DE896417C - Verfahren zum Ermitteln der Lage und Groesse von Massabweichungen an langgestreckten Prueflingen - Google Patents

Description

• Die Erfindung betrifft ein Verfahren, mittels dessen auf schnellem Wege die Lage und Größe von Maßabweichungen lan langgestreckten Prüflingen, insbesondere rohrförmiger Gestalt, ermittelt werden kann. Es handelt sich dabei um ein Verfahren, bei welchem der Prüfling und die ihn abtastende Meßlehre relativ zueinander verschoben werden, wie dies an sich bekannt ist. Bei der Anwendung eines gewöhnlichen Zeigerinstrumentes erhält man hei den bekannten Verfahren lediglich einen kurzzeitigen Ausschlag des auf den Nullwert eingestellten Meßinstrumentes, so daß Lage und Größe der Maßabweichungen nur schwer zu beobachten sind.
• Nach der Erfindung wird als Indikator ein Kathodenstrahloszillograph verwandt, an dessen Zeitplatten eine Gleichspannung liegt, die von einem durch die Verschiebung der Lehre bzw. des Prüflings gesteuerten Potentiometer geliefert wird, während den Meßplatten die Brückenspannung einer mit der Meßlehre verbundenen Wechselstrombrücke zugeführt wird. Wird nun beispielsweise der Prüfling gegenüber der Meßlehre mit gleichförmiger Geschwindigkeit verschoben, so wird auch der infolge der Wechselspannung an den Meßplatten in senkrechter Richtung schwingende Meßpunkt auf dem Schirm des Kathodenstrahloszillographen seitlich verschoben, so daß sich auf dem Schirmbild die Hüllkurve des mit der Frequenz der Wechselspannung schwingenden Meßpunktes abzeichnet. Ist der Prüfling einwandfrei, so werden die Begrenzungen der sich flächenmäßig darstellenden Hüllkurve praktisch geradlinig sein, während an den Stellen einer Maß abweichung eine mehr oder minder scharfe Deformation der Hüllkurve festzustellen ist. Das mit der Verschiebung gesteuerte Potentiometer kann unmittelbar in Längeneinheiten des Prüflings geeicht sein, so daß an der Stellung des Angriffs unmittelbar die Stelle der Maß abweichung feststellbar ist. Bei Anwendung eines nachleuchtenden - Schirmes am Oszillographen ist außerdem ohne weiteres ein Urteil über die Größe der Maß abweichung möglich, so daß die ausgleichende Bearbeitung sofort an den Meßvorgang angeschlossen werden kann.
• Das Wesen der Erfindung ist an Hand der Zeichnung erläutert.
• Nach Fig. I ist der rohrförmige Prüfling I auf einer ebenen Unterlage mittels Rollen 2 verschieblich gelagert. Ein mit ihm verbundenes, über eine Rolle 3 geführtes Gewicht 4 setzt mit der Rolle den Abgriff 5 eines Potentiometerwiderstandes 6 in Bewegung. Die Abtastung des Prüflings erfolgt mittels eines in das Innere des rohrförmigen Prüflings eingeführten Tasthebels 7, der mit dem zwischen zwei Induktionsspulen 8 und 9 beweglich angeordneten Anker in der Meßlehre verbunden ist.
• Fig. 2 zeigt die Schaltung der Anordnung nach Fig. I. Das Potentiometer 6 liegt mit seinem einen Anschluß sowie dem beweglichen Abgriff 5 an den ZeitplattenZ des OszillographenII. Die an dieMeßplatten M anzulegende Meßspannung wird über einen Verstärker I2 von den in einer Wechselstrombrücke liegenden Induktionsspulen 8 und 9 der Meßlehre geliefert. Der Leuchtschirm des Oszillographen ist als Nachleuchtschirm ausgebildet.

Claims (1)

1. PATENTANSPRI, CHE I. Verfahren zum Ermitteln der Lage und Größe von Maßabweichungen an langgestreckten Prüflingen mit relativ zur Meßlehre verschobenem Prüfling, dadurch gekennzeichnet, daß den Zeitplatten eines Kathodenstrahloszillographen die von einem durch die Bewegung der Lehre bzw. des Prüflings gesteuerten Potentiometer gelieferte Gleichspannung und den Me& platten die Brückenspannung einer mit der Meßlehre verbundenen Wechselstrombrücke zugeführt wird. -2. Verfahren nach Anspruch I, gekennzeichnet durch die Verwendung eines nachleuchtenden Schirmes am Oszillographen.