HU177211B - Apparatus for controlling the operation of electronic circuits - Google Patents
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- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 52
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 25
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 9
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 108010076504 Protein Sorting Signals Proteins 0.000 abstract description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 2
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 2
- QNRATNLHPGXHMA-XZHTYLCXSA-N (r)-(6-ethoxyquinolin-4-yl)-[(2s,4s,5r)-5-ethyl-1-azabicyclo[2.2.2]octan-2-yl]methanol;hydrochloride Chemical compound Cl.C([C@H]([C@H](C1)CC)C2)CN1[C@@H]2[C@H](O)C1=CC=NC2=CC=C(OCC)C=C21 QNRATNLHPGXHMA-XZHTYLCXSA-N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000011664 signaling Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
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Abstract
Die Erfindung betrifft Kontrollmeßinstrumante. Ziel und Aufgabe der Erfindung bestehen darin, eine Einrichtung zur Funktionskontrolle elektronischer Schaltungen zu schaffen, deren neue schaltungstechnische Lösung jeder Speicher- und Ausgabeeinheit für kodierte Signalfolgen es gestattet, den Umfang des elektronischen Teiles der Ausrüstung zu reduzieren, deren Zuverlässigkeit und Operationsgeschwindigkeit zu erhöhen und die Funktionsmöglichkeiten zu erweitern. Die Einrichtung zur Funktionskontrolle elektronischer Schaltungen enthält für jeden zu kontrollierenden Anschluß der elektronischen Schaltung eine Speicher- und Ausgabeeinheit für kodierte Signalfolgen von Kontroll- und Sollwerten, die zwei Schieberegister, ein dreistelliges Schieberegister, eine Speicherschaltung und ein Adressenregister aufweist. Die Einrichtung enthätl auch eine allen zu kontrollierenden Anschlüssen gemeinsame Vorgabeeinheit für Betriebsarten, die eine Steuerschaltung, eine Speicherschaltung für Betriebsarten und ein Anfangsadressenregister, ein Endadressenregister, ein Taktregister, ein Zyklusregister, ein Synchronisierungsregister, eine Vergleichsschaltung und eine Schreibschaltung besitzt. Die Erfindung kann bei der Herstellung und bei Betrieb von integrierten Halbleiter- und Hybrid-Großschaltungen ausgewertet werden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772472761A SU802970A1 (ru) | 1977-04-08 | 1977-04-08 | Устройство дл функционального конт-РОл бОльшиХ иНТЕгРАльНыХ CXEM |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
HU177211B true HU177211B (en) | 1981-08-28 |
Family
ID=20703602
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
HU78GA1250A HU177211B (en) | 1977-04-08 | 1978-04-06 | Apparatus for controlling the operation of electronic circuits |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
BG (1) | BG41621A1 (de) |
DD (1) | DD136771A1 (de) |
FR (1) | FR2400209A1 (de) |
GR (1) | GR64070B (de) |
HU (1) | HU177211B (de) |
IT (1) | IT7841558A0 (de) |
PL (1) | PL121435B1 (de) |
SU (1) | SU802970A1 (de) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2036316A7 (de) * | 1969-03-10 | 1970-12-24 | Gaillard Edmond | |
US3790885A (en) * | 1972-03-27 | 1974-02-05 | Ibm | Serial test patterns for mosfet testing |
FR2330014A1 (fr) * | 1973-05-11 | 1977-05-27 | Ibm France | Procede de test de bloc de circuits logiques integres et blocs en faisant application |
US4000460A (en) * | 1974-07-01 | 1976-12-28 | Xerox Corporation | Digital circuit module test system |
US3976940A (en) * | 1975-02-25 | 1976-08-24 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Testing circuit |
-
1977
- 1977-04-08 SU SU772472761A patent/SU802970A1/ru active
-
1978
- 1978-02-01 BG BG7838552A patent/BG41621A1/xx unknown
- 1978-03-28 GR GR55815A patent/GR64070B/el unknown
- 1978-03-29 FR FR7809154A patent/FR2400209A1/fr active Granted
- 1978-04-04 PL PL1978205799A patent/PL121435B1/pl unknown
- 1978-04-06 IT IT7841558A patent/IT7841558A0/it unknown
- 1978-04-06 DD DD78204633A patent/DD136771A1/de not_active IP Right Cessation
- 1978-04-06 HU HU78GA1250A patent/HU177211B/hu not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SU802970A1 (ru) | 1981-02-07 |
PL121435B1 (en) | 1982-05-31 |
BG41621A1 (en) | 1987-07-15 |
IT7841558A0 (it) | 1978-04-06 |
DD136771A1 (de) | 1979-07-25 |
FR2400209B1 (de) | 1982-10-15 |
PL205799A1 (pl) | 1979-01-15 |
FR2400209A1 (fr) | 1979-03-09 |
GR64070B (en) | 1980-01-21 |
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Date | Code | Title | Description |
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