HU177211B - Apparatus for controlling the operation of electronic circuits - Google Patents

Apparatus for controlling the operation of electronic circuits Download PDF

Info

Publication number
HU177211B
HU177211B HU78GA1250A HUGA001250A HU177211B HU 177211 B HU177211 B HU 177211B HU 78GA1250 A HU78GA1250 A HU 78GA1250A HU GA001250 A HUGA001250 A HU GA001250A HU 177211 B HU177211 B HU 177211B
Authority
HU
Hungary
Prior art keywords
circuit
input
output
register
control
Prior art date
Application number
HU78GA1250A
Other languages
English (en)
Hungarian (hu)
Inventor
Oleg G Gracsev
Viktor F Guzenko
Nyikolaj Ny Danyilin
Vlagyimir B Zadubrovszkij
Jurij Sz Lebegyev
Leonyid M Popel
Jevgenyij L Szluckij
Original Assignee
Oleg G Gracsev
Viktor F Guzenko
Nyikolaj Ny Danyilin
Vlagyimir B Zadubrovszkij
Jurij Sz Lebegyev
Popel Leonid M
Jevgenyij L Szluckij
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oleg G Gracsev, Viktor F Guzenko, Nyikolaj Ny Danyilin, Vlagyimir B Zadubrovszkij, Jurij Sz Lebegyev, Popel Leonid M, Jevgenyij L Szluckij filed Critical Oleg G Gracsev
Publication of HU177211B publication Critical patent/HU177211B/hu

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft Kontrollmeßinstrumante. Ziel und Aufgabe der Erfindung bestehen darin, eine Einrichtung zur Funktionskontrolle elektronischer Schaltungen zu schaffen, deren neue schaltungstechnische Lösung jeder Speicher- und Ausgabeeinheit für kodierte Signalfolgen es gestattet, den Umfang des elektronischen Teiles der Ausrüstung zu reduzieren, deren Zuverlässigkeit und Operationsgeschwindigkeit zu erhöhen und die Funktionsmöglichkeiten zu erweitern. Die Einrichtung zur Funktionskontrolle elektronischer Schaltungen enthält für jeden zu kontrollierenden Anschluß der elektronischen Schaltung eine Speicher- und Ausgabeeinheit für kodierte Signalfolgen von Kontroll- und Sollwerten, die zwei Schieberegister, ein dreistelliges Schieberegister, eine Speicherschaltung und ein Adressenregister aufweist. Die Einrichtung enthätl auch eine allen zu kontrollierenden Anschlüssen gemeinsame Vorgabeeinheit für Betriebsarten, die eine Steuerschaltung, eine Speicherschaltung für Betriebsarten und ein Anfangsadressenregister, ein Endadressenregister, ein Taktregister, ein Zyklusregister, ein Synchronisierungsregister, eine Vergleichsschaltung und eine Schreibschaltung besitzt. Die Erfindung kann bei der Herstellung und bei Betrieb von integrierten Halbleiter- und Hybrid-Großschaltungen ausgewertet werden.
HU78GA1250A 1977-04-08 1978-04-06 Apparatus for controlling the operation of electronic circuits HU177211B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772472761A SU802970A1 (ru) 1977-04-08 1977-04-08 Устройство дл функционального конт-РОл бОльшиХ иНТЕгРАльНыХ CXEM

Publications (1)

Publication Number Publication Date
HU177211B true HU177211B (en) 1981-08-28

Family

ID=20703602

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
HU78GA1250A HU177211B (en) 1977-04-08 1978-04-06 Apparatus for controlling the operation of electronic circuits

Country Status (8)

Country Link
BG (1) BG41621A1 (de)
DD (1) DD136771A1 (de)
FR (1) FR2400209A1 (de)
GR (1) GR64070B (de)
HU (1) HU177211B (de)
IT (1) IT7841558A0 (de)
PL (1) PL121435B1 (de)
SU (1) SU802970A1 (de)

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2036316A7 (de) * 1969-03-10 1970-12-24 Gaillard Edmond
US3790885A (en) * 1972-03-27 1974-02-05 Ibm Serial test patterns for mosfet testing
FR2330014A1 (fr) * 1973-05-11 1977-05-27 Ibm France Procede de test de bloc de circuits logiques integres et blocs en faisant application
US4000460A (en) * 1974-07-01 1976-12-28 Xerox Corporation Digital circuit module test system
US3976940A (en) * 1975-02-25 1976-08-24 Fairchild Camera And Instrument Corporation Testing circuit

Also Published As

Publication number Publication date
SU802970A1 (ru) 1981-02-07
PL121435B1 (en) 1982-05-31
BG41621A1 (en) 1987-07-15
IT7841558A0 (it) 1978-04-06
DD136771A1 (de) 1979-07-25
FR2400209B1 (de) 1982-10-15
PL205799A1 (pl) 1979-01-15
FR2400209A1 (fr) 1979-03-09
GR64070B (en) 1980-01-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6122761A (en) IC chip tester using compressed digital test data and a method for testing IC chip using the tester
US5631913A (en) Test circuit and test method of integrated semiconductor device
JPS60130839A (ja) テスト装置
US4752928A (en) Transaction analyzer
DE69502827T2 (de) Elektronischer Schaltungs- oder Kartenprüfer und Verfahren zur Prüfung einer elektronischen Vorrichtung
JPH0760400B2 (ja) 論理回路の診断方法
US5170398A (en) Pattern generating apparatus for memory having a logical operation function
JPS58108475A (ja) テストベクトルのシーケンスを発生する装置
KR20010020427A (ko) 단일 패스 이중 모드의 집적회로 테스터
JPS6288972A (ja) 階層テスト・シ−ケンサ
US4825439A (en) Semiconductor logic integrated circuit device having first and second operation modes for testing
US4544882A (en) Apparatus for testing an integrated circuit chip without concern as to which of the chip's terminals are inputs or outputs
US5673275A (en) Accelerated mode tester timing
HU177211B (en) Apparatus for controlling the operation of electronic circuits
US4689791A (en) Device for translating a test sequence to a burn-in sequence for a logic circuit and/or a digital circuit, a method for burn-in operation of a logic circuit and/or a digital circuit
JP3574728B2 (ja) 半導体デバイス試験装置
JP2001305197A (ja) 半導体集積回路試験におけるパルス幅タイミング誤差補正のための較正方法および装置
US4358847A (en) Electrical circuit test apparatus and method
US4538923A (en) Test circuit for watch LSI
JPH0545418A (ja) タイミング校正装置
US20020053055A1 (en) Semiconductor device having a test mode
JPH01109275A (ja) テスト機能付き順序回路
SU1267312A1 (ru) Устройство дл поверки ваттметров
JP2769588B2 (ja) Ic試験装置内のデータ出力タイミング同期方式
SU1432528A2 (ru) Устройство дл контрол функционировани логических блоков

Legal Events

Date Code Title Description
HU90 Patent valid on 900628
HMM4 Cancellation of final prot. due to non-payment of fee