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Verfahren zum Kompensieren des Astigmatismus von Elektronenlinsen eines Elektronen-mikroskops, Schaltungsanordnung zur Durch-fuehrung des Verfahrens und Vorrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens
Regeleinrichtung fuer elektrostatisch wirkende Anordnungen zur Kompensation des axialen Astigmatismus in Korpuskularstrahlapparaten, vorzugsweise Elektronenmikroskopen
Verfahren zum Ausrichten der Feldachse eines elektronenoptischen Linsen, insbesondere in einem Elektronenmikroskop zugeordneten Stigmators und Anordnung zur Durchfuehrung des Verfahrens