FR2501373A1 - Systeme d'analyse spectroscopique par absorption atomique - Google Patents

Systeme d'analyse spectroscopique par absorption atomique Download PDF

Info

Publication number
FR2501373A1
FR2501373A1 FR8203543A FR8203543A FR2501373A1 FR 2501373 A1 FR2501373 A1 FR 2501373A1 FR 8203543 A FR8203543 A FR 8203543A FR 8203543 A FR8203543 A FR 8203543A FR 2501373 A1 FR2501373 A1 FR 2501373A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
radiation
source
intensity
sample
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR8203543A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2501373B1 (fr
Inventor
Stanley B Smith Jr
Gary M Hieftje
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Instrumentation Laboratory Co
Original Assignee
Instrumentation Laboratory Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Instrumentation Laboratory Co filed Critical Instrumentation Laboratory Co
Publication of FR2501373A1 publication Critical patent/FR2501373A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2501373B1 publication Critical patent/FR2501373B1/fr
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/3103Atomic absorption analysis

Abstract

UN SYSTEME D'ANALYSE PAR ABSORPTION ATOMIQUE COMPREND NOTAMMENT UNE SOURCE DE RAYONNEMENT 12 DONT LE RAYONNEMENT CONTIENT UNE RAIE SPECTRALE CARACTERISTIQUE D'UN ELEMENT A ANALYSER, DES MOYENS DE COMMANDE DE LA SOURCE 24 QUI ALIMENTENT LA SOURCE A DEUX NIVEAUX D'INTENSITE NETTEMENT DIFFERENTS, UN TRANSDUCTEUR ELECTRONIQUE 18 QUI PRODUIT UN SIGNAL ELECTRIQUE CORRESPONDANT A L'INTENSITE DU FAISCEAU DE RAYONNEMENT QUI A TRAVERSE UNE REGION D'ANALYSE, ET UN CIRCUIT DE CALCUL DE RAPPORT LOGARITHMIQUE 30 QUI FOURNIT UNE INFORMATION DE CONCENTRATION CORRIGEE VIS-A-VIS DES EFFETS DE FOND, POUR L'ELEMENT INTERESSANT CONTENU DANS L'ECHANTILLON ANALYSE.

Description

1 2501373
Système d'analyse spectroscopique par absorption atomique " La présente invention concerne les systèmes
d'analyse spectroscopique et elle porte plus particulière-
ment sur les systèmes du type à absorption atomique. Dans les systèmes spectroscopiques à absorption atomique, on dissocie en atomes la matière de l'échantillon, par exemple dans une flamme ou dans un four tubulaire, on fait passer dans la matière de l'échantillon dissociée en
atomes un rayonnement contenant une raie spectrale de l'élé-
ment intéressant, et on mesure l'absorption du rayonnement à la longueur d'onde particulière intéressante. La source de rayonnement est fréquemment du type à cathode creus.e et
elle comporte une cathode qui est formée par le ou les élé-
ments à détecter, ou qui contient ces éléments, et qui émet
un faisceau consistant en un spectre atomique permanent, in-
tense et stable du ou des éléments qui forment la cathode.
Ce spectre contient une ou plusieurs raies spectrales très
étroites, et l'une d'elles est sélectionnée par un disposi-
tif approprié de sélection de longueur d'onde, comme par
exemple un monochromateur à réseau de diffraction ou à pris-
me. On s'est apercu que d'autres facteurs, communément appelés "effets de fond" affectent la précision des mesures
d'absorption atomique du fait qu'on mesure l'absorption to-
tale (diminution d'intensité du rayonnement à la longueur d'onde sélectionnée). Parmi les contributions aux "effets de fond ", figurent des facteurs tels que l'absorption due aux molécules et non aux atomes libres, l'instabilité de la source de rayonnement et la diffusion due aux particules
présentes à l'intérieur de la zone dans laquelle l'échan-
tillon est dissocié en atomes.
Un certain nombre de configurations ont été uti-
lisées pour établir une compensation vis-à-vis des effets de
fond. Les techniquesphotométriques à double faisceau procu-
rent une compensation vis-à-vis des variations dans la sour-
ce et dans les systèmes de détection, mais ne compensent pas de façon appropriée d'autres facteurs de fond. Dans certains systèmes, on utilise une source auxiliaire à large bande, comme une lampe au deutériumpour faire passer un faisceau
dans le chemin de l'échantillon (et dans le chemin de réfé-
rence dans un système à double faisceau). Un autre système de compensation utilise un aimant pour produire l'effet
Zeeman, c'est-à-dire pour obtenir deux faisceaux de a-
nement distincts polarisés orthogonalement, l'un contenant une longueur d'onde presque identique à la longueur d'onde de la source émettrice en l'absence de champ magnétique, et
l'autre contenant un rayonnement ayant deux longueurs d'on-
de différentes qui se trouvent de part et d'autre de la lon-
gueur d'onde du premier faisceau. Parmi les inconvénients du système de compensation du type à source de référence à
large bande, figure l'introduction de problèmes supplémen-
taires d'effets de fond dus à des facteurs tels que les
variations dans la source de référence et les erreurs d'ali-
gnement, tandis que le système de compensation d'effets de fond du type Zeeman introduit des restrictions d'emplacement
dues à l'aimant, il est complexe et il nécessite une instru-
mentation élaborée.
Conformément à l'invention, un système d'analyse spectroscopique comprend une source de rayonnement qui émet un rayonnement contenant une raie spectrale caractéristique d'un élément à analyser, une région d'analyse ouverte au passage du faisceau de rayonnement provenant de la source, et dans laquelle un échantillon de la substance à analyser est dissocié en atomes, des moyens de commande de la source destinés à alimenter alternativement la source à un premier niveau d'intensité pour donner un rayonnement de sortie ayant une raie spectrale étroite à une longueur d'onde d'un élément à détecter, et à un niveau d'intensité supérieur, pour donner un rayonnement de sortie s'étendant sur une gamme de longueurs d'onde plus large, avec atténuation de l'intensité pour la longueur d'onde de la raie spectrale étroite, des moyens transducteurs électroniques destinés à générer un signal électrique qui correspond à l'intensité du rayonnement détecté pour le faisceau de rayonnement qui traverse la région d'analyse, et des moyens destinés à utiliser les valeurs relatives des signaux électriques correspondant aux deux niveaux d'intensité d'alimentation de la source pour fournir une information de concentration
concernant l'élément présent dans l'échantillon analysé.
Dans des modes de réalisation préférés, la source de rayonnement est une lampe à cathode creuse et le système comprend des premier et second éléments de mémorisation de
signal électrique (par exemple des circuits échantillonneurs-
bloqueurs),et une commande synchrone pour mémoriser alterna-
tivement les signaux provenant des moyens transducteurs dans les deux éléments de mémorisation, en synchronisme avec la commutation des niveaux d'intensité de la lampe à cathode creuse par les moyens de commande de la source. Le courant qui circule au niveau de correction des effets de fond est de préférence au moins égal à cinq fois le courant qui circule au niveau d'intensité correspondant à l'échantillon et, dans un système particulier, le courant qui circule dans la lampe
à cathode creuse au niveau d'intensité normal (niveau corres-
pondant à l'échantillon) est de l'ordre de 5 à 25 mA, tandis que le courant est de l'ordre de 200 à 500 mnA pour le niveau d'intensité supérieur (correction des effets de fond). Le
système comprend de préférence des moyens destinés à inté-
grer le signal électrique développé par les moyens transduc-
teurs, et la commande définit des intervalles d'intégration qui varient en fonction inverse des intensités des premier et second rayonnements de. sortie, l'intervalle d'intégration pour le signal d'échantillon étant égal à soixante fois l'intervalle d'intégration pour le signal de correction des effets de fond, dans un mode de réalisation particulier. On
notera qu'on peut employer d'autres intervalles d'intégra-
tions et d'autres niveaux d'alimentation de la source, en fonction de la nature de la source et du type de traitement
de signal employé.
Dans un mode de réalisation particulier, on utili-
se une seule lampe à cathode creuse, tandis que dans un au-
tre mode de réalisation, on utilise un élément auxiliaire
avec la lampe à cathode creuse pour atténuer encore davan-
tage l'intensité du rayonnement à la longueur d'onde de la
raie spectrale étroite.
L'invention sera mieux comprise à la lecture de
la description qui va suivre de modes de réalisation, don-
nés à titre non limitatif. La suite de la description se
réfère aux dessins annexés sur lesquels
La figure ITest un schéma synoptique d'un systè-
me d'analyse spectroscopique par absorption atomique con-
forme à l'invention La figure 2 est une-vue en perspective d'une
source de rayonnement qui est utilisée dans le système re-
présenté sur la figure 1; La figure 3 est un schéma du circuit d'attaque de source qui est utilisé dans le système représenté sur la figure -1 Les figures 4A,4B,4C, représentent une série de graphiques théoriques donnant l'intensité en fonction de * la longueur d'onde pour le rayonnement émis par la source de rayonnement dans le système de la figure 1
Les figures 5A et 5B sont des graphiques qui il-
l.ustrent deux modes de fonctionnement-différents conformes à l'invention;
La: figure 6 est'un schéma d'un circuit de-trai-
- tement de signal-qui est employé dans le système représen-
té sur la figure 1;
La figure 7 est un diagramme séquentiel qui illus-
tre une séquence de fonctionnement du système représenté sur la figure 1
La figure 8 est un graphique qui montre les don-
nées de pouvoir d'absorption obtenues avec le système re-
présenté'sur la figure 1; et La figure 9 est une vue en perspective d'un dispositif supplémentaire d'atténuation de raie spectrale destiné à être utilisé dans un autre système d'analyse
spectroscopique par absorption atomique conforme à l'in-
vention.
-On va maintenant considérer la figure 1 en notant que le système d'analyse par absorption atomique qui est représenté sur cette figure emploie une structure 10'qui définit une région d'analyse, comme par exemple une flamme provenant d'un brûleur de dissociation atomique dans lequel l'échantillon à analyser est aspiré, ou un four tubulaire de dissociation atomique. La source de rayonnement 12 est une lampe à cathode creuse qui comporte une cathode cons- tituée par le ou les éléments à analyser et qui dirige un faisceau de rayonnement 14 à travers une vapeur atomique dans la région d'analyse 10, en direction d'un filtre de longueur d'onde, ou dispositif sélecteur, 16, qui est un monochromateur dans ce mode de réalisation. Le sélecteur de longueur d'onde 16 comporte un photocapteur 18 (par exemple un tube photomultiplicateur) qui génère un signal
électrique proportionnel à l'intensité du rayonnement dé-
tecté et qui est transmis par la ligne 20 vers le 'circuit de traitement de signal 22. Le circuit 22 traite ce signal
de photocapteur sous la dépendance de signaux qui provien-
nent du dispositif de commande 24 et il génère sur les li-
gnes 26 et 28 des signaux de sortie qui sont appliqués au circuit de calcul de rapport logarithmique 30. Le signal de sortie du circuit 30 est appliqué par la ligne 32, sous
la forme d'un signal de pouvoir d'absorption, à un équipe-
ment de sortie approprié 34, tel qu'un dispositif d'afficha-
ge ou un enregistreur. Le dispositif de commande 24 appli-
que également des signaux de commande au circuit d'attaque 36 qui applique des signaux d'alimentation à la source de
rayonnement 12 par la ligne 38.
Comme le montre la figure 2, la lampe à cathode creuse 12 comprend une ampoule 40 qui comporte une fenêtre
de sortie 42 qui est traversée par le faisceau de rayonne-
ment 14, et un culot de montage 44. L'ampoule 40 contient une cathode creuse 46 qui est supportée par des isolateurs
48, 50 et qui est connectée à la borne 52. Une anode asso-
ciée 54 se présente sous la forme d'un anneau qui est sup-
porté sur des tiges isolantes 56 et qui est connecté à la
borne 58.
On peut voir des détails du circuit d'attaque de cathode creuse, 36, en se référant à la figure 3. L'anode 54 de la lampe à cathode creuse 12 est connectée à une ?5 1 37z alimentation à 400 V par la borne 60, et sa cathode 46 est connectée par la résistance 62 à l'électrode de drain 64 d'un interrupteur électronique a transistor NOS à canal N, 66, pouvant supporter une tension de 450 V (transistor de la firme Air National Rectifier, portant la référence 433). L'électrode de source 68 est connectée à la masse
par la résistance 70 et l'électrode de grille 72 est con-
nectée à l'étage amplificateur 74. Une boucle de réaction
qui comprend l'amplificateur 76 est connectée entre l'élec-
trode de source 68 et l'entrée inverseuse 78 de l'amplifi-
cateur 74. La sortie d'un étage préamplificateur 80 est connectée par la résistance 82 à l'amplificateur 74, et
1 'entrée du préamplificateur o est commandée par les inter-
rupteurs électroniques de sélecteur 86, 88 et 90, par l'intermédiaire de la résistance 84. Un signal présent sur l'entrée de commande 92 ferme l'interrupteur 86 de façon à
connecter le réseau diviseur de tension 94 au préamplifica-
teur 80; un signal présent sur l'entrée de commande 96
ferme l'interrupteur 88 de façon à connecter le réseau di-
viseur de tension 98 à l'amplificateur 80; et en l'absence de signal de commande sur l'une ou l'autre des lignes 92,
96, le circuit NON-OU 100 ferme l'interrupteur 90 pour con-
necter à la masse l'entrée de l'amplificateur 80. Le réseau diviseur de tension 94 comprend la résistance 102 et le potentiomètre 104, et sa sortie établit par l'intermédiaire de l'interrupteur de sélepteur 86 une alimentation à un
premier niveau d'intensité de la lampe à cathode creuse 12.
Le réseau 98 comprend la résistance 106 et le potentiomètre 108 et sa sortie alimente la lampe à cathode creuse à un second niveau d'intensité, plus élevé, par l'intermédiaire
de l'interrupteur 88.
Dans un premier mode, ou mode d'échantillon,
l'interrupteur 86 est fermé et le signal provenant du ré-
seau diviseur 94 est transmis par les amplificateurs 80 et 74 de façon à fermer l'interrupteur 66 pour faire circuler le courant d'échantillon (is) dans la lampe à cathode creuse 12. Comme l'indique la figure 4A, dans ce premier mode d'alimentation, ou mode d'échantillon, le spectre de sortie 110 de la source 12 présente une raie spectrale étroite avec un pic à la longueur d'onde >O0' Dans un second mode, ou mode de fond, l'interrupteur 88 est fermé et un signal provenant du réseau diviseur 98 est appliqué par l'intermédiaire des amplificateurs 80 et 74 pour ac- tionner l'interrupteur 66 de façon qu'un courant beaucoup plus élevé (iB) circule dans la lampe à cathode creuse 12, c'est-à-dire un courant de 300 MA produisant un spectre
de sortie 114 représenté sur la figure 4B, ce spectre pré-
sentant une intensité réduite ou atténuée à la longueur d'onde A O' comme il est indiqué en 116. La demi-largeur du spectre d'intensité d'échantillon 110 est d'environ
0,005 A, tandis que la demi-largeur du spectre de correc-
tion de fond élargi 114 est d'environ 0,02 X, cette largeur variant d'un élément à un autre. Le monochromateur 16 a une largeur de fente (passebande) d'environ 5 X, comme il
est indiqué en 118 sur la figure 4C. Les deux courbes d'in-
tensité sont superposées.sur la figure 40 et l'aire totale du spectre à intensité élevée 114 (correction de fond) est égale à environ 60 fois l'aire du spectre d'intensité
d'échantillon 110.
Pendant le fonctionnement, le circuit d'attaque
36 alimente alternativement la source 12 en mode d'intensi-
té normale ou mode d'échantillon (figure 4A) et en mode d'intensité élevée, ou mode de correction de fond (figure 4B). La'durée de l'alimentation dans le mode d'intensité
normale a une valeur nominale de 12 ms (mais elle est va-
riable sous la dépendance du dispositif de commande 24), et la durée de chaque alimentation dans le mode d'intensité élevée a une valeur nominale de 300 Jus. Le graphique de la
figure 5A montre une-séquence de fonctionnement dans laquel-
le la source 12 est alimentée dans le mode d'intensité nor-
male (is) 120 pendant 12 ms avec un courant qui est de fa-
çon caractéristique inférieur à 20 mA, mais qui peut être
de 50 mA ou plus; puis ensuite dans le mode de correc-
tion de fond 122 pendant 300 ps, avec une intensité qui est de façon caractéristique d'au moins 200 mA. Le signal de sortie de la source 12 est intégré dans chaque mode
8 2 501373
(en laissant 100 frs de temps de stabilisation), ce qui fait que le temps d'intégration dans le mode d'intensité d'échantillon 120 est approximativement égal à 60 fois le temps d'intégration dans le mode d'intensité de fond 122. Les signaux intégrés sont mémorisés dans des circuits échantillonneurs-bloqueurs séparés, puis ils font l'objet d'un calcul de rapport pour donner un signal de pouvoir d'absorption corrigé. La figure 5B est une représentation graphique similaire d'une autre séquence de fonctionnement du système (particulièrement utile dans des analyseurs qui emploient un dispositif de dissociation atomique du type à four tubulaire) dans laquelle la source 12 est tout d'abord
alimentée pendant 6 ms dans le mode d'intensité d'échantil-
lon 124, puis alimentée pendant 300 las dans le mode à in-
tensité élevée 122', puis ensuite alimentée pendant encore 6 mas dans le mode d'intensité d'échantillon 126, ce qui donne à nouveau un rapport de temps d'intégration d'environ 60. On peut voir des détails du circuit de traitement de signal 22 en se référant à la figure 6. Cette figure montreun circuit de traitement monocanal, mais on voit qu'on peut utiliser un circuit similaire dans des systèmes
à deux canaux, ainsi que dans des systèmes à double fais-
ceau. Le circuit de traitement 22 comprend un étage préamplificateur 130 dont la sortie est connectée par un interrupteur 132 à un-circuit intégrateur 134 qui fait
fonction de filtre lorsqu'un interrupteur 136 est fermé.
Lorsqu'un signal de commande est appliqué sur la ligne 140, une boucle de restitution de la composante continue, 138, est branchée entre la sortie de l'intégrateur 134 et
l'entrée du préamplificateur 130.
- Deux circuits échantillonneurs-bloqueurs 150, 152 sont connectés à la sortie de l'intégrateur 134, et le circuit 150 est connecté directement à l'intégrateur 134 tandis que le circuit 152 est connecté par l'intermédiaire d'un interrupteur 154 qui déconnecte le circuit 152 de l'intégrateur 134 et applique une tension de référence au circuit 152 sous l'effet d'un signal présent sur l'entrée de commande 155, lorsque le système doit être utilisé sans
correction de fond. La sortie du circuit échantillonneur-
bloqueur 150 est connectée par un amplificateur 156 et la
ligne d'entrée 26 au circuit de calcul de rapport logari-
thmique 30, et la sortie du circuit échantillonneur-bloqueur 152 est connectée par un amplificateur 158 et la ligne d'entrée 28 au circuit de calcul de rapport logarithmique
30. Un circuit amplificateur d'attaque 162 et un interrup-
teur électronique 164 appliquant un signal de sortie de pouvoir d'absorption sur la ligne 32 sont connectés à la sortie du circuit de calcul de rapport logarithmique 30 par l'intermédiaire d'un interrupteur électronique 160
(qui est fermé lorsqu'une entrée de commande 161 est exci-
tée). Dans un autre mode de fonctionnement (mode d'émis-
sion), le signal d'échantillon qui provient du circuit 150 peut être appliqué directement à la ligne de sortie 32 par
une ligne 166 et l'interrupteur 164.
On va maintenant considérer le diagramme séquen-
tiel de la figure 7 qui permet de mieux comprendre le fonctionnement du système qui est représenté sur la figure 1. Ce diagramme montre une séquence de signaux de commande qui sont générés par le dispositif de commande 24 et sont
appliqués au circuit de traitement de signal 22 et au cir-
cuit d'attaque 36. Une impulsion 180 est appliquée sur la ligne 92 pour fermer l'interrupteur 86; des impulsions
182, 188 et 192 sont appliquées sur la ligne 133 pour fer-
mer l'interrupteur 132; des impulsions 186 sont appliquées sur la ligne 137 pour fermer l'interrupteur 136 et pour
restaurer l'intégrateur 134; une impulsion 190 est appli-
quée sur la ligne 96 pour fermer l'interrupteur 88; une
impulsion 184 est appliquée au circuit échantillonneur-
bloqueur 150 par la ligne 151; une impulsion 194 est appliquée au circuit échantillonneur-bloqueur 152 par la ligne 153; une impulsion 196 est appliquée sur la ligne 161 à titre d'impulsion de mise à jour d'entrée/sortie; une impulsion 198 constitue un signal de restauration qui est généré au début de chaque cycle d'analyse; et une impulsion 200 constitue un signal de rétablissement de v5n137 7 composante continue qui est appliqué au circuit 138 par
la ligne 140.
En considérant la figure 3, on voit que la lampe à cathode creuse 12 est alimentée par l'impulsion 180 dans son mode d'échantillon (soit de façon caractéristique à un niveau de courant inférieur à 20 mA) pendant un intr-a!l^ de temps qui est variable par incréments d'une milliseconde,
sous la dépendance du dispositif de commande 24. L'impul-
sion d'intégration 182 commence 100 jis après l'impulsion d'échantillon 180 et se termine 10 Fs avant la fin se l'impulsion 180, ce qui fait que le signal provenant du
photocapteur -18 est transmis à l'intégrateur 134 par l'am-
plificateur 130 (figure 6). L'intégrateur 134 accumule
ainsi le signal de sortie du photocapteur 18 pendant l'in-
tervalle de temps qui est déterminé par l'impulsion 182.
L'impulsion 184 d'une durée de 300 is excite ensuite la li-
gne 151 pour transférer vers le circuit échantillonneur-
bloqueur 150 le signal intégré qui provient de l'intégra-
teur 134. Un signal de restauration d'intégrateur 186 présent sur la ligne 137 décharge le condensateur qui fait
partie de l'intégrateur 134 et l'interrupteur 132 est fer-
mé (impulsion 188 d'une durée de 1000 is), ce qui fait que le signal provenant du photocapteur 18 est transmis avec
le circuit 134 dans son mode de filtre. A la fin de l'im-
pulsion 188, l'impulsion 190 (d'une durée de 310 "s) est appliquée sur la ligne 96 pour fermer l'interrupteur 88 et pour alimenter la lampe à cathode creuse 12 dans son mode d'intensité élevée, soit de façon caractéristique avec un courant de 200 mA ou plus, pour produire un signal de sortie de la manière indiquée sur la figure 4B; 100 ps plus tard, l'impulsion 192 connecte l'intégrateur 134 au photocapteur 18, pour accumuler pendant 200 is le signal
de sortie du photocapteur 18; et 10 is plus tard, l'impul-
sion 194 (d'une durée de 300 ps) excite la ligne 153 pour transférer vers le circuit échantillonneur-bloqueur 152 la charge qui provient de l'intégrateur 134. Les deux signaux mémorisés dans les circuits échantillonmeurs-bloqueurs 150 et 152 sont appliqués par les amplificateurs 156, 158 au circuit de calcul de rapport logarithmique 30. Lorsque
l'impulsion de mise à jour d'entrée/sortie 196 est appli-
quée sur la ligne 161 pour fermer l'interrupteur 160, le
signal de sortie du circuit de calcul de rapport logari-
thmique 30 est appliqué par l'amplificateur 162 à la li- gne de sortie 32, sous la forme d'un signal de sortie de pouvoir d'absorption corrigé pour tenir compte des effets
de fond, qui est utilisé ou présenté de la manière désirée.
Le signal de rétablissement de la composante continue, 200, qui est généré sur la ligne 140 à la fin du cycle d'analyse, ferme la boucle de réaction 138 en préparation du cycle
d'analyse suivant. Pendant les intervalles entre les im-
pulsions 180 et 190, le courant qui circule dans le tube
12 est à un niveau de repos d'environ Q,5 miA.
Ce système de correction des effets de fond a
été évalué pour un certain nombre d'éléments, parmi les-
quels ceux qui sont résumés dans le tableau figurant en annexez n a tout d'abord mesuré les valeurs du pouvoir d'absorption en faisant circuler le courant normal (is) vers la lampe à cathode creuse 12, puis on a mesuré les valeurs du pouvoir d'absorption en faisant circuler le courant de correction de fond (iB) vers la lampe 12. Le
tableau présenté en annexe indique la diminution résultan-
te du pouvoir d'absorption, en pourcentage, sous la ru-
brique "profondeur de modulation". La courbe de la figure 8 illustre la nature de la correction de fond qu'on obtient avec ce système pour l'élément manganèse ("profondeur de
modulation" de 68 %).
On peut parvenir à une atténuation supplémentaire au creux 116 dans le mode d'intensité élevée (figure 4B)
en employant le dispositif auxiliaire 200 qui est repré-
senté sur la figure 9. Ce dispositif est intercalé dans le faisceau de rayonnement 14 entre la source 12 et la cellule d'analyse 10 (figure 1). Comme l'indique la figure 9, le dispositif 200 comprend une ampoule 202 munie de
fenêtres planes en quartz 204, 206 aux extrémités opposées.
Un disque de céramique 208 supporte une cathode 210 qui comprend le ou les mêmes éléments à analyser que la lampe
12 250137 3
12 et elle comporte un passage cylindrique 212 qui la traverse de part en part. Le dispositif auxiliaire 200 est monté de façon que le faisceau de rayonnement 14
soit dirigé à travers le passage 212, tandis qu'une len-
tille (non représentée) située entre les fenêtres en quartz 42 et 204 forme une image de la cathode 46 sur le passage de cathode 212. Le cylindre de cathode 210 est
alimenté par la borne de connexion 218. Au cours de l'uti-
lisation, le dispositif 200 est alimenté simultanément à l'alimentation de la source 12 dans son mode à courant élevé. Des atomes de l'élément à détecter sont générés
dans le passage 212 et absorbent le rayonnement du fais-
ceau 14, ce qui produit une atténuation supplémentaire au
creux 116, comme il est indiqué en 220 sur la figure 4B.
Il va de soi que de nombreuses modifications peuvent être apportées au dispositif décrit et représenté,
sans sortir du cadre de l'invention.
?501373
A N N E X E
TABLEAU
Elément Ag Al As Au Ba Be Cd Co Cu Cr Fe Pb Mn Ni Pt Se Tl Sn V Zn IS IB profondeur de modulation 94- Avec: iS iB = courant = courant de crête de crête d'échantillon, en mA de correction de fond, en mA
AS - AB
Profondeur de modulation = x 100 AS AS = pouvoir d'absorption pendant l'impulsion d'échantillon AB = pouvoir d'absorption pendant l'impulsion de correction de fond
250137?
REZVEIDICATIOITS
1. Système d'analyse spectroscopique comrreu:_ une source de rayonnement (12) qui émet un ra.oYnement
comprenant une raie spectrale caractéristique d'un élé-
ment à analyser, une région d'analyse (10) ouverte au pas-
sage du faisceau de rayonnement (1/) prodennt de:-
ce, et dans laquelle un échantillon de la substance à ana-
lyser est dissocié en atomes, et des moyens transducteurs électroniques (18) destinés à générer un signal 1électrique corresnonda-t 'intenrsité de rayorflnement rh-+eetée pour
le faisceau de rayonnement provenant de la source qui tra-
verse la région d'analyse, caractérisé en ce qu'il coorpc ze des moyens de commande de source (24) destinés à alimenter alternativement la source à un premier niveau d'intensité pour produire un premier rayonnement de sortie qui présente
une raie spectrale étroite à une longueur d'onde d'un lé-
ment à détecter, et à un second niveau d'intensité, plus
élevé, pour produire un second rayonnement de sortie s'éten-
dant sur une plus grande plage de longueur d'onde, avec at-
ténuation de l'intensité à la longueur d'ondcecentrale de la raie spectrale étroite, et des moyens (22) destinés à
utiliser les valeurs relatives des signaux électriques cor-
respondant aux premier et second rayonnements de sortie pour produire une information de concentration concernant
l'élément considéré dans l'échantillon analysé.
2. Système selon la revendication 1, caractérisé en ce que la source de rayonnement comprend une lampe à
cathode creuse (12).
3. Système selon la revendica -
tion I ou 2, caractérisé en ce qu'il comporte lun dispositif
auxiliaire (200) destiné à atténuer encore davantage l'in-
tensité du rayonnement à la longueur d'onde de la raie
*spectrale étroite. 4. Système selon la revendication 2, caractérisé
en ce que les moyens de commande de la source (24) alimen-
tent la lampe (12) à un niveau de courant de repos d'enei-
ron 1 mA pendant un intervalle entre les remier et second
niveaux d'intensité.
5. Système selon la revendication 2, caractérisé
en ce que les moyens de commande de la source (24) compren-
nent des moyens destinés à alimenter la lampe à une premiè-
re valeur de courant pour donner le premier rayonnement de sortie, et des moyens destinés à alimenter la lampe à un niveau de courant au moins cinq fois supérieur
au premier niveau de courant, pour donner le second rayon-
nement de sortie.
6. Système selon l'une quelconque des revendica-
tions 1 à 5, caractérisé en ce qu'il comporte des premier et second éléments de mémorisation de signal électrique (150, 152) et une commande synchrone destinée à mémoriser
alternativement les signaux provenant des moyens transduc-
teurs (18) dans les premier et second éléments de mémorisa-
tion, en synchronisme avec la commutation des niveaux d'in-
tensité de la source par les moyens de commande de la sour-
ce; et-en ce que les moyens d'utilisation utilisent le
rapport entre les signaux mémorisés pour donner l'informa-
tion de concentration.
7. Système selon la revendication 6, caractérisé
en ce que les moyens d'utilisation comprennent un amplifica-
teur (30) qui génère un rapport logarithmique.
8. Système selon la revendication 7, caractérisé en ce qu'il comporte des moyens (164) destinés à mettre
hors circuit l'amplificateur (30) générant un rapport loga-
rithmique, pour faire fonctionner le système d'analyse spec-
troscopique dans un mode d'émission; et des moyens (154)
destinés à imposer un signal de référence fixe à l'amplifi-
cateur générant un rapport logarithmique, pour faire fonc-
tionner le système dans un mode d'absorption sans correc-
tion des effets de fond.
9. Système selon l'une quelconque des revendica-
tions 1 à 8, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens
(134) destinés à intégrer le signal électrique qui est gé-
néré par les moyens transducteurs électroniques (18), et des moyens qui définissent des intervalles d'intégration variant en fonction inverse des intensités des premier et
second rayonnements de sortie.
10. Système d'absorption atomique comprenant une lampe à cathode creuse (12) qui émet un rayonnement qui ôontient une raie spectrale caractéristique d'un élément à analyser, une région d'analyse (10) ouverte au passage du faisceau de rayonnement (14) provenant de la lampe, et dans
laquelle un échantillon de la substance à analyser est dis-
socié en atomes, un monochromateur (16) destiné à isoler une région de longueur d'onde relativement étroite, et des
moyens transducteurs électroniques (18) couplés au monochro-
mateur de façon à générer un signal électrique correspondant
à l'intensité de rayonnement détectée du faisceau de rayon-
nement provenant de la lampe qui traverse la région d'ana-
lyse, caractérisé en ce qu'il comporte des moyens de comman-
de de la lampe (24) destinés à alimenter alternativement la
lampe à un premier niveau d'intensité de courant pour pro-
duire un premier rayonnement de sortie qui comporte une raie spectrale étroite à-une longueur d'onde d'un élément à détecter, et à un second niveau d'intensité de courant au moins cinq fois supérieur au premier niveau d'intensité de
courant, pour donner un second rayonnement de sortie s'éten--
dant sur une plage de longueur d'onde plus large, avec at-
ténuation de l'intensité à la longueur d'onde centrale de
la raie spectrale étroite, des moyens (134) destinés à in-
tégrer le signal électrique qui est généré par les moyens transducteurs électroniques, des moyens qui définissent des intervalles d'intégration variant en fonction inverse des intensités des premier et second rayonnements de sortie, des premier et second éléments de mémorisation de signal électrique (150, 152), une commande synchrone destinée à mémoriser alternativement les signaux provenant des moyens
d'intégration dans les premier et second éléments de mémo-
risation, en synchronisme avec la commutation des niveaux d'intensité de la lampe par les moyens de commande de la lampe, et des moyens (34) qui réagissent au rapport des signaux enregistrés de façon à fournir une information de concentration corrigée vis-à-vis des effets de fond, pour
l'élément présent dans l'échantillon analysé.
FR8203543A 1981-03-04 1982-03-03 Systeme d'analyse spectroscopique par absorption atomique Expired FR2501373B1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/240,542 US4462685A (en) 1981-03-04 1981-03-04 Spectroanalytical system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2501373A1 true FR2501373A1 (fr) 1982-09-10
FR2501373B1 FR2501373B1 (fr) 1986-03-28

Family

ID=22906962

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8203543A Expired FR2501373B1 (fr) 1981-03-04 1982-03-03 Systeme d'analyse spectroscopique par absorption atomique

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4462685A (fr)
JP (1) JPS57160047A (fr)
AU (1) AU546278B2 (fr)
CA (1) CA1187628A (fr)
DE (1) DE3207377A1 (fr)
FR (1) FR2501373B1 (fr)
GB (1) GB2093990B (fr)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60142228A (ja) * 1983-12-29 1985-07-27 Sumitomo Electric Ind Ltd 光フアイバの特性測定方法
JPS61281943A (ja) * 1985-06-07 1986-12-12 Shimadzu Corp 原子吸光分析装置
JPS61281942A (ja) * 1985-06-07 1986-12-12 Shimadzu Corp 原子吸光分析用光源
JP2590307B2 (ja) * 1985-12-23 1997-03-12 株式会社島津製作所 原子吸光分析装置
CA1261486A (fr) * 1986-04-16 1989-09-26 Michael A. Lucas Systemes d'analyse directe d'echantillons solides par spectroscopie d'emission atomique
AU586101B2 (en) * 1986-04-16 1989-06-29 Chamber Ridge Pty. Ltd. Systems for the direct analysis of solid samples by atomic emission spectroscopy
JPS631937A (ja) * 1986-06-23 1988-01-06 Hitachi Ltd 分光分析装置
DE3635684A1 (de) * 1986-10-21 1988-05-05 Gruen Optik Wetzlar Gmbh Multispektrallampenanordnung
US4893259A (en) * 1988-06-02 1990-01-09 The Perkin-Elmer Corporation Standardization of spectral lines
US5018856A (en) * 1989-10-30 1991-05-28 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Agriculture Continuum source atomic absorption spectrometry
US5042946A (en) * 1990-05-02 1991-08-27 Hitachi, Ltd. Atomic absorption spectrophotometric method and apparatus
JP2570546B2 (ja) * 1992-04-30 1997-01-08 株式会社島津製作所 原子吸光分光光度計
US5364492A (en) * 1992-09-17 1994-11-15 Varian Associates, Inc. Method of deposing by molecular beam epitaxy
JP3508722B2 (ja) * 2000-12-25 2004-03-22 株式会社島津製作所 原子吸光光度計
JP3922209B2 (ja) * 2003-05-08 2007-05-30 株式会社島津製作所 原子吸光光度計
RU2273004C1 (ru) * 2004-10-21 2006-03-27 Татьяна Васильевна Гриневич Спектрофотометр
WO2016075751A1 (fr) * 2014-11-11 2016-05-19 株式会社島津製作所 Photomètre d'absorption atomique et procédé de mesure d'absorption atomique

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3610760A (en) * 1968-05-01 1971-10-05 Commw Scient Ind Res Org Method and apparatus for selectively modulating resonance lines emitted by an atomic spectral lamp and detection thereof
DE2327752B2 (de) * 1973-05-30 1976-10-14 Beckman Instruments GmbH, 8000 München Beleuchtungssystem fuer ein atomabsorptionsspektralphotometer
JPS5425889A (en) * 1977-07-29 1979-02-27 Shimadzu Corp Atomic absorption analysis apparatus

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3089382A (en) * 1957-07-01 1963-05-14 Shell Oil Co Method and apparatus for analyzing fluids
US3370503A (en) * 1963-12-09 1968-02-27 Beckman Instruments Inc Radiation comparison system
BE755253A (fr) * 1969-08-25 1971-02-25 Technicon Instr Appareil pour l'analyse simultanee de plusieurs elements par spectroscopie de fluorescence atomique
US3689158A (en) * 1971-02-16 1972-09-05 Beckman Instruments Inc Atomic absorption analyzer compensated for background absorption
FR2153521A5 (fr) * 1971-09-14 1973-05-04 Commissariat Energie Atomique
US3914054A (en) * 1972-09-13 1975-10-21 Us Energy Zeeman effect absorption spectrometer
US3796499A (en) * 1973-03-22 1974-03-12 United Aircraft Corp Method and apparatus for determining the concentration of paramagnetic material in a gas mixture
US3884583A (en) * 1973-05-03 1975-05-20 Gen Motors Corp Method and apparatus for magnetically modulated resonance analysis of gas
JPS50103876A (fr) * 1974-01-30 1975-08-16
US3937577A (en) * 1974-05-15 1976-02-10 E. I. Du Pont De Nemours And Company Zeeman effect atomic absorption spectrometer
US3924950A (en) * 1974-09-16 1975-12-09 Perkin Elmer Corp Atomic absorption spectroscopy with background correction
DE2456713A1 (de) * 1974-11-30 1976-06-10 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Atomabsorptions-spektrometer
JPS51134687A (en) * 1975-05-16 1976-11-22 Jeol Ltd Atomic extinction analysis method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3610760A (en) * 1968-05-01 1971-10-05 Commw Scient Ind Res Org Method and apparatus for selectively modulating resonance lines emitted by an atomic spectral lamp and detection thereof
DE2327752B2 (de) * 1973-05-30 1976-10-14 Beckman Instruments GmbH, 8000 München Beleuchtungssystem fuer ein atomabsorptionsspektralphotometer
JPS5425889A (en) * 1977-07-29 1979-02-27 Shimadzu Corp Atomic absorption analysis apparatus

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ANALYTICAL CHEMISTRY, vol. 50, no. 11, septembre 1978; D.A. BATH et al. "Sequential hollow cathodes for background correction in atomic absorption spectrometry", pages 1597-1599 *
APPLIED SPECTROSCOPY, vol. 31, no. 2, 1977; T: ARAKI et al. "A dual wavelength atomic absorption spectrophotometer using a pulsed hollow cathodelamp", pages 150-155 *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, vol. 3, no. 48, 24 avril 1979, page 52 E106; & JP-A-54-25889 (SHIMAZU SEISAKUSHO K.K.) 27-02-1979 *

Also Published As

Publication number Publication date
AU8107282A (en) 1982-09-09
US4462685A (en) 1984-07-31
GB2093990A (en) 1982-09-08
JPS57160047A (en) 1982-10-02
GB2093990B (en) 1985-05-22
CA1187628A (fr) 1985-05-21
DE3207377A1 (de) 1982-11-11
AU546278B2 (en) 1985-08-22
FR2501373B1 (fr) 1986-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FR2501373A1 (fr) Systeme d'analyse spectroscopique par absorption atomique
EP1068510B1 (fr) Procede d'etalonnage en longueur d'onde d'un dispositif de filtrage d'un rayonnement electromagnetique
EP0762145B1 (fr) Système de traitement d'impulsions provenant de l'interaction d'une particule gamma avec un détecteur de rayonnement CdTe
EP0077739A1 (fr) Dispositif de mesure d'un courant ionique produit par un faisceau d'ions
FR2588656A1 (fr) Appareil de spectro-colorimetrie a fibres optiques
ATE546724T1 (de) Hochgeschwindigkeitsanalysierer mit nah- infrarotstrahlung, die durch dicke proben optisch dichten materials gesendet wird
EP4010685A1 (fr) Procédé d'analyse d'un gaz par un capteur optique
JP2005537489A (ja) テラヘルツ分光法
WO2007121593A1 (fr) Procédé pour la mesure et la détermination de concentration dans un milieu mélangé
WO2006037879A1 (fr) Detection des emissions de fluorescence induite par un laser
EP1565763A1 (fr) Circuit de traitement ameliore pour chaine de spectrometrie et chaine de spectrometrie utilisant un tel circuit
EP3492950B1 (fr) Procédé d'étalonnage d'un spectrometre gamma, système d'étalonnage et ensemble de spectrometrie gamma associés
CA2736593C (fr) Systeme de controle de derive de gain de photomultiplicateur et procede associe
EP0692907A1 (fr) Circuit de suppression de courant d'obscurité de photodétecteur
ElSabbagh et al. A laser Thomson scattering system for low density glow discharge plasmas
Becker et al. Flexible instrument for time‐correlated single‐photon counting
EP0109316B1 (fr) Circuit d'amplification et de mesure de charge électrique par impulsions
FR2549222A1 (fr) Spectrometre
FR2713768A1 (fr) Procédé et appareil de mesure optique de la température d'un mélange gazeux.
CH406451A (fr) Dispositif électrométrique
EP0065456B1 (fr) Dispositif pour déterminer la densité des états électroniques inoccupés d'un matériau situés au-dessus du niveau de Fermi
US11892409B1 (en) Discrete light detection device
JP2002181706A (ja) ダイオキシン類の分析装置
JPH03115816A (ja) 放射計の軌道上校正装置
BE634758A (fr)

Legal Events

Date Code Title Description
TP Transmission of property
ST Notification of lapse