EP2010328A2 - Walzwerk zur behandlung viskoser massen - Google Patents

Walzwerk zur behandlung viskoser massen

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Publication number
EP2010328A2
EP2010328A2 EP07710820A EP07710820A EP2010328A2 EP 2010328 A2 EP2010328 A2 EP 2010328A2 EP 07710820 A EP07710820 A EP 07710820A EP 07710820 A EP07710820 A EP 07710820A EP 2010328 A2 EP2010328 A2 EP 2010328A2
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
roller
layer thickness
rolling mill
mill according
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP07710820A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Achim Philipp Sturm
Andreas Kuhn
Lionel Bibollet
Bernhard Stalder
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Buehler AG
Original Assignee
Buehler AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Buehler AG filed Critical Buehler AG
Publication of EP2010328A2 publication Critical patent/EP2010328A2/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B02—CRUSHING, PULVERISING, OR DISINTEGRATING; PREPARATORY TREATMENT OF GRAIN FOR MILLING
    • B02C—CRUSHING, PULVERISING, OR DISINTEGRATING IN GENERAL; MILLING GRAIN
    • B02C4/00—Crushing or disintegrating by roller mills
    • B02C4/28—Details
    • B02C4/32—Adjusting, applying pressure to, or controlling the distance between, milling members
    • B02C4/36—Adjusting, applying pressure to, or controlling the distance between, milling members in mills specially adapted for paste-like materials
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22—CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
    • B22F1/00—Metallic powder; Treatment of metallic powder, e.g. to facilitate working or to improve properties
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A23—FOODS OR FOODSTUFFS; TREATMENT THEREOF, NOT COVERED BY OTHER CLASSES
    • A23G—COCOA; COCOA PRODUCTS, e.g. CHOCOLATE; SUBSTITUTES FOR COCOA OR COCOA PRODUCTS; CONFECTIONERY; CHEWING GUM; ICE-CREAM; PREPARATION THEREOF
    • A23G1/00—Cocoa; Cocoa products, e.g. chocolate; Substitutes therefor
    • A23G1/04—Apparatus specially adapted for manufacture or treatment of cocoa or cocoa products
    • A23G1/10—Mixing apparatus; Roller mills for preparing chocolate
    • A23G1/12—Chocolate-refining mills, i.e. roll refiners
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22—CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22F—WORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
    • B22F3/00—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces
    • B22F3/18—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces by using pressure rollers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0691—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving

Definitions

  • the invention relates to a rolling mill for the treatment of viscous masses, in particular for comminution and uniform distribution in a binder suspended solid particles.
  • Such a rolling mill has at least two rollers rotatably mounted about its longitudinal axes, wherein the axis of rotation of a first roller is mounted stationary and the axis of rotation of a second roller is movably mounted, and at least one pressing device for pressing at least one roller against the other roller.
  • the temperatures of the roll surfaces affect the viscosity of the binder, while the gap spacing for a given difference in surface speed significantly affects the shear rate in the nip.
  • the shear rate between the rotating rollers and the viscosity of the binder in which the particles are suspended have a decisive influence on the result of the comminution and distribution of the suspended particles.
  • the operators of such rolling mills therefore also achieve good product qualities, ie good comminution and uniform distribution of the solid particles suspended in the binder.
  • a reproducible adjustment of the roll spacing with usually arranged at both longitudinal ends of the rollers actuators ("watches") is difficult, if only because the wear over time and thus always new settings of the actuators are necessary to longer operating times of the rolling mill to ensure a constant nip.
  • the reproducibility is also affected by temperature-induced expansion of the rolls and other rolling mill parts, whereby the mechanical tolerances in general and in particular the roll spacing change over time.
  • the invention is therefore based on the object as simple and reproducible monitoring of the operating parameters and in particular to enable the nip in a rolling mill for the treatment of viscous masses.
  • a roller of the rolling mill according to the invention is equipped with at least one layer thickness sensor device for detecting the value of the layer thickness of the treated viscous mass on the roller. It has surprisingly been found that for most of the products to be processed there is a relationship between the right one. End of the particle size distribution and the respective layer thicknesses on the respective rolls of a rolling mill.
  • the layer thickness sensor device is preferably connected to a display device for displaying the detected value of the layer thickness.
  • the current layer thicknesses of the mill can be read by an operator at any time. This can then correct immediately if necessary, for example, manually occurring gap setting and possibly even more mill operating parameters to get back to the desired target layer thickness, which is particularly representative of the product quality.
  • online quality control by means of layer thickness measurement is possible.
  • the layer thickness sensor device is connected to a measurement data processing device for processing the acquired measurement data.
  • the processed measurement data is preferably recorded during mill operation.
  • the operating parameter protocols obtained in this way can be evaluated and used to model for optimal processing of different raw materials. In this way, the learning process can be made more transparent and reproducible for different procedural tasks.
  • operating parameter patterns are mapped to product parameter patterns.
  • Rule packages created which tell the operator how he has to change the operating parameters, so that the best possible product quality, i. a product with product parameters is achieved as close as possible to the target product parameters.
  • the rules may e.g. be programmed as intelligent software technologies such as fuzzy logic or neural networks or as a combination of such or other intelligent software technologies. In this way, the behavior of an experienced mill operator and in particular its learning ability can be mimicked.
  • the rolling mill according to the invention is also equipped with a control device in addition to the measured data processing device and in particular has a control device.
  • the rolling mill controller may preferably control at least one rolling mill operating parameter.
  • the mill operator can be assisted in his work, whereby an at least semi-automatic operation of the rolling mill according to the invention takes place.
  • the at least one operating parameter may be one of the following parameters:
  • the rolling mill according to the invention may be a twin-roll mill.
  • a rolling mill according to the invention in the form of a three-roll mill with a first roll, a second roll and a third roll.
  • a three-roll mill is particularly well suited for comminution and uniform distribution in a binder suspended solid particles, wherein in the first nip primarily a mixture takes place to achieve the most uniform distribution of the particles in the binder, (distributive effect), while .in the second nip primarily a force on the particles takes place in order to achieve their comminution (dispersive effect).
  • control device may control at least one operating parameter of the three-roll mill, the operating parameter preferably being at least one of the following parameters:
  • the layer thickness sensor device has a confocal sensor on the surface of the roller associated therewith.
  • the confocal sensor works according to the confocal measuring principle (principle several focal points) for distance measurement.
  • light having a plurality of discrete frequencies or a continuous frequency spectrum is focused on the measurement surface via a first optical system (lens arrangement) with chromatic aberration.
  • the first optic preferably has multiple lenses and achieves controlled chromatic aberration, i. the focal plane of the first optics has one for each frequency or wavelength of the incident light. other distance. from the main plane (or the main planes) of the lens array.
  • each frequency or wavelength can be assigned a distance at which the light of the respective frequency or wavelength incident in parallel or in a predetermined diverging beam into the first optical system is imaged at a point in the respective image plane.
  • That frequency (or wavelength or light color) is used in this sensor, which focuses exactly on the measurement surface.
  • the light reflected from this point of light on the measurement surface is also imaged via a second optics or via the first optics in the opposite direction and optionally via an additional mirror arrangement, preferably a partially transparent mirror arrangement without chromatic aberration on a photosensitive sensor element also as a light point. This recognizes the respective light color of this imaged light spot. By thus identified light color of the point on the sensor element, the distance of the measuring surface of the first optics can be determined.
  • the layer thickness sensor device has a capacitive sensor on the surface of its associated roller, wherein the roller is preferably a metal roller.
  • the capacitive sensor operates on the capacitive principle. It is located near the surface of the metal roller, so that a capacitance is formed between an electrode of the sensor and the metal surface, the value of which depends on the type of non-conductive material (dielectric) between the sensor electrode and the roller surface.
  • the value of the capacitance is influenced by the product layer acting as a dielectric, which adheres to the roll surface. A change in the layer thickness of the product thus leads to a clear change in the capacitance between the sensor and the roll surface.
  • the layer thickness sensor device has an additional inductive sensor on the surface of the roller, which is rigidly connected to the confocal and / or capacitive sensor.
  • the inductive sensor works on the inductive principle, whereby the change of the inductance of a coil is measured.
  • the coil is connected in a circuit together with an AC voltage source.
  • a measurement of the alternating voltage between the two coil ends can be concluded due to a change in the amplitude of the AC voltage to a corresponding change in the inductance.
  • a coil choke coil
  • This core protrudes with its first end out of the first coil end and with its second end out of the second coil end.
  • the two from the coil outstanding bobbin ends are located near the roll surface.
  • the inductance of the coil depends on the magnetic flux passing through the coil or its core.
  • the distance, ie the air gap, between the respective coil core ends and the roll surface changes, so does the magnetic flux through the coil (magnetic ring flux through the magnetic circuit passing through the coil core, the area of the roll surface facing the coil and the two air gaps is formed).
  • the coil in the vicinity of the surface of a roll of conductive material, in particular a steel roll, there is a coil which points with one of its coil ends to the roll surface.
  • the coil generates an alternating field, which generates eddy currents in the electrically conductive roller surface, which react on the coil and change its inductance.
  • the roller is made of a non-ferromagnetic conductive material, there is a damping of the coil and thus a reduction of its inductance.
  • the roller is made of a ferromagnetic conductive material, there is a damping of the coil and thus an increase in their inductance.
  • the coil is a flat coil with a spiral winding, in particular a printed on a non-conductive film material coil with spiral winding.
  • the distance measuring direction of the inductive sensor is aligned parallel to the layer thickness measuring direction of the confocal and / or the capacitive sensor.
  • This can be e.g. in that the coil of the inductive sensor and the electrode of the capacitive sensor are arranged concentrically, or that the coil of the inductive sensor and the chromatic aberrative optics (first optics) of the confocal sensor are arranged concentrically.
  • the layer thickness sensor device has an NIR sensor on the surface of the roller.
  • This type of sensor is particularly well suited for measuring the thickness of a mass on a roller whose surface is non-conductive and in particular consists of a ceramic material.
  • the rolls of the rolling mill are made of a ceramic material, or the rolls have a core of metal and a coating of ceramic material.
  • the NIR signal is predominantly reflected by the particles of the product layer, penetrating far enough into or penetrating the product layer but hardly reflected by the practically non-conductive ceramic layer.
  • the measuring principle is based on the fact that light of the near infrared (NIR, approx. 1-30 ⁇ m) has a penetration depth of several wavelengths.
  • NIR near infrared
  • the NIR light reflected from the individual molecules (binder molecules and pigment molecules) of the product layer adds to the total intensity of the reflected NIR light and is therefore proportional to the layer thickness, provided that during operation the composition (recipe) of the Layer forming mass remains constant, which corresponds to a practically constant solids content in the binder matrix.
  • the NIR layer thickness sensor is used in rolling systems according to the invention, the rollers of which are not made of metal but of ceramic material and thus are generally electrically non-conductive (at least for electrons).
  • the use of the capacitive sensor and the inductive sensor is virtually impossible with rolls of non-conductive materials.
  • the distance to the product surface is determined by the confocal sensor.
  • the confocal sensor uses a light source that emits a light spectrum with different spectral colors and a chromatic aberration optics.
  • a triangulation sensor can also be used for this, which preferably uses a monochromatic laser beam.
  • Thickness of the product layer is the thickness of the product layer
  • the thickness of the product layer is measured by the capacitive sensor.
  • NIR sensor can also be used for this, which, like the capacitive sensor, can directly determine the layer thickness.
  • the distance to the metallic roller surface is measured by the inductive sensor.
  • the object of the present invention is achieved by a method according to claim 19, according to which a rolling mill according to the invention is used for the treatment of viscous masses, in particular for comminution and uniform distribution in a binder suspended solid particles, wherein the layer thickness sensor the value of the layer thickness of the treated viscous Measured mass on the roller.
  • the detection of the layer thickness preferably takes place continuously.
  • the layer thickness sensor provides the current and detected layer thickness of the mass of a control device or control device.
  • the detected layer thickness of the product serves as an output variable during the control, while at least one of the following parameters is used as the input variable:
  • the detected layer thickness of the product serves as an output variable during the control, while at least one of the following parameters is used as the input variable:
  • the actual layer thickness is continuously recorded during the control, compared with a desired layer thickness as a reference variable, and depending on this comparison, the actual manipulated variable is applied to the setpoint value as changes in the at least one operating parameter as manipulated variable or manipulated variables. Adjusted layer thickness.
  • the layer thickness can be controlled in the inventive method on the one hand to a maximum value of 0.1 mm and on the other hand be controlled to a minimum value of 1 micron.
  • the layer thickness is controlled within a range of 1 ⁇ m to 0.1 mm. Within this layer thickness range, good dispersion results can be achieved.
  • boundary conditions for the layer thickness boundary conditions for other important parameters can also be specified.
  • an individual temperature window is preset for each roller (minimum and maximum temperature).
  • an individual pressure window is provided for each nip (minimum and maximum contact pressure).
  • the inductive sensor detects a first distance between a reference line of the layer thickness sensor device and a metallic boundary surface or metallic surface of the roller,
  • the confocal and / or the capacitive sensor detects a second distance between the reference line of the layer thickness sensor device and the surface of a mass film on the roller, and
  • the layer thickness of the bulk film is determined using a difference between the first distance and the second distance.
  • This approach measures both the distance to the roll surface (inductive sensor) and the distance to the product surface (confocal sensor or triangulation sensor or capacitive sensor) and has the advantage that mechanical-geometrical changes can be made to the rolling mill, e.g. Changes in distance due to hermetic expansion of the rollers, vibrations of the rollers, wear of the rollers, etc., be compensated. The subtraction results in a layer thickness value which is independent of such possibly occurring changes in distance.
  • the film thickness sensor device is attached to the third roll of a three-roll mill, and the product layer thickness on the third roll is measured.
  • Input variable The input variable controls the output variable.
  • Output variable The output variable is controlled by the input variable.
  • Guide size In this case, the lead height is the target layer thickness.
  • the operator can set the desired gap distance between the rolls more easily by adjusting the layer thicknesses via the layer thickness measurement.
  • the operator sees the display of the actual layer thickness on the third roller and can change the actual layer thickness by manually changing the contact pressure, the roller temperatures and possibly the mechanical gap setting.

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Abstract

Die Erfindung bezieht sich auf ein Walzwerk und ein Verfahren zur Behandlung viskoser Massen, insbesondere zur Zerkleinerung und gleichmässigen Verteilung in einem Bin-demittel suspendierter Feststoffpartikel. Das Walzwerk besitzt mindestens zwei um ihre Längsachsen drehbar gelagerte Walzen. Die Drehachse einer ersten Walze ist ortsfest gelagert, während die Drehachse einer zweiten Walze beweglich gelagert ist. Das Walzwerk besitzt ausserdem eine Pressvorrichtung zum Pressen mindestens einer Walze gegen die andere Walze und ist mit mindestens einer Schichtdicken-Sensorvorrichtung zum Erfassen des Wertes der Schichtdicke der behandelten viskosen Masse auf einer Walze ausgerüstet. Während des Betriebs des Walzwerks erfasst der Schichtdickensensor den Wert der Schichtdicke der behandelten viskosen Masse auf der Walze. Die Erfassung der Schichtdicke kann kontinuierlich erfolgen.

Description

Walzwerk zur Behandlung viskoser Massen
Die Erfindung bezieht sich auf ein Walzwerk zur Behandlung viskoser Massen, insbesondere zur Zerkleinerung und gleichmässigen Verteilung in einem Bindemittel suspendierter Feststoffpartikel.
Ein derartiges Walzwerk besitzt mindestens zwei um ihre Längsachsen drehbar gelagerte Walzen, wobei die Drehachse einer ersten Walze ortsfest gelagert ist und die Drehachse einer zweiten Walze beweglich gelagert ist, sowie mindestens eine Pressvorrichtung zum Pressen mindestens einer Walze gegen die andere Walze.
Bei den herkömmlichen Walzwerken dieser Bauart erfolgt die Einstellung der wesentlichen Verfahrensparameter für die im Walzenspalt erfolgende Scherbehandlung des Produktes durch Einstellen des Pressdruckes (Liniendruckes) zwischen den Walzen, der jeweiligen Temperatur der jeweiligen Walzenoberfläche sowie des Spaltabstandes im Walzenspalt.
Die Temperaturen der Walzenoberflächen beeinflussen die Viskosität des Bindemittels, während der Spaltabstand bei gegebener Differenz der Oberflächengeschwindigkeit das Schergefälle im Walzenspalt massgeblich beeinflusst. Das Schergefälle zwischen den rotierenden Walzen und die Viskosität des Bindemittels, in welchem die Partikel suspendiert sind, haben entscheidenden Einfluss auf das Ergebnis der Zerkleinerung und Verteilung der suspendierten Partikel.
Ein mit diesen Einstellungen vertrauter Bediener eines solchen Walzwerkes ist in der Regel auch mit den sich dadurch ergebenden Produkteigenschaften vertraut.
In der Regel erzielen die Bediener derartiger Walzwerke deshalb auch gute Produktqualitäten, d.h. eine gute Zerkleinerung und gleichmässige Verteilung der in dem Bindemittel suspendierten Feststoffpartikel. Es ist jedoch nach wie vor schwierig, eine gute Reproduzierbarkeit der Walzwerk- Betriebsparameter, insbesondere des Walzenabstandes (Walzenspalt), zu gewährleisten, was wiederum Auswirkungen auf die Einheitlichkeit der Produktqualität hat. Eine reproduzierbare Einstellung des Walzenabstandes mit in der Regel an beiden Längsenden der Walzen angeordneten Stellvorrichtungen ("Uhren") ist schon allein deshalb schwierig, weil sich die Walzen im Laufe der Zeit abnutzen und somit stets neue Einstellungen der Stellvorrichtungen notwendig sind, um über längere Betriebszeiten des Walzwerks einen konstanten Walzenspalt zu gewährleisten. Die Reproduzierbarkeit wird aber auch durch temperaturbedingte Ausdehnungen der Walzen sowie anderer Walzwerkteile beeinträchtigt, wodurch sich die mechanischen Toleranzen im allgemeinen und insbesondere der Walzenabstand im Laufe der Zeit ändern.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde eine möglichst einfache und reproduzierbare Überwachung der Betriebsparameter und insbesondere des Walzenspaltes bei einem Walzwerk zur Behandlung viskoser Massen zu ermöglichen.
Diese Aufgabe wird bei dem eingangs beschriebenen Walzwerk gemäss Anspruch 1 dadurch gelöst, dass eine Walze des erfindungsgemässen Walzwerks mit mindestens einer Schichtdicken-Sensorvorrichtung zum Erfassen des Wertes der Schichtdicke der behandelten viskosen Masse auf der Walze ausgerüstet ist. Es hat sich überraschend gezeigt, dass für die meisten zu verarbeitenden Produkte ein Zusammenhang zwischen dem rechten. Ende der Partikelgrössen- Verteilung und den jeweiligen Schichtdicken auf den jeweiligen Walzen eines Walzwerks besteht.
Vorzugsweise ist bei dem erfindungsgemässen Walzwerk die Schichtdicken- Sensorvorrichtung mit einer Anzeigevorrichtung zum Anzeigen des erfassten Wertes der Schichtdicke verbunden. Somit können die momentanen Schichtdicken des Walzwerks von einem Bediener jederzeit abgelesen werden. Dieser kann dann bei Bedarf sofort die z.B. manuell erfolgende Spalteinstellung und ggf. noch weitere Walzwerk- Betriebsparameter korrigieren, um wieder zu der angestrebten Soll-Schichtdicke zu gelangen, die für die Produktqualität besonders repräsentativ ist. Somit ist eine Online-Qualitätskontrolle mittels Schichtdickenmessung möglich.
Zweckmässigerweise ist bei dem erfindungsgemässen Walzwerks die Schichtdicken- Sensorvorrichtung mit einer Messdaten-Verarbeitungsvorrichtung zum Verarbeiten der erfassten Messdaten verbunden. Die verarbeiteten Messdaten werden vorzugsweise während des Walzwerksbetriebs aufgezeichnet. Die so erhaltenen Betriebsparameter- Protokolle können ausgewertet und zur Modellbildung für eine optimale Verarbeitung unterschiedlicher Rohmaterialien herangezogen werden. Auf diese Weise lässt sich der Lernprozess für unterschiedliche verfahrenstechnische Aufgaben transparenter und reproduzierbarer gestalten. Im Rahmen der Modellbildung werden bestimmte Betriebsparameter-Kombinationen und die daraus resultierenden Produktparameter-Kombinationen miteinander korreliert. Es werden also Betriebsparameter-Muster auf Produktparameter-Muster abgebildet. Dabei werden gewisse Regeln, d.h. Regelpakete, erstellt, die dem Bediener vorgeben, wie er die Betriebsparameter zu ändern hat, damit eine möglichst gute Produktqualität, d.h. ein Produkt mit Produktparametem möglichst nahe an den Soll-Produktparametern erzielt wird. Die Regeln können z.B. als intelligente Software-Technologien wie unscharfe Logik (Fuzzy-Logik) oder neuronale Netze oder als Kombination solcher oder anderer intelligenten Software-Technologien programmiert werden. Auf diese Weise lässt sich das Verhalten eines erfahrenen Walzwerk- Bedieners und insbesondere dessen Lernfähigkeit nachahmen.
Vorzugsweise ist das erfindungsgemässe Walzwerk zusätzlich zu der Messdaten-Verarbeitungsvorrichtung auch mit einer Steuerungsvorrichtung ausgestattet und weist insbesondere eine Regelungsvorrichtung auf. Die Steuerungsvorrichtung des Walzwerks kann vorzugsweise mindestens einen Betriebsparameter des Walzwerks steuern. Somit kann der Walzwerk-Bediener bei seiner Arbeit unterstützt werden, wobei ein zumindest teilautomatischer Betrieb des erfindungsgemässen Walzwerks erfolgt.
Bei dem mindestens einen Betriebsparameter kann es sich um einen der folgenden Parameter handeln:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog,
> Anpressdruck der mindestens einen Walze gegen die andere Walze, > Temperatur der Walzen ,
> Drehzahl der Walzen,
> Spaltweite zwischen den Walzen.
Bei dem erfindungsgemässen Walzwerk kann es sich um ein Zweiwalzwerk handeln.
Besonders bevorzugt ist ein erfindungsgemässes Walzwerk in Form eines Dreiwalzwerks mit einer ersten Walze, einer zweiten Walze und einer dritten Walze. Ein derartiges Dreiwalzwerk eignet sich besonders gut für die Zerkleinerung und gleichmässige Verteilung in einem Bindemittel suspendierter Feststoffpartikel, wobei in dem ersten Walzenspalt in erster Linie eine Mischung stattfindet, um die möglichst gleichmässige Verteilung der Partikel in dem Bindemittel zu erzielen, (distributive Wirkung), während.in dem zweiten Walzenspalt vorwiegend eine Krafteinwirkung auf die Partikel stattfindet, um deren Zerkleinerung zu erzielen (dispersive Wirkung).
Vorzugsweise kann die Steuerungsvorrichtung mindestens einen Betriebsparameter des Dreiwalzwerks steuern, wobei der Betriebsparameter bevorzugterweise mindestens einer der folgenden Parameter ist:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog,
> Anpressdruck der ersten Walze gegen die zweite Walze,
> Anpressdruck der dritten Walze gegen die zweite Walze,
> Temperatur der ersten Walze,
> Temperatur der zweiten Walze,
> Temperatur.der dritten Walze,
> Drehzahl der ersten Walze,
> Drehzahl der zweiten Walze,
> Drehzahl der dritten Walze,
> Spaltweite zwischen der ersten Walze und der zweiten Walze,
> Spaltweite zwischen der zweiten Walze und der dritten Walze.
Zumindest ein Teil dieser Parameter wird für die weiter oben genannten Regeln oder Regelpakete herangezogen. Bei einer besonders vorteilhaften Ausführung des erfindurigsgemässen Walzwerks weist die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen konfokalen Sensor an der Oberfläche der ihr zugeordneten Walze auf.
Der konfokale Sensor arbeitet nach dem konfokalen Messprinzip (Prinzip mehrere Brennpunkte) zur Abstandsmessung. Hierbei wird Licht, das mehrere diskrete Frequenzen oder ein kontinuierliches Frequenzspektrum aufweist, über eine erste Optik (Linsenanordnung) mit chromatischer Aberration auf die Messoberfläche fokussiert. Die erste Optik weist vorzugsweise mehrere Linsen auf und erzielt eine kontrollierte chromatische Aberration, d.h. die Brennebene der ersten Optik hat für jede Frequenz bzw. Wellenlänge des einfallenden Lichtes einen. anderen Abstand. von der Hauptebene (o-. der den Hauptebenen) der Linsenanordnung. Somit kann jeder Frequenz bzw. Wellenlänge ein Abstand zugeordnet werden, bei dem das parallel oder in einem vorgegebenen divergierenden Strahlenbündel in die erste Optik einfallende Licht der jeweiligen Frequenz bzw. Wellenlänge auf einem Punkt in der jeweiligen Bildebene abgebildet wird. Bei der Abstandsmessung wird in diesem Sensor diejenige Frequenz (bzw. Wellenlänge bzw. Lichtfarbe) herangezogen, die sich exakt auf der Messoberfläche fokussiert. Das von diesem Lichtpunkt auf der Messoberfläche reflektierte Licht wird über eine zweite Optik oder über die erste Optik in umgekehrter Richtung und ggf. über eine zusätzliche Spiegelanordnung, vorzugsweise eine teildurchlässige Spiegeiahordnung, ohne chromatische Aberration auf ein lichtempfindliches Sensorelement ebenfalls als Lichtpunkt abgebildet. Dieses erkennt die jeweilige Lichtfarbe dieses abgebildeten Lichtpunktes. Durch die so identifizierte Lichtfarbe des Punktes am Sensorelement lässt sich der Abstand der Messoberfläche von der ersten Optik bestimmen.
Geht man davon aus, dass die Walzenoberfläche zu dem .konfokalen Sensor (d.h. zu dessen erster Optik) einen konstanten Wert einnimmt, entspricht die durch den konfokalen Sensor gemessene Abstandsänderung der Produktschicht-Oberfläche von dem konfokalen Sensor der Änderung der Schichtdicke des Produktes. Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführung des erfindungsgemässen Walzwerks weist die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen kapazitiven Sensor an der Oberfläche der ihr zugeordneten Walze auf, wobei die Walze vorzugsweise eine Metallwalze ist.
Der kapazitive Sensor arbeitet nach dem kapazitiven Prinzip. Er befindet sich in der Nähe der Oberfläche der Metallwalze, so dass zwischen einer Elektrode des Sensors und der Metalloberfläche eine Kapazität gebildet wird, deren Wert von der Art des nichtleitenden Materials (Dielektrikum) zwischen der Sensor-Elektrode und der Walzenoberfläche abhängt. Der Wert der Kapazität wird durch die als Dielektrikum wirkende Produktschicht beeinflusst, die auf der Walzenoberfläche haftet. Eine Änderung der Schichtdicke des Produktes führt somit zu einer eindeutigen Änderung der Kapazität zwischen Sensor und Walzenoberfläche. In der Regel kann von konstanten Ladungsmengen auf der Walzenoberfläche und auf der Sensor-Elektrode ausgegangen werden. Die Änderung der Kapazität und somit der Produkt-Schich'tdicke lässt sich daher aus der Änderung der Spannung bestimmen, die zwischen der Walzenoberfläche und der Sensor-Oberfläche anliegt. Diese Spannung lässt sich aber bequem messen.
Vorzugsweise weist bei jeder dieser beiden vorteilhaften Ausführungen die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen zusätzlichen induktiven Sensor an der Oberfläche der Walze auf, der mit dem konfokalen und/oder kapazitiven Sensor starr verbunden ist.
Der induktive Sensor arbeitet nach dem induktiven Prinzip, wobei die Änderung der Induktivität einer Spule gemessen wird. Hierzu ist die Spule zusammen mit einer Wech- selspannungs-Quelle in einem Stromkreis geschaltet. Über eine Messung der Wechselspannung zwischen den beiden Spulenenden kann aufgrund einer Änderung der Amplitude der Wechselspannung auf eine entsprechende Änderung der Induktivität geschlossen werden.
Bei einer ersten Variante befindet sich in der Nähe der Oberfläche einer Walze aus einem ferromagnetischen Material, insbesondere einer Stahlwalze, eine Spule (Drosselspule) mit einem Kern aus ferromagnetischem Material, insbesondere aus Weicheisen. Dieser Kern ragt mit seinem ersten Ende aus dem ersten Spulenende heraus und mit seinem zweiten Ende aus dem zweiten Spulenende heraus. Die beiden aus der Spule herausragenden Spulenkern-Enden befinden sich in der Nähe der Walzenoberfläche. Die Induktivität der Spule (Drosselspule) ist von dem magnetischen Fluss abhängig, der durch die Spule bzw. deren Kern verläuft. Ändert sich der Abstand, d.h. der Luftspalt, zwischen den jeweiligen Spulenkern-Enden und der Walzenoberfläche, so ändert sich auch der magnetische Fluss durch die Spule (magnetischer Ringfluss durch den magnetischen Kreis, der durch den Spulenkern, den zur Spule weisenden Bereich der Walzenoberfläche und die beiden Luftspalte gebildet wird).
Bei einer zweiten Variante befindet sich in der Nähe der Oberfläche einer Walze aus leitendem Material, insbesondere einer Stahlwalze, eine Spule, die mit einem ihrer Spulenenden zu der Walzenoberfläche weist. Die Spule erzeugt ein Wechselfeld, das in der elektrisch leitenden Walzenoberfläche Wirbelströme erzeugt, welche auf-die Spule rückwirken und deren Induktivität verändern. Wenn die Walze aus einem nicht- ferromagnetischen leitenden Material besteht, erfolgt eine Dämpfung der Spule und somit eine Verringerung ihrer Induktivität. Wenn die Walze aus einem ferromagneti- schen leitenden Material besteht, erfolgt eine Entdämpfung der Spule und somit eine Erhöhung ihrer Induktivität. Vorzugsweise ist die Spule eine Flachspule mit spiralförmiger Wicklung, insbesondere eine auf einem nicht-leitenden Folienmaterial aufgedruckte Spule mit Spiralwicklung.
Vorzugsweise ist die Abstand-Messrichtung des induktiven Sensors mit der Schichtdicken-Messrichtung des konfokalen und/oder des kapazitiven Sensors parallel ausgerichtet. Dies lässt sich z.B. dadurch erreichen, dass die Spule des induktiven Sensors und die Elektrode des kapazitiven Sensors konzentrisch angeordnet sind, oder dass die Spule des induktiven Sensors und die chromatisch aberrative Optik (erste Optik) des konfokalen Sensors konzentrisch angeordnet sind.
Bei einer weiteren besonders vorteilhaften Ausführung weist die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen NIR-Sensor an der Oberfläche der Walze auf.
Diese Art von Sensor eignet sich besonders gut für die Schichtdickenmessung einer Masse auf einer Walze, deren Oberfläche nicht-leitend ist und insbesondere aus einem Keramikmaterial besteht. Vorzugsweise bestehen die Walzen des Walzwerks aus einem Keramikmaterial, oder die Walzen besitzen einen Kern aus Metall und eine Beschichtung aus Keramikmaterial. Bei einer derartigen Konstellation wird das NIR-Signal vorwiegend von den Teilchen der Produktschicht reflektiert, wobei es weit genug in die Produktschicht eindringt bzw. diese durchdringt, gleichzeitig aber von der praktisch nicht-leitenden Keramikschicht kaum reflektiert wird.
Dass Messprinzip beruht darauf, dass Licht des nahen Infrarots (NIR, ca. 1-30 μm) eine Eindringtiefe von einigen Wellenlängen hat. Somit können die typischen Schichtdicken, die bei der Dispergierung von Pigmentpartikeln oder anderen Feststoff-Partikeln in einem Bindemittel bzw. einer Polymermatrix auf den Walzen und insbesondere auf der dritten Walze eines Dreiwalzwerks auftreten, praktisch vollständig von der NIR-WeIIe durchdrungen werden. Das von den einzelnen Molekülen (Bindemittel-Moleküle und Pigment-Moleküle) der Produktschicht reflektierte NIR-Licht addiert sich zur Gesamtintensität des reflektierten NIR-Lichtes auf und ist daher proportional zur Schichtdicke, vorausgesetzt, dass während des Betriebs die Zusammensetzung (Rezeptur) der die Schicht bildenden Masse konstant bleibt, was praktisch einem konstanten Feststoffanteil in der Bindemittel-Matrix entspricht. Vorzugsweise verwendet man den NIR-Schicht- dickensensor bei erfindungsgemässen Wälzwerken, deren Walzen nicht aus Metall, sondern aus Keramikmaterial bestehen und somit in der Regel elektrisch nicht-leitend sind (zumindest für Elektronen). Die Verwendung des kapazitiven Sensors und des induktiven Sensors ist bei Walzen aus nicht-leitenden Werkstoffen praktisch unmöglich.
Alle genannten Sensoren arbeiten bei dem erfindungsgemässen Walzwerk berührungslos.
Abstand zur Produktoberfläche:
Der Abstand zur Produktoberfläche wird durch den konfokalen Sensor bestimmt. Wie weiter oben ausführlich erläutert, verwendet der konfokale Sensor eine Lichtquelle, die ein Lichtspektrum mit verschiedenen Spektralfarben aussendet, und eine Optik mit chromatischer Aberration. Alternativ zum konfokalen Sensor kann hierfür auch ein Triangulations-Sensor verwendet werden, der vorzugsweise einen monochromatischen Laserstrahl verwendet.
Dicke der Produktschicht:
Die Dicke der Produktschicht wird durch den kapazitiven Sensor gemessen.
Alternativ zum kapazitiven Sensor kann hierfür auch NIR-Sensor verwendet werden, der, wie der kapazitive Sensor, unmittelbar die Schichtdicke bestimmen kann.
Abstand zur metallischen Walzenoberfläche:
Der Abstand zur metallischen Walzenoberfläche wird durch den induktiven Sensor gemessen.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung wird durch ein Verfahren gemäss Anspruch 19 gelöst, wonach zur Behandlung viskoser Massen, insbesondere zur Zerkleinerung und gleichmässigen Verteilung in einem Bindemittel suspendierter Feststoffpartikel, ein er- findungsgemässes Walzwerk verwendet wird, wobei der Schichtdickensensor den Wert der Schichtdicke der behandelten viskosen Masse auf der Walze erfasst.
Vorzugsweise erfolgt die Erfassung der Schichtdicke kontinuierlich.
Vorzugsweise stellt der Schichtdickensensor die aktuelle und erfasste Schichtdicke der Masse einer Steuerungsvorrichtung oder Regelungsvorrichtung zur Verfügung.
Bei einer vorteilhaften Ausführung des erfindungsgemässen Verfahrens unter Verwendung eines erfindungsgemässen Walzwerks dient beim Steuern die erfasste Schichtdicke des Produktes als Ausgangsgrösse, während als Eingangsgrösse mindestens einer der folgenden Parameter verwendet wird:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog,
> Anpressdruck der mindestens einen Walze gegen die andere Walze,
> Temperatur der Walzen,
> Drehzahl der Walzen, > Spaltweite zwischen den Walzen.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführung des erfindungsgemässen Verfahrens unter Verwendung eines erfindungsgemässen Walzwerks dient beim Steuern die erfasste Schichtdicke des Produktes als Ausgangsgrösse, während als Eingangsgrösse mindestens einer der folgenden Parameter verwendet wird:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog,
> Anpressdruck der ersten Walze gegen die zweite Walze,
> Anpressdruck der dritten Walze gegen die zweite Walze,
> Temperatur der ersten Walze,
> Temperatur der zweiten Walze,
> Temperatur der dritten Walze,
> Drehzahl der ersten Walze,
> Drehzahl der zweiten Walze,
> Drehzahl der dritten Walze,
> Spaltweite zwischen der ersten Walze und der zweiten Walze,
> Spaltweite zwischen der zweiten Walze und der dritten Walze.
Während der Durchführung des erfindungsgemässen Verfahrens wird beim Regeln die Ist-Schichtdicke fortlaufend erfasst, mit einer Soll-Schichtdicke als Führungsgrösse verglichen, und abhängig von diesem Vergleich wird durch Änderungen des mindestens einen Betriebsparameters als Stellgrösse bzw. Stellgrössen die Ist-Stellgrösse an die Soll-Schichtdicke angeglichen.
Die Schichtdicke kann bei dem erfindungsgemässen Verfahren einerseits auf einen maximalen Wert von 0,1 mm geregelt werden und andererseits auf einen minimalen Wert von 1 μm geregelt werden. Vorzugsweise regelt man die Schichtdicke innerhalb eines Bereichs von 1 μm bis 0,1 mm. Innerhalb dieses Schichtdicken-Bereichs lassen sich gute Dispergierergebnisse erzielen.
Neben diesen Randbedingungen für die Schichtdicke können auch Randbedingungen für andere wichtige Parameter vorgegeben werden. Vorzugsweise gibt man ein für jede Walze ein individuelles Temperaturfenster vor (Minimal- und Maximal-Temperatur).
Vorzugsweise gibt man für jeden Walzenspalt ein individuelles Druckfenster vor (Minimal- und Maximal-Anpressdruck).
Bei einer besonders bevorzugten Ausführung des erfinduήgsgemässen Verfahrens unter Verwendung des erfindungsgemässen Walzwerks geht man folgendermassen vor:
> der induktive Sensor erfasst einen ersten Abstand zwischen einer Referenzlinie der Schichtdicken-Sensorvorrichtung und einer metallischen Grenzfläche oder metallischen Oberfläche der Walze,
> der konfokale und/oder der kapazitive Sensor erfasst einen zweiten Abstand zwischen der Referenzlinie der Schichtdicken-Sensorvorrichtung und der Oberfläche eines Massefilms auf der Walze, und
> die Schichtdicke des Massefilms wird unter Verwendung einer Differenz aus dem ersten Abstand und dem zweiten Abstand bestimmt.
Diese Vorgehensweise misst sowohl den Abstand zur Walzenoberfläche (induktiver Sensor) und den Abstand zur Produktoberfläche (konfokaler Sensor oder Triangulations-Sensor oder kapazitiver Sensor) und hat den Vorteil, dass mechanisch-geometrische Veränderungen am Walzwerk, wie z.B. Abstandsänderungen durch hermische Ausdehnung der Walzen, Vibrationen der Walzen, Abnutzung der Walzen, etc., kompensiert werden. Durch die Differenzbildung erhält man einen Schichtdicken-Wert, der unabhängig von solchen ggf. auftretenden Abstandsänderungen ist.
Vorzugsweise ist die Schichtdicken-Sensorvorrichtung an der dritten Walze eines Dreiwalzwerks angebracht, und es wird die Produkt-Schichtdicke auf der dritten Walze gemessen.
Erklärungen/Definitionen:
Eingangsgrösse: Die Eingangsgrösse steuert die Ausgangsgrösse. Ausgangsgrösse: Die Ausgangsgrösse wird durch die Eingangsgrösse gesteuert. Führungsgrösse: In diesem Fall ist die Führungsg rosse die Soll-Schichtdicke.
Folgende Vorgehensweisen werden durch die Online-Schichtdickenmessung möglich:
1 ) Der Bediener gibt die erforderliche Produktfeinheit vor, und die Regelung des Dreiwalzwerks fährt über den Anpressdruck und die Walzentemperaturen die Walzwerk-Einstellung an, bis die Schichtdicke der angestrebten Produktfeinheit entspricht. Danach stellt das Walzwerk automatisch auf Produktion um. Dazu erfolgt gegebenenfalls eine modifizierte Produktabnahme. Hierfür verwendet man z.B. eine Abtransportschnecke an der dritten Walze. Ein vollautomatischer Betrieb ist möglich. Ausserdem sind Personaleinsparungen sowohl in der Produktion als auch im Labor (Qualitätskontrolle) denkbar.
2) Der Bediener kann den gewünschten Spaltabstand zwischen den Walzen leichter einstellen, indem er über die Schichtdickenmessung die Schichtdicken einstellt. Der Bediener sieht die Anzeige der Ist-Schichtdicke an der dritten Walze und kann durch manuelle Veränderung des Anpressdrucks, der Walzentemperaturen und ggf. der mechanischen Spalteinstellung die Ist-Schichtdicke verändern.
3) Durch Einregeln gleicher Schichtdicken auf einem erfindungsgemässen Laborwalzwerk und einem erfindungsgemässen Produktionswalzwerk wird der Scale-up erleichtert.
4) Die Erfassung der Online-Messdaten ermöglicht eine permanente, reproduzierbare Qualitätskontrolle.

Claims

Patentansprüche
1. Walzwerk zur Behandlung viskoser Massen, insbesondere zur Zerkleinerung und gleichmässigen Verteilung in einem Bindemittel suspendierter Feststoffpartikel, mit mindestens zwei um ihre Längsachsen drehbar gelagerten Walzen, wobei die Drehachse einer ersten Walze ortsfest gelagert ist und die Drehachse einer zweiten Walze beweglich gelagert ist, und mit mindestens einer Pressvorrichtung zum Pressen mindestens einer Walze gegen die andere Walze, dadurch gekennzeichnet, dass eine Walze mit mindestens einer Schichtdicken-Sensorvorrichtung zum Erfassen des Wertes der Schichtdicke der behandelten viskosen Masse auf der Walze ausgerüstet ist.
2. Walzwerk nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicken- Sensorvorrichtung mit einer Anzeigevorrichtung zum Anzeigen des erfassten Wertes der Schichtdicke verbunden ist.
3. Walzwerk nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicken-Sensorvorrichtung mit einer Messdaten-Verarbeitungsvorrichtung zum Verarbeiten der erfassten Messdaten verbunden ist.
4. Walzwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass es eine Steuerungsvorrichtung aufweist.
5. Walzwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass es eine Regelungsvorrichtung aufweist.
6. Walzwerk nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuerungsvorrichtung mindestens einen Betriebsparameter des Walzwerks steuern kann.
7. Walzwerk nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Betriebsparameter mindestens einer der folgenden Parameter ist:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog
> Aήpressdruck der mindestens einen Walze gegen die andere Walze
> Temperatur der Walzen
> Drehzahl der Walzen
> Spaltweite zwischen den Walzen.
8. Walzwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass es ein Zweiwalzwerk ist.
9. Walzwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass es ein Dreiwalzwerk mit einer ersten Walze, einer zweiten Walze und einer dritten Walze ist.
10. Walzwerk nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuerungsvorrichtung mindestens einen Betriebsparameter des Dreiwalzwerks steuern kann.
11. Walzwerk nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass der Betriebsparameter mindestens einer der folgenden Parameter ist:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog
> Anpressdruck der ersten Walze gegen die zweite Walze
> Anpressdruck der dritten Walze gegen die zweite Walze
> Temperatur der ersten Walze
> Temperatur der zweiten Walze
> Temperatur der dritten Walze
> Drehzahl der ersten Walze
> Drehzahl der zweiten Walze
> Drehzahl der dritten Walze
> Spaltweite zwischen der ersten Walze und der zweiten Walze
> Spaltweite zwischen der zweiten Walze und der dritten Walze.
12. Walzwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 11 , dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen konfokalen Sensor an der Oberfläche der Walze aufweist.
13. Walzwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen kapazitiven Sensor an der Oberfläche der Walze aufweist.
14. Walzwerk nach einem der Ansprüche 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen induktiven Sensor an der Oberfläche der Walze aufweist, der mit dem konfokalen und/oder kapazitiven Sensor starr verbunden ist.
15. Walzwerk nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass die Abstand- Messrichtung des induktiven Sensors mit der Schichtdicken-Messrichtung des konfokalen und/oder des kapazitiven Sensors parallel ausgerichtet ist.
16. Walzwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 11 , dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen NIR-Sensor an der Oberfläche der Walze aufweist.
17. Walzwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 16, vorzugsweise nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Walzen aus Keramikmaterial bestehen.
18. Walzwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 16, vorzugsweise nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Walzen einen Kern aus Metall und eine Be- schichtung aus Keramikmaterial haben.
19. Verfahren zur Behandlung viskoser Massen, insbesondere zur Zerkleinerung und gleichmässigen Verteilung in einem Bindemittel suspendierter Feststoff partikel, unter Verwendung eines Walzwerks gemäss einem der Ansprüche 1 bis 18, wobei der Schichtdickensensor den Wert der Schichtdicke der behandelten viskosen Masse auf der Walze erfasst.
20. Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass die Erfassung der Schichtdicke kontinuierlich erfolgt.
21. Verfahren nach Anspruch 19 oder 20, dadurch gekennzeichnet, dass der Schichtdickensensor die aktuelle und erfasste Schichtdicke der Masse einer Steuerungs- vorrichtung oder Regelungsvorrichtung zur Verfügung stellt.
22. Verfahren nach Anspruch 21 , insbesondere unter Verwendung eines Walzwerks gemäss Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass beim Steuern die erfasste Schichtdicke des Produktes die Ausgangsgrösse ist, während die Eingangsgrösse mindestens einer der folgenden Parameter ist:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog
> Anpressdruck der mindestens einen Walze gegen die andere Walze
> Temperatur der Walzen
> Drehzahl der Walzen
> Spaltweite zwischen den Walzen.
23. Verfahren nach Anspruch 21 , insbesondere unter Verwendung eines Walzwerks gemäss Anspruch 11 , dadurch gekennzeichnet, dass beim Steuern die erfasste Schichtdicke des Produktes die Ausgangsgrösse ist, während die Eingangsgrösse mindestens einer der folgenden Parameter ist
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog
> Anpressdruck der ersten Walze gegen die zweite Walze
> Anpressdruck der dritten Walze gegen die zweite Walze
> Temperatur der ersten Walze
> Temperatur der zweiten Walze
> Temperatur der.dritten Walze
> Drehzahl der ersten Walze > Drehzahl der zweiten Walze
> Drehzahl der dritten Walze
> Spaltweite zwischen der ersten Walze und der zweiten Walze
> Spaltweite zwischen der zweiten Walze und der dritten Walze.
24. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 23, dadurch gekennzeichnet, dass beim Regeln die Ist-Schichtdicke fortlaufend erfasst, mit einer Soll-Schichtdicke als Führungsgrösse verglichen und abhängig von diesem Vergleich durch Änderungen des mindestens einen Betriebsparameters als Stellgrösse bzw. Stellgrös- sen die Ist-Stellgrösse an die Soll-Schichtdicke angeglichen wird.
25. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 24, dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicke auf einen maximalen Wert von 0,1 mm geregelt wird.
26. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 25, dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicke auf einen minimalen Wert von 1 μm geregelt wird.
27. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 26, dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicke innerhalb eines Bereichs von 1 μm bis 0,1 mm geregelt wird.
28. Verfahren nach einem der Ansprüche 19 bis 27 unter Verwendung eines Walzwerks gemäss Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, dass
> der induktive Sensor einen ersten Abstand zwischen einer Referenzlinie der Schichtdicken-Sensorvorrichtung und einer metallischen Grenzfläche oder metallischen Oberfläche der Walze erfasst,
> der konfokale und/oder der kapazitive Sensor einen zweiten Abstand zwischen der Referenzlinie der Schichtdicken-Sensorvorrichtung und der Oberfläche eines Massefilms auf der Walze erfasst, .und
> die Schichtdicke des Massefilms unter Verwendung einer Differenz aus dem ersten Abstand und dem zweiten Abstand bestimmt wird.
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