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Die
Erfindung betrifft ein in zweiter Ordnung nicht lineares optisches
Material, das einen in zweiter Ordnung nicht linearen optischen
Effekt aufweist und eine geringe Doppelbrechung entlang der Senderichtung
eines Strahles sowie ein Verfahren zum Herstellen desselben. Die
Erfindung betrifft auch optische Modulationseinrichtungen, die das
nicht lineare optische Material als ein elektrooptisches Element
umfassen und die nützlich
für eine
Messung der Änderung
in einem elektrischen Feld (Spannung) oder als ein optischer Schalter
zur Telekommunikation und als ein Phasen- oder anderer Modulator,
Temperatur und dgl. sind.
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Bekannte
in zweiter Ordnung nicht lineare optische Materialien, die als ein
optisches Modulationselement verwendet werden, umfassen z. B. optische
Kristalle aus LiNbO3 (in der Folge einfach
als LN bezeichnet), Bi12SiO20 (in
der Folge als BSO abgekürzt),
Bi12GeO20 (in der
Folge als BGO bezeichnet), Bi4Ge3O12 und dgl. Gemäß „Optical
Fiber Sensors" (Lichtleitfasersensoren)
(veröffentlicht
von Ohm Co., Ltd. und herausgegeben von Takayosi Ohkoshi, 1986,
Seiten 149 bis 153) wurden optische Modulationseinrichtungen, die
diese nicht linearen optischen Materialien verwenden, für optische
Kommunikationssysteme und auch als ein Lichtleitfasersensor zum
Messen hoher Spannung entwickelt.
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In
jüngster
Vergangenheit wurden, um die Anzahl der in Lichtleitfasersensoren
verwendeten optischen Elemente zu reduzieren, Studien an Lichtleitfasersensoren
von dem Typ, in dem Linsen und ein Spiegel von dem Sensor weggelassen
sind, und statt dessen ein magnetooptisches Element oder ein elektrooptisches
Element in dem Lichtpfad einer Lichtleiterfaser eingebaut ist, durchgeführt. Dieser
Sensortyp ist z. B. in den offen geleg ten japanischen Patentanmeldungen
Nr. 5-297 086, 6-74 979 und 8-219 825 beschrieben. Erst kürzlich wurde
herausgefunden, dass ein in zweiter Ordnung nicht linearer optischer
Effekt erzeugt wird, wenn eine Lichtleitfaser gepolt wird. Optische
Modulationseinrichtungen, die die gepolte Lichtleitfaser verwenden,
wurden nun hergestellt, wie z. B. von A. C. Liu et al in Opt. Lett.
Bd. 19, Seiten 466-468 (1994), von T. Fujiwara et al in IE-EE Photonics Lett.
Bd. 7, Seiten 1177 bis 1179 (1995) und in der japanischen offen
gelegten Patentanmeldung Nr. 9-230 293 beschrieben.
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Bei
optischen Modulationseinrichtungen mit einem Lichtleitfasersensor,
in dem z. B. LN mit einer großen
spontanen Doppelbrechung verwendet wird, ist es jedoch erforderlich,
dass ein Eingangsstrahl derart gesteuert wird, dass er einen Winkel
axialer Abweichung bei etwa 0,1 bis 0,2 oder darunter bildet. Dies
ist deshalb der Fall, da, wenn der Einfallswinkel des Strahls axial
abweicht, die folgenden Probleme entstehen:
- (1)
Die spontane Doppelbrechung, die durch Ablenken eines einfallenden
Strahles von der Hauptachse eines Kristalls bewirkt wird, wird größer als eine
Doppelbrechung, die durch den elektrooptischen Effekt bewirkt wird,
mit dem Ergebnis, dass der Grad der Modulation stark von einem vorbestimmten
Wert abweicht.
- (2) Wegen der Temperaturabhängigkeit
der spontanen Doppelbrechung und der nicht linearen optischen Konstante
(elektrooptische Konstante) ist der Grad der Modulation stark von
der Temperaturkennlinie abhängig.
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Um
diese Probleme zu lösen,
kann es geschehen, dass Kristalle verwendet werden, die im Wesentlichen
frei von jeglicher spontanen Doppelbrechung sind. Bekannte nicht
lineare optische Materialien oder Kristalle, die keinerlei spontane
Doppelbrechung zeigen, umfassen: BGO, BSO, Bi4Ge3O12 und dgl. Jedoch
weisen sowohl BGO als auch BSO ein optisches Drehvermögen auf
(d. h. der Effekt, dass die Polarisationsebene im Verhältnis der
Länge des
Kristalls gedreht wird), so dass die Kristalllänge nicht groß gemacht
werden kann, mit dem begleitenden Problem, dass der Grad der Modulation
eines Strahls nicht optisch eingestellt werden kann und der Grad
der Modulation nicht ausreichend erhöht werden kann, wie in der
oben erwähnten
Publikation „Optical
Fiber Sensors",
herausgegeben von T. Ohkoshi, beschrieben. Andererseits beinhaltet Bi4Ge3O12 unerwünschterweise
eine DC-Drift bei hohen Temperaturen und zeigt somit das Problem,
dass dieses Material, wenn es als ein optischer Modulator verwendet
wird, keine stabile Temperaturkennlinie sicherstellt. Dies wird
im Speziellen z. B. von O. Kanada (Japanese Journal of Appl. Phys.
Band 32, 1993, Seiten 4288–4291)
dargelegt.
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In
einem Lichtleitfasersensor des Typs, in dem ein gewöhnliches
elektrooptisches Element in Position in einer Lichtleitfaser eingesetzt
ist, wird keine Linse verwendet. Wenn LN als ein elektrooptisches
Element verwendet wird, das einen kleinen Toleranzbereich in Bezug
auf den Winkel axialer Abweichung aufweist, tritt das Problem auf,
dass das Leistungsvermögen
der resultierenden Einrichtung unerwünschterweise stark von der
Temperatur abhängig ist.
Alternativ, wenn Flüssigkristalle
verwendet werden, gibt es insofern Probleme, als die Ansprechgeschwindigkeit
sehr klein wird, eine abrupte Änderung der
Spannung nicht genau gemessen werden kann und der Flüssigkristall
fest werden kann, wenn er bei niedrigen Temperaturen verwendet wird.
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Wenn
ein Teil einer Lichtleitfaser gepolt ist und als ein elektrooptisches
Element verwendet wird, tritt ein Problem in dem Fall eines Sensors
auf, in dem ein LN-Kristall als ein elektrooptisches Element verwendet
wird und ein einfallender Strahl von einer optischen Achse (Z-Achse)
abgelenkt wird. Insbesondere, wenn eine Lichtleitfaser in einem
Teil davon gepolt ist, entwickelt sich nicht nur der nicht lineare optische
Effekt (elektrooptischer Effekt), sondern auch die Anisotropie des
Brechungsindex (spontane Doppelbrechung). Wenn eine solche gepolte
Faser in einem Lichtleitfasersensor verwendet wird, ist es schwierig,
einen Lichtleitfasersensor mit beabsichtigten Kennlinieneigenschaften
zu erhalten. Dieses Problem tritt in bekannten optischen Modulatoren
nicht auf, in denen eine Änderung
in dem Brechungsindex auf Basis des elektrooptischen Effekts von
einer dielektrischen Hauptachse verwendet wird, und es wurde in
der Tat noch nicht beobachtet.
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In
einem optischen Modulator, der z. B. in der offen gelegten japanischen
Patentanmeldung Nr. 9-230 293 vom 05.09.1997 vorgeschlagen wird,
wird nur der elektrooptische Effekt berücksichtigt und es wird keinerlei
optische Einrichtung erwähnt,
die eine spontane Doppelbrechung nutzt. Demgemäß weist der resultierende Modulator
eine geringe Linearität auf.
In diesem Fall sind zwei Öffnungen
in dem Hüllenabschnitt
einer Lichtleitfaser ausgebildet, um Elektroden einzusetzen. Als
ein Ergebnis wird eine spontane Doppelbrechung erzeugt, die der
Anisotropie des sektionalen Aufbaus der Lichtleitfaser zugeschrieben
wird, und die viel größer ist,
als die spontane Doppelbrechung, die gemäß einer Polungsbehandlung erzeugt
wird. Diese Lichtleitfaser besitzt solch eine Funktion als eine
so genannte „polarisationserhaltende
Faser" und der Polarisationszustand eines
Strahles, der von anderen Abschnitten als von den dielektrischen
Hauptachsen (d. h. einer Linie, die zwei Paare von Öffnungen
verbindet, und eine Richtung senkrecht zu der Linie) eingebracht
wird, wird sehr instabil. Wenn solch ein Lichtleiter wechselnden Temperaturbedingungen
unterliegt, oder mit einem äußeren Druck
darauf angewendet wird, ändert
sich der Polarisationszustand des Strahls beträchtlich. Wenn diese Lichtleitfaser
als ein elektrooptisches Element verwendet wird und ein Strahl, dessen
Polarisationsrichtung sich von den dielektrischen Hauptachsen unterscheidet,
in die Faser eingebracht wird, ändert
sich der Grad der Modulation stark durch Verändern einer Temperatur um z.
B. nur einige Grad Celsius. Somit weist das elektrooptische Element eine
sehr schlechte Temperaturkennlinie und eine große Verzerrungsrate auf.
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Es
ist demgemäß ein Ziel
der Erfindung, ein Verfahren zum Herstellen eines in zweiter Ordnung nicht
linearen optischen Materials auf einfache Weise bereitzustellen,
das eine reduzierte, geringe oder keine Doppelbrechung entlang einer
Ausbreitungsrichtung eines Strahls zeigt.
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Es
ist ein weiteres Ziel der Erfindung, ein in zweiter Ordnung nicht
lineares optisches Material bereitzustellen, das nützlich zum
Herstellen eines optischen Modulators oder eines Lichtleitfaser-Spannungs
(elektrisches Feld)-Sensors ist, der einen großen erlaubten Winkelbereich
in Bezug auf die Ausbreitungsrichtung eines Strahls aufweist.
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Es
ist ein weiteres Ziel der Erfindung, ein in zweiter Ordnung nicht
lineares optisches Material bereitzustellen, das nützlich zum
Herstellen eines optischen Modulators oder eines optischen Phasenmodulators,
der eine geringe oder keine Abhängigkeit
eines Eingangsstrahls auf eine Polarisation aufweist.
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Es
ist ein noch weiteres Ziel der Erfindung, optische Modulatoreinrichtungen
der oben stehend erwähnten
Typen bereitzustellen.
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Es
ist ein weiteres Ziel der Erfindung, eine optische Modulatoreinrichtung
bereitzustellen, die nicht das Problem einer DC-Drift aufweist,
was eines der Probleme in Verbindung mit Einrichtungen war, die
bekannte optisch isotrope Kristalle wie z. B. Bi4Ge3O12-Kristall verwenden.
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Gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung zeigt ein in zweiter Ordnung nicht lineares optisches
Material, mit einem Glaskörper,
der von einer ersten Richtung und einer zweiten Richtung gepolt ist,
die sich voneinander unterscheiden, so dass ein Strahl, der sich
durch den Glaskörper
in einer dritten Richtung im Wesentlichen senkrecht zu der ersten Richtung
bzw. der zweiten Richtung ausbreitet, eine reduzierte Doppelbrechung
verglichen mit der Doppelbrechung, die ein Strahl zeigt, der sich
in der dritten Richtung durch einen nur in einer ersten Richtung gepolten
Körper
ausbreitet, und wobei der Glaskörper
SiO2 umfasst.
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Vorzugsweise
ist der Glaskörper
derart gepolt, dass sich die erste Richtung und die zweite Richtung
im Wesentlichen rechtwinklig zueinander in einem Bereich von 90° ± 10° schneiden.
Es ist auch bevorzugt, dass die dritte Richtung die erste Richtung bzw.
die zweite Richtung in einem Bereich von 90° ± 10° im Wesentlichen rechtwinklig
schneidet.
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Die
Doppelbrechung wurde vorzugsweise auf einen Wert von 0,001 reduziert.
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Gemäß einer
weiteren Ausführform
der Erfindung wird auch ein Verfahren zum Herstellen eines in zweiter
Ordnung nicht linearen optischen Materials bereitgestellt, das die
Schritte umfasst:
Bereitstellen eines Glaskörpers, der aus einer Glaszusammensetzung
hergestellt ist, die SiO2 umfasst; und
Unterziehen
des Glaskörpers
einem Polen durch Anlegen eines elektrischen Feldes, das ausreichend
ist, um zu bewirken, dass der Glaskörper von einer ersten Richtung
und dann von einer zweiten Richtung gepolt wird, so dass ein Strahl,
der sich durch den Glaskörper
in einer dritten Richtung im Wesentlichen senkrecht zu der ersten
Richtung bzw. der zweiten Richtung ausbreitet, eine Doppelbrechung
aufweist, die verglichen mit der Doppelbrechung, die ein Strahl aufweist,
der sich in der dritten Richtung durch einen nur in einer ersten
Richtung gepolten Körper
ausbreitet, reduziert ist, und wobei der Glaskörper SiO2 umfasst.
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Es
wird bevorzugt, das das Polen entlang der ersten oder zweiten Richtung
so lange wiederholt wird, bis ein gesendeter Strahl aus einem linear
polarisierten Strahl besteht, wenn ein linear polarisierter Strahl
entlang der dritten Richtung gesendet wird und eine Polarisationsebene
des gesendeten Strahls in einem Winkel von 45 Grad in Bezug auf
die erste oder zweite Richtung eingestellt wird.
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Gemäß der Erfindung
wird auch ein in zweiter Ordnung nicht lineares optisches Material
bereitgestellt, das durch das oben stehende Verfahren erhalten wird.
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Gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung wird eine optische Modulatoreinrichtung bereitgestellt,
die den oben stehend definierten Glaskörper und ein Paar Elektroden
umfasst, die an gegenüberliegenden
Seiten des Körpers
voneinander beabstandet gehalten angebracht sind, wobei der Modulator
als ein optischer Phasenmodulator dient.
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Gemäß einer
noch weiteren Ausführungsform
der Erfindung wird eine optische Modulatoreinrichtung bereitgestellt,
die eine optische Modulationseinheit mit einem Polarisator, einem
elektrooptischen Element und einem Analysator, die nacheinander
in dieser Reihenfolge angeordnet sind, so dass die optischen Achsen
des Polarisators, des magnetooptischen Elementes und des Analysators
ausgerichtet sind, umfasst, wobei das elektrooptische Element aus
dem zuvor definierten Glaskörper
besteht.
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Gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung wird eine optische Modulatoreinrichtung bereitgestellt,
die ein Spiegelsystem umfasst, das mindestens einen ersten Halbspiegel,
der einen Strahl in Hälften
teilen kann, und einen zweiten Halbspiegel aufweist, der die Hälften nach
einer Modulation einer der Hälften
kombinieren kann, wobei ein elektrooptisches Element in dem Spiegelsystem
eingebaut ist, um eine der Hälften
zu modulieren, wobei das elektrooptische Element aus dem vorher
definierten Glaskörper
besteht, wodurch die optische Modulatoreinrichtung als Interferometer
dient, wenn ein Strahl nach dem Polen über den ersten Halbspiegel
geführt
wird, in dem der Strahl mittels des ersten Halbspiegels in Hälften geteilt
wird, und wobei eine der Hälften
zu dem elektrooptischen Element geführt wird, in dem Element elektrooptisch
moduliert wird, mit der anderen Hälfte kombiniert und zu einem
Licht empfangenden Element geführt
wird.
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Gemäß einer
noch weiteren Ausführungsform
der Erfindung wird eine optische Modulatoreinrichtung bereitgestellt,
die eine Lichtleitfaser und ein Substrat mit einer Nut zum Befestigen
der Lichtleitfaser und eine Modulationseinheit umfasst, die einen Polarisator,
ein elektrooptisches Element und einen Analysator umfasst, die nacheinander
in dieser Reihenfolge angeordnet und in mindestens einer Nut, die
senkrecht zu der erstgenannten Nut hergestellt ist, in einem Lichtpfad
der Lichtleiterfaser eingesetzt sind, wobei das elektrooptische
Element aus dem vorher definierten Glaskörper hergestellt ist.
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Der
Polarisator, das elektrooptische Element und der Analysator mit
oder ohne eine λ/4-Platte
können
integral kombiniert sein oder können
in Intervallen dazwischen getrennt vorgesehen sein, vorausgesetzt,
dass die optischen Achsen dieser Elemente richtig eingestellt sind.
In dem vorhergehenden Fall ist nur eine Nut ausreichend, um die
Elemente hierin ein zusetzen. In dem letzteren Fall sind in der Lichtleitfaser
drei Nuten ausgebildet, um den Polarisator, das elektrooptische
Element bzw. den Analysator aufzunehmen.
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Vorzugsweise
ist die Lichtleitfaser in einer gewünschten Form geformt. Noch
bevorzugter ist die Lichtleitfaser in der Form eines U mit einem
flachen Boden geformt, wo die Modulationseinheit in Position eingesetzt
wird und das Nutmuster in U-Form ausgebildet ist.
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Die
vorliegende Erfindung wird unten stehend unter Bezugnahme auf beispielhafte
Ausführungsformen
der Erfindung und der beiliegenden Zeichnungen beschrieben, in denen:
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1a eine
schematische Darstellung ist, die ein in zweiter Ordnung nicht lineares
optisches Material gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung veranschaulicht, und 1b eine
illustrative Darstellung ist, die die Änderung in dem Brechungsindex
nach der Polungsbehandlung zeigt;
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2a–2e jeweils
schematische Darstellungen sind, die ein Verfahren zum Herstellen
eines in zweiter Ordnung nicht linearen optischen Körpers gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung veranschaulichen;
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3 eine
schematische Darstellung ist, die einen optischen Modulator gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung zeigt;
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4 eine
schematische Darstellung ist, die einen optischen Modulator zeigt,
der als ein Interferometer gemäß einer
noch weiteren Ausführungsform der
Erfindung verwendet wird;
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5 eine
schematische Darstellung ist, die eine Anordnung eines optischen
Modulators gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung zeigt; und
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6a bis 6d jeweils
ein Verfahren zum Herstellen eines optischen Modulators gemäß einer weiteren
Ausführungsform
der Erfindung veranschaulichen.
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Nun
wird Bezug auf die beiliegenden Zeichnungen und insbesondere auf
die 1a und 1b genommen.
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Bisher
bekannte in zweiter Ordnung nicht lineare optische Materialien sind
solche, die durch Polen von Glas in nur einer Richtung erhalten
werden. Das Glas, das auf diese Weise in einem größeren Ausmaß gepolt
wird, um eine größere in
zweiter Ordnung nicht lineare optische Kennlinie oder elektrooptische
Konstante zu erhalten, zeigt eine größere spontane Doppelbrechung.
Dies ist insbesondere unter Bezugnahme auf die 1a und 1b veranschaulicht.
In 1a ist ein elektrooptisches Element B in der Form
eines würfelförmigen Blocks
eines nicht linearen optischen Materials gezeigt, in dem die x-,
y- und z-Achse wie dargestellt angezeigt sind. Obwohl die x- und
die y-Achse derart gezeigt sind, dass sie sich rechtwinklig zueinander
schneiden, ist das rechtwinklige Schneiden nicht immer erforderlich.
In diesem Zusammenhang, wenn die x- und die y-Achse sich in Winkeln in einem Bereich
von 90° ± 10° schneiden,
ist es jedoch unwahrscheinlich, dass die Polungsbehandlung entlang
der y-Achse von
den Ergebnissen einer anfänglichen
Polungsbehandlung ent lang der x-Achse beeinflusst wird, was eine
einfache Steuerung einer Polungsbehandlung entlang der y-Achse sicherstellt.
Die z-Achse wird zu der x- bzw. der y-Achse im Wesentlichen rechtwinklig
geschnitten.
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Für die Polungsbehandlung
wird der würfelförmige Block
aufgeheizt, z. B. auf eine Temperatur von 150 bis 300° C gefolgt
vom Anlegen eines elektrischen Feldes in einem Bereich von 1 × 104 bis 1 × 106 V/cm. Wenn die Polungsbehandlung entlang
der x-Achse durchgeführt
wird, wird die Elektronenpolarisation entlang der y-Achse groß. Als ein
Ergebnis nimmt ein Brechungsindex nx relativ zu einem in der Richtung
der x-Achse polarisierten Strahl (d. h. einem optischen Strahl,
dessen elektrisches Feld entlang der x-Achse schwingt) zu. Andererseits
sind die Brechungsindizes ny und nz relativ zu optischen Strahlen,
die senkrecht zu dem oben stehend erwähnten Strahl polarisiert sind,
jeweils niedriger, wie insbesondere in 1B gezeigt.
Demgemäß zeigt
ein Strahl, der sich entlang der z-Achse ausbreitet, zwangsläufig eine
spontane Doppelbrechung, wenn die Polungsbehandlung nur von einer
Richtung bewirkt wird. Wie bei einem Fall nach dem Stand der Technik,
wo LN verwendet wird, wird die resultierende Modulationseinrichtung
stark von einer Umgebungstemperatur beeinflusst, und zeigt einen
Modulationsgrad, der sich von einem beabsichtigten unterscheidet,
wenn das in einer Richtung polarisierte optische Material verwendet
wird.
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Wenn
der würfelförmige Körper, der
entlang der x-Achse gepolt ist, weiter einer Polungsbehandlung durch
Anlegen eines elektrischen Feldes entlang der x-Achse auf den würfelförmigen Körper unterzogen
wird, weist der resultierende Körper
relativ zu einem Strahl, der in der Richtung der y-Achse polarisiert
ist, einen größeren Brechungsindex
ny auf. Dies ist insbesondere in 1b gezeigt.
Die richtige Wahl der Polungszeit und des Polungspotentials erlaubt
es, nx = ny zu machen. Somit zeigt der so gepol te Körper eine
Doppelbrechung in Bezug auf den Strahl, der sich entlang der Richtung
der z-Achse ausbreitet (d. h. einen Strahl, der entlang der x-Achse polarisiert
ist, einen Strahl, der entlang der y-Achse polarisiert ist, oder
einen Strahl, der eine Polarisationsrichtung zwischen der x- und
der y-Achse aufweist), die sehr klein oder beinahe Null ist. Des
Weiteren erzeugt die Polungsbehandlung entlang der Richtungen der
x- und der y-Achse
einen kleinen Brechungsindex entlang der z-Achse.
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Im
Allgemeinen beträgt
eine Änderung
eines Brechungsindex etwa 0,001 oder weniger, wenn ein optisch isotropes
Glas gepolt wird. Andererseits beträgt ein Doppelbrechungsgrad
von LN (d. h. die Differenz zwischen dem maximalen Brechungsindex und
dem minimalen Brechungsindex) etwa 0,09, was um etwa 2 Größenordnungen
größer ist
als eine Doppelbrechung des nicht linearen optischen Materials der
Erfindung. Dies führt
zu einer Winkelgenauigkeit eines Strahls, der in das nicht lineare
optische Material eingebracht wird, die um etwa zwei Größenordnungen
größer ist
als eine durch LN erreichte Genauigkeit. Somit wird es möglich, den
Winkel axialer Abweichung in einem Bereich von ± 10 Grad zu halten. Dies
erlaubt eine sehr einfach Herstellung eines optischen Modulators.
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Gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung wird ein in zweiter Ordnung nicht lineares optisches
Material bereitgestellt, das einen Glaskörper umfasst, der von einer
ersten Richtung und einer zweiten Richtung gepolt ist, die sich
voneinander unterscheiden, so dass der Glaskörper eine geringe Doppelbrechung
gegenüber
einem Strahl aufweist, der sich in einer dritten Richtung im Wesentlichen senkrecht
zu der ersten Richtung bzw. der zweiten Richtung ausbreitet, wobei
das Glasband SiO2 umfasst.
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Wie
oben stehend beschrieben sollte der Glaskörper SiO2 umfassen
und kann von unterschiedlichen x- und y-Achsen gepolt werden. Vorzugsweise umfasst
die Glaszusammensetzung von 80 bis 95 Gew.-% SiO2 und
entsprechend von 5 bis 20 Gew.-% GeO2.
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Die
Glaszusammensetzung kann ferner additive Bestandteile wie z. B.
Oxide und/oder Fluoride von Te, Bi, Pb, Sn und dgl. umfassen. Diese
Bestandteile können
einzeln oder in Kombination verwendet werden und wenn sie vorhanden
sind, beträgt
die Gesamtmenge der additiven Bestandteile bis zu 40 Gew.-% auf
Basis der Zusammensetzung. Wenn der/die additive/n Bestandteil oder
Bestandteile in Mengen von mehr als 40 Gew.-% zugesetzt werden, kann
das resultierende Glas eine zu niedrige Erweichungstemperatur aufweisen
oder schwächer
in der mechanischen Festigkeit sein, oder kann eine unerwünscht große Änderung
in dem Betrag von gesendetem Licht mit sich bringen, wenn sich Umgebungstemperaturen ändern.
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Wenn
eine solche bevorzugte Glaszusammensetzung wie oben stehend erwähnt gepolt
wird, weist der Glaskörper
eine bessere optische Nicht-Linearität auf.
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Üblicherweise
weist der Körper
eine würfelförmige oder
rechteckige Parallelepiped-Form oder eine zylindrische Form auf.
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Die
erste und die zweite Richtung sollten sich vorzugsweise im Wesentlichen
rechtwinklig zueinander in einem Bereich von 90 Grad ± 10 Grad
schneiden. In gleicher Weise sollte die dritte Richtung die erste
Richtung bzw. die zweite Richtung in einem Bereich von 90 Grad ± 10 Grad
im Wesentlichen rechtwinklig schneiden.
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Die
Herstellung des nicht linearen optischen Materials gemäß einer
weiteren Ausführungsform der
Erfindung ist unter Bezugnahme auf die 2a bis 2e beschrieben.
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Zu
Beginn wird ein Glasband mit einer solchen Zusammensetzung wie oben
stehend definiert bereitgestellt. Das Glasband wird zumindest an
der Ober- und der Unterseite davon optisch poliert.
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Auf
dem Glasband wird auf die polierte Seite jeweils eine Aluminiumelektrode
aufgedampft, wonach das Glasband in einem Elektroofen angeordnet ist,
dessen Atmosphäre
mit trockenem Stickstoff ergänzt
ist, und bei einer Temperatur, z. B. 250 °C gehalten wird, bis das Band
die Temperatur erreicht. Die Temperatur kann in einem Bereich von
100 bis 400 °C
liegen. Der trockene Stickstoff kann durch ein Inertgas wie z. B.
Ar ersetzt werden.
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In
diesem Zustand wird das Band in einer ersten Richtung gepolt, z.
B. der in 2a gezeigten x-Achse, indem
eine geeignete Spannung im Bereich von 1 kV bis 10 kV, z. B. 5 kV,
für etwa
10 bis 300 Minuten, z. B. für
100 Minuten, auf das Band angelegt wird. Diese Polungsbehandlung
ist in 2a gezeigt.
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Danach
werden die auf dem Glasband abgeschiedenen Elektroden vollständig entfernt,
z. B. durch chemisches Ätzen,
und es wird mit Hilfe einer Rotary-Blade-Säge in Stücke mit einer Breite von z. B.
0,6 mm geschnitten, wie in 2b gezeigt.
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Nach
dem Schneiden werden die Stücke
einer weiteren Polungsbehandlung in einer zweiten Richtung der y-Achse,
in 2c gezeigt, unterzogen. Zu diesem Zweck wird/werden
die Schnittfläche oder
-flächen
eines je den Stückes
um die z-Achse herum gedreht, die im Wesentlichen senkrecht zu den
x- und y-Achsen innerhalb eines Bereiches von 90 Grad ± 10 Grad
steht, so dass die y-Achse eines jeden Stückes sich im Wesentlichen nach
oben dreht, wie in 2c gezeigt. Die Stücke werden
in diesem Zustand mittels eines Haftmittels wie z. B. ein Haftmittel
auf Keramikbasis oder ein Epoxidharz-Haftmittel aneinander gebondet.
Das so gebondete Band wird an Ober- und Unterseiten davon um etwa
0,1 mm insgesamt optisch poliert, wodurch eine Banddicke bei 0,5
mm gebildet wird.
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Danach
wird eine Aluminiumelektrode auf den gegenüberliegenden Seiten des gebondeten Bandes
aufgedampft und mit einem Bleidraht angebracht, gefolgt von einem
Anordnen des Bandes in dem Elektroofen in einer Atmosphäre von trockenem Stickstoff
und einem Anlegen einer Spannung von 5 kV für 30 Minuten, wie in 2d gezeigt.
Das so gepolte Band wird auf Raumtemperatur abgekühlt.
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Ein
linear polarisierter Strahl wird entlang der Richtung (d. h. der
z-Achse) senkrecht
zu den ersten und zweiten Polungsrichtungen (d. h. der x-Achse und
der y-Achse) gesendet, um eine Elliptizität des Strahls zu messen. Für die Messung
wird die Polarisationsebene eines Eingangsstrahls in einem Winkel von
45 Grad relativ zu der x-Achse eingestellt. Wenn der gesendete Strahl
aus einem elliptisch polarisierten Strahl besteht, wird die oben
erklärte
Polungsbehandlung wiederholt, bis der elliptisch polarisierte Strahl
zu einem im Wesentlichen linear polarisierten Strahl umgewandelt
ist.
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Obwohl
es von dem Grad der Polungsbehandlung abhängig ist, ist das Band im Wesentlichen frei
von jeglicher Doppelbrechung, wenn der Winkel zwischen der x-Achse
und der y-Achse in dem Bereich von 90 Grad ± 10 Grad liegt und der Winkel
zwischen der z-Achse und sowohl der x- als auch der y-Achse in dem
Bereich von 90 Grad ± 10
Grad liegt.
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Wenn
das gepolte Band als ein elektrooptisches Element verwendet wird,
wird es durch ein geeignetes Mittel wie z. B. eine Rotary-Blade-Säge in Stücke mit
einer gewünschten
Größe geschnitten. Das
Stück wird
entlang der z-Achse (d. h. einer Richtung entlang der ein Strahl
gesendet wird) an gegenüberliegenden
Seiten davon optisch poliert, um ein elektrooptisches Element zu
erhalten. Die Größe des Stückes ist
abhängig
von dem endgültigen
Verwendungszweck.
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In
dem Vorstehenden wird die Polungsbehandlung durch Aufheizen eines
Glasbandes und Anlegen einer hohen Spannung wie vorher definiert für eine gegebene
Zeit durchgeführt.
Die Polung kann in ähnlicher
Weise voranschreiten, wenn ein hohes elektrisches Feld von 1 × 104 bis 1 × 106 V/cm an das Glasband angelegt wird, während es
UV-Licht ausgesetzt wird. Alternativ können andere Verfahren verwendet
werden, einschließlich
eines Koronapolungsverfahrens oder eines Verfahrens, in dem eine hohe
Spannung wie vorher definiert in einem Vakuum angelegt wird.
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Die
Anwendungen des oben stehend erhaltenen elektrooptischen Elementes
auf optische Modulatoren werden beschrieben.
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3 zeigt
ein optisches Modulatorsystem M, das eine Strahlquelle 31 wie
z. B. eine Leuchtdiode, eine Kollimatorlinse 32, eine optische
Modulationseinheit U mit einem Polarisator 33, der z. B.
aus einem polarisierenden Strahlteiler, einer aus Quarz hergestellten λ/4-Platte 34,
einem elektrooptischen Element 35 und einem Analysator 36 besteht,
eine Fokussierlinse 37 und ein Licht empfangendes Element 38,
die wie in 3 gezeigt, in dieser Reihenfolge
angeordnet sind, umfasst. Die optischen Achsen dieser Elemente,
umfassend den Polarisator 33, die λ/4-Platte 34, den elektrooptischen
Modulator 35 und den Analysator 36 sind ausgerichtet.
Das elektrooptische Element ist aus einem Block des Glasmaterials
hergestellt, das von zwei unterschiedlichen Richtungen gepolt ist,
wie oben stehend beschrieben. Es wird einzusehen sein, dass diese
in 3 gezeigte Anordnung im Stand der Technik bekannt ist,
mit Ausnahme dessen, dass das Element aus dem von zwei Richtungen
gepolten Block hergestellt ist.
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In
Betrieb wird der Strahl von der Quelle 31 durch die Kollimatorlinse 32 gesendet,
um parallele Strahlen zu erhalten, bevor sie durch die Einheit U geführt werden.
Die durch den Analysator 36 gesendeten Strahlen werden
an der Fokussierlinse 37 fokussiert und in dem Licht empfangenden
Element 38 zu elektrischen Signalen umgewandelt. Somit
kann der Strahl zu elektrischen Signalen umgewandelt werden. Wenn
ein Wechselstrom von 1000 V an Elektroden (nicht gezeigt) des elektrooptischen
Elementes 35 angelegt werden, werden Wechselstromwellensignale
mit einem Modulationsgrad von 1 % erhalten. Auf diese Art und Weise
kann ein elektrooptischer Modulator erhalten werden.
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Überdies
wurde experimentell festgestellt, dass eine Änderung in dem Modulationsgrad
(relativ zu einem mit 100 angenommenen Modulationsgrad, wenn der
Strahl in senkrechter Richtung einfällt), innerhalb von ± 3 % oder
darunter liegt, wenn an dem nicht linearen optischen Block oder
Stück,
der/das in dem optischen Modulator M eingebaut ist, ein Strahl angelegt
wird, während
ein Einfallswinkel von ± 1 Grad
von einem Einfallswinkel senkrecht zu der Fläche des elektrooptischen Elementes,
durch welches der Strahl gesendet wird, geändert wird. In gleicher Weise
zeigte sich eine Änderung
von innerhalb ± 10 %,
wenn der Einfallswinkel innerhalb von ± 10 Grad geändert wird.
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Das
optische Modulatorsystem M mit dem elektrooptischen Element der
Erfindung wird in einer trockenen Atmosphäre angeordnet, während eine Temperatur
in einem Bereich von –20 °C bis +80 °C geändert wird,
um eine Änderung
in dem Modulationsgrad in Abhängigkeit
von der Änderung
der Temperatur zu messen. Im Ergebnis stellte sich heraus, dass
die Änderung
in dem Modulationsgrad relativ zu einem mit 100 angenommenen Modulationsgrad
bei Raumtemperatur deutlich innerhalb von ± 2 % liegt. Überdies
wird keinerlei DC-Drift in der Strahlmenge beobachtet, wenn das
Modulatorsystem M bei hohen Temperaturen von 70 Grad oder darüber angeordnet wird,
im Gegensatz zu einem optischen Modulator mit einer Kristallplatte
aus Bi4Ge3O12, wodurch stabile Modulationssignale bereitgestellt
werden.
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In
der Ausführungsform
von 3 wird die λ/4-Platte
34 als ein optisches Modulationselement verwendet. Dies deshalb,
da ein einfallender linear polarisierter Strahl zu einem zirkular
polarisierten Strahl umgewandelt und somit optisch vorgespannt wird,
sodass analoge (starke) Modulationssignale in guter Linearität entnommen
werden. Diese Platte kann weggelassen werden, wenn ein Strahl einer Ein-Aus-Modulation
wie in dem Fall einer digitalen Modulation unterzogen wird.
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Eine
weitere Ausführungsform
der Erfindung ist unter Bezugnahme auf 4 veranschaulicht.
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Das
gemäß dem hierin
zuvor veranschaulichten Verfahren der 2a bis 2e erhaltene elektrooptische
Element wird als ein optisches Modulationselement oder ein Strahlphasenmodulationselement
verwendet, um ein Mach-Zehnder-Interferometer zu bereitzustellen.
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In 4 ist
ein Interferometer I mit einem Analysator 46 und einem
Spiegelsystem S gezeigt. Das Spiegelsystem S weist einen ersten
Halbspiegel 41a, einen ersten Totalreflexionsspiegel 43a,
einen zweiten Totalreflexionsspiegel 43b und einen zweiten Halbspiegel 41b auf,
wie in 4 gezeigt. Ein elektrooptisches Element 45 ist
zwischen dem ersten Halbspiegel und dem ersten Totalreflexionsspiegel 43a angeordnet.
In diesem Fall dient das Element 45 als ein optisches Modulatorelement.
Ein Licht empfangendes Element 48 ist vorgesehen, um einen Strahl
von dem zweiten Halbspiegel 41b zu empfangen.
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In
Betrieb wird ein He-Ne-Laserstrahl, der eine gute Kohärenz aufweist,
als ein einfallender Strahl verwendet. In der Fig. wird polarisiertes
Licht des einfallenden Strahls derart eingestellt, dass es entlang
einer Richtung der x-Achse gesendet wird. Das verwendete elektrooptische
Element 45 ist eines, in dem Elektroden an gegenüberliegenden
Seiten des Elementes entlang der y-Achse ausgebildet sind.
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Der
Laserstrahl wird in dem Polarisator 46 polarisiert und
zu dem ersten Halbspiegel 41a geführt, in dem er in zwei Hälften geteilt
wird. Wenn an das Element 45 eine Spannung von 1500 V entlang der
x-Achse angelegt wird, wird die Phase des einfallenden Lichtes geteilt,
während
eine Hälfe
moduliert wird. Andererseits wird die andere Hälfte über den Halbspiegel 41b und
den zweiten Totalreflexionsspiegel 43b zu dem zweiten Halbspiegel 41b geführt, ohne
eine Modulation der Phase. Das phasenmodulierte Licht und das nicht
modulierte Licht werden in dem zweiten Halbspiegel 41b miteinander
kombiniert, um Modulationssignale in dem Licht empfangenden Element 48 zu
erhalten.
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Dann
werden an dem elektrooptischen Element 45 an gegenüberliegenden
Seiten der x- und y-Achse jeweils Elektroden angebracht. Eine Spannung von
1500 V wird gleichzeitig aus den Richtungen der x- und der y-Achse
an die Elektroden angelegt. Zu diesem Zeitpunkt, wenn die Polungsrichtung des
einfallenden Strahls mit Hilfe des Polarisators 46 gedreht
wird, kann keine nennenswerte Differenz in dem Modulationsgrad beobachtet
werden. Überdies können in
dem Licht empfangenden Element 48 Modulationssignale beobachtet
werden, wenn der Polarisator 46 entfernt wird. Somit kann
das elektrooptische Element der Erfindung als ein optisches Modulationselement
verwendet werden, das im Wesentlichen frei von jeglicher Abhängigkeit
von der Polarisation eines einfallenden Strahles ist. Dieses optische Modulationselement
benötigt
keinen Polarisator.
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Zum
Vergleich wurde dies durch den folgenden Versuch experimentell bestätigt. Ein
bekanntes nicht lineares optisches Glasmaterial, das nur in einer Richtung
(oder in der Richtung der x-Achse) gepolt ist, wird bereitgestellt
und Elektroden sind entlang der x- und der y-Achse an gegenüberliegenden
Seiten eines Blocks des gepolten Materials auf die selbe Art und
Weise wie oben beschrieben ausgebildet. Dieses Element ist als das
elektrooptische Element 45 des in 4 gezeigten
Interferometers eingebaut. Wenn eine Sendungs-Polarisationsebene
des Polarisators 46 gedreht wird, ändern sich die in dem Licht empfangenden
Element 48 beobachteten Modulationssignale stark mit der
Drehung der Polarisierungsebene des einfallenden Strahls. Dies deshalb,
da die Drehung der polarisierten Ebene auf Grund der durch das Polen
verursachten spontanen Doppelbrechung zu einer Änderung in der Phase eines
gesendeten Lichts führt,
wenn das aus dem nicht linearen nur in einer Richtung gepolten optischen
Material hergestellte elektrooptische Element verwendet wird. Im Ergebnis ändert sich
die Lichtintensität,
die in dem Licht empfangenden Element 48 beobachtet wird, ohne
Anlegen jeglicher Spannung. Darüber
hinaus ändert
sich die Lichtintensität,
da sich entlang der Richtung der y-Achse eine geringe nicht lineare optische
Kennlinie zeigt.
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Darüber hinaus
können
Modulationssignale des Lichts durch Anlegen der Spannung kaum beobachtet
werden, wenn die Polarisationsebene, durch die der Strahl zu dem
elektrooptischen Element 45 geführt wird, entlang der y-Achse
verläuft. Überdies können keine
Modulationssignale mit einem gewünschten
Pegel erhalten werden, wenn der Polarisator 46 entfernt
ist. Somit kann die Einrichtung nicht als ein optischer Modulator
verwendet werden.
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Nun
wird Bezug auf 5 genommen, die eine weitere
Ausführungsform
der Erfindung umfasst, welche ein aus dem in zweiter Ordnung nicht
linearen Material der Erfindung hergestelltes elektrooptisches Element
umfasst.
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Eine
optische Modulationseinrichtung D dieser Ausführungsform umfasst ein Substrat 51 mit
einer Nut 52 zum Befestigen einer ummantelten Lichtleitfaser 53.
Das Substrat 51 weist auch drei Nuten 54 auf,
die senkrecht in Bezug auf die Nut 52 ausgebildet sind.
Die Lichtleitfaser 53 weist einen ummantelungsfreien oder
blanken Abschnitt 55 auf. Der blanke Abschnitt 55 besteht
aus einer Kern- und einer umhüllenden
Schicht, ist aber frei von jeglicher Ummantelung und einer Pufferschicht,
obwohl ein Oberflächenbehandlungsmittel
auf der umhüllenden Schicht
abgeschieden sein kann, wie es verwendet wird, um einen engen Kontakt
zwischen der umhüllenden
Schicht und der Pufferschicht zuzulassen.
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In
dem Lichtpfad der Lichtleitfaser 53 sind eine Polarisator-+-λ/4-Platte 56,
ein elektrooptisches Element 57 und ein Analysator 58 jeweils
in den Nuten 54 angeordnet, wie gezeigt.
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Zur
Herstellung der optischen Modulatoreinrichtung ist das Substrat 51 vorgesehen,
das aus einem isolierenden Material wie z. B. Glas, Keramik, Harzen
oder dergleichen hergestellt ist. Ein Glas-Epoxidharz-Substrat,
das gute Isoliereigenschaften und eine gute Verarbeitbarkeit aufweist,
wird vorzugsweise verwendet. Das Substrat 51 wird mit der
Nut 52 mit Hilfe einer Rotary-Blade-Säge hergestellt. Die Ummantelung
der Lichtleitfaser an einem in der Fig. angezeigten Abschnitt wird
entfernt, um den blanken Abschnitt 55 herzustellen. Dieser
blanke Abschnitt 55 wird an die Nut 52 gebondet.
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Danach
werden auch die Nuten 54 mit Hilfe einer Rotary-Blade-Säge hergestellt,
wie gezeigt.
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Das
aus einem Polarisator und einer λ/4-Platte
hergestellte Element 56, das elektrooptische Element 57 und
der Analysator 58 werden jeweils in Nuten 54 eingesetzt
und an das Substrat 51 gebondet. Das in dieser Ausführungsform
verwendete Haftmittel umfasst z. B. ein Haftmittel auf Keramikbasis.
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Ein
Zuleitungs- bzw. Bleidraht 60a ist mit Hilfe einer Silberpaste
direkt mit einer Elektrode (nicht gezeigt) des elektrooptischen
Elementes 57 verbunden. Ein weiterer Zuleitungs- bzw. Bleidraht 60b wird direkt
mit der anderen Seite des Elementes 57 verbunden, indem
eine Öffnung
in dem Substrat 51 gebildet wird, um die andere Seite freizulegen.
Das elektrooptische Element 57 wird gemäß dem Verfahren der Erfindung
hergestellt und weist z. B. eine Dicke von 1,5 mm entlang der Richtung
der Sendung eines Strahls auf.
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Wenn
ein nicht polarisierter Strahl von einem Ende der Lichtleitfaser
als ein Eingangsstrahl geführt wird
und eine Spannung von 1000 V an das elektrooptische Element 57 angelegt
wird, können
Wechselstrommodulationssignale mit einem Modulationsgrad von 0,7
% erhalten werden.
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Wenn
die Temperaturkennlinie des elektrooptischen Elementes 57 gemessen
wird, wobei ein Modulationsgrad bei Raumtemperatur mit 100 % angenommen
wird, beträgt
die Änderung
in dem Modulationsgrad gut ± 3,5
% in einem Temperaturbereich von –20 bis 80 °C.
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Überdies
wird bei hohen Temperaturen von 70 °C oder darüber keine DC-Drift beobachtet,
wie es in dem Fall eines elektrooptischen Elementes, das aus einem
Bi4Ge3O12-Kristall
hergestellt ist, festzustellen ist. Somit stellt das elektrooptische
Element der Erfindung eine stabile Temperaturkennlinie sicher.
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Es
wird einzusehen sein, dass die optische Modulatoreinrichtung dieser
Ausführungsform
die Eingangs- und Ausgangsrichtungen eines Strahls in einer Linie
ausgerichtet aufweist, und die Lichtleitfaser keine/n gebogene/n
Abschnitt oder Abschnitte aufweist. Demgemäß ist die Modulatoreinrichtung besonders
nützlich
für eine
optische Kommunikation.
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Nun
wird Bezug genommen auf die 6a bis 6d,
die schematisch eine optische Modulatoreinrichtung gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung zeigen. Eine in 6d gezeigte Vorrichtung
D1 umfasst ein Substrat 70 mit einem Nutmuster 71,
das aus Nuten 71a und 71b, die parallel zueinander
angeordnet sind, und einer Nut 71c, die senkrecht zu den
Nuten 71a und 71b ausgebildet ist, besteht, ein
Element 72, das aus einer Polarisator-+-λ/4-Platte,
einem elektrooptischen Element 73 und einem Analysator 74 besteht,
die jeweils in dieser Reihenfolge in den Nuten 75a, 75b und 75c eingesetzt
sind, und eine Lichtleitfaser 76, die in dem Nutmuster 71 eingesetzt
ist, womit die optische Modulatoreinrichtung D1 auf eine Hybridart
wie insbesondere in 6d gezeigt gebildet wird.
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Zur
Herstellung der Einrichtung D1 wird zuerst das Substrat 70 bereitgestellt.
Danach werden mit Hilfe einer Rotary-Blade-Säge die Nuten 71a, 71b und 71c hergestellt.
Das Substrat 70 besteht aus einem isolierenden Material
wie z. B. Glas-Epoxidharz.
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Die
Lichtleitfaser 76 wird bereitgestellt, wobei ein Teil seiner
Ummantelung entfernt wird, um einen blanken Abschnitt 76a bereitzustellen.
Der blanke Abschnitt 76a der Lichtleitfaser 76 wird
mittels eines Heißluftgebläses thermisch
verarbeitet oder gebogen, um eine U-Form mit einem flachen Boden
davon zu bilden. Die Art der Herstellung der U-förmigen Lichtleitfaser ist z.
B. in dem US Patent Nr. 5 699 461 (entsprechend der offen gelegten
japanischen Patentanmeldung Nr. 8-219 825) beschrieben.
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Die
so geformte Lichtleitfaser 76 wird eingesetzt und an das
Nutmuster 71 gebondet, wie in 6b gezeigt.
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Danach
werden die Nuten 75a, 75b und 75c mit
Hilfe einer Rotary-Blade-Säge gebildet.
Diese Nuten weisen üblicherweise
eine Breite von 0,05 bis 5 mm auf, obwohl diese von der Dicke der
optischen Elemente abhängig
ist.
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Der
Polarisator 72, an dem eine λ/4-Platte angebracht ist, das
elektrooptische Element 73 und der Analysator 74 werden
jeweils mit Hilfe eines Haftmittels in den Nuten 75a, 75b und 75c befestigt.
Das elektrooptische Element 73 ist eines, das hierin zuvor beschrieben
wurde. Der Polarisator, die λ/4-Platte und
der Analysator sind jeweils solche wie im Stand der Technik bekannt.
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Wenn
das Element 73 eine Dicke von etwa 1 mm entlang der Richtung
der Strahlübertragung
aufweist und eine Spannung von 1000 V angelegt wird, werden Wechselstrommodulationssignale
mit einem Modulationsgrad von 0,4 % erhalten.
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In
der optischen Modulationseinrichtung dieser Ausführungsform können der
Eingangstrahl und dr Ausgangsstrahl parallel zueinander gesendet
werden und die Einrichtung kann in kompakter Größe, nicht entlang ihrer Länge verlängert, angeordnet
werden. Somit ist die Vorrichtung nützlich als ein elektrischer
oder Spannungs-Lichtleitfasersensor.
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Wenn
die Temperaturkennlinie der optischen Modulatoreinrichtung gemessen
wird, hat es sich gezeigt, dass gute Ergebnisse von ± 3 % in
Bezug auf die Änderung
in dem Modulationsgrad in dem Temperaturbereich von –20 °C bis +80 °C erhalten
werden, wenn ein Modulationsgrad bei Raumtemperatur mit 100 % angenommen
wird.
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Wenn
ein optischer Verlust reduziert werden kann, dass er so klein wie
möglich
ist, können
die gebogenen Abschnitte der Lichtleitfaser mit einem Metall bedampft
werden oder mit einer Metallpaste überzogen werden, um einen Strahl
an den gebogenen Abschnitten wirksam zu reflektieren.