FR2596201A1 - Procede de fabrication de jonctions semi-conductrices et produits ainsi obtenus - Google Patents

Procede de fabrication de jonctions semi-conductrices et produits ainsi obtenus Download PDF

Info

Publication number
FR2596201A1
FR2596201A1 FR8616556A FR8616556A FR2596201A1 FR 2596201 A1 FR2596201 A1 FR 2596201A1 FR 8616556 A FR8616556 A FR 8616556A FR 8616556 A FR8616556 A FR 8616556A FR 2596201 A1 FR2596201 A1 FR 2596201A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
web
junctions
type
dopant
sides
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
FR8616556A
Other languages
English (en)
Inventor
Robert Bruce Campbell
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CBS Corp
Original Assignee
Westinghouse Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Westinghouse Electric Corp filed Critical Westinghouse Electric Corp
Publication of FR2596201A1 publication Critical patent/FR2596201A1/fr
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/26Bombardment with radiation
    • H01L21/263Bombardment with radiation with high-energy radiation
    • H01L21/268Bombardment with radiation with high-energy radiation using electromagnetic radiation, e.g. laser radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/22Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities
    • H01L21/225Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities using diffusion into or out of a solid from or into a solid phase, e.g. a doped oxide layer
    • H01L21/2251Diffusion into or out of group IV semiconductors
    • H01L21/2254Diffusion into or out of group IV semiconductors from or through or into an applied layer, e.g. photoresist, nitrides
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S148/00Metal treatment
    • Y10S148/014Capacitor
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S148/00Metal treatment
    • Y10S148/093Laser beam treatment in general

Abstract

A) PROCEDE DE FABRICATION DE JONCTIONS SEMI-CONDUCTRICES ET PRODUITS AINSI OBTENUS. B) CARACTERISE EN CE QU'ON APPLIQUE UN LIQUIDE PRECURSEUR 4 6, CONTENANT UN DOPANT DE TYPE P OU N CHOISI SUR AU MOINS L'UNE DES FACES DE LA NAPPE 2 PUIS ON CUIT POUR ELIMINER LE SOLVANT EN EXCEDENT ET ON CHAUFFE RAPIDEMENT LA NAPPE AVEC DE LA LUMIERE IMPULSIONNELLE A FORTE DENSITE PENDANT UNE DUREE INFERIEURE A UNE MINUTE A DES TEMPERATURES DE L'ORDRE DE 950C-1200C POUR FORMER LES JONCTIONS. C) L'INVENTION CONCERNE UN PROCEDE DE JONCTIONS SEMI-CONDUCTRICES ET PRODUITS AINSI OBTENUS.

Description

Procédé de fabrication de jonctions semi-conductrices
et produits ainsi obtenus ".
La présente invention concerne un procédé de fabrication de jonctions semi-conductrices et produits ainsi obtenus. La réalisation de jonctions semiconductrices dans des nappes de silicium telles que des nappes de silicium dentritiques destinées à des cellules 10 solaires photovoicaiques se fait de manière caractéristique dans un four à diffusion tubulaire ou en forme de ceinture. Pour réaliser des jonctions sur les deux faces de la nappe, il faut procéder en deux étapes en diffusant d'abord une couche de dopant dans l'une des faces, puis en nettoyant la face et en la masquant avec du dioxyde de silicium (silice SiO2) pour éviter que le dopant ne passe de la couche diffusée dans la couche à diffuser sur l'autre face; puis au cours d'une opération distincte, on diffuse n'importe quelle autre couche de dopant dans la face opposée. Pour chauffer par exemple à une température de 850eC-950 C et pour refroidir ensuite chaque couche,
il faut de manière caractéristique environ 40 minutes.
La présente invention a pour but de créer un procédé permettant de réaliser des jonctions semi25 conductrices, et qui soit beaucoup plus rapide, moins compliqué et moins coûteux et qui soit particulièrement bien adapté à la réalisation de Jonctions de manière simultanée sur les deux faces d'une nappe dentritique de
silicium destinée à des cellules de capteurs solaires.
Une caractéristique importante de l'invention est que la chaleur nécessaire à la diffusion des dopants est fournie 5 par des impulsions de durée relativement courte de lumière
de forte intensité.
Ainsi, la présente invention concerne un procédé de réalisation d'une ou plusieurs Jonctions semi-conductrices dans une nappe de silicium d'un type 10 déterminé P ou N, ce procédé consistant à appliquer un liquide préalable contenant un dopant du type choisi P ou N sur au moins l'une des faces de la nappe, puis à cuire de manière à éliminer le solvant en excédent, puis à chauffer rapidement la nappe avec de la lumière impulsion15 nelle de forte intensité pendant une durée inférieure à une minute à des températures de l'ordre de 950 C à 1200 C
pour former les Jonctions.
La présente invention concerne un procédé de réalisation de Jonctions semi-conductrices dans 20 une nappe de silicium dentritique de type P ou de- type N,.
ce procédé consistant à appliquer un solvant préalable, à l'état liquide contenant un dopant de type opposé à celui de la nappe sur l'une des faces de celle-ci, à appliquer un solvant liquide, préalable contenant un dopant de même 25 type que celui de la nappe sur la face opposée de cette nappe, puis à cuire la nappe dans un four à une température approximativement égale à 200 C pour éliminer le solvant en excédent, puis à chauffer rapidement la nappe avec,
de la lumière impulsionnelle à haute intensité pendant une 30 durée notablement inférieure à une minute à des températures de l'ordre de 950 C à-1200 C pour former simultanément des Jonctions sur les deux faces de la nappe.
La présente invention sera décrite de façon plus détaillée ci-après à l'aide d'un exemple de 35 mise en oeuvre selon les dessins annexés dans lesquels: - la figure 1 est une vue schématique du bord d'une nappe dont les deux faces ont reçu des liquides préalables contenant des dopants; la figure 2 est une vue schématique de la nappe de la figure 1 placée dans un four pour la cuisson; - la figure 3 est une vue schématique de la nappe dopée placée dans un dispositif à lumière impulsionnelle de forte intensité pour une phase de chauffage 10 rapide et,
- la figure 4 est une vue schématique de la nappe de la figure 3 dans un four de recuit.
Selon la figure 1, une nappe 2, de silicium dentritique à dopage préalable de type P a reçu 15 préalablement un liquide 4 (liquide précurseur) contenant un dopant de type N ainsi qu'un liquide précurseur 6 contenant un dopant de type P sur la face opposée de cette même nappe 2. Les liquides précurseurs peuvent être appliqués de manière habituelle par exemple en utilisant un balai à mousse 8, un revêtement à ménisque ou en utilisant le procédé de dépôt chimique à la vapeur. Des exemples de liquides précurseurs qui peuvent s'utiliser sont des liquides du commerce tels que les produits de la Société Allied Chemical Corp. P8 ou Filmtronics, Inc. P2.5 pour 25 le liquide précurseur de type N et les produits B150 de Allied Chemical Corp. pour le liquide de type P. La nappe 2 ayant reçu les liquides précurseurs 4 et 6 est cuite dans un four 10 (figure 2) pour éliminer le solvant en excédent des faces de la nappe. A titre d'exemple, pour cette étape opératoire, le four 10 peut être un four contenant de l'air et qui est chauffé approximativement à 2000C; la nappe est chauffée à cette température par exemple pendant 20 minutes pour
éliminer le solvant en excédent.
L'étape suivante du procédé consiste à chauffer rapidement la nappe dopée avec de la lumière impulsionnelle à forte intensité dans un dispositif 12 tel que celui représenté schématiquement à la figure 3; Il s'agit d'un système halogène au tungstène diffusé dans le commerce par exemple par A. G. Associates de Palo Alto, Californie. Comme cela est connu, ce système halogène au tungstène utilise des ensembles de lampes halogènes au tungstène 14 placés au-dessus et en-dessous de la nappe; dans le dispositif à chaleur pulsée de la Société 10 A. G. Associates, la nappe est placée dans un tube en
quartz 16 pour favoriser le rendement thermique de l'opération.
La nappe 2 est chauffée à l'intérieur du dispositif 12 par de la lumière impulsionnelle à forte 15 intensité émise par des lampes halogènes au tungstène pen-, dant une durée inférieure à une minute à des températures de l'ordre de 1000 C à 1100 C pour former simultanément des jonctions sur les deux faces de la nappe. Les temperatures et durées préférentielles pour réaliser simultané20 ment les jonctions sur les deux faces de la nappe de silicium dentritique destinée à des cellules solaires sont comprises entre 950 C et 1200 C, la durée étant de l'ordre de 5 à 15 secondes. On obtient ainsi des jonctions relativement peu profondes qui sont intéressantes pour les cellules solaires. Pour obtenir des jonctions plus profondes dans le cas d'autres dispositifs comme par exemple des redresseurs et des transistors etc, il faut augmenter de manière proportionnelle la durée de l'opération et la température. Pour les mesures et commandes de température, on peut noyer un thermocouple 18 dans la nappe 20 en procédant sur le plan thermique, de façon
analogique à la nappe 20 comme suggéré par A.G. Associates.
Il est clair que d'autres systèmes de mesure et de réglage 35 de température peuvent s'utiliser pour la mise en oeuvre
de l'invention.
Il est important pour l'invention que le dopage qui se produit au cours du procédé thermique rapide est beaucoup plus rapide que le temps qui permettrait au dopant de passer d'une face de la nappe à 5 l'autre et entraînerait la contamination. Ainsi selon le procédé de l'invention, il suffit d'une seule étape pour le dopage, ce qui évite tout procédé complexe et coûteux
en deux étapes selon l'art antérieur ainsi que les opérations de nettoyage et de masquage.
Dans certains cas, il peut être souhaitable de recuire la nappe après le traitement thermique rapide. Il est connu que ce recuit permet d'éliminer les défauts de la nappe qui sont gelés au cours du refroidissement trop rapide de la nappe. Le recuit se fait pour 15 arriver à un rendement plus élevé en cellules solaires et pour avoir des durées de vie plus élevées des porteurs dans le cas d'autres semi-conducteurs. Le recuit peut se faire dans un four 22 à atmosphère d'air selon la figure 4, la nappe 2 étant chauffée à l'air à une température comprise entre 750 C et 850 C pour une durée de l'ordre de
à 60 minutes.
Bien que le mode de réalisation représenté corresponde à une nappe de silicium avec des jonctions semi-conductrices dans ses deux faces, il est clair 25 que l'invention s'appliquer également à la réalisation
d'une jonction simple dans l'une des faces de la nappe.

Claims (4)

    R E V E N D I C A T I 0 N S REVENDICATIONS * 1 ) Procédé de réalisation d'une ou plusieurs Jonctions semiconductrices dans une nappe (2) de silicium de type P ou N, procédé caractérisé en ce qu'on applique un liquide précurseur (4) (6) contenant un dopant de type P ou N choisi sur au moins l'une des faces de la nappe, puis on cuit pour éliminer le solvant en excédent et on chauffe rapidement la nappe avec de la lumière impulsionnelle à forte intensité pendant une durée inférieu10 re à une minute à des températures de l'ordre de 950 C1200 C pour former les jonctions.
  1. 2 ) Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on applique le dopant sur les deux faces de la nappe pour former simultanément les jonctions 15 dans les deux faces de la nappe au cours du chauffage rapide.
  2. 3 ) Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 et 2, caractérisé en ce que le
    chauffage rapide se fait à une température comprise entre 20 1100 C et 1150 C pendant 10 à 20 secondes suivant la profondeur voulue pour les jonctions.
  3. 4 ) Procédé de réalisation de jonctions semi-conductrices dans une nappe de silicium dentritique de type P ou N, procédé caractérisé en ce qu'on applique un solvant liquide précurseur contenant un dopant de type opposé à celui de la nappe sur l'une des faces de la nappe, on applique un solvant liquide précurseur contenant un dopant de même type que celui de la nappe sur la face opposée de la nappe, puis on cuit la nappe dans un four à une température approximativement égale à 200 C pour éliminer le solvant en excédent et on chauffe rapidement la nappe avec de la lumière impulsionnelle à forte intensité pendant une durée notablement inférieure à une minute à des températures de l'ordre de 950 C-1200 C pour 35 former simultanément les jonctions dans les deux faces 7.
    de la nappe.
    ) Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que la nappe est recuite après
    l'étape de chauffage rapide.
  4. 6 ) Nappe notamment de silicium dentritique de type P ou de type N comportant des Jonctions caractérisée en ce qu'elle est réalisée par la mise en
    oeuvre du procédé selon l'une quelconque des revendications
    1 à 5.
FR8616556A 1986-03-24 1986-11-27 Procede de fabrication de jonctions semi-conductrices et produits ainsi obtenus Pending FR2596201A1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/843,486 US4729962A (en) 1986-03-24 1986-03-24 Semiconductor junction formation by directed heat

Publications (1)

Publication Number Publication Date
FR2596201A1 true FR2596201A1 (fr) 1987-09-25

Family

ID=25290132

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8616556A Pending FR2596201A1 (fr) 1986-03-24 1986-11-27 Procede de fabrication de jonctions semi-conductrices et produits ainsi obtenus

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4729962A (fr)
JP (1) JP2610853B2 (fr)
DE (1) DE3640713A1 (fr)
FR (1) FR2596201A1 (fr)
GB (1) GB2188481B (fr)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5278097A (en) * 1989-07-31 1994-01-11 Texas Instruments Incorporated Method of making doped silicon spheres
DE4109956A1 (de) * 1991-03-26 1992-10-01 Siemens Ag Verfahren zum kurzzeittempern einer halbleiterscheibe durch bestrahlung
US5270248A (en) * 1992-08-07 1993-12-14 Mobil Solar Energy Corporation Method for forming diffusion junctions in solar cell substrates
US5395794A (en) * 1993-04-22 1995-03-07 Sklyarevich; Vladislav E. Method of treating semiconductor materials
DE4331937A1 (de) * 1993-09-16 1994-03-17 Ulrich Prof Dr Mohr Verfahren zur Eindiffusion von Dotanten in Halbleiterfestkörper
US5510271A (en) * 1994-09-09 1996-04-23 Georgia Tech Research Corporation Processes for producing low cost, high efficiency silicon solar cells
US6143633A (en) * 1995-10-05 2000-11-07 Ebara Solar, Inc. In-situ diffusion of dopant impurities during dendritic web growth of crystal ribbon
MY179365A (en) * 2015-02-25 2020-11-05 Toray Industries P-type impurity-diffusing composition, method for manufacturing semiconductor device using said composition, solar cell, and method for manufacturing said solar cell

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2507822A1 (fr) * 1979-05-29 1982-12-17 Photowatt International Procede de fabrication de cellules solaires et cellules solaires correspondantes
US4468260A (en) * 1982-06-22 1984-08-28 Ushio Denki Kabushiki Kaisha Method for diffusing dopant atoms
EP0142114A2 (fr) * 1983-11-11 1985-05-22 TELEFUNKEN electronic GmbH Procédé de fabrication d'une cellule solaire

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3940289A (en) * 1975-02-03 1976-02-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Flash melting method for producing new impurity distributions in solids
JPS5552221A (en) * 1978-10-12 1980-04-16 Toshiba Corp Impurity dispersion method and its device
JPS55127016A (en) * 1979-03-26 1980-10-01 Hitachi Ltd Manufacturing of semiconductor device
US4273950A (en) * 1979-05-29 1981-06-16 Photowatt International, Inc. Solar cell and fabrication thereof using microwaves
JPS56100412A (en) * 1979-12-17 1981-08-12 Sony Corp Manufacture of semiconductor device
CA1174285A (fr) * 1980-04-28 1984-09-11 Michelangelo Delfino Ecoulement de materiaux structurels de circuits integres obtenu au moyen d'un laser
CA1177148A (fr) * 1981-10-06 1984-10-30 Robert J. Mcintyre Reseau de photodiodes a avalanche
US4571366A (en) * 1982-02-11 1986-02-18 Owens-Illinois, Inc. Process for forming a doped oxide film and doped semiconductor
JPS58186933A (ja) * 1982-04-23 1983-11-01 Sharp Corp 半導体素子の製造方法
JPS5948402A (ja) * 1982-09-14 1984-03-19 Asahi Chem Ind Co Ltd 携帯用殺虫マツト
US4514440A (en) * 1983-12-12 1985-04-30 Allied Corporation Spin-on dopant method
US4539431A (en) * 1983-06-06 1985-09-03 Sera Solar Corporation Pulse anneal method for solar cell
US4521441A (en) * 1983-12-19 1985-06-04 Motorola, Inc. Plasma enhanced diffusion process
US4621411A (en) * 1984-09-28 1986-11-11 Texas Instruments Incorporated Laser-enhanced drive in of source and drain diffusions
US4619036A (en) * 1984-09-28 1986-10-28 Texas Instruments Incorporated Self-aligned low-temperature emitter drive-in

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2507822A1 (fr) * 1979-05-29 1982-12-17 Photowatt International Procede de fabrication de cellules solaires et cellules solaires correspondantes
US4468260A (en) * 1982-06-22 1984-08-28 Ushio Denki Kabushiki Kaisha Method for diffusing dopant atoms
EP0142114A2 (fr) * 1983-11-11 1985-05-22 TELEFUNKEN electronic GmbH Procédé de fabrication d'une cellule solaire

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN *

Also Published As

Publication number Publication date
GB8628541D0 (en) 1987-01-07
DE3640713A1 (de) 1987-10-08
JPS62226671A (ja) 1987-10-05
GB2188481A (en) 1987-09-30
JP2610853B2 (ja) 1997-05-14
US4729962A (en) 1988-03-08
GB2188481B (en) 1989-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4041278A (en) Heating apparatus for temperature gradient zone melting
US4505759A (en) Method for making a conductive silicon substrate by heat treatment of oxygenated and lightly doped silicon single crystals
FR2473787A1 (fr) Procede de fabrication d'un composant semi-conducteur par implantation ionique d'impuretes dans un support
EP0008661A1 (fr) Procédé de traitement thermique préliminaire de corps semiconducteurs pour en accroitre ulterieurement l'effet de piegeage interne
FR2463507A1 (fr) Procede de fabrication d'une couche de silicium polycristallin a basse resistivite
FR2596201A1 (fr) Procede de fabrication de jonctions semi-conductrices et produits ainsi obtenus
Mathiot et al. Phosphorus diffusion from a spin-on doped glass (SOD) source during rapid thermal annealing
Wong et al. Bulk and surface effects of heat treatment of p‐type InP crystals
Hartiti et al. Large diffusion length enhancement in silicon by rapid thermal codiffusion of phosphorus and aluminum
JP2004063863A (ja) 半導体装置の製造方法
Seidel et al. Temperature transients in heavily doped and undoped silicon using rapid thermal annealing
US5550082A (en) Method and apparatus for doping silicon wafers using a solid dopant source and rapid thermal processing
JP3094816B2 (ja) 薄膜の成長方法
US5262349A (en) Method for producing a II-VI compound semiconductor device including mercury
JPH07263713A (ja) シリコン単結晶自己支持薄膜の製造法
JPH06508957A (ja) 固体ドーパントソースと急速熱処理を使用してシリコンウェーハをドープする方法と装置
US4033786A (en) Temperature gradient zone melting utilizing selective radiation coatings
JPH0555233A (ja) 半導体基板の製造方法
EP0787839B1 (fr) Procédé d'étalonnage de température d'un réacteur d'épitaxie
Chabane‐Sari et al. Hole trap level generation in silicon during rapid thermal annealing: Influence of substrate type and process conditions
JPS6174378A (ja) 赤外線照射により浅い接合とbsfを同時に形成する光センサの製造方法
JP2551040B2 (ja) 半導体装置の製造方法
Slaoui et al. Selective emitter formation using optical thermal heating [of solar cells]
JPS6298721A (ja) 3−V族化合物半導体へのZn固相拡散方法
Hammond et al. Design and fabrication of a high-damage threshold infrared Smartt interferometer