JP2000015189A - ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法 - Google Patents

ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法

Info

Publication number
JP2000015189A
JP2000015189A JP10182517A JP18251798A JP2000015189A JP 2000015189 A JP2000015189 A JP 2000015189A JP 10182517 A JP10182517 A JP 10182517A JP 18251798 A JP18251798 A JP 18251798A JP 2000015189 A JP2000015189 A JP 2000015189A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning
brush
cleaned
semiconductor wafer
sponge brush
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10182517A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4268239B2 (ja
Inventor
Harumichi Hirose
治道 広瀬
Shizuo Kabaya
静雄 蒲谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Mechatronics Corp filed Critical Shibaura Mechatronics Corp
Priority to JP18251798A priority Critical patent/JP4268239B2/ja
Publication of JP2000015189A publication Critical patent/JP2000015189A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4268239B2 publication Critical patent/JP4268239B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning In General (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 この発明は被洗浄物をスポンジブラシで洗浄
する際、このスポンジブラシと被洗浄物とその相対速度
の変化を少なくして洗浄効果を高めることができるよう
にしたブラシ洗浄装置を提供することにある。 【解決手段】 回転駆動されるスポンジブラシ31aに
よって回転駆動される半導体ウエハ22を洗浄するブラ
シ洗浄装置において、上記半導体ウエハを保持して回転
駆動する回転チャック11と、回転駆動される上記スポ
ンジブラシを上記半導体ウエハの径方向に沿って移動さ
せる揺動機構32と、上記スポンジブラシを上記揺動機
構による移動方向に対して所定の角度で傾斜させて保持
する揺動アーム33とを具備したことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体ウエハや液
晶ガラス基板などの被洗浄物を洗浄ブラシを用いて洗浄
するブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置や液晶製造装置などにお
いては、被洗浄物としての半導体ウエハやガラス基板に
回路パタ−ンを形成するリソグラフィプロセスがある。
このリソグラフィプロセスは、周知のように上記被洗浄
物にレジストを塗布し、このレジストに回路パタ−ンが
形成されたマスクを介して光を照射し、ついでレジスト
の光が照射されない部分(あるいは光が照射された部
分)を除去し、除去された部分をエッチングするなどの
一連の工程を数十回繰り返すことで回路パタ−ンを形成
するものである。
【0003】上記一連の各工程において、上記被洗浄物
が汚染されていると回路パタ−ンを精密に形成すること
ができなくなり、不良品の発生原因となる。したがっ
て、それぞれの工程で回路パタ−ンを形成する際には、
レジストや塵埃などの微粒子が残留しない清浄な状態に
上記被洗浄物を洗浄するということが行われている。
【0004】上記被洗浄物を洗浄する装置としては、複
数枚の半導体ウエハを洗浄液が収容された洗浄タンク内
に漬けて洗浄するバッチ方式と、1枚の被洗浄物を回転
させ、その被洗浄物に対して洗浄液を噴射させて洗浄す
る枚葉方式とがあり、被洗浄物の大型化にともない洗浄
効果の高い枚葉方式が用いられる傾向にある。
【0005】枚葉方式の洗浄処理装置には被洗浄物を回
転させながら洗浄するスピン洗浄方式があり、このスピ
ン洗浄方式において、洗浄効果をより一層高めるために
は、回転駆動される被洗浄物の上面に洗浄ブラシとして
のスポンジブラシを接触させ、その接触部分に洗浄液を
供給して洗浄するということが知られている。
【0006】従来、スポンジブラシを用いた洗浄装置に
おいては、上記スポンジブラシの回転軸線を上記被洗浄
物の洗浄される板面に対してほぼ垂直にし、スポンジブ
ラシの下端面全体を上記被洗浄物の板面の径方向中心部
に所定の圧力で接触させ、その状態で接触部分に洗浄液
を供給しながら上記スポンジブラシを被洗浄物の径方向
外方へ揺動(移動)させることで洗浄するようにしてい
た。
【0007】ところで、図5に示すように、スポンジブ
ラシSの下面全体を被洗浄物Wの板面に接触させた状態
で、被洗浄物Wを矢印Xで示す反時計方向に回転させ、
スポンジブラシSを矢印Yで示す反時計方向に回転させ
てこのスポンジブラシSを同図に矢印Dで示すように被
洗浄物Wの径方向中心部から外方へ移動させると、上記
スポンジブラシSの移動方向に沿う径方向の一端のA点
側と、他端のB点側とでは、同図に矢印a,bで示すよ
うに被洗浄物Wの回転方向Xに対してB点側は同じ方向
となるものの、A点側は逆方向となる。
【0008】そのため、スポンジブラシSの径方向のA
点側とB点側とでは被洗浄物Wに対する相対速度が大き
く異なるから、その状態でスポンジブラシSを被洗浄物
Wの径方向に移動させて洗浄しても、被洗浄物の全面が
均一に洗浄されず、洗浄むらが生じるということがあっ
た。
【0009】また、スポンジブラシSの下面全体が被洗
浄物Wの板面に接触していると、洗浄時に被洗浄物Wの
板面とスポンジブラシSの下端面との間に入り込んだパ
ーティクルが洗浄液によって排出されにくいため、十分
な洗浄効果が得られないということがあった。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】このように、被洗浄物
と洗浄ブラシとを互いに回転させながら接触させるとと
もに、上記洗浄ブラシを被洗浄物の径方向に移動させて
洗浄する場合、上記スポンジブラシの移動方向の一端側
と他端側とでは被洗浄物に対する相対的な回転方向、つ
まり相対速度が大きく異なる。それによって、洗浄効果
にむらが生じるということがあり、さらには被洗浄物と
洗浄ブラシとの間に入り込んだパーティクルが排出され
にくいため、洗浄効果が低下するなどのことがあった。
【0011】この発明の目的とするところは、被洗浄物
の板面に対して洗浄ブラシを傾斜させて接触させること
で、被洗浄物と洗浄ブラシとの相対速度の変化を小さく
して被洗浄物を洗浄することができ、しかも被洗浄物と
洗浄ブラシとの接触部分にパーティクルが残留しにくい
ようにしたブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法を提供
することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、回転
駆動される洗浄ブラシによって回転駆動される被洗浄物
を洗浄するブラシ洗浄装置において、上記被洗浄物を保
持して回転駆動する保持手段と、回転駆動される上記洗
浄ブラシを上記被洗浄物の径方向に沿って移動させる駆
動手段と、上記洗浄ブラシを上記駆動手段による移動方
向に対して所定の角度で傾斜させて保持する角度調整手
段とを具備したことを特徴とする。
【0013】請求項2の発明は、回転駆動される洗浄ブ
ラシによって回転駆動される被洗浄物を洗浄するブラシ
洗浄方法において、上記洗浄ブラシを上記被洗浄物の径
方向中心部から外方へ移動させて被洗浄物を洗浄する際
に、上記洗浄ブラシを上記移動方向に対して傾斜させる
ことで、この洗浄ブラシの径方向の一端部を上記被洗浄
物に接触させることを特徴とする。
【0014】請求項1と請求項2の発明によれば、洗浄
ブラシが移動方向に対して傾斜した状態でその径方向一
端部を被洗浄物に接触させて洗浄する。そのため、洗浄
ブラシの被洗浄物に接触する部位はこの被洗浄物に対し
て回転方向が一定であるから、相対速度が大きく変化し
て洗浄むらが生じるのを防止できるばかりか、洗浄ブラ
シの下端面の一部分だけが被洗浄物に接触していること
で、被洗浄物と洗浄ブラシとの間からパーティクルが排
出され易くなる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施の形態を
図1乃至図3を参照して説明する。図1はこの発明のブ
ラシ洗浄装置としてのスピン処理装置を示す。このスピ
ン処理装置はスピンカップ1を備えている。このスピン
カップ1は上面が開放した有底状の下カップ1aと、こ
の下カップ1aに対してスライド自在に設けられ周壁の
上端部が径方向内方に向かって傾斜した上カップ1bと
からなり、この上カップ1bは図示しない駆動機構によ
って図に鎖線で示すように下降させることができるよう
になっている。
【0016】上記下カップ1aの底部には、周辺部に複
数の排出管2の一端が接続され、中心部には周囲がフラ
ンジ3によって囲まれた挿通孔4が形成されている。こ
の挿通孔4には支持軸5が挿通されている。この支持軸
5の上部は、スピンカップ1の内部に突出し、下端部
は、上記スピンカップ1の下方に配置されたベ−ス板6
に固定されている。上記排出管2は図示しない気水分離
器を介して吸引ポンプに接続されている。上記排出管2
に洗浄液、ミスト、気体が吸引されると、上記気水分離
器によって水分と気体とが分離され、水分は図示しない
廃液タンクへ排出されるようになっている。
【0017】上記支持軸5には回転チャック11が回転
自在に設けられている。この回転チャック11は、中心
部に通孔12aが穿設された円盤状のベ−ス12を有す
る。このベ−ス12の下面、つまり上記通孔12aと対
応する位置には筒状の支持部13が垂設されている。こ
の支持部13は上記支持軸5に外嵌されていて、上部と
下部とがそれぞれ軸受14によって上記支持軸5に回転
自在に支持されている。
【0018】上記支持部13の下端部の外周面には従動
プ−リ15が設けられている。上記ベ−ス板6にはモ−
タ16が設けられ、このモ−タ16の回転軸16aには
駆動プ−リ17が嵌着されている。この駆動プ−リ17
と上記従動プ−リ15とにはベルト18が張設されてい
る。したがって、上記モ−タ16が作動すれば、上記支
持部13と一体に上記回転チャック11が回転駆動され
るようになっている。
【0019】上記ベ−ス12の上面には周方向に90度
間隔で4本の支柱19が立設されている。各支柱19の
上端部には支持ピン21aと、この支持ピン21aより
も外方で、しかも支持ピン21aよりも背の高い係合ピ
ン21bとが突設されている。
【0020】上記支柱19の上端には、被洗浄物として
たとえば半導体ウエハ22が周辺部の下面を支持ピン2
1aに支持され、外周面を上記係合ピン21bに係合さ
せて着脱可能に保持される。したがって、上記半導体ウ
エハ22は回転チャック11と一体的に回転駆動される
ようなっている。
【0021】上記支持軸5には、上端に支持軸5よりも
大径で、円錐状をなした頭部5aが設けられている。こ
の支持軸5には、先端を上記頭部5aの上面に開口させ
たN2 などの不活性ガスのガス供給路30と、先端を同
じく上記頭部5aの上面にノズル孔32aを介して開口
させた洗浄液供給路30aとが軸方向に沿って形成され
ている。上記ガス供給路30は図示しないガス供給源に
連通し、上記洗浄液供給路は同じく図示しない洗浄液の
供給源に連通している。
【0022】上記ガス供給路30に供給された不活性ガ
スと、上記洗浄液供給路30aに供給された洗浄液は、
それぞれ上記半導体ウエハ22の下面に向かって噴射さ
れるようになっている。
【0023】上記回転チャック11に保持される半導体
ウエハ22の上面側には、この半導体ウエハ22の上面
を洗浄するための洗浄ツ−ル31が配置されている。こ
の洗浄ツ−ル31は、洗浄ブラシとしてのディスク状の
スポンジブラシ31aと、下面にこのスポンジブラシ3
1aが取着された円柱状の取付け部材31bと、この取
付け部材31bを回転駆動する回転軸31dを有する回
転モ−タ31cとから構成されている。
【0024】上記洗浄ツール31は駆動手段としての揺
動機構32によって上記半導体ウエハ22の径方向に沿
って揺動駆動されるようになっている。つまり、揺動機
構32は水平に配置された中空円筒状の揺動ア−ム33
を有する。この揺動ア−ム33の先端部内には洗浄ツ−
ル31の回転モ−タ31cが内蔵されている。この回転
モータ31cの回転軸31dは上記揺動ア−ム33の下
面から突出し、そこには上記スポンジブラシ31aが取
付け部材31bに着脱自在に取り付けられている。
【0025】上記揺動ア−ム33には図示しない洗浄液
の供給源に接続された供給管35が挿通されている。こ
の供給管35の先端部は上記揺動ア−ム33の先端部か
ら下方に向かって導出され、その先端開口は上記スポン
ジブラシ31aの外周面に向けられている。したがっ
て、上記第1の供給管35からは洗浄液がスポンジブラ
シ31aの径方向外方から供給されるようになってい
る。
【0026】上記揺動アーム33は軸線を垂直にした揺
動軸36の上端が連結された基端部33aと、この基端
部33aに対して上記揺動アーム33の軸線方向を中心
として角度調整自在に取り付けられた先端部33bとに
分割され、この先端部33bに上記洗浄ツール31が設
けられている。
【0027】すなわち、上記基端部33aの先端と、上
記先端部33bの後端とには図2に示すようにそれぞれ
フランジ61,62が設けられている。基端部33aの
フランジ61には周方向に180度の間隔で一対のボル
ト63がそのねじ部を先端部33b側に突出させて固着
され、先端部33bのフランジ62には一対の長孔64
が周方向に所定の範囲の角度で形成されている。
【0028】上記一対のボルト63はねじ部が上記長孔
64に挿通され、長孔64から突出したねじ部にはナッ
ト65が螺合されている。したがって、上記ナット65
を緩めれば、上記揺動アーム33の先端部33bを基端
部33aに対して回動させることができ、締め付けれ
ば、所定の角度で固定できるようになっている。
【0029】上記先端部33bは、図3に実線で示すよ
うに洗浄ツール31の軸線を垂直にした傾斜角度0の状
態から同図に鎖線で示す左右方向へ所定の角度、たとえ
ば30度の角度で傾斜させることができるよう、上記長
孔64は周方向に沿う長さが設定されている。つまり、
洗浄ツール31は、上記揺動アーム33を揺動させたと
きの上記半導体ウエハ22の径方向に沿う移動方向に傾
斜させることができるようになっている。
【0030】なお、揺動アーム33を基端部33aと先
端部33bとに分割して洗浄ツール31の角度を調整す
る角度調整手段としたが、揺動アーム33を分割せず、
この揺動アーム33の先端部に上記洗浄ツール31を角
度調整自在に設けることで、角度調整手段を構成するよ
うにしてもよい。
【0031】上記揺動ア−ム33の基端部33aは軸線
を垂直にした揺動軸36の上端に連結されている。この
揺動軸36の下端部は上記ベ−ス板6に形成された通孔
6aからその下方へ突出している。
【0032】上記揺動軸36の下端部は、上下動自在に
設けられた支持体37に回転自在に支持されている。こ
の支持体37は中空箱型状をなしていて、その上部壁に
は上記揺動軸36を挿通するための挿通孔38が形成さ
れ、内部には上記挿通孔38から挿入された揺動軸36
の下端部を回転自在に支持するための軸受39が設けら
れている。揺動軸36の下端は上記軸受39から突出
し、そこには従動プ−リ40が嵌着されている。
【0033】上記支持体37の一側面には一対のガイド
41が上下方向に沿って所定間隔で設けられ、このガイ
ド41はレ−ル43にスライド自在に係合している。こ
のレ−ル43は上記ベ−ス板6の下面に垂設された取付
板42の一側面に上下方向に沿って設けられている。
【0034】上記取付板42には上下駆動源としてのリ
ニアモ−タ44が設けられている。このリニアモ−タ4
4の駆動軸44aは上記支持体37の下端面にブラケッ
ト45を介して連結されている。したがって、リニアモ
−タ44が作動すれば、上記支持体37を介して上記揺
動ア−ム33が上下駆動されるようになっている。
【0035】つまり、揺動ア−ム33が下降すると、上
記スポンジブラシ31aは上記回転チャック11に保持
された半導体ウエハ22の上面に所定の接触距離で接触
し、上カップ1bよりも上方に上昇すると、スポンジブ
ラシ31aとともにスピン処理装置の外方へ揺動可能と
なる。
【0036】上記支持体37の他側には上記リニアモ−
タ44とで駆動手段を構成する揺動駆動部46が設けら
れている。この揺動駆動部46は上記支持体37の他側
面に取付けられた収納ボックス47を有する。この収納
ボックス47の下面にはモ−タ48が設けられている。
このモ−タ48の回転軸48aは上記収納ボックス47
内に突出し、この内部に設けられた減速部49に連結さ
れている。この減速部49の出力軸55には駆動プ−リ
52が嵌着されている。
【0037】上記支持体37と上記収納ボックス47と
の内部空間は開口部53によって連通している。上記開
口部53には、上記駆動プ−リ52と従動プ−リ40と
に張設されたタイミングベルト50が挿通されている。
【0038】したがって、上記モ−タ48が作動して上
記減速部49の出力軸55が正逆方向に駆動されると、
その回転がタイミングベルト50を介して揺動軸36に
伝達されるから、この揺動軸36とともに揺動ア−ム3
3の先端部33bに設けられたスポンジブラシ31aが
半導体ウエハ22の表面を径方向に沿って揺動するよう
になっている。
【0039】上記揺動軸36の揺動駆動、上記揺動ア−
ム33の上下駆動および上記洗浄ツ−ル31の回転駆動
は制御装置54によって制御されるようになっている。
つぎに、上記構成のスピン処理装置によって半導体ウエ
ハ22を洗浄処理するときの工程を説明する。
【0040】まず、揺動アーム33の先端部33bを基
端部33aに対して左右方向、つまり上記揺動アーム3
3の揺動方向に対して所定の角度、たとえば図3におけ
る右方向に30度の角度で傾斜させる。
【0041】スピン処理装置の回転チャック11に半導
体ウエハ22が供給保持したならば、揺動駆動部46の
モ−タ48を作動させて揺動ア−ム33を上記スピン処
理装置の上方の半導体ウエハ22の径方向中心部に揺動
位置決めする。
【0042】ついで、揺動ア−ム33の先端部に設けら
れたスポンジブラシ31aを回転させるとともに供給管
35から洗浄液を噴射させながらリニアモ−タ44を作
動させて揺動ア−ム33を所定距離だけ下降させる。
【0043】それによって、上記スポンジブラシ31a
は、図4に示すように30度の角度で傾斜した状態で回
転チャック11に保持された半導体ウエハ22の径方向
中心部の上面に所定圧で接触するとともに、その接触部
分には上記供給管35から洗浄液が供給される。その状
態で回転チャック11を低速で回転させるとともに、上
記揺動ア−ム33を上記半導体ウエハ22の径方向中心
Oから外方に向かって揺動駆動すれば、スポンジブラシ
31aは、図4に矢印Dで示すように上記半導体ウエハ
22の上面で径方向中心部から外方へ移動するから、こ
の半導体ウエハ2の上面が洗浄されることになる。
【0044】スポンジブラシ31aが半導体ウエハ22
の上面から外れたならば、このスポンジブラシ31aを
上昇させてから半導体ウエハ22の径方向中心部へ戻
し、ついで下降させて接触させたならば、径方向外方へ
移動させるということを繰り返すことで、上記半導体ウ
エハ22をより一層確実に洗浄することができる。
【0045】上記スポンジブラシ31aは半導体ウエハ
22の板面に対して30度の角度で傾斜して移動するこ
とで、図4に示すようにその径方向の一端部だけが弾性
変形して上記半導体ウエハ22の板面に接触する。
【0046】それによって、上記スポンジブラシ31a
の半導体ウエハ22に接触した一端部は、半導体ウエハ
22の全面をほぼ同じ条件、とくに半導体ウエハ22の
回転方向に対して一定の回転方向で接触して洗浄するこ
とになる。
【0047】それによって、スポンジブラシ31aが半
導体ウエハ22の径方向外方へ移動することで、この半
導体ウエハ22の周速度の変化によって相対速度は多少
変化するものの、半導体ウエハ22と、この半導体ウエ
ハ22に接触するスポンジブラシ31aとの相対速度
は、スポンジブラシ31aの下面全体を接触させた図4
のA点とB点のように径方向一端と他端とで大きな差異
が生じるということがなくなる。そのため、半導体ウエ
ハ2を全面にわたってほぼ均一な清浄度で洗浄すること
ができる。
【0048】しかも、上記スポンジブラシ31aは図4
に示すように移動方向Dに対して所定の角度で傾斜して
いるから、その径方向の一端部だけが半導体ウエハ22
の板面に接触する。そのため、このスポンジブラシ31
aによって半導体ウエハ22の上面から除去されたパー
ティクルは、スポンジブラシ31aと半導体ウエハ22
との接触面間に残留しにくい。つまり、これらの接触部
分に供給される洗浄液によって接触部分あるいはスポン
ジブラシ31aから排出除去され易いため、そのことに
よっても洗浄効果を高めることができる。
【0049】なお、上記一実施の形態では被洗浄物とし
て半導体ウエハを挙げたが、半導体ウエハに代わり液晶
用ガラス基板を洗浄する場合にもこの発明を適用するこ
とができる。
【0050】
【発明の効果】請求項1と請求項2の発明によれば、洗
浄ブラシを移動方向に対して傾斜させることで径方向一
端部を被洗浄物に接触させ、その状態で被洗浄物の径方
向中心部から外方へ移動させて被洗浄物を洗浄するよう
にした。
【0051】そのため、洗浄ブラシと被洗浄物との相対
速度が大きく変化するのを防止して被洗浄物を洗浄する
ことができるから、被洗浄物に洗浄むらが生じるのを抑
制することができるばかりか、洗浄ブラシの下端面の径
方向の一端部だけが被洗浄物に接触していることで、被
洗浄物と洗浄ブラシとの間からパーティクルが排出され
易くなるから、これらのことによって被洗浄物の洗浄効
果を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態の全体構成を示す平面
図。
【図2】同じく洗浄アームの基端部と先端部との連結部
分の拡大断面図。
【図3】同じく洗浄ブラシの軸線を傾斜させて半導体ウ
エハに接触させた状態の説明図。
【図4】同じくスポンジブラシを半導体ウエハの上面に
接触させて径方向外方へ移動させるときの説明図。
【図5】同じくスポンジブラシの下面全体を半導体ウエ
ハに接触させた従来の洗浄方向の説明図。
【符号の説明】
11…回転チャック(保持手段) 22…半導体ウエハ(被洗浄物) 31a…スポンジブラシ(洗浄ブラシ) 32…揺動機構(駆動手段)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転駆動される洗浄ブラシによって回転
    駆動される被洗浄物を洗浄するブラシ洗浄装置におい
    て、 上記被洗浄物を保持して回転駆動する保持手段と、 回転駆動される上記洗浄ブラシを上記被洗浄物の径方向
    に沿って移動させる駆動手段と、 上記洗浄ブラシを上記駆動手段による駆動方向に対して
    所定の角度で傾斜させて保持する角度調整手段とを具備
    したことを特徴とするブラシ洗浄装置。
  2. 【請求項2】 回転駆動される洗浄ブラシによって回転
    駆動される被洗浄物を洗浄するブラシ洗浄方法におい
    て、 上記洗浄ブラシを上記被洗浄物の径方向中心部から外方
    へ揺動させて被洗浄物を洗浄する際に、上記洗浄ブラシ
    を上記揺動方向に対して傾斜させることで、この洗浄ブ
    ラシの径方向の一端部を上記被洗浄物に接触させること
    を特徴とするブラシ洗浄方法。
JP18251798A 1998-06-29 1998-06-29 ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法 Expired - Fee Related JP4268239B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18251798A JP4268239B2 (ja) 1998-06-29 1998-06-29 ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18251798A JP4268239B2 (ja) 1998-06-29 1998-06-29 ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000015189A true JP2000015189A (ja) 2000-01-18
JP4268239B2 JP4268239B2 (ja) 2009-05-27

Family

ID=16119694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18251798A Expired - Fee Related JP4268239B2 (ja) 1998-06-29 1998-06-29 ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4268239B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140158160A1 (en) * 2012-12-06 2014-06-12 Ebara Corporation Substrate cleaning apparatus and substrate cleaning method
CN109731820A (zh) * 2019-01-22 2019-05-10 上海提牛机电设备有限公司 一种晶片清洗装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140158160A1 (en) * 2012-12-06 2014-06-12 Ebara Corporation Substrate cleaning apparatus and substrate cleaning method
KR20140073428A (ko) 2012-12-06 2014-06-16 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 기판 세정 장치 및 기판 세정 방법
JP2014132639A (ja) * 2012-12-06 2014-07-17 Ebara Corp 基板洗浄装置及び基板洗浄方法
US9058977B2 (en) 2012-12-06 2015-06-16 Ebara Corporation Substrate cleaning apparatus and substrate cleaning method
TWI611848B (zh) * 2012-12-06 2018-01-21 Ebara Corp 基板洗淨裝置及基板洗淨方法
KR102103321B1 (ko) 2012-12-06 2020-04-22 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 기판 세정 장치 및 기판 세정 방법
CN109731820A (zh) * 2019-01-22 2019-05-10 上海提牛机电设备有限公司 一种晶片清洗装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4268239B2 (ja) 2009-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6793769B2 (en) Substrate processing apparatus
JP4685914B2 (ja) ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法
US20070193607A1 (en) Methods and apparatus for cleaning edges of a substrate
JP3616725B2 (ja) 基板の処理方法及び処理装置
JP4080584B2 (ja) 洗浄処理装置
JP4047406B2 (ja) 洗浄処理装置
JP4268237B2 (ja) ブラシ洗浄装置
JPH10229062A (ja) 基板処理装置
KR101439111B1 (ko) 스핀척 및 이를 구비한 매엽식 세정장치
JP2000015189A (ja) ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法
JP2000070874A (ja) スピン処理装置及びその方法
JP2000252252A (ja) スピン処理用支持ピン及びスピン処理装置
JP2916409B2 (ja) スピン洗浄処理方法およびその装置
JPH1174238A (ja) ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法
JP2875201B2 (ja) 洗浄処理装置およびその方法
JP2001058161A (ja) ブラシ洗浄装置およびブラシ洗浄方法
KR20100059549A (ko) 기판 지지부재, 이를 갖는 기판 처리 장치 및 이를 이용한 기판 처리 방법
JP3810499B2 (ja) スピン洗浄方法およびその装置
JP4955586B2 (ja) 基板洗浄装置および基板洗浄方法
JPH02252238A (ja) 基板の洗浄装置
JP2000334393A (ja) 基板の処理装置及びその方法
JPH11111661A (ja) 基板の洗浄処理方法
KR19990080106A (ko) 반도체 장치의 세정 장비
JPH11238673A (ja) 基板現像装置
KR100609218B1 (ko) 기판상의 불순물 제거 방법 및 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050624

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080220

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080226

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080424

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080916

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081113

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090217

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090220

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120227

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120227

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130227

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130227

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140227

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees