FR2792773A1 - Source ionique pour spectrometre de masse a temps de vol analysant des echantillons gazeux - Google Patents

Source ionique pour spectrometre de masse a temps de vol analysant des echantillons gazeux Download PDF

Info

Publication number
FR2792773A1
FR2792773A1 FR9905088A FR9905088A FR2792773A1 FR 2792773 A1 FR2792773 A1 FR 2792773A1 FR 9905088 A FR9905088 A FR 9905088A FR 9905088 A FR9905088 A FR 9905088A FR 2792773 A1 FR2792773 A1 FR 2792773A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
electron beam
electron
ion source
electrons
mass spectrometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR9905088A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2792773B1 (fr
Inventor
Didier Pierrejean
Bruno Galland
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alcatel CIT SA
Alcatel Lucent SAS
Original Assignee
Alcatel CIT SA
Alcatel SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Alcatel CIT SA, Alcatel SA filed Critical Alcatel CIT SA
Priority to FR9905088A priority Critical patent/FR2792773B1/fr
Priority to AT00401028T priority patent/ATE279783T1/de
Priority to DE60014758T priority patent/DE60014758T2/de
Priority to EP00401028A priority patent/EP1052672B1/fr
Priority to US09/550,171 priority patent/US6545269B1/en
Priority to JP2000116162A priority patent/JP4395584B2/ja
Publication of FR2792773A1 publication Critical patent/FR2792773A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2792773B1 publication Critical patent/FR2792773B1/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J27/00Ion beam tubes
    • H01J27/02Ion sources; Ion guns
    • H01J27/04Ion sources; Ion guns using reflex discharge, e.g. Penning ion sources
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/08Electron sources, e.g. for generating photo-electrons, secondary electrons or Auger electrons
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/14Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
    • H01J49/147Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers with electrons, e.g. electron impact ionisation, electron attachment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J43/00Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
    • H01J43/04Electron multipliers
    • H01J43/06Electrode arrangements
    • H01J43/18Electrode arrangements using essentially more than one dynode
    • H01J43/24Dynodes having potential gradient along their surfaces
    • H01J43/246Microchannel plates [MCP]

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

Selon l'invention, dans un spectromètre de masse à temps de vol, la source ionique comprend un canon à électrons (1) ayant une source d'électrons (5), une ou plusieurs électrodes de conditionnement de flux d'électrons (7), suivies d'une ou plusieurs galettes à microcanaux (9, 10) permettant de générer, à partir d'un faisceau électronique primaire (8) pulsé, un faisceau électronique secondaire (12) pulsé contenant un plus grand nombre d'électrons. Le faisceau électronique secondaire (12) pénètre dans une zone d'ionisation de gaz (16) d'un canon à ions qui produit un flux d'ions (19) traversant ensuite le tube de vol (3) pour être analysé par un détecteur d'ions (4). On réalise ainsi une source ionique performante, compacte, sensible et facilement intégrable.

Description

SOURCE IONIQUE POUR SPECTROMETRE DE MASSE
A TEMPS DE VOL ANALYSANT DES ECHANTILLONS GAZEUX
La présente invention concerne les moyens d'ionisation
d'échantillons gazeux pour analyse dans un spectromètre de masse.
Dans un spectromètre de masse, on analyse un échantillon gazeux en bombardant l'échantillon par un flux d'électrons, puis en mettant en mouvement les ions ainsi obtenus pour les différencier
ensuite en fonction de leur trajectoire ou de leur vitesse.
Il y a un intérêt à produire une ionisation importante de l'échantillon gazeux, afin d'augmenter la sensibilité de la mesure,
et d'augmenter la résolution du spectromètre de masse.
Dans les spectromètres de masse à temps de vol, les ions produits par la source ionique sont lancés à l'entrée d'un tube de vol dans lequel ils conservent une vitesse constante, et on détecte en sortie du tube de vol le temps de vol correspondant à chaque type d'ions de l'échantillon gazeux à analyser, pour en déduire leur nature. Il faut pour cela lancer à l'entrée du tube de vol un paquet d'ions préalablement accéléré, repérer le temps de départ du paquet d'ions, et repérer les instants d'arrivée des différents ions à l'autre extrémité du tube de vol. Il est alors avantageux de générer des paquets d'ions de
durée la plus faible possible, comprenant un nombre maximum d'ions.
Cela est obtenu par une source ionique impulsionnelle.
Les sources ioniques habituellement utilisées dans les spectromètres de masse comprennent un canon à électrons ayant une source d'électrons et une ou plusieurs électrodes de conditionnement du flux d'électrons pour générer un flux d'électrons approprié dirigé vers une zone d'ionisation de gaz dans laquelle se forment des ions soumis à une ou plusieurs électrodes de conditionnement de flux d'ions. Le flux d'électrons est généralement dirigé vers la zone d'ionisation de gaz dans une direction perpendiculaire à la direction du tube de vol du spectromètre de masse. Il en résulte un encombrement important, et une difficulté d'intégration. La quantité d'ions produite est
relativement faible, ce qui limite la sensibilité de l'appareil.
Le problème proposé par la présente invention est de concevoir une nouvelle structure de source ionique pour spectromètre de masse, présentant une plus grande compacité et une plus grande sensibilité, étant facilement intégrable avec les
autres composants d'un spectromètre de masse.
Pour atteindre ces objets ainsi que d'autres, une source ionique pour spectromètre de masse selon l'invention comprend un canon à électrons ayant une source d'électrons et une ou plusieurs électrodes de conditionnement de flux d'électrons pour générer un flux d'électrons approprié dirigé vers une zone d'ionisation de gaz dans laquelle se forment des ions soumis à une ou plusieurs électrodes de conditionnement de flux d'ions; en aval des électrodes de conditionnement de flux d'électrons, on interpose dans le flux d'électrons une ou plusieurs galettes à microcanaux, de sorte que, à partir d'un faisceau électronique primaire pulsé contenant relativement peu d'électrons, on génère un faisceau
électronique secondaire pulsé contenant beaucoup d'électrons.
Les galettes à microcanaux assurent une multiplication du flux d'électrons, de sorte que l'ionisation ultérieure de l'échantillon gazeux est également multipliée. La sensibilité et le pouvoir de résolution de l'appareil s'en trouvent ainsi
considérablement augmentés.
On peut avantageusement disposer, en aval de la zone occupée par la ou les galettes à microcanaux, au moins une électrode supplémentaire adaptée pour disperser le faisceau électronique secondaire afin de lui conserver ses qualités
temporelles tout en améliorant ses qualités spatiales.
Ainsi, on favorise encore l'augmentation de l'ionisation de l'échantillon gazeux, et donc la sensibilité d'un appareil
incorporant la source ionique.
De préférence, la zone d'ionisation de gaz est située entre une électrode de répulsion amont, traversée par le faisceau électronique secondaire et retenant les électrons en repoussant les
ions, et une électrode d'accélération aval qui attire les ions.
Grâce à cette disposition, on peut placer la source ionique en alignement avec l'axe du tube de vol à l'entrée du tube de vol d'un spectromètre de masse à temps de vol. On obtient ainsi une meilleure intégration de la source ionique, et une plus grande
compacité de l'appareil.
La zone d'ionisation doit de préférence être à proximité immédiate de la ou des galettes à microcanaux, afin que le faisceau électronique secondaire garde ses qualités temporelles et reste dense, de sorte que tous les ions d'un paquet d'ions pénètrent sensiblement en même temps dans le tube de vol. On peut utiliser comme source d'électrons un filament chauffé à une température appropriée pour générer un flux d'électrons par thermoémission, de façon traditionnelle. Le faisceau électronique primaire est alors modulé en impulsion par
une électrode de déviation.
En alternative, la source d'électrons peut avantageusement être une cathode à émission de champ à micropointes, produisant un
faisceau électronique primaire modulé en impulsion.
L'invention peut trouver notamment application dans la réalisation de spectromètres à temps de vol incorporant une telle
source ionique.
D'autres objets, caractéristiques et avantages de la
présente invention ressortiront de la description suivante de modes
de réalisation particuliers, faite en relation avec les figures jointes, parmi lesquelles: - la figure 1 illustre le schéma de principe d'un spectromètre de masse à temps de vol selon un mode de réalisation de la présente invention; - la figure 2 est une vue schématique en perspective en partie découpée d'une galette à microcanaux pour amplification du flux d'électrons; et - la figure 3 est une coupe longitudinale d'un canal de la galette à microcanaux de la figure 2, illustrant le principe de
l'amplification du flux d'électrons.
En se référant à la figure 1, un spectromètre de masse à temps de vol selon le mode de réalisation représenté comprend de façon générale un canon à électrons 1, suivi d'un canon à ions 2, lui-même suivi d'un tube de vol 3 dont la sortie communique avec un
détecteur d'ions 4.
Le canon à électrons 1 comprend une source d'électrons 5.
Dans la réalisation illustrée sur la figure, la source d'électrons est un filament tel qu'un filament de tungstène alimenté par un générateur de chauffage 6 pour être portée à une température suffisante assurant une thermoémission d'ions. Les électrons émis par la source d'électrons 5 sont sollicités par une ou plusieurs électrodes de conditionnement de flux d'électrons 7, par exemple une électrode d'accélération 71 et une ou plusieurs électrodes de
focalisation 72.
Dans le cas d'une source d'électrons 5 sous forme de filament à thermoémission, une électrode de déviation 73 permet de
moduler de façon impulsionnelle le flux d'électrons sortant 8.
En alternative, on peut utiliser comme source d'électrons une cathode à émission de champ à micropointes, comprenant un substrat conducteur sur lequel sont réalisées des micropointes conductrices engagées dans des cavités d'une couche isolante
interposée entre le substrat et une grille polarisée positivement.
Une telle cathode à émission de champ à micropointes permet de moduler par elle-même le flux sortant d'électrons, sans nécessiter
d'électrode de déviation 73.
En aval des électrodes de conditionnement de flux d'électrons 7, on interpose selon l'invention dans le flux d'électrons 8 une ou plusieurs galettes à microcanaux. Dans la réalisation illustrée sur la figure 1, on utilise une première galette à microcanaux 9 et une seconde galette à microcanaux 10, séparées l'une de l'autre par une électrode intergalette 11. A partir d'un faisceau électronique primaire 8 pulsé contenant relativement peu d'électrons, les galettes à microcanaux 9 et 10 génèrent un faisceau électronique secondaire 12 pulsé contenant beaucoup d'électrons, procurant un gain de 100 à plusieurs milliers. En pratique, le faisceau électronique primaire peut être équivalent à un courant électrique de l'ordre de 1 à 10 i A, et le faisceau électronique secondaire peut correspondre à plusieurs
milliampères, suivant le gain des galettes à microcanaux 9 et 10.
La constitution et le fonctionnement de principe des galettes à microcanaux sont expliqués en relation avec les figures 2 et 3. Comme on le voit sur la figure 2, une galette à microcanaux 9 est un élément généralement plat, ayant une épaisseur E de l'ordre de 0,5 mm, et constitué de la juxtaposition côte à côte d'un très grand nombre de tubes capillaires en verre à très petit diamètre, comprenant par exemple le tube 13, orientés selon des axes perpendiculaires au plan général de la galette 9. Les tubes capillaires peuvent présenter un diamètre e d'environ 12 microns, et ils sont ouverts à leur deux extrémités sur les faces principales de la galette 9. Les faces principales de la galette 9 sont métallisées, pour constituer, comme illustré sur la figure 3, une électrode d'entrée 14 et une électrode de sortie 15, soumises à une différence de potentiel VD. Le potentiel de l'électrode de sortie 15 est supérieur au potentiel de l'électrode d'entrée 14. La paroi intérieure du tube capillaire 13 est traitée pour présenter une résistance appropriée, et forme un multiplicateur d'électrons secondaires indépendant. Lorsqu'un électron du faisceau électronique primaire 8 pénètre dans le tube 13, il peut venir frapper la paroi du tube 13 et décrocher un ou plusieurs autres électrons qui se trouvent accélérés par le champ électrique présent entre les électrodes d'entrée 14 et de sortie 15. Les électrons ainsi détachés vont frapper eux-mêmes la paroi opposée du tube 13, décrochant d'autres électrons qui sont eux-mêmes accélérés, et il en résulte de proche en proche la multiplication des électrons en mouvement, produisant un faisceau électronique secondaire 12
contenant beaucoup d'électrons.
En se référant à nouveau à la figure 1, le faisceau électronique secondaire 12 se propage jusqu'à une zone d'ionisation 16 à l'intérieur du canon à ions 2. Dans cette zone d'ionisation 16, les électrons frappent les atomes de l'échantillon gazeux à analyser, et les transforment en ions. La zone d'ionisation de gaz 16 est située entre une électrode de répulsion 17 amont traversée par le faisceau électronique secondaire 12 et qui retient les électrons en repoussant les ions, et une électrode d'accélération
aval 18 qui attire les ions.
Le flux d'ions 19 ainsi produit est envoyé à l'entrée 20 du tube de vol 3, puis parcourt la longueur du tube de vol 3 pour
sortir par sa sortie 21 et pénétrer dans le détecteur d'ions 4.
Ainsi, comme illustré sur la figure 1, la source d'ions est disposée en ligne à l'entrée du tube de vol 3 du spectromètre de masse à temps de vol. Le détecteur d'ions 4 peut comprendre des galettes à microcanaux 22 et 23, générant un flux d'électrons multiplié venant frapper une électrode cible 24. La mesure s'effectue en détectant
les impulsions électriques recueillies par l'électrode cible 24.
Dans la réalisation illustrée sur la figure 1, on a prévu en outre, en aval de la zone occupée par la ou les galettes à microcanaux 9 et 10 du canon à électrons, au moins une électrode supplémentaire 25 adaptée pour disperser le faisceau électronique secondaire 12 afin de lui conserver ses qualités temporelles tout en améliorant ses qualités spatiales. On augmente ainsi
l'ionisation dans la zone d'ionisation 16.
De préférence, la zone d'ionisation 16 est à proximité immédiate de la galette à microcanaux 10, de laquelle elle est
séparée par une distance réduite, par exemple de 1 à 2 mm environ.
La présente invention n'est pas limitée aux modes de réalisation qui ont été explicitement décrits, mais elle en inclut les diverses variantes et généralisations qui sont à la portée de
l'homme du métier.

Claims (8)

REVENDI CATIONS
1 - Source ionique pour spectromètre de masse, comprenant un canon à électrons (1) ayant une source d'électrons (5) et une ou plusieurs électrodes de conditionnement de flux d'électrons (7) pour générer un flux d'électrons approprié dirigé vers une zone d'ionisation de gaz (16) dans laquelle se forment des ions soumis à une ou plusieurs électrodes de conditionnement de flux d'ions (17, 18), caractérisée en ce que, en aval des électrodes de conditionnement de flux d'électrons (7), on interpose dans le flux d'électrons (8) une ou plusieurs galettes à microcanaux (9, 10), de sorte que, à partir d'un faisceau électronique primaire (8) pulsé contenant relativement peu d'électrons, on génère un faisceau
électronique secondaire (12) pulsé contenant beaucoup d'électrons.
2 - Source ionique selon la revendication 1, caractérisée en ce qu'on dispose, en aval de la zone occupée par la ou les galettes à microcanaux (9, 10), au moins une électrode supplémentaire (25) adaptée pour disperser le faisceau électronique secondaire (12) afin de lui conserver ses qualités temporelles tout
en améliorant ses qualités spatiales.
3 - Source ionique selon l'une des revendications 1 ou 2,
caractérisée en ce que la zone d'ionisation de gaz (16) est située entre une électrode de répulsion (17) amont traversée par le faisceau électronique secondaire (12) et qui retient les électrons en repoussant les ions, et une électrode d'accélération (18) aval
qui attire les ions.
4 - Source ionique selon l'une quelconque des
revendications 1 à 3, caractérisée en ce qu'elle est disposée en
alignement à l'entrée du tube de vol (3) d'un spectromètre de masse à temps de vol.
5 - Source ionique selon l'une quelconque des
revendications 1 à 4, caractérisée en ce que la zone d'ionisation
de gaz (16) est à proximité immédiate de la ou des galettes à
microcanaux (9, 10).
6 - Source ionique selon l'une quelconque des
revendications 1 à 5, caractérisée en ce que la source d'électrons
(5) est un filament chauffé à une température appropriée pour générer un flux d'électrons par thermoémission, et le faisceau électronique primaire (8) est modulé en impulsion par une électrode
de déviation (73).
7 - Source ionique selon l'une quelconque des
revendications 1 à 5, caractérisée en ce que la source d'électrons
(5) est une cathode à émission de champ à micropointes, produisant
un faisceau électronique primaire modulé en impulsion.
8 - Spectromètre de masse à temps de vol, caractérisé en ce qu'il comprend une source ionique selon l'une quelconque des
revendications 1 à 7.
FR9905088A 1999-04-22 1999-04-22 Source ionique pour spectrometre de masse a temps de vol analysant des echantillons gazeux Expired - Fee Related FR2792773B1 (fr)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9905088A FR2792773B1 (fr) 1999-04-22 1999-04-22 Source ionique pour spectrometre de masse a temps de vol analysant des echantillons gazeux
AT00401028T ATE279783T1 (de) 1999-04-22 2000-04-13 Flugzeitmassenspektrometerionenquelle zur analyse von gasproben
DE60014758T DE60014758T2 (de) 1999-04-22 2000-04-13 Flugzeitmassenspektrometerionenquelle zur Analyse von Gasproben
EP00401028A EP1052672B1 (fr) 1999-04-22 2000-04-13 Source ionique pour spectromètre de masse à temps de vol analysant des echantillons gazeux
US09/550,171 US6545269B1 (en) 1999-04-22 2000-04-14 Ion source for time-of-flight mass spectrometers for analyzing gas samples
JP2000116162A JP4395584B2 (ja) 1999-04-22 2000-04-18 ガスサンプル分析用の飛行時間型質量分析計用のイオン源

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9905088A FR2792773B1 (fr) 1999-04-22 1999-04-22 Source ionique pour spectrometre de masse a temps de vol analysant des echantillons gazeux

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2792773A1 true FR2792773A1 (fr) 2000-10-27
FR2792773B1 FR2792773B1 (fr) 2001-07-27

Family

ID=9544732

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR9905088A Expired - Fee Related FR2792773B1 (fr) 1999-04-22 1999-04-22 Source ionique pour spectrometre de masse a temps de vol analysant des echantillons gazeux

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6545269B1 (fr)
EP (1) EP1052672B1 (fr)
JP (1) JP4395584B2 (fr)
AT (1) ATE279783T1 (fr)
DE (1) DE60014758T2 (fr)
FR (1) FR2792773B1 (fr)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109461642A (zh) * 2018-12-07 2019-03-12 中国烟草总公司郑州烟草研究院 一种离子引发电子轰击电离源

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6806467B1 (en) * 2003-07-24 2004-10-19 The Regents Of The University Of California Continuous time-of-flight ion mass spectrometer
US7420472B2 (en) * 2005-10-16 2008-09-02 Bao Tran Patient monitoring apparatus
US8575542B1 (en) * 2012-04-18 2013-11-05 Bruker Daltonics, Inc. Method and device for gas-phase ion fragmentation
WO2014003937A1 (fr) * 2012-06-29 2014-01-03 Fei Company Source d'ions multi-espèce
KR101786950B1 (ko) 2014-12-30 2017-10-19 한국기초과학지원연구원 비행시간 질량분석기
US9899181B1 (en) 2017-01-12 2018-02-20 Fei Company Collision ionization ion source
US9941094B1 (en) 2017-02-01 2018-04-10 Fei Company Innovative source assembly for ion beam production
US11854777B2 (en) * 2019-07-29 2023-12-26 Thermo Finnigan Llc Ion-to-electron conversion dynode for ion imaging applications

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2294539A1 (fr) * 1974-12-13 1976-07-09 Labo Electronique Physique Dispositif ioniseur incluant une galette de microcanaux a emission electronique secondaire
JPH1140069A (ja) * 1997-07-24 1999-02-12 Hamamatsu Photonics Kk マイクロチャネルプレートを用いたイオン源

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3852595A (en) * 1972-09-21 1974-12-03 Stanford Research Inst Multipoint field ionization source
US3819941A (en) * 1973-10-15 1974-06-25 Bendix Corp Mass dependent ion microscope having an array of small mass filters
US5659170A (en) * 1994-12-16 1997-08-19 The Texas A&M University System Ion source for compact mass spectrometer and method of mass analyzing a sample

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2294539A1 (fr) * 1974-12-13 1976-07-09 Labo Electronique Physique Dispositif ioniseur incluant une galette de microcanaux a emission electronique secondaire
JPH1140069A (ja) * 1997-07-24 1999-02-12 Hamamatsu Photonics Kk マイクロチャネルプレートを用いたイオン源

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 1999, no. 05 31 May 1999 (1999-05-31) *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109461642A (zh) * 2018-12-07 2019-03-12 中国烟草总公司郑州烟草研究院 一种离子引发电子轰击电离源
CN109461642B (zh) * 2018-12-07 2024-04-02 中国烟草总公司郑州烟草研究院 一种离子引发电子轰击电离源

Also Published As

Publication number Publication date
ATE279783T1 (de) 2004-10-15
US20030057378A1 (en) 2003-03-27
US6545269B1 (en) 2003-04-08
DE60014758D1 (de) 2004-11-18
JP4395584B2 (ja) 2010-01-13
FR2792773B1 (fr) 2001-07-27
JP2000348665A (ja) 2000-12-15
EP1052672A1 (fr) 2000-11-15
EP1052672B1 (fr) 2004-10-13
DE60014758T2 (de) 2006-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6323482B1 (en) Ion mobility and mass spectrometer
US6992284B2 (en) Ion mobility TOF/MALDI/MS using drift cell alternating high and low electrical field regions
JP3801866B2 (ja) 飛行時間型質量分析計
US8648295B2 (en) Combined distance-of-flight and time-of-flight mass spectrometer
FR2482768A1 (fr) Separateur de masses exb pour faisceaux ioniques domines par des charges d'espace
EP1052672B1 (fr) Source ionique pour spectromètre de masse à temps de vol analysant des echantillons gazeux
US6888133B2 (en) Integrated ion focusing and gating optics for ion trap mass spectrometer
JP2009527097A (ja) 不要イオンを抑制した微量ガス漏れ検出用質量分析計
EP0125950B1 (fr) Perfectionnements apportés aux spectromètres de masse
FR2461351A1 (fr) Source d'ions a plasma uhf
US20090230301A1 (en) Mass spectrometry apparatus and method
FR2600416A1 (fr) Detecteur d'ions a galette de microcanaux
US9570282B2 (en) Ionization within ion trap using photoionization and electron ionization
JP5504969B2 (ja) 質量分析装置
FR2899016A1 (fr) Systeme detecteur d'ions avec suppression du bruit neutre
EP0362953A1 (fr) Tube neutronique scellé muni d'une source d'ions à confinement électrostatique des électrons
EP3384566B1 (fr) Dispositif de génération d'ions
JPH11288683A (ja) 大気圧イオン化質量分析計
WO2014095888A1 (fr) Dispositif d'optique electronique
KR950703786A (ko) 전자 에너지 분광계
FR2599891A1 (fr) Spectrometre de masse, notamment, pour detecteur de fuites, sous vide pousse
FR2522198A1 (fr) Analyseur de masse pour spectrometre de masse du type piege tridimensionnel
FR3146015A3 (fr) Detecteur d'ions de masse elevee
WO2021001383A1 (fr) Generateur pulse de particules chargees electriquement et procede d'utilisation d'un generateur pulse de particules chargees electriquement
FR2790594A1 (fr) Canon a electrons possedant une cathode froide a emission de champ et tube micro-ondes utilisant ce canon a electrons

Legal Events

Date Code Title Description
ST Notification of lapse

Effective date: 20061230