EP1071937B1 - System und verfahren zur konfiguration und/oder parametrierung einer diagnoseeinrichtung - Google Patents

System und verfahren zur konfiguration und/oder parametrierung einer diagnoseeinrichtung Download PDF

Info

Publication number
EP1071937B1
EP1071937B1 EP99927659A EP99927659A EP1071937B1 EP 1071937 B1 EP1071937 B1 EP 1071937B1 EP 99927659 A EP99927659 A EP 99927659A EP 99927659 A EP99927659 A EP 99927659A EP 1071937 B1 EP1071937 B1 EP 1071937B1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
diagnostic device
data
test
program
hwtype
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
EP99927659A
Other languages
English (en)
French (fr)
Other versions
EP1071937A1 (de
Inventor
Doris Hartmann
Sofiane Kacem
Karl-Heinz Maier
Klaus-Dieter Müller
Nicolai Plewinski
Thomas Völkel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of EP1071937A1 publication Critical patent/EP1071937A1/de
Application granted granted Critical
Publication of EP1071937B1 publication Critical patent/EP1071937B1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07C—TIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • G07C3/00—Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles
    • G07C3/14—Quality control systems
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S706/00—Data processing: artificial intelligence
    • Y10S706/902—Application using ai with detail of the ai system
    • Y10S706/911—Nonmedical diagnostics
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S706/00—Data processing: artificial intelligence
    • Y10S706/902—Application using ai with detail of the ai system
    • Y10S706/911—Nonmedical diagnostics
    • Y10S706/912—Manufacturing or machine, e.g. agricultural machinery, machine tool
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S706/00—Data processing: artificial intelligence
    • Y10S706/902—Application using ai with detail of the ai system
    • Y10S706/911—Nonmedical diagnostics
    • Y10S706/914—Process plant
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S706/00—Data processing: artificial intelligence
    • Y10S706/902—Application using ai with detail of the ai system
    • Y10S706/919—Designing, planning, programming, CAD, CASE

Definitions

  • the invention relates to a system for configuration and / or Parameterization of a diagnostic device for a to be tested technical object.
  • the invention further relates to a method of configuration and / or parameterization of a diagnostic device for one testing technical object.
  • Such a system or method for example in the field of signal acquisition and signal evaluation needed. This is often a mixture of measuring hardware and signal processing software to combine with each other, due to the complexity of the relationships for such a measurement setup often the knowledge and experience required by specialists.
  • An example for a technical object is, for example, an electric motor, by means of the diagnostic device, for example by An acoustic check for bearing damage can be checked should.
  • WO 98/01728 is a device for detecting analog Measuring signals for the acoustic diagnosis of test specimens known. It can with the help of vibration sensors of a test object analog measurement signals are recorded.
  • One Computer comes with a standard interface card equipped, which serves to digitize the measuring signals. A switching signal is used to generate a trigger signal, which can be entered via a preferred serial interface is. A control program in the computer switched over the trigger signal the input of measuring signals on and off.
  • the invention is based on the object, a system and a Method for configuration and / or parameterization of a diagnostic device for objects that are uniform and easy to operate.
  • This task is performed by a system for configuration and parameterization a diagnostic device for objects to be tested solved, with a first data object, which is a collection of technological test object parameters of the object and its components, a second data object, which is a collection of technological parameters of Contains hardware components, which in the design of the Diagnostic device can be used, a first Program object, which records for assignment at least of test object parameters and technological parameters of Contains hardware components, and a second program object for processing the ones assigned in the first program object Records.
  • a first data object which is a collection of technological test object parameters of the object and its components
  • a second data object which is a collection of technological parameters of Contains hardware components, which in the design of the Diagnostic device can be used
  • a first Program object which records for assignment at least of test object parameters and technological parameters of Contains hardware components
  • a second program object for processing the ones assigned in the first program object Records.
  • This task is performed by a configuration procedure and / or parameterization of a diagnostic device for to be tested Objects solved, in which in a first data object a Collection of technological test object parameters of the object and whose components are created, in a second Data object a collection of technological parameters of Contains hardware components, which in the design of the Diagnostic device is created in a first program object Data records for the assignment of at least test object parameters and technological parameters of hardware components is determined and in a second program object that in the first program object associated with data sets for the configuration and / or parameterization of the diagnostic device further processed become.
  • the invention is based on the finding that this is for a Configuration and / or parameterization of a diagnostic device required knowledge and know-how with the goal systematically can be detected and stored that the configuration and Parameterization largely automatic or at least computer-aided can be done.
  • This knowledge exists on the one hand in the test object parameters of the first data object.
  • These test object parameters include technological parameters of the object to be tested, for example in the case of a motor to be tested, information on the number the storage.
  • this knowledge consists of the collection the technological parameters of the diagnostic device required hardware components, such as sensors for an acoustic test of the engine to be tested.
  • the system includes in the form of the first program object further one Linkage, i. an assignment of the test object parameters of the object to be tested, i. of the engine to the technological Parameters of the hardware components, i. in the example of the Sensor.
  • the second program object is for processing the data records contained in the first program object and signaled in the case described, for example, which sensitivity is set for the sensor and / or which additional hardware components for the diagnostic device, i.e. needed for the test setup.
  • a uniform and integral system for configuration and / or parameterization can be achieved in that the in the design of the diagnostic device usable hard and / or Software objects simulated by software elements are.
  • the object to be examined a technical Object, in particular a motor, wherein the diagnostic device in particular for the assignment of vibroacoustic Measured values of the object for quality and error classes are used.
  • a unified user interface for all levels of the Method can be achieved in that the system Projection and a program part has, which as assistant, parameterizer and / or configurator for Processing from the configuration interface Requests serves and which based on a knowledge base to the configuration interface one of the respective request provides associated result.
  • An advantageous structure of the program part is in the way configures the program part to handle calls is provided in such a way that from the so-called knowledge base respectively required data in the form of rules and data be queried, with the knowledge base more data from object descriptions, the technological characteristics contain the individual objects of the diagnostic device.
  • Advantageous use cases of the system and the method consist in that the system and the method for automatic Configuration and parameterization of the diagnostic device, to select and carry out a test procedure and is provided for the evaluation of the test results.
  • system has another data object, which is a Collection of pattern waveforms, the pattern waveforms Assigned to quality and / or error classes are.
  • FIG 1 shows a general structure of the basic elements 8, 9 the invention and the intervening data exchange 14, 15 in the form of request 14 and result 15.
  • the in FIG contained basic elements 8, 9 consist of a projecting surface 9 as well as from a program part 8, which in the following also as assistant, parameterizer or configurator referred to as.
  • the configuration surface 9 is, for example using a personal computer with a screen, Keyboard and mouse realized.
  • the programming part 8 to be executed is to be executed which can be called with Assistant / Parameterizer / Configurator abbreviated as assistant 8 is called.
  • assistant 8 processes the calls, in which he is from a so-called Knowledge base the respective required data, e.g. in Form of rules and data, queries.
  • Knowledge base the respective required data, e.g. in Form of rules and data, queries.
  • Figures 2 and 3 relates the knowledge base even more data from records, which as object descriptions should be designated and technological Characteristic values of the individual objects contained in the test system.
  • objects the test object itself, hardware components, can be used the test section, used analysis method, etc. considered become.
  • the creation of an executable test program can by the configuration surface 9 or by the wizard 8 yourself.
  • the system 8 contains a first data object 1, which is a Test object description represents.
  • the first data object 1 contains a collection of test object parameters PK1, PK2 ...
  • the second data object 2 contains a Collection of virtual hardware components HWType I, HWType II etc. As an image of real hardware components and their technological parameters, which in the design of a Test structure can be used.
  • the user interface is a configuration interface 9, calls 14 are made and results 15 are received become.
  • a call component available, with the help a diagnostic device 4, for example in the form of a Measuring or test setup can be configured.
  • An entered Inquiry or call 14 branches to the program and data component 8 which in Fig. 1 also with assistant / Parametrier / configurator is designated.
  • this Wizard 8 is in turn a program component of the so-called Interpreter 6 containing the knowledge base 5 calls.
  • the wizard 8 stored rules processed.
  • To edit the Rules require different data, e.g. information about the current test object 3.
  • These data are provided by the wizard 8 from the corresponding object descriptions 1, 2, 5 read.
  • the result of the processing of the rules may then be e.g. returned to the display surface 9 back to the display become.
  • All hardware and software objects of a complete test setup 4 are simulated by software elements. Through their software and data technology interconnection creates a so-called Flow control. At the beginning of a flow control is always on, the respective candidate 3 representing Software element. At this becomes a, a sensor representing Software element connected. That will turn on a software element representing signal conditioning connected, etc. At the end of the flow control is a software element representing an analysis method. This is finally followed by a software element, which represents a so-called classifier.
  • the assistant 8 adds due to rules of knowledge base 5 and information, he partly from the existing elements of the flow control reads, the next links in the chain of Sequence control or parameterizes still "empty" elements the flow control. This modified flow control he returns to the Ganierober Materials 9 back. This can be in next step, call the wizard 8 again until a complete test chain is configured.
  • the assistant 8 consists essentially of two parts.
  • the first part can be used as a knowledge base 1, 2, 5 and represents a memory area in the knowledge concerning the respective test setup, for example concerning a vibroacoustic test, in the form of so-called rules and facts is deposited.
  • the second part 6 may also be referred to as an interpreter 6 and represents a program area that contains these rules and facts processed.
  • FIG. 3 shows a further embodiment of a system for configuration and parameterization of the test procedure.
  • the first data object 1 contains the first data object 1 a collection of test object parameters PK1, PK2 ... PKz, which technological parameters of the specimen and its Components included.
  • PK1, PK2 ... PKz contains the first data object 1 a collection of test object parameters PK1, PK2 ... PKz, which technological parameters of the specimen and its Components included.
  • PK1 test object parameters
  • PK2 PK2
  • PKz which technological parameters of the specimen and its Components included.
  • the second data object 2 contains a collection of Hardware components HWType I, HWType II etc. and their technological Parameters, which in the design of a test setup can be used.
  • the system continues a third data object 10.
  • the third data object 10 contains a collection of analysis methods, i. a collection of software components AV1, AV2 ... AVj, which for conversion and evaluation of the obtained measurement data used can be.
  • software components i. a collection of software components AV1, AV2 ... AVj
  • Fourier transforms, filters, statistical parameters, etc. are called.
  • the fourth data object 11 is used for automatic assignment of by conversion and evaluation of measured values by means of an analysis method obtained results on predefined quality / error classes QFK1, QFK2 ... QFKk.
  • a fifth data object 12 is provided, which is a Collection of datasets containing sample waveforms. These stored pattern waveforms can be used in the evaluation Of test results usually a known condition be assigned to the test object.
  • a known condition be assigned to the test object.
  • pattern signal waveforms the corresponding Data records QFK1, QFK2, QFKk from the data object Assigned to "quality / error classes" QFK.
  • third program object 13 is provided, which one or more Pattern signal curves MVT using an analysis method AV analyzed.
  • the result AMVT of such an evaluation becomes the interpreter 7 contained in the assistant loaded.
  • These results can be used in interpreter 7 be used in a current test object e.g. an automatic Assignment to a quality / error class.
  • a user interface again serves a configuration interface 9, via the calls / requests 14, results 15 and inputs 16, 17, 18 can be done.
  • the inventive wizard 8 for projecting a Test program which in particular acoustic diagnosis a test object is used, will be briefly described below become.
  • assistant Computer-aided, operable technical input tool denotes, in particular one of several screen masks existing program. This can be stored on records with technical characteristics of test objects, and at least access a policy, i. on a so-called Knowledge Base 5.
  • Such an assistant can also be considered a so-called "parameterizer" can be called.
  • the assistant according to the invention has the task of a so-called Electrode and a test program by evaluation of object descriptions automatically generate.
  • a measuring chain is an interconnection of measuring elements, which for Detection of e.g. vibroacoustic measurements of a test object must be interconnected.
  • a measuring chain contains at least the actual sensors, e.g. to record of structure-borne sound serve. But it can also be elements which are used for signal adaptation and signal acquisition serve.
  • a test program contains algorithms for the digital Signal processing and measured value processing. Such algorithms are adapted to the respective test task. So be for example, in the acoustic diagnosis vibroacoustic Measured values recorded and with the help of frequency analysis algorithms evaluated.
  • object descriptions is a generic term for technical data labeling of individual elements. In principle, all in the system according to the invention occurring elements characterized by an "object description” become. Thus, e.g. the respective test object, e.g. an electric motor, which is necessary for data acquisition Hardware components and also for the parameterization of algorithms and program parts serving for processing measured values with the help of "object descriptions" in terms of data technology be clearly defined.
  • the respective test object e.g. an electric motor, which is necessary for data acquisition Hardware components and also for the parameterization of algorithms and program parts serving for processing measured values with the help of "object descriptions" in terms of data technology be clearly defined.
  • the object description may e.g. one serving as test object Electric motor as characteristics, e.g. the number of bearings, their structure, the number of rotor and stator slots and the Speed of the engine included.
  • the object description e.g. a sensor coupled to the test object as characteristic values e.g. the input value range, the sensitivity and contain the weight.
  • the object description e.g. one for the evaluation of the measured values and a Fourier transform based algorithm as characteristic values e.g. the window length, the type of weighting function and the degree of overlap.
  • the first example concerns the selection and configuration of Sensors.
  • Starting point for the configuration of a measuring setup according to the invention is the test object.
  • an electric motor be considered, which has two bearings.
  • the technical Characteristic values which describe the electric motor are in stored in a software element.
  • This software item is in FIGS. 2 and 3 with the term "test object description" drawn.
  • the configuration interface now transfers the Wizard this element with the call "Give sensors”.
  • Of the Assistant can now choose from the DUT element that it is an electric motor with two bearings (PK) and the following measuring points are configured: housing radial, bearing1 radial and Bearing 2 axially.
  • the second example concerns the selection and the configuration an analysis method and its parameters.
  • a Quality error class QFK k configured, e.g. the quality error class "Streifge Hursch", so must now at least one suitable Analysis method are searched, whereby their detection and evaluation is possible.
  • the configuration interface calls for this the wizard with the call "Give analysis method and their parameters "and the sequence control.
  • the knowledge base activates a suitable one due to rules Analysis method AV j for the currently configured quality error class QFK k.
  • the quality error class "Cepstrum” to be activated.
  • the parameters used for Calculating a cepstrum will be needed to generate the Knowledge base from the object descriptions in the software elements the flow control. These are here e.g.
  • the invention thus relates to a system 8, 9 as well as a method for configuration and / or parameterization a diagnostic device 4 for objects to be tested 3.
  • Das System consists of a first data object 1 with a collection of technological test object parameters PK1, PK2 ... PKz of the object to be tested 3 and its components 3a..3n, from a second data object 2 with a collection of technological parameters HWType I, HWType II, ... of Hardware components of the diagnostic device 4, from a first Program object 5 with records 7 for assignment at least of test object parameters PK1, PK2 ... PKz and technological Parameters HWType I, HWType II, ... of hardware components and a second program object 6 for processing the data records assigned in the first program object 5 7.
  • created a knowledge base through the data and program objects which adds up to a total knowledge of the system largely automatically controlled configuration and / or Parameterization of the diagnostic device including test setup and evaluation results and the cost of such Creation is significantly reduced.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein System zur Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung für ein zu prüfendes technisches Objekt.
Die Erfindung betrifft weiter ein Verfahren zur Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung für ein zu prüfendes technisches Objekt.
Ein derartiges System bzw. ein derartiges Verfahren wird beispielsweise im Bereich der Signalerfassung sowie Signalauswertung benötigt. Hierbei ist häufig eine Mischung aus Meßhardware und Signalverarbeitungssoftware miteinander zu kombinieren, wobei aufgrund der Komplexität der Zusammenhänge für einen derartigen Meßaufbau häufig das Wissen und die Erfahrung von Spezialisten erforderlich sind. Ein Beispiel für ein technisches Objekt ist beispielsweise ein Elektromotor, der mit Hilfe der Diagnoseeinrichtung beispielsweise durch eine akustische Prüfung auf einen Lagerschaden überprüft werden soll.
Aus der US 5,327,553 ist ein fehlertolerantes Computersystem bekannt. Dieses weist ein Pseudo-Dateisystem zur Organisation vorhandener Hardwarekomponenten auf. Das Dateisystem verfügt über ein Verzeichnis, in dem für jede Komponente eine Datei vorhanden ist. Jeder dieser Dateien verzweigt entweder auf eine Hardwarekomponente oder ein Softwaremodul.
Aus der US 5,481,481 ist ein automatisiertes Diagnosesystem bekannt, dem temporär kabellose Sensoren zugeordnet sind. Dabei werden eine wissensbasierte Steuerung und eine Vielzahl von Datenerfassungseinrichtungen eingesetzt. Zumindest eine davon ist kabellos ausgeführt, um Daten des Echtzeitverhaltens des zu testenden Systems zu erfassen. Dabei erstellt die Steuerung des Diagnosesystems automatisch einen Plan für die zur Datenerfassung erforderliche Instrumentierung. Weiterhin werden Gütefaktoren aus den erfassten Daten abgeleitet. Ein Vergleich der abgeleiteten mit bekannten, auf optimale oder fehlerhafte Systemzustände bezogenen Gütefaktoren macht mögliche Probleme des zu testenden Systems erkennbar.
Aus WO 98/01728 ist eine Vorrichtung zur Erfassung von analogen Meßsignalen für die akustische Diagnose von Prüflingen bekannt. Dabei können mit Hilfe von Schwingungsaufnehmern von einem Prüfling analoge Meßsignale aufgenommen werden. Ein Computer ist mit einer standardmäßigen Schnittstellenkarte ausgerüstet, welche zur Digitalisierung der Meßsignale dient. Ein Schaltsignal dient zur Erzeugung eines Triggersignals, welches über eine bevorzugt serielle Schnittstelle eingebbar ist. Ein Steuerprogramm im Computer schaltete über das Triggersignal die Eingabe von Meßsignalen ein und aus.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, ein System und ein Verfahren zur Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung für Objekte anzugeben, das einheitlich und übersichtlich bedienbar ist.
Diese Aufgabe wird durch ein System zur Konfiguration und Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung für zu prüfende Objekte gelöst, mit einem ersten Datenobjekt, welches eine Sammlung von technologischen Prüfobjektparametern des Objektes und dessen Komponenten enthält, einem zweiten Datenobjekt, welches eine Sammlung von technologischen Parametern von Hardwarekomponenten enthält, welche bei der Gestaltung der Diagnoseeinrichtung eingesetzt werden können, einem ersten Programmobjekt, welches Datensätze zur Zuordnung zumindest von Prüfobjektparametern und technologischen Parametern von Hardwarekomponenten enthält, und einem zweiten Programmobjekt zur Verarbeitung der im ersten Programmobjekt zugeordneten Datensätze.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zur Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung für zu prüfende Objekte gelöst, bei dem in einem ersten Datenobjekt eine Sammlung von technologischen Prüfobjektparametern des Objektes und dessen Komponenten erstellt wird, in einem zweiten Datenobjekt eine Sammlung von technologischen Parametern von Hardwarekomponenten enthält, welche bei der Gestaltung der Diagnoseeinrichtung erstellt wird, in einem ersten Programmobjekt Datensätze zur Zuordnung zumindest von Prüfobjektparametern und technologischen Parametern von Hardwarekomponenten ermittelt wird und in einem zweiten Programmobjekt die die im ersten Programmobjekt zugeordneten Datensätze für die Konfiguration und/oder Parametrierung der Diagnoseeinrichtung weiterverarbeitet werden.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß das für eine Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung benötigte Wissen und Know-how mit dem Ziel systematisch erfaßt und gespeichert werden kann, daß die Konfiguration und Parametrierung weitestgehend automatisch oder zumindest rechnergestützt erfolgen kann. Hierdurch ergibt sich zum einen eine zusätzliche Sicherheit bei der Konfiguration und/oder Parametrierung der Diagnoseeinrichtung und zum anderen kann weitestgehend auf besonders geschulte Kräfte bei der Konfiguration und Parametrierung verzichtet werden, da das hierfür erforderliche Wissen bereits im System selbst vorhanden ist. Dieses Wissen besteht zum einen in den Prüfobjektparametern des ersten Datenobjekts. Diese Prüfobjektparameter beinhalten technologische Parameter des zu prüfenden Objekts, beispielsweise im Falle eines zu prüfenden Motors Angaben zur Anzahl der Lager. Zum anderen besteht dieses Wissen aus der Sammlung der technologischen Parameter der für die Diagnoseeinrichtung benötigten Hardwarekomponenten, wie beispielsweise Sensoren für eine akustische Prüfung des zu prüfenden Motors. Das System beinhaltet in Form des ersten Programmobjekts weiter eine Verknüpfung, d.h. eine Zuordnung der Prüfobjektparameter des zu prüfenden Objekts, d.h. des Motors zu den technologischen Parametern der Hardwarekomponenten, d.h. im Beispielfall des Sensors. So ist beispielsweise im ersten Programmobjekt angegeben, an welcher Stelle des Motors der Sensor angeordnet werden soll. Das zweite Programmobjekt dient der Verarbeitung der im ersten Programmobjekt enthaltenen Datensätze und signalisiert im beschriebenen Fall beispielsweise, welche Empfindlichkeit für den Sensor einzustellen ist und/oder welche weiteren Hardwarekomponenten für die Diagnoseeinrichtung, d.h. für den Prüfaufbau benötigt werden. Insgesamt ergibt sich somit eine vom Wissen des Systems weitestgehend automatisch gesteuerte virtuelle Konfiguration und/oder Parametrierung als Abbild der realen Diagnoseeinrichtung einschließlich Prüfaufbau und Auswertung, wodurch der Aufwand für eine derartige Erstellung wesentlich reduziert wird.
Ein einheitliches und integrales System zur Konfiguration und/oder Parametrierung kann dadurch erzielt werden, daß die bei der Gestaltung der Diagnoseeinrichtung einsetzbaren Hard-und/oder Softwareobjekte durch Softwareelemente nachgebildet sind.
Als besonders effektiver und interessanter Anwendungsfall hat sich gezeigt, daß das zu untersuchenden Objekt ein technisches Objekt, insbesondere ein Motor ist, wobei die Diagnoseeinrichtung insbesondere zur Zuordnung von vibroakustischen Meßwerten des Objektes zu Qualitäts- und Fehlerklassen dient.
Eine einheitliche Benutzeroberfläche für sämtliche Stufen des Verfahrens kann dadurch erreicht werden, daß das System eine Projektierungsoberfläche und ein Programmteil aufweist, welches als Assistent, Parametrierer und/oder Konfigurator zur Verarbeitung von über die Projektierungsoberfläche erfolgenden Anfragen dient und welches basierend auf einer Wissensbasis an die Projektierungsoberfläche eine der jeweiligen Anfrage zugeordnetes Ergebnis liefert.
Ein vorteilhafter Aufbau des Programmteils ist in der Weise konfiguriert, daß das Programmteil zur Bearbeitung von Aufrufen in der Weise vorgesehen ist, daß aus der sogenannten Wissensbasis jeweils benötigte Daten in Form von Regeln und Daten abgefragt werden, wobei die Wissensbasis weitere Daten aus Objektbeschreibungen bezieht, die technologische Kennwerte der einzelnen Objekte der Diagnoseeinrichtung enthalten.
Vorteilhafte Anwendungsfälle des Systems und des Verfahrens bestehen darin, daß das System und das Verfahren zur automatischen Konfiguration und Parametrierung der Diagnoseeinrichtung, zur Auswahl und Durchführung eines Prüfverfahrens und zur Auswertung der Prüfergebnisse vorgesehen ist.
Eine weitere vorteilhafte Realisierung des Systems besteht darin, daß das System ein weiteres Datenobjekt, welches eine Sammlung von Mustersignalverläufen enthält, wobei den Mustersignalverläufen Qualitäts- und/oder Fehlerklassen zugeordnet sind.
Im folgenden wird die Erfindung anhand der Figuren dargestellten Ausführungsbeispiele näher beschrieben und erläutert. Es zeigen:
FIG 1
eine allgemeine Struktur der Grundelemente der Erfindung und den dazwischen vorliegenden Datenaustausch,
FIG 2
ein erstes Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Systems zur Auswahl, Konfiguration und Parametrierung eines Prüfobjektes in schematischer Darstellung und
FIG 3
ein weiteres Ausführungsbeispiel eines Systems zur Konfiguration und Parametrierung des Prüfablaufes.
FIG 1 zeigt eine allgemeine Struktur der Grundelemente 8, 9 der Erfindung und den dazwischen vorliegenden Datenaustausch 14, 15 in Form von Anfrage 14 und Ergebnis 15. Die in Figur 1 enthaltenen Grundelemente 8, 9 bestehen aus einer Projektierungsoberfläche 9 sowie aus einem Programmteil 8, das im folgenden auch als Assistent, Parametrierer oder Konfigurator bezeichnet wird. Die Projektierungsoberfläche 9 ist beispielsweise mit Hilfe eines Personal-Computers mit Bildschirm, Tastatur und Maus realisiert.
Über die Projektierungsoberfläche 9 kann abhängig von den aktuell auszuführenden Projektierschritten das Programmteil 8 aufgerufen werden, welches mit Assistent/ Parametrierer/ Konfigurator abgekürzt als Assistent 8 bezeichnet wird. Der Assistent 8 bearbeitet die Aufrufe, in dem er aus einer sogenannten Wissensbasis die jeweils benötigten Daten, z.B. in Form von Regeln und Daten, abfragt. Wie im Zusammenhang mit den Figuren 2 und 3 noch erläutert wird, bezieht die Wissensbasis selbst weitere Daten aus Datensätzen, welche als Objektbeschreibungen bezeichnet werden sollen und technologische Kennwerte der einzelnen Objekte im Prüfsystem enthalten. Als Objekte können dabei der Prüfling selbst, Hardwarekomponenten der Meßstrecke, eingesetzte Analyseverfahren usw. angesehen werden.
Mit Hilfe des Assistenten 8 kann mittels des in Fig. 1 dargestellten Systems z.B. bei den folgenden Schritten eine automatische Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung bewirkt werden:
  • Auswahl der Hardwarekomponenten, welche für die Durchführung der aktuellen Prüfaufgabe benötigt wird und/oder geeignet ist,
  • Konfiguration, d.h. Verschaltung der ausgewählten Hardwarekomponenten
  • Parametrierung der ausgewählten Hardwarekomponenten, z.B. Setzen der Abtastraten von Messwertaufnehmern
  • Konfiguration des Prüfablaufes, d.h. Verschaltung der beteiligten Softwarekomponenten, z.B. für die Messwertaufnahme, die Messwertfilterung, die Messwerttransformation, usw.,
  • Auswahl eines Analyseverfahrens für die erfaßten Meßwerte, und dessen Parametrierung,
  • Interpretation der Analyseergebnisse,
  • Festlegung von Merkmalen, und
  • Definition von Schwellen.
Die Erstellung eines ablauffähigen Prüfprogramms kann durch die Projektierungsoberfläche 9 oder durch den Assistenten 8 selbst vorgenommen werden.
Fig. 2 zeigt ein System 8, 9 zur automatischen Konfiguration und Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung 4 für ein zu prüfendes Objekt 3 (= Prüfling) mit Teilkomponenten 3a..3n. Das System 8 enthält ein erstes Datenobjekt 1, welches eine Prüfobjektbeschreibung darstellt. Das erste Datenobjekt 1 enthält eine Sammlung von Prüfobjektparametern PK1, PK2 ...
PKz, welche technologische Parameter des Prüflings 3 und dessen Komponenten 3a..3n enthalten. Weiter ist ein zweites Datenobjekt 2 vorgesehen, welches den sogenannten Hardware-Katalog darstellt. Das zweite Datenobjekt 2 enthält eine Sammlung von virtuellen Hardwarekomponenten HWType I, HWType II usw. Als Abbild von realen Hardwarekomponenten und deren technologische Parameter, welche bei der Gestaltung eines Prüfaufbaues eingesetzt werden können. Das System 8, 9 zur Konfiguration der Diagnoseeinrichtung 4 weist darüber hinaus ein erstes Programmobjekt 5 (= Wissensbasis) auf, welches Datensätze 7 zur Zuordnung der Prüfobjektparameter PK1, PK2 ... PKz und der technologischen Parametern HWType I, HWType II, ... von Hardwarekomponenten enthält. Weiter ist ein zweites Programmobjekt 6 (= Interpreter) zur Verarbeitung der im ersten Programmobjekt 5 zugeordneten Datensätze 7 vorgesehen. Als Benutzerschnittstelle dient eine Projektierungsoberfläche 9, über die Aufrufe 14 erfolgen und Ergebnisse 15 entgegengenommen werden.
Durch die Projektierungsoberfläche 9 steht einem Anwender des Systems 8,9 eine Aufrufkomponente zur Verfügung, mit Hilfe der eine Diagnoseeinrichtung 4 beispielsweise in Form eines Meß- oder Prüfaufbaus konfiguriert werden kann. Eine eingegebene Anfrage bzw. ein Aufruf 14 verzweigt dabei auf den Programm- und Datenbestandteil 8 welcher in Fig. 1 auch mit Assistent/ Parametrier/Konfigurator bezeichnet ist. In diesem Assistenten 8 ist wiederum als Programmbestandteil der sogenannte Interpreter 6 enthalten, welcher die Wissensbasis 5 aufruft. Je nach Type des Anfrage 14 werden die im Assistenten 8 gespeicherten Regeln abgearbeitet. Zur Bearbeitung der Regeln werden unterschiedliche Daten benötigt, z.B. Informationen über das aktuelle Prüfobjekt 3. Abhängig von der Art und Beschaffenheit des Prüfobjekts werden beispielsweise geeignete Sensoren ausgewählt. Diese Daten werden vom Assistenten 8 aus den entsprechenden Objektbeschreibungen 1, 2, 5 gelesen. Das Ergebnis der Bearbeitung der Regeln kann dann z.B. zur Anzeige wieder an die Projektieroberfläche 9 zurück geleitet werden.
Alle Hard- und Softwareobjekte eines kompletten Prüfaufbaus 4 werden durch Softwareelemente nachgebildet. Durch deren softwaremäßige und datentechnische Verschaltung entsteht eine sogenannte Ablaufsteuerung. Am Anfang einer Ablaufsteuerung steht immer ein, den jeweiligen Prüfling 3 repräsentierendes Softwareelement. An dieses wird ein, einen Sensor repräsentierendes Softwareelement angeschlossen. Daran wird wiederum ein, eine Signalanpassung repräsentierendes Softwareelement angeschlossen usw.. Am Ende der Ablaufsteuerung befindet sich ein Softwareelement, welches ein Analyseverfahren repräsentiert. Diesem ist schließlich ein Softwareelement nachgeschaltet, welches einen sogenannten Klassifikator repräsentiert.
Die Projektieroberfläche 9 übergibt dem Assistenten 8 die Ablaufsteuerung und den jeweiligen Aufruftyp. Der Assistent 8 fügt aufgrund von Regeln der Wissensbasis 5 und Information, die er zum Teil aus den schon bestehenden Elementen der Ablaufsteuerung liest, die nächsten Glieder in die Kette der Ablaufsteuerung ein oder er parametriert noch "leere" Elemente der Ablaufsteuerung. Diese modifizierte Ablaufsteuerung leitet er an die Projektieroberfläche 9 zurück. Diese kann im nächsten Schritt den Assistenten 8 wieder aufrufen, bis eine vollständige Prüfkette projektiert ist.
Der erfindungsgemäße Assistent 8 besteht im wesentlichen aus zwei Teilen. Der erste Teil kann als eine Wissensbasis 1, 2, 5 bezeichnet werden und stellt einen Speicherbereich dar, in dem den jeweiligen Prüfaufbau betreffende Wissen, beispielsweise bezüglich einer vibroakustischen Prüfung, in Form von sogenannten Regeln und Fakten hinterlegt ist. Der zweite Teil 6 kann auch als ein Interpreter 6 bezeichnet werden und stellt einen Programmbereich dar, der diese Regeln und Fakten verarbeitet.
FIG 3 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel eines Systems zur Konfiguration und Parametrierung des Prüfablaufes. Dabei werden im wesentlichen die bereits im Zusammenhang mit den Fig. 1 und 2 eingeführten Bezugszeichen verwendet. So besteht das System aus Datenobjekten 1, 2, 10, 11, 12. Wie bereits im Zusammenhang mit Fig. 2 erläutert, enthält das erste Datenobjekt 1 eine Sammlung von Prüfobjektparametern PK1, PK2 ... PKz, welche technologische Parameter des Prüflings und dessen Komponenten enthalten. Weiter ist ein zweites Datenobjekt 2 vorgesehen, welches den sogenannten Hardware-Katalog darstellt. Das zweite Datenobjekt 2 enthält eine Sammlung von Hardwarekomponenten HWType I, HWType II usw. und deren technologische Parameter, welche bei der Gestaltung eines Prüfaufbaues eingesetzt werden können. Das System weist weiter ein drittes Datenobjekt 10 auf. Das dritte Datenobjekt 10 enthält eine Sammlung von Analyseverfahren, d.h. eine Sammlung von Softwarekomponenten AV1, AV2 ... AVj, welche zur Umwandlung und Auswertung der gewonnenen Meßdaten verwendet werden können. Als Beispiel für Softwarekomponenten dieser Art können beispielsweise Fouriertransformationen, Filter, statistische Kenngrößen usw. genannt werden. Weiter ist ein viertes Datenobjekt 11 mit einer Sammlung von Datensätzen zu Qualitäts-/Fehlerklassen vorgesehen. Das vierte Datenobjekt 11 dient einer automatischen Zuordnung von durch Umwandlung und Auswertung von Meßwerten mittels eines Analyseverfahrens gewonnenen Ergebnissen zu vordefinierten Qualitäts-/Fehlerklassen QFK1, QFK2 ... QFKk. Hiermit können zur qualitätsmäßigen Bewertung eines Prüfobjekts bestimmte, besonders charakteristisch ausgeprägte Meßwerte, insbesondere vibroakustischer Art, vorgegebenen Prüfobjektzuständen, wie z.B. Gut, Lagerschaden, Streifgeräusch usw., zugeordnet werden. Darüber hinaus ist ein fünftes Datenobjekt 12 vorgesehen, das eine Sammlung von Datensätzen zu Mustersignalverläufen enthält. Diese gespeicherten Mustersignalverläufe können bei der Auswertung von Prüfergebnissen in der Regel einem bekannten Zustand des Prüfobjektes zugeordnet werden. Im Beispiel der Figur 3 sind somit ausgewählte Mustersignalverläufe den entsprechenden Datensätzen QFK1, QFK2, QFKk aus dem Datenobjekt "Qualitäts-/Fehlerklassen" QFK zugeordnet. Weiter ist ein drittes Programmobjekt 13 vorgesehen, welches einen oder mehrere Mustersignalverläufe MVT mit Hilfe eines Analyseverfahrens AV analysiert. Das Ergebnis AMVT einer derartigen Auswertung wird in den im Assistenten enthaltenen Interpreter 7 geladen. Diese Ergebnisse können im Interpreter 7 eingesetzt werden, um bei einem aktuellen Prüfobjekt z.B. eine automatische Zuordnung zu einer Qualitäts-/Fehlerklasse vorzunehmen. Das System 8, 9 zur Konfiguration der Diagnoseeinrichtung 4 weist darüber hinaus 4 ein erstes Programmobjekt 5 (= Wissensbasis) auf, welches Datensätze 7 zur Zuordnung der Prüfobjektparameter PK1, PK2 ... PKz und der technologischen Parametern HWType I, HWType II, ... von Hardwarekomponenten enthält. Weiter ist ein zweites Programmobjekt 6 (= Interpreter) zur Verarbeitung der im ersten Programmobjekt 5 zugeordneten Datensätze 7 vorgesehen. Als Benutzerschnittstelle dient wiederum eine Projektierungsoberfläche 9, über die Aufrufe/Anfragen 14 erfolgen, Ergebnisse 15 und Eingaben 16, 17, 18 erfolgen können.
Der erfindungsgemäße Assistent 8 zur Projektierung eines Prüfprogramms, welches zur insbesondere akustischen Diagnose eines Prüflings eingesetzt wird, soll nachfolgend kurz beschrieben werden. Dabei wird mit dem Begriff Assistent ein rechnergestütztes, bedienbares technisches Eingabehilfsmittel bezeichnet, insbesondere ein aus mehreren Bildschirmbedienmasken bestehendes Programm. Dieses kann auf gespeicherte Datensätze mit technischen Kennwerten von Prüfobjekten, und zumindest auf ein Regelwerk zugreifen, d.h. auf eine sogenannte Wissensbasis 5. Ein derartiger Assistent kann auch als ein sogenannter "Parametrierer" bezeichnet werden kann.
Der erfindungsgemäße Assistent hat die Aufgabe, eine sogenannte Meßkette und ein Prüfprogramm durch Auswertung von Objektbeschreibungen automatisch zu generieren. Eine Meßkette ist dabei eine Zusammenschaltung von Meßelementen, welche zur Erfassung von z.B. vibroakustischen Meßwerten eines Prüfobjektes zusammengeschaltet werden müssen. Eine Meßkette enthält zumindest die eigentlichen Sensoren, die z.B. zur Aufnahme von Körperschall dienen. Es kann aber auch Elemente enthalten, welche zur Signalanpassung und Signalerfassung dienen. Ein Prüfprogramm enthält Algorithmen zur digitalen Signalverarbeitung und Meßwertverarbeitung. Derartige Algorithmen sind an die jeweilige Prüfaufgabe angepaßt. So werden beispielsweise bei der akustischen Diagnose vibroakustische Meßwerte erfaßt und mit Hilfe von frequenzanalytischen Algorithmen ausgewertet.
Der Begriff "Objektbeschreibungen" stellt einen Oberbegriff zur datentechnischen Kennzeichnung einzelner Elemente dar. Dabei können grundsätzlich alle beim erfindungsgemäßen System vorkommenden Elemente mittels einer "Objektbeschreibung" charakterisiert werden. So können z.B. das jeweilige Prüfobjekt, z.B. ein Elektromotor, die zur Meßwerterfassung notwendigen Hardwarekomponenten und auch die zur Parametrierung von Algorithmen und zur Verarbeitung von Meßwerten dienenden Programmteile mit Hilfe von "Objektbeschreibungen" datentechnisch eindeutig festgelegt werden.
So kann die Objektbeschreibung z.B. eines als Prüfobjekt dienenden Elektromotors als Kennwerte z.B. die Anzahl der Lager, deren Aufbau, die Anzahl der Läufer- und Ständernuten und die Drehzahl des Motors enthalten. Ferner kann die Objektbeschreibung z.B. eines an das Prüfobjekt angekoppelten Sensors als Kennwerte z.B. den Eingangswertebereich, die Empfindlichkeit und das Gewicht enthalten. Schließlich kann die Objektbeschreibung z.B. eines zur Auswertung der Meßwerte dienenden und auf einer Fouriertransformation beruhenden Algorithmus als Kennwerte z.B. die Fensterlänge, die Art der Gewichtungsfunktion und den Grad der Überlappung enthalten.
Die Erfindung soll an Hand von zwei Beispielen näher erläutert werden.
Das erste Beispiel betrifft die Auswahl und Projektierung von Sensoren. Ausgangspunkt bei der Projektierung eines Meßaufbaues gemäß der Erfindung ist das Prüfobjekt. Als ein Beispiel für ein Prüfobjekt soll nachfolgend ein Elektromotor betrachtet werden, welcher zwei Lager aufweist. Die technischen Kennwerte, die den Elektromotor beschreiben, sind in einem Softwareelement gespeichert. Dieses Softwareelement ist in den Figuren 2 und 3 mit dem Begriff "Prüfobjektbeschreibung" gezeichnet. Die Projektieroberfläche übergibt nun dem Assistenten dieses Element mit dem Aufruf "Gib Sensoren". Der Assistent kann nun aus dem Prüflingselement, das es sich um einen E-Motor mit zwei Lagern (PK) handelt und folgende Meßpunkte projektiert sind: Gehäuse radial, Lager1 radial und Lager2 axial. Aufgrund der Beschreibung und hinterlegtem Wissen generiert der Parameter zur Sensorauswahl, liest geeignete Sensoren aus dem Hardwarekatalog (HWP), fügt die Softwaresensorelemente in die Ablaufsteuerung ein und füllt diese mit dem konkreten Sensordaten. Daraufhin leitet er die veränderte Ablaufsteuerung an die Projektieroberfläche zurück. Diese kann nun den Assistenten erneut aufrufen, diesmal aber mit dem Aufruf "Gib Signalanpassung für Sensoren".
Das zweite Beispiel betrifft die Auswahl und die Projektierung eines Analyseverfahrens und dessen Parameter. Ist eine Qualitätsfehlerklasse QFK k projektiert, z.B. die Qualitätsfehlerklasse "Streifgeräusch", so muß nun mindestens ein geeignetes Analyseverfahren gesucht werden, womit deren Erfassung und Auswertung möglich ist. Hierzu ruft die Projektierungsoberfläche den Assistenten mit den Aufruf "Gib Analyseverfahren und deren Parameter" und die Ablaufsteuerung auf. Die Wissensbasis aktiviert aufgrund von Regeln ein passendes Analyseverfahren AV j zu der aktuell projektierten Qualitätsfehlerklasse QFK k. Beispielhaft kann die Qualitätsfehlerklasse "Cepstrum" aktiviert werden. Die Parameter, die zur Berechnung eines Cepstrums benötigt werden, generiert die Wissensbasis aus den Objektbeschreibungen in den Softwareelementen der Ablaufsteuerung. Diese sind hier z.B. die Drehzahl PK z des Motors (gelesen aus der Komponente "Prüfobjektbeschreibung"), die Abtastrate HWP j des D/A-Wandlers (gelesen aus der Komponente "HW-Aufbau") und die Aufnahmedauer HWP 1 (ebenfalls gelesen aus der Komponente "HW-Aufbau"). Hieraus leitet die den einen bei der Cepstrumberechnung benötigten Parameter für die "Überlappung" ab. Sind Analyseverfahren und deren Parameter bestimmt, werden die nötigen Softwareelemente erzeugt, parametriert und in die Ablaufsteuerung eingefügt. Diese werden wieder an die Projektieroberfläche zurückgegeben.
Zusammenfassend betrifft die Erfindung somit ein System 8, 9 sowie ein Verfahren zur Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung 4 für zu prüfende Objekte 3. Das System besteht aus einem ersten Datenobjekt 1 mit einer Sammlung von technologischen Prüfobjektparametern PK1, PK2 ... PKz des zu prüfenden Objektes 3 und dessen Komponenten 3a..3n, aus einem zweiten Datenobjekt 2 mit einer Sammlung von technologischen Parametern HWType I, HWType II, ... von Hardwarekomponenten der Diagnoseeinrichtung 4, aus einem ersten Programmobjekt 5 mit Datensätzen 7 zur Zuordnung zumindest von Prüfobjektparametern PK1, PK2 ... PKz und technologischen Parametern HWType I, HWType II, ... von Hardwarekomponenten und aus einem zweiten Programmobjekt 6 zur Verarbeitung der im ersten Programmobjekt 5 zugeordneten Datensätze 7. Durch die Daten- und Programmobjekte eine Wissensbasis geschaffen, wodurch sich insgesamt eine vom Wissen des Systems weitestgehend automatisch gesteuerte Konfiguration und/oder Parametrierung der Diagnoseeinrichtung einschließlich Prüfaufbau und Auswertung ergibt und der Aufwand für eine derartige Erstellung wesentlich reduziert wird.

Claims (14)

  1. System (8) zur Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung (4) für ein zu prüfendes technisches Objekt (3), insbesondere einen Motor, mit
    a) einem ersten Datenobjekt (1), welches eine Sammlung von technologischen Prüfobjektparametern (PK1, PK2 ... PKz) des Objektes (3) und dessen Komponenten (3a..3n) enthält,
    b) einem zweiten Datenobjekt (2), welches eine Sammlung von technologischen Parametern (HWType I, HWType II, ...) von Hardwarekomponenten enthält, welche bei der Gestaltung der Diagnoseeinrichtung (4) eingesetzt werden können,
    c) einem ersten Programmobjekt (5), welches Datensätze (7) zur Zuordnung zumindest von Prüfobjektparametern (PK1, PK2 ... PKz) und technologischen Parametern (HWType I, HWType II, ...) von Hardwarekomponenten enthält, und
    d) einem zweiten Programmobjekt (6) zur Verarbeitung der im ersten Programmobjekt (5) zugeordneten Datensätze (7).
  2. System nach Anspruch 1,
    dadurch gekennzeichnet, daß alle bei der Gestaltung der Diagnoseeinrichtung (4) einsetzbaren Hard- und/oder Softwareobjekte, die bei der Gestaltung der Diagnoseeinrichtung (4) eingesetzt werden können, durch Softwareelemente (1, 2, 5, 7) nachgebildet sind.
  3. System nach einem der Ansprüche 1 oder 2,
    dadurch gekennzeichnet, dass
    die Diagnoseeinrichtung (4) zur Zuordnung von insbesondere vibroakustischen Messwerten des zu prüfenden Objektes (3) zu Qualitäts- und Fehlerklassen dient.
  4. System nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
    dadurch gekennzeichnet, daß das System eine Projektierungsoberfläche (9) und ein Programmteil (8) aufweist, welches als Assistent, Parametrierer und/oder Konfigurator zur Verarbeitung von über die Projektierungsoberfläche (9) erfolgenden Anfragen (14) dient und welches basierend auf einer Wissensbasis (5) an die Projektierungsoberfläche (9) eine der jeweiligen Anfrage (14) zugeordnetes Ergebnis (15) liefert.
  5. System nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
    dadurch gekennzeichnet, daß das Programmteil (8) zur Bearbeitung von Aufrufen (14) in der Weise vorgesehen ist, daß aus der sogenannten Wissensbasis jeweils benötigte Daten in Form von Regeln und Daten abgefragt werden, wobei die Wissensbasis (5) weitere Daten aus Objektbeschreibungen bezieht, die technologische Kennwerte der einzelnen Objekte der Diagnoseeinrichtung (4) enthalten.
  6. System nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
    dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung (8) zur automatischen Konfiguration und Parametrierung der Diagnoseeinrichtung (4), zur Auswahl und Durchführung eines Prüfverfahrens und zur Auswertung der Prüfergebnisse vorgesehen ist.
  7. System nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
    dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung (8) ein weiteres Datenobjekt (12), welches eine Sammlung von Mustersignalverläufen (MVType 1, MVType2, ...) enthält, wobei den Mustersignalverläufen (MVType 1, MVType2, ...) Qualitäts-/Fehlerklassen (QFK1, QFK2, .., QFKk) zugeordnet sind.
  8. Verfahren zur Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung (4) für ein zu prüfendes technisches Objekt (3), insbesondere einen Motor, bei dem
    a) in einem ersten Datenobjekt (1) eine Sammlung von technologischen Prüfobjektparametern (PK1, PK2 ... PKz) des Objektes (3) und dessen Komponenten (3a..3n) erstellt wird,
    b) in einem zweiten Datenobjekt (2) eine Sammlung von technologischen Parametern (HWType I, HWType II, ...) von Hardwarekomponenten enthält, welche bei der Gestaltung der Diagnoseeinrichtung (4) erstellt wird,
    c) in einem ersten Programmobjekt (5) Datensätze (7) zur Zuordnung zumindest von Prüfobjektparametern (PK1, PK2 ... PKz) und technologischen Parametern (HWType I, HWType II, ...) von Hardwarekomponenten ermittelt wird und
    d) in einem zweiten Programmobjekt (6) die die im ersten Programmobjekt (5) zugeordneten Datensätze (7) für die Konfiguration und/oder Parametrierung der Diagnoseeinrichtung (4) weiterverarbeitet werden.
  9. Verfahren nach Anspruch 8,
    dadurch gekennzeichnet, daß die bei der Gestaltung der Diagnoseeinrichtung (4) einsetzbaren Hard- und/oder Softwareobjekte durch Softwareelemente (1, 2, 5, 7) nachgebildet werden.
  10. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 oder 9,
    dadurch gekennzeichnet, dass
    die Diagnoseeinrichtung (4) zur Zuordnung von insbesondere vibroakustischen Messwerten des Objektes (3) zu Qualitäts-und Fehlerklassen dient.
  11. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 10,
    dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren als Assistent, Parametrierer und/oder Konfigurator zur Verarbeitung von über die Projektierungsoberfläche (9) erfolgenden Anfragen (14) dient, welches basierend auf einer Wissensbasis (5) an eine Projektierungsoberfläche (9) ein der jeweiligen Anfrage (14) zugeordnetes Ergebnis (15) liefert.
  12. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 11,
    dadurch gekennzeichnet, daß aus der Wissensbasis (5) jeweils benötigte Daten in Form von Regeln und Daten abgefragt werden, wobei die Wissensbasis (5) weitere Daten aus Objektbeschreibungen bezieht, die technologische Kennwerte der einzelnen Objekte der Diagnoseeinrichtung (4) enthalten.
  13. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 12,
    dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren zur automatischen Konfiguration und Parametrierung der Diagnoseeinrichtung (4), zur Auswahl und Durchführung eines Prüfverfahrens und zur Auswertung der Prüfergebnisse vorgesehen ist.
  14. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 13,
    dadurch gekennzeichnet, daß ein weiteres Datenobjekt (12), welches eine Sammlung von Mustersignalverläufen (MVType 1, MVType2, ...), erstellt und ausgewertet wird, wobei den Mustersignalverläufen (MVType 1, MVType2, ...) Qualitäts-/Fehlerklassen (QFK1, QFK2, .., QFKk) zugeordnet sind.
EP99927659A 1998-04-17 1999-04-14 System und verfahren zur konfiguration und/oder parametrierung einer diagnoseeinrichtung Expired - Lifetime EP1071937B1 (de)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19816884 1998-04-17
DE19816884 1998-04-17
DE19850122 1998-10-30
DE19850122A DE19850122A1 (de) 1998-04-17 1998-10-30 System und Verfahren zur Konfiguration und/oder Parametrierung einer Diagnoseeinrichtung für Objekte
PCT/DE1999/001112 WO1999054702A1 (de) 1998-04-17 1999-04-14 System und verfahren zur konfiguration und/oder parametrierung einer diagnoseeinrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
EP1071937A1 EP1071937A1 (de) 2001-01-31
EP1071937B1 true EP1071937B1 (de) 2005-06-29

Family

ID=26045527

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP99927659A Expired - Lifetime EP1071937B1 (de) 1998-04-17 1999-04-14 System und verfahren zur konfiguration und/oder parametrierung einer diagnoseeinrichtung

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6546350B1 (de)
EP (1) EP1071937B1 (de)
DE (2) DE19850122A1 (de)
DK (1) DK1071937T3 (de)
WO (1) WO1999054702A1 (de)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19953741C1 (de) * 1999-11-09 2001-10-25 Krones Ag Vorrichtung und Verfahren zur optischen Inspektion
WO2003017179A1 (en) * 2001-08-14 2003-02-27 Textron Automotive Company Inc. Method for providing design review and conformity
DE10151029A1 (de) * 2001-10-16 2003-04-30 Siemens Ag System zur Parameterkonfiguration multimodaler Meßgeräte
DE10216331A1 (de) 2002-04-13 2003-10-30 Conducta Endress & Hauser Messeinrichtung für die Prozesstechnik und Betriebsverfahren für eine Messeinrichtung
DE10242003A1 (de) * 2002-09-11 2004-03-25 Siemens Ag Vorrichtung zur Zugänglichmachung von Expertenwissen für die Bedienung medizinischer Untersuchungsgeräte
US8065161B2 (en) 2003-11-13 2011-11-22 Hospira, Inc. System for maintaining drug information and communicating with medication delivery devices
US9123077B2 (en) 2003-10-07 2015-09-01 Hospira, Inc. Medication management system
EP1674957A1 (de) * 2004-12-21 2006-06-28 Siemens Aktiengesellschaft Regelbasiertes, verteiltes Engineering
JP2010507176A (ja) 2006-10-16 2010-03-04 ホスピラ・インコーポレイテツド 複数のデバイス管理システムからの動態情報および構成情報を比較および利用するためのシステムおよび方法
DE102007018732A1 (de) * 2007-04-20 2008-10-23 Volkswagen Ag Diagnosesystem und Verfahren zum Erstellen eines Prüfablaufs für eine Diagnose eines mechatronischen Gesamtsystems
US8170968B2 (en) * 2008-08-15 2012-05-01 Honeywell International Inc. Recursive structure for diagnostic model
US8271106B2 (en) 2009-04-17 2012-09-18 Hospira, Inc. System and method for configuring a rule set for medical event management and responses
US20100330569A1 (en) * 2009-04-23 2010-12-30 Intelligent Bio-Systems, Inc. Hydroxymethyl Linkers For Labeling Nucleotides
DE102011101263A1 (de) * 2011-05-11 2012-11-15 Dietmar Cimbal Verfahren zur Erkennung einer Dysfunktion
US9594875B2 (en) 2011-10-21 2017-03-14 Hospira, Inc. Medical device update system
DE102011119350B4 (de) * 2011-11-25 2020-07-09 Sew-Eurodrive Gmbh & Co Kg System zur Prüfung von Merkmalen an Prüfobjekten und Verfahren zum Betreiben eines Systems
DE102011119356B4 (de) * 2011-11-25 2020-07-09 Sew-Eurodrive Gmbh & Co Kg System zur Prüfung von Merkmalen an einem Prüfobjekt, ebensolches System, das zur Prüfung von Merkmalen an aufeinander folgend hergestellten Prüfobjekten, also Produkten verwendet wird und Verfahren zum Betreiben eines solchen Systems
CA2904053C (en) 2013-03-06 2023-01-03 Hospira, Inc. Medical device communication method
WO2015031774A1 (en) 2013-08-30 2015-03-05 Hospira, Inc. System and method of monitoring and managing a remote infusion regimen
US9662436B2 (en) 2013-09-20 2017-05-30 Icu Medical, Inc. Fail-safe drug infusion therapy system
US10311972B2 (en) 2013-11-11 2019-06-04 Icu Medical, Inc. Medical device system performance index
JP2016537175A (ja) 2013-11-19 2016-12-01 ホスピーラ インコーポレイテッド 注入ポンプ自動化システムおよび方法
EP3138032A4 (de) 2014-04-30 2017-12-20 ICU Medical, Inc. Patientenpflegesystem mit bedingter alarmweiterleitung
US9724470B2 (en) 2014-06-16 2017-08-08 Icu Medical, Inc. System for monitoring and delivering medication to a patient and method of using the same to minimize the risks associated with automated therapy
US9539383B2 (en) 2014-09-15 2017-01-10 Hospira, Inc. System and method that matches delayed infusion auto-programs with manually entered infusion programs and analyzes differences therein
WO2016189417A1 (en) 2015-05-26 2016-12-01 Hospira, Inc. Infusion pump system and method with multiple drug library editor source capability
US11574737B2 (en) 2016-07-14 2023-02-07 Icu Medical, Inc. Multi-communication path selection and security system for a medical device
US10517169B2 (en) * 2018-04-13 2019-12-24 Pdf Solutions, Inc. Characterization vehicles for printed circuit board and system design
EP4297379A3 (de) 2018-07-17 2024-01-10 ICU Medical, Inc. Systeme und verfahren zur ermöglichung von klinischer nachrichtenübermittlung in einer netzwerkumgebung
AU2019306490A1 (en) 2018-07-17 2021-02-04 Icu Medical, Inc. Updating infusion pump drug libraries and operational software in a networked environment
US10950339B2 (en) 2018-07-17 2021-03-16 Icu Medical, Inc. Converting pump messages in new pump protocol to standardized dataset messages
US10861592B2 (en) 2018-07-17 2020-12-08 Icu Medical, Inc. Reducing infusion pump network congestion by staggering updates
US10692595B2 (en) 2018-07-26 2020-06-23 Icu Medical, Inc. Drug library dynamic version management
CA3107315C (en) 2018-07-26 2023-01-03 Icu Medical, Inc. Drug library management system

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4794559A (en) 1984-07-05 1988-12-27 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Content addressable semiconductor memory arrays
IE851998L (en) * 1985-08-14 1987-05-11 Francis Anthony Purcell Test apparatus for electronic equipment
JPS61262862A (ja) * 1985-11-28 1986-11-20 Nec Corp 主記憶装置
US4835459A (en) * 1986-05-16 1989-05-30 Hughes Aircraft Company Automatic fault insertion system (AFIS)
US4980844A (en) * 1988-05-27 1990-12-25 Victor Demjanenko Method and apparatus for diagnosing the state of a machine
FR2641085B1 (de) * 1988-12-22 1991-05-03 Actia
US5293585A (en) * 1989-08-31 1994-03-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Industrial expert system
US5327553A (en) * 1989-12-22 1994-07-05 Tandem Computers Incorporated Fault-tolerant computer system with /CONFIG filesystem
JP2915523B2 (ja) * 1990-08-29 1999-07-05 株式会社東芝 超音波診断装置
SE467026B (sv) * 1990-09-21 1992-05-11 Televerket Anordning foer strukturering av teknisk information vid uppraettande av en kunskapsdatabas och felsoekning i teknisk utrustning
CH687110A5 (de) * 1991-09-10 1996-09-13 Luwa Ag Zellweger Verfahren zur Erstellung einer Stoerungsdiagnose an Produktionsmaschinen und Anwendung des Verfahrens an Textilmaschinen.
US5388188A (en) * 1992-03-17 1995-02-07 At&T Corp. Apparatus and methods for providing design advice
US5481481A (en) * 1992-11-23 1996-01-02 Architectural Engergy Corporation Automated diagnostic system having temporally coordinated wireless sensors
US5313241A (en) * 1992-11-25 1994-05-17 Eastman Kodak Company Processor diagnostics using switch settings
US5878746A (en) * 1993-08-25 1999-03-09 Lemelson; Jerome H. Computerized medical diagnostic system
JP3201156B2 (ja) * 1993-08-30 2001-08-20 トヨタ自動車株式会社 設計を支援する方法と装置
JPH0777519A (ja) * 1993-09-08 1995-03-20 Hitachi Ltd 異常診断アルゴリズム自動構築法とその装置
US5528516A (en) * 1994-05-25 1996-06-18 System Management Arts, Inc. Apparatus and method for event correlation and problem reporting
DE29611558U1 (de) 1996-07-05 1997-08-07 Siemens AG, 80333 München Vorrichtung zur Erfassung von analogen Meßsignalen für die akustische Diagnose von Prüflingen
US5963884A (en) * 1996-09-23 1999-10-05 Machine Xpert, Llc Predictive maintenance system
US6049764A (en) * 1997-11-12 2000-04-11 City Of Hope Method and system for real-time control of analytical and diagnostic instruments
US5991707A (en) * 1998-03-09 1999-11-23 Hydrotec Systems Company, Inc. Method and system for predictive diagnosing of system reliability problems and/or system failure in a physical system
US6192325B1 (en) * 1998-09-15 2001-02-20 Csi Technology, Inc. Method and apparatus for establishing a predictive maintenance database
US6200025B1 (en) * 1998-12-15 2001-03-13 Siemens Medical Systems, Inc. Flexible automated specification testing for quality checks

Also Published As

Publication number Publication date
EP1071937A1 (de) 2001-01-31
WO1999054702A1 (de) 1999-10-28
DK1071937T3 (da) 2005-10-17
US6546350B1 (en) 2003-04-08
DE59912225D1 (de) 2005-08-04
DE19850122A1 (de) 1999-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1071937B1 (de) System und verfahren zur konfiguration und/oder parametrierung einer diagnoseeinrichtung
DE69910800T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung des Betriebszustandes einer einzelnen Maschine
EP1088211B1 (de) Akustisches diagnosesystem und -verfahren
DE102005036321A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum dynamischen Generieren von Testszenarien für komplexe rechnergesteuerte Systeme, z.B. für medizintechnische Anlagen
EP0887631A2 (de) Verfahren zur Ermittlung und Darstellung von Spektren für Schwingungssignale
DE112017002477T5 (de) Rotordiagnosevorrichtung, Rotordiagnoseverfahren und Rotordiagnoseprogramm
DE102008013053A1 (de) Verbesserte Regelausführung in Expertensystemen
DE102006000916B3 (de) Vorrichtung und Verfahren zum bewerten eines dynamischen Systems
DE10027822B4 (de) Unterdrückung von Datenabtastwerten
DE29611558U1 (de) Vorrichtung zur Erfassung von analogen Meßsignalen für die akustische Diagnose von Prüflingen
DE3602171A1 (de) Testgeraet fuer ein elektromedizinisches geraet
DE102009018785A1 (de) Verfahren und Vorrichtungen für eine virtuelle Testzelle
DE19855874A1 (de) System und Verfahren zur Projektierung und Durchführung von Prüfabläufen
EP1297425A2 (de) Verfahren und vorrichtung für die optimierung eines testprogramms
DE112020007629T5 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Lagerfehlern auf der Grundlage der Höreigenschaften des menschlichen Ohres
WO2021151410A1 (de) Verfahren, vorrichtung und graphische benutzeroberfläche zur analyse eines mechanischen objektes
WO2020259819A1 (de) Akustische analyse eines zustands einer maschine
DE102019134113A1 (de) Datensortiervorrichtung und datensortierverfahren und überwachungs- und diagnosevorrichtung
EP1071985B1 (de) Softwarekomponente für ein diagnosesystem mit assistentenunterstützter projektierung
DE69818986T2 (de) Zeitgewichtiges kompensiertes medianfiltergerät und verfahren
DE19850881A1 (de) Getriebe- und Motorenprüfung
EP1246034B1 (de) Verfahren zur Analyse und Bewertung von Messwerten eines offenen Prüfsystems
DE10122318B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Berechnung von Qualitätsfähigkeitskenngrößen
WO2001075685A1 (de) Verfahren und system zur erfassung und speicherung von daten aus einer produktionsanlage
DE102004039884A1 (de) Verfahren und System zur Beschreibung und Ausführung automatischer Tests

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 20001009

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): DE DK FR GB IT

17Q First examination report despatched

Effective date: 20040305

GRAP Despatch of communication of intention to grant a patent

Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOSNIGR1

RTI1 Title (correction)

Free format text: SYSTEM AND METHOD FOR CONFIGURING AND/OR PARAMETERISING A DIAGNOSTIC DEVICE

GRAS Grant fee paid

Free format text: ORIGINAL CODE: EPIDOSNIGR3

GRAA (expected) grant

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009210

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: B1

Designated state(s): DE DK FR GB IT

REG Reference to a national code

Ref country code: GB

Ref legal event code: FG4D

Free format text: NOT ENGLISH

REF Corresponds to:

Ref document number: 59912225

Country of ref document: DE

Date of ref document: 20050804

Kind code of ref document: P

GBT Gb: translation of ep patent filed (gb section 77(6)(a)/1977)

Effective date: 20050907

REG Reference to a national code

Ref country code: DK

Ref legal event code: T3

ET Fr: translation filed
PLBE No opposition filed within time limit

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009261

STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: NO OPPOSITION FILED WITHIN TIME LIMIT

26N No opposition filed

Effective date: 20060330

PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: DK

Payment date: 20070410

Year of fee payment: 9

PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: DE

Payment date: 20080620

Year of fee payment: 10

REG Reference to a national code

Ref country code: DK

Ref legal event code: EBP

PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: DK

Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

Effective date: 20080430

PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: IT

Payment date: 20090428

Year of fee payment: 11

Ref country code: FR

Payment date: 20090424

Year of fee payment: 11

PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: GB

Payment date: 20090409

Year of fee payment: 11

PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: DE

Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

Effective date: 20091103

GBPC Gb: european patent ceased through non-payment of renewal fee

Effective date: 20100414

REG Reference to a national code

Ref country code: FR

Ref legal event code: ST

Effective date: 20101230

PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: GB

Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

Effective date: 20100414

Ref country code: IT

Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

Effective date: 20100414

PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: FR

Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

Effective date: 20100430