DE4313816B4 - Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien - Google Patents

Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien Download PDF

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Abstract

Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien, bestehend aus:
einem Gestell (12),
einer Transporteinrichtung (15), mittels der zu prüfende Leiterplatten (11) mit zugänglichen Prüfpunkten geradlinig durch das Gestell (12) hindurchführbar sind, und aus einer innerhalb des Gestells (12) angeordneten Prüfeinrichtung mit einem an die Unterseite der Leiterplatte (11) zur Kontaktierung von Prüfpunkten bewegbaren Tester (13) und einer gleichzeitig an die Oberseite der Leiterplatte (11) bewegbaren Niederhalteeinrichtung (14, 80),
dadurch gekennzeichnet, dass der Tester (13) und die Niederhalteeinrichtung (14, 80) mittels einer Schubkurbeleinrichtung (43) zu der von der Transporteinrichtung (15) in dem Gestell (12) gehaltenen Leiterplatte (11) hin- und von dieser wegbewegbar sind, wobei die Schubkurbeleinrichtung (43) wenigstens eine Doppelschubkurbel (43) mit um 180° versetzten Kurbeln (41, 42, 47) aufweist, wobei eine Kurbel (47) an den Tester (13) und die andere Kurbel (41, 42) an die Niederhalteeinrichtung (14, 80) angreift.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden bestückten und unbestückten elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien, gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 und wie aus der DE 29 53 596 C2 bekannt.
  • Angesichts neuer Technologien, gestiegener Komplexität von Baugruppen und wachsender Qualitätsanforderungen an Leiterplatten besteht ein Bedürfnis nach flexiblen Prüfsystemen, die eine hohe Prüfqualität und geringere Kosten erfordern. Bekannt sind bisher Prüfsysteme, bei denen Leiterplatten mehrstufige Testdurchläufe auf verschiedenen Testsystemen unter Wechsel der Transportebene durchführen. Mit derartigen Prüfsystemen läßt sich jedoch keine rentable Produktion, kein größerer Durchsatz und keine höhere Produktivität erzielen, weil einerseits hohe Kosten für verschiedene individuelle Wechselsätze (Adapter) anfallen und anderer seits die Prüfgenauigkeit und die Zuordnung zu den zu prüfenden Kontakten bei mehrstufigen Testdurchläufen kaum oder nur mit außerordentlich großem Aufwand realisiert werden kann. Überdies besteht das Bedürfnis, auf Bauteilebene einen funktionalen Test durchzuführen. Dabei geht es einerseits darum, daß ein Funktionstest auf Komponentenebene zur Überprüfung der Baugruppe mit festgelegten Spezifikationen vorgesehen ist und andererseits mit modular konfigurierbarer Hardware und Pulsmeßtechnik Bedingungen geschaffen werden, wie sie in der späteren Leiterplattenumgebung vorhanden sind. Die vorgesehene Vorrichtung soll daher einen In-Circuit-Test und einen Funktionstest realisieren können.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien, verfügbar zu machen, mit der sich unterschiedlich konfigurierte Leiterplatten schnell und sicher individuell prüfen lassen.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die im Anspruch 1 gekennzeichneten Merkmale gelöst. Bevorzugte Merkmale, die die Erfindung vorteilhaft weiterbilden, sind den nachgeordneten Ansprüchen zu entnehmen.
  • Gemäß der Erfindung besteht die Vorrichtung aus einem Gestell, einer Transporteinrichtung, durch die zu prüfende Leiterplatten mit zugänglichen Prüfpunkten geradlinig durch das Gestell hindurchführbar sind, und aus einer innerhalb des Gestells angeordneten Prüfeinrichtung, die einen an die Unterseite der Leiterplatte zur Kontaktierung von Prüfpunkten bewegbaren Tester und eine gleichzeitig an die Oberseite der Leiterplatte bewegbare Niederhalteeinrichtung besitzt, die vorzugsweise ebenfalls einen Tester für das gleichzeitige oberseitige Kontaktieren von Prüfpunkten der Leiterplatte aufweist.
  • In vorteilhafter Weise können damit schnell und sicher individualle Leiterplatten geprüft werden, ohne aus ihrer ursprünglichen Transportlinie bzw. -ebene entfernt werden zu müssen. Zusätzliche Justierprobleme fallen somit nicht an. Da weiterhin das Gestell als Bestandteil einer Fertigungslinie in diese integriert werden kann, lassen sich Wegverluste beim Leiterplattentransport vermeiden.
  • Die erfindungsgemäß vorgesehene Prüfeinrichtung vermag ohne Lageänderung der Leiterplatte selbst gezielt ideale Prüfbedingungen sowohl für bestückte als auch für unbestückte Leiterplatten herbeizuführen, wobei nach einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung auch eine zweiseitige Kontaktierung vorgesehen ist.
  • Die Niederhalteeinrichtung kann nach einem Ausführungsbeispiel der Erfindung als Gegenhalter in Form eines Wechseladapters mit einzeln gefederten Andruckelementen ausgebildet sein. Alternativ besitzt die Niederhalteeinrichtung vorteilhaft einen relativ zum Gestell bewegbaren Hubrahmen, an dem eine in einer Niederhaltestellung positionierbare und Niederhalter beaufschlagende Druckplatte und eine Niederhalte-Führungsplatte sowie ein Tester gelagert sind. Hierdurch wird vorteilhaft erreicht, daß auch dicht bestückte Leiterplatten geprüft werden können und die erforderlichen Gegenhaltekräfte nicht mit genau abgestimmten einzelnen Federkräften erbracht werden, sondern mit einem vorzugsweise formschlüssig verriegelbaren System, wobei die Niederhalter bzw. die Niederhaltedorne hängen in der Niederhalte-Führungsplatte gelagert sind und Köpfe aufweisen, die sich nach Einbringen des Wegtesters und der Führungsplatte bzw. des Wechselsatzes in die Niederhalteeinrichtung an der Druckplatte abstützen. Vorteilhaft wird dabei erreicht, daß die zu prüfende Leiterplatte schon durch voreilende Niederhaltedorne gegen ein Abheben gesichert ist. Als weitere Vorteile sind die Verringerung der Erstellung von Wechselsatzkosten, der Wegfall einer individuellen Abstimmung von Andruckfedern für Andruckelemente des oberen Testers sowie eine deutliche Verringerung der Antriebsleistung für die Vorrichtung zu nennen.
  • Die Druckplatte ist zur Positionierung am Gestell gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung über Klinken verriegelbar, wobei gemäß einer Alternative gefederte Klinken vorgesehen sind, die über eine hubrahmenseitige Steuerkulisse bei Bewegung des Hubrahmens betätigbar sind. Gemäß einer alternativen Ausbildungsform ist vorteilhaft eine Betätigung der Klinken zur Positionierung der Druckplatte in der Niederhaltestellung am Gestell pneumatisch oder elektrisch mit der Bewegungssteuerung der Vorrichtung vorgesehen.
  • Die Bewegung des Testers und der Niederhalteeinrichtung zu der Leiterplatte hin und von dieser weg kann so erfolgen, daß zunächst die Niederhalteeinrichtung und anschließend der Tester an die Leiterplatte herangefahren wird oder umgekehrt. Dabei könnten für den Bewegungsantrieb des Testers und die Niederhalteeinrichtung positionsgenau arbeitende Stellantriebe in entsprechender Beabstandung zueinander eingesetzt werden. In vorteilhafter Weise ist dabei vorgesehen, daß der Tester und der Gegenhalter mittels einer Schubkurbeleinrichtung zu der von der Transporteinrichtung in dem Gestell gehaltenen Leiterplatte hin- und von dieser wegbewegbar sind. Hierdurch wird in vorteilhafter Weise stets eine unveränderbare funktionelle Zuordnung mit synchronen Bewegungsabläufen realisiert, die in günstiger Weise über einen einzigen Antriebsmotor spielfrei verifiziert werden kann.
  • Dabei weist die Schubkurbeleinrichtung weiterhin wenigstens eine Doppelschubkurbel mit einer um 180° versetzten Kurbel auf, wobei eine Kurbel an den Tester und die andere an die Niederhalteeinrichtung angreift.
  • Konstruktiv besonders einfach und zuverlässig ist gemäß einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung vorgesehen, daß der Tester und die Niederhalteeinrichtung jeweils einen relativ zum Gestell bewegbaren Rahmen besitzen, auf dem die Bewegung der Schubkurbeln übertragbar ist. Hierdurch wird vorteilhaft einerseits eine gleichmäßige Bewegungsübertragung über die gesamte Testerfläche und Niederhalteeinrichtungsfläche realisiert und andererseits die günstige Voraussetzung für den Einsatz von Wechselsätzen für die Prüfung unterschiedlicher Leiterplatten verwirklicht.
  • Vorteilhaft ist jeder Rahmen rechteckförmig ausgebildet und weist im Bereich seiner vier Ecken Führungssäulen auf, wobei jeweils im Antriebsbereich jedes Rahmens zwei Führungssäulen von gegenüberliegenden Seiten eines Rahmens verbunden sind, und wobei die Führungselemente des Rahmens der Niederhalteeinrichtung als massive Führungsstangen und die Führungselemente des Testerrahmens als gestellgeführte Hohlsäulen ausgebildet sind, in denen jeweils die zugeordneten Führungselemente der Niederhalteeinrichtung mit kongruenter Längssymmetrieachse verschiebbar gelagert sind.
  • Aufgrund dieser konstruktiven Konzeption wird in einfacher Weise eine höchsten Ansprüchen gerechtwerdende Verlagerungsgenauigkeit bei der Bewegung des Testers und der Niederhalteeinrichtung zu den zu prüfenden Leiterplatten erreicht, die gleichzeitig auch bei hohen Andruckkräften robust und störunanfällig ist.
  • Dabei ist nach einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung vorteilhaft vorgesehen, daß zwei parallel arbeitende Doppelschubkurbeln im Bereich der beiden verbundenen Säulen der beiden gegenüberliegenden Rahmenseiten, also jeweils im Antriebsbereich jedes Rahmens, angelenkt sind. Hiermit lassen sich außerordentlich hohe relative Positioniergenauigkeiten zwischen Tester und Leiterplatte erreichen, wobei in einfacher Weise ein einziger gestellfester Antriebsmotor für eine gestellgeführte Bewegung von Tester und Niederhalteeinrichtung sorgt, welcher vorzugsweise für Hubbewegungen wegsteuerbar bzw. schrittsteuerbar ist.
  • Die vorstehend erläuterte Vorrichtung zeichnet sich infolge ihrer konstruktiven Konzeption durch eine kompakt gestaltbare Baugröße aus, wobei durch eine präzise Vier-Säulen-Führung auch bei großen auf die Rahmen einwirkenden Kräfte, die Größenordnung von 3000 N und mehr (3 N pro Kontaktnadel) erreichen können, vorteilhaft kein Verkanten bei einseitiger Last auftritt. Die vorzugsweise weg- bzw. schrittgesteuerte Hubbewegung der Rahmen ermöglicht eine schnelle und individuelle Anpassung an die jeweiligen mechanischen Prüfbedingungen mit der Möglichkeit einer Fern- bzw. Rechnersteuerung, insbesondere zur Automatisierung für Fertigungslinien.
  • Im Hinblick auf die Prüfung unterschiedlich konfigurierter Leiterplatten ist es weiterhin günstig, wenn der Tester und die Niederhalteeinrichtung jeweils als prüflingspezifischer Wechseladapter in den zugehörigen Rahmen einschiebbar sind. Hierdurch ist ein schneller Austausch unter Einsatz von kostengünstig gestaltbaren Wechselsätzen möglich, wobei auch die Voraussetzungen für einen automatischen Adapterwechsel mittels Pater Noster oder vertikalen Magazin eröffnet werden.
  • Vorzugsweise ist jeder Wechseladapter lagerichtig am zugehörigen Rahmen verriegelbar, wobei bevorzugt zur Verriegelung ein fernbetätigbarer Spann- oder Schwenkriegel vorgesehen ist, der vorzugsweise über eine Kurbelwelle von Hand oder mit Stellmotor verschwenkbar ist. Damit kann für den oberen Wechseladapter vorteilhaft eine von vorn entriegelbare Rastmechanik verwirklicht werden, während für den eigentlichen Prüfwechseladapter zwecks Anschlusses an den rahmenfesten Kontaktnadeln aufweisenden Tester eine Spannmechanik mit manuellem oder motorisch betriebenem Kurbelantrieb realisiert werden kann.
  • Zur Durchführung der Prüfung selbst weist die Vorrichtung eine Bewegungssteuerung für die Transporteinrichtung auf, durch die die Bewegung der Transporteinrichtung nach Einführen der Leiterplatte in das Gestell und nach Erreichen der vorgesehenen exakten Prüfposition unterbrechbar ist. Hierdurch und unter Berücksichtigung der vorgenannten weiteren Merkmale ist die Vorrichtung automatisierbar.
  • Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile der Erfindung sind dem anschließenden Beschreibungsteil zu entnehmen, in dem die Erfindung unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert wird. Es zeigen:
  • 1 eine schematisierte Seitenansicht auf eine Ausbildungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten in Fertigungslinien, wobei eine zu prüfende elektronische Leiterplatte in eine passende Prüfposition eingefahren und angehalten ist;
  • 2 eine Ansicht ähnlich 1, wobei die als Gegenhalter ausgebildete Niederhalteeinrichtung und der Tester innerhalb des Gestells an die Leiterplatte bewegt sind und die Prüfung durchgeführt werden kann;
  • 3 eine Darstellung ähnlich 1, bei der durch Tester und Gegenhalter von der Leiterplatte wegbewegt und die Leiterplatte nach Entfernen des Anschlags aus dem Gestell nach außen transportiert wird;
  • 4 eine Seitenansicht auf die Vorrichtung, wobei die Transporteinrichtung nebst Anschlag und die Leiterplatte weggelassen sind;
  • 5 eine teilweise Schnittdarstellung durch das Gestell zur Verdeutlichung der Angriffsmechnik im offenen und kontaktieren Zustand;
  • 6 eine schematisierte Darstellung aus dem Bereich der hinteren Ecke eines oberen Wechseladapters zur Erläu terung einer Rastmechanik;
  • 7 eine Teilansicht des hinteren Bereichs des unteren Wechseladapters zur Darstellung einer Spannmechanik für die Schnittstelle mit rahmenseitigen Kontaktnadeln gemäß 4;
  • 8 eine teilgeschnittene schematisierte Darstellung eines manuellen Kurbelwellenantriebs für die Spannmechanik gemäß 7;
  • 9 eine schematisierte teilgeschnittene Ansicht zur Darstellung eines motorischen Kurbelwellenantriebs für die Spannmechanik gemäß 7;
  • 10 eine schamatisierte Seitenansicht auf eine gegenüber 1 modifizierte Ausbildungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten in Fertigungslinien;
  • 11 eine Ansicht ähnlich 10, wobei der Hubrahmen in seine Niederhaltestellung bewegt ist, bei der die Niederhaltedorne von oben auf der zu prüfenden Leiterplatte aufliegen; und
  • 12 eine Ansicht ähnlich 11, bei der die Druckplatte am Gestell arretiert ist und der Hubrahmen in die Prüfstellung abgesenkt ist, bei der die Leiterplatte durch einen oberen und unteren Wechselsatz bzw. Tester kontaktiert wird.
  • In den 1 bis 3 ist ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung 10 für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten 11 dargestellt, die sich besonders gut für den Einbau in Fertigungslinien eignet. Die Vorrichtung 10 besitzt ein Gestell 12, in dem bewegbar ein Tester 13 und als Niederhalteeinrichtung ein Gegenhalter 14 angeordnet sind. Der Tester 13 und/oder der Gegenhalter 14 sind als Wechseladapter ausgebildet, wie später noch erläutert wird.
  • Durch das Gestell 12 ist eine Transporteinrichtung 15 hindurchgeführt, die zum Transport der Leiterplatte 11 in das Innere des Gestells 12 an einen Anschlag 16 und nach Ende der Prüfung aus dem Gestell heraus dient. Zur Vereinfachung sind von der Transporteinrichtung 15 nur randseitige Transportbänder angedeutet, die über Umlenkrollen 17 derart geführt sind, daß zur leichten Auswechselbarkeit ein Bandrücklauf auf dem gleichen Weg geringfügig nach unten versetzt erfolgt. Ein Antrieb nebst Steuerung für die Transporteinrichtung 15 wurde aus Vereinfachungsgründen weggelassen.
  • Von dem Gestell 12 ist in den 1 bis 3 nur die obere Hälfte schematisiert dargestellt. Einzelheiten zum Antrieb werden später unter Bezugnahme auf die 4 und 5 näher erläutert. Die obere Hälfte des Gestells 12 weist einen Gegenhalterrahmen 18 auf, an dessen Unterseite Einschubführungen 19 und 20 zur Aufnahme des Gegenhalters 14 gebildet sind. Der Gegenhalter 14 selbst besitzt, wie in den 1 bis 3 schematisiert dargestellt, wenigstens zwei, in der Regel aber mehr gleichmäßig über die Oberfläche verteilte und mit einer Andruckfeder 21 versehene Andruckelemente 22, die, wie in 2 gezeigt, für die Prüfphase an der Oberseite der Leiterplatte 11 gegenhaltend angreifen.
  • Der Gegenhalterrahmen 18 ist im Bereich seiner vier Eckpunkte jeweils mit einer Führungssäule 23 versehen, die sich von dem dargestellten horizontalen Gegenhalterrahmen senkrecht nach unten zu dem in den 1 bis 3 dargestellten Antriebsbereich erstreckt.
  • Das Gestell 12 weist weiterhin einen unterhalb der Transporteinrichtung 15 angeordneten rechteckförmigen Testerrahmen 24 auf, auf dem Einschubführungen 25 und 26 zur Schubladen ähnlichen Aufnahme des Testers 13 angeordnet sind. Vom Tester 13 sind weiterhin schematisiert drei Kontaktnadeln 27 gezeigt, die gemäß 2 aufgrund ihrer entsprechenden Zuordnung an Kontaktpunkte der zu prüfenden Leiterplatte 11 angreifen. Die Leiterplatte 11 ist auf der Transporteinrichtung 15 nur randseitig gehalten, so daß eine Kontaktaufnahme zwischen Kontaktnadeln 27 und zugeordneten Kontaktpunkten möglich wird.
  • Der Testrahmen 24 besitzt im Bereich seiner vier Eckpunkte jeweils eine Hohlsäule 28, in der gleitend verschiebbar die zugeordnete Führungssäule 23 des Gegenhalterrahmens 18 angeordnet ist, wie in 5 gezeigt und noch näher erläutert wird. Auf dem Tester 13 ist weiterhin eine Antriebseinheit 29 für den Anschlag 16 befestigt, durch die der Anschlag 16 mittels einer nicht dargestellten Steuerung für das Positionieren der durch die Transporteinrichtung 15 in das Gestell bewegten Leiterplatte 11 in die Bewegungsbahnleiterplatte 11 vorgeschoben werden kann, bevor der Tester 13 zur Anlage gelangt.
  • In den 4 und 5 sind in Seitenansicht und teilweiser Schnittdarstellung nähere Einzelheiten der Vorrichtung 10, insbesondere bzgl. deren Antrieb, dargestellt.
  • Die Transporteinrichtung 15 ist in 4 zur Vereinfachung weggelassen und in 5 nur als strichpunktierte Linie gezeigt. Die in 4 gezeigte Stellung entspricht der in 1 oder 3, also einer Stellung, bei der der Gegenhalter und der Tester nicht an der Leiterplatte anliegen. Die Leiterplatte 11 wurde zur Vereinfachung in 4 ebenfalls weggelassen, in 5 jedoch strichpunktiert angedeutet. Der Gegenhalter 14 ist in die Einschubführung 19, 20 in eine positionsgenaue Stellung eingeschoben und wird in dieser durch eine in 6 noch näher zu erläuternde Rastmechanik gehalten. Der Tester 13 ist in die Einschubführungen 25 und 26 ebenfalls positionsgenau eingeschoben und wird durch eine in den 7 bis 9 näher erläuterter Spannmechanik exakt in seiner Stellung gehalten, wobei rückseiti ge Kontakte 31 sich in leitender Verbindung mit Andruckstiften 32 befinden, die an dem Testerrahmen 24 angeordnet sind und in nicht dargestellter Weise mit einer elektronischen Prüfeinrichtung verbunden sind.
  • Von dem Gestell 12 sind in 4 und 5 zwei ortsfeste Wälzlager (Kugelumlaufbuchsen) 32 gezeigt, die in einer ortsfesten Halteplatte 33 befestigt sind. Die Wälzlager 32 weisen Gleitführungen 34 auf, welche an die Umfangsfläche der Hohlsäule 28 angreifen. In gleicher Weise besitzen die Hohlsäulen 28 im Inneren Wälzlager 35 zur gleitenden Aufnahme und Führung der Führungssäulen 23, wie gut in 5 zu erkennen ist.
  • Für den Rahmen 18 ist unterhalb der Halteplatte 33 ein Antriebsbereich gebildet, bei dem zwei gegenüberliegende Führungssäulen 23 innenseitig durch eine Profilstange 37 und zwei gegenüberliegende Hohlsäulenenden 28 durch eine Profilstange 38 miteinander jeweils verbunden sind. Die Profilstangen 37 bzw. 38 erstrecken sich jeweils parallel zueinander und zu der Halteplatte 33 bzw. Transporteinrichtung 15.
  • Wie deutlich in 5 gezeigt, weisen die Profilstangen 37 jeweils zwei strichpunktiert angedeutete und nach außen weisende Gelenkbolzen 39 bzw. 40 auf, die im Bereich der unteren Befestigung der Führungssäulen 23 an der Profilstange 37 vorgesehen sind. An den Gelenkbolzen 39 sind Enden von Kurbeln 41 angelenkt, während an den Gelenkbolzen 40 Enden von Kurbeln 42 angelenkt sind. Die Kurbeln 41 bzw. 42 sind an dem anderen Ende exzentrisch an einer Welle zur Bildung einer Doppelschubkurbel 43 angelenkt, wobei, wie aus 4 ersichtlich, die Doppelschubkurbel 43 synchron angetrieben werden und wobei gemäß 5 gegenüberliegende Doppelschubkurbeln 43 über eine Welle 44 und nebeneinander an der Profilstange 37 angreifende Doppelschubkurbeln 43 über einen Zahnriemen 45 zur synchronen Bewegung miteinander verbunden sind.
  • An der Profilstange 38 sind nach innen weisende Gelenkbolzen 46 rechtwinklig vorgesehen und in Figur strichpunktiert angedeutet, an denen Kurbeln 47 angelenkt sind, deren anderes Ende an der Doppelschubkurbel 43 derart angelenkt ist, daß die Anlenkung der Kurbel 52 und die der Kurbel 47 mit gleicher Exzentrizität zu der Antriebswelle 44 und um einen Drehwinkel von 180° versetzt bzw. phasenverschoben vorgesehen ist. Die Antriebswelle 44, die die Doppelschubkurbeln 43 verbindet, die nicht an derselben Profilstange 37 bzw. 38 angelenkt sind, wird über einen Riemenantrieb 48 mittels eines einzigen Antriebsmotors 49 angetrieben. Dieser Antriebsmotor 49 dient somit zum synchronen Antrieb aller Doppelschubkurbeln 43. Dabei ist der Antriebsmotor 49 hub- bzw. weggesteuert.
  • In 5 sind zwei Stellungen der Vorrichtung erläutert. Auf der linken Seite von 5 befinden sich der Tester 13 und der Gegenhalter 14 einer von der Leiterplatte 11 beabstandeten Stellung, ähnlich 1 bzw. 3, während in der rechten Hälfte der 5 die Stellung des Testers 13 und des Gegenhalters 14 in der in 2 gezeigten Position mit der zugehörigen Stellung der Doppelschubkurbel 43 veranschaulicht.
  • 6 stellt schematisiert eine hintere Ecke eines Gegenhalters 14 dar, der als Wechseladapter ausgebildet ist. Wie bereits oben und insbesondere im Zusammenhang mit 4 erwähnt, ist eine Rastmechanik 30 vorgesehen, die einen federnd gelagerten Rasthebel 50 aufweist, der mit einer angeformten Rastnase eine Arretieranformung 31 an dem Gegenhalter 14 hintergreift, der sich seinerseits gegen einen federnden Andruckknopf 52 abstützt. Der Rasthebel 50 ist am Rahmen 18 schwenkbar gelagert und wird durch einen Kipphebel 53 beaufschlagt, der ebenfalls an dem Rahmen 18 schwenkbar gelagert ist und über eine Zugfeder 54 gegen einen Betätigungsbolzen 55 vorgespannt ist, welcher in einen von außen, insbesondere von vorne, betätigbaren Druckknopf 56 mündet. Über den Druckknopf 56 kann bei Hineinbewegen des Bolzens 55 der Rasthebel 50 aus seiner Eingriffstellung, durch die er mittels einer Druckfeder 57 vorgespannt gehalten ist, herausgeschwenkt werden, um den als Wechseladapter ausgebildeten Gegenhalter 14 aus der Verriegelungsstellung freizugeben.
  • 7 zeigt eine Teilansicht des hinteren Bereichs des als Wechseladapter ausgebildeten Testers 13 und dient zur Erläuterung einer zugehörigen spannenden Rastmechanik 58. Die Rastmechanik 58 weist einen am Rahmen 24 schwenkbar gelagerten Arretierhebel 59 auf, der in 7 in seiner Arretierstellung mit ausgezogener Linie und in seiner Freigabestellung strichpunktiert dargestellt ist. Für die Rückseite jedes Wechseladapters ist ein derartiger Arretierhebel 59 vorgesehen, wobei beide Arretierhebel über eine Stange 60 miteinander verbunden sind, die am anderen Ende der Arretierhebel befestigt ist. Die Stange 60 greift in eine Einführ- und Halteaufnahme 61 ein, die einen sich verjüngenden Einführbereich und eine dem Durchmesser der Stange 60 entsprechenden Haltebereich aufweist.
  • Betätigt wird der Arretierhebel 59 durch eine angelenkte Kurbel 62, die exzentrisch an eine Kurbelwelle 64 angreift, deren Kurbelwellenachse 64 entweder gemäß 8 manuell über eine Schubstange mit einer Spindel 65, die mit einer Handkurbel 66 verbunden ist, oder gemäß 9 mittels einer Schubstange 67, die mit einem Spindelmotor 68 im Gewindeeingriff ist, zum Eingriff bzw. Ausgriff des Arretierhebels 59 über eine weitere an der Welle 64 angreifenden Kurbel 69 bewegbar ist.
  • Die einzelnen Betriebsstellungen der Vorrichtung 10 sind im wesentlichen in den 1 bis 3 erläutert. Eine Leiterplatte wird mit seitlichem Angriff auf eine Transporteinrichtung 15 aufgelegt und durch diese bis in die in 1 gezeigte Stellung ins Innere des Gestells 12 ohne Änderung der Transportebene gegen einen Anschlag 16 transportiert, wobei nach Erreichen des Anschlags 16 die Transportbewegung unterbrochen wird. Anschließend werden gleichzeitig der Gegenhalter 14 und der Tester 13 von oben bzw. unten an die zugängliche Leiterplatte 11 gleichmäßig her anbewegt, und die vorgesehenen Teste der Leiterplatte können in dieser Stellung gemäß 2 durchgeführt werden. Sobald alle Teste abgeschlossen sind, entfernen sich der Gegenhalter 14 und der Tester 13 mit dem nunmehr eingefahrenen Anschlag 16 von der Leiterplatte 11, und die Transporteinrichtung 15 wird wieder in Betrieb gesetzt, um die Leiterplatte 11 aus dem Gestell herauszubewegen.
  • Weiterhin besteht bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung auch die Möglichkeit einer zweiseitigen Kontaktierung von bestückten oder unbestückten Leiterplatten, wenn in dem Gegenhalter ein Tester integriert ist. In diesem Fall sitzen zwischen den gefederten Andruckelementen 22 noch Kontaktnadeln, die die Leiterplatte von oben kontaktieren, wobei wiederum eine elektrische Übertragung an die Schnittstelle des unteren Adapters mittels Kontaktnadeln an einen außerhalb der Prüffläche liegenden Übergabeblock erfolgt.
  • Die Voraussetzungen für einen Funktionstest werden dadurch realisiert, daß durch den weggesteuerten Antriebsmotor der untere und der obere Adapter so weit vom Prüfling entfernt werden, daß die für den In-Circuit-Test notwendigen kurzhubigen Kontaktnadeln vom Prüfling abgehoben sind und nur noch für den Funktionstest nötige langhubige Kontaktnadeln den Prüfling kontaktieren.
  • In den 10 bis 12 ist eine modifizierte Ausbildungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten in Fertigungslinien dargestellt, bei der gegenüber dem zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiel eine abgewandelte Niederhalteeinrichtung 80 statt des Gegenhalters 14 und der mit Andruckfedern 21 versehenen Andruckelemente 22 vorgesehen ist. Zur Vereinfachung wurden alle sonstigen Bezugszeichen für beibehaltene Bauteile übernommen, und zur Vermeidung von Wiederholungen wird insoweit auf die obigen Ausführungen verwiesen.
  • Die Niederhalteeinrichtung 80 besitzt einen relativ zum Gestell 12 bewegbaren Hubrahmen 81, an dem eine Druckplatte 82 sowie in Form eines Wechselsatzes eine Niederhalte-Führungsplatte 83 und ein Tester 84 gelagert sind. Der Hubrahmen 81 ist wie der Rahmen 18 im ersten Ausführungsbeispiel in seinen Eckpunkten an Führungsstangen 23 befestigt und in vertikaler Richtung wie beim ersten Ausführungsbeispiel dargestellt auf und ab bewegbar dargestellt.
  • Auf der Druckplatte 82 sind jeweils an der vorderen und hinteren Kante Balken 85 befestigt, von den in den Figuren nur der vordere Balken zu sehen ist. Mit den Balken 85 liegt die Druckplatte 82 unbefestigt auf dem Hubrahmen 81 auf. An den Balkenenden sind mittels einer Feder 86 nach außen vorgespannte Klinken 87 verschiebbar gelagert, die einen Eingriffsabschnitt 88 für eine am Hubrahmen 81 befestigte Kulisse 89 aufweisen. Mittels der Kulisse 89 wird bei einer relativen Bewegung des Hubrahmens 81 zu dem Balken 85 ein seitliches Ein- bzw. Ausrücken der Klinke 87 erreicht. Dies erfolgt gemäß den 11 und 12 bei einer Abwärtsbewegung des Hubrahmens 81 dann, wenn die außenseitige Unterkante des Balkenendes 85 auf eine gestellfeste Aufliegertraverse 90, wie in 11 gezeigt, zur Auflage gelangt, und damit eine weitere Abwärtsbewegung der Druckplatte 82 gemeinsam mit dem Hubrahmen 81 begrenzt. Wenn sich nun der Hubrahmen 81 aus der in 11 gezeigten Stellung in die in 12 gezeigte Stellung bewegt, gibt die Kulisse 89 die Auswärtsbewegung der Klinken 87 zwecks Verriegelung an der gestellfesten Auflegertraverse 90 frei, und die Druckplatte 82 wird damit in der Niederhaltestellung gestellfest verriegelt positioniert.
  • In der Niederhalter-Führungsplatte 83 sind Niederhaltedorne 91 in passenden Bohrungen hängend gelagert, wobei die Niederhaltedorne 91 Köpfe 92 aufweisen, mit denen sie auf der Niederhalter-Führungsplatte 83 aufliegen und über die sie seitens der Druckplatte 82 beaufschlagbar sind. Der in den 10 bis 12 dargestellte Bewegungsablauf zeigt, daß die Niederhaltedorne 91 bereits den Prüfling 11 niederhalten, ehe an dem Tester 84 angeordnete Prüfelemente 93 jeweils freiliegende Kontaktpunkte auf der Leiterplatte 11 erreichen.
  • Abweichend zu dem zuvor dargestellten Ausführungsbeispiel sind weiterhin an dem unteren Tester 13 randseitige Positionierstifte 94 angeordnet, die, wie die 2 und 3 zeigen, in passende Positionieröffnungen der Leiterplatte 11 während des Prüfvorgangs zur weiteren Lagesicherung der Leiterplatte 11 eingreifen. Alle übrigen funktionelle Merkmale und auch der Ablauf der Prüfung selbst entsprechen dem zuvor beschriebenen ersten Ausführungsbeispiel.

Claims (15)

  1. Vorrichtung für die Handhabung von zu prüfenden elektronischen Leiterplatten, insbesondere in Fertigungslinien, bestehend aus: einem Gestell (12), einer Transporteinrichtung (15), mittels der zu prüfende Leiterplatten (11) mit zugänglichen Prüfpunkten geradlinig durch das Gestell (12) hindurchführbar sind, und aus einer innerhalb des Gestells (12) angeordneten Prüfeinrichtung mit einem an die Unterseite der Leiterplatte (11) zur Kontaktierung von Prüfpunkten bewegbaren Tester (13) und einer gleichzeitig an die Oberseite der Leiterplatte (11) bewegbaren Niederhalteeinrichtung (14, 80), dadurch gekennzeichnet, dass der Tester (13) und die Niederhalteeinrichtung (14, 80) mittels einer Schubkurbeleinrichtung (43) zu der von der Transporteinrichtung (15) in dem Gestell (12) gehaltenen Leiterplatte (11) hin- und von dieser wegbewegbar sind, wobei die Schubkurbeleinrichtung (43) wenigstens eine Doppelschubkurbel (43) mit um 180° versetzten Kurbeln (41, 42, 47) aufweist, wobei eine Kurbel (47) an den Tester (13) und die andere Kurbel (41, 42) an die Niederhalteeinrichtung (14, 80) angreift.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass auch die Niederhalteeinrichtung (14, 80) einen Tester für das gleichzeitige oberseitige Kontaktieren von Prüfpunkten der Leiterplatte (11) aufweist.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Niederhalteeinrichtung (80) einen relativ zum Gestell (12) bewegbaren Hubrahmen (81) aufweist, an dem eine in Niederhaltestellung positionierbare und den Niederhalter (91) beaufschlagende Druckplatte (82) und eine Niederhalter-Führungsplatte (83) sowie ein Tester (84) gelagert sind.
  4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Druckplatte (82) zur Positionierung am Gestell (12) über Klinken (87) verriegelbar ist.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass an der Druckplatte (82) gefederte Klinken (87) angeordnet sind, die jeweils durch eine am Hubrahmen (81) angeordnete Steuerkulisse (89) betätigbar sind.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass jede Klinke (87) pneumatisch oder elektrisch betätigbar ist.
  7. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Tester (13) und die Niederhalteeinrichtung (14, 80) jeweils einen relativ zum Gestell (12) bewegbaren Rahmen (18, 24, 81) aufweisen, auf den jeweils die Bewegung der Schubkurbeln übertragbar ist.
  8. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass jeder Rahmen (18, 24, 81) rechteckförmig ausgebildet ist und im Bereich seiner vier Ecken säulenförmige Führungselemente aufweist, wobei jeweils im Antriebsbereich jedes Rahmens (18, 24) zwei Führungselemente gegenüberliegender Seiten desselben verbunden sind, und wobei Führungselemente des Rahmens (18, 81) der Niederhalteeinrichtung (14, 80) als massive Führungsstangen (23) und Führungselemente des Testerrahmens (24) als gestellgeführte Hohlsäulen (28) ausgebildet sind, in denen jeweils die zugeordneten Führungsstangen (23) des Rahmens (18, 81) mit kongruenter Längssymmetrieachse verschiebbar gelagert sind.
  9. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zwei parallel arbeitende Doppelschubkurbeln (43) vorgesehen sind, die jeweils im Bereich der beiden verbundenen Säulen der beiden gegenüberliegenden Rahmenseiten angelenkt sind.
  10. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Tester (13) und die Niederhalteeinrichtung (14, 80) durch einen gemeinsamen gestellfesten Antriebsmotor (49) gestellgeführt bewegbar sind.
  11. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Antriebsmotor (49) für Hubbewegungen wegsteuerbar ist.
  12. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Tester (13) und die Niederhalteeinrichtung (14, 80) jeweils als prüflingspezifischer Wechseladapter in den zugehörigen Rahmen einschiebbar sind.
  13. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass jeder Wechseladapter lagerichtig am zugehörigen Rahmen (14, 24, 81) verriegelbar ist.
  14. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass zur Verriegelung ein fernbetätigbarer Spann- oder Schwenkriegel (59, 50) vorgesehen ist.
  15. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Steuerungseinrichtung für die Transporteinrichtung (15).
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