DE9214390U1 - Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien - Google Patents

Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien

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DE9214390U1
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Description

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Anmelder: hatec
Handhabungstechnik
Maschinenbau GmbH
Sudetenstr. 126b
8206 Bruckmühl
Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden bestückten und unbestückten elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien.
Angesichts neuer Technologien, gestiegener Komplexität von Baugruppen und wachsender Qualitätsanforderungen an Leiterplatten besteht ein Bedürfnis nach flexiblen Prüfsystemen, die eine hohe Prüfqualität und geringere Kosten erfordern. Bekannt sind bisher Prüfsysteme, bei denen Leiterplatten mehrstufige Testdurchläufe auf verschiedenen Testsystemen unter Wechsel der Transportebene durchführen. Mit derartigen Prüfsystemen läßt sich jedoch keine rentable Produktion, kein größerer Durchsatz und keine höhere
Produktivität erzielen, weil einerseits hohe Kosten für verschiedene individuelle Wechselsätze (Adapter) anfallen und andererseits die Prüfgenauigkeit und die Zuordnung zu den zu prüfenden Kontakten bei mehrstufigen Testdurchläufen kaum oder nur mit außerordentlich großem Aufwand realisiert werden kann. Überdies besteht das Bedürfnis, auf Bauteilebene einen funktionalen Test durchzuführen. Dabei geht es einerseits darum, daß ein Funktionstest auf Komponentenebene zur Überprüfung der Baugruppe mit festgelegten Spezifikationen vorgesehen ist und andererseits mit modular konfigurierbarer Hardware und Pulsmeßtechnik Bedingungen geschaffen werden, wie sie in der späteren Leiterplattenumgebung vorhanden sind. Die vorgesehene Vorrichtung soll daher einen In-Circuit-Test und einen Funktionstest realisieren können.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien, verfügbar zu machen, mit der sich unterschiedlich konfigurierte Leiterplatten schnell und sicher individuell prüfen lassen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die im Anspruch 1 gekennzeichneten Merkmale gelöst. Bevorzugte Merkmale, die die Erfindung vorteilhaft weiterbilden, sind den nachgeordneten Ansprüchen zu entnehmen.
Gemäß der Erfindung besteht die Vorrichtung aus einem Gestell, einer Transporteinrichtung, durch die zu prüfende Leiterplatten mit zugänglichen Prüfpunkten geradlinig durch das Gestell hindurchführbar sind, und aus einer innerhalb des Gestells angeordneten Prüfeinrichtung, die einen an die Unterseite der Leiterplatte zur Kontaktierung von Prüfpunkten bewegbaren Tester und einen gleichzeitig an die Oberseite der Leiterplatte bewegbaren Gegenhalter besitzt, der vorzugsweise ebenfalls einen Tester für das gleichzeitige oberseitige Kontaktieren von Prüfpunkten der Leiterplatte aufweist.
In vorteilhafter Weise können damit schnell und sicher individuelle Leiterplatten geprüft werden, ohne aus ihrer ursprünglichen Transportlinie bzw. -ebene entfernt werden zu müssen. Zusätzliche Justierprobleme fallen somit nicht an. Da weiterhin das Gestell als Bestandteil einer Fertigungslinie in diese integriert werden kann, lassen sich Wegverluste beim Leiterplattentransport vermeiden.
Die erfindungsgemäß vorgesehene Prüfeinrichtung vermag ohne Lageänderung der Leiterplatte selbst gezielt ideale Prüfbedingungen sowohl für bestückte als auch für unbestückte Letierplatten herbeizuführen, wobei nach einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung auch eine zweiseitige Kontaktierung vorgesehen ist.
Die Bewegung des Testers und des Gegenhalters zu der Leiterplatte hin und von dieser weg kann so vorgesehen sein, daß zunächst der Gegenhalter und anschließend der Tester an die Leiterplatte herangefahren wird oder umgekehrt. Dabei könnten für den Bewegungsantrieb des Testers und des Gegenhalters positionsgenau arbeitende Stellantriebe in entsprechender Beabstandung zueinander eingesetzt werden. In vorteilhafter Weise ist dabei gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung vorgesehen, daß der Tester und der Gegenhalter mittels einer Kurbelschleifeneinrichtung zu der von der Transporteinrichtung in dem Gestell gehaltenen Leiterplatte hin- und von dieser wegbewegbar sind. Hierdurch wird in vorteilhafter Weise stets eine unveränderbare funktioneile Zuordnung mit synchronen Bewegungsabläufen realisiert, die in günstiger Weise über einen einzigen Antriebsmotor spielfrei verifiziert werden kann.
Bevorzugt weist die Kurbelschleif einrichtung weiterhin wenigstens eine Doppelkurbelschleife mit einer um 180° versetzten Kurbel auf, wobei eine Kurbel an den Tester und die andere an den Gegenhalter angreift.
Konstruktiv besonders einfach und zuverlässig ist gemäß einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung vorgesehen, daß der Tester und der Gegenhalter jeweils einen relativ zum Gestell bewegbaren Rahmen besitzen, auf dem die Bewegung der Kurbelschleifen übertragbar ist. Hierdurch wird vorteilhaft einerseits eine gleichmäßige Bewegungsübertragung über die gesamte Testerfläche und Gegenhalterfläche realisiert und andererseits die günstige Voraussetzung für den Einsatz von Wechselsätzen für die Prüfung unterschiedlicher Leiterplatten verwirklicht.
Vorteilhaft ist jeder Rahmen rechteckförmig ausgebildet und weist im Bereich seiner vier Ecken Führungssäulen auf, wobei jeweils im Antriebsbereich jedes Rahmens zwei Führungssäulen von gegenüberliegenden Seiten eines Rahmens verbunden sind, und wobei die Führungssäulen des Gegenhalterrahmens als massive Stangen und die Führungssäulen des Testerrahmens als gestellgeführte Hohlsäulen ausgebildet sind, in denen jeweils die zugeordneten Führungssäulen des Gegenhalterrahmens mit kongruenter Längssymmetrieachse verschiebbar gelagert sind.
Aufgrund dieser konstruktiven Konzeption wird in einfacher Weise eine höchsten Ansprüchen gerechtwerdende Verlagerungsgenauigkeit bei der Bewegung des Testers und des Gegenhalters zu den zu prüfenden Leiterplatten erreicht, die gleichzeitig auch bei hohen Andrückkräften robust und störunanfällig ist.
Dabei ist nach einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung vorteilhaft vorgesehen, daß zwei parallel arbeitende Doppelkurbelschleifen im Bereich der beiden verbundenen Säulen der beiden gegenüberliegenden Rahmenseiten, also jeweils im Antriebsbereich jedes Rahmens, angelenkt sind. Hiermit lassen sich außerordentlich hohe relative Positioniergenauigkeiten zwischen Tester und Leiterplatte erreichen, wobei in einfacher Weise ein einziger gestellfester Antriebsmotor für eine gestellgeführte Bewegung von Tester und Gegenhalter sorgt, welcher vorzugsweise für Hubbewegungen wegsteuerbar bzw. schrittsteuerbar
Die vorstehend erläuterte Vorrichtung zeichnet sich infolge ihrer konstruktiven Konzeption durch eine kompakt gestaltbare Baugröße aus, wobei durch eine präzise Vier-Säulen-Führung auch bei großen auf die Rahmen einwirkenden Kräfte, die Größenordnung bis 300 N erreichen können, vorteilhaft kein Verkanten bei einseitiger Last auftritt. Die vorzugsweise weg- bzw. schrittgesteuerte Hubbewegung der Rahmen ermöglicht eine schnelle und individuelle Anpassung an die jeweiligen mechanischen Prüfbedingungen mit der Möglichkeit einer Fern- bzw. Rechnersteuerung, insbesondere zur Automatisierung für Fertigungslinien.
Im Hinblick auf die Prüfung unterschiedlich konfigurierter Leiterplatten ist es weiterhin günstig, wenn der Tester und der Gegenhalter jeweils als prüflingspezifischer Wechseladapter in den zugehörigen Rahmen einschiebbar sind. Hierdurch ist ein schneller Austausch unter Einsatz von kostengünstig gestaltbaren Wechselsätzen möglich, wobei auch die Voraussetzungen für einen automatischen Adapterwechsel mittels Pater Noster oder vertikalen Magazin eröffnet werden.
Vorzugsweise ist jeder Wechseladapter lagerichtig am zugehörigen Rahmen verriegelbar, wobei bevorzugt zur Verriegelung ein fernbetätigbarer Spann- oder Schwenkriegel vorgesehen ist, der vorzugsweise über eine Kurbelwelle von Hand oder mit Stellmotor verschwenkbar ist. Damit kann für den oberen Wechseladapter vorteilhaft eine von vorn entriegelbare Rastmechanik verwirklicht werden, während für den eigentlichen Prüfwechseladapter zwecks Anschlusses an den rahmenfesten Kontaktnadeln aufweisenden Tester eine Spannmechanik mit manuellem oder motorisch betriebenem Kurbelantrieb realisiert werden kann.
Zur Durchführung der Prüfung selbst weist die Vorrichtung eine Bewegungssteuerung für die Transporteinrichtung auf, durch die die Bewegung der Transporteinrichtung nach Einführen der Leiter-
platte in das Gestell und nach Erreichen der vorgesehenen exakten Prüfposition unterbrechbar ist. Hierdurch und unter Berücksichtigung der vorgenannten weiteren Merkmale ist die Vorrichtung automatisierbar.
Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile der Erfindung sind dem anschließenden Beschreibungsteil zu entnehmen, in dem die Erfindung unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert wird. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematisierte Seitenansicht auf eine Ausbildungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten in Fertigungslinien, wobei eine zu prüfende elektronische Leiterplatte in eine passende Prüfposition eingefahren und angehalten ist;
Fig. 2 eine Ansicht ähnlich Fig. 1, wobei der Gegenhalter und der Tester innerhalb des Gestells an die Leiterplatte bewegt sind und die Prüfung durchgeführt werden kann;
Fig. 3 eine Darstellung ähnlich Fig. 1, bei der durch Tester und Gegenhalter von der Leiterplatte wegbewegt und die Leiterplatte nach Entfernen des Anschlags aus dem Gestell nach außen transportiert wird;
Fig. 4 eine Seitenansicht auf die Vorrichtung, wobei die Transporteinrichtung nebst Anschlag und die Leiterplatte weggelassen sind;
Fig. 5 eine teilweise Schnittdarstellung durch das Gestell zur Verdeutlichung der Angriffsmechnik im offenen und kontaktieren Zustand;
Fig. 6 eine schematisierte Darstellung aus dem Bereich der hinteren Ecke eines oberen Wechseladapters zur Erläu-
terung einer Rastmechanik;
Fig. 7 eine Teilansicht des hinteren Bereichs des unteren Wechseladapters zur Darstellung einer Spannmechanik für die Schnittstelle mit rahmenseitigen Kontaktnadeln gemäß Fig. 4;
Fig. 8 eine teilgeschnittene schematisierte Darstellung eines manuellen Kurbelwellenantriebs für die Spannmechanik gemäß Fig. 7; und
Fig. 9 eine schematisierte teilgeschnittene Ansicht zur Darstellung eines motorischen Kurbelwellenantriebs für die Spannmechanik gemäß Fig. 7.
In den Figuren 1 bis 3 ist ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung 10 für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten 11 dargestellt, die sich besonders gut für den Einbau in Fertigungslinien eignet. Die Vorrichtung 10 besitzt ein Gestell 12, in dem bewegbar ein Tester 13 und ein Gegenhalter 14 angeordnet sind. Der Tester 13 und/oder der Gegenhalter 14 sind als Wechseladapter ausgebildet, wie später noch erläutert wird.
Durch das Gestell 12 ist eine Transporteinrichtung 15 hindurchgeführt, die zum Transport der Leiterplatte 11 in das Innere des Gestells 12 an einen Anschlag 16 und nach Ende der Prüfung aus dem Gestell heraus dient. Zur Vereinfachung sind von der Transporteinrichtung 15 nur randseitige Transportbänder angedeutet, die über Umlenkrollen 17 derart geführt sind, daß zur leichten Auswechselbarkeit ein Bandrücklauf auf dem gleichen Weg geringfügig nach unten versetzt erfolgt. Ein Antrieb nebst Steuerung für die Transporteinrichtung 15 wurde aus Vereinfachungsgründen weggelassen.
Von dem Gestell 12 ist in den Figuren 1 bis 3 nur die obere Hälfte schematisiert dargestellt. Einzelheiten zum Antrieb werden später unter Bezugnahme auf die Figuren 4 und 5 näher erläutert. Die obere Hälfte des Gestells 12 weist einen Gegenhalterrahmen 18 auf, an dessen Unterseite Einschubführungen 19 und 20 zur Aufnahme des Gegenhalters 14 gebildet sind. Der Gegenhalter 14 selbst besitzt, wie in den Figuren 1 bis 3 schematisiert dargestellt, wenigstens zwei, in der Regel aber gleichmäßig über die Oberfläche verteilte mit einer Andruckfeder 21 versehene Andruckelemente 22, die, wie in Figur 2 gezeigt, für die Prüfphase an der Oberseite der Leiterplatte 11 gegenhaltend angreifen.
Der Gegenhalterrahmen 18 ist im Bereich seiner vier Eckpunkte jeweils mit einer Führungssäule 23 versehen, die sich von dem dargestellten horizontalen Gegenhalterrahmen senkrecht nach unten zu dem in den Figuren 1 bis 3 dargestellten Antriebsbereich erstreckt.
Das Gestell 12 weist weiterhin einen unterhalb der Transporteinrichtung 15 angeordneten rechteckförmigen Testerrahmen 24 auf, auf dem Einschubführungen 25 und 26 zur Schubladen ähnlichen Aufnahme des Testers 13 angeordnet sind. Vom Tester 13 sind weiterhin schematisiert drei Kontaktnadeln 27 gezeigt, die gemäß Figur 2 aufgrund ihrer entsprechenden Zuordnung an Kontaktpunkte der zu prüfenden Leiterplatte 11 angreifen. Die Leiterplatte 11 ist auf der Transporteinrichtung 15 nur randseitig gehalten, so daß eine Kontaktaufnahme zwischen Kontaktnadeln 27 und zugeordneten Kontaktpunkten möglich wird.
Der Testrahmen 24 besitzt im Bereich seiner vier Eckpunkte jeweils eine Hohlsäule 28, in der gleitend verschiebbar die zugeordnete Führungssäule 23 des Gegenhalterrahmens 18 angeordnet ist, wie in Figur 5 gezeigt und noch näher erläutert wird. Auf dem Tester 13 ist weiterhin eine Antriebseinheit 29 für den Anschlag 16 befestigt, durch die der Anschlag 16 mittels einer nicht dargestellten Steuerung für das Positionieren der durch die
Transporteinrichtung 15 in das Gestell bewegten Leiterplatte 11 in die Bewegungsbahnleiterplatte 11 vorgeschoben werden kann, bevor der Tester 13 zur Anlage gelangt.
In den Figuren 4 und 5 sind in Seitenansicht und teilweiser Schnittdarstellung nähere Einzelheiten der Vorrichtung 10, insbesondere bzgl. deren Antrieb, dargestellt.
Die Transporteinrichtung 15 ist in Figur 4 zur Vereinfachung weggelassen und in Figur 5 nur als strichpunktierte Linie gezeigt. Die in Figur 4 gezeigte Stellung entspricht der in Figur 1 oder 3, also einer Stellung, bei der der Gegenhalter und der Tester nicht an der Leiterplatte anliegen. Die Leiterplatte 11 wurde zur Vereinfachung in Figur 4 ebenfalls weggelassen, in Figur 5 jedoch strichpunktiert angedeutet. Der Gegenhalter 14 ist in die Einschubführung 19, 20 in eine positionsgenaue Stellung eingeschoben und wird in dieser durch eine in Figur 6 noch näher zu erläuternde Rastmechanik gehalten. Der Tester 13 ist in die Einschubführungen 25 und 26 ebenfalls positionsgenau eingeschoben und wird durch eine in den Figuren 7 bis 9 näher erläuterter Spannmechanik exakt in seiner Stellung gehalten, wobei rückseitige Kontakte 31 sich in leitender Verbindung mit Andruckstiften 32 befinden, die an dem Testerrahmen 24 angeordnet sind und in nicht dargestellter Weise mit einer elektronischen Prüfeinrichtung verbunden sind.
Von dem Gestell 12 sind in Figur 4 und 5 zwei ortsfeste Gleitbuchsen 32 gezeigt, die in einer ortsfesten Halteplatte 33 befestigt sind. Die Gleitbuchsen 32 weisen Gleitführungen 34 auf, welche an die Umfangsflache der Hohlsäule 28 angreifen. In gleicher Weise besitzen die Hohlsäulen 28 im Inneren Gleitführungen 35 zur gleitenden Aufnahme und Führung der Führungssäulen 23, wie gut in Figur 5 zu erkennen ist.
Für den Rahmen 18 ist unterhalb der Halteplatte 33 ein Antriebsbereich gebildet, bei dem zwei gegenüberliegende Führungssäulen
23 innenseitig durch eine Profilstange 37 und zwei gegenüberliegende Hohlsäulenenden 28 durch eine Profilstange 38 miteinander jeweils verbunden sind. Die Profilstangen 37 bzw. 38 erstrecken sich jeweils parallel zueinander und zu der Halteplatte 33 bzw. Transporteinrichtung 15.
Wie deutlich in Figur 5 gezeigt, weisen die Profilstangen 37 jeweils zwei strichpunktiert angedeutete und nach außen weisende Gelenkbolzen 39 bzw. 40 auf, die im Bereich der unteren Befestigung der Führungssäulen 23 an der Profilstange 37 vorgesehen sind. An den Gelenkbolzen 39 sind Enden von Kurbeln 41 angelenkt, während an den Gelenkbolzen 40 Enden von Kurbeln 42 angelenkt sind. Die Kurbeln 41 bzw. 42 sind an dem anderen Ende exzentrisch an einer Welle zur Bildung einer Doppelkurbelschleife 43 angelenkt, wobei, wie aus Figur 4 ersichtlich, die Doppelkurbelschleifen 43 synchron angetrieben werden und wobei gemäß Figur 5 gegenüberliegende Doppelkurbelschleifen 43 über eine Welle 44 und nebeneinander an der Profilstange 37 angreifende Doppelkurbelschleifen 43 über einen Zahnriemen 45 zur synchronen Bewegung miteinander verbunden sind.
An der Profilstange 38 sind nach innen weisende Gelenkbolzen 46 rechtwinklig vorgesehen und in Figur strichpunktiert angedeutet, an denen Kurbeln 47 angelenkt sind, deren anderes Ende an der Doppelkurbelschleife 43 derart angelenkt ist, daß die Anlenkung der Kurbel 52 und die der Kurbel 47 mit gleicher Exzentrizität zu der Antriebswelle 44 und um einen Drehwinkel von 180° versetzt bzw. phasenverschoben vorgesehen ist. Die Antriebswelle 44, die die Doppelkurbelschleifen 43 verbindet, die nicht an derselben Profilstange 37 bzw. 38 angelenkt sind, wird über einen Riemenantrieb 48 mittels eines einzigen Antriebsmotors 49 angetrieben. Dieser Antriebsmotor 49 dient somit zum synchronen Antrieb aller Doppelkurbelschleifen 43. Dabei ist der Antriebsmotor 49 hub- bzw. weggesteuert.
In Figur 5 sind zwei Stellungen der Vorrichtung erläutert. Auf der linken Seite von Figur 5 befinden sich der Tester 13 und der Gegenhalter 14 einer von der Leiterplatte 11 beabstandeten Stellung, ähnlich Figur 1 bzw. Figur 3, während in der rechten Hälfte der Figur 5 die Stellung des Testers 13 und des Gegenhalters 14 in der in Figur 2 gezeigten Position mit der zugehörigen Stellung der Doppelkurbelschleife 43 veranschaulicht.
Figur 6 stellt schematisiert eine hintere Ecke eines Gegenhalters 14 dar, der als Wechseladapter ausgebildet ist. Wie bereits oben und insbesondere im Zusammenhang mit Figur 4 erwähnt, ist eine Rastmechanik 30 vorgesehen, die einen federnd gelagerten Rasthebel 50 aufweist, der mit einer angeformten Rastnase eine
Arretieranformung 31 an dem Gegenhalter 14 hintergreift, der sich seinerseits gegen einen federnden Andruckknopf 52 abstützt. Der Rasthebel 50 ist am Rahmen 18 schwenkbar gelagert und wird durch einen Kipphebel 53 beaufschlagt, der ebenfalls an dem Rahmen 18 schwenkbar gelagert ist und über eine Zugfeder 54 gegen einen Betätigungsbolzen 55 vorgespannt ist, welcher in einen von außen, insbesondere von vorne, betätigbaren Druckknopf 56 mündet. Über den Druckknopf 56 kann bei Hineinbewegen des Bolzens 55 der Rasthebel 50 aus seiner Eingriffstellung, durch die er mittels einer Druckfeder 57 vorgespannt gehalten ist, herausgeschwenkt werden, um den als Wechseladapter ausgebildeten Gegenhalter 14 aus der Verriegelungsstellung freizugeben.
Figur 7 zeigt eine Teilansicht des hinteren Bereichs des als Wechseladapter ausgebildeten Testers 13 und dient zur Erläuterung einer zugehörigen spannenden Rastmechanik 58. Die Rastmechanik 58 weist einen am Rahmen 24 schwenkbar gelagerten Arretierhebel 59 auf, der in Figur 7 in seiner Arretierstellung mit ausgezogener Linie und in seiner Freigabestellung strichpunktiert dargestellt ist. Für die Rückseite jedes Wechseladapters ist ein derartiger Arretierhebel 59 vorgesehen, wobei beide Arretierhebel über eine Stange 60 miteinander verbunden sind, die am anderen Ende der Arretierhebel befestigt ist. Die Stange 60 greift in eine Ein-
führ- und Halteaufnahme 61 ein, die einen sich verjüngenden Einführbereich und eine dem Durchmesser der Stange 60 entsprechenden Haltebereich aufweist.
Betätigt wird der Arretierhebel 59 durch eine angelenkte Kurbel 62, die exzentrisch an eine Kurbelwelle 64 angreift, deren Kurbelwellenachse 64 entweder gemäß Figur 8 manuell mit einer Schubstange 65, die mit einem Druckknopf 66 verbunden ist, oder mittels einer Schubstange 67, die mit einem Spindelmotor 68 im Gewindeeingriff ist, zum Eingriff bzw. Ausgriff des Arretierhebels 59 über eine weitere an der Welle 64 angreifenden Kurbel 69 bewegbar ist.
Die einzelnen Betrxebsstellungen der Vorrichtung 10 sind im wesentlichen in den Figuren 1 bis 3 erläutert. Eine Leiterplatte wird mit seitlichem Angriff auf eine Transporteinrichtung 15 aufgelegt und durch diese bis in die in Figur 1 gezeigte Stellung ins Innere des Gestells 12 ohne Änderung der Transportebene gegen einen Anschlag 16 transportiert, wobei nach Erreichen des Anschlags 16 die Transportbewegung unterbrochen wird. Anschließend werden gleichzeitig der Gegenhalter 14 und der Tester 13 von oben bzw. unten an die zugängliche Leiterplatte 11 gleichmäßig heranbewegt, und die vorgesehenen Teste der Leiterplatte können in dieser Stellung gemäß Figur 2 durchgeführt werden. Sobald alle Teste abgeschlossen sind, entfernen sich der Gegenhalter 14 und der Tester 13 mit dem nunmehr eingefahrenen Anschlag 16 von der Leiterplatte 11, und die Transporteinrichtung 15 wird wieder in Betrieb gesetzt, um die Leiterplatte 11 aus dem Gestell herauszubewegen .
Weiterhin besteht bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung auch die Möglichkeit einer zweiseitigen Kontaktierung von bestückten oder unbestückten Leiterplatten, wenn in dem Gegenhalter ein Tester integriert ist. In diesem Fall sitzen zwischen den gefederten Andruckelementen 22 noch Kontaktnadeln, die die Leiterplatte von oben kontaktieren, wobei wiederum eine elektrische Übertragung an
die Schnittstelle des unteren Adapters mittels Kontaktnadeln an einen außerhalb der Prüffläche liegenden Übergabeblock erfolgt.
Die Voraussetzungen für einen Funktionstest werden dadurch realisiert, daß durch den weggesteuerten Antriebsmotor der untere und der obere Adapter so weit vom Prüfling entfernt werden, daß die für den In-Circuit-Test notwendigen kurzhubigen Kontaktnadeln vom Prüfling abgehoben sind und nur noch für den Funktionstest nötige langhubige Kontaktnadeln den Prüfling kontaktieren.

Claims (13)

  1. PATENTANWÄLTE
    EUROPEAN PATENT ATTORNEYS
    Unser Zeichen our ret.
    P 5242 RW/Pr
    D= EPNST STURM .-351--9S: C=. HORST REINHARD Di=L-ING. L1DO SKUHRA Q1=L-ING. REINHARD WEISE
    POSTFACH-1401 51 F=iEDRICHSTRASSE 31 D-3000 MÜNCHEN 40
    TE-EFON -039/3S16100 &Tgr;&Xgr;-&Xgr;&KHgr; : 52'2S39isard
    TE-EFAX :Q39 3-0 K 79 TE-EGRAN-1V: ISARrATENT
    23. Oktober 1992
    Anmelder: hatec
    Handhabungstechnik
    Maschinenbau GmbH
    Sudetenstr. 126b
    Bruckmühl
    Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien
    ANSPRÜCHE
    1. Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien, bestehend aus:
    einem Gestell (12),
    einer Transporteinrichtung (15), durch die zu prüfende Leiterplatten (11) mit zugänglichen Prüfpunkten geradlinig durch das Gestell (12) hindurchführbar sind, und aus einer
    innerhalb des Gestells (12) angeordneten Prüfeinrichtung mit einem an die Unterseite der Leiterplatte (11) zur Kontaktierung von Prüfpunkten bewegbaren Tester (13) und einem gleichzeitig an die Oberseite der Leiterplatte (11) bewegbaren Gegenhalter (14) .
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auch der Gegenhalter (14) einen Tester für das gleichzeitige oberseitige Kontaktieren von Prüfpunkten der Leiterplatte (11) aufweist ^
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Tester (13) und der Gegenhalter (14) mittels einer Kurbelschleifeneinrichtung (43) zu der von der Transporteinrichtung (15) in dem Gestell (12) gehaltenen Leiterplatte (11) hin- und von dieser weg bewegbar sind.
  4. 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Kurbelschleifeneinrichtung (43) wenigstens eine Doppelkurbelschleife (43) mit um 180° versetzten Kurbeln (41, 42, 47) aufweist, wobei eine Kurbel (47) an den Tester (13) und die andere (41, 42) an den Gegenhalter (14) angreift.
  5. 5. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Tester (13) und der Gegenhalter (14) jeweils einen relativ zum Gestell (12) bewegbaren Rahmen (18, 24) aufweisen, auf den die Bewegung der Kurbelschleifen übertragbar ist.
  6. 6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Rahmen (18, 24) rechteckförmig ausgebildet ist und im Bereich seiner vier Ecken säulenförmige Führungseiemete aufweist, wobei jeweils im Antriebsbereich jedes Rahmens (18, 24) zwei Führungselemente gegenüberliegender Seiten desselben verbunden sind, und wobei Führungssäulen (23) des Gegenhalterrahmens (18) als massive Stangen und die Führungselemente des Testerrahmens (24) als gestellgeführte
    Hohlsäulen (28) ausgebildet sind, in denen jeweils die zugeordneten Führungssäulen (23) des Gegenhalterrahmens (18) mit kongruenter Längssymmetrieachse verschiebbar gelagert sind.
  7. 7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß zwei parallel arbeitende Doppelkurbelschleifen (43) vorgesehen sind, die jeweils im Bereich der beiden verbundenen Säulen der beiden gegenüberliegenden Rahmenseiten angelenkt sind.
  8. 8. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Tester (13) und der Gegenhalter (14) durch einen gemeinsamen gestellfesten Antriebsmotor (49) gestellgeführt bewegbar sind.
  9. 9. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Antriebsmotor (49) für Hubbewegungen wegsteuerbar ist.
  10. 10. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Tester (13) und der Gegenhalter (14) jeweils als prüflingspezifischer Wechseladapter in den zugehörigen Rahmen einschiebbar sind.
  11. 11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Wechseladapter lagerichtig am zugehörigen Rahmen (14, 24) verriegelbar ist.
  12. 12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß zur Verriegelung ein fernbetätigbarer Spann- oder Schwenkriegel (59, 50) vorgesehen ist.
  13. 13. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Steuerungseinrichtung für die Transporteinrichtung (15).
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4416755C2 (de) * 1994-05-13 1996-10-31 Pematech Rohwedder Gmbh Vorrichtung zum Testen von Leiterplatten o. dgl. Prüflingen mittels eines Wechselsatzes
DE19802003C1 (de) * 1998-01-20 1999-10-21 Siemens Nixdorf Inf Syst Prüfvorrichtung zum Prüfen der Funktionen von baugruppentypspezifischen Flachbaugruppen und Fertigungseinrichtung mit solchen Prüfvorrichtungen
DE19847613A1 (de) * 1998-10-15 2000-05-04 Bengel & Bros Bebro Prüfeinrichtung

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2814510C2 (de) * 1977-04-04 1983-04-21 Teradyne Inc., 02111 Boston, Mass. Vorrichtung zum elektrischen Prüfen von mit Bauelementen bestückten Schaltungsplatten
DE3406360A1 (de) * 1983-03-04 1984-09-06 Circuit Line S.r.l., Verona Automatische pruefvorrichtung fuer gedruckte schaltungen
DE2953596C2 (de) * 1979-05-08 1986-07-31 Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa Prüfvorrichtung zur automatischen Prüfung von Schaltkreisplatten
SU1691997A1 (ru) * 1989-04-18 1991-11-15 Г.Г.Ша хметов Устройство дл автоматического контрол электрических параметров печатных плат

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5055779A (en) * 1989-06-19 1991-10-08 Hewlett-Packard Company Integrated board testing system

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2814510C2 (de) * 1977-04-04 1983-04-21 Teradyne Inc., 02111 Boston, Mass. Vorrichtung zum elektrischen Prüfen von mit Bauelementen bestückten Schaltungsplatten
DE2953596C2 (de) * 1979-05-08 1986-07-31 Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa Prüfvorrichtung zur automatischen Prüfung von Schaltkreisplatten
DE3406360A1 (de) * 1983-03-04 1984-09-06 Circuit Line S.r.l., Verona Automatische pruefvorrichtung fuer gedruckte schaltungen
SU1691997A1 (ru) * 1989-04-18 1991-11-15 Г.Г.Ша хметов Устройство дл автоматического контрол электрических параметров печатных плат

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