Walzwerk zur Behandlung viskoser Massen
Die Erfindung bezieht sich auf ein Walzwerk zur Behandlung viskoser Massen, insbesondere zur Zerkleinerung und gleichmässigen Verteilung in einem Bindemittel suspendierter Feststoffpartikel.
Ein derartiges Walzwerk besitzt mindestens zwei um ihre Längsachsen drehbar gelagerte Walzen, wobei die Drehachse einer ersten Walze ortsfest gelagert ist und die Drehachse einer zweiten Walze beweglich gelagert ist, sowie mindestens eine Pressvorrichtung zum Pressen mindestens einer Walze gegen die andere Walze.
Bei den herkömmlichen Walzwerken dieser Bauart erfolgt die Einstellung der wesentlichen Verfahrensparameter für die im Walzenspalt erfolgende Scherbehandlung des Produktes durch Einstellen des Pressdruckes (Liniendruckes) zwischen den Walzen, der jeweiligen Temperatur der jeweiligen Walzenoberfläche sowie des Spaltabstandes im Walzenspalt.
Die Temperaturen der Walzenoberflächen beeinflussen die Viskosität des Bindemittels, während der Spaltabstand bei gegebener Differenz der Oberflächengeschwindigkeit das Schergefälle im Walzenspalt massgeblich beeinflusst. Das Schergefälle zwischen den rotierenden Walzen und die Viskosität des Bindemittels, in welchem die Partikel suspendiert sind, haben entscheidenden Einfluss auf das Ergebnis der Zerkleinerung und Verteilung der suspendierten Partikel.
Ein mit diesen Einstellungen vertrauter Bediener eines solchen Walzwerkes ist in der Regel auch mit den sich dadurch ergebenden Produkteigenschaften vertraut.
In der Regel erzielen die Bediener derartiger Walzwerke deshalb auch gute Produktqualitäten, d.h. eine gute Zerkleinerung und gleichmässige Verteilung der in dem Bindemittel suspendierten Feststoffpartikel.
Es ist jedoch nach wie vor schwierig, eine gute Reproduzierbarkeit der Walzwerk- Betriebsparameter, insbesondere des Walzenabstandes (Walzenspalt), zu gewährleisten, was wiederum Auswirkungen auf die Einheitlichkeit der Produktqualität hat. Eine reproduzierbare Einstellung des Walzenabstandes mit in der Regel an beiden Längsenden der Walzen angeordneten Stellvorrichtungen ("Uhren") ist schon allein deshalb schwierig, weil sich die Walzen im Laufe der Zeit abnutzen und somit stets neue Einstellungen der Stellvorrichtungen notwendig sind, um über längere Betriebszeiten des Walzwerks einen konstanten Walzenspalt zu gewährleisten. Die Reproduzierbarkeit wird aber auch durch temperaturbedingte Ausdehnungen der Walzen sowie anderer Walzwerkteile beeinträchtigt, wodurch sich die mechanischen Toleranzen im allgemeinen und insbesondere der Walzenabstand im Laufe der Zeit ändern.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde eine möglichst einfache und reproduzierbare Überwachung der Betriebsparameter und insbesondere des Walzenspaltes bei einem Walzwerk zur Behandlung viskoser Massen zu ermöglichen.
Diese Aufgabe wird bei dem eingangs beschriebenen Walzwerk gemäss Anspruch 1 dadurch gelöst, dass eine Walze des erfindungsgemässen Walzwerks mit mindestens einer Schichtdicken-Sensorvorrichtung zum Erfassen des Wertes der Schichtdicke der behandelten viskosen Masse auf der Walze ausgerüstet ist. Es hat sich überraschend gezeigt, dass für die meisten zu verarbeitenden Produkte ein Zusammenhang zwischen dem rechten. Ende der Partikelgrössen- Verteilung und den jeweiligen Schichtdicken auf den jeweiligen Walzen eines Walzwerks besteht.
Vorzugsweise ist bei dem erfindungsgemässen Walzwerk die Schichtdicken- Sensorvorrichtung mit einer Anzeigevorrichtung zum Anzeigen des erfassten Wertes der Schichtdicke verbunden. Somit können die momentanen Schichtdicken des Walzwerks von einem Bediener jederzeit abgelesen werden. Dieser kann dann bei Bedarf sofort die z.B. manuell erfolgende Spalteinstellung und ggf. noch weitere Walzwerk- Betriebsparameter korrigieren, um wieder zu der angestrebten Soll-Schichtdicke zu gelangen, die für die Produktqualität besonders repräsentativ ist.
Somit ist eine Online-Qualitätskontrolle mittels Schichtdickenmessung möglich.
Zweckmässigerweise ist bei dem erfindungsgemässen Walzwerks die Schichtdicken- Sensorvorrichtung mit einer Messdaten-Verarbeitungsvorrichtung zum Verarbeiten der erfassten Messdaten verbunden. Die verarbeiteten Messdaten werden vorzugsweise während des Walzwerksbetriebs aufgezeichnet. Die so erhaltenen Betriebsparameter- Protokolle können ausgewertet und zur Modellbildung für eine optimale Verarbeitung unterschiedlicher Rohmaterialien herangezogen werden. Auf diese Weise lässt sich der Lernprozess für unterschiedliche verfahrenstechnische Aufgaben transparenter und reproduzierbarer gestalten. Im Rahmen der Modellbildung werden bestimmte Betriebsparameter-Kombinationen und die daraus resultierenden Produktparameter-Kombinationen miteinander korreliert. Es werden also Betriebsparameter-Muster auf Produktparameter-Muster abgebildet. Dabei werden gewisse Regeln, d.h. Regelpakete, erstellt, die dem Bediener vorgeben, wie er die Betriebsparameter zu ändern hat, damit eine möglichst gute Produktqualität, d.h. ein Produkt mit Produktparametem möglichst nahe an den Soll-Produktparametern erzielt wird. Die Regeln können z.B. als intelligente Software-Technologien wie unscharfe Logik (Fuzzy-Logik) oder neuronale Netze oder als Kombination solcher oder anderer intelligenten Software-Technologien programmiert werden. Auf diese Weise lässt sich das Verhalten eines erfahrenen Walzwerk- Bedieners und insbesondere dessen Lernfähigkeit nachahmen.
Vorzugsweise ist das erfindungsgemässe Walzwerk zusätzlich zu der Messdaten-Verarbeitungsvorrichtung auch mit einer Steuerungsvorrichtung ausgestattet und weist insbesondere eine Regelungsvorrichtung auf. Die Steuerungsvorrichtung des Walzwerks kann vorzugsweise mindestens einen Betriebsparameter des Walzwerks steuern. Somit kann der Walzwerk-Bediener bei seiner Arbeit unterstützt werden, wobei ein zumindest teilautomatischer Betrieb des erfindungsgemässen Walzwerks erfolgt.
Bei dem mindestens einen Betriebsparameter kann es sich um einen der folgenden Parameter handeln:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog,
> Anpressdruck der mindestens einen Walze gegen die andere Walze,
> Temperatur der Walzen ,
> Drehzahl der Walzen,
> Spaltweite zwischen den Walzen.
Bei dem erfindungsgemässen Walzwerk kann es sich um ein Zweiwalzwerk handeln.
Besonders bevorzugt ist ein erfindungsgemässes Walzwerk in Form eines Dreiwalzwerks mit einer ersten Walze, einer zweiten Walze und einer dritten Walze. Ein derartiges Dreiwalzwerk eignet sich besonders gut für die Zerkleinerung und gleichmässige Verteilung in einem Bindemittel suspendierter Feststoffpartikel, wobei in dem ersten Walzenspalt in erster Linie eine Mischung stattfindet, um die möglichst gleichmässige Verteilung der Partikel in dem Bindemittel zu erzielen, (distributive Wirkung), während.in dem zweiten Walzenspalt vorwiegend eine Krafteinwirkung auf die Partikel stattfindet, um deren Zerkleinerung zu erzielen (dispersive Wirkung).
Vorzugsweise kann die Steuerungsvorrichtung mindestens einen Betriebsparameter des Dreiwalzwerks steuern, wobei der Betriebsparameter bevorzugterweise mindestens einer der folgenden Parameter ist:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog,
> Anpressdruck der ersten Walze gegen die zweite Walze,
> Anpressdruck der dritten Walze gegen die zweite Walze,
> Temperatur der ersten Walze,
> Temperatur der zweiten Walze,
> Temperatur.der dritten Walze,
> Drehzahl der ersten Walze,
> Drehzahl der zweiten Walze,
> Drehzahl der dritten Walze,
> Spaltweite zwischen der ersten Walze und der zweiten Walze,
> Spaltweite zwischen der zweiten Walze und der dritten Walze.
Zumindest ein Teil dieser Parameter wird für die weiter oben genannten Regeln oder Regelpakete herangezogen.
Bei einer besonders vorteilhaften Ausführung des erfindurigsgemässen Walzwerks weist die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen konfokalen Sensor an der Oberfläche der ihr zugeordneten Walze auf.
Der konfokale Sensor arbeitet nach dem konfokalen Messprinzip (Prinzip mehrere Brennpunkte) zur Abstandsmessung. Hierbei wird Licht, das mehrere diskrete Frequenzen oder ein kontinuierliches Frequenzspektrum aufweist, über eine erste Optik (Linsenanordnung) mit chromatischer Aberration auf die Messoberfläche fokussiert. Die erste Optik weist vorzugsweise mehrere Linsen auf und erzielt eine kontrollierte chromatische Aberration, d.h. die Brennebene der ersten Optik hat für jede Frequenz bzw. Wellenlänge des einfallenden Lichtes einen. anderen Abstand. von der Hauptebene (o-. der den Hauptebenen) der Linsenanordnung. Somit kann jeder Frequenz bzw. Wellenlänge ein Abstand zugeordnet werden, bei dem das parallel oder in einem vorgegebenen divergierenden Strahlenbündel in die erste Optik einfallende Licht der jeweiligen Frequenz bzw. Wellenlänge auf einem Punkt in der jeweiligen Bildebene abgebildet wird. Bei der Abstandsmessung wird in diesem Sensor diejenige Frequenz (bzw. Wellenlänge bzw. Lichtfarbe) herangezogen, die sich exakt auf der Messoberfläche fokussiert. Das von diesem Lichtpunkt auf der Messoberfläche reflektierte Licht wird über eine zweite Optik oder über die erste Optik in umgekehrter Richtung und ggf. über eine zusätzliche Spiegelanordnung, vorzugsweise eine teildurchlässige Spiegeiahordnung, ohne chromatische Aberration auf ein lichtempfindliches Sensorelement ebenfalls als Lichtpunkt abgebildet. Dieses erkennt die jeweilige Lichtfarbe dieses abgebildeten Lichtpunktes. Durch die so identifizierte Lichtfarbe des Punktes am Sensorelement lässt sich der Abstand der Messoberfläche von der ersten Optik bestimmen.
Geht man davon aus, dass die Walzenoberfläche zu dem .konfokalen Sensor (d.h. zu dessen erster Optik) einen konstanten Wert einnimmt, entspricht die durch den konfokalen Sensor gemessene Abstandsänderung der Produktschicht-Oberfläche von dem konfokalen Sensor der Änderung der Schichtdicke des Produktes.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführung des erfindungsgemässen Walzwerks weist die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen kapazitiven Sensor an der Oberfläche der ihr zugeordneten Walze auf, wobei die Walze vorzugsweise eine Metallwalze ist.
Der kapazitive Sensor arbeitet nach dem kapazitiven Prinzip. Er befindet sich in der Nähe der Oberfläche der Metallwalze, so dass zwischen einer Elektrode des Sensors und der Metalloberfläche eine Kapazität gebildet wird, deren Wert von der Art des nichtleitenden Materials (Dielektrikum) zwischen der Sensor-Elektrode und der Walzenoberfläche abhängt. Der Wert der Kapazität wird durch die als Dielektrikum wirkende Produktschicht beeinflusst, die auf der Walzenoberfläche haftet. Eine Änderung der Schichtdicke des Produktes führt somit zu einer eindeutigen Änderung der Kapazität zwischen Sensor und Walzenoberfläche. In der Regel kann von konstanten Ladungsmengen auf der Walzenoberfläche und auf der Sensor-Elektrode ausgegangen werden. Die Änderung der Kapazität und somit der Produkt-Schich'tdicke lässt sich daher aus der Änderung der Spannung bestimmen, die zwischen der Walzenoberfläche und der Sensor-Oberfläche anliegt. Diese Spannung lässt sich aber bequem messen.
Vorzugsweise weist bei jeder dieser beiden vorteilhaften Ausführungen die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen zusätzlichen induktiven Sensor an der Oberfläche der Walze auf, der mit dem konfokalen und/oder kapazitiven Sensor starr verbunden ist.
Der induktive Sensor arbeitet nach dem induktiven Prinzip, wobei die Änderung der Induktivität einer Spule gemessen wird. Hierzu ist die Spule zusammen mit einer Wech- selspannungs-Quelle in einem Stromkreis geschaltet. Über eine Messung der Wechselspannung zwischen den beiden Spulenenden kann aufgrund einer Änderung der Amplitude der Wechselspannung auf eine entsprechende Änderung der Induktivität geschlossen werden.
Bei einer ersten Variante befindet sich in der Nähe der Oberfläche einer Walze aus einem ferromagnetischen Material, insbesondere einer Stahlwalze, eine Spule (Drosselspule) mit einem Kern aus ferromagnetischem Material, insbesondere aus Weicheisen. Dieser Kern ragt mit seinem ersten Ende aus dem ersten Spulenende heraus und mit seinem zweiten Ende aus dem zweiten Spulenende heraus. Die beiden aus der Spule
herausragenden Spulenkern-Enden befinden sich in der Nähe der Walzenoberfläche. Die Induktivität der Spule (Drosselspule) ist von dem magnetischen Fluss abhängig, der durch die Spule bzw. deren Kern verläuft. Ändert sich der Abstand, d.h. der Luftspalt, zwischen den jeweiligen Spulenkern-Enden und der Walzenoberfläche, so ändert sich auch der magnetische Fluss durch die Spule (magnetischer Ringfluss durch den magnetischen Kreis, der durch den Spulenkern, den zur Spule weisenden Bereich der Walzenoberfläche und die beiden Luftspalte gebildet wird).
Bei einer zweiten Variante befindet sich in der Nähe der Oberfläche einer Walze aus leitendem Material, insbesondere einer Stahlwalze, eine Spule, die mit einem ihrer Spulenenden zu der Walzenoberfläche weist. Die Spule erzeugt ein Wechselfeld, das in der elektrisch leitenden Walzenoberfläche Wirbelströme erzeugt, welche auf-die Spule rückwirken und deren Induktivität verändern. Wenn die Walze aus einem nicht- ferromagnetischen leitenden Material besteht, erfolgt eine Dämpfung der Spule und somit eine Verringerung ihrer Induktivität. Wenn die Walze aus einem ferromagneti- schen leitenden Material besteht, erfolgt eine Entdämpfung der Spule und somit eine Erhöhung ihrer Induktivität. Vorzugsweise ist die Spule eine Flachspule mit spiralförmiger Wicklung, insbesondere eine auf einem nicht-leitenden Folienmaterial aufgedruckte Spule mit Spiralwicklung.
Vorzugsweise ist die Abstand-Messrichtung des induktiven Sensors mit der Schichtdicken-Messrichtung des konfokalen und/oder des kapazitiven Sensors parallel ausgerichtet. Dies lässt sich z.B. dadurch erreichen, dass die Spule des induktiven Sensors und die Elektrode des kapazitiven Sensors konzentrisch angeordnet sind, oder dass die Spule des induktiven Sensors und die chromatisch aberrative Optik (erste Optik) des konfokalen Sensors konzentrisch angeordnet sind.
Bei einer weiteren besonders vorteilhaften Ausführung weist die Schichtdicken-Sensorvorrichtung einen NIR-Sensor an der Oberfläche der Walze auf.
Diese Art von Sensor eignet sich besonders gut für die Schichtdickenmessung einer Masse auf einer Walze, deren Oberfläche nicht-leitend ist und insbesondere aus einem Keramikmaterial besteht.
Vorzugsweise bestehen die Walzen des Walzwerks aus einem Keramikmaterial, oder die Walzen besitzen einen Kern aus Metall und eine Beschichtung aus Keramikmaterial. Bei einer derartigen Konstellation wird das NIR-Signal vorwiegend von den Teilchen der Produktschicht reflektiert, wobei es weit genug in die Produktschicht eindringt bzw. diese durchdringt, gleichzeitig aber von der praktisch nicht-leitenden Keramikschicht kaum reflektiert wird.
Dass Messprinzip beruht darauf, dass Licht des nahen Infrarots (NIR, ca. 1-30 μm) eine Eindringtiefe von einigen Wellenlängen hat. Somit können die typischen Schichtdicken, die bei der Dispergierung von Pigmentpartikeln oder anderen Feststoff-Partikeln in einem Bindemittel bzw. einer Polymermatrix auf den Walzen und insbesondere auf der dritten Walze eines Dreiwalzwerks auftreten, praktisch vollständig von der NIR-WeIIe durchdrungen werden. Das von den einzelnen Molekülen (Bindemittel-Moleküle und Pigment-Moleküle) der Produktschicht reflektierte NIR-Licht addiert sich zur Gesamtintensität des reflektierten NIR-Lichtes auf und ist daher proportional zur Schichtdicke, vorausgesetzt, dass während des Betriebs die Zusammensetzung (Rezeptur) der die Schicht bildenden Masse konstant bleibt, was praktisch einem konstanten Feststoffanteil in der Bindemittel-Matrix entspricht. Vorzugsweise verwendet man den NIR-Schicht- dickensensor bei erfindungsgemässen Wälzwerken, deren Walzen nicht aus Metall, sondern aus Keramikmaterial bestehen und somit in der Regel elektrisch nicht-leitend sind (zumindest für Elektronen). Die Verwendung des kapazitiven Sensors und des induktiven Sensors ist bei Walzen aus nicht-leitenden Werkstoffen praktisch unmöglich.
Alle genannten Sensoren arbeiten bei dem erfindungsgemässen Walzwerk berührungslos.
Abstand zur Produktoberfläche:
Der Abstand zur Produktoberfläche wird durch den konfokalen Sensor bestimmt. Wie weiter oben ausführlich erläutert, verwendet der konfokale Sensor eine Lichtquelle, die ein Lichtspektrum mit verschiedenen Spektralfarben aussendet, und eine Optik mit chromatischer Aberration.
Alternativ zum konfokalen Sensor kann hierfür auch ein Triangulations-Sensor verwendet werden, der vorzugsweise einen monochromatischen Laserstrahl verwendet.
Dicke der Produktschicht:
Die Dicke der Produktschicht wird durch den kapazitiven Sensor gemessen.
Alternativ zum kapazitiven Sensor kann hierfür auch NIR-Sensor verwendet werden, der, wie der kapazitive Sensor, unmittelbar die Schichtdicke bestimmen kann.
Abstand zur metallischen Walzenoberfläche:
Der Abstand zur metallischen Walzenoberfläche wird durch den induktiven Sensor gemessen.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung wird durch ein Verfahren gemäss Anspruch 19 gelöst, wonach zur Behandlung viskoser Massen, insbesondere zur Zerkleinerung und gleichmässigen Verteilung in einem Bindemittel suspendierter Feststoffpartikel, ein er- findungsgemässes Walzwerk verwendet wird, wobei der Schichtdickensensor den Wert der Schichtdicke der behandelten viskosen Masse auf der Walze erfasst.
Vorzugsweise erfolgt die Erfassung der Schichtdicke kontinuierlich.
Vorzugsweise stellt der Schichtdickensensor die aktuelle und erfasste Schichtdicke der Masse einer Steuerungsvorrichtung oder Regelungsvorrichtung zur Verfügung.
Bei einer vorteilhaften Ausführung des erfindungsgemässen Verfahrens unter Verwendung eines erfindungsgemässen Walzwerks dient beim Steuern die erfasste Schichtdicke des Produktes als Ausgangsgrösse, während als Eingangsgrösse mindestens einer der folgenden Parameter verwendet wird:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog,
> Anpressdruck der mindestens einen Walze gegen die andere Walze,
> Temperatur der Walzen,
> Drehzahl der Walzen,
> Spaltweite zwischen den Walzen.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausführung des erfindungsgemässen Verfahrens unter Verwendung eines erfindungsgemässen Walzwerks dient beim Steuern die erfasste Schichtdicke des Produktes als Ausgangsgrösse, während als Eingangsgrösse mindestens einer der folgenden Parameter verwendet wird:
> Masse-Füllstand in einem Produkt-Zufuhrtrog,
> Anpressdruck der ersten Walze gegen die zweite Walze,
> Anpressdruck der dritten Walze gegen die zweite Walze,
> Temperatur der ersten Walze,
> Temperatur der zweiten Walze,
> Temperatur der dritten Walze,
> Drehzahl der ersten Walze,
> Drehzahl der zweiten Walze,
> Drehzahl der dritten Walze,
> Spaltweite zwischen der ersten Walze und der zweiten Walze,
> Spaltweite zwischen der zweiten Walze und der dritten Walze.
Während der Durchführung des erfindungsgemässen Verfahrens wird beim Regeln die Ist-Schichtdicke fortlaufend erfasst, mit einer Soll-Schichtdicke als Führungsgrösse verglichen, und abhängig von diesem Vergleich wird durch Änderungen des mindestens einen Betriebsparameters als Stellgrösse bzw. Stellgrössen die Ist-Stellgrösse an die Soll-Schichtdicke angeglichen.
Die Schichtdicke kann bei dem erfindungsgemässen Verfahren einerseits auf einen maximalen Wert von 0,1 mm geregelt werden und andererseits auf einen minimalen Wert von 1 μm geregelt werden. Vorzugsweise regelt man die Schichtdicke innerhalb eines Bereichs von 1 μm bis 0,1 mm. Innerhalb dieses Schichtdicken-Bereichs lassen sich gute Dispergierergebnisse erzielen.
Neben diesen Randbedingungen für die Schichtdicke können auch Randbedingungen für andere wichtige Parameter vorgegeben werden.
Vorzugsweise gibt man ein für jede Walze ein individuelles Temperaturfenster vor (Minimal- und Maximal-Temperatur).
Vorzugsweise gibt man für jeden Walzenspalt ein individuelles Druckfenster vor (Minimal- und Maximal-Anpressdruck).
Bei einer besonders bevorzugten Ausführung des erfinduήgsgemässen Verfahrens unter Verwendung des erfindungsgemässen Walzwerks geht man folgendermassen vor:
> der induktive Sensor erfasst einen ersten Abstand zwischen einer Referenzlinie der Schichtdicken-Sensorvorrichtung und einer metallischen Grenzfläche oder metallischen Oberfläche der Walze,
> der konfokale und/oder der kapazitive Sensor erfasst einen zweiten Abstand zwischen der Referenzlinie der Schichtdicken-Sensorvorrichtung und der Oberfläche eines Massefilms auf der Walze, und
> die Schichtdicke des Massefilms wird unter Verwendung einer Differenz aus dem ersten Abstand und dem zweiten Abstand bestimmt.
Diese Vorgehensweise misst sowohl den Abstand zur Walzenoberfläche (induktiver Sensor) und den Abstand zur Produktoberfläche (konfokaler Sensor oder Triangulations-Sensor oder kapazitiver Sensor) und hat den Vorteil, dass mechanisch-geometrische Veränderungen am Walzwerk, wie z.B. Abstandsänderungen durch hermische Ausdehnung der Walzen, Vibrationen der Walzen, Abnutzung der Walzen, etc., kompensiert werden. Durch die Differenzbildung erhält man einen Schichtdicken-Wert, der unabhängig von solchen ggf. auftretenden Abstandsänderungen ist.
Vorzugsweise ist die Schichtdicken-Sensorvorrichtung an der dritten Walze eines Dreiwalzwerks angebracht, und es wird die Produkt-Schichtdicke auf der dritten Walze gemessen.
Erklärungen/Definitionen:
Eingangsgrösse: Die Eingangsgrösse steuert die Ausgangsgrösse.
Ausgangsgrösse: Die Ausgangsgrösse wird durch die Eingangsgrösse gesteuert. Führungsgrösse: In diesem Fall ist die Führungsg rosse die Soll-Schichtdicke.
Folgende Vorgehensweisen werden durch die Online-Schichtdickenmessung möglich:
1 ) Der Bediener gibt die erforderliche Produktfeinheit vor, und die Regelung des Dreiwalzwerks fährt über den Anpressdruck und die Walzentemperaturen die Walzwerk-Einstellung an, bis die Schichtdicke der angestrebten Produktfeinheit entspricht. Danach stellt das Walzwerk automatisch auf Produktion um. Dazu erfolgt gegebenenfalls eine modifizierte Produktabnahme. Hierfür verwendet man z.B. eine Abtransportschnecke an der dritten Walze. Ein vollautomatischer Betrieb ist möglich. Ausserdem sind Personaleinsparungen sowohl in der Produktion als auch im Labor (Qualitätskontrolle) denkbar.
2) Der Bediener kann den gewünschten Spaltabstand zwischen den Walzen leichter einstellen, indem er über die Schichtdickenmessung die Schichtdicken einstellt. Der Bediener sieht die Anzeige der Ist-Schichtdicke an der dritten Walze und kann durch manuelle Veränderung des Anpressdrucks, der Walzentemperaturen und ggf. der mechanischen Spalteinstellung die Ist-Schichtdicke verändern.
3) Durch Einregeln gleicher Schichtdicken auf einem erfindungsgemässen Laborwalzwerk und einem erfindungsgemässen Produktionswalzwerk wird der Scale-up erleichtert.
4) Die Erfassung der Online-Messdaten ermöglicht eine permanente, reproduzierbare Qualitätskontrolle.