しており、従って、超LSIの1枚あたりの研磨コ
ストが高くなっており、超LSIのメ−カ−は一枚当た
りの研磨コストを極限まで低減させることが急務と成っ
ており、つまり、超高精度の平坦面の研磨加工技術の向
上と研磨コストの低減は近未来において最も多くの開発
努力が必要とされる分野である。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のラッピングマシ
ンにおける冷却方法が用いるラッピングマシンは、ラッ
ピングプレ−トを設けると共に回転可能に立設させたラ
ッピングテ−ブルと、ワ−クヘッドを設けると共に回転
可能に垂設させたスピンドル軸と、ラッピングプレ−ト
とワ−クヘッドとの間でワ−クを研磨加工するラッピン
グマシンにおいて、ラッピングプレ−トを貫通する多数
の小孔を穿設し、小孔と連通した液溜りを設け、液溜り
とスラリ−液冷却兼供給装置と連通させた液供給系を配
したものである。
【0007】従って、本発明の目的は、ワ−クである半
導体ウエハの研磨加工時に発生する摩擦熱による昇温を
研磨制度を落すことなく冷却させ、超LSIを製造する
過程の研磨装置のイニシャルコストを低減させて1枚当
たりでの研磨コストをダウンさせることを目的とするも
のである。
【0008】
【作用】本発明のラッピングマシンにおける冷却方法
は、ワ−クの研磨後にスラリ−液冷却兼供給装置を駆動
させ、スラリ−液を液供給系を経て液溜りに供給し、更
に、スラリ−液の供給を続けることによって液溜りが満
たされ、液溜りより多数の小孔へスラリ−液が流入し、
ラッピングプレ−トを貫通させた多数の小孔よりスラリ
−液を噴出させてラッピングテ−ブルを冷却させるもの
である。
【0009】
【実施例】次いで、本発明のラッピングマシンにおける
冷却方法を実施例の図面によって説明する。
【0010】図1は本発明のラッピングマシンにおける
冷却方法の実施例に用いるラッピングマシンの概要側面
図である。
【0011】本発明は、例えば、超LSI等の製造工程
で基板となる半導体ウエハであるワ−クWを研磨加工す
るラッピングマシンにおける冷却方法に関するものであ
り、更に詳細には、ラッピングテ−ブル1の研磨加工面
を研磨加工後に冷却する方法に関するものであり、上面
にラッピングプレ−ト1aを設けると共に回転可能に立
設させたラッピングテ−ブル1と、下面にワ−クヘッド
2aを設けると共に回転可能に垂設させたスピンドル軸
2と、前記ラッピングプレ−ト1aと前記ワ−クヘッド
2aとの間でワ−クWを研磨加工するラッピングマシン
において、前記ラッピングプレ−ト1aを貫通する多数
の小孔3を穿設し、該多数の小孔3の下方と連通した液
溜り4を前記ラッピングプレ−ト1aの下方に設け、該
液溜り4とスラリ−液冷却兼供給装置5と連通させた液
供給系6を配し、該スラリ−液冷却兼供給装置5を駆動
させて多数の小孔3からスラリ−液を噴出させてラッピ
ングテ−ブル1を冷却させるものである。
【0012】本発明で研磨加工されるワ−クWとは主と
してシリコン結晶体であるLSI、超LSI等の基板と
なる半導体ウエハであって、該ワ−クWである半導体ウ
エハへは予め両面、又は、片面へ研磨加工を施している
ものである。
【0013】そして、前記ワ−クWの片面へは写真触刻
法、エピタキシャル成長法、アルミ蒸着法等の手段によ
って、絶縁膜、配線層、ポリシリコン膜等を形成してい
るものであり、更に、超LSIではこれ等の工程を繰り
返して積層するものであるが、各層を形成するにあた
り、超高精度の平坦面が要求されるものである。
【0014】即ち、本発明の冷却方法に用いるラッピン
クマシ−ンは、頭1に図示の如く、基板に立設させたラ
ッピングテ−ブル1の上面にラッピングプレ−ト1aを
回転可能に設けているもので、一方の駆動源(図示しな
い)により回転される回転軸に装着されて回転するもの
である。
【0015】そして、前記ラッピングテ−ブル1の上方
にはスピンドル軸2を回転可能に垂設させているもの
で、スピンドル軸2の下面にはワ−クヘッド2aを設け
ており、スピンドル軸3の上方は回転コラム(図示しな
い)に担持されており、前記ラッピングプレ−ト1aの
回転と逆方向に回転するもので、他方の駆動源(図示し
ない)により回転される回転軸に装着されて回転するも
のである。
【0016】更に、前記ワ−クヘッド2aはチャック機
構と成っており、ワ−クWである半導体ウエハを吸着、
或いは、水貼り等の手段によってチャックして、スピン
ドル軸2の降下と回転、及び、ラッピングテ−ブル1の
回転によりラッピングプレ−ト1aの上面とワ−クヘッ
ド2aの下面戸の間でワ−クWを研磨加工するものであ
る。
【0017】そして、研磨加工後にはスピンドル軸2は
上昇するものであるが、研磨加工による摩擦熱によって
ラッピングプレ−ト1aの温度は上昇しているものであ
り、次のワ−クWの研磨加工において、熱膨張によるラ
ッピングプレ−ト1aに僅かな歪が生じるもので、僅か
な歪でも後の研磨加工の精度に影響を与えるため、冷却
が必要であり、従来高価な純水を流すことによって冷却
していたが、純水は高価なものであり研磨コストの上昇
に繋がるものである。
【0018】本発明のラッピングマシンにおける冷却方
法では、ワ−クWの研磨面と成るラッピングプレ−ト1
aに多数の小孔3を穿設しているものであり、小孔3の
サイズは後述するスラリ−液が噴出できる程度のサイズ
で構わないものであり、その数もラッピングプレ−トが
速やかに冷却できる程度の数であり、特に限定はしない
ものである。
【0019】そして、図1に図示する如く、ラッピング
プレ−ト2aの下方に一定空間の液溜り4を設けている
もので、該液溜り4の上方と前記夫々の小孔3の下方と
は連通しているものである。
【0020】次に、スラリ−液冷却兼供給装置5はスラ
リ−液を回収してポンプ等(図示しない)の動力により
供給すると共に、冷却手段(図示しない)を内装してス
ラリ−液を冷却するものであり、スラリ−液は研磨剤、
純水、研磨屑等から成り、研磨加工時に排出される液で
あり、従来はラッピングマシンの外に排出され破棄され
ていたものである。
【0021】そして、液供給系6はラッピングテ−ブル
1を貫通して液溜り4に連通させており、更に、ラッピ
ングテ−ブル1の外とスラリ−液冷却兼供給装置5との
間は、配管又はホ−ス等で連通させるものである。
【0022】本発明のラッピングマシンにおける冷却方
法では、このスラリ−液を回収して、冷却するために使
用するものであり、スラリ−液冷却兼供給装置5ではス
ラリ−液を回収して、冷却し、更に、液供給系6を経て
液溜り4にスラリ−液を供給し、次いで、液溜り4と連
通させ多数の、小孔3からスラリ−液を噴出させてラッ
ピングプレ−ト1aを冷却させるもので、加えて、液溜
り4を流通するスラリ−液によってラッピングプレ−ト
1aは下方からも冷却されるものである。
【0023】尚、スラリ−液には純水の他、研磨剤、研
磨屑等を含んでいるものであるが、ラッピングプレ−ト
1aの冷却のみに使用するため悪影響を及ぼす可能性は
無いものであるが、スラリ−液冷却兼供給装置5におい
て下方に沈殿する固形物はできるだけ排除して冷却に用
いることが望ましいものである。
【0024】
【発明の効果】本発明のラッピングプレ−トにおける冷
却方法は、研磨加工後のラッピングプレ−トの冷却にス
ラリ−液を再利用するため、加工精度に影響を与えるこ
と無く、高価な純水に掛かる費用を削減でき、研磨装置
のイニシャルコストを低減することができ、従って、超
LSIの1枚当たりの研磨コストの低減を図れるもので
あり、実用的で、極めて有意義な効果を奏する発明であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明のラッピングマシンにおける冷却
方法の実施例に用いるラッピングマシンの概要側面図で
ある。
【符号の説明】
W ワ−ク 1 ラッピングテ−ブル 1a ラッピングプレ−ト 2 スピンドル軸 2a ラッピングテ−ブル 3 小孔 4 液溜り 5 スラリ−液冷却兼供給装置 6 液供給系

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】上面にラッピングプレ−トを設けると共に
    回転可能に立設させたラッピングテ−ブルと、下面にワ
    −クヘッドを設けると共に回転可能に垂設させたスピン
    ドル軸と、前記ラッピングプレ−トと前記ワ−クヘッド
    との間でワ−クを研磨加工するラッピングマシンにおい
    て、前記ラッピングプレ−トを貫通する多数の小孔を穿
    設し、該多数の小孔の下方と連通した液溜りを前記ラッ
    ピングプレ−トの下方に設け、該液溜りとスラリ−液冷
    却兼供給装置と連通させた液供給系を配し、該スラリ−
    液冷却兼供給装置を駆動させて多数の小孔からスラリ−
    液を噴出させてラッピングテ−ブルを冷却させることを
    特徴とするラッピングマシンにおける冷却方法。
JP10196516A 1998-06-29 1998-06-29 ラッピングマシンにおける冷却方法 Pending JP2000015576A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101659039B (zh) * 2008-08-27 2011-09-07 郑勇阁 一种磨床冷却结构
US10486283B2 (en) * 2012-02-29 2019-11-26 Sae Magnetics (H.K.) Ltd. Manufacturing method of a slider
CN116967883A (zh) * 2023-09-21 2023-10-31 江苏缪斯光电科技有限公司 一种瞄准镜用镜片的打磨抛光装置

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