JP2000002645A - 粉粒体処理装置の粒子測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 粒子の分散化が難しい粉粒体処理装置におい
ても信頼性の高い粒子形状情報をリアルタイムで取得す
る。 【解決手段】 造粒容器に対し出入自在に設けられた粉
粒体取出管と、粉粒体取出管内に導入された粉粒体を捕
捉する粘着フィルムと、粉粒体取出管内を減圧吸引して
粉粒体を粘着フィルムに導びく吸引手段と、粉粒体を撮
像する撮像手段と、粉粒体の映像情報を処理する情報処
理手段とを有してなる粒子測定装置を用いる。情報処理
手段は、映像情報に基づき粉粒体粒子に外接する外接四
角形Ｓを想定し、この四角形の相隣る二辺である短辺Ｍ
と長辺Ｎの寸法比を算出する。そして、この比が所定の
基準値以上の場合その粉粒体粒子を粒子形状情報を取得
するための処理対象から除外する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粉粒体処理装置の
粒子測定技術に関し、特に、転動造粒コーティング装置
で処理される粉粒体の粒度や形状等を計測する場合に適
用して有効な技術に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】粉粒体の造粒プロセスにおいては、粒を
作るというその意義から見ても、また、製品に対するプ
ロセスバリデーションのためにも、粒子径を測定し制御
することは他の条件とは比較にならない程重要な項目で
ある。このため各種造粒装置には、粒子径を制御すべ
く、プロセスバリデーション用のセンサとして水分計や
圧力計、電力計等が使用されており、これによって造粒
終点や造粒条件等の管理が行われている。なお、プロセ
スバリデーションとは、一般的には、「あるプロセス
が、予め設定した規格と品質特性に適合した製品を恒常
的に生産するという高度な保証を与える文書化されたプ
ログラム」と定義されており、ＧＭＰ（Good Manufactu
ring Practice ）の観点からも重要な事項である。

【０００３】ところが、このようなセンサによる測定で
は、粒子径を間接的に「推定」できるに過ぎず、その誤
差が大きいという問題がある。また、例えばエタノール
による非水系造粒では水分計は使用できないなど、造粒
方法によっては前記のようなセンサを使用できない場合
もある。さらに、例えば撹拌造粒法における消費電力制
御では過造粒になり易いなど、各造粒法によって特有の
問題点がある。

【０００４】このため、簡便かつ正確に粒度や粒子形状
等（以下、粒度等と略す）をリアルタイムで把握すべ
く、処理容器（造粒容器）内の粉粒体を直接撮像して粒
度等を測定する粒子測定装置も提案されている。この場
合、処理中の粉粒体粒子をいかに分散して個々の粒子を
撮像するかがこの種の装置で最もポイントとなる事項で
ある。例えば、国際公開番号ＷＯ９７／１５８１６号公
報の粒子測定方法では、処理容器に粉粒体取出管を取り
付け、高圧ガス（サンプリングエア）の吹き付けにより
そこに粒子を分散導入し、それを粘着フィルムにより捕
捉、撮像するようにしている。また、処理容器内に設定
された撮像空間内にパージエアを噴出させ、これによっ
て分散化した粒子を三次元的に撮像する方式も提案され
ており、何れも処理中の粉粒体粒子を直接観察できるよ
う工夫されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、球形やそれ
に近い形状の粒子の製造や、このような粒子上にさらに
薬品などの粉末を付着させる粉末コーティングには、従
来より転動造粒コーティング装置と呼ばれる装置が広く
用いられている。この転動造粒コーティング装置は、Ｃ
Ｆ装置とも呼ばれ、処理容器底部に水平円板を配設し、
それを回転させつつその上面を転動運動する核粒子にバ
インダ液やコーティング液をスプレーして造粒、コーテ
ィング処理を行っている。

【０００６】しかしながら、このような転動造粒コーテ
ィング装置において作られる造粒物は、流動層装置等に
比して大きいため、エアの吹き付けにより粒子を個々に
分散させることが難しい。このため、撮像時における粒
子同士の接触が避けられず、正確な粒度等の情報を得ら
れないという問題があった。この場合、粒子の大きさに
閾値を設け所定値以上の大きさの粒子は測定対象外とす
る対応策も考えられる。ところが、造粒初期と終期で粒
径が大きく異なり、造粒初期における接触粒子の径が終
期の造粒物の径よりも小さい場合、測定対象を選別する
ための閾値を設定するのが難しいという問題がある。

【０００７】一方、サンプリングエアやパージエアを強
くすれば粒子の分散性を向上させることも可能である。
ところが、先の粘着フィルム捕捉方式では、サンプリン
グエアを強くすると粒子が高速で粘着フィルムと衝突
し、粒子が粘着フィルムに弾かれてしまいそれを捕捉で
きないという問題が生じた。また、三次元空間での撮像
では、パージエアを強くすると撮像空間内にうまく粒子
が分散せず、撮像距離の問題もあり良好な粒子映像が得
られないという問題があった。

【０００８】本発明の目的は、転動造粒コーティング装
置のような粒子の分散化が難しい粉粒体処理装置におい
ても、信頼性の高い粒子形状情報をリアルタイムで取得
し得る粒子測定方法を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明の粉粒体処理装置
の粒子測定方法は、一方の端部が粉粒体処理装置の処理
容器内に配設された粉粒体取出管と、この粉粒体取出管
内の他方の端部側に配設され処理容器から粉粒体取出管
内に導入された粉粒体を捕捉する粘着フィルムと、粘着
フィルムに捕捉された粉粒体を撮像する撮像手段と、撮
像手段により得られた粉粒体の映像情報を処理する情報
処理手段とを有してなる粒子測定装置を用い、前記情報
処理手段において、撮像手段によって得た映像情報に基
づき粘着フィルムに捕捉された粉粒体粒子についてそれ
に外接する四角形を想定し、この四角形の相隣る二辺の
寸法比を算出する。そして、算出された比が所定の基準
値以上の場合その粉粒体粒子を粒子形状情報を取得する
ための処理の対象から除外することを特徴としている。

【００１０】また、本発明の粉粒体処理装置の粒子測定
方法は、粉粒体処理装置の処理容器に対し出入自在に設
けられ一方の端部が処理容器内に進入可能に配設された
粉粒体取出管と、粉粒体取出管内の他方の端部側に配設
され処理容器から粉粒体取出管内に導入された粉粒体を
捕捉する粘着フィルムと、粉粒体取出管内を減圧吸引し
粉粒体取出管内に存在する粉粒体を粘着フィルム側に導
出する吸引手段と、粘着フィルムに捕捉された粉粒体を
撮像する撮像手段と、撮像手段により得られた粉粒体の
映像情報を処理する情報処理手段とを有してなる粒子測
定装置を用い、前記情報処理手段において、撮像手段に
よって得た映像情報に基づき粘着フィルムに捕捉された
粉粒体粒子についてそれに外接する四角形を想定し、こ
の四角形の相隣る二辺の寸法比を算出する。そして、算
出した比が所定の基準値以上の場合その粉粒体粒子を粒
子形状情報を取得するための処理の対象から除外するこ
とを特徴としている。

【００１１】このような粒子測定方法により、本発明に
おいては、接触粒子が処理対象から除外され、正確な粒
子形状情報を取得することが可能となる。

【００１２】また、本発明の粒子測定方法では、前記情
報処理手段において、前記四角形の一辺が所定の上限値
以上の場合その粉粒体粒子を処理対象から除外するよう
にしても良い。これにより、例えば３個の粉粒体粒子が
接触して前記寸法比が基準値未満となっているような粒
子についても、処理対象から除外することが可能とな
る。従って、前記寸法比のみでは排除しきれない接触粒
子も処理対象から外すことができ、粒子形状情報の精度
をより向上させることが可能となる。

【００１３】さらに、本発明の粒子測定方法では、前記
粉粒体処理装置として転動造粒コーティング装置を採用
することができる。この場合、転動造粒コーティング装
置は、従来、粒子測定装置における粒子測定の際に接触
粒子が生じやすく、前記のような粒子測定装置によるリ
アルタイムでの直接的な粒子形状情報の取得は困難とさ
れていたが、本発明の方法によりその取得が実現した。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。

【００１５】図１は、本発明の粒子測定方法により粒度
等の測定が実施される遠心転動造粒装置の構成を示す説
明図である。なお、この図１では、理解を容易にするた
め構成の一部を断面にて示している。

【００１６】本発明による粒子測定装置１は、遠心転動
造粒装置（粉粒体処理装置）２の造粒容器（処理容器）
３の側壁４に取り付けられており、造粒容器３内で転動
している粉粒体５を粉粒体取出管１４にてサンプリング
し、その粒度等を粒子画像撮影装置２０によってリアル
タイムで測定するようになっている。

【００１７】ここで、遠心転動造粒装置２は、造粒容器
３内に回転円板６を設け、その回転により回転円板６上
の粉粒体を造粒処理する装置である。この遠心転動造粒
装置２は、遠心転動造粒法を用いて造粒とコーティング
を行ういわゆる遠心転動造粒コーティング装置であり、
造粒容器３の側壁４と回転円板６との間にスリット７が
形成されている。そして、このスリット７を介してエア
チャンバー８からスリットエアー９を供給しつつ造粒処
理が行われる。また、造粒容器３内には、スプレーノズ
ル１０から液体を噴霧できると共に、粉末散布装置１１
からも粉末１２を散布できるようになっている。

【００１８】一方、粒子測定装置１には、内部に粉粒体
導入通路１３を有する円筒状の粉粒体取出管１４が設け
られている。この粉粒体取出管１４は、造粒容器３に対
し挿脱自在、すなわち挿入と脱抜が自由に行えるような
状態で、粉粒体取出管１４の端部が回転円板６よりやや
上方に来るように取り付けられている。なお、粉粒体取
出管１４と側壁４との間は、造粒容器３内の粉粒体が流
出しないように図示しないシール構造となっている。

【００１９】また、造粒容器３の外部にはエアシリンダ
１５が設けられており、その作動アーム１６が粉粒体取
出管１４に取り付けられている。これにより、エアシリ
ンダ１５を駆動すると粉粒体取出管１４が図１の矢印方
向に移動し、その先端部が側壁４から出没するようにな
っている。図１では、粉粒体取出管１４を後退させた状
態を示しており、エアシリンダ１５を作動させることに
より、粉粒体取出管１４は、図１に一点鎖線に示したよ
うに、その先端部が粉粒体５内に進入する。

【００２０】粉粒体取出管１４の一方の端部１４ａに
は、側方に向かって開口した粉粒体導入口１７が形成さ
れており、内部の粉粒体導入通路１３と連通している。
このため、粉粒体取出管１４が造粒容器３内に挿入され
ると、この粉粒体導入口１７が粉粒体５内に進入する。
そして、粉粒体５は粉粒体導入口１７から粉粒体導入通
路１３へと流入する。なお、図１のように粉粒体取出管
１４が造粒容器３内から退却すると、粉粒体導入口１７
は側壁４内に収容される形となり、そこからは粉粒体５
が流入しないようになっている。

【００２１】粉粒体導入通路１３は、粉粒体取出管１４
の他方の端部１４ｂにて開口しており、吸引装置（吸引
手段）１８が取り付けられている。また、吸引装置１８
の後段には、円筒状の接続管１９を介して粒子画像撮影
装置２０が取り付けられている。さらに、接続管１９に
はリターン管３３が設けられており、粒子画像撮影装置
２０に取り込まれなかった粉粒体はこのリターン管３３
を介して造粒容器３内に戻される。なお、粉粒体取出管
１４と吸引装置１８との間には、粉粒体取出管１４の移
動を吸収するベローズ等によって形成された図示しない
自在接続手段が取り付けられている。

【００２２】吸引装置１８は、粉粒体取出管１４内の粉
粒体導入通路１３を減圧吸引する。これにより、粉粒体
導入通路１３に導入された粉粒体５は、この吸引装置１
８によって後段の粒子画像撮影装置２０に送られその画
像が撮像される。

【００２３】図２は、粒子画像撮影装置２０の構成を示
す説明図である。この粒子画像撮影装置２０では、接続
管１９の図１において右端側の端面１９ａに対向して粘
着フィルム２１が配設されるように、接続管１９が装置
カバー３２に固定される。粘着フィルム２１は、透明な
樹脂テープの片面に、同じく透明な粘着材が塗布されて
形成されており、その粘着面が接続管１９の端面１９ａ
と対向するように設けられている。すなわち、吸引装置
１８の真空吸引に伴い粉粒体取出管１４からに送られて
きた粉粒体はここで粘着フィルム２１に捕捉される。

【００２４】この粘着フィルム２１は、ロール状に巻回
されて形成されており、ロール支持部２２に支持され、
粉粒体の測定に合わせて所定長さずつ間欠的に引き出さ
れる。そして、ガイドローラ２３、２３を介して接続管
１９の端面１９ａに沿って移動した後モーターリール２
４によって巻き取られる。この場合、粘着フィルム２１
は、粉粒体の測定時には端面１９ａに密着固定されてお
り、測定終了後に端面１９ａから剥がされ、次回測定に
備えて巻き取られる。そして、未使用部分が端面１９ａ
と対向する位置に移動し再び端面１９ａと密着固定され
る。

【００２５】なお、粘着フィルム２１の密着固定には、
背後から透明または枠状の押板等を押しつける方法や粘
着フィルム２１の張力を利用する方法など種々の方法を
用いることができるが、当該実施の形態１では、フィル
ム押え板２５をエアシリンダ２６によって駆動すること
によって行っている。すなわち、エアシリンダ２６によ
りフィルム押え板２５を粘着フィルム２１の背後に押し
付け、これによって粘着フィルム２１を接続管１９の端
面１９ａに押し付けて密着させている。このため、接続
管１９は、粘着フィルム巻き取り時以外は粘着フィルム
２１により密封状態とされる。

【００２６】粘着フィルム巻き取り長の調整のため、粒
子測定装置１では、ガイドローラ２３の動きを検知する
センサ２７が設けられている。このセンサ２７は、近接
スイッチにより構成されており、ガイドローラ２３に形
成された穴２８の通過を検出するようになっている。従
って、この穴２８の通過数をカウントすることにより、
粘着フィルム２１を受けて回転するガイドローラ２３の
回転数が求めることができ、これによって粘着フィルム
２１の移動量が算出できる。

【００２７】粘着フィルム２１の背後には、粘着フィル
ム２１を照明する環状の蛍光灯２９が、蛍光灯支持部３
０に支持されて設けられている。また、さらにその後に
はＣＣＤカメラ３１（撮像手段）が設置されており、粘
着フィルム２１に付着した粉粒体の様子が撮像される。
なお、蛍光灯支持部３０は、ＣＣＤカメラ３１に蛍光灯
２９の光が直接入ることのないように、ＣＣＤカメラ３
１側の面が遮光された構成となっている。そして、この
撮像データは、情報処理装置であるコントロール部４０
に伝送され、粘着フィルム２１に付着した粉粒体粒子の
粒子径や粒度分布、平均粒子径、球形度等の粒子形状情
報が算出される。

【００２８】図３は、コントロール部４０の構成を示す
ブロック図である。コントロール部４０は、画像処理と
システム全体の制御を行う部分であり制御盤等の形で設
けられる。このコントロール部４０は、図３に示すよう
に、画像処理装置４１とシーケンサ４２およびパネルコ
ンピュータ４３を有した構成となっている。この場合、
画像処理装置４１は、ＣＣＤカメラ３１からの粒子画像
の処理を行う。シーケンサ４２は、センサ２７から測定
データを取得すると共に、ＣＣＤカメラ３１やエアシリ
ンダ１５，２６、吸引装置１８、モーターリール２４等
を制御してサンプリングや撮像動作を行わせる。また、
シーケンサ４２は遠心転動造粒装置２の動作制御をも行
う。さらに、パネルコンピュータ４３は、画像処理装置
４１からのデータを受けて諸演算を行うと共にシーケン
サ４２の制御を行う。

【００２９】加えて、コントロール部４０には画像処理
された粒子像を表示する解析モニタ４４が取り付けられ
ており、粒子計測の状態がチェックできるようになって
いる。また、ＣＣＤカメラ３１からの画像を表示するカ
ラーモニタ４５も取り付けられており、粒子の生画像に
より、その色や形、表面状態が観察できるようになって
いる。なお、その画像を記憶するビデオテープレコーダ
４６も取り付けられている。さらに、解析結果等を印刷
出力するプリンタ４７や、解析結果等、種々のデータを
格納しておく記憶手段としてハードディスク４８をも備
えられている。

【００３０】一方、コントロール部４０では、次のよう
にして粒子径の測定が行われる。すなわち、まず画像処
理装置４１において、ＣＣＤカメラ３１から送られてき
たアナログ画像を例えば５００×５００の２５万画素に
分割し、各画素ごとにその光度に応じて２値デジタル化
を行う。そして、このデータはパネルコンピュータ４３
に送られる。次にパネルコンピュータ４３は、このデー
タに基づき、連続して接するハイレベル画素の面積を粒
子の投影面積と定義し、これと同じ面積の円を想定して
その直径を求め粒子径データとする。そして、この粒子
径データから粒度分布や平均粒子径等の粒子形状情報の
算出処理を行い、さらにその情報に基づき造粒コーティ
ング条件や造粒終点の制御を行う。

【００３１】ところが、パネルコンピュータ４３におけ
る粒子形状情報の算出処理の際、粘着フィルム２１上に
おいて隣り合った粒子同士が接触したりすると、それが
大きな粒子として認識され、正確な粒子形状情報を得ら
れない恐れがある。この場合、前述の粒子測定装置１で
は、エアによる分散化を行うことなく粉粒体をサンプリ
ングしており、また、造粒物も大きいことから、粒子の
接触が多くその影響も無視できない。

【００３２】そこで、本発明においては、映像情報の２
値デジタル化に先立ち、遠心転動造粒装置の造粒物が球
形であることを利用して、接触粒子を処理対象から除外
し正確な粒子形状情報を得るようにしている。すなわ
ち、画像処理装置４１では、図４に示したように、まず
撮像した粉粒体粒子のそれぞれについて外接四角形Ｓを
想定し、その相隣る二辺の寸法比（球形度）を算出す
る。この場合、算出される球形度は、想定した外接四角
形Ｓの短辺を１とした場合の短辺Ｍと長辺Ｎの寸法比を
表しており、粉粒体粒子が真球のとき１となり、真球か
ら外れるに従って１より大きな値となる。従って、この
とき接触のない粒子では造粒物がほぼ球形であることか
ら、図４（ａ）のように球形度は１に近い数値となる。
これに対し接触粒子は外接四角形Ｓの縦横の何れかが長
くなることから、図４（ｂ）のように球形度が１から離
れた数値となる。

【００３３】このため本発明では、この球形度について
所定の基準値を設け、この基準値と算出した球形度とを
比較し、算出した球形度が基準値以上である場合にはそ
の粒子を以後の処理対象から除外する。例えば、基準値
として「１．４」を設定したとすると、前記図４（ａ）
のものは球形度が「１．３」であることから処理対象と
なる。一方、図４（ｂ）は球形度が「１．６」となり処
理対象外となり、粒子径等の測定は行われない。従っ
て、図４（ｂ）のような接触粒子は、以後の処理対象か
ら外され粒子測定精度の向上が図られる。

【００３４】但し、このように閾値を設定しても図５の
ように粒子が接触した場合には、外接四角形Ｓの各辺の
長さがほぼ等しく球形度が「１．１」となり処理対象と
されてしまう。ところが、このような接触粒子は一般
に、図４（ａ）のような非接触粒子に比して粒子径が大
きくなる。このため、例えば粒子径９５０μｍ以上は処
理対象外とするなど、粒子径に上限値を設定すればこれ
を除外することができる。すなわち、前述の処理によっ
て想定した外接四角形Ｓの一辺の寸法が所定の上限値を
超えた場合には、たとえ球形度が基準値以下であっても
処理対象外とする。これにより、図５のような接触粒子
を処理対象から除外することが可能となり、粒子測定精
度をより向上させることができる。なお、微粉を測定し
た場合も粒子径データに影響が出るため、例えば３００
μｍ以下は処理対象外とするなど、粒子径の下限値を設
定してそれを処理対象外にすることも可能である。

【００３５】次に、粒子測定装置１を用いて粉粒体の造
粒制御を行う場合の動作について説明する。粒子測定装
置１ではまず粉粒体５のサンプリングを行い、その粒度
等の測定を行う。次に、この測定値が設定値に達してい
るかどうかを判定する。そして、設定値に達している場
合には造粒を停止し、必要に応じて製品の乾燥や排出を
行う。一方、設定値に達していない場合には造粒動作は
継続され、所定時間間隔でサンプリングが繰り返され
る。

【００３６】ここで、粉粒体５のサンプリングは、粉粒
体取出管１４を造粒容器３内に挿入することによって行
う。すなわち、シーケンサ４２の指令に基づきエアシリ
ンダ１５が駆動され、粉粒体取出管１４が図１において
左方に移動する。このとき、粉粒体取出管１４の粉粒体
導入口１７は、転動する粉粒体５の中に位置しており、
大気圧となっている造粒容器３側から粉粒体取出管１４
内に粉粒体５が流入する。

【００３７】所定時間経過後、粉粒体取出管１４を図１
において右方に移動させ造粒容器３内から退却させる。
粉粒体取出管１４を側壁４内に戻した後、吸引装置１８
を作動させる。これにより、粉粒体取出管１４内の粉粒
体は接続管１９側に送られ、粒子画像撮影装置２０の粘
着フィルム２１に捕捉されて分散固定化される。なお、
このとき粘着フィルム２１に捕捉されなかった粉粒体
は、リターン管３３を介して造粒容器３内に戻される。

【００３８】真空吸引が終了すると、蛍光灯２９の照明
によりＣＣＤカメラ３１によって粉粒体の付着した粘着
フィルム２１が撮像され、その映像情報がコントロール
部４０へ出力される。このとき本発明による粒子測定方
法では、前述のように外接四角形Ｓが想定され、球形度
と粒子径を用いた処理対象の選別が行われる。このた
め、例えば図４（ｂ）や図５に示したような接触粒子は
処理対象から除外される。従って、従来、造粒物を直接
測定することが困難とされていた遠心転動造粒装置にお
いても、造粒物の粒子径や粒度分布、平均粒子径、球形
度等の粒子形状情報を造粒物の直接測定により取得する
ことが可能となる。

【００３９】そして、このような測定の後、モーターリ
ール２４が駆動されて１ピッチ分の粘着フィルム２１が
引き出される。このとき粉粒体の付着した粘着フィルム
２１は接続管１９の端面１９ａから引き剥がされ、粘着
フィルム２１の未使用部分が端面１９ａに対向する位置
に移動し、端面１９ａに密着固定され次回測定の準備が
完了する。なお、これらの制御もコントロール部４０に
よって行われる。

【００４０】以上、本発明者によってなされた発明を実
施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実
施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。

【００４１】たとえば、前記の球形度の基準値や粒子寸
法の上限値や下限値はあくまでも一例であり、前述の数
値に限定されないことは言うまでもない。すなわち、球
形度の基準値として、１．４以外にも１．２〜１．５程
度の数値を設定することが可能である。また、上限値も
５００〜１０００μｍ程度、下限値も１００〜４００μ
ｍ程度の値を造粒物やコーティング条件によって適宜設
定可能である。さらに、造粒処理の進行に伴う粒子径の
増大に対応して、前記の諸値を適宜変更するようにして
も良く、この変更をプログラムコントローラによって行
うようにしても良い。

【００４２】一方、前記の実施の形態では、遠心転動造
粒装置における粒子測定に本発明による方法を適用した
例を示したが、遠心転動造粒装置の他、流動層造粒装置
に当該粒子測定方法を適用することも可能である。さら
に、これらの装置の他、流動層コーティング装置、流動
層乾燥装置、遠心転動コーティング装置、その他複合型
の造粒装置、粉粒体押出造粒装置、超微粉用を除く粉砕
機、粉粒体回収装置、粉粒体整粒装置など、粉粒体を造
粒、乾燥、コーティング等する各種粉粒体処理装置にも
当該粒子測定方法を適用し得る。

【００４３】

【発明の効果】本発明の粒子測定方法は、粉粒体の映像
情報に基づき粉粒体粒子に外接する四角形を想定し、そ
の相隣る二辺の寸法比が基準値以上の場合それを処理対
象から除外するようにしたことにより、接触粒子を粒子
形状情報を取得するための処理対象から除外することが
可能となる。このため、接触粒子を除外して粒子径等を
算出することができ、粒子形状情報の精度を向上させる
ことが可能となる。従って、遠心転動造粒装置のよう
に、粒子測定の際に接触粒子が発生し易い装置において
も、粒子測定装置を用いて粒子径や粒度分布等をリアル
タイムで正確に求めることができる。

【００４４】また、想定した外接四角形の一辺が上限値
以上の場合、その粉粒体粒子を処理対象から除外するよ
うにしたことにより、接触粒子をより正確に排除するこ
とができる。従って、粒子形状情報の精度をさらに向上
させることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の粒子測定方法により粒子形状情報が取
得される遠心転動造粒装置の構成を示す説明図である。

【図２】図１の粒子測定装置における粒子画像撮影装置
の構成を示す説明図である。

【図３】図１の粒子測定装置のコントロール部の構成を
示すブロック図である。

【図４】本発明の粒子測定方法による接触粒子の除外例
を示す説明図であり、（ａ）は処理対象となる粒子を、
（ｂ）は処理対象外の粒子を示している。

【図５】本発明の粒子測定方法による接触粒子の除外例
を示す説明図である。

【符号の説明】

１ 粒子測定装置 ２ 遠心転動造粒装置（粉粒体処理装置） ３ 造粒容器（処理容器） ４ 側壁 ５ 粉粒体 ６ 回転円板 ７ スリット ８ エアチャンバー ９ スリットエアー １０ スプレーノズル １１ 粉末散布装置 １２ 粉末 １３ 粉粒体導入通路 １４ 粉粒体取出管 １４ａ 端部 １４ｂ 端部 １５ エアシリンダ １６ 作動アーム １７ 粉粒体導入口 １８ 吸引装置（吸引手段） １９ 接続管 １９ａ 端面 ２０ 粒子画像撮影装置 ２１ 粘着フィルム ２２ ロール支持部 ２３ ガイドローラ ２４ モーターリール ２５ フィルム押え板 ２６ エアシリンダ ２７ センサ ２８ 穴 ２９ 蛍光灯 ３０ 蛍光灯支持部 ３１ ＣＣＤカメラ（撮像手段） ３２ 装置カバー ３３ リターン管 ３４ 吸引装置 ３５ 接続ホース ３６ 継手 ３７ エアホース ４０ コントロール部 ４１ 画像処理装置 ４２ シーケンサ ４３ パネルコンピュータ ４４ 解析モニタ ４５ カラーモニタ ４６ ビデオテープレコーダ ４７ プリンタ ４８ ハードディスク Ｓ 外接四角形 Ｍ 短辺 Ｎ 長辺

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 一方の端部が粉粒体処理装置の処理容器
   内に配設された粉粒体取出管と、前記粉粒体取出管内の
   他方の端部側に配設され前記処理容器から前記粉粒体取
   出管内に導入された粉粒体を捕捉する粘着フィルムと、
   前記捕捉された粉粒体を撮像する撮像手段と、前記撮像
   手段により得られた粉粒体の映像情報を処理する情報処
   理手段とを有してなる粒子測定装置を用いた粉粒体処理
   装置の粒子測定方法であって、 前記情報処理手段は、前記映像情報に基づき前記粘着フ
   ィルムに捕捉された粉粒体粒子についてそれに外接する
   四角形を想定し、前記四角形の相隣る二辺の寸法比を算
   出し、前記比が所定の基準値以上の場合その粉粒体粒子
   を処理対象から除外することを特徴とする粉粒体処理装
   置の粒子測定方法。
2. 【請求項２】 粉粒体処理装置の処理容器に対し出入自
   在に設けられ一方の端部が前記処理容器内に進入可能に
   配設された粉粒体取出管と、前記粉粒体取出管内の他方
   の端部側に配設され前記処理容器から前記粉粒体取出管
   内に導入された粉粒体を捕捉する粘着フィルムと、前記
   粉粒体取出管内を減圧吸引し前記粉粒体取出管内に存在
   する粉粒体を前記粘着フィルム側に導出する吸引手段
   と、前記捕捉された粉粒体を撮像する撮像手段と、前記
   撮像手段により得られた粉粒体の映像情報を処理する情
   報処理手段とを有してなる粒子測定装置を用いた粉粒体
   処理装置の粒子測定方法であって、 前記情報処理手段は、前記映像情報に基づき前記粘着フ
   ィルムに捕捉された粉粒体粒子についてそれに外接する
   四角形を想定し、前記四角形の相隣る二辺の寸法比を算
   出し、前記比が所定の基準値以上の場合その粉粒体粒子
   を処理対象から除外することを特徴とする粉粒体処理装
   置の粒子測定方法。
3. 【請求項３】 請求項１または２記載の粉粒体処理装置
   の粒子測定方法であって、前記情報処理手段は、前記四
   角形の一辺が所定の上限値以上の場合その粉粒体粒子を
   処理対象から除外することを特徴とする粉粒体処理装置
   の粒子測定方法。
4. 【請求項４】 請求項１〜３の何れか１項に記載の粉粒
   体処理装置の粒子測定方法であって、前記粉粒体処理装
   置が転動造粒コーティング装置であることを特徴とする
   粉粒体処理装置の粒子測定方法。