DE756093C - Verfahren zur Messung des Resonanzwiderstandes von in ihrer Eigenfrequenz schwingenden Piezokristallen, insbesondere Schwingquarzen niedriger Frequenz - Google Patents
Verfahren zur Messung des Resonanzwiderstandes von in ihrer Eigenfrequenz schwingenden Piezokristallen, insbesondere Schwingquarzen niedriger FrequenzInfo
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Description
- Die bekannten Verfahren und Anordnungen zur Messung des Resonanzwiderstandes von Piezokristallen haben den Nachteil, daß sie nicht in Generatorschaltungen anwendbar sind, ohne daß die Schwingungen der in ihrer Eigenfrequenz schwingenden Piezokristalle unterbrochen werden müssen. Die Erfindung hat sich die Aufgabe gestellt, die Messung des Resonanzwiderstandes von Piezokristallen, insbesondere von Schwingquarzen niedriger Frequenz, so auszubilden, daß der Resonanzwiderstand des in seiner Eigenfrequenz schwingenden Kristalls gemessen werden kann, ohne daß die Schwingung unterbrochen wird. Dadurch wird die dauernde Kontrolle des Widerstandes von schwingenden Kristallen ermöglicht.
- Gemäß der Erfindung werden bei dem zu untersuchenden Kristall, der in einer Rückkopplungsschaltung in seiner Eigen frequenz schwingt und als Längswiderstand zwischen zwei Quenviderstände geschaltet ist, die Spannungen der beiden Elektroden gegen Erde bzw. das Verhältnis dieser Spannungen und hieraus der Resonanzwiderstand bestimmt.
- Die Erfindung wird an Hand der Fig. I und 2 näher erläutert. In Fig. 1 ist eine übliche Generatorschaltung mit der Generatorröhre V und mit einem Schwingkristall schematisch dargestellt, wobei lediglich die zum Verständnis der Erfindung erforderlichen Teile eingezeichnet sind. Der Kristall ist als Längswiderstand RQ zwischen zwei Querwiderstände Ra und Rg geschaltet. Diese Querwiderstände sind in den meisten Generatorschaltungen an sich bereits vorhanden. Sollte dies nicht der Fall sein, so können sie ohne besondere Schwierigkeiten in die Schaltung eingeführt werden. Das Verhältnis der Spannungen Ua und Uy kann nun als Maß für die Bestimmung des Resonanzwiderstandes Anwendung finden. Es ist nämlich Rg Ua Rg RQ Da die Größe Rg bekannt ist, läßt sich aus dem Spannungsverhältnis vs der Resonanz-Ua widerstand bestimmen.
- Zur Bestimmung des Resonanzwiderstandes bedient man sich mit Vorteil der in der Fig. 2 schematisch angegebenen Anordnung. Der geeichte Spannungsteiler P ist mittels des Schalters S abwechselnd zwischen die eine Kristallelektrode und Erde und zwischen die andere Kristallelektrode und Erde schaltbar. Das Anzeigeinstrument, beispielweise ein Richtspannungszeiger RZ, ist mit einem verschiebbaren Abgriff PA an den Spannungsteiler angeschaltet. In den beiden Meßstellungen I und II kann nun mit Hilfe des verschiebbaren Abgriffes am Instrument des Richtspannungszeigers auf gleichen Ausschlag, der beispielsweise der Richtspannung Ugl entspricht, eingeregelt werden. Aus dem Unterschied in der Stellung des Spannungsteilers ergibt sich das Ug gesuchte Spannungsverhältnis Ua aus dem dann der Resonanzwiderstand bestimmt werden kann. Statt des dargestellten Anzeigeinstrumentes können beliebige andere Vorrichtungen mit ähnlicher Wirkungsweise benutzt werden. Beispielsweise könnten mit Vorteil auch Abstimmanzeigeröhren, Braunsche Röhren od. dgl. verwendet werden. pATENTANSPRc'CHE: I. Verfahren zur Messung des Resonanzwiderstandes von in ihrer Eigenfrequenz schwingenden Piezokristallen, insbesondere Schwingquarzen niedriger Frequenz, dadurch gekennzeichnet, daß bei dem zu untersuchenden Kristall, der in einer Rückkopplungsschaltung in seiner Eigenfrequenz schwingt und als Längswiderstand zwischen zwei Querwiderstände geschaltet ist, die Spannungen der beiden Elektroden gegen Erde bzw. das Verhältnis dieser Spannungen und hieraus der Resonanzwiderstand bestimmt wird.
Claims (1)
- 2. Anordnung zur Ausübung des Verfahrens nach Anspruch I, gekennzeichnet durch einen geeichten Spannungsteiler, der abwechselnd zwischen die eine Kristallelektrode und Erde und zwischen die andere Kristallelektrode und Erde schaltbar ist und an den das Anzeigeinstrument mit einem verschiebbaren Abgriff angeschaltet ist, so daß in beiden Meßstellungen des Spannungsteilers auf gleichen Instrumentenausschlag eingestellt werden kann.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES150638D DE756093C (de) | 1942-05-30 | 1942-05-30 | Verfahren zur Messung des Resonanzwiderstandes von in ihrer Eigenfrequenz schwingenden Piezokristallen, insbesondere Schwingquarzen niedriger Frequenz |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DES150638D DE756093C (de) | 1942-05-30 | 1942-05-30 | Verfahren zur Messung des Resonanzwiderstandes von in ihrer Eigenfrequenz schwingenden Piezokristallen, insbesondere Schwingquarzen niedriger Frequenz |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE756093C true DE756093C (de) | 1953-07-06 |
Family
ID=7542693
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES150638D Expired DE756093C (de) | 1942-05-30 | 1942-05-30 | Verfahren zur Messung des Resonanzwiderstandes von in ihrer Eigenfrequenz schwingenden Piezokristallen, insbesondere Schwingquarzen niedriger Frequenz |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE756093C (de) |
-
1942
- 1942-05-30 DE DES150638D patent/DE756093C/de not_active Expired
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