ES2200804T3 - Procedimiento para pulimentacion mecanica-quimica y una capa de material conductor de aluminio o aleacion de aluminio. - Google Patents

Procedimiento para pulimentacion mecanica-quimica y una capa de material conductor de aluminio o aleacion de aluminio.

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ES2200804T3 ES00810129T ES00810129T ES2200804T3 ES 2200804 T3 ES2200804 T3 ES 2200804T3 ES 00810129 T ES00810129 T ES 00810129T ES 00810129 T ES00810129 T ES 00810129T ES 2200804 T3 ES2200804 T3 ES 2200804T3
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Abstract

Un procedimiento para la pulimentación mecánica-química de una capa de un material conductor de aluminio o aleación de aluminio usado en la industria de los semiconductores microelectrónicos, caracterizado porque dicha capa de aluminio o aleación de aluminio se abrade usando una composición abrasiva que comprende una suspensión acuosa alcalina de partículas de sílice coloidal individualizadas no conectadas entre sí mediante enlaces siloxano, un hidróxido de tetraalquilamonio y un agente oxidante.

Description

Procedimiento para la pulimentación mecánica-química y una capa de material conductor de aluminio o aleación de aluminio.
La presente invención se refiere a un procedimiento para la pulimentación mecánica-química de una capa y un material conductor de aluminio o aleación de aluminio usado en la industria de la microelectrónica para semiconductores como un material que constituye gramos de interconexión.
Los dispositivos electrónicos formados sobre una rodaja de silicio deben conectarse entre sí por medio de tramos de interconexión que constituyen el circuito electrónico deseado. Actualmente, estos tramos de interconexión se definen lo más a menudo usando una película basada en aluminio. El aluminio puede asociarse con silicio o (y) cobre en proporciones escasas para incrementar su resistencia a la electromigración.
Los tramos de interconexión de semiconductores se forman habitualmente de acuerdo con la siguiente secuencia: una película de aluminio o aleación de aluminio de aproximadamente 1 m de grosor se deposita mediante el bombardeo de un blanco de aluminio o aleación de aluminio por medio de un haz de electrones o un haz de iones (pulverización catódica); el diseño del circuito de interconexión se transfiere a continuación allí mediante fotolitografía y a continuación mediante mordentado iónico reactivo (RIE). Los tramos así definidos deben estar eléctricamente aislados, también deben de cubrirse con una capa dieléctrica, habitualmente basado en óxido de silicio, muy a menudo obtenida mediante descomposición en fase de vapor de tetraetilortosilicato (TEOS). Esta capa se planea a continuación mediante pulimentación mecánica-química.
El procedimiento de damasquinado constituye una solución alternativa que permite que los tramos de interconexión se hagan de aluminio mientras se reduce el número de fases requeridas. Consiste en depositar una capa dieléctrica basada en óxido de silicio sobre un sustrato. En esta capa dieléctrica, los agujeros y las zanjas de contacto que reproducen el diseño del circuito de interconexión se forman a continuación mediante dos fotolitografías y mordentados iónicos reactivos sucesivos. Se deposita a continuación una capa de aluminio o aleación de aluminio, que se pule mediante pulimentación mecánica-química hasta que se alcanza la superficie de la capa dieléctrica. El aluminio permanece así sólo en los contactos y las zanjas.
El procedimiento de damasquinado permite evitar problemas asociados con el mordentado iónico reactivo de aluminio: escasa selectividad del mordentado de aluminio en comparación con su contra-plantilla en la resina y difícil control del perfil de los trazos de aluminio.
Para llevar a cabo una pulimentación mecánica-química de la capa de aluminio o aleación de aluminio, deben evitarse dos fenómenos:
- un ataque sobre la capa de óxido de silicio subyacente, también denominado erosión. Esto introduce crestas localmente y es contraproducente para el objetivo deseado de la planarización.
- una sobre-pulimentación de las líneas de interconexión en las zanjas, también llamada "abombamiento". No sólo este fenómeno también genera crestas, sino que además reduce el grosor de las líneas de interconexión y, por esta razón, incrementa su
\hbox{resistencia.}
Estos dos fenómenos se deben principalmente a una uniformidad de pulimentación escasa del aluminio o la aleación de aluminio. De hecho, una retirada imperfecta de la capa metálica generalmente implica una sobrepulimentación significativa para evitar cualquier riesgo de conducción eléctrica entre los diferentes dispositivos electrónicos, lo que conduce a sobrepulimentar las líneas de interconexión y las zonas dieléctricas ya reveladas. La fase de pulimentación de aluminio no debe ser así sólo uniforme sino también dar como resultado un estado superficial excelente. De hecho, el aluminio es un metal blando y maleable que es difícil de pulir sin arañazos.
Estos arañazos pueden generarse de dos modos principales:
- el óxido de aluminio, que se forma naturalmente sobre la superficie del aluminio, es un material más duro que el aluminio. Las partículas de esta capa de óxido de aluminio, una vez abradidas, pueden aglomerarse y a continuación arañan la superficie del aluminio. Debe usarse así una composición abrasiva que minimice la formación de óxido de aluminio superficial y/o evite la aglomeración de partículas de óxido de aluminio abradidas,
- las partículas que constituyen la composición abrasiva también pueden arañar la superficie del aluminio si se forman y su rugosidad se controla escasamente, lo que favorece las suspensiones coloidales de sílice más que los abrasivos basados en sílice de pirólisis u óxido de aluminio.
Se propuso en EP-A-0 779 655 usar una composición abrasiva que comprendiera una suspensión de sílice de pirólisis para pulir superficies de aluminio o aleación de aluminio.
WO-A-97/13889 describe un procedimiento destinado a pulir películas de aluminio, cobre, níquel o tántalo usando una solución abrasiva que comprende una suspensión de partículas de óxido de aluminio.
En una fase diferente de la fabricación de circuitos electrónicos, muy anterior, EP-A-0 520 109 describe un procedimiento de pulimentación primaria para zanjas de silicio usando una composición comprendida por una solución coloidal de sílice estabilizada por hidróxido amónico, un bactericida de la familia del hidróxido de amonio cuaternario y hasta 0,1% en peso de clorita o hipoclorito sódico.
En otra fase diferente más de la fabricación de circuitos electrónicos, EP-A-0 853 335 describe un procedimiento de pulimentación selectivo entre una capa de óxido de silicio y una capa de nitruro de silicio usando una suspensión modificada obtenida combinando una suspensión con una sal de tetrametilamonio, una base y peróxido de hidrógeno, en la que la relación en volumen de suspensión a peróxido de hidrógeno es alta, particularmente comprendida entre 200 y 500 a 1.
EP-A-0 896 042 describe una composición de pulimentación mecánica-química que comprende un compuesto capaz de atacar volframio, tal como peróxido de hidrógeno, y al menos un inhibidor del ataque de volframio, tal como hidróxido de tetraalquilamonio, y cuyo pH es menor que 7.
Los abrasivos actualmente conocidos y destinados a pulir aluminio o una aleación de aluminio, que son esencialmente abrasivos basados en aluminio o sílice de pirólisis, no permiten obtener una calidad superficial satisfactoria.
Ahora, el solicitante ha apreciado de modo sorprendente e inesperado que el uso de una suspensión acuosa alcalina de sílice coloidal estabilizada mediante hidróxido de tetraalquilamonio y asociada con un agente oxidante permitía:
- una velocidad de pulimentación incrementada para una placa de aluminio o aleación de aluminio,
- un estado superficial del aluminio excelente.
Un objetivo de la presente invención es por lo tanto un procedimiento para la pulimentación mecánica-química de una capa de un material conductor de aluminio o aleación de aluminio usado en la industria de los semiconductores microelectrónicos, caracterizado porque una capa de dicho material se abrade usando una composición abrasiva que comprende una suspensión acuosa alcalina de partículas de sílice coloidales individualizadas no conectadas entre sí por enlaces de siloxano, un hidróxido de tetraalquilamonio y un agente oxidante.
De acuerdo con la investigación llevada a cabo por el solicitante, el agente oxidante es responsable de mejorar las propiedades de pulimentación de las composiciones abrasivas de la invención, mientras que el hidróxido de tetraalquilamonio estabiliza la composición.
Las composiciones abrasivas usadas de acuerdo con la invención tendrán notablemente un pH comprendido entre 8 y 12, preferiblemente entre 10,5 y 11.
Estas composiciones abrasivas pueden obtenerse, por ejemplo, usando una solución coloidal de sílice estabilizada con sodio. Esta solución coloidal de sílice se tratará así sobre una resina de intercambio iónico para eliminar el sodio presente, a continuación mediante hidróxido de tetrametilamonio para obtener una suspensión acuosa alcalina estable, un objetivo de la presente invención.
Composiciones abrasivas ventajosas para usar de acuerdo con la invención se obtienen usando sílice coloidal con partículas individualizadas, no conectadas entre sí por enlaces de siloxano y que tienen diámetros de partícula medios comprendidos entre 12 nm y 100 nm, preferiblemente entre 35 nm y 50 nm y muy particularmente de aproximadamente 50 nm.
En todas las composiciones usadas de acuerdo con la invención, las partículas abrasivas están presentes ventajosamente en una concentración en peso comprendida entre 5% y 50%, preferiblemente entre 25% y 35%, y muy particularmente en una concentración de aproximadamente 30%.
El hidróxido de tetraalquilamonio usado para estabilizar las composiciones abrasivas de acuerdo con la invención se eligen preferiblemente de hidróxido de tetrametilamonio, hidróxido de tetraetilamonio, hidróxido de tetrapropilamonio y, lo más particularmente, hidróxido de tetrametilamonio.
Este hidróxido de tetraalquilamonio podría usarse preferiblemente en una concentración comprendida entre 0,1% en peso y 1% en peso con relación a la sílice inicial y lo más particularmente en una concentración de aproximadamente 0,4% en peso relativa a la sílice inicial.
Las composiciones abrasivas usadas en la invención contienen preferiblemente entre 0,5% y 10% en volumen de agente oxidante. Este se elige notablemente de cloratos, percloratos, cloritos, yodatos, nitratos, sulfatos, persulfatos, peróxidos, agua ozonizada y peróxido de hidrógeno.
El agente oxidante será preferiblemente peróxido de hidrógeno. Una composición preferida previamente se caracteriza porque la cantidad de peróxido de hidrógeno diluido hasta 30% presente en dicha composición abrasiva está comprendida entre 0,5% y 10% en volumen con relación al total de dicha composición abrasiva y notablemente es aproximadamente 7,5% en volumen con relación al total de dicha composición abrasiva.
Las composiciones usadas en la invención tienen propiedades notables que justifican su uso en la pulimentación de una capa en un material conductor basado en aluminio o aleación de aluminio, pudiendo ser, por ejemplo, una aleación de aluminio-cobre o una aleación de aluminio-silicio-cobre.
Finalmente, un objetivo de la presente solicitud es el uso de una composición abrasiva que comprende una suspensión acuosa alcalina de partículas de sílice coloidal individualizadas no conectadas entre sí por enlaces de siloxano, un hidróxido de tetraalquilamonio y un agente oxidante para la pulimentación mecánica-química de un material conductor de aluminio o aleación de aluminio usado en la industria de los semiconductores microelectrónicos.
Condiciones preferidas para usar los procedimientos de pulimentación descritos previamente también se aplican a los otros objetivos de la invención previstos previamente.
El alcance de la invención puede entenderse mejor mediante referencia a los ejemplos dados más adelante, cuyo objetivo es explicar las ventajas de la invención.
Ejemplo 1 Composición abrasiva
Se añade 7,5% en volumen de peróxido de hidrógeno diluido hasta 30% a una suspensión de sílice coloidal estabilizada mediante 0,4% en peso de hidróxido de tetrametilamonio (muestra PL 1509 de Clariant France SA), cuyas características son como sigue:
- pH de la suspensión acuosa: 11
- superficie específica: 55 m^{2}/g
- diámetro medio de las partículas elementales de sílice coloidal: 50 nm
- concentración en peso en sílice coloidal: 30%.
Se obtiene así una composición abrasiva de acuerdo con la invención.
Ejemplo 2 Ejemplo de pulimentación mecánica-química
Sobre cada placa estudiada, aluminio de 10000 \ring{A}; de grosor se deposita sobre una capa de óxido de silicio de 1600 \ring{A};. Las rodajas se pulen a continuación en un pulimentador PRESI E 460 con las siguientes condiciones:
- presión aplicada 0,2 daN/cm^{2}
- velocidad de giro 30 rpm
- velocidad del cabezal 30 rpm
- temperatura del abrasivo 20ºC
- velocidad de abrasión 100 cm^{3}/nm
- tela IC 1000 furrows de Rodel Products
usando un abrasivo obtenido en el ejemplo 1. Esta composición abrasiva permite obtener los siguientes resultados:
- una velocidad de pulimentación de aluminio de 1700 \ring{A}/mn,
- un estado superficial excelente (sin arañazos observados bajo el microscopio óptico),
- una falta de uniformidad de pulimentación igual a 8%.
Ejemplo de comparación 1
Ejemplo de pulimentación mecánica-química con un abrasivo idéntico al del ejemplo 1, sin la adición de peróxido de hidrógeno. Usando rodajas idénticas a las del ejemplo 2 y bajo las mismas condiciones de trabajo que las del ejemplo 2 y usando una suspensión acuosa alcalina de sílice coloidal estabilizada mediante 0,4% en peso de hidróxido de tetrametilamonio, cuyas características son las siguientes:
- pH de la suspensión acuosa: 11
- superficie específica: 55 m^{2}/g
- diámetro medio de partículas elementales de sílice coloidal: 50 nm
- concentración en peso en sílice coloidal: 30%
se obtienen los siguientes resultados:
- una velocidad de pulimentación de aluminio de 1450 \ring {A}/mn,
- una falta de uniformidad de pulimentación igual a 15%.
Por otra parte, esta suspensión genera numerosos arañazos sobre la superficie del aluminio. Este pobre estado superficial impide el uso de este procedimiento para elaborar tramos de interconexión en aluminio usando el procedimiento de damasquinado.
Ejemplo de comparación 2
Ejemplo de pulimentación mecánica-química con un abrasivo que comprende una suspensión acuosa alcalina de sílice coloidal estabilizada mediante 1,2% en peso de NH_{3} (Klebosol® 30 N 50 PHN de Clariant France SA) y que comprende 7,5% en volumen de peróxido de hidrógeno diluido hasta 30%. Usando rodajas idénticas a las del ejemplo 2 y bajo las mismas condiciones de trabajo que las del ejemplo 2, y usando una suspensión acuosa alcalina de sílice coloidal estabilizada mediante 1,2% en peso de NH_{3}, cuyas características son como sigue:
- pH de la suspensión acuosa: 11
- superficie específica: 57 m^{2}/g
- diámetro medio de partículas elementales de sílice coloidal: 50 nm
- concentración en peso en sílice coloidal: 30%
a la que se añade 7,5% en volumen de peróxido de hidrógeno diluido hasta 30%, se obtienen los siguientes resultados
- una velocidad de pulimentación de aluminio de 1600 \ring{A}/mn,
- una falta de uniformidad de pulimentación igual a 10%.
Sin embargo, genera numerosos arañazos sobre la superficie del aluminio. Este pobre estado superficial impide el uso de este procedimiento para elaborar tramos de interconexión en aluminio mediante el procedimiento del damasquinado.
Ejemplo de comparación 3
Ejemplo de pulimentación mecánica-química con un abrasivo que comprende una suspensión acuosa ácida de sílice coloidal (Klebosol® 30 H 50 PHN de Clariant-France SA) y 7,5% en volumen de peróxido de hidrógeno diluido hasta 30%. Usando rodajas idénticas a las del ejemplo 2 y bajo las mismas condiciones de trabajo que las del ejemplo 2, usando una suspensión acuosa ácida de sílice coloidal, cuyas características son como las siguientes:
- pH de la suspensión acuosa: 2,2
- superficie específica: 54 m^{2}/g
- diámetro medio de partículas elementales de sílice coloidal: 50 nm
- concentración en peso en sílice coloidal: 30%
a la que se añade 7,5% en volumen de peróxido de hidrógeno diluido hasta 30%, se generan numerosos arañazos sobre la superficie del aluminio. Este pobre estado superficial impide el uso del procedimiento para elaborar tramos de interconexión en aluminio mediante el procedimiento del damasquinado.

Claims (15)

1. Un procedimiento para la pulimentación mecánica-química de una capa de un material conductor de aluminio o aleación de aluminio usado en la industria de los semiconductores microelectrónicos, caracterizado porque dicha capa de aluminio o aleación de aluminio se abrade usando una composición abrasiva que comprende una suspensión acuosa alcalina de partículas de sílice coloidal individualizadas no conectadas entre sí mediante enlaces siloxano, un hidróxido de tetraalquilamonio y un agente oxidante.
2. Un procedimiento de acuerdo con la reivindicación 1, caracterizado porque el pH de dicha suspensión acuosa alcalina de partículas de sílice coloidal individualizadas no conectadas entre sí por enlaces siloxano está comprendido entre 8 y 12.
3. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 y 2, caracterizado porque el pH de dicha suspensión acuosa alcalina de partículas de sílice coloidal individualizadas no conectadas entre sí mediante enlaces siloxano es de 10,5 a 11.
4. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 3, caracterizado porque el diámetro medio de las partículas abrasivas de partículas de sílice coloidal individualizadas de dicha composición está comprendido entre 12 nm y 100 nm.
5. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 4, caracterizado porque el diámetro medio de las partículas abrasivas de sílice coloidal de dicha composición está comprendido entre 35 nm y 50 nm.
6. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 5, caracterizado porque la concentración en peso en las partículas abrasivas de dicha composición está comprendida entre 5% y 50%.
7. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 6, caracterizado porque la concentración en peso en las partículas abrasivas de dicha composición está comprendida entre 25 y 35%.
8. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 7, caracterizado porque el agente estabilizante para las partículas de sílice coloidal individualizadas no conectadas entre sí por enlaces siloxano es hidróxido de tetrametilamonio, hidróxido de tetraetilamonio o hidróxido de tetrapropilamonio.
9. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 8, caracterizado porque la cantidad de hidróxido de tetraalquilamonio está comprendida entre 0,1% en peso y 1% en peso con relación a la sílice inicial.
10. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 9, caracterizado porque la cantidad de hidróxido de tetraalquilamonio es aproximadamente 0,4% en peso con relación a la sílice inicial.
11. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 10, caracterizado porque el agente oxidante se elige de cloratos, percloratos, cloritos, yodatos, nitratos, sulfatos, persulfatos, peróxidos, agua ozonizada y peróxido de hidrógeno.
12. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 11, caracterizado porque el agente oxidante es peróxido de hidrógeno.
13. Un procedimiento de acuerdo con la reivindicación 12, caracterizado porque la cantidad de peróxido de hidrógeno diluido hasta 30% en dicha composición abrasiva está comprendida entre 0,5% y 10% en volumen con relación al total de dicha composición abrasiva.
14. Un procedimiento de acuerdo con una de las reivindicaciones 12 y 13, caracterizado porque la cantidad de peróxido de hidrógeno diluido hasta 30% en dicha composición abrasiva es aproximadamente 7,5% en volumen con relación al total de dicha composición abrasiva.
15. Uso de una composición abrasiva que comprende una suspensión acuosa alcalina de partículas de sílice coloidal individualizadas no conectadas entre sí por enlaces siloxano, un hidróxido de tetraalquilamonio y un agente oxidante, para la pulimentación mecánica-química de un material conductor de aluminio o aleación de aluminio usado en la industria de los semiconductores microelectrónicos.
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