DE756332C - Elektronenmikroskop mit magnetischen Linsen, insbesondere fuer hohe Vergroesserungen - Google Patents

Elektronenmikroskop mit magnetischen Linsen, insbesondere fuer hohe Vergroesserungen

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DE756332C
DE756332C DEL97513D DEL0097513D DE756332C DE 756332 C DE756332 C DE 756332C DE L97513 D DEL97513 D DE L97513D DE L0097513 D DEL0097513 D DE L0097513D DE 756332 C DE756332 C DE 756332C
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Germany
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electron microscope
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electron
magnetic
lens
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Expired
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DEL97513D
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English (en)
Inventor
Hans Dr-Ing Mahl
Adolf Dipl-Ing Pendzich
Eberhard Dr Phil Steudel
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AEG AG
Original Assignee
AEG AG
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

  • Elektronenmikroskop mit magnetischen Linsen, insbesondere für hohe Vergrößerungen Die vorliegende Anordnung betrifft Elektronenmikroskope mit magnetischen und gegebenenfalls zusätzlichen, elektrischen Linsen, vorzugsweise zur Untersuchung empfindlicher Objekte. Es ist bekannt, im Elektronenmikroskop Objekte mit Hilfe der Durchstrahlungsmethode abzubilden. Dabei bestehen Schwierigkeiten insofern, als die Objekte vielfach empfindlich sind und infolgedessen, keinen zu hohen Strömen ausgesetzt werden dürfen, sei es, daß sonst kein genügender Ausgleich dar Ladungen: stattfinden kann und die Objekte durch elektrostatische Kräfte zerstört werden, sei es, daß die durch die Strahlungen bewirkte Erwärmung infolge unzureichender Wärmeableitung das Objekt beschädigt. In diesen und anderen Fällen, bei denen eine zu hohe Intensität des abbildenden Elektronenstromes nicht erzielt werden kann, müssen zum Ausgleich die Belichtungszeiten bei der Aufnahme auf photographische Platten oder aber die Beobachtungszeiten bei der visuellen Auswertung der Leuchtschirmbilder entsprechend erhöht werden.. Lange Belichtungszeiten erfordern aber beim magnetischen Mikroskop die Ausschaltung von Spannungsschwankungen jeglicher Art. Die Stabilisierung der Spannung ist aber besonders bei Elektronenmikroskopen hoher Vergrößerung, die bekanntlich mit ziemlich hohen Spannungen von einigen io kV arbeiten, wegen der nicht unbeträchtlichen Ströme mit erheblichen Schwierigkeiten Verknüpft.
  • Bei einem Elektronenmikroskop mit magnetischen und gegebenenfalls zusätzlichen elektrischen Linsen, insbesondere für hohe Vergrößerungen, vorzugsweise zur Untersuchung empfindlicher Objekte, dienen erfindungsgemäß zur Untersuchung der Objekte Elektronen einer solchen Quelle, deren Energieverteilung eine Halbwertsbreite von einigen Volt' oder. mehr hat, außerdem durchsetzt der dieser Quelle entströmende Elektronenstrahl vor dem Auftreffen auf das Objekt einen Monochromator. Unter Halbwertsbreite ist dabei derjenigeTeil des Geschwindigkeits-# spektrums-@.-der #-Emission.-zu..lersteh,en, der alle Elektronen umfaßt, deren Häufigkeit über 5o°/o der Maximalhäufigkeit liegt. Die Breite der Energieverteilung wird dabei zweckmäßig so gewählt, daß sie den absoluten Schwankungen der Hochspannung entspricht, die unter Umständen ziemlich hoch sein, z. B. ioo V oder mehr betragen können. Wenn daher von einigen Volt als der Mindestbreite gesprochen ist, so ist damit eine untere Grenze bezeichnet, die in praktischen Fällen ' n ' ht _ unterschritten wird, während im allgemeinen eine wesentlich breitere Verteilung erforderlich ist.
  • Die Erfindung sei näher erläutert an Hand der Abbildungen, in denen Ausführungsbeispiele schematisch dargestellt sind. In Abb. i -bedeutet i die Kathode. Die von ihr ausgehenden Elektronen werden durch eine Anodenblende 2 beschleunigt und durch ein zur Zeichenebene senkrecht stehendes Magnetfeld, dessen Begrenzung durch 3 angedeutet ist, zu einem Halbkreis gebogen, so daß sie die Blende q. durchlaufen können. Bei 5 kann eine weitere Blende angeordnet sein. G stellt die erste magnetische Linse dar, die einen U-förmigen Querschnitt hat. Die Schenkel des U sind durch polschuhartige Rohre geschlossen, die der Elektronenstrahl durchsetzt. Das Objekt befindet sich bei 7 in der Nähe der Polschuhe, also am Ort der höchsten magnetischen Feldstärke. Zur Erzeugung des Magnetfeldes können entweder die Schenkel des U-förmigen Kernes mit Stromwicklungen versehen sein; man kann aber auch einen permanenten Magneten 8 aus einem Stahl von hoher Koerzitivkraft und Remanenz in den Kreis einschalten. Durch die Stärke des Magneten 8 und die Wahl des Nebenschlusses 9 läßt sich das Linsenfeld einstellen. Die zweite Linse, die als elektrische Linse ausgebildet ist, ist durch drei Elektroden io, ii und 12 angedeutet, die unter Umständen von einer konstanten Spannungsquelle niedriger Leistung gespeist werden. Zweckmäßig ist es allerdings, auch die zweite und etwaiz#: %v-itere Linsen als magnetische Linsen auszubilden. Das Elektronenbild entstLlit dann in der Ebene 13, in der ein Leuchtschirm oder eine photographische Platte angebracht ist.
  • L=m bei der I-Iotrogenisierttng und bei der magnetischen Abbildung von Spannungsschwankungen unabhängig zu sein, ist es zweckmäßig, sowohl das Magnetfeld 3 als auch die Linsenfelder durch permanente Magnete herzustellen. Anderenfalls müßte für die Speisung der die Magnetfelder erzeugenden Spulen eine konstante Spannungsquelle vorgesehen sein, wenn man nicht die Magnetisierungsströme für die Spulen und für das monochromatisierende Magnetfeld in der Weise voneinander abhängig machen will, daß bei Starkwerden des Homogenisierungsfeldes (Ansteigen der Elektronenenergie) auch die Brechkraft der Linsen entsprechend steigt.
  • Um eine genügend breite Energieverteilung der von der Kathode i ausgehenden und durch die Anode 2 gelangenden Elektronen zu erzielen, kann man bei Verwendung einer Glühkathode dieser eine Bremsfolie, z. B. aus Aluminium, vorsetzen. Zwar werden die meisten Elektronen durch die Folie hindurchgelangen, doch -erfahren sie Energieverluste verschiedenen Ausmaßes, so daß aus dem aus der Kathode austretenden Strahl, der für die vorliegenden Zwecke als praktisch homogen anzusehen ist (Halbwertsbreite der Energieverteilung in der Größenordnung von o, i V), ein-Strahl von sehr breiter Energieverteilung wird. Diese Folie liegt zweckmäßig auf Anodenspannung und kann beispielsweise auf der blendenförmig ausgestalteten Anode aufliegen. Eine andere Möglichkeit zur Erzeugung einer genügend breiten Energieverteilung ist die, daß man der Kathode geöenüber der Anode und den übrigen Teilen des Mikroskopes eine hochfrequente Vorspannung von einer Amplitude von beispielsweise 5o oder ioo V erteilt, derart, daß durch die Anode Strahlen gelangen, deren Energie in dem entsprechenden Ausmaße schwankt. Von den i% eiteren Möglichkeiten, eine breite Energieverteilung zu erzielen, sei schließlich noch die genannt, als Elektronenquelle eine Gasentladung zu verwenden. Durch die Blende .# gelangt dann infolge der Wirkung des transversalen L%Zagnetfeldes stets nur ein Elektronenstrom von wohldefinierter Geschwindigkeit. Durch die breite Energieverteilung des Elektronenstromes ist dafür gesorgt, daß bei allen Schwankungen der Hochspannung Elektronen der zu verwendenden Geschwindigkeit zur Verfügung stehen.
  • Die Homogenisierung des Elektronenstrahles läßt sich auch, wie dies in den Abb.2 und 3 dargestellt ist, auf andere Weise durchführen. In Abb. 2 ist mit i die Kathode bezeichnet, der eine elektrische Lins aus den Blenden 14, 15 und 16 vorgelagert ist und der mindestens noch eine magnetische Linse folgt. Im Brennpunkt dieser Linse befindet sich eine Blende 17 mit enger Öffnung, die nur diejenigen; Strahlen hindurchtäßt, deren Brennpunkt in ihrer Öffnung liegt. Von den Strahlen anderer Geschwindigkeiten wird nur ein geringer Bruchteil, nämlich die auf der Achse verlaufenden, hindurchgelassen. hm auch diese abzufangen, kann eine ringförmige Blende i9 in an sich bekannter Weise vorgesehen sein. Um die für die vorliegenden Zwecke erforderliche Konstanz der Brennweite der elektrischen Linse zu erzielen, kann man beispielsweise so vorgehen, daß man an die Blende 14 die Anodenspannung legt, während die Blenden 15 und 16 an einer konstanten, unter Umständen nur kleinen Spannung liegen. Eine derartige konstante Spannung läßt sich für diese Blenden deswegen leicht herstellen, weil diese Spannung praktisch nicht belastet wird. Um einen Durchgriff des Feldes der auf - schwankendem Potential liegenden Blende 14 auf das Linsenfeld zu vermeiden, kann man beispielsweise ein Netz geringen Durchgriffs oder eine Folie zwischenschalten. Es ist auch möglich, durch eine zweite an Hochspannung liegende Elektrode eine Kompensation zu erreichen.
  • In Abb. 3 ist schließlich derselbe Fall gezeichnet, bei dem statt einer elektrischen Linse eine magnetischeLinse verwendet wird. Diese ist mit 18 bezeichnet und kann als -Spule oder aber als Permanentmagnet ausgebildet sein. Sind Schwankungen des Spulenstromes zu befürchten, so kann eine Kompensation dieses Stromes mit dem der abbildenden Linsen erfolgen, wie dies schon an Hand der Abb. i erwähnt wurde. Auch hier liegt im Brennpunkt der Linse eine enge Blende 17. Ebenso kann auch hier eine zentrale Blende ig zum Abfangen der Achsenstrahlen vorgesehen sein.

Claims (9)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Elektronenmikroskop mit magnetischen und gegebenenfalls zusätzlichen elektrischen Linsen, insbesondere für hohe Vergrößerungen, vorzugsweise zur Untersuchung empfindlicher Objekte, dadurch gekennzeichnet, daß zur Untersuchung der Objekte Elektronen einer solchen Quelle dienen, deren Energieverteilung eine Halbwertsbreite von einigen Volt oder mehr hat, und daß der dieser Quelle entstammende Elektronenstrahl vor dem Auftreffen auf das Objekt einen lfonochromator durchsetzt.
  2. 2. Elektronenmikroskop nach An-Spruch i, dadurch gekennzeichnet, daß als Elektronenquelle eine Gasentladung dient.
  3. 3. Elektronenmikroskop nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß als Elektronenquelle eine Glühkathode dient und daß Mittel vorgesehen sind, um deren Energieverteilung künstlich zu verbreitern. q..
  4. Elektronenmikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Glühkathode- an einer hochfrequent gesteuerten Vorspannung gegen die Anode liegt.
  5. 5. Elektronenmikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Glühkathode eine Bremsfolie vorgelagert ist.
  6. 6. Elektronenmikroskop nach Anspruch i oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß als magnetische Linsen Permanentmagnete dienen.
  7. 7. Elektronenmikroskop nach Anspruch i oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß als Monochromator eine elektrische oder magnetische Linse von konstanten Eigenschaften unter Ausnutzung ihres chromatischen Fehlers dient. B.
  8. Elektronenmikroskop nach Anspruch i bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß als Monochromator ein zum Strahl transversales, vorzugsweise von einem Permanentmagneten erzeugtes Magnetfeld dient.
  9. 9. Elektronenmikroskop nach Anspruch 7 oder B mit elektromagnetischen Linsen, dadurch gekennzeichnet, daß der mit schwankender Spannung oder schwankendem Strom betriebene Monochromator und die Linse derart miteinander gekoppelt sind, daß bei Änderung der Monochromatoreigenschaft eine entsprechende Änderung der Linsenfeldstärke erfolgt. Zur Abgrenzung des Erfindungsgegenstands vom Stand der Technik sind im Erteilungsverfahren folgende Druckschriften in Betracht gezogen worden: _ Österreichische Patentschrift N r. 137 (-)11; Annalen der Physik, Bd. 12, 1932, S. 638 und 639.
DEL97513D 1939-03-23 1939-03-23 Elektronenmikroskop mit magnetischen Linsen, insbesondere fuer hohe Vergroesserungen Expired DE756332C (de)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT137611B (de) * 1931-05-30 1934-05-25 Siemens Ag Einrichtung zum Abbilden von Gegenständen.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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AT137611B (de) * 1931-05-30 1934-05-25 Siemens Ag Einrichtung zum Abbilden von Gegenständen.

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