ES2865490T3

ES2865490T3 - Película conductora, panel táctil y dispositivo de visualización

Info

Publication number: ES2865490T3
Application number: ES18201410T
Authority: ES
Inventors: Yumi Takizawa; Tomohiro Nakagome
Original assignee: VTS Touchsensor Co Ltd
Current assignee: VTS Touchsensor Co Ltd
Priority date: 2017-10-20
Filing date: 2018-10-19
Publication date: 2021-10-15
Anticipated expiration: 2038-10-19
Also published as: CN109696989A; TW201923532A; EP3474124B1; PT3474124T; JP2019079101A; TWI691876B; JP7039248B2; EP3474124A1; US20190121469A1; US10627971B2

Abstract

Estructura de electrodos en forma de película conductora para una pantalla táctil capacitiva que comprende: - una capa dieléctrica transparente (33) que tiene una primera superficie (33S) y una segunda superficie (31S) que es una superficie en el lado opuesto a la primera superficie (33S); - una pluralidad de primeros alambres de electrodos (33SR) que se extiende en una primera dirección (D1) sobre la primera superficie (33S) mientras se flexiona a lo largo del plano de la primera superficie, definiendo de este modo las primeras porciones flexionadas (33Q) de los primeros alambres de electrodos (33SR), en donde los primeros alambres de electrodos (33SR) están dispuestos a lo largo de una segunda dirección (D2) ortogonal a la primera dirección (D1) y en donde los primeros alambres de electrodos (33SR) adyacentes están separados entre sí; y - una pluralidad de segundos alambres de electrodos (31DR) que se extiende en una segunda dirección (D2) sobre la segunda superficie (31S) mientras se flexiona a lo largo del plano de la segunda superficie, definiendo de este modo las segundas porciones flexionadas (31Q) de los segundos alambres de electrodos (31DR), en donde los segundos alambres de electrodos (31DR) están dispuestos a lo largo de la primera dirección (D1) y en donde los segundos alambres de electrodos (31DR) adyacentes están separados entre sí, - en donde un patrón formado por la pluralidad de primeros alambres de electrodos (33SR) y la pluralidad de segundos alambres de electrodos (31DR), cuando se ven desde una dirección orientada hacia la primera superficie (33S), constituyen un patrón de alambres de electrodos; - en donde el patrón de alambres de electrodos se produce utilizando un patrón de electrodos de referencia formado por líneas flexionadas regularmente, estando el patrón de electrodos de referencia constituido por un patrón en el que -- una pluralidad de primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) definida por alambres de electrodos imaginarios que se extienden en la primera dirección (D1) mientras se flexionan repetidamente en un período predeterminado, definiendo de este modo las primeras porciones flexionadas de referencia (40Q) de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR), --- en donde los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) tienen una forma de línea poligonal regular que se extiende en general en la primera dirección (D1), estando una pluralidad de porciones de alambre corto de referencia (40E) unida por medio de las primeras porciones flexionadas de referencia (40Q), --- en donde los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) están dispuestos a lo largo de la segunda dirección (D2) en un primer intervalo de referencia (Ps), y en donde las porciones de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) adyacentes, dispuestas a lo largo de la segunda dirección (D2), tienen fases opuestas, y -- una pluralidad de segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) definida por alambres de electrodos imaginarios que se extienden en la segunda dirección (D2) mientras se flexionan repetidamente en el período predeterminado, definiendo de este modo las segundas porciones flexionadas de referencia (41Q) de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR), --- en donde los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) tienen una forma de línea poligonal regular que se extiende en general en la segunda dirección (D2), estando una pluralidad de porciones de alambre corto de referencia (41E) unida por medio de las segundas porciones flexionadas de referencia (41Q), --- en donde los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) están dispuestos a lo largo de la primera dirección (D1) en un segundo intervalo de referencia (Pd), y en donde las porciones de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) adyacentes están dispuestas a lo largo de la primera dirección (D1) y tienen fases opuestas, y - en donde, en el patrón de alambres de electrodos -- las primeras porciones flexionadas (33Q) de los primeros alambres de electrodos (33SR) están desplazadas aleatoriamente en relación con el orden de disposición de las primeras porciones flexionadas de referencia (40Q) de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) y -- las segundas porciones flexionadas (31Q) de los segundos alambres de electrodos (31DR) están desplazadas aleatoriamente en relación con el orden de disposición de las segundas porciones flexionadas de referencia (41Q) de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR); - en donde un primer valor de evaluación (Ev1), que es un logaritmo común de un valor obtenido mediante la división de un valor acumulativo de una densidad espectral en una región de frecuencia definida por un valor acumulativo de una densidad espectral de referencia en la región de frecuencia definida, es 3,6 o inferior, -- en donde la densidad espectral se calcula a partir de un espectro de potencia, que se obtiene por medio de una transformada de Fourier bidimensional del patrón de alambres de electrodos, mediante la división del espectro de potencia en intervalos de una anchura de frecuencia predeterminada y mediante la división de un valor acumulativo de una intensidad espectral de cada intervalo por la anchura de frecuencia predeterminada; -- en donde la densidad espectral de referencia se calcula a partir de un espectro de potencia de referencia, que se obtiene por medio de una transformada de Fourier bidimensional del patrón de referencia, mediante la división del espectro de potencia de referencia en los intervalos de la anchura de frecuencia predeterminada y mediante la división de un valor acumulativo de una intensidad espectral de referencia de cada intervalo por la anchura de frecuencia predeterminada; y -- en donde la región de frecuencia definida es una región de frecuencias iguales o inferiores a un valor mínimo de un valor que es uno de --- un cuarto de la primera frecuencia espacial (fs), en donde la primera frecuencia espacial (fs) es una frecuencia espacial de un pico derivado de la periodicidad de la disposición de las porciones de alambre corto de referencia (40E, 41E) en el patrón de electrodos de referencia, --- una segunda frecuencia espacial (fp), en donde la segunda frecuencia espacial (fp) es una frecuencia espacial de un pico que aparece de conformidad con la magnitud del primer intervalo de referencia (Ps) de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR), y --- una tercera frecuencia espacial (fw), en donde la tercera frecuencia espacial (fw) es una frecuencia espacial de un pico que aparece de conformidad con la magnitud del segundo intervalo de referencia (Pd) de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR).

Description

DESCRIPCIÓN

Película conductora, panel táctil y dispositivo de visualización

[Campo técnico]

La presente invención se refiere a una estructura de electrodos en forma de película conductora que comprende una pluralidad de alambres de electrodos, un panel táctil que comprende dicha película conductora y un dispositivo de visualización que comprende dicho panel táctil.

Esta solicitud reivindica prioridad con respecto a la solicitud japonesa 2017-203313.

[Antecedentes de la técnica]

Un dispositivo de visualización que emplea un panel táctil como dispositivo de entrada comprende: un panel de visualización para visualizar una imagen y el panel táctil que está ubicado sobre el panel de visualización. Un método de capacitancia electrostática, en el que el contacto de un dedo o similar con una superficie operativa del panel táctil se detecta como un cambio en la capacidad electrostática, se utiliza ampliamente como método para detectar una posición de contacto de un dedo o similar sobre el panel táctil. En un panel táctil que emplea un método de capacitancia electrostática, una película conductora del panel táctil comprende: una pluralidad de primeros electrodos que se extiende a lo largo de una primera dirección, una pluralidad de segundos electrodos que se extiende a lo largo de una segunda dirección ortogonal a la primera dirección, y una capa dieléctrica transparente interpuesta entre los primeros electrodos y los segundos electrodos. La posición de contacto de un dedo o similar sobre la superficie operativa se detecta luego en función de un cambio en la capacidad electrostática entre un primer electrodo y cada uno de la pluralidad de segundos electrodos que se detectan para cada primer electrodo.

En un ejemplo de una película conductora de este tipo, cada uno de la pluralidad de primeros electrodos comprende una pluralidad de primeros alambres de electrodos que se extiende a lo largo de la primera dirección, y cada uno de la pluralidad de segundos electrodos comprende una pluralidad de segundos alambres de electrodos que se extiende a lo largo de la segunda dirección. Como alambres de electrodos se utilizan alambres delgados que comprenden un metal, tal como plata o cobre. El uso de un metal como material para los alambres de electrodos permite obtener una respuesta rápida y una alta resolución cuando se detecta la posición de contacto, al mismo tiempo que también permite un aumento en el tamaño del panel táctil y una reducción de los costes de producción. En una forma en la que los alambres de electrodos comprenden un metal que absorbe o refleja la luz visible, la pluralidad de primeros alambres de electrodos y la pluralidad de segundos alambres de electrodos forman un patrón en forma de rejilla en el que los alambres de electrodos son ortogonales entre sí, cuando son vistos desde una dirección orientada hacia la superficie operativa. Entretanto, en el panel de visualización al que está laminado el panel táctil, un patrón en forma de rejilla también está formado por una matriz negra que define una pluralidad de píxeles a lo largo de la primera dirección y la segunda dirección.

En la configuración mencionada anteriormente, el intervalo entre los primeros alambres de electrodos adyacentes es generalmente diferente del intervalo en la segunda dirección entre píxeles adyacentes y el intervalo entre los segundos alambres de electrodos adyacentes es diferente del intervalo en la primera dirección entre píxeles adyacentes. Así mismo, cuando es vista desde una dirección orientada hacia la superficie operativa, una estructura periódica en forma de rejilla formada por los primeros alambres de electrodos y los segundos alambres de electrodos se encuentra sobre una estructura periódica en forma de rejilla que define los píxeles, como resultado de lo cual un desplazamiento entre las dos estructuras periódicas puede dar lugar a un efecto muaré. La observación del efecto muaré provoca un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en el dispositivo de visualización.

Una contramedida que se ha propuesto para suprimir tal efecto muaré es reducir la periodicidad de la estructura periódica de los alambres de electrodos. Si la periodicidad del patrón formado por la pluralidad de alambres de electrodos es baja, es menos probable que se observe el patrón de alambres de electrodos como una estructura periódica, por lo que es menos probable que un desplazamiento entre el patrón de píxeles, que es el patrón que define los píxeles, y el patrón de alambres de electrodos se observe como un desplazamiento entre dos estructuras periódicas. En consecuencia, se suprime la observación del efecto muaré.

En el panel táctil descrito en el documento de patente 1, por ejemplo, los primeros alambres de electrodos y los segundos alambres de electrodos tienen cada uno una forma de línea poligonal en la que las porciones de cresta y las porciones de valle se repiten de manera alterna, y un patrón formado por estos alambres de electrodos tiene una estructura repetitiva que comprende polígonos distintos de rectángulos. La periodicidad de un patrón de alambres de electrodos de este tipo es, por lo tanto, menor que la periodicidad de un patrón de alambres de electrodos en forma de rejilla en el que están dispuestos rectángulos.

[Documentos de la técnica anterior]

[Documentos de patente]

[Documento de patente 1] WO 2014/115831

Se divulgan paneles táctiles en los documentos JP 2016212518 A, WO 2016/174986 A1, JP 2017130112 A, EP 2985750 A1, EP 3166375 A1 y US 2015/198972 A1.

[Sumario de la invención]

[Problemas que se desean resolver mediante la invención]

Cuanto menor es la periodicidad del patrón de alambres de electrodos, menos probable es que el patrón de alambres de electrodos se observe como una estructura periódica, por lo que es menos probable que el desplazamiento entre el patrón de píxeles y el patrón de alambres de electrodos se observe como un desplazamiento entre dos estructuras periódicas. Por lo tanto, la observación de un efecto muaré se suprime cuanto menor es la periodicidad del patrón de alambres de electrodos. Por ejemplo, si los alambres de electrodos tienen una forma de línea poligonal que se flexiona irregularmente, es posible reducir más la periodicidad del patrón de alambres de electrodos en comparación con el patrón descrito en el documento de patente 1 que comprende alambres de electrodos que tienen una forma de línea poligonal regular. Aquí y en lo siguiente, en particular, el término irregularmente también se debe entender como aleatoriamente.

Entretanto, cuando la periodicidad del patrón de alambres de electrodos es baja, se produce una desigualdad en el brillo, etc., dentro de una región en la que está situado el patrón de alambres de electrodos y se puede producir un fenómeno denominado "granulosidad", donde existe una sensación de parpadeo distribuido en forma granulada o deslumbramiento de pantalla durante la visualización desde una dirección orientada hacia la superficie operativa. Se cree que la diferencia entre la escasez o la densidad de los alambres de electrodos es una causa de granulosidad debido a la desigualdad en la densidad de los alambres de electrodos dentro del patrón cuando la periodicidad del patrón de alambres de electrodos es baja. Si la periodicidad del patrón de alambres de electrodos es excesivamente baja, por tanto, existe un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en el dispositivo de visualización debido a la granulosidad. Por lo tanto, sería deseable regular el grado de la periodicidad del patrón de alambres de electrodos al mismo tiempo que se tiene en cuenta el efecto muaré y la granulosidad.

El objetivo de la presente invención consiste en proporcionar una película conductora, un panel táctil y un dispositivo de visualización que permitan suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en el dispositivo de visualización.

[Medios para resolver el problema]

El problema mencionado anteriormente se resuelve mediante una estructura de electrodos en forma de película conductora con los atributos especificados en la reivindicación 1.

De acuerdo con la configuración mencionada anteriormente, en un patrón de alambres de electrodos que comprende alambres de electrodos en forma de líneas flexionadas irregulares, la periodicidad del patrón se mantiene hasta un grado que se suprime la aparición de granulosidad intensa. Por lo tanto, es posible suprimir la observación de un efecto muaré cuando el patrón de alambres de electrodos está situado sobre un patrón de píxeles y también es posible suprimir la observación de granulosidad. Por consiguiente, es posible suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en un dispositivo de visualización.

En la configuración mencionada anteriormente, el primer valor de evaluación puede ser 1,0 o mayor. De acuerdo con la configuración mencionada anteriormente, la periodicidad que provoca que se observe una estructura periódica en el patrón de alambres de electrodos es lo suficientemente baja como para suprimir el efecto muaré. Por lo tanto, el efecto muaré se suprime adecuadamente cuando el patrón de alambres de electrodos y el patrón de píxeles se encuentran uno sobre otro. En particular, cuando la posición del patrón de los segundos alambres de electrodos en relación con el patrón de los primeros alambres de electrodos en el patrón de alambres de electrodos está desplazada de una posición ideal, la observación de una estructura periódica provocada por este desplazamiento también se suprime si el primer valor de evaluación es 1,0 o mayor, por lo que el efecto muaré se suprime correctamente.

En la configuración mencionada anteriormente, la proporción de la longitud del espacio entre los alambres de electrodos de referencia adyacentes en relación con el intervalo de disposición de los alambres de electrodos de referencia puede estar entre 5% y 10% en la pluralidad de primeros alambres de electrodos de referencia y la pluralidad de segundos alambres de electrodos de referencia.

De acuerdo con la configuración mencionada anteriormente, el espacio entre los alambres de electrodos de referencia no es excesivamente grande, por lo que es posible suprimir la observación de un efecto muaré resultante de la periodicidad en el patrón de alambres de electrodos atribuible a este espacio. Así mismo, el espacio mencionado anteriormente no es excesivamente pequeño, por lo que es posible formar de manera precisa la forma en las inmediaciones de las porciones flexionadas en el patrón de alambres de electrodos que se basa en el patrón de referencia. Cuando el espacio entre los alambres de electrodos de referencia satisface la proporción mencionada anteriormente, el primer valor de evaluación funciona de manera eficiente como un indicador relacionado con la granulosidad.

En la configuración mencionada anteriormente, en el espectro de potencia, cuando una frecuencia que es la mitad de la primera frecuencia espacial constituye una cuarta frecuencia espacial, un segundo valor de evaluación, que es un logaritmo común de un valor obtenido mediante la división de la densidad espectral del patrón de alambres de electrodos en la cuarta frecuencia espacial por el valor medio de la densidad espectral del patrón de alambres de electrodos en la región de frecuencia definida, puede ser 2,0 o inferior.

De acuerdo con la configuración mencionada anteriormente, la periodicidad de la estructura periódica formada cuando la posición del segundo patrón de alambres de electrodos en relación con el primer patrón de alambres de electrodos del patrón de alambres de electrodos está desplazada de una posición ideal se mantiene a un nivel bajo. Por lo tanto, se suprime la observación de un efecto muaré resultante de esta periodicidad. En consecuencia, incluso si este desplazamiento se produce en el patrón de alambres de electrodos, es posible suprimir el deterioro en la calidad de las imágenes observadas en el dispositivo de visualización.

Un panel táctil para resolver el problema mencionado anteriormente comprende: la estructura de electrodos mencionada anteriormente en forma de película conductora, una capa de cubierta para cubrir la película conductora y una circuitería periférica para medir la capacidad electrostática entre los alambres de electrodos dispuestos sobre la primera superficie y los alambres de electrodos dispuestos sobre la segunda superficie. De acuerdo con la configuración mencionada anteriormente, se logra un panel táctil que suprime la aparición de un efecto muaré y la aparición de granulosidad.

Un dispositivo de visualización para resolver el problema mencionado anteriormente comprende: un panel de visualización que tiene una pluralidad de píxeles dispuestos en forma de rejilla para visualizar información, un panel táctil que transmite la información visualizada por el panel de visualización, y una unidad de control para controlar la activación del panel táctil, y el panel táctil es el panel táctil mencionado anteriormente. En virtud de la configuración mencionada anteriormente, se suprime la aparición de un efecto muaré y de granulosidad, por lo que es posible suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes observadas.

[Ventaja de la invención]

De acuerdo con la presente invención, es posible suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en un dispositivo de visualización.

[Breve descripción de los dibujos]

[Figura 1] es una vista en sección transversal que muestra la estructura en sección transversal de un dispositivo de visualización en relación con un primer modo de realización del dispositivo de visualización.

[Figura 2] es una vista en planta que muestra la estructura plana de una película conductora de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 3] es una vista en planta que muestra la disposición de píxeles de un panel de visualización de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 4] es un diagrama esquemático para ilustrar la configuración eléctrica de un panel táctil de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 5] muestra la configuración de unos alambres de electrodos de referencia de detección de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 6] muestra la configuración de unos alambres de electrodos de detección de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 7] muestra la configuración de unos alambres de electrodos de referencia de activación de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 8] muestra la configuración de unos alambres de electrodos de activación de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 9] muestra la configuración de un patrón de referencia de acuerdo con el primer modo de realización. [Figura 10] muestra la configuración de un patrón de alambres de electrodos de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 11] muestra esquemáticamente un espectro de potencia obtenido por medio de una transformada de Fourier bidimensional del patrón de referencia de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 12] muestra la relación de la frecuencia espacial y la densidad espectral en un espectro de potencia del patrón de referencia de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 13] muestra esquemáticamente un espectro de potencia obtenido por medio de una transformada de Fourier bidimensional del patrón de alambres de electrodos de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 14] muestra la relación de la frecuencia espacial y la densidad espectral en un espectro de potencia del patrón de alambres de electrodos de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 15] muestra una imagen de espectro de potencia del patrón de referencia de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 16] muestra una imagen de espectro de potencia del patrón de alambres de electrodos de acuerdo con el primer modo de realización.

[Figura 17] muestra esquemáticamente un espectro de potencia obtenido por medio de una transformada de Fourier bidimensional de un patrón de referencia de acuerdo con un segundo modo de realización, en relación con un segundo modo de realización del dispositivo de visualización.

[Figura 18] muestra la relación de la frecuencia espacial y la densidad espectral en un espectro de potencia del patrón de referencia de acuerdo con el segundo modo de realización.

[Figura 19] muestra esquemáticamente un espectro de potencia obtenido por medio de una transformada de Fourier bidimensional de un patrón de alambres de electrodos de acuerdo con el segundo modo de realización.

[Figura 20] muestra la relación de la frecuencia espacial y la densidad espectral en un espectro de potencia del patrón de alambres de electrodos de acuerdo con el segundo modo de realización.

[Figura 21] es una vista en sección transversal que muestra la estructura en sección transversal de un dispositivo de visualización de acuerdo con un ejemplo de variante.

[Figura 22] es una vista en sección transversal que muestra la estructura en sección transversal de un dispositivo de visualización de acuerdo con un ejemplo de variante.

[Modo de realización de la invención]

(Primer modo de realización)

Un primer modo de realización de una película conductora, un panel táctil y un dispositivo de visualización se describirán con referencia de la figura 1 a la figura 16. Cabría destacar que los dibujos muestran esquemáticamente la configuración de la película conductora, el panel táctil y el dispositivo de visualización con el fin de ilustrar un primer modo de realización de estos, y las proporciones de tamaño de cada elemento en las configuraciones representadas pueden diferir de las proporciones reales.

[Configuración del dispositivo de visualización]

La configuración del dispositivo de visualización se describirá con referencia a la figura 1.

Como se muestra en la figura 1, un dispositivo de visualización 100 comprende, por ejemplo, una laminación en la que un panel de visualización 10, que es un panel de cristal líquido, y un panel táctil 20 están unidos entre sí por medio de una capa de adhesión transparente que no está representada, y comprende, además, un circuito para activar el panel táctil 20 y una unidad de control para controlar la activación del panel táctil 20. Cabría destacar que la capa de adhesión transparente mencionada anteriormente se puede omitir, con la condición de que las posiciones relativas del panel de visualización 10 y el panel táctil 20 estén fijadas mediante otro elemento estructural, tal como un cerramiento. Una superficie de visualización sustancialmente rectangular está definida sobre la superficie del panel de visualización 10 y la información, tal como imágenes basadas en datos de imagen, se visualiza en la superficie de visualización.

Los elementos estructurales que forman el panel de visualización 10 están dispuestos de la siguiente manera en sucesión desde el elemento estructural más alejado del panel táctil 20. Es decir, los siguientes están ubicados en orden de distancia decreciente desde el panel táctil 20: una placa polarizadora de lado inferior 11, un sustrato de transistor (al que se hace referencia a continuación como TFT) de película delgada 12, una capa de TFT 13, una capa de cristal líquido 14, una capa de filtro de color 15, un sustrato de filtro de color 16 y una placa polarizadora de lado superior 17.

Entre estos componentes, los electrodos de píxeles que forman subpíxeles están situados en forma de matriz en la capa de TFT 13. Así mismo, una matriz negra de la capa de filtro de color 15 tiene la forma de una rejilla formada por una pluralidad de celdas unitarias que tiene una forma rectangular. En virtud de esta forma de rejilla, la matriz negra define una pluralidad de regiones que tiene una forma rectangular que sirve como regiones orientadas hacia cada uno de los subpíxeles, y unas capas de color para cambiar la luz blanca a la luz de cualquier color entre rojo, verde y azul están situadas en cada región definida por la matriz negra.

Cabría destacar que, si el panel de visualización 10 es un panel EL para emitir luz de color, que comprende un píxel rojo para emitir luz roja, un píxel verde para emitir luz verde y un píxel azul para emitir luz azul, entonces se puede omitir la capa de filtro de color 15 mencionada anteriormente. En este caso, las porciones de límite entre píxeles adyacentes del panel EL funcionan como la matriz negra. Así mismo, el panel de visualización 10 puede ser un panel de plasma para emitir luz por medio de descarga eléctrica, en cuyo caso las porciones de límite que definen una capa de fósforo rojo, una capa de fósforo verde y una capa de fósforo azul funcionan como la matriz negra. El panel táctil 20 es un panel táctil electrostático-capacitivo y constituye un laminado en el que una película conductora 21 y una capa de cubierta 22 están unidas entre sí por medio de una capa de adhesión transparente 23, siendo el laminado transmisor de luz para transmitir información visualizada por el panel de visualización 10.

Específicamente, entre los elementos estructurales que forman el panel táctil 20, los siguientes están situados en sucesión desde el elemento estructural más cercano al panel táctil 10: un sustrato transparente 31, una pluralidad de electrodos de activación 31DP, una capa de adhesión transparente 32, un sustrato dieléctrico transparente 33, una pluralidad de electrodos de detección 33SP, la capa de adhesión transparente 23 y la capa de cubierta 22. Entre estos, el sustrato transparente 31, los electrodos de activación 31DP, la capa de adhesión transparente 32, el sustrato dieléctrico transparente 33 y los electrodos de detección 33SP forman la película conductora 21.

El sustrato transparente 31 tiene propiedades aislantes y propiedades de transmisión de luz para transmitir información, tal como imágenes mostradas por la superficie de visualización del panel de visualización 10, y está situado sobre la totalidad de la superficie de visualización. El sustrato transparente 31 está formado a partir de un material de base, tal como un sustrato de vidrio transparente, una película de resina transparente o un sustrato de silicio, por ejemplo. Los ejemplos de resinas que se pueden utilizar para el sustrato transparente 31 incluyen tereftalato de polietileno (PET), polimetilmetacrilato (PMMA), polipropileno (PP) y poliestireno (PS). El sustrato transparente 31 puede ser una estructura de una única capa que comprenda un material de base o puede ser una estructura multicapa en la que se apilan dos o más materiales de base.

La superficie del sustrato transparente 31 en el lado opuesto al panel de visualización 10 se establece como una superficie de electrodos de activación 31S y la pluralidad de electrodos de activación 31DP está dispuesta sobre la superficie de electrodos de activación 31S. La pluralidad de electrodos de activación 31DP y las porciones de la superficie de electrodos de activación 31S, donde los electrodos de activación 31DP no están situados, están unidas al sustrato dieléctrico transparente 33 por medio de la única capa de adhesión transparente 32.

La capa de adhesión transparente 32 tiene propiedades de transmisión de luz para transmitir la información, tal como imágenes mostradas en la superficie de la pantalla, y un adhesivo a base de poliéter o adhesivo acrílico, o similar, se utiliza para la capa de adhesión transparente 32, por ejemplo.

El sustrato dieléctrico transparente 33 tiene propiedades de transmisión de luz para transmitir la información, tal como imágenes mostradas en la superficie de visualización, y una constante dieléctrica adecuada para detectar la capacidad electrostática entre electrodos. El sustrato dieléctrico transparente 33 está formado a partir de un material de base, tal como un sustrato de vidrio transparente, una película de resina transparente o un sustrato de silicio, por ejemplo. Algunos ejemplos de resinas que se pueden utilizar para el sustrato dieléctrico transparente 33 incluyen PET, PMMA, PP y PS. El sustrato dieléctrico transparente 33 puede ser una estructura de una única capa que comprenda un material de base o puede ser una estructura multicapa en la que se apilan dos o más materiales de base.

La pluralidad de electrodos de activación 31DP están unidos al sustrato dieléctrico transparente 33 por medio de la capa de adhesión transparente 32 y, como resultado, la pluralidad de electrodos de activación 31DP están dispuestos sobre una superficie trasera del sustrato dieléctrico transparente 33 que es una superficie orientada hacia el sustrato transparente 31.

La superficie del sustrato dieléctrico transparente 33 en el lado opuesto a la capa de adhesión transparente 32 se establece como una superficie de electrodos de detección 33S, y la pluralidad de electrodos de detección 33SP está dispuesta sobre la superficie de electrodos de detección 33S. Es decir, el sustrato dieléctrico transparente 33 está interpuesto entre la pluralidad de electrodos de activación 31DP y la pluralidad de electrodos de detección 33SP. La pluralidad de electrodos de detección 33SP y las porciones de la superficie de electrodos de detección 33S, donde los electrodos de detección 33SP no están situados, están unidas a la capa de cubierta 22 por medio de la única capa de adhesión transparente 23.

La capa de adhesión transparente 23 tiene propiedades de transmisión de luz para transmitir la información, tal como imágenes mostradas en la superficie de la pantalla, y un adhesivo a base de poliéter o adhesivo acrílico, o similar, se utiliza para la capa de adhesión transparente 23, por ejemplo. El tipo de adhesivo utilizado para la capa de adhesión transparente 23 puede ser un adhesivo de laminación en húmedo o puede ser un adhesivo de laminación en seco o un adhesivo de laminación en caliente.

La capa de cubierta 22 está formada por un sustrato de vidrio, tal como vidrio reforzado, o una película de resina, etc., y la superficie de la capa de cubierta 22 en el lado opuesto a la capa de adhesión transparente 23 funciona como una superficie operativa 20S que constituye la superficie frontal del panel táctil 20.

Cabría destacar que, entre los elementos estructurales mencionados anteriormente, se puede omitir la capa de adhesión transparente 23. En una configuración en la que se omite la capa de adhesión transparente 23, la superficie de la capa de cubierta 22 orientada hacia sustrato dieléctrico transparente 33 se debería establecer como la superficie de electrodos de detección 33S, y la pluralidad de electrodos detectores 33SP se debería formar modelando una película delgada formada sobre la superficie de electrodos de detección 33S.

Así mismo, cuando se produce el panel táctil 20, es posible utilizar un método en el que la película conductora 21 y la capa de cubierta 22 son unidas por medio de la capa de adhesión transparente 23, y el siguiente método de producción también se puede utilizar como ejemplo de un método distinto de dicho método de producción. Es decir, se forma una capa de película delgada, que comprende un metal conductor, tal como cobre, directamente o con una capa inferior interpuesta, sobre la capa de cubierta 22, tal como una película de resina, y sobre la capa de película delgada se forma una capa protectora que tiene la forma del patrón de los electrodos de detección 33SP. La capa de película delgada se procesa luego a la forma de la pluralidad de electrodos de detección 33SP por medio de un método de grabado en húmedo que emplea cloruro férrico o similar, con lo que se obtiene una primera película. Así mismo, una capa de película delgada formada sobre otra película de resina que funciona como el sustrato transparente 31 se procesa a la forma de la pluralidad de electrodos de activación 31DP de la misma manera que los electrodos de detección 33SP, con lo que se obtiene una segunda película. La primera película y la segunda película son unidas luego por medio de las capas adhesivas transparentes 23, 32 al sustrato dieléctrico transparente 33 de tal manera que el sustrato dieléctrico transparente 33 queda interpuesto entre estas.

[Estructura plana de la película conductora]

La estructura plana de la película conductora 21 se describirá con referencia a la figura 2, centrándose en la relación de posición de los electrodos de detección 33SP y los electrodos de activación 31DP. Cabría destacar que, en la figura 2, la película conductora 21 es vista desde una dirección orientada hacia la superficie frontal del sustrato dieléctrico transparente 33 y cada región en forma de tira que se extiende a lo largo de una dirección transversal limitada por las líneas de cadena de dos puntos muestra una región en la que está dispuesto un electrodo de detección 33SP, y cada región en forma de tira que se extiende a lo largo de una dirección longitudinal limitada por las líneas de cadena de dos puntos muestra una región en la que está dispuesto un electrodo de activación 31Dp . Asimismo, los números de electrodos de detección 33SP y electrodos de activación 31DP se muestran de forma simplificada.

Así mismo, con el fin de simplificar la comprensión de la configuración de los electrodos de detección 33SP y los electrodos de activación 31DP, los alambres de electrodos de detección que forman los electrodos de detección 33SP se muestran únicamente para los electrodos de detección 33SP situados en el lado más superior de la figura 2 y los alambres de electrodos de activación que forman los electrodos de activación 31DP se muestran únicamente para los electrodos de activación 31DP situados en el extremo izquierdo lejano de la figura 2.

Como se muestra en la figura 2, la pluralidad de electrodos de detección 33SP sobre la superficie de electrodos de detección 33S del sustrato dieléctrico transparente 33 tienen cada uno la forma de una banda que se extiende a lo largo de una primera dirección D1, que constituye una dirección, y están dispuestos a lo largo de una segunda dirección D2 ortogonal a la primera dirección D1. Cada uno de los electrodos de detección 33SP está aislado de otro electrodo de detección 33SP adyacente.

Los electrodos de detección 33SP están formados a partir de una pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR, y un grupo de alambres de electrodos de detección que es un conjunto de una pluralidad de estos alambres de electrodos de detección 33SR está dispuesto sobre la superficie de electrodos de detección 33S. Una película metálica, tal como cobre, plata o aluminio se utiliza como material que forma los alambres de electrodos de detección 33SR, y los alambres de electrodos de detección 33SR se forman mediante el uso de grabado para modelar la película metálica formada sobre la superficie de electrodos de detección 33S, por ejemplo.

La pluralidad de electrodos de detección 33SP están conectados cada uno por separado a través de una almohadilla de detección 33P a un circuito de detección que es un ejemplo de circuitería periférica del panel táctil 20, y se mide un valor de corriente por medio del circuito de detección. Una pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR conectada a una almohadilla de detección 33P constituye alambres de electrodos de detección 33SR que forman un electrodo de detección 33SP. Una pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR que forma un electrodo de detección 33SP colabora para contribuir a la detección de un cambio en la capacidad electrostática en la región en la que está situado ese electrodo de detección 33SP.

La pluralidad de electrodos de activación 31DP sobre la superficie de electrodos de activación 31S del sustrato transparente 31 tienen cada uno la forma de una banda que se extiende a lo largo de la segunda dirección D2 y está dispuesta a lo largo de la primera dirección D1. Cada uno de los electrodos de activación 31DP está aislado de otro electrodo de activación 31DP adyacente.

Los electrodos de activación 31DP están formados a partir de una pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR, y un grupo de alambres de electrodos de activación que es un conjunto de una pluralidad de estos alambres de electrodos de activación 31DR está dispuesto sobre la superficie de electrodos de activación 31S. Una película metálica, tal como cobre, plata o aluminio se utiliza como material que forma los alambres de electrodos de activación 31DR, y los alambres de electrodos de activación 31DR se forman mediante el uso de grabado para modelar la película metálica formada sobre la superficie de electrodos de activación 31S, por ejemplo.

La pluralidad de electrodos de activación 31DP están conectados cada uno por separado a través de una almohadilla de activación 31P a un circuito de selección que es un ejemplo de circuitería periférica del panel táctil 20, y se recibe una señal de activación emitida por el circuito de selección, con lo que un electrodo de activación es seleccionado por el circuito de selección. Una pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR conectada a una almohadilla de activación 31P constituye alambres de electrodos de activación 31DR que forman un electrodo de activación 31DP. Una pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR que forma un electrodo de activación 31DP colabora para contribuir a la detección de un cambio en la capacidad electrostática en la región en la que está situado ese electrodo de activación 31DP.

Una porción superpuesta de los electrodos de detección 33SP y los electrodos de activación 31DP, como se ve en una vista en planta orientada hacia la superficie frontal del sustrato dieléctrico transparente 33, constituye un detector de capacidad ND que tiene una forma cuadrada definida por las líneas de cadena de dos puntos de la figura 2. Un detector de capacidad ND constituye una porción donde un electrodo de detección 33SP y un electrodo de activación 31DP se cruzan en tres dimensiones y es la unidad más pequeña del panel táctil 20 que permite la detección de una posición tocada por un dedo o similar del usuario.

Cabría destacar que el método para formar los alambres de electrodos de detección 33SR y los alambres de electrodos de activación 31DR no se limita al grabado mencionado anteriormente y los ejemplos de otros métodos que se pueden utilizar incluyen métodos de impresión.

[Estructura plana del panel de visualización]

La estructura plana de la capa de filtro de color 15 del panel de visualización 10, en otras palabras, la disposición de píxeles en el panel de visualización 10, se describirá con referencia a la figura 3.

Como se muestra en la figura 3, una matriz negra 15a de la capa de filtro de color 15 tiene un patrón de rejilla que comprende una pluralidad de celdas unitarias que tienen una forma rectangular dispuestas a lo largo de la primera dirección D1 y la segunda dirección D2. Un píxel 15P comprende tres celdas unitarias que son continuas a lo largo de la primera dirección D1 y la pluralidad de píxeles 15P está dispuesta en forma de rejilla a lo largo de la primera dirección D1 y la segunda dirección D2.

Cada uno de la pluralidad de píxeles 15P comprende: una capa de color rojo 15R para visualizar un color rojo, una capa de color verde 15G para visualizar un color verde y una capa de color azul 15B para mostrar un color azul. La capa de color rojo 15R, la capa de color verde 15G y la capa de color azul 15B están dispuestas repetidamente en ese orden a lo largo de la primera dirección D1 de la capa de filtro de color 15, por ejemplo. Así mismo, la pluralidad de capas de color rojo 15R está dispuesta de manera continua a lo largo de la segunda dirección D2, la pluralidad de capas de color verde 15G está dispuesta de manera continua a lo largo de la segunda dirección D2, y la pluralidad de capas de color azul 15B está dispuesta de manera continua a lo largo de la segunda dirección D2.

Una capa de color rojo 15R, una capa de color verde 15G y una capa de color azul 15B forman un píxel 15P, y la pluralidad de píxeles 15P está dispuesta a lo largo de la primera dirección D1 en un estado en el que el orden de disposición de la capa de color rojo 15R, la capa de color verde 15G y la capa de color azul 15B en la primera dirección D1 se mantiene. Así mismo, en otras palabras, la pluralidad de píxeles 15P está dispuesta en forma de tiras que se extienden a lo largo de la segunda dirección D2.

La anchura de un píxel 15P a lo largo de la primera dirección D1 es una primera anchura de píxel P1 y la anchura de un píxel 15P a lo largo de la segunda dirección D2 es una segunda anchura de píxel P2. La primera anchura de píxel P1 y la segunda anchura de píxel P2 se establecen cada una en un valor acorde con el tamaño del panel de visualización 10 y la resolución requerida del panel de visualización 10, entre otras cosas.

[Configuración eléctrica del panel táctil]

La configuración eléctrica del panel táctil 20 se describirá junto con la función de la unidad de control del dispositivo de visualización 100, con referencia a la figura 4. Cabría destacar que la configuración eléctrica de un panel táctil capacitivo mutuo 20 se describirá a continuación como un ejemplo de un panel táctil capacitivo electrostático 20. Como se muestra en la figura 4, el panel táctil 20 comprende un circuito de selección 34 y un circuito de detección 35 como circuitería periférica. El circuito de selección 34 está conectado a la pluralidad de electrodos de activación 31DP y el circuito de detección 35 está conectado a la pluralidad de electrodos de detección 33SP, y una unidad de control 36 del dispositivo de visualización 100 está conectada al circuito de selección 34 y al circuito de detección 35. La unidad de control 36 genera y emite una señal de sincronización de inicio para provocar que el circuito de selección 34 comience a generar una señal de activación para los electrodos de activación 31Dp . La unidad de control 36 genera y emite una señal de sincronización de exploración para provocar que el circuito de selección 34 explore sucesivamente un electrodo de activación objetivo al que se suministra la señal de activación, desde un primer electrodo de activación 31DP1 hasta un enésimo electrodo de activación 31DPn.

La unidad de control 36 genera y emite una señal de sincronización de inicio para provocar que el circuito de detección 35 comience a detectar una corriente que fluye a través de cada electrodo de detección 33SP. La unidad de control 36 genera y emite una señal de sincronización de exploración para provocar que el circuito de detección 35 explore sucesivamente un electrodo de detección objetivo de detección, desde un primer electrodo de detección 33SP1 hasta un enésimo electrodo de detección 33SPn.

El circuito de selección 34 comienza a generar una señal de activación de conformidad con la señal de sincronización de inicio emitida por la unidad de control 36 y explora el destino de salida de señal de activación desde el primer electrodo de activación 31DP1 hasta el enésimo electrodo de activación 31DPn de conformidad con la señal de sincronización de exploración emitida por la unidad de control 36.

El circuito de detección 35 comprende una unidad de adquisición de señal 35a y una unidad de procesamiento de señal 35b. La unidad de adquisición de señal 35a comienza a adquirir una señal de corriente, que es una señal analógica generada por cada electrodo de detección 33SP, de conformidad con la señal de sincronización de inicio emitida por la unidad de control 36. La unidad de adquisición de señal 35a luego explora una fuente de adquisición de la señal actual desde el primer electrodo de detección 33SP1 hasta el enésimo electrodo de detección 33SPn de conformidad con la señal de sincronización de escaneo emitida por la unidad de control 36.

La unidad de procesamiento de señal 35b procesa cada señal de corriente adquirida por la unidad de adquisición de señal 35a para generar una señal de tensión, que es un valor digital, y emite la señal de tensión generada a la unidad de control 36. De esta manera, el circuito de selección 34 y el circuito de detección 35 miden un cambio en la capacidad electrostática entre los electrodos de activación 31DP y los electrodos de detección 33SP generando una señal de tensión a partir de una señal de corriente que varía de acuerdo con el cambio en la capacidad electrostática.

La unidad de control 36 detecta una posición en la que un dedo o similar de un usuario entra en contacto con el panel táctil 20, de conformidad con la señal de tensión emitida por la unidad de procesamiento de señal 35b, y la información de la posición detectada se utiliza para diversos tipos de procesamiento, tal como generar información visualizada en la superficie de visualización del panel de visualización 10. Cabría destacar que el panel táctil 20 no es necesariamente el panel táctil capacitivo mutuo 20 mencionado anteriormente y este puede ser a partes iguales un panel táctil auto-capacitivo.

[Configuración del patrón de alambres de electrodos]

La configuración del patrón de alambres de electrodos formado superponiendo la pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR y la pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR se describirá con referencia de la figura 5 a la figura 10.

En el primer modo de realización, los alambres de electrodos de detección 33SR y los alambres de electrodos de activación 31DR respectivos tienen la forma de líneas flexionadas que están flexionadas irregularmente. El patrón formado por la pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR y el patrón formado por la pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR se producen utilizando un patrón de referencia formado a partir de líneas flexionadas regularmente. Se describirá un patrón de referencia de detección que forma la base del patrón formado por la pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR con referencia a la figura 5.

Como se muestra en la figura 5, el patrón de referencia de detección se forma a partir de una pluralidad de alambres de electrodos de referencia de detección 40KR que son alambres de electrodos imaginarios que tienen una forma de línea poligonal regular. La pluralidad de alambres de electrodos de referencia de detección 40KR incluyen cada uno dos tipos de porciones de alambre corto de referencia 40E que se repiten de manera alterna a lo largo de la primera dirección D1 y constituyen un conjunto de dos tipos de porciones de alambre corto de referencia 40E que tienen una forma lineal y que tienen diferentes inclinaciones, y las porciones flexionadas de referencia 40Q que son porciones a las que están conectados los dos tipos de porciones de alambre corto de referencia 40E. En otras palabras, los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR tienen una forma de línea poligonal que se extiende en general en la primera dirección D1, estando la pluralidad de porciones de alambre corto de referencia 40E unida por medio de las porciones flexionadas de referencia 40Q.

Cada uno de los dos tipos de porciones de alambre corto de referencia 40E tiene una longitud Lk a lo largo de una dirección de extensión de las porciones de alambre corto de referencia 40E. Las longitudes Lk de la pluralidad de porciones de alambre corto de referencia 40E incluidas en el patrón de referencia de detección son todas iguales. Una porción de alambre corto de referencia 40Ea de los dos tipos de porciones de alambre corto de referencia 40E tiene un ángulo de inclinación de 0k en relación con una línea de base A1 que es una línea recta imaginaria que se extiende a lo largo de la primera dirección D1, mientras que la otra porción de alambre corto de referencia 40Eb tiene un ángulo de inclinación de -0k en relación con la línea de base A1. Es decir, en la pluralidad de porciones de alambre corto de referencia 40E incluida en el patrón de referencia de detección, el valor absoluto de la inclinación de las porciones de alambre corto de referencia 40E en relación con la línea de base A1 es constante y, en los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR, las porciones de alambre corto de referencia 40E que tienen una inclinación positiva y las porciones de alambre corto de referencia 40E que tienen una inclinación negativa se repiten de manera alterna a lo largo de la primera dirección D1.

El ángulo formado por dos porciones de alambre corto de referencia 40E adyacentes a lo largo de la primera dirección D1 es un ángulo de referencia as y los ángulos de referencia as en el patrón de referencia de detección son todos iguales. Así mismo, el ángulo de referencia as se divide a partes iguales en dos por medio de una línea recta que atraviesa la porción flexionada de referencia 40Q y se extiende en una dirección a lo largo de la segunda dirección D2.

La pluralidad de porciones flexionadas de referencia 40Q situada en un lado de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR en la segunda dirección D2 está situada en una línea recta que se extiende a lo largo de la primera dirección D1 y la pluralidad de porciones flexionadas de referencia 40Q situada en el otro lado de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR en la segunda dirección D2 también está situada en una línea recta que se extiende a lo largo de la primera dirección D1. La longitud entre estas líneas rectas, en otras palabras, la longitud a lo largo de la segunda dirección D2 entre las porciones flexionadas de referencia 40Q situadas en el lado mencionado en primer lugar en la segunda dirección D2 y las porciones flexionadas de referencia 40Q situadas en el otro lado en la segunda dirección D2, es una anchura de referencia Hs. En otras palabras, la anchura de referencia Hs es la anchura ocupada por un alambre de electrodo de referencia de detección en la segunda dirección D2, es decir, la longitud de una porción de alambre corto de referencia 40E a lo largo de la segunda dirección D2. La anchura de referencia Hs es constante en el patrón de referencia de detección.

Un semiperíodo de referencia Ws es la longitud a lo largo de la primera dirección D1 entre dos porciones flexionadas de referencia 40Q dispuestas a lo largo de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR. En otras palabras, el semiperíodo de referencia Ws es la longitud a lo largo de la primera dirección D1 de una porción de alambre corto de referencia 40E, y el semiperíodo de referencia Ws es constante en el patrón de referencia de detección. La longitud entre las porciones flexionadas de referencia 40Q adyacentes a lo largo de la primera dirección D1 de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR es una longitud que es el doble del semiperíodo de referencia Ws, y esta longitud, que es el doble del semiperíodo de referencia Ws, constituye la longitud de un período de repetición de flexión en los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR. En la configuración mencionada anteriormente, en otras palabras, la pluralidad de porciones flexionadas de referencia 40Q comprende las porciones de cresta en el dibujo, que son un ejemplo de primeras porciones flexionadas imaginarias, y las porciones de valle en el dibujo, que son un ejemplo de segundas porciones flexionadas imaginarias, estando las primeras porciones flexionadas imaginarias y las segundas porciones flexionadas imaginarias dispuestas alternándose cada una periódicamente a lo largo de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR. La pluralidad de primeras porciones flexionadas imaginarias y la pluralidad de segundas porciones flexionadas imaginarias están situadas en líneas rectas separadas que se extienden a lo largo de la primera dirección D1.

La pluralidad de alambres de electrodos de referencia de detección 40KR están dispuestos a lo largo de la segunda dirección D2 con un desfase en la primera dirección D1. Es decir, los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR adyacentes entre sí a lo largo de la segunda dirección D2 son tales que las porciones de estos dispuestas a lo largo de la segunda dirección D2 tienen fases diferentes. Las fases constituyen una posición en la primera dirección D1 dentro de un período de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR, por ejemplo, la posición de una porción desde una porción flexionada de referencia 40Q que es una porción de valle hasta una porción flexionada de referencia 40Q que es una porción de valle adyacente a esa porción flexionada de referencia 40Q a lo largo de la primera dirección D1.

Para describir esto en detalle, las porciones de alambres de electrodos de referencia de detección 40KR adyacentes dispuestas a lo largo de la segunda dirección D2 tienen fases opuestas. En otras palabras, las fases de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR adyacentes se invierten. Por ejemplo, si la distancia entre las porciones de valle constituye un período, entonces, en una porción central de una región S1 que se muestra en la figura 5, la fase del alambre de electrodo de referencia de detección 40KR en el lado superior del dibujo corresponde a la posición de inicio de un período y la fase del alambre de electrodo de referencia de detección 40KR en el lado inferior del dibujo corresponde a una posición que es la mitad de un período. En una configuración de este tipo, una porción flexionada de referencia 40Q que es una porción de cresta y una porción flexionada de referencia 40Q que es una porción de valle están dispuestas de manera alterna en la segunda dirección D2 y, así mismo, una porción de alambre corto de referencia 40Ea y una porción de alambre corto de referencia 40Eb están dispuestas de manera alterna. En otras palabras, las porciones flexionadas de referencia 40Q de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR adyacentes están orientadas entre sí.

La pluralidad de alambres de electrodos de referencia de detección 40KR está dispuesta con un intervalo de disposición constante a lo largo de la segunda dirección D2 y este intervalo de disposición es un intervalo de referencia Ps. Es decir, el intervalo de referencia Ps es la distancia a lo largo de la segunda dirección D2 entre las porciones flexionadas de referencia 40Q de los alambres de electrodos de detección de referencia 40KR adyacentes que constituyen las primeras porciones flexionadas imaginarias o entre las porciones flexionadas de referencia 40Q que constituyen las segundas porciones flexionadas imaginarias.

La longitud del espacio entre alambres de electrodos de referencia de detección 40KR adyacentes a lo largo de la segunda dirección D2 es un espacio de alambres entre electrodos Gs. En otras palabras, el espacio de alambres entre electrodos Gs es la distancia a lo largo de la segunda dirección D2 entre dos porciones flexionadas de referencia 40Q orientadas entre sí de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR adyacentes, es decir, entre una primera porción flexionada imaginaria de un alambre de electrodo de referencia de detección 40KR y una segunda porción flexionada imaginaria de otro alambre de electrodo de referencia de detección 40KR.

Si el espacio de alambres entre electrodos Gs es excesivamente grande, entonces es probable que se produzca un efecto muaré cuando un patrón de alambres de electrodos producido sobre la base del patrón de referencia de detección está situado sobre un patrón de píxeles, debido al hecho de que la periodicidad se produce como resultado del espacio de alambres entre electrodos Gs. Por otro lado, si el espacio de alambres entre electrodos Gs es excesivamente pequeño, entonces es difícil formar de manera precisa las inmediaciones de las porciones flexionadas de los alambres de electrodos en el patrón de alambres de electrodos. Cuando los alambres de electrodos se forman mediante el grabado de una película delgada metálica en particular, las anchuras de los alambres de electrodos son mayores que las dimensiones de diseño en las secciones donde las porciones flexionadas están próximas entre sí y es probable que las inmediaciones de las porciones flexionadas se observen como un punto.

Desde este punto de vista, si el porcentaje del espacio de alambres entre electrodos Gs en relación con el intervalo de referencia Ps es una proporción de espacio Rg, entonces esta proporción de espacio Rg se encuentra preferentemente entre 0 % y 25 %, y más preferentemente entre 5 % y 10 %.

Los parámetros mencionados anteriormente que definen la forma del patrón de referencia de detección se establecen, preferentemente, utilizando un análisis de Fourier, a valores en los que se suprime la generación de un efecto muaré cuando el patrón de referencia de detección y el patrón de píxeles del panel de visualización 10 se superponen entre sí. Específicamente, el contraste del efecto muaré que se produce cuando el patrón de referencia de detección se superpone sobre un patrón de píxeles que tiene un período predeterminado, y se calculan la inclinación y el ángulo de las tiras observados como efecto muaré, y el valor de cada parámetro se establece de tal manera que sea poco probable que se observe el efecto muaré. En este momento, es preferente obtener valores de parámetros con los que se pueda suprimir la generación de un efecto muaré en los patrones de píxeles de una pluralidad de paneles de visualización 10 que tienen diferentes tamaños y diferentes resoluciones. La pluralidad de paneles de visualización 10 para superposición debería incluir al menos dos tipos de paneles de visualización que tengan diferentes tamaños o dos tipos de paneles de visualización que tengan diferentes resoluciones.

En el análisis de Fourier, la información de frecuencia se adquiere realizando una transformada de Fourier de los patrones que se van a superponer, se calcula una convolución del patrón de Fourier bidimensional resultante, después de lo cual se aplica una máscara bidimensional, y se reconstruye una imagen por medio de una transformada de Fourier inversa. Dado que la inclinación del efecto muaré es mayor que el período de los patrones originales que se superponen, la máscara bidimensional se debería aplicar de tal manera que las componentes de alta frecuencia sean eliminadas por la máscara bidimensional y únicamente se extraigan las componentes de baja frecuencia. Establecer el tamaño de la máscara a un tamaño determinado de conformidad con las características de respuesta visual humana hace posible, una vez que la imagen se ha reconstruido, determinar el grado de efecto muaré observado, en función de un cálculo del contraste, la inclinación y el ángulo del efecto muaré.

Así mismo, el intervalo de referencia Ps se establece preferentemente en un intervalo de entre 10 % y 600 % de la primera anchura de píxel P1 y la segunda anchura de píxel P2 en el panel de visualización 10. Si la primera anchura de píxel P1 y la segunda anchura de píxel P2 son diferentes, el intervalo se debería basar en la mayor entre la primera anchura de píxel P1 y la segunda anchura de píxel P2. Si el intervalo de referencia Ps es igual o superior a 10 % de la primera anchura de píxel P1 y la segunda anchura de píxel P2, la proporción ocupada por los alambres de electrodos en el patrón de alambres de electrodos producido sobre la base del patrón de referencia de detección no se vuelve excesiva, de modo que se puede suprimir una reducción en la transmitancia de luz en el panel táctil 20. Entretanto, si el intervalo de referencia Ps es igual o inferior a 600 % de la primera anchura de píxel P1 y la segunda anchura de píxel P2, esto mejora la precisión en la detección de una posición en el panel táctil 20.

Así mismo, el ángulo de referencia as se encuentra preferentemente entre 95° y 150°, y más preferentemente entre 100° y 140°. Si el ángulo de referencia as es igual o superior a 95°, es posible suprimir un aumento en el número de porciones de alambre corto de referencia 40E que haría excesiva la proporción de alambres de electrodos que ocupan el patrón. Entretanto, si el ángulo de referencia as es igual o inferior a 150°, el semiperíodo de referencia Ws se mantiene en un intervalo que no es excesivamente grande, de modo que resulta muy sencillo establecer el intervalo de referencia Ps y la anchura de referencia Hs a valores dentro de un intervalo adecuado.

Un patrón de los alambres de electrodos de detección 33SR producido sobre la base del patrón de referencia de detección se describirá con referencia a la figura 6.

Como se muestra en la figura 6, el patrón formado por la pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR es un patrón en el que las posiciones de las porciones flexionadas de referencia 40Q en la pluralidad de alambres de electrodos de referencia de detección 40KR están desplazadas irregularmente. En la figura 6, los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR se indican con líneas estrechas y los alambres de electrodos de detección 33SR se indican con líneas gruesas.

Las porciones flexionadas 33Q de los alambres de electrodos de detección 33SR están dispuestas en posiciones donde las posiciones de las porciones flexionadas de referencia 40Q de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR se mueven dentro de una región de desplazamiento triangular Ss que rodea las porciones flexionadas de referencia 40Q. Un alambre de electrodo de detección 33SR tiene una forma en la que la posición de cada porción flexionada de referencia 40Q en un alambre de electrodo de referencia de detección 40KR está desplazada irregularmente en relación con el orden de disposición de las porciones flexionadas de referencia 40Q dentro de la región de desplazamiento Ss de cada porción flexionada de referencia 40Q. Un patrón que comprende la pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR se forma desplazando irregularmente la posición de cada porción flexionada de referencia 40Q en la pluralidad de alambres de electrodos de referencia de detección 40KR en relación con el orden de disposición de las porciones flexionadas de referencia 40Q en cada alambre de electrodo de referencia de detección 40KR.

La región de desplazamiento Ss tiene la forma de un triángulo isósceles con una base Bk que se extiende a lo largo de la primera dirección D1 y está dispuesta de tal manera que la base Bk está dirigida hacia el exterior del alambre de electrodo de referencia de detección 40KR, y una línea recta que se extiende a lo largo de la segunda dirección D2 a través de la porción flexionada de referencia 40Q atraviesa el vértice del triángulo isósceles y el centro de la base Bk. La base Bk está dispuesta en el centro entre alambres de electrodos de referencia de detección 40KR adyacentes a lo largo de la segunda dirección D2. La base Bk se comparte entre una región de desplazamiento Ss establecida en relación con la porción flexionada de referencia 40Q de un alambre de electrodo de referencia de detección 40KR y una región de desplazamiento Ss establecida en relación con una porción flexionada de referencia 40Q de otro alambre de electrodo de referencia de detección 40KR orientado hacia la porción flexionada de referencia 40Q mencionada anteriormente. Es decir, la base Bk de la región de desplazamiento Ss está dispuesta en una posición separada de una posición central del alambre de electrodo de referencia de detección 40KR en la segunda dirección D2 por la mitad de la longitud del intervalo de referencia Ps en la segunda dirección D2.

La altura ds1 del triángulo que constituye la región de desplazamiento Ss y la longitud ds2 de la base Bk se establecen de tal manera que la relación entre la altura ds1 y el intervalo de referencia Ps sea la misma que la relación entre la longitud ds2 y una longitud que es el doble del semiperíodo de referencia Ws. La relación entre la altura ds1 y el intervalo de referencia Ps es una tasa de desplazamiento Rs. Cuanto mayor sea la tasa de desplazamiento Rs, mayor será la región de desplazamiento Ss, en otras palabras, el intervalo de desplazamiento de las porciones flexionadas 33Q en relación con las porciones flexionadas de referencia 40Q aumenta. En consecuencia, cuanto mayor sea la tasa de desplazamiento Rs, más se descompondrá la regularidad de los alambres de electrodos de detección 33SR y menor será la periodicidad del patrón de los alambres de electrodos de detección 33SR.

Los alambres de electrodos de detección 33SR producidos de esta manera tienen forma de línea poligonal que se extiende en la primera dirección D1 al mismo tiempo que se flexionan repetidamente de manera irregular. Para describir esto en detalle, los alambres de electrodos de detección 33SR incluyen una pluralidad de porciones flexionadas 33Q y una pluralidad de porciones de alambre corto 33E que tienen una forma lineal que une porciones flexionadas 33Q adyacentes a lo largo de los alambres de electrodos de detección 33SR. Las porciones flexionadas 33Q son porciones donde dos porciones de alambre corto 33E adyacentes están conectadas, y una porción flexionada 33Q que corresponde a una porción de cresta en el dibujo, que es un ejemplo de una primera porción flexionada, y una porción flexionada 33Q que corresponde a una porción de valle en el dibujo, que es un ejemplo de una segunda porción flexionada, están dispuestas de manera alterna entre sí a lo largo de los alambres de electrodos de detección 33SR. Las porciones flexionadas 33Q están dispuestas en posiciones donde las porciones flexionadas de referencia 40Q de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR están desplazadas dentro de la región de desplazamiento Ss y las porciones de alambre corto 33E están ubicadas en posiciones que unen estas porciones flexionadas 33Q.

Cada una de la pluralidad de porciones de alambre corto 33E tiene una longitud Ls a lo largo de una dirección de extensión de las porciones de alambre corto 33E y la pluralidad de porciones de alambre corto 33E incluye porciones de alambre corto 33E que tienen diferentes longitudes Ls. Es decir, la longitud Ls no es constante entre la pluralidad de porciones de alambre corto 33E. La longitud Ls varía irregularmente en relación con el orden de disposición de las porciones de alambre corto 33E entre la pluralidad de porciones de alambre corto 33E dispuesta a lo largo de la primera dirección D1. Cada una de la pluralidad de porciones de alambre corto 33E tiene una inclinación 0s a la línea de base A1 y la pluralidad de porciones de alambre corto 33E incluye porciones de alambre corto 33E que tienen diferentes magnitudes de inclinación 0s. Es decir, el valor absoluto de la inclinación 0s no es constante entre la pluralidad de porciones de alambre corto 33E. El valor absoluto de la inclinación 0s varía irregularmente en relación con el orden de disposición de las porciones de alambre corto 33E entre la pluralidad de porciones de alambre corto 33E dispuesta a lo largo de la primera dirección D1.

Un patrón de referencia de activación que forma la base de un patrón formado por la pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR y el patrón de los alambres de electrodos de activación 31DR producidos sobre la base del patrón de referencia de activación se describirán con referencia a la figura 7 y figura 8. El patrón de referencia de activación también comprende alambres de electrodos imaginarios que tienen una forma de línea poligonal regular, de la misma manera que el patrón de referencia de detección, y el patrón de los alambres de electrodos de activación 31DR se produce desplazando las porciones flexionadas del patrón de referencia de activación.

Como se muestra en la figura 7, los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR, que son alambres de electrodos imaginarios que forman el patrón de referencia de activación, incluyen dos tipos de porciones de alambre corto de referencia 41E que se repiten de manera alterna a lo largo de la segunda dirección D2, y porciones flexionadas de referencia 41Q que son porciones donde los dos tipos de porciones de alambre corto de referencia 41E están conectadas. La longitud de las porciones de alambre corto de referencia 41E incluidas en el patrón de referencia de activación es constante. En los dos tipos de porciones de alambre corto de referencia 41E, una de las porciones de alambre corto de referencia 41E tiene una inclinación positiva con respecto a una línea de base A2, que es una línea recta imaginaria que se extiende a lo largo de la segunda dirección D2, mientras que la otra porción de alambre corto de referencia 41E tiene una inclinación negativa con respecto a la línea de base A2, y los valores absolutos de estas inclinaciones son iguales. Las porciones flexionadas de referencia 41Q situadas en un lado de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR en la primera dirección D1 y las porciones flexionadas de referencia 41Q situadas en el otro lado están situadas en líneas rectas separadas que se extienden a lo largo de la segunda dirección D2.

En los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR, el ángulo formado por dos porciones de alambre corto de referencia adyacentes 41E es un ángulo de referencia ad y la longitud a lo largo de la primera dirección D1 entre las porciones flexionadas de referencia 41Q situadas en el lado mencionado en primer lugar de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR en la primera dirección D1 y las porciones flexionadas de referencia 41Q situadas en el otro lado en la primera dirección D1 es una anchura de referencia Hd. La longitud a lo largo de la segunda dirección D2 entre dos porciones flexionadas de referencia 41Q dispuestas a lo largo de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR es un semiperíodo de referencia Wd. En los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR, la longitud entre las porciones flexionadas de referencia 41Q adyacentes en la segunda dirección D2 es una longitud que es el doble del semiperíodo de referencia Wd, y esta longitud que es el doble del semiperíodo de referencia Wd constituye la longitud de un período de repetición de flexión en los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR. El ángulo de referencia ad, la anchura de referencia Hd y el semiperíodo de referencia Wd son todos constantes en el patrón de referencia de activación.

La pluralidad de alambres de electrodos de referencia de activación 41KR está dispuesta en un intervalo de referencia Pd que es un intervalo de disposición constante a lo largo de la primera dirección D1. La pluralidad de alambres de electrodos de referencia de activación 41KR están dispuestos a lo largo de la primera dirección D1 con un desfase en la segunda dirección D2. Las fases constituyen una posición en la segunda dirección D2 dentro de un período de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR. Para describir esto en detalle, las porciones de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR adyacentes dispuestos a lo largo de la primera dirección D1 tienen fases opuestas y las porciones flexionadas de referencia 41Q de estos alambres de electrodos están orientadas entre sí.

La longitud del espacio entre alambres de electrodos de referencia de activación 41KR adyacentes a lo largo de la primera dirección D1 es un espacio de alambres entre electrodos Gd. El espacio de alambres entre electrodos Gd se establece de tal manera que una proporción de espacio, que es el porcentaje del espacio de alambres entre electrodos Gd en relación con el intervalo de referencia Pd, es la misma que la proporción de espacio Rg en el patrón de referencia de detección. Es decir, la proporción de espacio tanto en el patrón de referencia de detección como en el patrón de referencia de activación es la proporción de espacio predeterminada Rg.

En este punto, con respecto a los medios períodos de referencia Ws, Wd y los intervalos de referencia Ps, Pd, el semiperíodo de referencia Ws de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR es el mismo que el intervalo de referencia Pd de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR (Ws=Pd), y el semiperíodo de referencia Wd de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR es el mismo que el intervalo de referencia Ps de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR (Wd=Ps). Cabría destacar que, cuando los medios períodos de referencia Ws, Wd y los intervalos de referencia Ps, Pd se establecen de esta manera, el ángulo de referencia as de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR y/o el ángulo de referencia ad de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR se deberían incluir en el intervalo indicado anteriormente como el intervalo preferente del ángulo de referencia as.

Como se muestra en la figura 8, el patrón formado por la pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR es un patrón en el que las posiciones de las porciones flexionadas de referencia 41Q de la pluralidad de alambres de electrodos de referencia de activación 41KR están desplazadas irregularmente. En la figura 8, los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR se indican con líneas estrechas y los alambres de electrodos de activación 31DR se indican con líneas gruesas.

Las porciones flexionadas 31Q de los alambres de electrodos de activación 31DR están dispuestas en posiciones donde las posiciones de las porciones flexionadas de referencia 41Q de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR se mueven dentro de una región de desplazamiento triangular Sd que rodea las porciones flexionadas de referencia 41Q. Un alambre de electrodo de activación 31DR tiene una forma en la que la posición de cada porción flexionada de referencia 41Q en un alambre de electrodo de referencia de activación 41KR está desplazada irregularmente en relación con el orden de disposición de las porciones flexionadas de referencia 41Q dentro de la región de desplazamiento Sd de cada porción flexionada de referencia 41Q.

La región de desplazamiento Sd tiene la forma de un triángulo isósceles con una base que se extiende a lo largo de la segunda dirección D2 y está dispuesta de tal manera que la base está dirigida hacia el exterior del alambre de electrodo de referencia de activación 41KR, y una línea recta que se extiende a lo largo de la primera dirección D1 a través de la porción flexionada de referencia 41Q atraviesa el vértice del triángulo isósceles y el centro de la base. La base está dispuesta en el centro entre alambres de electrodos de referencia de activación 41KR adyacentes a lo largo de la primera dirección D1.

La altura dd1 del triángulo que constituye la región de desplazamiento Sd y la longitud dd2 de la base se establecen de tal manera que la relación entre la altura dd1 y el intervalo de referencia Pd sea la misma que la relación entre la longitud dd2 y una longitud que es el doble del semiperíodo de referencia Wd. La relación entre la altura dd1 y el intervalo de referencia Pd es una tasa de desplazamiento Rd y la tasa de desplazamiento Rd es la misma que la tasa de desplazamiento Rs.

Los alambres de electrodos de activación 31DR producidos de esta manera incluyen la pluralidad de porciones flexionadas 31Q, y una pluralidad de porciones de alambre corto 31E que tiene una forma lineal que une las porciones flexionadas 31Q adyacentes a lo largo de los alambres de electrodos de activación 31DR. Las porciones flexionadas 31Q están dispuestas en posiciones donde las porciones flexionadas de referencia 41Q de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR están desplazadas dentro de la región de desplazamiento Sd y las porciones de alambre corto 31E están ubicadas en posiciones que unen las porciones flexionadas 31Q.

En cada alambre de electrodo de activación 31DR, la longitud a lo largo de una dirección de extensión de las porciones de alambre corto 31E varía irregularmente en relación con el orden de disposición de las porciones de alambre corto 31E entre la pluralidad de porciones de alambre corto 31E dispuesta a lo largo de la segunda dirección D2. Así mismo, en cada alambre de electrodo de activación 31DR, el valor absoluto de la inclinación de las porciones de alambre corto 31E a la línea de base A2 varía irregularmente en relación con el orden de disposición de las porciones de alambre corto 31E entre la pluralidad de porciones de alambre corto 31E dispuesta a lo largo de la segunda dirección D2.

Un patrón de alambres de electrodos formado superponiendo la pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR y una pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR se describirá con referencia a la figura 9 y la figura 10.

Un patrón de alambres de electrodos se forma en la película conductora 21, obteniéndose este patrón superponiendo un patrón formado por la pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR y un patrón formado por la pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR, como se ve desde una dirección orientada hacia la superficie frontal del sustrato dieléctrico transparente 33. En este punto, estos alambres de electrodos están superpuestos de tal manera que la dirección de extensión de los electrodos de detección 33SP y la dirección de extensión de los electrodos de activación 31DP son ortogonales. Este patrón de alambres de electrodos constituye un patrón en el que las porciones flexionadas están desplazadas irregularmente en relación con el patrón de referencia que constituye un patrón en el que el patrón de referencia de detección y el patrón de referencia de activación se superponen de tal manera que la primera dirección D1 y la segunda dirección D2 son ortogonales. La figura 9 muestra el patrón de referencia. Cuando Ws=Pd y Wd=Ps, la disposición de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR en relación con los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR, en otras palabras, la posición de las porciones flexionadas de referencia 40Q o las porciones de alambre corto de referencia 40E en relación con las porciones flexionadas de referencia 41Q o las porciones de alambre corto de referencia 41E, es constante dentro del patrón de referencia. Esto significa que es posible mejorar la uniformidad de la densidad de disposición de los alambres de electrodos en el patrón de referencia y, por tanto, es posible suprimir la falta de uniformidad excesiva en la densidad de disposición de los alambres de electrodos dentro del patrón de alambres de electrodos.

Específicamente, como se muestra en la figura 9, las porciones flexionadas de referencia 40Q de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR en el patrón de referencia se encuentran sobre los espacios entre los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR adyacentes en una porción central entre estos alambres de electrodos. Así mismo, las porciones flexionadas de referencia 41Q de los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR se encuentran sobre los espacios entre los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR adyacentes en una porción central entre estos alambres de electrodos. El punto medio de las porciones de alambre corto de referencia 40E de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR cruza entonces el punto medio de las porciones de alambre corto de referencia 41E de los alambres de electrodos de referencia de activación 40KR.

La figura 10 es un patrón de alambres de electrodos producido sobre la base del patrón de referencia que se muestra en la figura 9. El patrón de alambres de electrodos de acuerdo con este modo de realización se forma a partir de polígonos distintos de rectángulos, por lo que el patrón tiene una periodicidad más baja que un patrón en el que se repiten rectángulos que tienen la misma forma, como es el caso de un patrón en el que los alambres de electrodos que se extienden linealmente se cruzan. Por consiguiente, es poco probable que se observe el desplazamiento entre el patrón de píxeles y el patrón de alambres de electrodos como un desplazamiento de dos estructuras periódicas y, por lo tanto, cuando el patrón de alambres de electrodos de acuerdo con este modo de realización se superpone sobre el patrón de píxeles del panel de visualización 10, se suprime la observación del efecto muaré. Como resultado, es posible suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en el dispositivo de visualización 100.

En particular, los alambres de electrodos de detección 33SR y los alambres de electrodos de activación 31DR que forman el patrón de alambres de electrodos tienen cada uno una forma de línea flexionada irregular, por lo que el patrón tiene una periodicidad más baja que un patrón que se forma a partir de alambres de electrodos que tienen una forma de línea flexionada regular. Por lo tanto, es posible suprimir más ventajosamente la observación de un efecto muaré cuando el patrón de alambres de electrodos se superpone sobre el patrón de píxeles.

Así mismo, la forma de los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR y los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR en el patrón de referencia es una forma con la que se suprime fácilmente el efecto muaré, porque los parámetros, tales como los ángulos de referencia as, ad y los medios períodos de referencia Ws, Wd se establecen a valores en los que es poco probable que se produzca el efecto muaré. La periodicidad de este patrón de referencia que suprime fácilmente el efecto muaré se descompone y, como resultado, el patrón de alambres de electrodos forma un patrón que suprime aún más la observación del efecto muaré.

Así mismo, en el patrón de referencia, la fase de los alambres de electrodos adyacentes está desplazada y, como resultado, las porciones de alambre corto de referencia 40E, 41E que tienen la misma inclinación no están dispuestas una al lado de la otra en la primera dirección D1 o la segunda dirección D2, y también es posible suprimir la disposición de porciones de línea oblicua que tienen la misma inclinación una al lado de la otra en el patrón de alambres de electrodos producido sobre la base del patrón de referencia. Cuando las porciones de línea oblicua que tienen la misma inclinación están dispuestas una al lado de la otra, las regiones en forma de tira formadas por estas porciones de línea oblicua se extienden en la dirección de disposición de los alambres de electrodos y, además, cuando dos tipos de regiones en forma de tira en las que las inclinaciones de las porciones de línea oblicua son diferentes están dispuestas de manera alterna una al lado de la otra, se puede observar un patrón en forma de tira como resultado de la reflexión de la luz externa cuando el dispositivo de visualización 100 no está encendido.

En este modo de realización, se suprime la disposición de porciones de línea oblicua que tienen la misma inclinación una al lado de la otra, por lo que se suprime la observación de un patrón en forma de tira de este tipo y, como resultado, es posible suprimir un deterioro en la calidad del aspecto externo del panel táctil 20 visto desde la superficie operativa 20S.

[Evaluación de la periodicidad del patrón de alambres de electrodos]

La relación entre la periodicidad del patrón de alambres de electrodos de acuerdo con este modo de realización y la aparición de granulosidad se expondrá con referencia de la figura 11 a la figura 16, utilizando los resultados del análisis por medio de la transformación rápida de Fourier (FFT).

La figura 11 es un diagrama que muestra esquemáticamente un ejemplo de un espectro de potencia obtenido por medio de una transformada de Fourier bidimensional del patrón de referencia, es decir, un patrón en el que los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR se superponen sobre los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR, donde la primera dirección D1 es la dirección horizontal y la segunda dirección D2 es la dirección vertical. La figura 11 muestra los picos característicos resaltados y se omiten los puntos débiles que tienen una baja correlación con el patrón de referencia. Cabría destacar que la figura 15 muestra una imagen del espectro de potencia real con respecto a un ejemplo del patrón de referencia.

Como se muestra en la figura 11, los puntos brillantes G1 que muestran un pico en una componente de frecuencia derivada de la periodicidad de la disposición de las porciones de alambre corto de referencia 40E, 41E en el patrón de referencia, en otras palabras, la disposición de las porciones de línea oblicua de líneas poligonales, se puede ver en un espacio de frecuencia bidimensional. Una frecuencia espacial que corresponde a los puntos brillantes G1 es una primera frecuencia espacial fs. Los puntos brillantes G1 se pueden ver simétricamente en torno a un eje a, que es un eje horizontal, y un eje v, que es un eje vertical, y la dirección en la que aparecen los puntos brillantes G1 en relación con el origen se determina de conformidad con el tamaño de los ángulos de referencia as, ad.

Así mismo, los puntos brillantes G2, G3 que muestran un pico en una componente de frecuencia derivada de la periodicidad de la disposición de las porciones flexionadas de referencia 40Q, 41Q en el patrón de referencia, en otras palabras, la disposición de las porciones de vértice de las líneas poligonales, se puede ver en el eje u y en el eje v. De estos, los puntos brillantes G2 están situados en el eje u y una frecuencia espacial que corresponde a los puntos brillantes G2 es una segunda frecuencia espacial fw. Los puntos brillantes G2 se pueden ver simétricamente en torno al origen y las posiciones de los puntos brillantes G2 se determinan de conformidad con el tamaño del semiperíodo de referencia Ws, en otras palabras, el tamaño del intervalo de referencia Pd. Así mismo, los puntos brillantes G3 están situados en el eje v y una frecuencia espacial que corresponde a los puntos brillantes G3 es una tercera frecuencia espacial fp. Los puntos brillantes G3 se pueden ver simétricamente en torno al origen y las posiciones de los puntos brillantes G3 se determinan de conformidad con el tamaño del intervalo de referencia Ps, en otras palabras, el tamaño del semiperíodo de referencia Wd.

Así mismo, los puntos brillantes G4 que muestran un pico en una componente de orden superior se pueden ver en la dirección en la que aparecen los puntos brillantes G1. Los puntos brillantes G4 se pueden ver en posiciones que corresponden a un múltiplo entero de la primera frecuencia espacial fs.

La figura 12 muestra cuantitativamente la intensidad espectral de cada frecuencia espacial en el espectro de potencia del patrón de referencia. Para describir esto en detalle, el eje horizontal del gráfico que se muestra en la figura 12 indica la frecuencia espacial, mientras que el eje vertical indica un valor de logaritmo común de la densidad espectral.

La densidad espectral es una medida que indica la intensidad del espectro a anchuras de frecuencia predeterminadas. El método para calcular la densidad espectral se describirá a continuación. La frecuencia espacial indicada en el espectro de potencia se divide, en primer lugar, en intervalos predeterminados muy pequeños. Estos intervalos son anchuras de frecuencia unitarias. La intensidad espectral a la frecuencia espacial incluida en cada intervalo se suma luego para cada anchura de frecuencia unitaria. El valor acumulativo de la intensidad espectral de cada anchura de frecuencia unitaria se divide por el tamaño de la anchura de frecuencia unitaria, con lo que se obtiene la densidad espectral de cada anchura de frecuencia unitaria. El tamaño de la anchura de frecuencia unitaria es la anchura del valor de la frecuencia espacial incluida en un intervalo. La figura 12 muestra una curva aproximada de puntos que trazan un logaritmo común de la densidad espectral en cada anchura de frecuencia unitaria.

Como se muestra en la figura 12, los picos que sobresalen se forman con respecto a las frecuencias espaciales fw, fp, fs que corresponden a los puntos brillantes G1, G2, G3 que se pueden ver en el espectro de potencia de la figura 11, y una frecuencia espacial fs2 que corresponde a una componente de orden superior. Los picos de la segunda frecuencia espacial fw y la tercera frecuencia espacial fp son más pequeños que el pico de la primera frecuencia espacial fs.

La figura 13 es un diagrama que muestra esquemáticamente un ejemplo de un espectro de potencia obtenido por medio de una transformada de Fourier bidimensional del patrón de alambres de electrodos de acuerdo con este modo de realización, es decir, un patrón en el que los alambres de electrodos de detección 33SR se superponen sobre los alambres de electrodos de activación 31DR, donde la primera dirección D1 es la dirección horizontal y la segunda dirección D2 es la dirección vertical. Cabría destacar que la figura 16 muestra una imagen del espectro de potencia real con respecto a un ejemplo del patrón de alambres de electrodos.

Como se muestra en la figura 13, el espectro de potencia del patrón de alambres de electrodos muestra una gran cantidad de puntos distribuidos en forma de tira, debido al hecho de que la periodicidad del patrón de alambres de electrodos es menor que en el patrón de referencia debido al desplazamiento de las porciones flexionadas. Las regiones donde estos puntos se distribuyen en forma de tira se extienden desde el origen hasta las inmediaciones de las posiciones donde los puntos brillantes G2, G3 se pueden ver, y también se extienden a una región de alta frecuencia en una dirección centrada en la dirección en la que se pueden ver los puntos brillantes G1.

La figura 14 se refiere al espectro de potencia del patrón de alambres de electrodos, donde la relación entre la frecuencia espacial y la densidad espectral se muestra mediante la línea continua y se refiere al espectro de potencia del patrón de referencia, donde la relación entre la frecuencia espacial y la densidad espectral se muestra mediante la línea de cadena de un único punto, de conformidad con el mismo método que en la figura 12. La densidad espectral se representa utilizando el logaritmo común, de la misma manera que en la figura 12.

Como se muestra en la figura 14, en el patrón de alambres de electrodos, los picos se dispersan y se produce la atenuación y la extinción de los picos que sobresalen en comparación con el patrón de referencia. En particular, existe una gran diferencia entre el patrón de alambres de electrodos y el patrón de referencia en la región de baja frecuencia y los picos que corresponden a las frecuencias espaciales fw, fp en el patrón de alambres de electrodos están incrustados en los picos dispersos.

El hecho de que no se observen picos que sobresalgan y de que la magnitud de la densidad espectral sea mayor en general en la región de baja frecuencia en el patrón de alambres de electrodos muestra que diversos tipos de picos dispersos se mezclan en esa región, en lugar de que exista un único pico. Esto muestra que, en el patrón de alambres de electrodos, la aparición de una estructura periódica específica a baja frecuencia, en otras palabras, una frecuencia de alta visibilidad, se suprime, pero existe un aumento de elementos que provocan la aparición de desigualdad de tal manera que se produce turbidez en el patrón de alambres de electrodos, en otras palabras, se produce granulosidad. Por consiguiente, cuando existe un aumento excesivamente grande en la densidad espectral en la región de baja frecuencia del patrón de alambres de electrodos, en comparación con el patrón de referencia, es poco probable que se genere un efecto muaré, pero es probable que se observe una granulosidad intensamente. Con el fin de suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en el dispositivo de visualización 100 reduciendo el efecto muaré y la granulosidad, los inventores de esta solicitud introdujeron un primer valor de evaluación Ev1, que se describirá a continuación, como parámetro para evaluar si un patrón está permitido como patrón de alambres de electrodos en términos del grado hasta el que el patrón de referencia se puede descomponer en ese patrón, en otras palabras, para evaluar el grado permitido de aumento de la densidad espectral en la región de baja frecuencia.

En primer lugar, se describirá una región de frecuencia definida utilizada en el cálculo del primer valor de evaluación Ev1. La región de frecuencia definida es una región de frecuencias que es igual o inferior que el valor mínimo de tres valores de frecuencia, en concreto, una frecuencia espacial fq que es un valor que es un cuarto de la primera frecuencia espacial fs, la segunda frecuencia espacial fw, y la tercera frecuencia espacial fp. Por ejemplo, la región de frecuencias que son iguales o inferiores que la frecuencia espacial fq es la región de frecuencia definida en la figura 14.

El primer valor de evaluación Ev1 es el logaritmo común de un valor obtenido mediante la división del valor acumulativo de la densidad espectral en la región de frecuencia definida del patrón de alambres de electrodos por el valor acumulativo de la densidad espectral en la región de frecuencia definida del patrón de referencia. Es decir, el primer valor de evaluación Ev1 es el logaritmo común de la relación entre la densidad espectral en la región de frecuencia definida del patrón de alambres de electrodos y la del patrón de referencia. El valor acumulativo de la densidad espectral se obtiene como el total de las densidades espectrales de cada anchura de frecuencia unitaria, por ejemplo.

Los resultados experimentales relacionados con la relación entre el primer valor de evaluación Ev1 y el grado de aparición de granulosidad se describirán con referencia a la tabla 1. La tabla 1 muestra los resultados de una evaluación del grado de aparición de granulosidad con respecto a una pluralidad de patrones de alambres de electrodos producidos mientras se varía la tasa de desplazamiento Rs. En el patrón de referencia utilizado para producir el patrón de alambres de electrodos, el semiperíodo de referencia Ws y el intervalo de referencia Pd que es el mismo que el semiperíodo de referencia Ws son valores predeterminados incluidos en un intervalo de entre 250 |jm y 350 jm , y el intervalo de referencia Ps y el semiperíodo de referencia Wd que es el mismo como intervalo de referencia Ps son valores predeterminados incluidos en un intervalo de entre 150 jm y 250 jm. Cabría destacar que el primer valor de evaluación Ev1 en la tabla 1 se calcula utilizando el patrón de alambres de electrodos y el patrón de referencia que forma la base de ese patrón de alambres de electrodos y se expresa como un valor redondeado por debajo de dos lugares decimales.

La evaluación de granulosidad se llevó a cabo por medio de observación visual. En la evaluación de granulosidad, la intensidad de la granulosidad se dividió en cuatro etapas y, donde no se observó granulosidad, esto se indicó mediante "O", donde se observó una granulosidad débil, esto se indicó mediante "O", donde se observó una granulosidad moderada, esto se indicó mediante "A", y donde se observó una granulosidad intensa, esto se indicó mediante "X". Cabría destacar que observar granulosidad significa que existe una sensación de parpadeo distribuida en forma granulada en la región en la que está situado el patrón o que existe un deslumbramiento evidente en esa región.

continuación

Como se muestra en la tabla 1, no se observa una granulosidad intensa en los patrones de alambres de electrodos en los que el primer valor de evaluación Ev1 es igual o inferior a 3,6. Es decir, si el primer valor de evaluación Ev1 es igual o inferior a 3,6, se suprime la aparición de granulosidad. Así mismo, se confirma una tendencia a aumentar del valor del primer valor de evaluación Ev1 en el que la granulosidad se debilita cuanto menor es la proporción de espacio Rg, en otras palabras, cuanto menor sea el espacio de alambres entre electrodos Gs, Gd. Se cree que esto se debe a que, dado que el espacio de alambres entre electrodos Gs, Gd aumenta, un pico derivado de la periodicidad debida al espacio de alambres entre electrodos Gs, Gd se vuelve mayor en el patrón de referencia y, como resultado, la diferencia entre los valores acumulativos de la densidad espectral en la región de baja frecuencia en el patrón de referencia y el patrón de alambres de electrodos disminuye.

Cuando la tasa de desplazamiento Rs varía de 0 a 1,0 en un intervalo entre 5% y 10%, que es el intervalo preferente de la proporción de espacio Rg, el primer valor de evaluación Ev1 se encuentra entre 0 y 4. Cuando el primer valor de evaluación Ev1 se encuentra en este intervalo, el primer valor de evaluación Ev1 funciona de manera particularmente eficaz como un indicador relacionado con la granulosidad, cuando se adopta una configuración para determinar la calidad del patrón de alambres de electrodos por medio del primer valor de evaluación Ev1 utilizando 3,6 como umbral.

Así mismo, con el fin de suprimir el efecto muaré, preferentemente, es menos probable que se observe una estructura periódica en el patrón de alambres de electrodos que en el patrón de referencia, en otras palabras, el valor acumulativo de la densidad espectral en la región de baja frecuencia es preferentemente adecuadamente grande. Desde este punto de vista, el primer valor de evaluación Ev1 es preferentemente 1,0 o mayor.

Cabría destacar que, en el primer modo de realización, el sustrato dieléctrico transparente 33 es un ejemplo de la capa dieléctrica transparente. La superficie frontal del sustrato dieléctrico transparente 33 es un ejemplo de la primera superficie, la superficie trasera del sustrato dieléctrico transparente 33 es un ejemplo de la segunda superficie, los alambres de electrodos de detección 33SR son un ejemplo de los primeros alambres de electrodos y los alambres de electrodos de activación 31DR son un ejemplo de los segundos alambres de electrodos. Además, los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR son un ejemplo de los primeros alambres de electrodos de referencia y los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR son un ejemplo de los segundos alambres de electrodos de referencia.

Como se ha descrito anteriormente, las siguientes ventajas se pueden lograr por medio del primer modo de realización.

(1) La periodicidad del patrón se mantiene hasta un grado que se suprime la aparición de granulosidad intensa en un patrón de alambres de electrodos formado por alambres de electrodos que tienen forma de línea flexionada irregular, en el caso de un patrón de alambres de electrodos para el que el primer valor de evaluación Ev1 es igual o inferior a 3,6. Por lo tanto, esto hace posible suprimir la observación de un efecto muaré cuando el patrón de alambres de electrodos se superpone sobre el patrón de píxeles y también hace posible suprimir la observación de granulosidad. Por lo tanto, es posible suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en el dispositivo de visualización 100.

(2) La periodicidad que provoca que se observe una estructura periódica en el patrón de alambres de electrodos es lo suficientemente baja como para suprimir el efecto muaré en el caso de un patrón de alambres de electrodos para el cual el primer valor de evaluación Ev1 es igual o mayor que 1,0. Por lo tanto, el efecto muaré se suprime adecuadamente cuando el patrón de alambres de electrodos se superpone sobre el patrón de píxeles.

(3) El espacio de alambres entre electrodos Gs, Gd no es excesivamente grande si la proporción de espacio Rg se encuentra entre 5 % y 10 %, por lo que es posible suprimir la observación de un efecto muaré resultante de la periodicidad en el patrón de alambres de electrodos atribuible al espacio de alambres entre electrodos Gs, Gd. Así mismo, el espacio de alambres entre electrodos Gs, Gd no es excesivamente pequeño, por lo que es posible formar de manera precisa la forma en las inmediaciones de las porciones flexionadas de los alambres de electrodos en el patrón de alambres de electrodos, por ejemplo, es posible suprimir una situación en la que las anchuras de los alambres de electrodos sean localmente más gruesas, lo que los haría aparecer como puntos. (Segundo modo de realización)

Un segundo modo de realización de la película conductora, un panel táctil y un dispositivo de visualización se describirán con referencia de la figura 17 a la figura 20. La siguiente descripción se centrará en las diferencias entre el segundo modo de realización y el primer modo de realización y los componentes que son los mismos que en el primer modo de realización llevan los mismos símbolos de referencia y no se describirán de nuevo.

El patrón de alambres de electrodos de acuerdo con el segundo modo de realización comprende una pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR y una pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR que tienen forma de línea flexionada irregular de la misma manera que en el primer modo de realización. El patrón de alambres de electrodos de acuerdo con el segundo modo de realización también se produce desplazando irregularmente las posiciones de las porciones flexionadas en un patrón de referencia formado mediante los alambres de electrodos de referencia de detección 40KR y los alambres de electrodos de referencia de activación 41KR, de la misma manera que en el primer modo de realización.

Cuando se forma la película conductora 21, el patrón de alambres de electrodos se forma uniendo un sustrato sobre el cual se forman los alambres de electrodos de detección 33SR y un sustrato sobre el cual se forman los alambres de electrodos de activación 31DR. En este proceso, si las posiciones de los sustratos situados uno sobre el otro están desplazadas de la posición de diseño, la posición del patrón de los alambres de electrodos de activación 31DR en relación con el patrón de los alambres de electrodos de detección 33SR también estará desplazada de la posición de diseño, es decir, desplazada de la posición ideal. Este desplazamiento delantero-trasero que constituye un desplazamiento de patrón puede producir una nueva estructura periódica en el patrón de alambres de electrodos y esta estructura periódica puede ser una causa de un efecto muaré.

La figura 17 muestra esquemáticamente un ejemplo de un espectro de potencia obtenido mediante la realización de una transformada de Fourier bidimensional en relación con un patrón de referencia en el que se produce un desplazamiento delantero-trasero, donde la primera dirección D1 es la dirección horizontal y la segunda dirección D2 es la dirección vertical. La figura 17 muestra los picos característicos resaltados y se omiten los puntos débiles que tienen una baja correlación con el patrón.

El espectro de potencia que se muestra en la figura 17 incluye un desplazamiento delantero-trasero además de los puntos brillantes G1-G4 en comparación con el espectro de potencia del patrón de referencia que se muestra en la figura 11 que no incluye desplazamiento delantero-trasero, en otras palabras, se pueden ver puntos brillantes G5, que indican un pico en una componente de frecuencia derivada de un período que se produce como resultado del desplazamiento entre el patrón de referencia de detección y el patrón de referencia de activación. Una frecuencia espacial que corresponde a los puntos brillantes G5 es una cuarta frecuencia espacial fh. Los puntos brillantes G5 se pueden ver en la misma dirección que los puntos brillantes G1 y la cuarta frecuencia espacial fh es más pequeña que la primera frecuencia espacial fs. Para describir esto en detalle, el período que se produce como resultado del desplazamiento delantero-trasero es un período que es el doble del período que se produce como resultado de que las porciones de línea oblicua estén dispuestas una al lado de la otra, y la frecuencia acorde a ese período es la cuarta frecuencia espacial fh. Es decir, la cuarta frecuencia espacial fh es una frecuencia espacial que es la mitad de la primera frecuencia espacial fs.

La figura 18 muestra la relación entre la frecuencia espacial y la densidad espectral con respecto al espectro de potencia del patrón de referencia en el que se produce el desplazamiento delantero-trasero, de conformidad con el mismo método que en la figura 12. La densidad espectral se indica utilizando el logaritmo común de la misma manera que en la figura 12.

Como se muestra en la figura 18, en el patrón de referencia en el que se ha producido el desplazamiento delanterotrasero, un pico que sobresale está presente como un pico que corresponde a la cuarta frecuencia espacial fh en la región de baja frecuencia, en comparación con el caso del patrón de referencia que se muestra en la figura 12 en el que no se produce el desplazamiento delantero-trasero.

La figura 19 muestra esquemáticamente un ejemplo de un espectro de potencia obtenido mediante la realización de una transformada de Fourier bidimensional en relación con el patrón de alambres de electrodos en el que se produce un desplazamiento delantero-trasero, donde la primera dirección D1 es la dirección horizontal y la segunda dirección D2 es la dirección vertical. Así mismo, la figura 20 se refiere al espectro de potencia del patrón de alambres de electrodos en el que se produce el desplazamiento delantero-trasero, donde la relación entre la frecuencia espacial y la densidad espectral se muestra mediante la línea continua y se refiere al espectro de potencia del patrón de referencia en el que se produce el desplazamiento delantero-trasero, donde la relación entre la frecuencia espacial y la densidad espectral se muestra mediante la línea de cadena de un único punto, de conformidad con el mismo método que en la figura 12. La densidad espectral se representa utilizando el logaritmo común, de la misma manera que en la figura 12.

Como se muestra en la figura 19, de la misma manera que en la figura 13, el espectro de potencia del patrón de alambres de electrodos muestra una gran cantidad de puntos distribuidos en forma de tira, debido al hecho de que la periodicidad del patrón de alambres de electrodos es menor que en el patrón de referencia debido al desplazamiento de las porciones flexionadas. Como se muestra en la figura 20, en el patrón de alambres de electrodos, los picos se dispersan y se produce la atenuación y la extinción de los picos que sobresalen en comparación con el patrón de referencia. Si bien un pico que corresponde a la cuarta frecuencia espacial fh atribuible al desplazamiento delanterotrasero también tiende a estar incrustado en los picos dispersos, un pico en la cuarta frecuencia espacial fh puede sobresalir desde el área circundante, como se muestra en la figura 20, en función del grado de la periodicidad de la estructura periódica que se produce como resultado del desplazamiento delantero-trasero y el grado hasta el que se descompone la periodicidad en el patrón de alambres de electrodos.

Como se describe en relación con el primer modo de realización, el hecho de que un único pico se forme como un pico que sobresale en la región de baja frecuencia del patrón de alambres de electrodos significa que se forma una estructura periódica específica a una frecuencia de alta visibilidad y es probable que se observe una estructura periódica, y es probable que se observe el efecto muaré.

Por lo tanto, un menor grado de protuberancia desde el área circundante del pico a la cuarta frecuencia espacial fh permite suprimir la aparición del efecto muaré.

Con el fin de reducir el efecto muaré provocado por el desplazamiento delantero-trasero y suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en el dispositivo de visualización 100, los inventores de esta solicitud introdujeron un segundo valor de evaluación Ev2, que se describirá a continuación, como parámetro para evaluar qué magnitud de pico en la cuarta frecuencia espacial fh está permitida en relación con la densidad espectral circundante.

La región de frecuencia definida se utiliza para calcular el segundo valor de evaluación Ev2, de la misma manera que en el primer modo de realización. De la misma manera que en el primer modo de realización, la región de frecuencia definida es una región de frecuencias que es igual o inferior que el valor mínimo de tres valores de frecuencia, en concreto, la frecuencia espacial fq que es un valor que es un cuarto de la primera frecuencia espacial fs, la segunda frecuencia espacial fw, y la tercera frecuencia espacial fp. Por ejemplo, la región de frecuencias que son iguales o inferiores que la frecuencia espacial fq es la región de frecuencia definida en la figura 20.

El segundo valor de evaluación Ev2 es el logaritmo común de un valor obtenido mediante la división de la densidad espectral del patrón de alambres de electrodo en la cuarta frecuencia espacial fh por el valor medio de la densidad espectral del patrón de alambres de electrodo en la región de frecuencia definida. Es decir, el segundo valor de evaluación Ev2 es el logaritmo común de la relación entre la densidad espectral en la cuarta frecuencia espacial fh y el valor medio de la densidad espectral en la región de frecuencia definida, en el patrón de alambres de electrodos. El valor medio de la densidad espectral se obtiene como la media de la densidad espectral en cada anchura de frecuencia unitaria, por ejemplo.

Si el segundo valor de evaluación Ev2 es igual o inferior a 2,0, entonces la densidad espectral en la cuarta frecuencia espacial fh no es excesivamente grande en relación con el área circundante, por lo que es posible suprimir satisfactoriamente el efecto muaré provocado por el desplazamiento delantero-trasero. En particular, cuando la posición del patrón de los alambres de electrodos de activación 31DR en relación con el patrón de los alambres de electrodos de detección 33SR está desplazada por x pm en la primera dirección D1 y por y pm en la segunda dirección D2 en comparación con un patrón de alambres de electrodos ideal, y x2+y2>450, entonces es probable que se produzca el efecto muaré provocado por el desplazamiento delantero-trasero. Cuando se produce un desplazamiento delantero-trasero siendo x2+y2>450, es posible reducir ventajosamente el efecto muaré si el segundo valor de evaluación Ev2 se utiliza como indicador del grado del efecto muaré con 2,0 como umbral.

Así mismo, cuando se produce un desplazamiento delantero-trasero, también es posible suprimir la observación de una estructura periódica formada por el desplazamiento delantero-trasero y, por lo tanto, suprimir correctamente el efecto muaré si el patrón de alambres de electrodos está construido de tal manera que el primer valor de evaluación Ev1 sea igual o superior a 1,0, como se describe en relación con el primer modo de realización.

Como se ha descrito anteriormente, es posible lograr las siguientes ventajas por medio del segundo modo de realización, además de las ventajas (1)-(3) del primer modo de realización.

(4) Si el segundo valor de evaluación Ev2 es igual o inferior a 2,0, entonces la periodicidad de la estructura periódica formada cuando se produce un desplazamiento delantero-trasero en el patrón de alambres de electrodos se mantiene en un nivel bajo. Esto hace posible suprimir la observación de un efecto muaré resultante de tal periodicidad. Incluso si se produce un desplazamiento delantero-trasero en el patrón de alambres de electrodos, por lo tanto, es posible suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes observadas en el dispositivo de visualización 100.

(5) Cuando el primer valor de evaluación Ev1 es igual o superior a 1,0, entonces, incluso si se produce un desplazamiento delantero-trasero en el patrón de alambres de electrodos, la observación de una estructura periódica a bajas frecuencias, incluyendo una estructura periódica resultante del desplazamiento delanterotrasero, se puede suprimir, por lo que la observación de un efecto muaré se suprime correctamente.

(Ejemplos de variantes)

Los modos de realización descritos anteriormente se pueden implementar con las siguientes modificaciones.

• En los modos de realización descritos anteriormente, el patrón de alambres de electrodos se produjo estableciendo unas regiones de desplazamiento Ss, Sd que tienen las mismas tasas de desplazamiento Rs, Rd en las porciones flexionadas de referencia 40Q del patrón de referencia de detección y las porciones flexionadas de referencia 41Q del patrón de referencia de activación, y disponiendo las porciones flexionadas 33Q, 31Q en posiciones desplazadas dentro de estas regiones de desplazamiento Ss, Sd. El método para producir el patrón de alambres de electrodos no se limita al método mencionado anteriormente y, por ejemplo, es posible que la tasa de desplazamiento Rs del patrón de referencia de detección y la tasa de desplazamiento Rd del patrón de referencia de activación sean diferentes, así como es posible que las formas de las regiones de desplazamiento Ss, Sd sean distintas de un triángulo isósceles. Así mismo, las porciones flexionadas se pueden desplazar en agrupaciones de porciones flexionadas de referencia orientadas entre sí en alambres de electrodos de referencia adyacentes y es posible que las porciones flexionadas se desplacen únicamente en la dirección de disposición de los alambres de electrodos o la dirección de extensión de los alambres de electrodos. Así mismo, las porciones flexionadas resultantes del desplazamiento de las porciones flexionadas de referencia orientadas entre sí, en otras palabras, las porciones flexionadas de alambres de electrodos adyacentes en el patrón de alambres de electrodos, pueden entrar en contacto. Así mismo, la proporción de espacio puede ser diferente en el patrón de referencia de detección y el patrón de referencia de activación. El punto importante es que el patrón de alambres de electrodos debe ser un patrón en el que las porciones flexionadas en el patrón de referencia se desplacen irregularmente en relación con el orden de disposición de las porciones flexionadas en los alambres de electrodos de referencia 40KR, 41KR. Asimismo, los parámetros que determinan el patrón de referencia se pueden derivar mediante el análisis de atributos del patrón de alambres de electrodos o extrayendo puntos brillantes del espectro de potencia del patrón de alambres de electrodos, entre otras cosas, por ejemplo.

• En los modos de realización descritos anteriormente, las porciones flexionadas 33Q de los alambres de electrodos de detección 33SR y las porciones flexionadas 31Q de los alambres de electrodos de activación 31DR son porciones similares a puntos que unen las porciones de alambre corto lineales 33E, 31E. Esto no es limitante y las porciones flexionadas 33Q, 31Q pueden ser a partes iguales porciones que unen, de manera curvada, dos porciones de alambre corto 33E, 31E adyacentes en la dirección de extensión de los electrodos.

• El patrón de alambres de electrodos debería incluir el atributo del primer modo de realización o del segundo modo de realización al menos en una región en la que se desea suprimir un deterioro en la calidad de las imágenes, por ejemplo, en una porción dispuesta en una región central o similar como se ve desde la superficie operativa 20S. Así mismo, el patrón que comprende la pluralidad de alambres de electrodos de detección 33SR puede ser un patrón en el que un patrón de una región parcial contenida en dicho patrón se repita a lo largo de la primera dirección D1 o la segunda dirección D2. De la misma manera, el patrón que comprende la pluralidad de alambres de electrodos de activación 31DR puede ser un patrón en el que un patrón de una región parcial contenida en dicho patrón se repita a lo largo de la primera dirección D1 o la segunda dirección D2. En este caso, una porción contenida en la región parcial mencionada anteriormente, en otras palabras, una región de unidad de repetición, constituye un primer alambre de electrodo o un segundo alambre de electrodo.

• Como se muestra en la figura 21, el sustrato transparente 31 y la capa de adhesión transparente 32 se pueden omitir de la película conductora 21 que forma parte del panel táctil 20. En una configuración de este tipo, la superficie trasera del sustrato dieléctrico transparente 33 orientada hacia el panel de visualización 10 se establece como la superficie de electrodos de activación 31S y los electrodos de activación 31DP están ubicados sobre la superficie de electrodos de activación 31S. La superficie frontal del sustrato dieléctrico transparente 33 en el lado opuesto a la superficie trasera es la superficie de electrodos de detección 33S, y los electrodos de detección 33SP están ubicados sobre la superficie de electrodos de detección 33S. Cabría destacar que, en una configuración de este tipo, los electrodos de activación 31DP se forman, por ejemplo, mediante el uso de grabado para modelar una película delgada formada sobre una superficie del sustrato dieléctrico transparente 33, y los electrodos de detección 33SP se forman, por ejemplo, mediante el uso de grabado para modelar una película delgada formada sobre la otra superficie del sustrato dieléctrico transparente 33.

Cabría destacar que resulta más sencillo formar los alambres de electrodos con una configuración en la que los electrodos de detección 33SP y los electrodos de activación 31DP se formen en diferentes materiales de base, como en los modos de realización descritos anteriormente, en vez de con una configuración en la que dichos alambres de electrodos se forman sobre ambas superficies de un material de base. Por lo tanto, resulta muy eficaz aplicar la configuración del segundo modo de realización a una configuración en la que los electrodos de detección 33SP y los electrodos de activación 31DP se forman sobre diferentes materiales de base.

• Como se muestra en la figura 22, los elementos estructurales del panel táctil 20 pueden estar situados de la siguiente manera en sucesión desde el elemento estructural más cercano al panel de visualización 10: electrodos de activación 31DP, sustrato transparente 31, capa de adhesión transparente 32, sustrato dieléctrico transparente 33, electrodos de detección 33SP, capa de adhesión transparente 23, capa de cubierta 22.

En esta configuración, por ejemplo, los electrodos de activación 31DP se forman sobre una superficie del sustrato transparente 31 que constituye la superficie de electrodos de activación 31S y los electrodos de detección 33SP se forman sobre una superficie del sustrato dieléctrico transparente 33 que constituye la superficie de electrodos de detección 33S. La superficie del sustrato transparente 31 en el lado opuesto a la superficie de electrodos de activación 31S y la superficie del sustrato dieléctrico transparente 33 en el lado opuesto a la superficie de electrodos de detección 33S están unidas por medio de la capa de adhesión transparente 32. En este caso, el sustrato transparente 31, la capa de adhesión transparente 32 y el sustrato dieléctrico transparente 33 forman la capa dieléctrica transparente, y la superficie de electrodos de detección 33S del sustrato dieléctrico transparente 33 es la primera superficie, mientras que la superficie de electrodos de activación 31S del sustrato transparente 31 es la segunda superficie.

• El panel de visualización 10 y el panel táctil 20 no necesitan formarse por separado y el panel táctil 20 se puede formar como una única pieza con el panel de visualización 10. En una configuración de este tipo, por ejemplo, se puede adoptar una estructura dentro de celda, en la que la pluralidad de electrodos de activación 31DP de la película conductora 21 está situada sobre la capa de TFT 13, mientras que la pluralidad de electrodos de detección 33SP está situada entre el sustrato de filtro de color 16 y la placa polarizadora de lado superior 17. De manera alternativa, también se puede adoptar una estructura sobre celda, en la que la película conductora 21 está situada entre el sustrato de filtro de color 16 y la placa polarizadora de lado superior 17. En una configuración de este tipo, las capas entre los electrodos de activación 31DP y los electrodos de detección 33SP forman la capa dieléctrica transparente.

[Identificación de los símbolos]

A1, A2... Línea de base, D1... Primera dirección, D2... Segunda dirección, Gs, Gd... Espacio de alambres entre electrodos, ND... Detector de capacidad, Ps, Pd... Intervalo de referencia, Hs, Hd... Anchura de referencia, Ws, Wd... Semiperíodo de referencia, Ss, Sd... Región de desplazamiento, Rs, Rd... Tasa de desplazamiento, Rg... Proporción de espacio, as, ad... Ángulo de referencia, fs... Primera frecuencia espacial, fw... Segunda frecuencia espacial, fp... Tercera frecuencia espacial, fh... Cuarta frecuencia espacial, 10... Panel de visualización, 11... Placa polarizadora de lado inferior, 12... Sustrato de transistor de película delgada, 13... Capa de TFT, 14... Capa de cristal líquido, 15... Capa de filtro de color, 15P... Píxel, 16... Sustrato de filtro de color, 17... Placa polarizadora de lado superior, 20... Panel táctil, 21... Película conductora, 22... Capa de cubierta, 23... Capa de adhesión transparente, 31... Sustrato transparente, 31S... Superficie de electrodos de activación, 31DP... Electrodo de activación, 31DR... Alambre de electrodo de activación, 31E... Porción de alambre corto, 31Q... Porción flexionada, 33... Sustrato dieléctrico transparente, 33SP... Electrodo de detección, 33SR... Alambre de electrodo de detección, 33S... Superficie de electrodos de detección, 33E... Porción de alambre corto, 33Q... Porción flexionada, 34... Circuito de selección, 35... Circuito de detección, 36... Unidad de control, 40KR... Alambre de electrodo de referencia de detección, 40E... Porción de alambre corto de referencia, 40Q... Porción flexionada de referencia, 41KR... Alambre de electrodo de referencia de activación, 41E... Porción de alambre corto de referencia, 41Q... Porción flexionada de referencia, 100... Dispositivo de visualización.

Claims

REIVINDICACIONES

1. Estructura de electrodos en forma de película conductora para una pantalla táctil capacitiva que comprende: - una capa dieléctrica transparente (33) que tiene una primera superficie (33S) y una segunda superficie (31S) que es una superficie en el lado opuesto a la primera superficie (33S);

- una pluralidad de primeros alambres de electrodos (33SR) que se extiende en una primera dirección (D1) sobre la primera superficie (33S) mientras se flexiona a lo largo del plano de la primera superficie, definiendo de este modo las primeras porciones flexionadas (33Q) de los primeros alambres de electrodos (33SR), en donde los primeros alambres de electrodos (33SR) están dispuestos a lo largo de una segunda dirección (D2) ortogonal a la primera dirección (D1) y en donde los primeros alambres de electrodos (33SR) adyacentes están separados entre sí; y

- una pluralidad de segundos alambres de electrodos (31DR) que se extiende en una segunda dirección (D2) sobre la segunda superficie (31S) mientras se flexiona a lo largo del plano de la segunda superficie, definiendo de este modo las segundas porciones flexionadas (31Q) de los segundos alambres de electrodos (31DR), en donde los segundos alambres de electrodos (31DR) están dispuestos a lo largo de la primera dirección (D1) y en donde los segundos alambres de electrodos (31DR) adyacentes están separados entre sí,

- en donde un patrón formado por la pluralidad de primeros alambres de electrodos (33SR) y la pluralidad de segundos alambres de electrodos (31DR), cuando se ven desde una dirección orientada hacia la primera superficie (33S), constituyen un patrón de alambres de electrodos;

- en donde el patrón de alambres de electrodos se produce utilizando un patrón de electrodos de referencia formado por líneas flexionadas regularmente, estando el patrón de electrodos de referencia constituido por un patrón en el que

-- una pluralidad de primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) definida por alambres de electrodos imaginarios que se extienden en la primera dirección (D1) mientras se flexionan repetidamente en un período predeterminado, definiendo de este modo las primeras porciones flexionadas de referencia (40Q) de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR),

— en donde los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) tienen una forma de línea poligonal regular que se extiende en general en la primera dirección (D1), estando una pluralidad de porciones de alambre corto de referencia (40E) unida por medio de las primeras porciones flexionadas de referencia (40Q),

--- en donde los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) están dispuestos a lo largo de la segunda dirección (D2) en un primer intervalo de referencia (Ps), y en donde las porciones de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) adyacentes, dispuestas a lo largo de la segunda dirección (D2), tienen fases opuestas, y

-- una pluralidad de segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) definida por alambres de electrodos imaginarios que se extienden en la segunda dirección (D2) mientras se flexionan repetidamente en el período predeterminado, definiendo de este modo las segundas porciones flexionadas de referencia (41Q) de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR),

— en donde los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) tienen una forma de línea poligonal regular que se extiende en general en la segunda dirección (D2), estando una pluralidad de porciones de alambre corto de referencia (41E) unida por medio de las segundas porciones flexionadas de referencia (41Q),

— en donde los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) están dispuestos a lo largo de la primera dirección (D1) en un segundo intervalo de referencia (Pd), y en donde las porciones de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) adyacentes están dispuestas a lo largo de la primera dirección (D1) y tienen fases opuestas, y

- en donde, en el patrón de alambres de electrodos

-- las primeras porciones flexionadas (33Q) de los primeros alambres de electrodos (33SR) están desplazadas aleatoriamente en relación con el orden de disposición de las primeras porciones flexionadas de referencia (40Q) de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) y

-- las segundas porciones flexionadas (31Q) de los segundos alambres de electrodos (31DR) están desplazadas aleatoriamente en relación con el orden de disposición de las segundas porciones flexionadas de referencia (41Q) de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR);

- en donde un primer valor de evaluación (Ev1), que es un logaritmo común de un valor obtenido mediante la división de un valor acumulativo de una densidad espectral en una región de frecuencia definida por un valor acumulativo de una densidad espectral de referencia en la región de frecuencia definida, es 3,6 o inferior, -- en donde la densidad espectral se calcula a partir de un espectro de potencia, que se obtiene por medio de una transformada de Fourier bidimensional del patrón de alambres de electrodos, mediante la división del espectro de potencia en intervalos de una anchura de frecuencia predeterminada y mediante la división de un valor acumulativo de una intensidad espectral de cada intervalo por la anchura de frecuencia predeterminada; -- en donde la densidad espectral de referencia se calcula a partir de un espectro de potencia de referencia, que se obtiene por medio de una transformada de Fourier bidimensional del patrón de referencia, mediante la división del espectro de potencia de referencia en los intervalos de la anchura de frecuencia predeterminada y mediante la división de un valor acumulativo de una intensidad espectral de referencia de cada intervalo por la anchura de frecuencia predeterminada; y

-- en donde la región de frecuencia definida es una región de frecuencias iguales o inferiores a un valor mínimo de un valor que es uno de

— un cuarto de la primera frecuencia espacial (fs), en donde la primera frecuencia espacial (fs) es una frecuencia espacial de un pico derivado de la periodicidad de la disposición de las porciones de alambre corto de referencia (40E, 41E) en el patrón de electrodos de referencia,

— una segunda frecuencia espacial (fp), en donde la segunda frecuencia espacial (fp) es una frecuencia espacial de un pico que aparece de conformidad con la magnitud del primer intervalo de referencia (Ps) de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR), y

— una tercera frecuencia espacial (fw), en donde la tercera frecuencia espacial (fw) es una frecuencia espacial de un pico que aparece de conformidad con la magnitud del segundo intervalo de referencia (Pd) de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR).

2. Estructura de electrodos en forma de película conductora de acuerdo con la reivindicación 1, en donde el primer valor de evaluación (Ev1) es 1,0 o mayor.

3. Estructura de electrodos en forma de película conductora de acuerdo con las reivindicaciones 1 o 2, en donde una longitud de un primer espacio (Gs) entre dos primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) adyacentes es una distancia a lo largo de la segunda dirección (D2) entre dos primeras porciones flexionadas de referencia (40Q), enfrentadas entre sí, de primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) adyacentes y la longitud del primer espacio (Gs) se encuentra entre el 5 % y el 10 % del primer intervalo de referencia (Ps) de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) y la longitud de un segundo espacio (Gd) entre dos segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) adyacentes es una distancia a lo largo de la primera dirección (D1) entre dos segundas porciones flexionadas de referencia (41Q), enfrentadas entre sí, de segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) adyacentes, y la longitud del segundo espacio (Gd) se encuentra entre el 5% y el 10% del segundo intervalo de disposición (Pd) de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR).

4. Estructura de electrodos en forma de película conductora de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 3, en donde, en el espectro de potencia, cuando una frecuencia que es la mitad de la primera frecuencia espacial (fs) constituye una cuarta frecuencia espacial (fh),

un segundo valor de evaluación (Ev2), que es un logaritmo común de un valor obtenido mediante la división de la densidad espectral del patrón de alambres de electrodos en la cuarta frecuencia espacial por el valor medio de la densidad espectral del patrón de alambres de electrodos en la región de frecuencia definida, es 2,0 o inferior.

5. Estructura de electrodos en forma de película conductora de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 4,

- en donde las longitudes de la pluralidad de porciones de alambre corto de referencia (40E) de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) son todas iguales

- en donde la pluralidad de primeros alambres de electrodos de referencia (40KR) incluyen cada uno dos tipos de porciones de alambre corto de referencia (40E), en donde, un tipo de porciones de alambre corto de referencia (40E) tiene una inclinación positiva en relación con una primera línea de base (A1) que es una línea recta imaginaria que se extiende a lo largo de la primera dirección (D1), mientras que el otro tipo de porciones de alambre corto de referencia (40E) tiene una inclinación negativa en relación con la primera línea de base (A1), en donde un valor absoluto de inclinación de las porciones de alambre corto de referencia (40E) en relación con la primera línea de base (A1) es constante y, en los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR), las porciones de alambre corto de referencia (40E) que tienen una inclinación positiva y las porciones de alambre corto de referencia que tienen una inclinación negativa se repiten de manera alterna a lo largo de la primera dirección (D1),

- en donde las longitudes de la pluralidad de porciones de alambre corto de referencia (41E) de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) son todas iguales, y

- en donde la pluralidad de segundos alambres de electrodos de referencia (41KR) incluyen cada uno dos tipos de porciones de alambre corto de referencia (41E), en donde, un tipo de porciones de alambre corto de referencia (41E) tiene una inclinación positiva en relación con una segunda línea de base (A2) que es una línea recta imaginaria que se extiende a lo largo de la segunda dirección (D2), mientras que el otro tipo de porciones de alambre corto de referencia (41E) tiene una inclinación negativa en relación con la segunda línea de base (A2), en donde un valor absoluto de inclinación de las porciones de alambre corto de referencia (41E) en relación con la segunda línea de base (A2) es constante y, en los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR), las porciones de alambre corto de referencia (41E) que tienen una inclinación positiva y las porciones de alambre corto de referencia (41E) que tienen una inclinación negativa se repiten de manera alterna a lo largo de la segunda dirección (D2).

6. Estructura de electrodos en forma de película conductora de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 5,

- en donde el primer intervalo de referencia (Ps) es igual a un segundo semiperíodo de referencia (Wd), en donde el segundo semiperíodo de referencia (Wd) es la longitud a lo largo de la segunda dirección (D2) entre dos porciones flexionadas de referencia (41Q) dispuestas a lo largo de los segundos alambres de electrodos de referencia (41KR), y

- en donde el segundo intervalo de referencia (Pd) es igual a un primer semiperíodo de referencia (Ws), en donde el primer semiperíodo de referencia (Ws) es la longitud a lo largo de la primera dirección (D1) entre dos porciones flexionadas de referencia (40Q) dispuestas a lo largo de los primeros alambres de electrodos de referencia (40KR).

7. Panel táctil que comprende:

una estructura de electrodos en forma de película conductora (21) de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6; una capa de cubierta (22) para cubrir la estructura de electrodos en forma de película conductora (21); y

circuitería periférica para medir la capacidad electrostática entre los primeros alambres de electrodos (33SR) dispuestos sobre la primera superficie (33S) y los segundos alambres de electrodos (31DR) dispuestos sobre la segunda superficie (31S).

8. Dispositivo de visualización que comprende:

un panel de visualización (10) que tiene una pluralidad de píxeles dispuestos en forma de rejilla para visualizar información;

un panel táctil (20) que transmite la información visualizada por el panel de visualización (10); y

una unidad de control (36) para controlar la activación del panel táctil (20),

en donde el panel táctil (20) es el panel táctil de acuerdo con la reivindicación 7.