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HINTERGRUND
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Die vorliegende Erfindung betrifft
allgemein integrierte PIN-Ansteuerungsschaltungen, und insbesondere
eine integrierte PIN-Ansteuerungsschaltungsarchitektur mit hoher
Geschwindigkeit, die für kommerzielle
Anwendungen in automatischen Testgeräten (ATE) geeignet ist, um
CMOS, TTL, ECL, niederpeglige Differentialschnittstellen, wie Differentialfeldeffekttransistoren
(DFET) GaAs-Schnittstellen und niederpeglige CMOS (LVCMOS) Schnittstellen, beispielsweise
bei sehr hohen Geschwindigkeiten, zu testen.
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Kommerzielle automatische Testgerätsysteme,
wie beispielsweise Digitaltester, und ähnliche, benutzen typischerweise
500 bis 600 PIN-Ansteuerungsschaltungen pro Testkopf und mehrere
Testköpfe
pro System. Bekannte PIN-Ansteuerungen umfassen jene, die von Herstellern
wie Elantec, Inc., Analog Devices, Inc. and Harris Semiconductor,
Inc. entwickelt wurden. Die Elantec, Inc. Architektur wurde bei
dem IEEE 1992 Bipolar Circuits and Tech nology Meeting offenbart.
Die Analog Devices PIN-Ansteuerungsarchitektur ist im US-Patent
Nr. 5,179,293 offenbart. Die Harris Semiconductor, Inc. Architektur wurde
ebenfalls in einem Aufsatz offenbart, der beim IEEE 1992 Bipolar
Circuits and Technology Meeting ausgegeben wurde.
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Die Elantec, Inc. Architektur ist
mit einem Prozess aufgebaut, der einer großen Sperrvorspannung an dem
Basis-Emitterübergang
der Vorrichtung widerstehen kann. Als Ergebnis liegt die erreichbare Leistung
dieser Vorrichtung im Bereich von 25 bis 50 MHz. Die vorliegende
Erfindung wurde entwickelt, um SRAM-Vorrichtungen zu testen, die
bei 650 MHz und mehr basierend auf der Verwendung einer RAMBUS-Architektur
betrieben werden, und deshalb kann die in der Elantec, Inc. Vorrichtung
verwendete Architektur nicht in eine integrierte Schaltung hoher Geschwindigkeit
implementiert werden. Dies ist ein direktes Ergebnis des Kompromisses
zwischen einem hohen Rückwärtsdurchbruch
und einem Betrieb mit hoher Geschwindigkeit der Vorrichtung.
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Die Analog Devices PIN-Ansteuerungsarchitektur
ist im US-Patent
Nr. 5,179,293 offenbart. Bei der Analog Devices Ansteuerung, wie
sie in der Figur auf der Deckseite des US-Patents 5,179,293 gezeigt ist,
sind die Transistoren Q40, Q54, Q50 und Q51 auf eine Klemmungs-Aktion
angewiesen, die zuvor beschrieben wurde. Der Klemmungs- bzw. Clamping-Weg
führt zu
langsamen Antwortzeiten. Ebenfalls leidet der Klemmungsweg des US-Patents
Nr. 5,179,293 an dem Problem der Basis-Emitter-Durchbruchspannung
in Sperrrichtung, wie zuvor beschrieben. Widerstände wurden zu dieser Schaltung
hinzugefügt,
als Versuch, den sich ergebenden Leckstrom zu begrenzen und bei
dem Durchbruch- Problem
zu helfen, allerdings sind die Widerstände sehr klein aufgrund der
großen
Schaltströme.
Ebenfalls ist das Vorspannungs-Auslösch-Schema auf eine Beta-Anpassung
angewiesen, um den Sperr-Modus-Vorspannungsstrom zu löschen. Die
vorliegende Erfindung nutzt eine Kopie der Vorspannung, um eine
verbesserte Eingangsstromlöschung
zu erhalten.
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Der von Harris Semiconductor, Inc.
eingeschlagene Weg besteht darin, das Problem mit einer Basis-Emitter-Durchbruchspannung
in Sperrrichtung zu lösen.
Dies kann mit Bezug auf die 2 des
Harris Aufsatzes gesehen werden und insbesondere bei den Transistoren
Qod3a, QC3, Qod3b, die in 2 gezeigt
sind. Was Harris versucht ist, die im schlimmsten Fall vorhandene
9 Volt Rückwärts-Vorspannungs-Spannung über drei
Basis-Emitterübergänge zu verteilen.
Das Problem besteht darin, dass es keine Garantie gibt, dass diese
Spannung sich gleichmäßig verteilt,
und somit Rückwärts-Leckströme geben
wird, die Probleme bezüglich
der Verlässlichkeit
ergeben, die Vorwärts-Eigenschaften der
Vorrichtung verschlechtern und unakzeptable PIN-Leckströme liefern,
wenn die Schaltung im Sperr-Modus betrieben wird.
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Um eine kommerzielle integrierte
PIN-Ansteuerungsschaltung zu entwickeln, muss eine einzelne Lösung bereitgestellt
werden, die die Beschränkungen
des Standes der Technik überwindet. Diese
einzige Lösung
muss ebenfalls eine bessere Leistung liefern als die verfügbaren bekannten
Ansteuerungen, um das Produkt zu einem kommerziellen Erfolg zu führen. Im
Ergebnis müssen
die den bekannten PIN-Ansteuerungsarchitekturen innewohnenden Beschränkungen überwunden
werden. Diese umfassen die Basis-Emitter-Durchbruchsspannung
in Sperrrichtung und den PIN- Eingangs-Leckstrom
während
des Sperr-Modus, während
gleichzeitig ein Hochgeschwindigkeits-Prozess eingesetzt werden
soll, um einen Hochfrequenzbetrieb zu ermöglichen. Die vorliegende Erfindung
liefert eine solche integrierte PIN-Ansteuerungsschaltungsarchitektur.
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Es wäre deshalb wünschenswert,
eine integrierte PIN-Ansteuerungsschaltungsarchitektur
hoher Geschwindigkeit zu haben, die die Beschränkungen der Lösungen aus
dem Stand der Technik überwindet.
Dementsprechend ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
eine verbesserte integrierte PIN-Ansteuerungsschaltungsarchitektur
hoher Geschwindigkeit bereitzustellen, die für kommerzielle Anwendungen
in automatischen Testgeräten
angepasst ist. Es ist eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
eine verbesserte integrierte PIN-Ansteuerungsschaltungsarchitektur
hoher Geschwindigkeit bereitzustellen, die verwendet werden kann, um
CMOS, TTL, ECL, niederpegelige Differential und LVCMOS Schnittstellen
bei sehr hohen Geschwindigkeiten zu testen.
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US
5,302,859 offenbart eine Spannungs-Schaltung hoher Geschwindigkeit,
die symmetrisch angeordnete Spannungs-Relais-Transistorschaltungen aufweist, die
zwischen den Spannungs-Eingangsanschlüssen und
einem geschalteten Spannungsausgang pro Anschluss angeschlossen
sind.
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US
5,146,159 offenbart eine PIN-Ansteuerung mit drei Zuständen, die
zusammen mit einem PIN-Sensor auf einer integrierten Schaltung ausgebildet
ist. Eine PIN-Ansteuerung und -Sensor sind mit einem gemeinsamen
Pin einer Vorrichtung verbunden, die zu testen ist. Im Normalmodus
steuert die PIN-Ansteuerung ein Testsignal. Im Hoch-Imdepanz-Modus
ist die PIN-Ansteuerung hochohmig, und ermöglicht es einem Sensor, ein
Antwortsignal zu überwachen.
Ein weiteres Dokument ist 5,377,202, das eine Testgerät-PIN-Ansteuerung
betrifft, die einen Haupt-Ausgangskanal mit einer Impulsformungsschaltung,
einen Puffer und einen Ausgangsverstärker aufweist, die in Reihe
geschaltet sind.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Um die zuvor genannten und andere
Ziele zu erreichen, stellt die vorliegende Erfindung eine verbesserte
integrierte PIN-Ansteuerungsschaltung und -architektur mit hoher
Geschwindigkeit bereit, die die Beschränkungen der bekannten PIN-Ansteuerungsschaltungen überwinden.
Die Architektur der PIN-Ansteuerungsschaltung
besitzt eine Stromspiegelschaltung, die Nieder- und Hoch-Strom-Generatoren
aufweist. Die Ausgangssignale der Stromgeneratoren werden in einer
Summiervorrichtung summiert, die eine Spannungskopie in einem Aktivmodus
der PINAnsteuerungsschaltung erzeugt. Ein Modus-Schalter verbindet
einen Aktiv-Puffer und einen Sperr-Puffer zwischen der Summiervorrichtung
und einer PIN-Schaltung. Der Modus-Schalter verbindet die Spannungskopie,
die an dem Widerstand gebildet wird, mit der PIN-Schaltung in dem
Aktiv-Modus der PIN-Ansteuerungsschaltung. Die Stromausgangssignale
der Summiervorrichtung und des Sperr-Puffers werden an einen dritten
Schalter geführt,
dessen Ausgang mit einem Aktiv/Sperr-Stromgenerator verbunden ist.
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Nieder- und Hoch-Stromgeneratoren
erzeugen einen Strom, der eine Spannungskopie (eine Spannungskopie
von VH oder VL (hohe
Spannung oder niedere Spannung)) an dem Widerstand in dem Aktivmodus
der PIN-Ansteuerungsschaltung generiert, und der die PIN-Schaltung
durch den Aktiv-Puffer ansteuert. Der Aktiv/-Sperr-Stromgenerator erzeugt einen Offset-Strom
im aktiven Modus der PIN-Ansteuerungsschaltung an der Summiervorrichtung
und versorgt den Sperr-Puffer im Sperr-Modus der PIN-Ansteuerungsschaltung
mit Energie. Die Architektur verlässt sich auf den Kollektor-Basis-Durchbruch,
im Gegensatz zu dem Basis-Emitter-Durchbruch, was sie zu einer einzigartigen
PIN-Ansteuerungsschaltung
macht. Dies ermöglicht
Technologien höherer
Frequenz, die für
PIN-Ansteuerungsschaltungen hoher Geschwindigkeit verwendet werden können, ohne
an den Beschränkungen
des Emitter-Basis-Durchbruch in Sperrrichtung zu leiden.
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Die Architektur der integrierten
PIN-Ansteuerungsschaltung hoher Geschwindigkeit ist nicht auf eine
Transistorklemmung während
des normalen Betriebs angewiesen. Eine lineare Version von VH oder VL wird an
einem Summierknoten erzeugt . Klemmen ist bezüglich des Ein- und Ausschaltens
langsam, um einen Hochgeschwindigkeitsbetrieb bereitzustellen. Die
vorliegende Architektur benötigt
keine hohe Basis-Emitter-Durchbruchspannung in Sperrrichtung, die
in direktem Gegensatz zu der Hochgeschwindigkeitsleistung ist. Die
vorliegende Architektur benützt eine
Kopie-Vorspannung, um den Eingangsstrom der PIN-Ansteuerung im Sperr-Modus
auszulöschen. Das
Kopie-Vorspannungs-Schema, das bei der vorliegenden Erfindung benutzt
wird, kommt mit Temperatur und Verfahren zurecht und liefert ein
verbessertes Schema im Hinblick auf den Stand der Technik.
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In bekannten Lösungen werden die Ausgangssignalpegel
erzeugt entweder (1) über
eine Klemm-Aktion, die langsam ist, oder (2) über einen Draht oder eine Drahtverbindung,
die einen ernsten Basis-Emitter-Durchbruch in Sperrrichtung erzeugt, was
zu großen
Leckströmen
führt,
die die Leistung im normalen Aktiv-Modus verschlechtern und die
Langzeit-Zuverlässigkeit
beeinträchtigt,
oder (3) mit einem Verfahren, das die Basis-Emitter-Spannungsschwingungen in Sperrrichtung
handhaben kann, die im Ausgangszustand einen langsamen integrierten Schaltungsprozess
benötigen.
Die Architektur der PIN-Ansteuerungsschaltung ist neu insoweit,
als sie immer eine aktive lineare Schaltung ist und sich nicht auf
eine Transistorklemmung während
des normalen Betriebs im Aktiv-Modus verlässt. Die Architektur der PIN-Ansteuerungsschaltung
benötigt
ebenfalls keine hohe Basis-Emitter-Durchbruchspannung in Sperrrichtung
im Sperr-Modus oder im Aktiv-Modus, was im direkten Gegensatz zu.
der Hochgeschwindigkeits-Leistung bei hohen PIN-Spannungsauslenkungen
für CMOS,
TTL, ECL Pegelkompatibilität
ist. Das Ergebnis ist eine sehr schnelle PIN-Ansteuerungsarchitektur
und -schaltung.
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Die vorliegende Erfindung wurde entwickelt, um
ein kommerzielles integriertes Schaltungs-Standardprodukt für automatische
Testgerät-Anwendungen
bereitzustellen. Das Basiskonzept der vorliegenden Erfindung wurde
entwickelt, um eine einzige Lösung
für diese
Anwendung bereitzustellen, die die Beschränkungen der zuvor beschriebenen
bekannten Lösungen
löst.
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KURZE BESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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Die verschiedenen Merkmale und Vorteile der
vorliegenden Erfindung können
leichter mit Bezug auf die nachfolgende detaillierte Beschreibung und
Bezug auf die begleitenden Zeich nungen verstanden werden, wobei ähnliche
Bezugszeichen ähnliche
strukturelle Elemente bezeichnen, und in denen:
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1 ein
vereinfachtes Blockdiagramm ist, das eine Architektur einer PIN-Ansteuerungsschaltung
gemäß den Prinzipien
der vorliegenden Erfindung zeigt;
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2 Details
der in 1 gezeigten PIN-Ansteuerungsschaltung
darstellt;
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3 die
Struktur der PIN-Ansteuerungsschaltung von 2 während
des normalen Betriebs darstellt;
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4 die
Struktur der PIN-Ansteuerungsarchitektur von 2 während
des Sperr-Modus darstellt;
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5 eine
erste Ausführungsform
einer Pufferschaltung darstellt, die in der PIN-Ansteuerungsschaltung
der vorliegenden Architektur verwendet wird;
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6 eine
zweite Ausführungsform
einer Pufferschaltung darstellt, die in der PIN-Ansteuerungsschaltung
der vorliegenden Architektur benutzt wird; und
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7 die
allgemeine Struktur der Bias-Schaltung darstellt, die in 5 und 6 gezeigt ist.
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DETAILLIERTE
BESCHREIBUNG
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Bezug nehmend auf die gezeichneten
Figuren ist 1 ein vereinfachtes
Blockdiagramm, das eine Architektur 10 einer PIN-Ansteuerungsschaltung 20 gemäß den Prinzipien
der vorliegenden Erfindung darstellt. Die Architektur 10 der
PIN-Ansteuerungsschaltung 20 umfasst einen Nieder- (Vlow oder VL) und
einen Hoch- (Vhigh oder VH)-Stromgenerator 11a, 11b,
die eine Stromspiegelschaltung 11 bilden. Die Nieder- und
Hoch-Stromgeneratoren 11a, 11b sind mit ersten
und zweiten Schaltern 12a, 12b verbunden. Die
Ausgangssignale des ersten und des zweiten Schalters 12a, 12b werden
in einer Summiervorrichtung 13 (oder Σ-Knoten 13) kombiniert, die
eine Spannungskopie an einem Widerstand RL erzeugt,
der mit der Summiervorrichtung 13 in einem Aktiv-Modus
der PIN-Ansteuerungsschaltung 20 verbunden ist.
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Der Ausgang des zweiten Schalters 12b ist auch
mit einem Modusschalter 14 verbunden, dessen Ausgänge mit
einem Aktiv-Puffer 15a und
einem Sperr-Puffer 15b verbunden sind. Der Modusschalter 14 arbeitet,
um die Spannungskopie, die an RL gebildet
wird, der PIN-Schaltung 16 im Aktiv-Modus der PIN-Ansteuerungsschaltung 20 zuzuführen.
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Das Stromausgangssignal IA der Summiervorrichtung 13 ist
einem ersten Eingang eines dritten Schalters 17 zugeführt. Ein
Stromausgangssignal IINH des Sperr-Puffers 15b ist
einem zweiten Eingang des dritten Schalters 17 zugeführt. Ein
Ausgang des dritten Schalters 17 ist mit einem Aktiv/Sperr-Stromgenerator
18 verbunden.
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Im Betrieb erzeugen die VL und VH-Stromgeneratoren
einen Strom, der eine Spannungskopie an RL im
Aktiv-Modus der PIN-Ansteuerungsschaltung generiert,
die die PIN-Schaltung 16 über den Aktiv-Puffer 15a ansteuert.
Der Aktiv/Sperr-Stromgenerator 18 erzeugt einen Offset-Strom
im Aktiv-Modus der PIN-Ansteuerungsschaltung 20 an
der Summiervorrichtung 13 (oder Σ-Knoten 13) und versorgt den Sperr-Puffer 15b im
Sperr-Modus der PIN-Ansteuerungsschaltung mit Energie. Aufgrund
dessen, dass die Architektur 10 sich auf den Kollektor-Basis-Durchbruch
stützt,
im Gegensatz zu dem Basis-Emitter-Durchbruch, ist die allgemeine
Architektur 10 der PIN-Ansteuerungsschaltung 20 ebenfalls einzigartig.
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2 zeigt
Details der Architektur 10 der PIN-Ansteuerungsschaltung 20 der 1. Die Basisidee, die in
der PIN-Architektur 10 verwirklicht ist, besteht darin,
Vhigh oder Vlow zum
Ausgang zu übertragen.
Die einfache Architektur 10, die in 1 gezeigt ist, hat viele neue Merkmale,
die nachfolgend erläutert
werden. Ebenfalls müssen
die Spannungspegel von Vhigh und Vlow in der Lage sein, +5/–2 Volt zu schwingen, dies
deshalb, weil ein Vorspannungs-Schema verwendet wird, wie in 2 gezeigt. Wie bereits im
Abschnitt Hintergrund diskutiert, leiden die bekannten Lösungswege
an dem Rückwärts-Basis-Emitter-Problem,
wenn man sich mit dieser Anforderung bezüglich der Spannungs-Schwingung
beschäftigt.
Die vorliegende Architektur 10 kommt um diese Frage herum.
Ferner ist festzuhalten, dass die Architektur 10 alternativ
unter Verwendung von NPN-Schaltern
anstelle von PNP-Schaltern implementiert werden kann, und PNP-Schalter
anstelle von NPN-Schaltern, die in der beispielhaften Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung benutzt wurden.
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3 zeigt
den Aufbau der PIN-Ansteuerungsarchitektur 10 der 2 während des normalen Betriebs.
Während
des normalen Betriebs sind die Transistoren Q9, Q20, Q21, Q22, Q14
und Q5 aus, und der Transistor Q8 ist an. Für Vout=
Vhigh ist der Transistor Q4 an, der Transistor
Q11 aus, der Transistor Q12 an und der Transistor Q10 aus, VA geht nach high und Vout folgt.
Für Vout = Vlow ist der
Transistor Q4 aus, der Transistor Q11 an, der Transistor Q12 aus
und der Transistor Q10 an, VA geht auf low
und Vout folgt.
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Der Hauptvorteil dieser Architektur
gegenüber
früheren
Designs besteht darin, dass die Basis-Emitter-Durchbruchspannung
in Sperrrichtung den Betrieb der PIN-Ansteuerungsschaltung 20 nicht beeinflusst.
Während
des Sperr-Modus liegt das Hauptaugenmerk bei der Kollektor-Basis-Durchbruchspannung
und nicht bei der Basis-Emitter-Durchbruchspannung. Dieses Schlüsselmerkmal ermöglicht komplementäre Bipolartechnologie
höherer
Frequenz einzusetzen, um die PIN-Ansteuerungsschaltung 20 herzustellen,
ohne an den Nebeneffekten der niederen Basis-Emitterdurchbruchspannung
zu leiden, so dass die Betriebsfrequenz erhöht werden kann.
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4 zeigt
den Aufbau der PIN-Ansteuerungsarchitektur 10 von 2 während des Sperr-Modus. Während des
Sperr-Modus sind die Transistoren Q4, Q10, Q6, Q7, Q11, Q12, Q17,
Q18 und Q8 aus. Transistoren Q6, Q7, Q17 und Q18 sind aus und mit
Bezug auf das Vout-Signal im Sperrmodus gebootstrapped.
Aufgrund des Bootstrappings sind die Basis-Emitter-Rückwärtsspannungen über der Spannungssignalschwingung
fest.
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Im Sperrmodus wird die Schaltung
durch die Transistoren Q19 bis Q22 gebootstrapped, so dass die Basis-Emitter-Rückwärtsspannung (2–3 Volt) kein
Problem ist und durch eine Kollektor-Basis-Durchbruchspannung (12–15 Volt)
ersetzt wird. Die Stromverstärkung
kann in der Transistor-Spiegelschaltung (Transistoren Q2, Q3 und
Transistoren Q13 und Q15) eingesetzt werden, um Energie zu sparen.
Vorrichtungen Q6 und Q7 sind nur im Aktiv-Modus an. Im Sperr-Modus
sind die Transistoren Q6 und Q7 um einen -Dioden-Abfall rückwärts vorgespannt
und mit Bezug auf den Spannungsabfall an der PIN-Schaltung 16 gebootstrapped,
und die PIN-Ansteuerungsschaltung 20 funktioniert als eine lineare
Schaltung im normalen Aktiv-Modus. All die Beschränkungen
der bekannten Architekturen werden überwunden, wenn die PIN-Ansteuerungsarchitektur 10 und
die Schaltung 20 eingesetzt werden. Die Geschwindigkeit
der PIN-Ansteuerungsarchitektur 10 steigt ebenfalls durch
das Ansteigen der Leistung der PIN-Ansteuerungsschaltung 20. Dies
ist nicht der Fall bei bekannten Architekturen aufgrund der zuvor
beschriebenen Beschränkungen.
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Während
des normalen Betriebs werden die Transistoren Q19 und Q20 in 1 gebootstrapped, und werden
nur um einen Basis-Emitter-Spannungsabfall rückwärts vorgespannt, so dass dies
eine sehr sichere Spannung ist, um die Herstellungsprozesse für integrierte
Hochgeschwindigkeitsschaltungen handzuhaben.
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Die B1 Pufferschaltung 15 mit
einer Eingangs-Vorspannungslöschung
besitzt zwei beispielhafte repräsentative
Implementierungen, die in 5 und 6 gezeigt sind. 5 zeigt eine erste Ausführungsform
der Pufferschaltung 15, die in der PIN-Ansteuerungsschaltung 20 verwendet
wird, die die vorliegende Architektur 10 umsetzt. Die erste
Ausführungsform
der Puffer schaltung 15 umfasst eine Bias-Schaltung 19,
die mit dem Sperr-Puffer 15b verbunden
ist. 6 zeigt eine zweite
Ausführungsform der
Pufferschaltung 15, die in der PIN-Ansteuerungsschaltung 20 verwendet
wird, die die vorliegende Architektur 10 umsetzt. Die zweite
Ausführungsform der
Pufferschaltung 15 umfasst eine alternative Bias-Schaltung 19a,
die mit dem Sperr-Puffer 15b verbunden
ist.
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In der ersten Architektur der Pufferschaltung 15 wird
eine Kopie des Eingangsvorspannungsstroms erzeugt, der an dem Eingang
der Pufferschaltung 15 (die mit der PIN-Ansteuerung 16 verbunden ist)
gespiegelt wird, und der den Vorspannungsstrom auslöscht, der
an dem Eingang der Pufferschaltung 15 erzeugt wird. Die
zweite Architektur der Pufferschaltung 15 liefert einen
Strom, der Alpha-Fehler in der Pufferschaltung 15 betrifft.
Der Aufbau der zwei Pufferschaltungsarchitekturen liefert eine optimale Leistung
im Hinblick auf Gleichspannungs- und
Einschwingleistung und die Auswahl einer der Architekturen ist eine
Funktion der Anwendung, in der die PIN-Ansteuerungsarchitektur 10 benutzt
wird.
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7 zeigt
den allgemeinen Aufbau der Pufferschaltung 15, die in 5 und 6 gezeigt ist. Die Bias-Schaltung 19 liefert
einen il-Strom an den Eingang der Pufferschaltung 15 als
Vorspannungsstrom, so dass die gesamte Eingangsvorspannung null
ist. Die Kopie-Vorspannung versucht, den Eingangsstrom der Pufferschaltung 15 gleich
null zu machen, so dass es keinen Leckstrom im Sperr-Modus gibt.
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Somit wurde eine integrierte PIN-Ansteuerungsschaltungsarchitektur
und Schaltung hoher Geschwindigkeit offenbart, die in kommerziellen
automatischen Testgerät-Anwendungen
verwendet werden kann. Es versteht sich, dass die zuvor beschriebenen
Ausführungsformen
rein beispielhaft für
einige der vielen spezifischen Ausführungsformen stehen, die Anwendungen
der Prinzipien der vorliegenden Erfindung darstellen. Es ist klar,
dass viele und andere Anwendungen leicht von einem Durchschnittsfachmann
vorgenommen werden können,
ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen.